JP5367241B2 - 画像読取処理装置、画像読取装置、および、画像読取処理方法 - Google Patents

Description

本発明は、画像読取処理装置、画像読取装置、および、画像読取処理方法に関し、特に、画像データの傾き補正や原稿領域の切り出しを行うための画像読取処理装置、画像読取処理方法、および、画像読取装置に関する。

従来、画像読取装置において読取った画像データの、傾き補正（デスキュー）や原稿領域の切り出し（クロッピング）や画像サイズの判定等を行うために、画像読取装置の裏当て部の地色と原稿の地色との濃度差に基づいて、原稿領域を判断する方法がある。

例えば、特許文献１の画像読取装置は、ラインセンサで読取った画像データの傾きを補正するために、ラインセンサの出力から原稿の位置および幅を検知し、検知結果に基づいて傾きを判別する。

また、特許文献２の画像読取装置は、原稿サイズを検知するために、原稿サイズを検知するために、画像読取可能な位置に均一濃度部材を設け、この部材と原稿との境界を光学的に検知して、原稿位置と原稿幅を検知する装置である。

また、原稿領域を自動で認識するために、画像読取装置の裏当て部を白黒切り替え可能な機構とし、画像を読取る時は裏当て部を黒にして、原稿とのコントラストが生じるようにする方法がある。

ここで、特許文献３の画像処理装置は、原稿のバインダー穴を認識するために、原稿の表面および裏面を読み取り、読取った画像の解像度を低解像度に変換し、低解像度の表面および裏面画像において共通する特徴量を有する部分を原稿の穴として検出する。

また、特許文献４の画像読取装置は、原稿サイズを検知するために、光電変換手段により読み取り可能な位置に、複数の均一濃度基準版を配し、均一濃度基準版とともに原稿を両面から読み取り、濃度差に応じて一方の読取データの原稿サイズを検出する装置である。

特開２００１−３５８９１４号公報 特開平８−３１７１３８号公報 特開２００６−２２９８５８号公報 特開２００６−５８３４号公報

しかしながら、従来の画像読取装置においては、裏当て部の濃度と原稿の濃度の間に差がない場合には、原稿領域を検知することができず、傾き補正や原稿領域の切り出しや原稿サイズの判定等を失敗するという問題がある。例えば、特許文献１や２の画像読取装置においては、裏当て部が黒で、原稿の地色が高濃度（黒など）の場合には、原稿領域を認識することができず、傾き補正や切り出しに失敗していた。図１は、従来技術の原稿領域の識別処理における問題点を示す模式図である。

図１上段（表面）に示すように、従来の画像読取装置は、読取った画像のうち、裏当て領域の地色と、原稿領域の地色と、の濃度差（コントラスト差）を認識して、原稿領域を判断していた。図１上段のように、通常、原稿の地色は白色を想定しており、裏当て領域は濃い地色であり、この場合、原稿エッジ部分で高いコントラストを得ることができる。

しかしながら、図１の下段（裏面）に示すように、原稿の地色が濃い色の場合は、裏当て領域との間に十分なコントラスト差が得られず、原稿領域の識別ができない（図１下段では、原稿の内容を原稿エッジと誤って認識している）。それゆえ、傾き補正や原稿領域の切り出しに失敗することとなる。

また、特許文献３の画像読取装置では、原稿が白であることを前提に構成されており、原稿の地色が黒に近い場合には、穴領域の検出に失敗するという問題がある。また、低解像化することで検出精度が低下する可能性もあり、検出対象によって適切な解像度を設定する手段がないという問題を有する。

また、特許文献４の画像読取装置では、複数の均一濃度基準版を切り替えて用いるためには、光電変換手段が副走査方向に移動可能に構成されていなければならず、ＡＤＦ（Ａｕｔｏ Ｄｏｃｕｍｅｎｔ Ｆｅｅｄｅｒ）方式の画像読取装置に設置するには、コスト面の増大や大型化、制御の複雑さ等を招くという問題がある。また、特許文献４の画像読取装置を用いても、表面の地色は表面用の裏当て部分と同様の濃度で（例えば、白に対して白）、かつ、裏面の地色は裏面用の裏当て部分と同様の濃度（例えば、黒に対して黒）の場合もあり、原稿領域を認識できず、誤った検出を行う場合があるという問題がある。

本発明は、上記に鑑みてなされたもので、原稿の濃度と裏当て部の濃度に差がない場合であっても、読取画像中の原稿領域を自動認識し、傾き補正や原稿の切り出しや原稿サイズの判定等を行うことができる、画像読取処理装置、画像読取装置、および、画像読取処理方法を提供することを目的とする。

このような目的を達成するため、本発明の画像読取処理装置は、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置に接続され、記憶部と制御部を少なくとも備えた画像読取処理装置であって、上記制御部は、上記画像読取装置を制御して、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御手段と、上記両面読取制御手段により読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得手段と、上記座標取得手段により取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出手段と、上記直線検出手段によって検出された上記直線群を反転させる直線反転手段と、一方の面における上記直線検出手段により検出された上記直線群と、他方の面における上記直線反転手段により反転された上記直線群と、のうち上記原稿の上記エッジ部分に適した上記直線群を判断し選択する直線選択手段と、を備えたことを特徴とする。

また、本発明の画像読取処理装置は、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置に接続され、記憶部と制御部を少なくとも備えた画像読取処理装置であって、上記制御部は、上記画像読取装置を制御して、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御手段と、上記両面読取制御手段により読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得手段と、上記座標取得手段によって取得された上記座標群を反転させる座標反転手段と、一方の面における上記座標取得手段により検出された上記座標群と、他方の面における上記座標反転手段により反転された上記座標群と、のうち各水平ラインおよび各垂直ラインにおいて、最大値と最小値を示す２つの上記座標を選択し、座標群を取得する座標選択手段と、上記座標選択手段により取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出手段と、を備えたことを特徴とする。

また、本発明の画像読取処理装置は、上記記載の画像読取処理装置において、上記座標取得手段は、上記原稿の上記エッジ候補となる上記位置として、階調変化がある位置の座標を探索して取得すること、を特徴とする。

また、本発明の画像読取処理装置は、上記記載の画像読取処理装置において、上記座標取得手段は、上記原稿の上記エッジ候補となる上記位置として、上記階調値が所定の閾値を超えた位置の座標を取得すること、を特徴とする。

また、本発明の画像読取処理装置は、上記記載の画像読取処理装置において、上記座標取得手段は、上記原稿の上記エッジ候補となる上記位置として、上記階調値についての統計学的指標が所定の閾値以上である位置の座標を取得すること、を特徴とする。

また、本発明の画像読取処理装置は、上記記載の画像読取処理装置において、上記座標取得手段は、全幅が裏当て部である領域の上記画像データにて基準データを作成し、上記画像データと上記基準データとを比較し、上記原稿の上記エッジ候補となる上記位置として、所定の差異が生じた位置の座標を取得すること、を特徴とする。

