JP5558067B2 - エーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸及びその誘導体の製造方法、並びに含フッ素エーテルスルホン酸化合物及びその誘導体を含む界面活性剤 - Google Patents

エーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸及びその誘導体の製造方法、並びに含フッ素エーテルスルホン酸化合物及びその誘導体を含む界面活性剤 Download PDF

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Description

本発明は、エーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸(ペルフルオロアルコキシペルフルオロアルキルスルホン酸)及びその誘導体並びにその原料化合物の製造方法に関するものであり、さらに含フッ素エーテルスルホン酸化合物及びその誘導体を含む界面活性剤に関する。
ペルフルオロスルホン酸及びその誘導体(RSOX;式中、Rは対応する炭化水素基の水素原子をフッ素原子で置換した基を表す。Xは−OH、ハロゲン原子などを表す)は、界面活性剤、酸発生剤、イオン液体、触媒等に用いられて来た。ペルフルオロスルホン酸中、特に炭素数8のペルフルオロオクタンスルホニル(C17SO−)構造を持つもの(PFOS)は化学的に安定であるが、それ故に難分解性及び生体への蓄積性が問題となり、規制が開始されている。また、米国では炭素数が6以上のペルフルオロスルホン酸についても同様に規制が図られている。このため、性能を保ちつつ、より環境への影響が少ない代替化合物が求められている。
代替化合物の候補のひとつとして、上記のR基にエーテル構造を導入してR OR −構造とした化合物が考えられている。ここで、R およびR は、それぞれ対応する炭化水素基の水素原子をフッ素原子で置換した基を表す。これらの化合物の製造方法として、例えば、R OR SOXの製造法として、ペルフルオロビニルスルホニルフルオロライド(CF=CFSOF)とペルフルオロハイポフルオライド(ROF)を用いる方法が知られている(特許文献1:特開平6−128216)。しかし、ペルフルオロビニルスルホニルフルオロライド(CF=CFSOF)とペルフルオロハイポフルオライド(ROF)を用いる方法は、コストが高いフッ素化された原料を用いること、原料の沸点が低いため極低温での操作が必要であること、直鎖(n−体)/異性体(i−体)の選択を任意にできないこと、事実上エタンスルホニルの基本構造のみであること等の問題がある。
その他の化合物についても、一般に、アルコキシドとハロゲン化アルキル(スルホン酸)からエーテルを合成する方法はWilliamson法として公知である。しかし、Williamson法でペルフルオロ化合物を製造する場合、従来はそれぞれペルフルオロ化された化合物を原料として用いており、特許文献1におけるのと同様の問題があった。
特開平6−128216号公報
本発明は、従来の上記課題を解決したものであり、異性化等が起こらず、目的の構造の化合物を廉価に製造することが可能なエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸(ペルフルオロアルコキシペルフルオロアルキルスルホン酸)およびその誘導体並びにその原料化合物の製造方法を提供することを目的とする。
また、上記誘導体を含む界面活性剤を提供することを目的とする。
本発明者は、フッ素化された原料を用いてR OR −構造を有する化合物を生成するのではなく、所望の炭素骨格を有する炭化水素化合物を生成した後に、この化合物をフッ素化することにより、従来製造できなかったエタンスルホニル構造以外のエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸(ペルフルオロアルコキシペルフルオロアルキルスルホン酸)およびその誘導体を製造し得ることを見出した。
また、本発明者は、フッ化水素酸にR OR SOFを加えて濃厚溶液(水素結合錯体)とし、これを、Fガスを用いる液相反応系に供給するか、R OR SOClをフッ化水素酸に加えて、HClを放出させることでR OR SOFに変換し、これを、Fガスを用いる液相反応系に供給することによって、安全にフッ素化を行うことができ、かつ異性化等が起こらず、目的の構造の化合物を廉価に製造し得ることを見出した。
上記知見に基づき、本発明は、エーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸(ペルフルオロアルコキシペルフルオロアルキルスルホン酸)、およびその誘導体(R OR SOX)について、異性化等の問題を伴わず、目的の構造の化合物を廉価に製造する製造方法を提供する。また、原料化合物であるR OR SOFおよびR OR SOClを製造する方法についても提供する。さらに、誘導体(R OR SOM)を含む界面活性剤についても提供する。
本発明によれば、以下の構成を有する化合物の製造方法が提供される。
[1] 一般式R OR SOY(式中、R およびR はそれぞれ炭素数1〜4の炭化水素基、Yはフッ素又は塩素)で示されるスルホニルハライドをペルフルオロ化してエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOX(式中、R およびR は上記 およびR 基中の水素原子をフッ素原子で置換した基、Xは−OH、アルコキシまたはハロゲン)を製造することを特徴とする含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
[2] 前記スルホニルハライドが、
前記RH が炭素数1の炭化水素基の場合に、上記RH が炭素数3の炭化水素基(直鎖及び分岐状)であり、
