JP5475962B2 - 電子回路 - Google Patents

電子回路 Download PDF

Info

Publication number
JP5475962B2
JP5475962B2 JP2008117532A JP2008117532A JP5475962B2 JP 5475962 B2 JP5475962 B2 JP 5475962B2 JP 2008117532 A JP2008117532 A JP 2008117532A JP 2008117532 A JP2008117532 A JP 2008117532A JP 5475962 B2 JP5475962 B2 JP 5475962B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
memory array
electronic circuit
wiring layer
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008117532A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009266109A (ja
Inventor
忠広 黒田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Keio University
Original Assignee
Keio University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Keio University filed Critical Keio University
Priority to JP2008117532A priority Critical patent/JP5475962B2/ja
Priority to US12/289,995 priority patent/US8276822B2/en
Publication of JP2009266109A publication Critical patent/JP2009266109A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5475962B2 publication Critical patent/JP5475962B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/36Structural form of radiating elements, e.g. cone, spiral, umbrella; Particular materials used therewith
    • H01Q1/38Structural form of radiating elements, e.g. cone, spiral, umbrella; Particular materials used therewith formed by a conductive layer on an insulating support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/12Supports; Mounting means
    • H01Q1/22Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles
    • H01Q1/2283Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles mounted in or on the surface of a semiconductor substrate as a chip-type antenna or integrated with other components into an IC package
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q7/00Loop antennas with a substantially uniform current distribution around the loop and having a directional radiation pattern in a plane perpendicular to the plane of the loop

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Near-Field Transmission Systems (AREA)