また、本発明の画像読取処理装置は、上記記載の画像読取処理装置において、上記座標取得手段は、上記画像データにおける上記各水平ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、上記階調変化、上記階調値、上記統計学的指標、または、上記差異が現れる２つの座標と、上記画像データにおける上記各垂直ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、上記階調変化、上記階調値、上記統計学的指標、または、上記差異が現れる２つの座標と、を取得すること、を特徴とする。

また、本発明の画像読取処理装置は、上記記載の画像読取処理装置において、上記直線選択手段は、上記直線群のうち、最外の輪郭を構成する上記直線を選択すること、を特徴とする。

また、本発明の画像読取処理装置は、上記記載の画像読取処理装置において、上記制御部は、上記両面の上記座標のずれ量を上記記憶部に記憶し、上記記憶部に記憶された上記ずれ量に基づいて上記各面の上記画像データを補正するずれ量補正手段、を更に備えたことを特徴とする。

また、本発明の画像読取処理方法は、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置に接続され、記憶部と制御部を少なくとも備えた画像読取処理装置において実行される画像読取処理方法であって、上記制御部において実行される、上記画像読取装置を制御して、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御ステップと、上記両面読取制御ステップにて読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得ステップと、上記座標取得ステップにて取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出ステップと、上記直線検出ステップにおいて検出された上記直線群を反転させる直線反転ステップと、一方の面における上記直線検出ステップにて検出された上記直線群と、他方の面における上記直線反転ステップにて反転された上記直線群と、のうち上記原稿の上記エッジ部分に適した上記直線群を判断し選択する直線選択ステップと、を含むことを特徴とする。

また、本発明の画像読取処理方法は、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置に接続され、記憶部と制御部を少なくとも備えた画像読取処理装置において実行される画像読取処理方法であって、上記制御部において実行される、上記画像読取装置を制御して、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御ステップと、上記両面読取制御ステップにて読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得ステップと、上記座標取得ステップにおいて取得された上記座標群を反転させる座標反転ステップと、一方の面における上記座標取得ステップにて検出された上記座標群と、他方の面における上記座標反転ステップにて反転された上記座標群と、のうち各水平ラインおよび各垂直ラインにおいて、最大値と最小値を示す２つの上記座標を選択し、座標群を取得する座標選択ステップと、上記座標選択ステップにて取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出ステップと、を含むことを特徴とする。

また、本発明の画像読取装置は、記憶部と制御部を少なくとも備えた、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置であって、上記制御部は、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御手段と、上記両面読取制御手段により読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得手段と、上記座標取得手段により取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出手段と、上記直線検出手段によって検出された上記直線群を反転させる直線反転手段と、一方の面における上記直線検出手段により検出された上記直線群と、他方の面における上記直線反転手段により反転された上記直線群と、のうち上記原稿の上記エッジ部分に適した上記直線群を判断し選択する直線選択手段と、を備えたことを特徴とする。

また、本発明の画像読取装置は、記憶部と制御部を少なくとも備えた、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置であって、上記制御部は、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御手段と、上記両面読取制御手段により読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得手段と、上記座標取得手段によって取得された上記座標群を反転させる座標反転手段と、一方の面における上記座標取得手段により検出された上記座標群と、他方の面における上記座標反転手段により反転された上記座標群と、のうち各水平ラインおよび各垂直ラインにおいて、最大値と最小値を示す２つの上記座標を選択し、座標群を取得する座標選択手段と、上記座標選択手段により取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出手段と、を備えたことを特徴とする。

また、本発明の画像読取処理方法は、記憶部と制御部を少なくとも備えた、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置において実行される画像読取処理方法であって、上記制御部において実行される、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御ステップと、上記両面読取制御ステップにて読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得ステップと、上記座標取得ステップにて取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出ステップと、上記直線検出ステップにおいて検出された上記直線群を反転させる直線反転ステップと、一方の面における上記直線検出ステップにて検出された上記直線群と、他方の面における上記直線反転ステップにて反転された上記直線群と、のうち上記原稿の上記エッジ部分に適した上記直線群を判断し選択する直線選択ステップと、を含むことを特徴とする。

また、本発明の画像読取処理方法は、記憶部と制御部を少なくとも備えた、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置において実行される画像読取処理方法であって、上記制御部において実行される、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御ステップと、上記両面読取制御ステップにて読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得ステップと、上記座標取得ステップにおいて取得された上記座標群を反転させる座標反転ステップと、一方の面における上記座標取得ステップにて検出された上記座標群と、他方の面における上記座標反転ステップにて反転された上記座標群と、のうち各水平ラインおよび各垂直ラインにおいて、最大値と最小値を示す２つの上記座標を選択し、座標群を取得する座標選択ステップと、上記座標選択ステップにて取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出ステップと、を含むことを特徴とする。

また、本発明はプログラムに関するものであり、コンピュータに読取らせ、上記記載の方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであることを特徴とする。

また、本発明は記録媒体に関するものであり、上記プログラムを記録したことを特徴とする。

この発明によれば、原稿の濃度と裏当て部の濃度に差がない場合であっても、読取画像中の原稿領域を自動認識し、傾き補正や原稿の切り出しや原稿サイズの判定等を行うことができる。

以下に、本発明にかかる画像読取処理装置、画像読取装置、および、画像読取処理方法、プログラム、並びに、記録媒体の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。

［本発明の概要］
以下、本発明の概要について説明し、その後、本発明の構成および処理等について詳細に説明する。

本発明は、概略的に、以下の基本的特徴を有する。ここで、図２は、本発明の画像読取処理装置の処理による読取画像における原稿領域の認識の一例を模式的に表したフローチャートである。

本発明の画像読取処理装置は、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置に接続され、記憶部と制御部を少なくとも備えて構成される。

まず、画像読取処理装置は、画像読取装置を制御して、原稿の両面を読取るよう制御する。

そして、画像読取処理装置は、読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、原稿のエッジ候補となる位置の座標群（図示せず）を取得する。

ここで、「原稿のエッジ候補となる位置」としては、階調変化がある位置でもよく、階調値が所定の閾値を超えた位置でもよく、階調値についての統計学的指標が所定の閾値以上である位置でもよい。さらに、画像読取処理装置は、全幅が裏当て部である領域の画像データにて基準データを作成し、画像データと基準データとを比較し、原稿のエッジ候補となる位置として、所定の差異が生じた位置の座標を取得してもよい。

そして、画像読取処理装置は、取得された座標群に基づいて、原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する。すなわち、図２＜ＳＡ−１＞〜＜ＳＡ−２＞に示すように、本読取処理装置は、座標群（図示せず）から原稿のエッジ部分に対応する４直線（実線で表す。）を検出する。

そして、画像読取処理装置は、検出された直線群を反転させる。すなわち、表面と裏面では原稿のエッジの形状は、同一の原稿を反対方向から読取っているため、互いに対称形となる。図２＜ＳＡ−３＞において破線で表すように、画像読取処理装置は、４直線を左右反転させる。