前記RH が炭素数3の炭化水素基(直鎖)の場合に、上記RH が炭素数1の炭化水素基、炭素数3の炭化水素基(直鎖及び分岐状)又は炭素数4の炭化水素基(直鎖及び分岐状)であり、
前記RH が炭素数4の炭化水素基(直鎖)の場合に、上記RH が炭素数1の炭化水素基又は炭素数3の炭化水素基(直鎖及び分岐状)であることを特徴とする前項[1]に記載の含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
[3] フッ化水素酸に前項[1]又は[2]に記載のスルホニルフルオライド(R OR SOF)を加えて水素結合錯体を含む溶液とし、これを反応溶媒中にFガスと共に供給し、液相中でペルフルオロ化してエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOX(式中、R およびR は上記 およびR 基中の水素原子をフッ素原子で置換した基、Xは−OH、アルコキシまたはハロゲン)を製造することを特徴とする前項[1]又は[2]に記載の含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
[4] 前項[1]又は[2]に記載のスルホニルクロライド(R OR SOCl)をフッ化水素酸に加えてスルホニルフルオライドに変換すると共に水素結合錯体を含む溶液とし、これを反応溶媒中にFガスと共に供給し、液相中でペルフルオロ化してエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOX(式中、R およびR は上記 およびR 基中の水素原子をフッ素原子で置換した基を表し、Xは−OH、アルコキシまたはハロゲンを表す)を製造することを特徴とする前項[1]又は[2]に記載の含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
[5] 前記ペルフルオロ化は、前項[1]又は[2]に記載のスルホニルフルオライド(R OR SOF)を無水フッ化水素酸中で電解フッ素化して行うことを特徴とする前項[1]又は[2]に記載の含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
[6] 液相フッ素化反応液にフッ化水素酸の吸着剤として、予めNaFまたはKFを加えて懸濁させて反応を行う前項[3]または前項[4]に記載するエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOXの製造方法。
[7] 反応液中のフッ素化反応生成物(R OR SOF)を塩基とCF CH OHとを用いて、スルホン酸エステル(R OR SOCH CF )に転換し、蒸留による分離・精製を行った後、当該スルホン酸エステル(R OR SO OCH CF )にMOH(M=アルカリ金属)を作用させることを含む、請求項1〜請求項6の何れかに記載するエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOXの製造方法。
[8] 一般式R OR SOM(式中、R およびR は、それぞれ炭素数1〜4のペルフルオロアルキル基、MはLi,Na,K又はNH)で表される化合物であって、
前記RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基の場合に、上記RF が炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)であり、
前記RF が炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖)の場合に、上記RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基、炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)又は炭素数4のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)であり、
前記RF が炭素数4のペルフルオロアルキル基(直鎖)の場合に、上記RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基又は炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)である化合物を含むことを特徴とする界面活性剤。
本発明によれば、比較的コストの低い炭化水素化合物で分子設計を行うことができ、その構造を保持したままペルフルオロ化合物を得ることができる。また、低コストであるばかりでなく、収率も良好である。このため、従来のペルフルオロアルキルスルホン酸及びその誘導体の代替化合物として多様な新規化合物を合成する方法として有用性が高い。
また、本発明によれば、新規化合物を含む界面活性剤を提供することができる。
実施例1および実施例2の合成工程を示す化学式 実施例3および実施例4の合成工程を示す化学式 実施例5〜7の合成工程を示す化学式
以下、本発明を具体的に説明する。
[ペルフルオロ化]
(第一の態様)
本発明の基本的な態様においては、フッ化水素酸にスルホニルフルオライドR OR SOF(式中、R およびR は、それぞれ炭素数1〜4の炭化水素基)を加えて水素結合錯体を含む溶液とする。Fガスに対して安定な反応溶媒中にFガスを供給し、これに上記溶液を供給して液相中でペルフルオロ化する。尚、ペルフルオロ化については、溶媒を用いないでFガスと直接反応する方法、CoFによる気固反応も事実上可能と考えられるが、反応の制御が困難であり、一般に分解等による低収率の問題があるので、液相中でのペルフルオロ化が有利である。
ここで、フッ化水素酸は無水フッ化水素酸でもよいし、10重量%程度までの水を含んでいてもよい。フッ化水素酸は原料に対して0.5〜10倍モルが好ましく1〜3倍モルが特に好ましい。