Description

本発明は、積層実装されるIC(Integrated Circuit)ベアチップなどのチップ間の通信を好適に行うことができる電子回路に関する。
本発明者らは、LSI(Large Scale Integration)チップのチップ上の配線により形成されるコイルを介して積層実装されるチップ間で誘導結合による通信を行う電子回路を提案している(特許文献1〜7、非特許文献1〜3参照。)。
特開2005−228981号公報 特開2005−348264号公報 特開2006−050354号公報 特開2006−066454号公報 特開2006−105630号公報 特開2006−173986号公報 特開2006−173415号公報 D. Mizoguchi et al, "A1.2Gb/s/pin Wireless Superconnect based on Inductive Inter-chip Signaling(IIS)," IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC’04),Dig. Tech. Papers, pp. 142-143, 517, Feb. 2004. N. Miura et al, "Analysisand Design of Transceiver Circuit and Inductor Layout for Inductive Inter-chipWireless Superconnect," Symposium on VLSI Circuits, Dig. Tech. Papers, pp.246-249, Jun. 2004. N. Miura et al, "CrossTalk Countermeasures in Inductive Inter-Chip Wireless Superconnect," inProc. IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC'04), pp. 99-102, Oct.2004.
しかし、チップ上の配線によりコイルを形成するエリアを独立に確保するとチップが大きくなってしまうし、チップを極力小さくするためにコイルを小さくすると通信距離が短くなり遠く離れたチップとの通信ができなくなってしまう。
そこで、他の回路に重ねてコイルを配置することが考えられる。チップにメモリが集積される場合、大きく分けて情報を記憶するメモリアレイが存在する領域とメモリアレイに記憶されている情報を読み出す(及び/又はメモリアレイに記憶する情報を書き込む)周辺回路の領域が存在する。この内、周辺回路においては、一般にすべての金属配線を使用していて金属配線に余裕がないので、周辺回路の領域にコイルを重ねて配置するためにはコイル専用の金属配線を設けることが必要になり現実的ではない。また、メモリアレイの領域においては、一般に金属配線はビット線とワード線の2層が使われているだけで、ほとんど使用されていない金属配線層が存在する。しかし、情報の書き込み/読み出しに使用するこれらビット線とワード線は高密度に集積されており、ここに更に別の用途の配線を重ねることは、メモリの信頼性を損ねるように考えられ従来の常識からはためらわれる。このため、従来はメモリアレイの領域においては、一般に金属配線はビット線とワード線の2層が使われているだけで、ほとんど使用されていない金属配線層が存在する。
本発明は、上記問題点に鑑み、メモリアレイを有する基板が無線通信を行うためにアンテナを効率よく配置させた電子回路を提供することを目的とする。
請求項1記載の本発明の電子回路は、半導体基板上に、情報を記憶するメモリアレイと、該メモリアレイが存在する領域に重ねて前記メモリアレイを駆動する配線層とは別に、前記メモリアレイの周辺回路を形成する金属配線層により形成されているアンテナとしてのコイルと、前記コイルに接続され前記メモリアレイが存在する領域の外に配置されている送信器と、前記コイルと前記送信器とを結び、前記メモリアレイのビット線及びワード線に対して平行でないように配置された引き回し配線とを備えることを特徴とする。
また、請求項2記載の本発明の電子回路は、前記コイルは多角形であり、その各辺が前記メモリアレイのビット線及びワード線に対して平行でないように配置されていることを特徴とする。
また、請求項3記載の本発明の電子回路は、前記コイルは、前記メモリアレイが存在する領域において、前記引き回し配線も含めて重ならないように、複数回巻かれていることを特徴とする。
また、請求項4記載の本発明の電子回路は、半導体基板上に、情報を記憶するメモリアレイと、該メモリアレイが存在する領域に重ねて前記メモリアレイを駆動する配線層とは別に、前記メモリアレイの周辺回路を形成する金属配線層により形成されているアンテナとしてのコイルと、前記コイルに接続され、該コイルを所定の電位に保持しようとする電位保持回路と、該コイルの中央の電位を前記所定の電位に保持しつつ、送信データに従って該コイルを駆動するコイル駆動回路とを有する送信器とを備えることを特徴とする。
また、請求項5記載の本発明の電子回路は、第1半導体基板上の前記アンテナが存在する領域と第2半導体基板上の前記アンテナが存在する領域とが重ねられて両アンテナが無線通信するように、第1半導体基板と第2半導体基板とが積層実装されていることを特徴とする。
また、請求項6記載の本発明の電子回路は、前記アンテナによって他の電子回路と無線通信することを特徴とする。