そして、画像読取処理装置は、一方の面で検出された直線群と、他方の面から反転された直線群と、のうち原稿のエッジ部分に適した直線群を判断し選択する。すなわち、一例として、図２＜ＳＡ−４＞〜＜ＳＡ−６＞で示すように、裏面で検出された４直線（実線で図示する。）と、表面から反転された４直線（点線で図示する。）と、を重ね合わせ（ステップＳＡ−４）、いずれが原稿エッジとして相応しいか判断し（ステップＳＡ−５）、適切な４直線を選択する（ステップＳＡ−６）。

ここで、画像読取処理装置は、直線群のうち、最外の輪郭を構成する直線を選択するよう制御してもよい。

以上が本発明の画像読取処理装置の処理の概要である。

［画像読取処理装置の構成］
まず、画像読取処理装置の構成について説明する。図３は、本発明が適用される画像読取処理装置の構成の一例を示すブロック図であり、該構成のうち本発明に関係する部分のみを概念的に示している。

図３において、画像読取処理装置１００は、概略的に、画像読取処理装置１００の全体を統括的に制御するＣＰＵ等の制御部１０２、画像読取部１１２に接続される入出力制御インターフェース部１０８、および、各種のデータベースやテーブルなどを格納する記憶部１０６を備えて構成されており、これら各部は任意の通信路を介して通信可能に接続されている。

記憶部１０６に格納される各種のデータベースやテーブル（画像ファイル１０６ａ〜補正用ファイル１０６ｄ）は、固定ディスク装置等のストレージ手段であり、各種処理に用いる各種のプログラムやテーブルやファイルやデータベース等を格納する。

これら記憶部１０６の各構成要素のうち、画像ファイル１０６ａは、読取られた画像データを記憶する画像データ記憶手段である。この画像ファイル１０６ａに格納される情報には、図３に示すように、原稿の表面画像データと裏面画像データとが存在する。

また、座標ファイル１０６ｂは、画像データにおいて、階調変化がある部分の座標を記憶する座標記憶手段である。

また、直線ファイル１０６ｃは、検出された直線のデータを記憶する直線データ記憶手段である。

また、補正用ファイル１０６ｄは、表面と裏面との座標のずれ量を記憶するずれ量記憶手段である。

また、図３において、入出力制御インターフェース部１０８は、画像読取部１１２の制御を行うインターフェース部である。

また、図３において、制御部１０２は、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）等の制御プログラム、各種の処理手順等を規定したプログラム、および所要データを格納するための内部メモリを有し、これらのプログラム等により、種々の処理を実行するための情報処理を行う。制御部１０２は、機能概念的に、両面読取制御部１０２ａ、座標取得部１０２ｂ、直線検出部１０２ｃ、反転部１０２ｄ、直線選択部１０２ｅ、座標選択部１０２ｆ、座標補正部１０２ｇ、画像処理部１０２ｈを備えて構成されている。

このうち、両面読取制御部１０２ａは、入出力制御インターフェース部１０８を介して画像読取部１１２を制御して、原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御手段である。

また、座標取得部１０２ｂは、両面読取制御部１０２ａにより読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得手段である。ここで、座標取得部１０２ｂは、「原稿のエッジ候補となる位置」として、階調変化がある位置、階調値が所定の閾値を超えた位置、または、階調値についての統計学的指標が所定の閾値以上である位置の座標を取得してもよい。さらに、画像読取処理装置は、全幅が裏当て部である領域の画像データにて基準データを作成し、画像データと基準データとを比較し、「原稿のエッジ候補となる位置」として、所定の差異が生じた位置の座標を取得してもよい。

また、ここで、座標取得部１０２ｂは、画像データにおける各水平ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、階調変化（階調差）、階調値、統計学的指標（例えば、標準偏差や分散等）、または、基準データとの差異が現れる２つの座標と、画像データにおける各垂直ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、階調変化（階調差）、階調値、統計学的指標、または、基準データとの差異が現れる２つの座標と、を取得してもよい。

また、直線検出部１０２ｃは、座標取得部１０２ｂにより取得された座標群に基づいて、原稿のエッジ部分に対応する直線（「実測直線」と呼ぶ。）群を検出し直線ファイル１０６ｃに格納する直線検出手段である。ここで、直線検出部１０２ｃは、座標群からの直線の検出に、ハフ変換や最小二乗法を用いてもよい。また、ここで、直線検出部１０２ｃは、座標選択部１０２ｆにより取得された座標群に基づいて、原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出してもよい。

また、反転部１０２ｄは、座標または直線を表面と裏面の対称性に従って反転させる反転手段である。例えば、反転部１０２ｄは、直線検出部１０２ｃによって検出され直線ファイル１０６ｃに記憶された直線群を反転させて直線（実測直線に対して「演算直線」と呼ぶ。）群を作成してもよい。また、反転部１０２ｄは、座標取得部１０２ｂによって取得された座標を反転させてもよい。

また、直線選択部１０２ｅは、一方の面における直線検出部１０２ｃにより検出された実測直線群と、他方の面における反転部１０２ｄにより反転された演算直線群と、のうち原稿のエッジ部分に適した直線群を判断し選択する直線選択手段である。ここで、直線選択部１０２ｅは、直線群のうち、最外の輪郭を構成する直線を選択するよう構成してもよい。

また、座標選択部１０２ｆは、各水平ラインおよび各垂直ラインにおいて、一方の面における座標取得部１０２ｂにより取得された２つの座標と、他方の面における反転部１０２ｄにより反転された２つの座標と、の４つの座標のうち、最大値と最小値を示す２つの座標を選択し、座標群を取得する座標選択手段である。

また、座標補正部１０２ｇは、補正用ファイル１０６ｄに記憶されたずれ量データに基づいて、画像ファイル１０６ａに記憶された各面の画像データを補正するずれ量補正手段である。ここで、座標補正部１０２ｇは、表面と裏面との座標のずれ量を測定し、補正用ファイル１０６ｄに格納してもよい。

また、画像処理部１０２ｈは、直線選択部１０２ｅによって選択された直線群に基づいて、原稿領域を判断し、傾き補正（デスキュー）や原稿領域の切り出し（クロッピング）等の画像処理を実行する画像処理手段である。

これにて、画像読取処理装置１００の構成の説明を終える。

［画像読取処理装置１００の処理］
次に、このように構成された本実施の形態における本システムの処理の一例について、以下に図４〜図９を参照して詳細に説明する。

［画像読取処理］
まず、画像読取処理の詳細について図４を参照して説明する。図４は、本実施の形態における画像読取処理装置１００の画像読取処理の一例を示すフローチャートである。

まず、両面読取制御部１０２ａは、入出力制御インターフェース部１０８を介して画像読取部１１２を制御して、原稿の両面を読取るよう制御し、読取った画像データを画像ファイル１０６ａに格納する（ステップＳＢ−１）。