ガスに対して安定な反応溶媒としては、工業製品又は試薬として入手可能なペルフルオロアルカン類、ペルフルオロエーテル及びペルフルオロポリエーテル類、ペルフルオロトリアルキルアミン類のそれぞれ単独、或いは混合物を用いることができる。クロロフルオロカーボン類の使用も可能であるが、上記溶媒類に比べて環境に対する影響が大きく好ましくない。反応溶媒の量は原料に対して0.5mol/L〜0.01mol/Lが好ましく、0.2mol/L〜0.05mol/Lがより好ましい。
また、反応を調整する目的でフッ素化を受け得る化合物を共存させてもよい。このような化合物として、ベンゼン、ヘキサフルオロベンゼン等の炭素−炭素間に二重結合をもつものを用いることができる。その量は原料に対して1〜50モル%が好ましく、原料溶液に添加してもよく、別に反応溶媒に溶解して反応液に供給してもよい。また、同様の目的で紫外線を照射しても良い。
ガスは不活性ガスで希釈して用いてもよい。このような不活性ガスとしては窒素ガス、ヘリウムガス、アルゴンガスなどを用いることができる。このなかで、窒素ガスが経済的に好ましい。ガス中のF濃度は、反応が適度に進行するように定めればよく、反応の進行に応じて変化させてもよい。Fガスの濃度は1〜50容量%が好ましく、10〜30容量%がより好ましい。反応温度は−80℃〜溶媒の沸点以下が好ましく、−30〜30℃が制御の観点からより好ましい。
(第二の態様)
上記第一の態様に代わる第二の態様として、スルホニルクロライドR OR SOClをフッ化水素酸に加えてR OR SOFに変換すると共に水素結合錯体を含む溶液とし、ペルフルオロ化を行ってもよい。スルホニルクロライドR OR SOClは、フッ化水素酸との反応でHClを放出させることによってスルホニルフルロライドR OR SOFに変換し、また、そのまま、Fガスを用いる液相反応系に供給することによって安全にフッ素化を行うことができる。
ガスを用いる液相反応で副生するフッ化水素酸と原料溶液に加えたフッ化水素酸は速やかに除くことが好ましい。反応装置の排ガスラインにペレット状のNaFを充填したカラムを取り付けて吸着させ、その後流にコンデンサー設け反応液を反応器に戻しても良い。また、より好ましくは液相フッ素化反応液に予めNaFまたはKFを加えて懸濁させて反応を行う。NaF等を加えて懸濁させることにより収率を向上させることができる。NaF等は粉末状、ペレット状、結晶状の何れの形態でも用いることができる。NaF等の添加量は、反応で副生するフッ化水素酸と原料溶液に加えたフッ化水素酸に対して0.5〜10倍モルが好ましく、1〜3倍モルが特に好ましい。添加量が少ないと反応の進行が阻害され、又、別に過剰のフッ化水素酸を除去する工程が必要になる。添加量が多すぎると経済的では無く、濾過等の設備又は装置への負荷が大きくなる。
このようにして得られた反応液中のフッ素化反応生成物(R OR SOF)は、さらに塩基(アルカリ金属の炭酸塩、又はトリエチルアミン等の有機塩基)とアルコールROHを用いて、スルホン酸エステル(R OR SOOR)に転換してもよい。このようなエステル化合物に転換することにより、蒸留による分離・精製が容易に行い得る。また、ペルフルオロスルホン酸エステル(R OR SOOR)にMOH(M=アルカリ金属)を作用させることによって、R OR SOMとして、または、更に鉱酸(HSO、HCl等)で処理することによって、R OR SOHとして単離してもよい。
あるいは、反応液中のフッ素化反応生成物 (R OR SOF)の段階において、MOH(M=アルカリ金属)を作用させることによって、R OR SOMとして、または、更に鉱酸(HSO、HCl等)で処理することによって、R OR SOHとして単離してもよい。
(第三の態様)
上記第一及び第二の態様に代わる第三の態様として、スルホニルフルオライドR OR SOFを無水フッ化水素酸中で電解フッ素化することで、ペルフルオロ化を行ってもよい。ここで、電解原料であるスルホニルフルオライドは、スルホニルクロライドR OR SOClにフッ化カリウム(KF)等を加えることによりフッ素置換して容易に製造することができる。
電解フッ素化は、具体的には、原料としてスルホニルフルオライドR OR SOFを用い、これをフッ化水素酸と共に電解槽に装入し、常圧下、窒素ガス雰囲気中で電解する。これにより、スルホニルフルオライドの炭化水素基R 及びR がフッ素置換されて、フッ素化反応生成物(R OR SOF)が生成される。
以上のように、本発明によれば、エーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOX(式中、R およびR は、上記R およびR 基中の水素原子をフッ素原子で置換した基を表す。Xは−OH、アルコキシまたはハロゲンを表す)のいずれをも製造することができる。
本発明の製造方法により製造される化合物の具体例としては、例えば、以下の化合物が挙げられる(化学式中のXは上記と同じ)。ここに挙げた化合物はいずれも新規物質と考えられる。
CFO(CFSOX、n−CO(CFSOX、CFO(CFSOX、CFOCFSOX、n−COCFSOX、CFCF(CF)OCFSOX、n−COCFSOX、CCF(CF)OCFSOX、(CFCOCFSOX、n−CO(CFSOX、CFCF(CF)O(CFSOX、n−CO(CFSOX、CCF(CF)O(CFSOX、(CFCO(CFSOX、n−CO(CFSOX、CFCF(CF)O(CFSOX。
[界面活性剤]
本発明の製造方法により生成された上記誘導体R OR SOX(式中、R およびR は、上記R およびR 基中の水素原子をフッ素原子で置換した基を表す。Xは−OH、アルコキシまたはハロゲンを表す)を、アルカリ水溶液で加水分解させることにより、ペルフルオロスルホン酸の誘導体である一般式R OR SOM(式中、R およびR は、それぞれ炭素数1〜4のペルフルオロアルキル基、MはLi,Na,K又はNH)で表される化合物(ペルフルオロスルホン酸塩)が生成される。
