JP5431784B2 - 印刷された半田ペーストの検査方法および装置 - Google Patents
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Description
プリント回路基板上の複数個所に印刷用マスクを使用して印刷された半田ペーストについて、前記プリント回路基板の表面から前記印刷された半田ペーストの表面までの高さを計測する第1のステップと、
前記第1のステップで計測された、前記印刷された半田ペーストの表面の高さと前記プリント回路基板上の座標値とで表される三次元形状データを生成する第2のステップと、
前記第2のステップで生成された三次元形状データから、前記印刷された半田ペーストそれぞれについての、偏りの度合いおよび偏りの方向を示す、三次元形状の特徴量を数値化して抽出する第3のステップと、
前記第3のステップで抽出された、前記印刷された半田ペーストの三次元形状の特徴量に応じて前記印刷された半田ペーストを分類し、その分類毎の前記印刷された半田ペーストの数または割合を算出する第4のステップとを含み、
前記三次元形状の特徴量を数値化するときに、前記印刷用マスクの開口の寸法により前記特徴量を標準化することを特徴とする。
印刷用マスクの開口の直交する2方向の最大寸法により特徴量を標準化するのが好ましい。
または、特徴量の標準化に代えて、
前記第3のステップで、
前記回路基板面から一定距離の面における前記半田ペーストの断面の重心と、前記半田ペーストの体積重心と、を結ぶベクトルの長さを、前記偏りの度合いとして数値化するとともに、前記ベクトルの方向と基準方向との角度を、前記偏りの方向として数値化してもよく、このとき、例えば、第4のステップで、
数値化された偏りの度合いを、その大きさによりグループ化するとともに、数値化された偏りの方向を、その大きさによりグループ化してもよい。
プリント回路基板上の複数個所に印刷用マスクを使用して印刷された半田ペーストについて、前記プリント回路基板の表面から前記印刷された半田ペーストの表面までの高さを計測する高さ計測手段と、
前記高さ計測手段により計測された、前記印刷された半田ペーストの表面の高さと前記プリント回路基板上の座標値とで表される三次元形状データを生成する形状データ生成手段と、
前記三次元形状データから、印刷された半田ペーストそれぞれについて、偏りの度合いおよび偏りの方向である三次元形状の特徴量を数値化して抽出する特徴抽出手段と、
前記特徴抽出手段により抽出された、印刷された半田ペーストそれぞれについての三次元形状の特徴量に応じて、前記印刷された半田ペーストを分類し、その分類毎の前記印刷された半田ペーストの数または割合を算出する集計手段とを備え、
前記特徴抽出手段が、前記三次元形状の特徴量を数値化するときに、前記印刷用マスクの開口の寸法により前記特徴量を標準化する。
または、前記特徴抽出手段は、
前記回路基板面から一定距離の面における前記半田ペーストの断面の重心と、前記半田ペーストの体積重心と、を結ぶベクトルの長さを、前記偏りの度合いとして数値化するとともに、前記ベクトルの方向と基準方向との角度を、前記偏りの方向として数値化してもよく、このとき、例えば、前記集計手段は、
数値化された偏りの度合いを、その大きさによりグループ化するとともに、数値化された偏りの方向を、その大きさによりグループ化してもよい。
[(Xb−Xa)/Lx、(Yb−Ya)/Ly]
となる。以下、このベクトルを標準化ベクトルと呼ぶ。
Claims (9)
- プリント回路基板上の複数個所に印刷用マスクを使用して印刷された半田ペーストについて、前記プリント回路基板の表面から前記印刷された半田ペーストの表面までの高さを計測する第1のステップと、
前記第1のステップで計測された前記印刷された半田ペーストの表面の高さと前記プリント回路基板上の座標値とで表される三次元形状データを生成する第2のステップと、
前記第2のステップで生成された三次元形状データから、前記印刷された半田ペーストそれぞれについての偏りの度合いおよび偏りの方向である三次元形状の特徴量を数値化して抽出する第3のステップと、
前記第3のステップで抽出された、前記印刷された半田ペーストの三次元形状の特徴量に応じて前記印刷された半田ペーストを分類し、その分類毎の前記印刷された半田ペーストの数またはそれが検査対象数に占める割合を算出する第4のステップとを含み、
前記三次元形状の特徴量を数値化するときに、前記印刷用マスクの開口の寸法により前記特徴量を標準化することを特徴とする、印刷された半田ペーストの検査方法。 - 前記印刷用マスクの開口の直交する2方向の最大寸法により前記特徴量を標準化する請求項1記載の半田ペーストの検査方法。
