JP5477302B2 - 炭化珪素半導体基板の製造方法および炭化珪素半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Description
本発明の第1実施形態について説明する。図1は、本発明の第1実施形態におけるSiC半導体基板に縦型の半導体素子を形成したSiC半導体装置の断面構成を示す図である。
また、イオン注入時にチャネリング防止用のキャップ酸化膜を単結晶SiC基板10の表面に形成しておき、イオン注入後に除去するようにしても良い。この場合、キャップ酸化膜により単結晶SiC基板10の主表面にコンタミネーションが付着することを抑制することもできる。
本発明の第2実施形態について説明する。本実施形態のSiC半導体装置は、支持基板1の構成を変更したものであり、その他に関しては第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。図3は、本実施形態におけるSiC半導体基板の製造工程を示す図である。
上記第1実施形態では、基板1aを構成する焼結体を炭化タンタルにて構成したものを説明し、上記第2実施形態では、基板1aをタングステン板を用いて構成した例について説明した。しかしながら、これらの材料は単なる一例を示したにすぎず、他の材料、例えば、多結晶または非晶質のSiC、炭素、金属炭化物、金属窒化物、金属硼化物、導電性セラミックス、高融点金属の少なくともいずれか一つを主成分とする材料を用いて焼結体を形成することができるし、これらの材料を用いて形成された基板を用いることができる。そして、これらの材料の中でもより好ましくは、上記第2実施形態で説明したタングステンのように、SiCと熱膨張係数が近いものを用いるのがよい。具体的には、炭化タングステン、金属モリブデン等が挙げられる。なお、これらの材料は、単結晶SiCよりも比抵抗の低い材料である。
1a 基板
1b SiC組成薄膜
2 n+型SiC層
3 n−型ドリフト層
4 p型ベース領域
5 n+型ソース領域
6 ゲート絶縁膜
7 ゲート電極
8 ソース電極
9 ドレイン電極
10 単結晶SiC基板
11 ダメージ層
12 ダイ
13 パンチ
14 炭化タンタル粉末
15 SiC組成粉末
Claims (6)
- 単結晶炭化珪素基板(10)を用意する工程と、
前記単結晶炭化珪素基板(10)の主表面から水素イオンを注入してダメージ層(11)を形成するダメージ層形成工程と、
単結晶炭化珪素より比抵抗が低い材料で構成された基板(1a)を用意する工程と、
前記基板(1a)を炭化珪素組成薄膜(1b)で被覆した支持基板(1)を形成する工程と、
前記単結晶炭化珪素基板(10)の前記主表面に前記支持基板(1)を接合する接合工程と、
熱処理することにより、前記ダメージ層(11)で前記単結晶炭化珪素基板(10)を剥離し、前記単結晶炭化珪素基板(10)の一部によって構成される単結晶炭化珪素層(2)を前記支持基板(1)上に備えた構造とする剥離工程と、を含む工程を行うことを特徴とする炭化珪素半導体基板の製造方法。 - 前記接合工程では、前記剥離工程のときの熱処理温度以下の温度と圧力を加えて接合することを特徴とする請求項1に記載の炭化珪素半導体基板の製造方法。
- 前記支持基板(1)を形成する工程では、前記基板(1a)を覆う状態で炭化珪素組成粉末(15)を配置し、加圧・加熱処理することで前記炭化珪素組成粉末(15)を焼結体化させると同時に前記基板(1a)と一体化させて前記支持基板(1)を形成することを特徴とする請求項1または2に記載の炭化珪素半導体基板の製造方法。
- 前記支持基板(1)を形成する工程では、化学的気相成長法又は物理的気相成長法により前記基板(1a)を被覆する炭化珪素組成薄膜(1b)を形成することを特徴とする請求項1または2に記載の炭化珪素半導体基板の製造方法。
- 前記剥離工程の後に、前記単結晶炭化珪素層(2)上に炭化珪素をエピタキシャル成長させて活性層(3)を形成する工程を行い、
前記基板(1a)として、前記活性層(3)が形成されるときの温度以上の耐熱性を有するものを用意することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載の炭化珪素半導体基板の製造方法。 - 請求項5に記載の製造方法で形成された炭化珪素半導体基板を用意し、
前記炭化珪素半導体基板に熱処理を含む工程を行って縦型の半導体素子の構成要素(4〜9)を形成する工程を行い、
前記基板(1a)として、前記熱処理を含む工程が行われるときの温度以上の耐熱性を有するものを用意することを特徴とする炭化珪素半導体装置の製造方法。
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