ここで、上記誘導体R OR SOXとしては、炭素の基本骨格が、RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基の場合に、RF が炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)であり、RF が炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖)の場合に、RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基、炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)又は炭素数4のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)であり、RF が炭素数4のペルフルオロアルキル基(直鎖)の場合に、RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基又は炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)であることが好ましい。
また、上記アルカリ水溶液としては、水酸化リチウム(LiOH)水溶液、水酸化ナトリウム(NaOH)水溶液、水酸化カリウム(KOH)水溶液、アンモニア(NH)水溶液等を用いることができる。
一般式R OR SOM(式中、R およびR は、それぞれ炭素数1〜4のペルフルオロアルキル基、MはLi,Na,K又はNH)で表されるペルフルオロスルホン酸塩の水溶液は、水に対する界面活性剤として用いることができる。
[原料化合物]
上述した本発明によるエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸誘導体の原料化合物であるエーテル構造を有するアルキルスルホン酸誘導体は、種々の方法で製造され得るが、本発明は以下の製造方法を提供する。なお、以下の製造方法において、塩素化剤は例えばSOCl等が挙げられる。
第一の製造方法は以下のとおりである。
CHOM、COM、または炭素数3〜4の直鎖及び分岐状アルコールと金属M、M−H、CHOM(MはNa、KまたはLi)との反応により得られるアルコキシドとX−R −SO−X(XはClまたはBr、R はC1〜C4の直鎖アルキル基、XはONa、OK、Cl、またはBr)とを反応させてR−O−R −SO−X(R−O−は上記アルコキシドに相当するアルコキシ)を合成し、塩素化剤を作用させてR −O−R −SO−Clとし、更にKFを含む水溶液中でR −O−R −SO−Fに変換する工程を含むエーテル構造を有する炭化水素スルホニルフルオライド(アルコキシアルキルスルホニルフルオライド)を製造する方法。
第二の製造方法は以下のとおりである。
CHOH、COH、または炭素数3〜4の直鎖及び分岐状アルコールと1,3−プロパンスルトンまたは1,4−ブタンスルトンとを直接反応させ、R−O−R −SO−OH(R−O−は上記アルコキシドに相当するアルコキシ、R は上記スルトンに由来する直鎖アルキレン)を合成し、次いで塩素化剤を作用させてR −O−R −SO−Clとし、更にKF−有機溶媒−水の系でR −O−R −SO−Fに変換する工程を含むエーテル構造を持つ炭化水素スルホニルフルオライド(アルコキシアルキルスルホニルフルオライド)を製造する方法。
アルコールとスルトンとの反応時にはCFSOH等の酸触媒を添加してもよい。
第三の製造方法は以下のとおりである。
CHOM、COM、または炭素数3〜4の直鎖及び分岐状アルコールと金属M、M−H、CHOM(MはNa、KまたはLi)との反応により得られるアルコキシドと1,3−プロパンスルトンまたは1,4−ブタンスルトンとを直接反応させてR−O−R −SO−OM(R−O−は上記アルコキシドに相当するアルコキシ、R は上記スルトンに由来する直鎖アルキレン)を合成し、塩素化剤を作用させてR −O−R −SO−Clとし、更にKF含む水溶液中でR −O−R −SO−Fに変換する工程を含むエーテル構造を有する炭化水素スルホニルフルオライド(アルコキシアルキルスルホニルフルオライド)を製造する方法。
上記方法により製造されるR OR SOXの具体例としては、例えば、以下の化合物が挙げられる。以下の化学式において、Xは上記と同じであり、例えばハロゲンである。ハロゲンとしては、FまたはClが挙げられる。
CHOCHSOX、n−COCHSOX、CHCH(CH)O CHSO X、n−COCHSOX、CCH(CH)OCHSOX、(CHCOCHSOX、n−CO(CHSOX、CHCH(CH)O(CHSOX、CCH(CH)O(CHSOX、(CHCO(CHSOX、CHCH(CH)O(CHSOX、CCH(CH)O(CHSOX、(CHCO(CHSOX、n−CO(CHSOX、CHCH(CH)O(CHSOX、CCH(CH)O(CHSOX、(CHCO(CHSOXなど。
以下、実施例および参考例によって本発明を具体的に示す。なお、本発明はこれらの例に限定されない。以下の例において生成物の同定確認は特に断らない限り、GC−MS(EI 70eV)及びH−NMR(270MHz、TMS基準)/19F−NMR(254MHz、CClF基準)により行った。反応容器はTEFLON(登録商標)PFA製容器を用いた。
実施例1−1−1[CHO(CHSOFの製造]
[エーテル構造を有するアルキルスルホン酸誘導体(本発明によるエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸誘導体の原料化合物)の第一製造方法による合成例]