そして、座標取得部１０２ｂは、両面読取制御部１０２ａにより読取られ画像ファイル１０６ａに記憶された各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する（ステップＳＢ−２）。ここで、座標取得部１０２ｂは、原稿のエッジ候補となる位置として、階調変化がある位置や、階調値が所定の閾値を超えた位置や、階調値についての統計学的指標が所定の閾値以上である位置等の座標を取得してもよい。さらに、画像読取処理装置は、全幅が裏当て部である領域の画像データにて基準データを作成し、画像データと基準データとを比較し、原稿のエッジ候補となる位置として、所定の差異が生じた位置の座標を取得してもよい。また、座標取得部１０２ｂは、各面の画像データにおける、各水平ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、階調変化（階調差）、階調値、統計力学的指標（例えば、標準偏差や分散等）、または、基準データとの差異が現れる２つの座標と、各垂直ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、階調変化（階調差）、階調値、統計力学的指標、または、基準データとの差異が現れる２つの座標と、を取得してもよい。

そして、直線検出部１０２ｃは、座標取得部１０２ｂにより取得された座標群に基づいて、原稿のエッジ部分に対応する実測直線の直線群を検出し直線ファイル１０６ｃに格納する（ステップＳＢ−３）。ここで、直線検出部１０２ｃは、座標群からの直線の検出に、ハフ変換や最小二乗法を用いてもよい。

そして、反転部１０２ｄは、直線検出部１０２ｃによって検出された実測直線の直線群を表裏の対称性に従って反転させて演算直線を作成する（ステップＳＢ−４）。

そして、直線選択部１０２ｅは、一方の面における直線検出部１０２ｃにより検出された実測直線群と、他方の面における反転部１０２ｄにより反転された演算直線群と、のうち原稿のエッジ部分に適した直線群を判断し選択する（ステップＳＢ−５）。ここで、直線選択部１０２ｅは、直線群のうち、最外の輪郭を構成する直線を選択するよう構成してもよい。

そして、画像処理部１０２ｈは、直線選択部１０２ｅによって選択された直線群に基づいて、原稿領域を判断し、傾き補正や原稿領域の切り出し等の画像処理を実行する（ステップＳＢ−６）。これにて、画像読取処理装置１００の画像読取処理が終了する。

［座標取得処理］
次に、座標取得処理の詳細について図５を参照して説明する。図５は、本実施の形態における画像読取処理装置１００の座標取得処理の一例を示すフローチャートである。

まず、座標取得部１０２ｂは、両面読取制御部１０２ａによって読取られ画像ファイル１０６ａに格納された表面画像データを取得する（ステップＳＣ−１）。

そして、座標取得部１０２ｂは、画像の水平ラインのカウンタｎを０に設定する（ステップＳＣ−２）。

そして、座標取得部１０２ｂは、水平ラインのカウンタｎを１つインクリメントする（ステップＳＣ−３）。

そして、座標取得部１０２ｂは、表面画像データの水平ラインｎにおいて、左端から右端に向かって探索して最初に所定の閾値以上の階調変化が現れる座標を取得し記録する（ステップＳＣ−４）。ここで、閾値以上の階調変化が現れなかった場合には座標は取得されない（以下も同じ）。また、座標取得部１０２ｂは、上記閾値の対象として、階調変化以外にも、階調値や、統計力学的指標（例えば、標準偏差や分散等）や、基準データとの差異などを測定してもよい（以下も同じ）。

そして、座標取得部１０２ｂは、同じ水平ラインｎにおいて、右端から左端に向かって探索して最初に所定の閾値以上の階調変化が現れる座標を取得し記録する（ステップＳＣ−５）。

そして、座標取得部１０２ｂは、水平ラインｎが最終ラインであるか否かを判断し（ステップＳＣ−６）、最終ラインでない場合は（ステップＳＣ−６、Ｎｏ）、ステップＳＣ−３に戻って次のラインの座標取得処理を実行する（ステップＳＣ−３〜ＳＣ−５）。

そして、座標取得部１０２ｂは、水平ラインｎが最終ラインであると判断した場合には（ステップＳＣ−６、Ｙｅｓ）、垂直ラインのカウンタｍを０に設定する（ステップＳＣ−７）。

そして、座標取得部１０２ｂは、垂直ラインのカウンタｍを１つインクリメントする（ステップＳＣ−８）。

そして、座標取得部１０２ｂは、表面画像データの垂直ラインｍにおいて、上端から下端に向かって探索して最初に所定の閾値以上の階調変化が現れる座標を取得し記録する（ステップＳＣ−９）。

そして、座標取得部１０２ｂは、同じ垂直ラインｍにおいて、下端から上端に向かって探索して最初に所定の閾値以上の階調変化が現れる座標を取得し記録する（ステップＳＣ−１０）。

そして、座標取得部１０２ｂは、垂直ラインｍが最終ラインであるか否かを判断し（ステップＳＣ−１１）、最終ラインでない場合は（ステップＳＣ−１１、Ｎｏ）、ステップＳＣ−８に戻って次のラインの座標取得処理を実行する（ステップＳＣ−８〜ＳＣ−１０）。

そして、座標取得部１０２ｂは、垂直ラインｍが最終ラインであると判断した場合には（ステップＳＣ−１１、Ｙｅｓ）、裏面画像データの座標取得処理が終了したか否かを判断する（ステップＳＣ−１２）。

表面画像データの座標取得処理を終えた直後の場合は、未だ裏面画像データの座標取得処理を終えていないので（ステップＳＣ−１２、Ｎｏ）、座標取得部１０２ｂは、画像ファイル１０６ａに記憶された裏面画像データを取得する（ステップＳＣ−１３）。

そして、座標取得部１０２ｂは、以上に説明した表面画像データに対する座標処理と同様に、裏面画像データに対して座標取得処理を実行し（ステップＳＣ−２〜ＳＣ−１１）、座標取得処理が完了すると（ステップＳＣ−１２、Ｙｅｓ）、ステップＳＣ−１４以降の処理に移る。

以上が、座標取得処理の詳細である。

［直線検出処理〜画像処理］
次に、直線検出処理〜画像処理の詳細について図６を参照して説明する。図６は、本実施の形態における画像読取処理装置１００の直線検出処理〜画像処理の一例を示すフローチャートである。

座標取得部１０２ｂの処理により両面の画像データの座標取得処理が終わると（ステップＳＣ−１２、Ｙｅｓ）、直線検出部１０２ｃは、裏面画像データに基づいて座標取得部１０２ｂにより取得され座標ファイル１０６ｂに記憶された座標群に基づいて、原稿のエッジ部分に対応する４本の実測直線を検出し直線ファイル１０６ｃに格納する（ステップＳＣ−１４）。ここで、通常、直線検出部１０２ｃは、原稿が矩形であることを想定して４本の直線を取得するが、これ以外にも、直線検出部１０２ｃは、実測直線を検出してもよい。また、直線検出部１０２ｃは、座標群からの直線の検出に、ハフ変換や最小二乗法を用いてもよい。

そして、反転部１０２ｄは、直線検出部１０２ｃによって検出された４本の実測直線が表裏の対称性（通常、左右対称または上下対称）に従って反転させて演算直線を作成する（ステップＳＣ−１５）。

そして、直線検出部１０２ｃは、表面画像データに基づいて座標取得部１０２ｂにより取得され座標ファイル１０６ｂに記憶された座標群に基づいて、原稿のエッジ部分に対応する４本の実測直線を検出する（ステップＳＣ−１６）。