また、請求項7記載の本発明の電子回路は、情報を記憶するメモリアレイと、該メモリアレイが存在する領域に重ねて前記メモリアレイを駆動する配線層とは別に、前記メモリアレイの周辺回路を形成する金属配線層により形成されている第1アンテナとしてのコイルと、前記コイルに接続され前記メモリアレイが存在する領域の外に配置されている送信器と、前記コイルと前記送信器とを結び、前記メモリアレイのビット線及びワード線に対して平行でないように配置された引き回し配線とを有する第1半導体基板と、前記第1アンテナが存在する領域に重ねて金属配線層により形成されている第2アンテナを有する第3半導体基板とを備えることを特徴とする。
また、請求項8記載の本発明の電子回路は、情報を記憶するメモリアレイと、該メモリアレイが存在する領域に重ねて前記メモリアレイを駆動する配線層とは別に、前記メモリアレイの周辺回路を形成する金属配線層により形成されている第1アンテナとしてのコイルと、前記コイルに接続され、該コイルを所定の電位に保持しようとする電位保持回路と、該コイルの中央の電位を前記所定の電位に保持しつつ、送信データに従って該コイルを駆動するコイル駆動回路とを有する送信器とを有する第1半導体基板と、前記第1アンテナが存在する領域に重ねて金属配線層により形成されている第2アンテナを有する第3半導体基板とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、チップ寸法を大きくせずに(したがって製造コストを高くせずに)メモリアレイ上に誘導結合通信用のチャネルを設置できる。
メモリアレイ上は広いので、大きなコイルを設置でき、遠距離まで通信できる。通信できる距離は、およそコイルの直径程度である。また、コイルの直径が大きいほど、チップの積層時の合わせ誤差に強くなる。積層するチップをボンディング配線のための領域を確保するために、あえて相互にずらすことも可能になる。
ロジック集積回路に混載されたメモリの場合は、メモリアレイ上に使用されていない複数の金属配線層があるので、巻き数を増やすことでコイルの寸法を小さくできる。
また、メモリアレイはチップ寸法の大きな面積を占めることが多いので、多数のチャネルを並列に形成することができて、通信帯域を大きくできる。
以下、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明の実施例1による電子回路の構成を示す図である。図は積層実装される電子回路の内の1つのLSIチップについて示している。LSIチップは、メモリアレイ11、例えばデコーダである周辺回路12、及び例えばセンスアンプである周辺回路13から成る。メモリアレイ11には、多くのワード線14及びビット線15が高密度に配置され、それらの交点にはメモリセル16が配置される。ワード線14によってメールセル行を選択し、ビット線15によって信号を書き込み又は読み出す。図ではワード線14、ビット線15、及びメモリセル16をそれぞれ1つずつ示した。このメモリアレイ11の領域に、送受信器21に接続され、誘導結合による通信を行うためのコイル22を配置する。コイル22は、ワード線14及びビット線15とは異なる金属配線層を用いて形成する。その際に、コイル22の形状を多角形、ここでは例えば四角形として、その各辺がワード線14及びビット線15に対して平行でないように配置する。図の括弧の中には逆にコイルの各辺がワード線14又はビット線15に対して平行となる例を示しているが、この場合でも後述する実施例によってその影響を小さくすることができる。
本実施例においては、更に、送受信器21とコイル22とを結ぶ引き回し配線26をワード線14及びビット線15に対して平行でないように配置した。これらにより、コイル22及び引き回し配線26とワード線14及びビット線15との容量結合及び磁界結合を小さくすることができる。
図2は、本発明の実施例1による電子回路の実装例を示す図である。図2(a)は図1と同じ平面図であり、図2(b)は図2(a)のBB'線における断面図である。図は、メモリアレイ11とロジック回路45を有する標準的なLSIチップを示しており、半導体基板41の上に3層の金属配線層42〜44が積層されている。第1層の金属配線層42によってワード線14を形成し、第2層の金属配線層43によってビット線15を形成し、第3層の金属配線層44によってコイル22を形成している。周辺回路12、13やロジック回路45には3層以上の金属配線層が使われるが、メモリアレイ11にはほとんど2層しか使われないので、その領域の使われていない金属配線層を使ってコイル22を形成している。なお、どの金属配線層に何を形成するかは任意に選択することができるのであって、この例に限られない。
図3は、本発明の実施例2による電子回路の構成を示す図である。本実施例は、コイル23の形状を8角形としたものである。本実施例においても、コイル23の各辺がワード線14及びビット線15に対して平行でないように配置され、送受信器21とコイル23とを結ぶ引き回し配線26をワード線14及びビット線15に対して平行でないように配置している。コイルの形状はその他の任意の多角形でも良い。図の括弧の中には逆にコイルのいずれかの辺がワード線14又はビット線15に対して平行となる例を示しているが、この場合でも後述する実施例によってその影響を小さくすることができる。