還流冷却器、温度計、攪拌機を備えた200mlガラス製4口フラスコに3−ブロモプロパンスルホン酸ナトリウム塩11.25g(50mmol)及びメタノール50mlを仕込み、オイルバスで加熱し還流状態とした。これに28%ナトリウムメチラート75g(75mmol)を1時間かけて滴下し、還流を保ちながら更に22時間反応させた。反応物を冷却後、液が透明になるまで水を加え、1:1−希塩酸で中和してナス型フラスコに移しロータリーエバポレーターで濃縮、乾固させた。乾固物にクロロホルム60g、触媒としてN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)0.3gを加え、二叉連結管及び還流冷却器を取り付け、塩化チオニル23.8g(200mmol)を室温で滴下後、オイルバスで加熱し還流状態で17時間反応させた。反応液を減圧で濃縮した後、クロロホルム50g、フッ化カリウム4.35g(75mmol)を水30gに溶解させた溶液を加え室温で24時間撹拌した。反応液を分液し、クロロホルム層を水で3回洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥し、ロータリーエバポレーターで濃縮した後、充填カラムを用いて減圧蒸留し目的物を得た。収量4.81g、GC純度99%、収率61%。沸点87〜89℃/2.67kPa。H−NMR(溶媒CDCl、ppm)2.18(m,2H)、3.35(s,3H)、3.51(m,4H)、19F−NMR(溶媒CDCl、ppm)52.73(t,1F)
実施例1−1−2[CHO(CHSOFの製造]
[エーテル構造を有するアルキルスルホン酸誘導体(本発明によるエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸誘導体の原料化合物)の第二製造方法による合成例]
実施例1−1−1と同様の装置にメタノール25.6g(0.8mol)、1,3−プロパンスルトン24.4g(0.2mol)を仕込み、還流状態で3日間反応させた。反応物をナス型フラスコに移しロータリーエバポレーターで濃縮して粘稠な液体を得た。これにクロロホルム150g、触媒としてN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)1gを加え、二叉連結管および還流冷却器を取り付け、塩化チオニル95.2(0.8mol)を室温で滴下後、オイルバスで加熱し還流状態で17時間反応させた。反応液を減圧で濃縮した後、クロロホルム150g、フッ化カリウム17.4g(0.3mol)を水80gに溶解させた溶液を加え室温で24時間撹拌した。反応液を分液し、クロロホルム層を水で3回洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥し、ロータリーエバポレーターで濃縮した後、充填カラムを用いて減圧蒸留し目的物を得た。収量13.41g、GC純度98.5%、収率78%であった。
実施例1−2−1[CFO(CFSOF及びCFO(CFSOOCHCFの製造]
[a]CFO(CFSOFの製造
氷浴中の7ml容量のフッ素樹脂PFA製容器に無水フッ化水素酸0.44g(22mmmol)を入れ、撹拌しながら実施例1−1−1で製造した原料化合物CHO(CHSOF1.56g(10mmol)をゆっくり滴下し加えた。得られた均一の液に更にベンゼン0.08g(1mmol)を加えて撹拌した後、プラスチック製のシリンジに移した(原料溶液;全量1.75ml)。
一方、ガス出入り口、原料投入口、間にNaFペレット充填管および反応液返送配管を設置した0℃と−78℃の2段のコンデンサー、フッ素樹脂被覆撹拌子、外部温度調節器を備えた180ml容量の反応容器を用い、この反応容器にペルフルオロヘキサン100mlを仕込み、Nガスを3L/Hrで0.5時間液中に吹き込んだ。その後、NガスをF混合ガス(F20%−N80%)2.77L/Hrに代えて0.5時間液中に吹き込んだ。
このF混合ガス流量を保ったままの反応容器に上記原料溶液を8時間かけて供給し、その後さらに0.5時間ガスを吹き込んだ。反応液の温度は18〜22℃に調節した。次に、ヘキサフルオロベンゼン0.56g(3mmol)をペルフルオロヘキサンで全量10mlとして溶解し、上記F混合ガスの流量を1L/Hrとして吹き込みながら2時間かけて上記反応容器に供給し、その後さらに0.5時間ガスを吹き込んだ。次いで、上記F混合ガをNガスに換えて3L/Hrで1時間液中に吹き込み反応器をパージした。反応液の温度は21〜22℃に調節した。反応液のGC−MS分析を行いCFO(CFSOFが生成していることを確認した。
GC−MS質量数(相対強度)69(100)、67(20.5)、119(8.3)、100(4.6)、169(4.1)、50(1.5)、135(1.2)
[b]CFO(CFSOOCHCFの製造
次いで、室温で、反応容器に炭酸カリウム2.76g(20mmol)を加え撹拌しながらCFCHOHを3g(30mmol)滴下し、その後4時間撹拌して、エステル化を行いCFO(CFSOOCHCFとした。反応液を、セライトを助剤として濾過し、水で洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥した。濃縮後、更に残液を減圧蒸留し59〜61℃/4.0kPaの留分を分画し、収率39%で目的物を得た。
H−NMR(溶媒CDCl、ppm)4.72(q,2H)、19F−NMR(溶媒CDCl、ppm)−124.44(s,2F)、−110.52(d,2F)、−85.38(q,2F)、−74.95(t,3F)、−55.52(t,3F)
実施例1−2−2[CFO(CFSOF及びCFO(CFSOOCHCFの製造]
[a]CFO(CFSOFの製造
無水フッ化水素酸を0.6g(30mmol)、原料化合物CHO(CHSOF3.12g(20mmol)、ベンゼンを0.16g(2mmol)とし実施例1−2−1と同様の調製を行った(原料液;全量3.2ml)。但し、実施例1−2−1の装置から、コンデンサーを−78℃の一段とし、反応液返送配管を除き、反応容器を300ml容量に変更し、ペルフルオロヘキサン200ml、粉末状フッ化ナトリウム14g(0l33mol)を仕込み、Nガスを3L/Hrで1時間液中に吹き込んだ。NガスをF複合ガス(F30%−N70%)3.03L/Hrに代えて0.5時間液中に吹き込んだ。