そして、直線選択部１０２ｅは、直線検出部１０２ｃにより検出された表面画像の４本の実測直線と、裏面画像の実測直線から反転部１０２ｄにより反転された４本の演算直線と、をそれぞれ左辺／右辺／上辺／下辺に意味付けする（ステップＳＣ−１７）。

そして、直線選択部１０２ｅは、実測直線と演算直線のそれぞれ意味付けされた４直線の各辺のうち、いずれが原稿エッジとして相応しいか判断し選択する（ステップＳＣ−１８）。ここで、直線選択部１０２ｅは、各辺のうち、最外の輪郭を構成する直線を選択するよう構成してもよい。また、直線選択部１０２ｅは、例えば、左辺については、実測直線と演算直線のうちどちらが原点に近いか判断し、右辺については、どちらが原点から遠いかを判断し選択してもよい。

そして、画像処理部１０２ｈは、直線選択部１０２ｅにより選択された４直線に基づいて、４頂点の座標を算出する（ステップＳＣ−１９）。

そして、画像処理部１０２ｈは、原稿の傾きを調べるため、選択された４直線の任意の１直線がｘ軸（またはｙ軸）となす角度θを算出する（ステップＳＣ−２０）。

そして、画像処理部１０２ｈは、算出した角度θを打ち消すように画像を回転させた時の（すなわち−θ回転）、４頂点の位置を算出する（ステップＳＣ−２１）。ここで、画像処理部１０２ｈは、回転処理をアフィン変換で実行してもよい。

そして、画像処理部１０２ｈは、角度を打ち消すように画像を−θ回転させる（デスキュー処理）（ステップＳＣ−２２）。

そして、画像処理部１０２ｈは、回転後の画像から４頂点で囲まれる領域を切り出す（クロッピング処理）（ステップＳＣ−２３）。

そして、反転部１０２ｄは、選択された４直線を反転させ、裏面画像データについても、ステップＳＣ−１９〜ＳＣ−２３と同様の画像処理を実行する（ステップＳＣ−２４）。

これにて、直線検出処理〜画像処理が終了する。

［画像読取処理の第２実施形態］
ここで、画像読取処理の第２実施形態について図７を参照して説明する。図７は、本実施の形態における画像読取処理装置１００の画像読取処理の第２実施形態の一例を示すフローチャートである。

すなわち、上述の画像読取処理においては、画像読取処理装置１００は、座標群から検出した実測直線と反転させた演算直線のいずれが原稿エッジとして相応しいかを判断したが、以下で述べる第２実施形態においては、画像読取処理装置１００は、座標取得処理とともに各ライン毎に、表面の座標と裏面の座標のいずれが原稿エッジとして相応しいか判断を行う。

すなわち、まず、両面読取制御部１０２ａは、入出力制御インターフェース部１０８を介して画像読取部１１２を制御して、原稿の両面を読取るよう制御する（ステップＳＤ−１）。

そして、座標取得部１０２ｂは、両面読取制御部１０２ａにより読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する（ステップＳＤ−２）。ここで、座標取得部１０２ｂは、原稿のエッジ候補となる位置として、階調変化がある位置や、階調値が所定の閾値を超えた位置や、階調値についての統計学的指標が所定の閾値以上である位置等の座標を取得してもよい。さらに、画像読取処理装置は、全幅が裏当て部である領域の画像データにて基準データを作成し、画像データと基準データとを比較し、原稿のエッジ候補となる位置として、所定の差異が生じた位置の座標を取得してもよい。また、座標取得部１０２ｂは、各面の画像データにおける、各水平ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、階調変化（階調差）、階調値、統計力学的指標（例えば、標準偏差や分散等）、または、基準データとの差異が現れる２つの座標と、当該画像データにおける各垂直ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、階調変化（階調差）、階調値、統計力学的指標、または、基準データとの差異が現れる２つの座標と、を取得してもよい。

そして、反転部１０２ｄは、座標取得部１０２ｂによって取得された座標を左右反転させる（ステップＳＤ−３）。

そして、座標選択部１０２ｆは、一方の面における座標取得部１０２ｂにより検出された座標群と、他方の面における反転部１０２ｄにより反転された座標群と、のうち各水平ラインおよび各垂直ラインにおいて、最大値と最小値を示す２つの座標を選択し、座標群を取得する（ステップＳＤ−４）。

そして、直線検出部１０２ｃは、座標選択部１０２ｆにより取得された座標群に基づいて、原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出し直線ファイル１０６ｃに格納する（ステップＳＤ−５）。ここで、直線検出部１０２ｃは、座標群からの直線の検出に、ハフ変換や最小二乗法を用いてもよい。

そして、画像処理部１０２ｈは、直線検出部１０２ｃによって検出された直線群に基づいて、原稿領域を判断し、傾き補正や原稿領域の切り出し等の画像処理を実行する（ステップＳＤ−６）。

これにて、第２実施形態における画像読取処理装置１００の画像読取処理が終了する。このように、第２実施形態においては、各ライン毎に座標を原稿エッジとして相応しいか判断するため、選択された座標群に基づいて検出された直線群は、更に判断を行うことなく、原稿領域を表す直線として使用できる。

［座標取得処理〜直線検出処理］
次に、第２実施形態における座標取得処理〜直線検出処理の詳細について図８を参照して説明する。図８は、第２実施形態における画像読取処理装置１００の座標取得処理〜直線検出処理の一例を示すフローチャートである。

まず、座標取得部１０２ｂは、両面読取制御部１０２ａによって読取られ画像ファイル１０６ａに格納された表面画像データと裏面画像データを取得する（ステップＳＥ−１）。

そして、座標取得部１０２ｂは、画像の水平ラインのカウンタｎを０に設定する（ステップＳＥ−２）。

そして、座標取得部１０２ｂは、水平ラインのカウンタｎを１つインクリメントする（ステップＳＥ−３）。

そして、座標取得部１０２ｂは、表面画像データと裏面画像データのそれぞれについて、水平ラインｎにおいて、左端から右端に向かって探索して最初に所定の閾値以上の階調変化が現れる座標を取得する（ステップＳＥ−４）。ここで、座標取得部１０２ｂは、上記閾値の対象として、階調変化以外にも、階調値や、統計力学的指標（例えば、標準偏差や分散等）や、基準データとの差異などを測定してもよい（以下も同じ）。

そして、座標取得部１０２ｂは、同じ水平ラインｎにおいて、右端から左端に向かって探索して最初に所定の閾値以上の階調変化が現れる座標を取得する（ステップＳＥ−５）。

そして、反転部１０２ｄは、座標取得部１０２ｂの処理により裏面画像データに基づいて取得された２つの座標を左右反転させる（ステップＳＥ−６）。

そして、座標選択部１０２ｆは、座標取得部１０２ｂの処理により表面画像データに基づいて取得された２つの座標と、反転部１０２ｄの処理により反転された裏面画像データに基づく２つの座標と、の４つの座標のうち、ｘ座標が最大値を示すものと最小値を示すものの２つの座標を選択し座標ファイル１０６ｂに記録する（ステップＳＥ−７）。