図4は、実施例1の作用を示す図である。図4(a)は実施例1の場合、図4(b)は本実施例を適用しない場合をそれぞれ示す。図4(a)に示す実施例1の場合におけるコイル22及び引き回し配線26とビット線15とが重なる部分31と、図4(b)に示す本実施例を適用しない場合においてコイル22及び引き回し配線26とビット線15とが重なる部分32とを比較すると、重なる部分32と比べて重なる部分31は格段に小さいことが分かる。このため、ビット線15の容量と比べてコイル22及び引き回し配線26との結合容量は十分に小さい。さらに、コイル22及び引き回し配線26の電位変動によるビット線15の電位変動は十分に小さい。ワード線14についても同様のことが言える。
図5は、本発明の実施例3による電子回路の構成を示す図である。図6は、本実施例を適用しない場合の電子回路の構成を示す図である。コイル24を複数回、例えば2回、巻く場合、普通に巻くと、図6に示すように、メモリアレイ11上で金属配線層が2層とVIA(層間接続線)が必要になる。これに対して図5に示すように、コイルを1回巻くごとに送受信器21まで配線を引き回すようにレイアウトすると、メモリアレイ11上では金属配線層を1層使用するだけで済む。これにより、1層の金属配線層で複数回巻回するコイルを形成することができる。
図7は、本発明の実施例4による電子回路の構成を示す図である。本実施例は、コイル33の一部をメモリアレイ11の外にはみ出し、そこでVIAを用いてコイル33を複数回巻くものである。本実施例においても、メモリアレイ11上では金属配線層を1層使用するだけで済み、これにより、1層の金属配線層で複数回巻回するコイルを形成することができる。
コイルの巻き数を増やすことで、コイルの自己インダクタンスを大きくすることができ、受信信号を大きくすることができる。その結果、通信距離を長くしたり、通信の信頼性を高めることができる。
図8は、本発明の実施例1による送信器の構成を示す図である。図9は、本発明の実施例1による送信器の各部の波形を示す図である。図10は、従来の送信器の構成を示す図である。図11は、従来の送信器の各部の波形を示す図である。図10に示す従来の送信器は、遅延回路81、インバータ82、NAND83、NOR84、インバータ86及びトランジスタT1〜T4から成り、トランジスタT1とトランジスタT2、及び、トランジスタT3とトランジスタT4がそれぞれインバータを形成して、バッファとして機能し、送信コイル85を駆動する。
信号を送信するとき、信号Tx/バー(Rx)はハイとなる。その結果、NAND83とNOR84は、いずれもインバータと同じ動作をすることになるので、送信データTxdataの信号は、トランジスタT1とトランジスタT2に入力した後ある時間が経過した後に、同じ極性の信号としてトランジスタT3とトランジスタT4に入力することになる。たとえば、まず送信データTxdataがローであるとすると、トランジスタT1とトランジスタT3がオンであるので、送信コイル85の電位は電源電位VDDであり、送信コイル85に流れる電流ITは0である。つぎに、送信データTxdataがローからハイに変化すると、まず、トランジスタT1がオフして、同時にトランジスタT2がオンする。このとき、それ以前と同様に、トランジスタT3はオン、トランジスタT4はオフのままである。したがって、送信コイル85に正方向に電流ITが流れる。このとき、送信コイル85の各部の電位はトランジスタT3とトランジスタT2のオン抵抗の比で決まるVDDとVSS(GND)の中間の電位であるVA、VB、VCに変化する。実際には、これらVA、VB、VCはほとんど同電位である。この送信データTxdataのローからハイへの変化は、遅延回路81、インバータ86、NAND83、及びNOR84を介して、トランジスタT3、T4に伝播し、トランジスタT3はオフしてトランジスタT4はオンする。その結果、送信コイル85に流れる電流ITはゼロになる。このとき、送信コイル85の電位はVSSになる。また、送信データTxdataがハイからローに変化した場合も、上記説明と同様で逆極性の回路動作をする。この送信コイル85の電位の変動はビット線15などに容量結合によるノイズVNCとなって大きく影響する。なお、この送信コイル85の電流はその流れる時間を短くすることで、ビット線15などへの誘導結合によるノイズVNLは必要最小限に抑えることができる。このように、従来の回路では、信号を送信する際に、送信コイルの電位が大きく変動し、メモリアレイのビット線やワード線との容量結合などによる影響が懸念された。
これに対して図8に示す実施例1による送信器は、NAND71、73、NOR72、74、抵抗76、77、78、及びトランジスタP1〜P3、N1〜N3から成る。NAND71、73、NOR72、74、及びトランジスタP1、P2、N1、N2は、送信コイル75を駆動するコイル駆動回路であり、抵抗76、77、78、及びトランジスタP3、N3は、送信コイル75をトランジスタP3とトランジスタN3のオン抵抗の比で決まるVDDとVSSの中間の電位に保持しようとする電位保持回路である。信号CPはクロックTxclkから図8(b)に示す回路によって作成され、その波形を図8(c)に示す。図8(b)に示す回路は、NOR61、NAND62、バッファ63、及びインバータI1〜I4から成る。信号CPがローのとき、送信データTxdataにかかわらず、トランジスタP1〜P3、N1〜N3はオフであり、送信コイル75に電流は流れず、送信コイル75は電位保持回路によって所定の電位に保持される。