このF混合ガス流量を保ったままの反応容器に上記原料溶液を8時間かけて供給し、その後さらに0.5時間ガスを吹き込んだ。反応液の温度は14〜16℃に調節した。次いでヘキサフルオロベンゼン0.93g(5mmol)をペルフルオロヘキサンで全量10mlとして溶解し、上記F複合ガスの流量を1.13L/Hrとして吹き込みながら2時間かけて供給し、その後さらに0.5時間ガスを吹き込んだ。上記F複合ガスをNガスに換え3L/Hrで1時間液中に吹き込み反応器をパージした。反応液の温度は14〜16℃に調節した。反応液のGC−MS分析を行いCFO(CFSOFが生成していることを確認した。
[b]CFO(CFSOOCHCFの製造
次いで、反応液を加圧濾過し酸性フッ化ナトリウム(NaHF)を除いた後、室温で炭酸カリウム6.9g(50mmol)を加え撹拌しながらCFCHOHを4g(40mmol)滴下し、その後4時間撹拌し、エステル化を行った。反応液を、セライトを助剤として濾過し、水で洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥した。濃縮後、更に残液を減圧蒸留して、収率49%で目的物を得た。
実施例2−1[CO(CHSOFの製造]
アルコールをメタノールからエタノールに代えて、概略、実施例1−1−2と同様の操作を行ってエトキシ基を含む標記化合物の製造を行なった。すなわち、実施例1−1−1と同様の装置にエタノール18.4g(0.4mol)、1,3−プロパンスルトン24.4g(0.2mol)を仕込み、還流状態で4日間反応させた。反応物をナス型フラスコに移しロータリーエバポレーターで濃縮して粘稠な液体を得た。これにクロロホルム100g、触媒としてN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)0.6gを加え、二叉連結管及び還流冷却器を取り付け、塩化チオニル47.6g(0.4mol)を室温で滴下後、オイルバスで加熱し還流状態で15.5時間反応させた。反応液を減圧で濃縮した後、クロロホルム100g、フッ化カリウム11.6g(0.2mol)を水50gに溶解させた溶液を加え室温で5日間撹拌した。反応液を分液し、クロロホルム層を水で3回洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥し、ロータリーエバポレーターで濃縮した後、充填カラムを用いて減圧蒸留し目的物を得た。収量15.42g、GC純度98.5%、収率89%。沸点92〜95℃/2.67kPa。H−NMR(溶媒CDCl、ppm)1.19(t,3H)、2.18(m,2H)、3.52(m,6H)、19F−NMR(溶媒CDCl、ppm)52.75(m,1F)
実施例2−2[CO(CFSOF及びCO(CFSOOCHCFの製造]
原料CO(CHSOFを3.4g(20mmol)とし、実施例1−2−1と同様の調製を行った(原料液;全量3.6ml)。実施例1−2−2と同様の装置構成とし、粉末状フッ化ナトリウムを14.62g(0.35mol)、F複合ガス(F30%−N70%)の流量を3.59L/Hr、反応液の温度を14〜17℃、ヘキサフルオロベンゼン導入時の反応液の温度を12〜16℃として以外は実施例1−2−2と同様に行い、収率45%で目的物を得た。沸点62〜63℃/2.80kPa。
O(CFSO
GC−MS 質量数(相対強度)119(100)、69(59.6)、67(54.8)、100(11.9)、31(10.9)、169(9.7)、50(3.2)、147(2.8)
O(CFSOOCHCF
H−NMR(溶媒CDCl、ppm)4.72(q,2H)、
19F−NMR(溶媒CDCl、ppm)−124.47(s,2F)、−110.65(t,2F)、−88.79(t,2F)、−87.29(s,3F)、−83.37(m,2F)、−74.97(q,3F)
実施例3−1[n−CO(CHSOFの製造]
アルコールをn−プロピルアルコール24g(0.4mol)、クロロホルム100g、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)を0.6g、塩化チオニルを47.6g(0.4mol)、反応時間を5Hr、また、クロロホルムをアセトニトリル40ml、水を40g、反応時間を3日間とし、実施例1−1−2と同様の反応操作を行った。収量15.l63g、GC純度99.l3%、収率84%。沸点97〜98℃/2.0kPa。
H−NMR(溶媒CDCl、ppm)0.92(t,3H)、1.15(m,2H)、2.19(m,2H)、3.39(t,2H)、3.53(m,4H)、
19F−NMR(溶媒CDCl、ppm)52.72(m,1F)
実施例3−2[n−CO(CFSOF及びn−CO(CFSOOCHCFの製造]
原料n−CO(CHSOFを3.8g(20mmol)、ベンゼンをヘキサフルオロベンゼン0.93g(5mmol)に変更し、実施例1−2−1と同様の調製を行った(原料液;全量4.2ml)。実施例1−2−2と同様の装置構成とし、粉末状フッ化ナトリウムを18g(0.43mol)、F複合ガス(F30%−N70%)の流量を5.13L/Hr、反応液の温度を16〜17℃、ヘキサフルオロベンゼン導入時の反応液の温度を15〜16℃とした以外は実施例1−2−2と同様に行い、収率47%で目的物を得た。沸点73〜75℃/2.80kPa。
n−CO(CFSOSO
GC−MS 質量数(相対強度)69(100)、67(78.6)、169(71.8)、100(17.5)、50(3.2)、233(0.5)、235(0.4)
n−CO(CFSOOCHCF
H−NMR(溶媒CDCl、ppm)4.71(q,2H)、