- プリント回路基板上の複数個所に印刷用マスクを使用して印刷された半田ペーストについて、前記プリント回路基板の表面から前記印刷された半田ペーストの表面までの高さを計測する第1のステップと、
前記第1のステップで計測された前記印刷された半田ペーストの表面の高さと前記プリント回路基板上の座標値とで表される三次元形状データを生成する第2のステップと、
前記第2のステップで生成された三次元形状データから、前記印刷された半田ペーストそれぞれについての偏りの度合いと偏りの方向である三次元形状の特徴量を数値化して抽出する第3のステップと、
前記第3のステップで抽出された、前記印刷された半田ペーストの三次元形状の特徴量に応じて前記印刷された半田ペーストを分類し、その分類毎の前記印刷された半田ペーストの数またはそれが検査対象数に占める割合を算出する第4のステップとを含み、
前記第3のステップで、
前記回路基板面から一定距離の面における前記半田ペーストの断面の重心と、前記半田ペーストの体積重心と、を結ぶベクトルの長さを、前記偏りの度合いとして数値化するとともに、前記ベクトルの方向と基準方向との角度を、前記偏りの方向として数値化することを特徴とする半田ペーストの検査方法。 - 前記第4のステップで算出された分類毎の前記印刷された半田ペーストの数または割合にもとづいて、印刷の良否を判定する第5のステップをさらに含む請求項1または3に記載の印刷された半田ペーストの検査方法。
- 半田ペーストが印刷された時刻の異なる複数の前記プリント回路基板を対象として前記第1から第4のステップを実行し、かつ前記第4のステップの集計結果を前記プリント回路基板毎に記録する、請求項1または3に記載の印刷された半田ペーストの検査方法。
- プリント回路基板上の複数個所に印刷用マスクを使用して印刷された半田ペーストについて、前記プリント回路基板の表面から前記印刷された半田ペーストの表面までの高さを計測する高さ計測手段と、
前記高さ計測手段により計測された前記印刷された半田ペーストの表面の高さと、前記プリント回路基板上の座標値とで表される三次元形状データを生成する形状データ生成手段と、
前記三次元形状データから、印刷された半田ペーストそれぞれについて、偏りの度合いおよび偏りの方向である三次元形状の特徴量を数値化して抽出する特徴抽出手段と、
前記特徴抽出手段により抽出された印刷された半田ペーストそれぞれについての三次元形状の特徴量に応じて前記印刷された半田ペーストを分類し、その分類毎の前記印刷された半田ペーストの数またはそれが検査対象数に占める割合を算出する集計手段と
を備え、
前記特徴抽出手段が、前記三次元形状の特徴量を数値化するときに、前記印刷用マスクの開口の寸法により前記特徴量を標準化することを特徴とする、印刷された半田ペーストの検査装置。 - 前記特徴抽出手段が、前記印刷用マスクの開口の直交する2方向の最大寸法により前記特徴量を標準化する請求項6記載の半田ペーストの検査装置。
- プリント回路基板上の複数個所に印刷用マスクを使用して印刷された半田ペーストについて、前記プリント回路基板の表面から前記印刷された半田ペーストの表面までの高さを計測する高さ計測手段と、
前記高さ計測手段により計測された前記印刷された半田ペーストの表面の高さと、前記プリント回路基板上の座標値とで表される三次元形状データを生成する形状データ生成手段と、
前記三次元形状データから、印刷された半田ペーストそれぞれについて、偏りの度合いおよび偏りの方向である三次元形状の特徴量を数値化して抽出する特徴抽出手段と、
前記特徴抽出手段により抽出された印刷された半田ペーストそれぞれについての三次元形状の特徴量に応じて前記印刷された半田ペーストを分類し、その分類毎の前記印刷された半田ペーストの数またはそれが検査対象数に占める割合を算出する集計手段と
を備え、
前記特徴抽出手段が、
前記回路基板面から一定距離の面における前記半田ペーストの断面の重心と、前記半田ペーストの体積重心と、を結ぶベクトルの長さを、前記偏りの度合いとして数値化するとともに、前記ベクトルの方向と基準方向との角度を、前記偏りの方向として数値化することを特徴とする、印刷された半田ペーストの検査装置。 - 前記集計手段によって算出された分類毎の前記印刷された半田ペーストの数または割合にもとづいて、印刷の良否を判定する良否判定手段と、
前記良否判定の結果を出力する出力手段と
をさらに備える、請求項6または8に記載の印刷された半田ペーストの検査装置。
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