クロックTxclkに同期した信号CPがハイのとき、送信データTxdataに従って送信コイル75に電流が流れる。送信データTxdataがハイのとき、トランジスタP1、N2がオン、トランジスタP2、N1がオフになり、送信コイル75には電流ITが流れ、このとき、送信コイル75の各部の電位はトランジスタP1とトランジスタN2のオン抵抗の比で決まるVDDとVSSの中間の電位であるVA、VB、VCになる。実際には、これらVA、VB、VCはほとんど同電位である。また、送信データTxdataがローのとき、トランジスタP2、N1がオン、トランジスタP1、N2がオフになり、送信コイル75には電流−ITが流れ、送信コイル75の電位はトランジスタP2とトランジスタN1のオン抵抗の比で決まるVDDとVSSの中間の電位であるVA、VB、VCになる。したがって、トランジスタP1、N2のオン抵抗の比と、トランジスタP2、N1のオン抵抗の比と、トランジスタP3、N3のオン抵抗の比が等しくなるように各トランジスタのサイズを設計すると、電位保持回路が出力する電位と、送信データTxdataが変化して信号CPがハイとなる期間に送信器が送信コイル75を駆動するときの電位がほとんど等しくなり、送信コイル75の電位は常にほとんど一定となる。実際には、製造ばらつきなどの影響で、わずかな電位の変化を生じ得る。しかし、信号CPをハイとする期間はとても短く例えば300p秒程度である。これに対してメモリの書き込み/読み出しの速度は例えば3n秒/ビット程度から3μ秒/ビット程度である。このように、送信コイルを駆動する時間を、メモリアレイのビット線及びワード線の信号が変化する時間に比べて十分に短くすることによって、信号CPをハイとする僅かの期間に送信コイルの電位が変化しても、メモリの書き込み/読み出しに与える影響を小さくすることができる。また、電位保持回路が送信コイル75を所定の電位に保持しようとしているので、送信コイル75に電流が流れる場合でも送信コイル75の電位が大きく変化することはないから、この点からも、メモリの書き込み/読み出しに与える影響は小さい。
なお、電位保持回路の出力は、抵抗を介して、送信コイル75の中央に接続しても同様の効果が得られる。
なお、本発明は上記実施の形態に限定されるものではない。
図12は、本発明の適用例を示す図である。図12(a)は最も典型的な適用例であり、メモリアレイ11とコイル22を有する複数のチップ52を積層実装したLSI51の例である。なお、図は模式的に示したものであり、実際には他のチップが積層実装されていても良い。図12(b)はメモリアレイ11とコイル22を有するチップ52にコイル22を有するチップ54を積層実装したLSI53の例である。図12(c)は逆に、コイル22を有するチップ54にメモリアレイ11とコイル22を有するチップ52を積層実装したLSI55の例である。図12(d)はメモリアレイ11とコイル22を有するLSI56とコイル22を有するLSI57との組合せの例であり、この例はLSIどうしで誘導結合による通信を行うものである。
上記実施例においては、コイルの全体がメモリアレイの領域に重ねて形成される例を示したが、コイルの一部がメモリアレイの領域に重なっている場合でも良い。
コイルの開口を大きくすると、チップ間で積層位置が多少ずれていて、したがって、コイル開口相互の積層位置が多少ずれていても通信することができる。
メモリは読み出し専用のメモリであっても良いし、書き込み可能なメモリであっても良い。
アンテナとして、コイルに代えて棒状など他の形状のアンテナでも良いし、容量結合による通信を行うコンデンサ電極を用いても良い。
アンテナは、本電子回路内の通信に用いる場合だけでなく、他の電子回路との通信のために用いるものであっても良い。
送受信器は、送信器又は受信器であっても良い。すなわち、コイルを送受信器に接続して送信及び受信に共用する場合、コイルを送信器に接続して送信コイルとして使用する場合、及びコイルを受信器に接続して受信コイルとして使用する場合がありうるのであって、これらのいずれも本発明の範囲である。この点、特許請求の範囲には代表的に送信器と記載したが、その送信器は受信器又は送受信器である場合を含む。同様に、特許請求の範囲に記載したアンテナ及びコイルも送信用、受信用及び送受信用のいずれの場合も含む。
本発明の実施例1による電子回路の構成を示す図である。 本発明の実施例1による電子回路の実装例を示す図である。 本発明の実施例2による電子回路の構成を示す図である。 実施例1の作用を示す図である。 本発明の実施例3による電子回路の構成を示す図である。 実施例3を適用しない場合の電子回路の構成を示す図である。 本発明の実施例4による電子回路の構成を示す図である。 本発明の実施例1による送信器の構成を示す図である。 本発明の実施例1による送信器の各部の波形を示す図である。 従来の送信器の構成を示す図である。 従来の送信器の各部の波形を示す図である。 本発明の適用例を示す図である。
符号の説明
11 メモリアレイ
12、13 周辺回路
14 ワード線
15 ビット線
16 メモリセル
21 送受信器
22、23、24、33 コイル
26〜28 引き回し配線
41 半導体基板
42、43、44 金属配線層
45 ロジック回路
52、54 チップ
51、53、55、56、57 LSI
63 バッファ
75、85 送信コイル
76〜78 抵抗
81 遅延回路
I1〜I4 インバータ
P1〜P3、N1〜N3、T1〜T4 トランジスタ