19F−NMR(溶媒CDCl、ppm)−130.42(s,2F)、−124.42(d,2F)、−110.69(s,2F)、−84.67(m,2F)、−83.24(m,2F)、−81.992(t,3F)、−75.04(t,3F)
実施例4−1[CHO(CHSOFの製造]
メタノールを33.6g(1.05mol)、1,4−ブタンスルトンを35.6g(0.26mol)、CFSOHを5滴(酸触媒)、10日間の還流反応。クロロホルム160g、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)を1g、塩化チオニルを119g(1mol)、反応時間を5Hr、クロロホルムをアセトニトリル228mlとし、フッ化カリウムを30.16g(0.52mol)、水を171g、反応時間を1日間とし、実施例1−1−2と同様の反応操作を行った。収量32.5g、GC純度99.1%、収率72%。沸点104〜106℃/2.53kPa。
H−NMR(溶媒CDCl、ppm)1.75(m,2H)、2.04(m,2H)、3.33(s,3H)、3.45(m,4H)、
19F−NMR(溶媒CDCl、ppm)52.45(m,1F)
実施例4−2[CFO(CFSOF及びCFO(CFSOOCHCFの製造]
原料CHO(CHSOFを3.4g(20mmol)、ベンゼンをヘキサフルオロベンゼン0.93g(5mmol)に変更し、実施例1−2−1と同様の調製を行った(原料液;全量3.9ml)。実施例1−2−2と同様の装置構成とし、粉末状フッ化ナトリウムを15.7g(0.37mol)、F複合ガス(F30%−N70%)の流量を4.39L/Hr、原料液の供給時間を6Hr、反応液の温度を14〜18℃、ヘキサフルオロベンゼン導入時の反応液の温度を14〜16℃とした以外は実施例1−2−2と同様に行い、収率40%で目的物を得た。沸点67〜69℃/2.80kPa。
CFO(CFSOSOSO
GC−MS 質量数(相対強度)69(100)、67(22.4)、169(7.7)、100(5.7)、119(1.9)、131(1.6)、135(1.4)
CFO(CFSOOCHCF
H−NMR(溶媒CDCl、ppm)4.72(q,2H)、
19F−NMR(溶媒CDCl、ppm)−125.70(m,2F)、−120.99(q,2F)、−110.24(t,2F)、−85.56(q,2F)、−74.99(t,3F)、−55.62(t,3F)
実施例5[CO(CFSOFの製造]
電解槽は、SUS316L製の有効容積480mlのものを用い、コンデンサーはSUS316L製を用いて、冷媒によって−21℃に冷却した。電極はニッケル板製の有効面積0.75dm/枚のものを使用し、間隔2mmで交互に配置した。
無水フッ化水素酸480gにCO(CHSOFを4.8g溶解し、陽極8枚と陰極9枚の電極に9Ahrで通電すると共にCO(CHSOFを、ポンプを用いて連続的に供給して電解フッ素化を行った。原料の総投入量255.47g、総通電量1209Ahr、電圧(安定時)5〜5.2V、電解槽内温度4〜6℃であった。
ペルフルオロ化生成物は、電解槽下部に設置したバルブから随時抜き出し、総量207.9gであった。ガスクロマトグラフ(キャピラリーカラム:DB−200)で分析した結果、CO(CFSOFはn/i−体混合物として80.36%含まれ、29.2%の収率であった。
蒸留を行って蒸留塔の塔頂から109〜110℃の留分を集め、ガスクロマトグラフで分析した結果、n−体88.83%、i−体10.06%、計98.89%であった。
19F−NMR(溶媒CDCl3,ppm)−130.08(s,2F)、−124.10(s,2F)、−108.54(s,2F)、−84.33(m,2F)、−82.82(m,2F)、−81.62(t,3F)、46.32(m,1F)
実施例6[CO(CFSOFの製造]
上記実施例5の条件から、陽極6枚と陰極7枚、通電6.75Ahrに変えた他は同様にして電解フッ素化を行った。
原料の総投入量272.71g、総通電量1134Ahr、電圧(安定時)5.2〜5.4V、電解槽内温度4〜6℃であった。
ペルフルオロ化生成物は実施例5と同様に抜き出し、総量138.9gであった。ガスクロマトグラフで分析した結果、CO(CFSOFは、n/i−体混合物として81.76%含まれ、17.6%の収率であった。
蒸留を行って蒸留塔の塔頂から130〜131℃の留分を集め、ガスクロマトグラフで分析した結果、n−体84.89%、i−体12.94%、計97.83%であった。
19F−NMR(溶媒CDCl3,ppm)−127.11(s,4F)、−126.88(d,2F)、−108.82(s,2F)、−83.58(m,2F)、−82.98(m,2F)、−81.68(t,3F)、46.03(m,1F)
実施例7[CO(CFSOK及びCO(CFSOKの製造]
先ず、CO(CFSOFを20%−KOH水溶液中で80℃、24時間処理した。次に、反応液を放冷し更に氷水で冷却して結晶を十分に析出させた後、濾取した。更に、水での再結晶を行い、得られた結晶を十分に乾燥した後アセトンに溶解し、0.2μmのフィルターで濾過した液をロータリーエバポレーターで濃縮・乾固し、室温で24時間減圧乾燥した。
19F−NMR(溶媒DMSO−d6,ppm)−129.32(s,2F)、−123.77(s,2F)、−114.59(s,2F)、−83.81(s,2F)、−82.44(m,2F)、−81.55(t,3F)。
熱分析(TG−DTA)結果:397.0℃(分解開始温度)。
O(CFSOFの場合も同様に行った。
19F−NMR(溶媒DMSO−d6,ppm)−126.01(d,4F)、−123.79(s,2F)、−111.61(s,2F)、−82.87(s,2F)、−82.44(m,2F)、−80.47(t,3F)。
熱分析(TG−DTA)結果:402.9℃(分解開始温度)。
実施例8[表面張力の測定]
O(CFSOK及びCO(CFSOKと、比較対象としてCO(CFSOK及びCSOKのイオン交換水中での表面張力を測定した。