そして、座標取得部１０２ｂは、水平ラインｎが最終ラインであるか否かを判断し（ステップＳＥ−８）、最終ラインでない場合は（ステップＳＥ−８、Ｎｏ）、ステップＳＥ−３に戻って次のラインの座標取得処理〜座標選択処理を実行する（ステップＳＥ−３〜ＳＥ−７）。

そして、座標取得部１０２ｂは、水平ラインｎが最終ラインであると判断した場合には（ステップＳＥ−６、Ｙｅｓ）、垂直ラインのカウンタｍを０に設定する（ステップＳＥ−９）。

そして、座標取得部１０２ｂは、垂直ラインのカウンタｍを１つインクリメントする（ステップＳＥ−１０）。ここで、左右反転して同一垂直ラインについて座標選択処理を行うために、表面画像データの垂直ラインのカウントｍと裏面画像データの垂直ラインのカウントｍは左右逆方向からカウントしてもよい。

そして、座標取得部１０２ｂは、表面画像データと裏面画像データのそれぞれについて、垂直ラインｍにおいて、上端から下端に向かって探索して最初に所定の閾値以上の階調変化が現れる座標を取得する（ステップＳＥ−１１）。

そして、座標取得部１０２ｂは、同じ垂直ラインｍにおいて、下端から上端に向かって探索して最初に所定の閾値以上の階調変化が現れる座標を取得する（ステップＳＥ−１２）。

そして、反転部１０２ｄは、座標取得部１０２ｂの処理により裏面画像データに基づいて取得された２つの座標を左右反転させる（ステップＳＥ−１３）。ここで、左右反転を行ってもｙ座標の値は変化しないので、反転部１０２ｄによる左右反転処理を省略してもよい。

そして、座標選択部１０２ｆは、座標取得部１０２ｂの処理により表面画像データに基づいて取得された２つの座標と、反転部１０２ｄの処理により反転された裏面画像データに基づく２つの座標と、の４つの座標のうち、ｙ座標が最大値を示すものと最小値を示すものの２つの座標を選択し座標ファイル１０６ｂに記録する（ステップＳＥ−１４）。

そして、座標取得部１０２ｂは、垂直ラインｍが最終ラインであるか否かを判断し（ステップＳＥ−１５）、最終ラインでない場合は（ステップＳＥ−１５、Ｎｏ）、ステップＳＥ−１０に戻って、次のラインの座標取得処理を実行する（ステップＳＥ−１０〜ＳＥ−１４）。

そして、座標取得部１０２ｂが垂直ラインｍを最終ラインであると判断した場合には（ステップＳＥ−１５、Ｙｅｓ）、直線検出部１０２ｃは、座標ファイル１０６ｂに記憶された座標群に基づいて４本の直線を検出する。４本の直線を得ると、画像読取処理装置１００は、図６を参照して説明したステップＳＣ−１９以降の画像処理を実行する。

以上が、第２実施形態における座標取得処理〜直線検出処理の詳細である。ここで、上記フローにおいては、各ライン毎に座標取得処理と反転処理と座標選択処理とを実行する構成としたが、これに限らず、全てのラインについて座標取得処理を実行した後、座標反転処理および座標選択処理を実行してもよい。

［座標取得処理］
上述した実施の形態における、座標取得部１０２ｂによる座標取得処理におけるエッジ候補となる位置の例について、図１０を用いて詳細に説明する。

座標取得部１０２ｂによる座標取得処理においては、原稿のエッジ候補となる位置として、（１）所定の閾値以上の階調変化（階調差）がある位置、（２）階調値が所定の閾値を超えた位置、（３）階調値についての統計学的指標（例えば、標準偏差や分散等）が所定の閾値以上である位置、または、（４）基準データとの差異が閾値以上ある位置等の座標を取得するよう構成してもよい。ここで、図１０は、座標取得部１０２ｂによる座標取得処理の一例を示す図である。なお、図１０において、上図は、原稿として名刺が読取られた画像データを表し、下図のグラフは、上図の画像データのうち円で囲まれた場所（原稿のエッジ）付近のデータを表している。

すなわち、一例として図１０に示すように、座標取得部１０２ｂは、両面読取制御部１０２ａの処理により読取られた画像データにおいて、名刺原稿のエッジ候補となる位置として、（１）階調差（一点鎖線で示す）が所定の閾値以上であるピークの位置を設定してもよく、（２）階調値（破線で示す）そのものが所定の閾値（例えば、１２８階調値）を最初に超えた位置を設定してもよく、（３）標準偏差値（実線で示す）が所定の閾値以上であるピークの位置を設定してもよい。

また、座標取得部１０２ｂは、全幅が裏当て部である領域の画像データにて基準データを作成し、（４）原稿のエッジ候補となる位置として、画像データと基準データとの差異が所定の閾値以上を超えた位置を設定してもよい（例えば、特開２００７−８８６５４号公報を参照）。ここで、原稿のエッジ候補となる位置として基準データとの差異がある位置を設定するための処理の一例について、以下に説明する。

すなわち、座標取得部１０２ｂは、両面読取制御部１０２ａの処理により読取られた画像データにおいて、全幅が裏当て部の画像である領域を判断し、基準データ作成用領域に設定する。ここで、全域が裏当て部である領域とは、例えば、画像における原稿画像を含まない水平ラインの集合のことである。

そして、座標取得部１０２ｂは、基準データ作成用領域について平均階調等の階調値を求め、基準データを作成する。例えば、座標取得部１０２ｂは、基準データ作成領域の一部である５×５のピクセル範囲の各ピクセルの階調値の平均を算出して、中央のピクセル位置の基準データを作成し、記憶部１０６に記憶し、このようなマトリクスの平均値の算出を中央のピクセル位置を１ピクセルずつずらしながら全幅に渡って行うことで、裏当て部の主走査方向の階調特性である基準データを作成する。

そして、座標取得部１０２ｂは、作成された基準データと画像データとを比較し、所定の閾値以上の差異が生じた位置を、原稿のエッジ候補の位置として座標を取得する。例えば、座標取得部１０２ｂは、１ピクセルずつ基準データと画像データとの差異を比較し、この差が所定の閾値より大きくなる変化点を検出し、これを原稿のエッジ候補となる位置として判定し、当該位置の座標を取得する。

ここで、座標取得部１０２ｂは、画像処理により裏当て部の階調付近で急峻な変化が得られるようなトーンカーブにて画像を変換して、エッジ候補位置を検出してもよい。

また、座標取得部１０２ｂは、上端または下端の原稿エッジを基準データとの比較により検出できない場合であって、画像読取部１１２がＡＤＦ方式の場合、ハードウェアの給紙制御用メカニカルセンサの情報を併用し、検出を行ってもよい。すなわち、一例として、ＡＤＦ方式の画像読取部１１２は、給紙制御用メカニカルセンサを備えており、原稿が給紙機構により搬送されるときに、センサに原稿の上端が接触し、さらに原稿が搬送され給紙制御用メカニカルセンサを倒すことで、原稿の上端が検出でき、さらに搬送され給紙制御用メカニカルセンサが元の状態に戻ることで原稿の下端を検出することができるよう構成している。そのため、上端オーバースキャン量（上端の裏当て部領域に対応）と下端オーバースキャン量（下端の裏当て部領域に対応）は、給紙制御用メカニカルセンサと給紙機構による搬送速度と読み取りを開始するタイミングから求められる。したがって、原稿の上辺や下辺が検出できなかった場合は、これらの設計値と、左辺または右辺の検出結果（角度）を使用して、検出できなかった辺を計算によって求めることができる。