Claims (8)

  1. 半導体基板上に、情報を記憶するメモリアレイと
    該メモリアレイが存在する領域に重ねて前記メモリアレイを駆動する配線層とは別に、前記メモリアレイの周辺回路を形成する金属配線層により形成されているアンテナとしてのコイルと、
    前記コイルに接続され前記メモリアレイが存在する領域の外に配置されている送信器と、
    前記コイルと前記送信器とを結び、前記メモリアレイのビット線及びワード線に対して平行でないように配置された引き回し配線と
    を備えることを特徴とする電子回路。
  2. 前記コイルは多角形であり、その各辺が前記メモリアレイのビット線及びワード線に対して平行でないように配置されていることを特徴とする請求項1記載の電子回路。
  3. 前記コイルは、前記メモリアレイが存在する領域において、前記引き回し配線も含めて重ならないように、複数回巻かれていることを特徴とする請求項1又は2記載の電子回路。
  4. 半導体基板上に、情報を記憶するメモリアレイと、
    該メモリアレイが存在する領域に重ねて前記メモリアレイを駆動する配線層とは別に、前記メモリアレイの周辺回路を形成する金属配線層により形成されているアンテナとしてのコイルと、
    前記コイルに接続され、
    該コイルを所定の電位に保持しようとする電位保持回路と、
    該コイルの中央の電位を前記所定の電位に保持しつつ、送信データに従って該コイルを駆動するコイル駆動回路と
    を有する送信器と
    を備えることを特徴とする電子回路。
  5. 第1半導体基板上の前記アンテナが存在する領域と第2半導体基板上の前記アンテナが存在する領域とが重ねられて両アンテナが無線通信するように、第1半導体基板と第2半導体基板とが積層実装されていることを特徴とする請求項1又は4記載の電子回路。
  6. 前記アンテナによって他の電子回路と無線通信することを特徴とする請求項1又は4記載の電子回路。
  7. 情報を記憶するメモリアレイと
    該メモリアレイが存在する領域に重ねて前記メモリアレイを駆動する配線層とは別に、前記メモリアレイの周辺回路を形成する金属配線層により形成されている第1アンテナとしてのコイル
    前記コイルに接続され前記メモリアレイが存在する領域の外に配置されている送信器と、
    前記コイルと前記送信器とを結び、前記メモリアレイのビット線及びワード線に対して平行でないように配置された引き回し配線と
    を有する第1半導体基板と、
    前記第1アンテナが存在する領域に重ねて金属配線層により形成されている第2アンテナを有する第3半導体基板と
    を備えることを特徴とする電子回路。
  8. 情報を記憶するメモリアレイと
    該メモリアレイが存在する領域に重ねて前記メモリアレイを駆動する配線層とは別に、前記メモリアレイの周辺回路を形成する金属配線層により形成されている第1アンテナとしてのコイル
    前記コイルに接続され、
    該コイルを所定の電位に保持しようとする電位保持回路と、
    該コイルの中央の電位を前記所定の電位に保持しつつ、送信データに従って該コイルを駆動するコイル駆動回路と
    を有する送信器と
    を有する第1半導体基板と、
    前記第1アンテナが存在する領域に重ねて金属配線層により形成されている第2アンテナを有する第3半導体基板と
    を備えることを特徴とする電子回路。
JP2008117532A 2008-04-28 2008-04-28 電子回路 Active JP5475962B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008117532A JP5475962B2 (ja) 2008-04-28 2008-04-28 電子回路
US12/289,995 US8276822B2 (en) 2008-04-28 2008-11-10 Electronic circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008117532A JP5475962B2 (ja) 2008-04-28 2008-04-28 電子回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009266109A JP2009266109A (ja) 2009-11-12
JP5475962B2 true JP5475962B2 (ja) 2014-04-16