表面張力の測定は、機器としてウィルヘルミ法自動表面張力計CBVP−Z型(協和界面科学株式会社製)を用い、測定温度を23℃とした。表1に結果を示す。
Figure 0005558067
表1に示すように、CO(CFSOK及びCO(CFSOKは、CO(CFSOK及びCSOKと比較して、表面張力の低下能が高いことが明らかとなった。
本発明によれば、比較的コストの低い炭化水素化合物で分子設計を行うことができ、その構造を保持したままペルフルオロ化合物を得ることができる。また、低コストであるばかりでなく、収率も良好である。このため、従来のペルフルオロアルキルスルホン酸及びその誘導体の代替化合物として多様な新規化合物を合成する方法として有用性が高い。

Claims (8)

  1. 一般式R OR SOY(式中、R およびR はそれぞれ炭素数1〜4の炭化水素基、Yはフッ素又は塩素)で示されるスルホニルハライドをペルフルオロ化してエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOX(式中、R およびR は上記 およびR 基中の水素原子をフッ素原子で置換した基、Xは−OH、アルコキシまたはハロゲン)を製造することを特徴とする含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
  2. 前記スルホニルハライドが、
    前記RH が炭素数1の炭化水素基の場合に、上記RH が炭素数3の炭化水素基(直鎖及び分岐状)であり、
    前記RH が炭素数3の炭化水素基(直鎖)の場合に、上記RH が炭素数1の炭化水素基、炭素数3の炭化水素基(直鎖及び分岐状)又は炭素数4の炭化水素基(直鎖及び分岐状)であり、
    前記RH が炭素数4の炭化水素基(直鎖)の場合に、上記RH が炭素数1の炭化水素基又は炭素数3の炭化水素基(直鎖及び分岐状)であることを特徴とする請求項1に記載の含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
  3. フッ化水素酸に請求項1又は2に記載のスルホニルフルオライド(R OR SOF)を加えて水素結合錯体を含む溶液とし、これを反応溶媒中にFガスと共に供給し、液相中でペルフルオロ化してエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOX(式中、R およびR は上記 およびR 基中の水素原子をフッ素原子で置換した基、Xは−OH、アルコキシまたはハロゲン)を製造することを特徴とする請求項1又は2に記載の含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
  4. 請求項1又は2に記載のスルホニルクロライド(R OR SOCl)をフッ化水素酸に加えてスルホニルフルオライドに変換すると共に水素結合錯体を含む溶液とし、これを反応溶媒中にFガスと共に供給し、液相中でペルフルオロ化してエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOX(式中、R およびR は上記 およびR 基中の水素原子をフッ素原子で置換した基を表し、Xは−OH、アルコキシまたはハロゲンを表す)を製造することを特徴とする請求項1又は2に記載の含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
  5. 前記ペルフルオロ化は、請求項1又は2に記載のスルホニルフルオライド(R OR SOF)を無水フッ化水素酸中で電解フッ素化して行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の含フッ素エーテルスルホン酸化合物の製造方法。
  6. 液相フッ素化反応液にフッ化水素酸の吸着剤として、予めNaFまたはKFを加えて懸濁させて反応を行う請求項3または請求項4に記載するエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOXの製造方法。
  7. 反応液中のフッ素化反応生成物(R OR SOF)を塩基とCF CH OHとを用いて、スルホン酸エステル(R OR SOCH CF )に転換し、蒸留による分離・精製を行った後、当該スルホン酸エステル(R OR SO OCH CF )にMOH(M=アルカリ金属)を作用させることを含む、請求項1〜請求項6の何れかに記載するエーテル構造を有するペルフルオロスルホン酸およびその誘導体R OR SOXの製造方法。
  8. 一般式R OR SOM(式中、R およびR は、それぞれ炭素数1〜4のペルフルオロアルキル基、MはLi,Na,K又はNH)で表される化合物であって、
    前記RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基の場合に、上記RF が炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)であり、
    前記RF が炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖)の場合に、上記RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基、炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)又は炭素数4のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)であり、
    前記RF が炭素数4のペルフルオロアルキル基(直鎖)の場合に、上記RF が炭素数1のペルフルオロアルキル基又は炭素数3のペルフルオロアルキル基(直鎖及び分岐状)である化合物を含むことを特徴とする界面活性剤。
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