また、座標取得部１０２ｂは、エッジ検出結果を、最も信頼のおける辺をベースに検証し、検出結果が疑わしい場合は、画像の切り出しや傾き補正を行わないようにしてもよい。

また、座標取得部は、原稿領域を認識した結果、読み取った画像で原稿に欠けが生じていると推測される場合は、メッセージ等で異常が発生したことを使用者に通知してもよい。以上が、基準データとの差異がある位置を原稿のエッジ候補として設定するための処理の一例である。

これにて、座標取得部１０２ｂによる座標取得処理におけるエッジ候補となる位置の例についての説明を終える。

［ずれ量補正処理］
上述した実施の形態における、ずれ量補正処理の詳細について図９を参照して説明する。図９は、本実施の形態における画像読取処理装置１００のずれ量補正処理の一例を示すフローチャートである。

反転部１０２ｄは、表面と裏面の対称性に基づいて、座標や直線を左右反転または上下反転させるが、完全な左右対称や上下対称となっていない場合には補正処理が必要となる。すなわち、本実施の形態においては、画像読取部１１２の表面用と裏面用のそれぞれの光学系は物理的に独立しているため、それぞれに組み立て時の誤差を有している。そのため、左右または上下を単純に反転するだけでは、ずれが生じ、ずれ量を補正する手段が必要となる。

図９に示すように、まず、補正用ファイル１０６ｄは、表面と裏面とのずれ量を記憶する（ステップＳＦ−１）。ここで、補正用ファイル１０６ｄに記憶される、ずれ量データは、予め工場出荷時に測定され格納されたデータであってもよい。

そして、座標補正部１０２ｇは、補正用ファイル１０６ｄからずれ量データの値を読み出して、画像ファイル１０６ａに記憶された画像データを補正する（ステップＳＦ−２）。

そして、座標補正部１０２ｇは、更新動作モードに入っているか否かを判断し（ステップＳＦ−３）、更新動作モード状態でない場合は（ステップＳＦ−３、Ｎｏ）、次の画像データが読取られるまで、ずれ量補正処理を停止する。

そして、座標補正部１０２ｇは、更新モード状態である場合に（ステップＳＦ−３、Ｙｅｓ）、表面と裏面のずれ量を測定する（ステップＳＦ−４）。ここで、更新動作モードは、保守点検等で光学系部品を交換等した場合に、起動するよう構成してもよい。また、座標補正部１０２ｇは、画像読取部１１２に備えられた対称基準等を読込むことにより、ずれ量を測定してもよい。

そして、座標補正部１０２ｇは、測定したずれ量の値に基づいて、補正用ファイル１０６ｄのずれ量データを更新する（ステップＳＦ−５）。

そして、座標補正部１０２ｇは、ステップＳＦ−１の処理に戻って、次回以降の読取られた画像データに対して、補正を行う。これにて、ずれ量補正処理の説明を終える。

［他の実施の形態］
さて、これまで本発明の実施の形態について説明したが、本発明は、上述した実施の形態以外にも、上記特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内において種々の異なる実施の形態にて実施されてよいものである。

特に、実施の形態においては、画像読取装置１００は、画像読取部１１２に接続した構成としたが、これらを組合せた一体型装置として構成してもよい。すなわち、一体化装置としての画像読取装置（画像読取部１１２）は、上述の記憶部１０６と制御部１０２を内部に備えて構成してもよい。また、上述の実施の形態においては、画像読取処理装置１００がスタンドアローンの形態で処理を行う場合を一例に説明したが、画像読取処理装置１００とは別筐体で構成されるクライアント端末からの要求に応じて処理を行い、その処理結果を当該クライアント端末に返却するように構成してもよい。

また、実施の形態において説明した各処理のうち、自動的に行われるものとして説明した処理の全部または一部を手動的に行うこともでき、あるいは、手動的に行われるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的に行うこともできる。

このほか、上記文献中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各処理の登録データ等を含む情報、画像例、データベース構成については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。

また、画像読取処理装置１００に関して、図示の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。

例えば、画像読取処理装置１００の各装置が備える処理機能、特に制御部１０２にて行われる各処理機能については、その全部または任意の一部を、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）および当該ＣＰＵにて解釈実行されるプログラムにて実現することができ、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現することも可能である。尚、プログラムは、後述する記録媒体に記録されており、必要に応じて画像読取処理装置１００に機械的に読み取られる。すなわち、ＲＯＭまたはＨＤなどの記憶部１０６などは、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）として協働してＣＰＵに命令を与え、各種処理を行うためのコンピュータプログラムが記録されている。このコンピュータプログラムは、ＲＡＭにロードされることによって実行され、ＣＰＵと協働して制御部を構成する。

また、このコンピュータプログラムは、画像読取処理装置１００に対して任意のネットワークを介して接続されたアプリケーションプログラムサーバに記憶されていてもよく、必要に応じてその全部または一部をダウンロードすることも可能である。

また、本発明に係るプログラムを、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に格納することもできる。ここで、この「記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等の任意の「可搬用の物理媒体」、あるいは、ＬＡＮ、ＷＡＮ、インターネットに代表されるネットワークを介してプログラムを送信する場合の通信回線や搬送波のように、短期にプログラムを保持する「通信媒体」を含むものとする。

また、「プログラム」とは、任意の言語や記述方法にて記述されたデータ処理方法であり、ソースコードやバイナリコード等の形式を問わない。なお、「プログラム」は必ずしも単一的に構成されるものに限られず、複数のモジュールやライブラリとして分散構成されるものや、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）に代表される別個のプログラムと協働してその機能を達成するものをも含む。なお、実施の形態に示した各装置において記録媒体を読み取るための具体的な構成、読み取り手順、あるいは、読み取り後のインストール手順等については、周知の構成や手順を用いることができる。

記憶部１０６に格納される各種のデータベース等（画像ファイル１０６ａ〜補正用ファイル１０６ｄ）は、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のメモリ装置、ハードディスク等の固定ディスク装置、フレキシブルディスク、光ディスク等のストレージ手段であり、各種処理や各種のプログラムやテーブルやデータベース等を格納する。

また、画像読取処理装置１００は、既知のパーソナルコンピュータ、ワークステーション等の情報処理装置を接続し、該情報処理装置に本発明の方法を実現させるソフトウェア（プログラム、データ等を含む）を実装することにより実現してもよい。

更に、装置の分散・統合の具体的形態は図示するものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷等に応じた任意の単位で、機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。