Family

ID=41214498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008117532A Active JP5475962B2 (ja) 2008-04-28 2008-04-28 電子回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8276822B2 (ja)
JP (1) JP5475962B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5283075B2 (ja) 2008-12-26 2013-09-04 学校法人慶應義塾 電子回路
JP5374246B2 (ja) * 2009-06-12 2013-12-25 学校法人慶應義塾 密封型半導体記録媒体及び密封型半導体記録装置
US9305606B2 (en) * 2009-08-17 2016-04-05 Micron Technology, Inc. High-speed wireless serial communication link for a stacked device configuration using near field coupling
US9401745B1 (en) 2009-12-11 2016-07-26 Micron Technology, Inc. Wireless communication link using near field coupling
JP6233716B2 (ja) * 2012-09-18 2017-11-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 アンテナ、送信装置、受信装置、三次元集積回路、及び非接触通信システム
KR102048443B1 (ko) 2012-09-24 2020-01-22 삼성전자주식회사 근거리 무선 송수신 방법 및 장치
US9509375B2 (en) * 2013-08-01 2016-11-29 SK Hynix Inc. Wireless transceiver circuit with reduced area

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5701037A (en) * 1994-11-15 1997-12-23 Siemens Aktiengesellschaft Arrangement for inductive signal transmission between the chip layers of a vertically integrated circuit
JP4131544B2 (ja) * 2004-02-13 2008-08-13 学校法人慶應義塾 電子回路
JP4193060B2 (ja) 2004-06-04 2008-12-10 学校法人慶應義塾 電子回路
JP4677598B2 (ja) 2004-08-05 2011-04-27 学校法人慶應義塾 電子回路
JP4124365B2 (ja) 2004-08-24 2008-07-23 学校法人慶應義塾 電子回路
JP5024740B2 (ja) 2004-09-30 2012-09-12 学校法人慶應義塾 Lsiチップ試験装置
JP2006173986A (ja) * 2004-12-15 2006-06-29 Keio Gijuku 電子回路
JP2006173415A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Keio Gijuku 電子回路
WO2006129817A1 (en) * 2005-05-31 2006-12-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, manufacturing method thereof, and manufacturing method of antenna
US8816484B2 (en) * 2007-02-09 2014-08-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009266109A (ja) 2009-11-12
US20090267848A1 (en) 2009-10-29
US8276822B2 (en) 2012-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5475962B2 (ja) 電子回路
JP4205553B2 (ja) メモリモジュール及びメモリシステム
JP5283075B2 (ja) 電子回路
KR102047930B1 (ko) 임피던스 조정 기능을 갖는 적층형 반도체 회로
WO2006013835A1 (ja) 電子回路
JPWO2009069532A1 (ja) 電子回路
JP2013534100A (ja) 平衡したオンダイターミネーション
JP2010015654A (ja) 電子回路装置
US7236012B2 (en) Data output driver that controls slew rate of output signal according to bit organization
JP2013077358A (ja) 半導体装置
JP4193060B2 (ja) 電子回路
JP5301262B2 (ja) 半導体装置、及び動作モ−ド切換方法
JP5326088B2 (ja) 電子回路と通信機能検査方法
CN112420091A (zh) 半导体装置以及包括其的半导体系统
JP5436997B2 (ja) 集積回路
US10255954B1 (en) Memory device
US7518898B2 (en) Semiconductor memory device with strengthened power and method of strengthening power of the same
US9508407B2 (en) Wiring configuration of a bus system and power wires in a memory chip
JP2010034436A (ja) 半導体集積回路装置
JP5616813B2 (ja) 電子回路
JP2012003812A (ja) 半導体デバイス
JP4209792B2 (ja) 半導体集積回路装置及び非接触電子装置
JP2008097814A (ja) 積層メモリ、メモリモジュール及びメモリシステム
JP4649939B2 (ja) 半導体記憶装置の入出力回路、入出力方法、組立方法、及び半導体記憶装置
KR20110012405A (ko) 쓰루 실리콘 비아 방식의 반도체 집적회로

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110404

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130417

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130613

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130702

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130930

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130930

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20131023

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131113

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140110

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140129

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140207

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5475962

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250