以上詳述に説明したように、本発明によれば、原稿の濃度と裏当て部の濃度に差がない場合であっても、読取画像中の原稿領域を自動認識し、傾き補正や原稿の切り出しや原稿サイズの判定等を行うことができる、画像読取処理装置、画像読取装置、および、画像読取処理方法、プログラム、並びに、記録媒体を提供することができ、画像処理などの情報処理分野で利用可能である。

従来技術の原稿領域の識別処理における問題点を示す模式図である。 本発明の画像読取処理装置による読取画像における原稿領域の認識の一例を模式的に表したフローチャートである。 本発明が適用される画像読取処理装置の構成の一例を示すブロック図である。 本実施の形態における画像読取処理装置１００の画像読取処理の一例を示すフローチャートである。 本実施の形態における画像読取処理装置１００の座標取得処理の一例を示すフローチャートである。 本実施の形態における画像読取処理装置１００の直線検出処理〜画像処理の一例を示すフローチャートである。 本実施の形態における画像読取処理装置１００の画像読取処理の第２実施形態の一例を示すフローチャートである。 第２実施形態における画像読取処理装置１００の座標取得処理〜直線検出処理の一例を示すフローチャートである。 本実施の形態における画像読取処理装置１００のずれ量補正処理の一例を示すフローチャートである。 座標取得部１０２ｂによる座標取得処理におけるエッジ候補となる位置の例を示す図である。

符号の説明

１００ 画像読取処理装置
１０２ 制御部
１０２ａ 両面読取制御部
１０２ｂ 座標取得部
１０２ｃ 直線検出部
１０２ｄ 反転部
１０２ｅ 直線選択部
１０２ｆ 座標選択部
１０２ｇ 座標補正部
１０２ｈ 画像処理部
１０６ 記憶部
１０６ａ 画像ファイル
１０６ｂ 座標ファイル
１０６ｃ 直線ファイル
１０６ｄ 補正用ファイル
１０８ 入出力制御インターフェース部
１１２ 画像読取部

Claims (10)

1. 原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置に接続され、記憶部と制御部を少なくとも備えた画像読取処理装置であって、
   上記制御部は、
   上記画像読取装置を制御して、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御手段と、
   上記両面読取制御手段により読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得手段と、
   上記座標取得手段により取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出手段と、
   上記直線検出手段によって検出された上記直線群を、表裏の対称性に従って左右または上下に反転させる直線反転手段と、
   一方の面における上記直線検出手段により検出された上記直線群と、他方の面における上記直線反転手段により反転された上記直線群と、のうち最外の輪郭を構成する上記直線を選択することにより上記原稿の上記エッジ部分に適した上記直線群を判断し選択する直線選択手段と、
   を備えたことを特徴とする画像読取処理装置。
2. 請求項１に記載の画像読取処理装置において、
   上記座標取得手段は、
   上記原稿の上記エッジ候補となる上記位置として、階調変化がある位置の座標を探索して取得すること、
   を特徴とする画像読取処理装置。
3. 請求項１に記載の画像読取処理装置において、
   上記座標取得手段は、
   上記原稿の上記エッジ候補となる上記位置として、上記階調値が所定の閾値を超えた位置の座標を取得すること、
   を特徴とする画像読取処理装置。
4. 請求項１に記載の画像読取処理装置において、
   上記座標取得手段は、
   上記原稿の上記エッジ候補となる上記位置として、上記階調値についての統計学的指標が所定の閾値以上である位置の座標を取得すること、
   を特徴とする画像読取処理装置。
5. 請求項１に記載の画像読取処理装置において、
   上記座標取得手段は、
   全幅が裏当て部である領域の上記画像データにて基準データを作成し、上記画像データと上記基準データとを比較し、上記原稿の上記エッジ候補となる上記位置として、所定の差異が生じた位置の座標を取得すること、
   を特徴とする画像読取処理装置。
6. 請求項２乃至５のいずれか一つに記載の画像読取処理装置において、
   上記座標取得手段は、
   上記画像データにおける上記各水平ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、上記階調変化、上記階調値、上記統計学的指標、または、上記差異が現れる２つの座標と、
   上記画像データにおける上記各垂直ラインにおいて、両端からそれぞれ探索して最初に所定の閾値以上の、上記階調変化、上記階調値、上記統計学的指標、または、上記差異が現れる２つの座標と、
   を取得すること、
   を特徴とする画像読取処理装置。
7. 請求項１乃至６のいずれか一つに記載の画像読取処理装置において、
   上記制御部は、
   上記両面の上記座標のずれ量を上記記憶部に記憶し、上記記憶部に記憶された上記ずれ量に基づいて上記各面の上記画像データを補正するずれ量補正手段、
   を更に備えたことを特徴とする画像読取処理装置。
8. 原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置に接続され、記憶部と制御部を少なくとも備えた画像読取処理装置において実行される画像読取処理方法であって、
   上記制御部において実行される、
   上記画像読取装置を制御して、上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御ステップと、
   上記両面読取制御ステップにて読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得ステップと、
   上記座標取得ステップにて取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出ステップと、
   上記直線検出ステップにおいて検出された上記直線群を、表裏の対称性に従って左右または上下に反転させる直線反転ステップと、
   一方の面における上記直線検出ステップにて検出された上記直線群と、他方の面における上記直線反転ステップにて反転された上記直線群と、のうち最外の輪郭を構成する上記直線を選択することにより上記原稿の上記エッジ部分に適した上記直線群を判断し選択する直線選択ステップと、
   を含むことを特徴とする画像読取処理方法。
9. 記憶部と制御部を少なくとも備えた、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置であって、
   上記制御部は、
   上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御手段と、
   上記両面読取制御手段により読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標を探索して座標群を取得する座標取得手段と、
   上記座標取得手段により取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出手段と、
   上記直線検出手段によって検出された上記直線群を、表裏の対称性に従って左右または上下に反転させる直線反転手段と、
   一方の面における上記直線検出手段により検出された上記直線群と、他方の面における上記直線反転手段により反転された上記直線群と、のうち最外の輪郭を構成する上記直線を選択することにより上記原稿の上記エッジ部分に適した上記直線群を判断し選択する直線選択手段と、
   を備えたことを特徴とする画像読取装置。
10. 記憶部と制御部を少なくとも備えた、原稿の両面画像を読取り可能な画像読取装置において実行される画像読取処理方法であって、
    上記制御部において実行される、
    上記原稿の両面を読取るよう制御する両面読取制御ステップと、
    上記両面読取制御ステップにて読取られた各面の画像データにおいて、階調値に基づいて、上記原稿のエッジ候補となる位置の座標群を取得する座標取得ステップと、
    上記座標取得ステップにて取得された上記座標群に基づいて、上記原稿のエッジ部分に対応する直線群を検出する直線検出ステップと、
    上記直線検出ステップにおいて検出された上記直線群を、表裏の対称性に従って左右または上下に反転させる直線反転ステップと、
    一方の面における上記直線検出ステップにて検出された上記直線群と、他方の面における上記直線反転ステップにて反転された上記直線群と、のうち最外の輪郭を構成する上記直線を選択することにより上記原稿の上記エッジ部分に適した上記直線群を判断し選択する直線選択ステップと、
    を含むことを特徴とする画像読取処理方法。

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