JP5358057B2 - 放射線画像撮影装置及び撮影方法 - Google Patents

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Description

本発明は、放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影装置及び撮影方法に関する。
例えば、医療分野において、被写体に放射線を曝射し、その透過放射線を放射線検出器によって検出し、あるいは、直接X線フイルム等に導くことにより、前記被写体の放射線画像を形成して診断に供することが行われる。
この場合、読影診断に適した放射線画像を得るため、撮影部位や放射線源の特性に応じた適切な管電圧、管電流、放射線の曝射時間等が曝射条件として設定される。また、被写体の被曝量を制御するため、例えば、被写体を透過した放射線の線量を線量検出器により検出し、その線量が所定値に到達した時点で放射線の曝射を自動的に停止させるようにした自動露出制御機能を備えたものがある(特許文献1参照)。
ここで、自動露出制御機能を備えた装置では、例えば、放射線を検出する線量検出器から出力された微小電流を電流/電圧変換器により電圧信号に変換した後、この電圧信号を増幅器によって高い倍率で増幅し、次いで、増幅された電圧信号を積分器で時間積分することにより曝射量が求められる。
ところで、このような自動露出制御機能を構成する回路では、微小な電圧信号を高い倍率で増幅して曝射量を求めているため、温度による各回路素子の特性変化が曝射量に大きな誤差を惹起させるおそれがある。
このような回路素子の温度による特性変化を補償するため、例えば、サーミスタやダイオード等のような温度によって入出力特性が変化する温度補償素子を回路中に挿入し、前記回路素子の特性変化を温度補償素子によって相殺する方法が多用されている(特許文献2、3参照)。
特開2004−298383号公報 特開平5−87607号公報 特開平5−299955号公報
しかしながら、温度補償素子の温度特性には、個体差によるばらつきがあるため、補償しようとする回路素子との熱的なカップリングが良好でない場合には、高精度な温度補償が望めなくなってしまう。また、回路素子の特性自体も経時的に変動するため、その変動に対応した温度補償素子を選択することは、事実上困難である。
本発明は、前記の課題を解決するためになされたものであり、回路素子の温度や経時による特性変化に係わらず、放射線の曝射量を高精度に求めて放射線源を制御することのできる放射線画像撮影装置及び撮影方法を提供することを目的とする。
本発明は、放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影装置において、
前記被写体に曝射される前記放射線の線量を検出する線量検出手段と、
検出された前記線量を時間積分することで、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出する曝射量算出手段と、
前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影に先立ち、前記曝射量算出手段の出力である時間積分値の変化率を算出する変化率算出手段と、
前記変化率から、前記曝射量のオフセット値を算出するオフセット値算出手段と、
前記曝射量算出手段によって算出された前記曝射量を前記オフセット値により補正する曝射量補正手段と、
前記曝射量補正手段により補正された前記曝射量に基づき、前記放射線源を制御する放射線源制御手段と、
を備えることを特徴とする。
また、本発明は、放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影装置において、
前記被写体に曝射される前記放射線の線量を検出する線量検出手段と、
検出された前記線量を時間積分することで、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出する曝射量算出手段と、
前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影に先立ち、前記曝射量算出手段の出力である時間積分値の変化率を算出する変化率算出手段と、
前記変化率から、前記曝射量のオフセット値を算出するオフセット値算出手段と、
前記被写体に曝射される前記放射線の必要曝射量を前記オフセット値により補正する必要曝射量補正手段と、
前記必要曝射量補正手段により補正された前記必要曝射量と、前記曝射量算出手段によって算出された前記曝射量とに基づき、前記放射線源を制御する放射線源制御手段と、
を備えることを特徴とする。
また、本発明は、放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影方法において、
前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出する曝射量算出手段の出力値の時間による変化率を、前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影に先立って求めるステップと、
前記変化率から前記曝射量のオフセット値を算出するステップと、
前記被写体に前記放射線を曝射する際、前記曝射量算出手段により算出された前記曝射量を前記オフセット値により補正するステップと、
補正された前記曝射量に基づいて前記放射線源を制御し、前記被写体に放射線を曝射するステップと、
からなることを特徴とする。
さらに、本発明は、放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影方法において、
前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出する曝射量算出手段の出力値の時間による変化率を、前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影に先立って求めるステップと、
前記変化率から前記曝射量のオフセット値を算出するステップと、
前記被写体に曝射される前記放射線の必要曝射量を前記オフセット値により補正するステップと、
補正された前記必要曝射量と、前記曝射量算出手段によって算出された前記曝射量とに基づいて前記放射線源を制御し、前記被写体に放射線を曝射するステップと、
からなることを特徴とする。
本発明の放射線画像撮影装置及び撮影方法では、被写体に放射線を曝射することによる放射線画像の撮影に先立ち、曝射量算出手段の出力値の変化率を算出し、前記変化率を用いて前記出力値を補正するためのオフセット値を求め、このオフセット値に基づいて、曝射量算出手段により算出された曝射量、又は、予め設定された必要曝射量を補正することにより、回路素子の特性変化に係わらず、放射線源を適切に制御して放射線画像を撮影することができる。
図1は、本発明の放射線画像撮影装置及び撮影方法が適用されるマンモグラフィ装置12の構成図である。
マンモグラフィ装置12は、立設状態に設置される基台26と、基台26の略中央部に配設される旋回軸28に固定されるアーム部材30と、被写体32に対して放射線を曝射する放射線源を収納し、アーム部材30の一端部に固定される放射線源収納部34と、被写体32を透過した放射線を検出する固体検出器を収納し、アーム部材30の他端部に固定される撮影台36と、撮影台36に対して被写体32のマンモを押圧して保持する押圧板38とを備える。
放射線源収納部34及び撮影台36が固定されたアーム部材30は、旋回軸28を中心として矢印A方向に旋回することで、被写体32のマンモに対する撮影方向が調整可能に構成される。押圧板38は、アーム部材30に連結された状態で放射線源収納部34及び撮影台36間に配設されており、矢印B方向に変位可能に構成される。
また、基台26には、被写体32のID情報、被写体32の撮影部位、管電圧、ターゲットの種類、開口部58に装着される線量調整用のフィルタの種類等の撮影情報を入力する操作パネル40と、入力された撮影情報等を表示する表示パネル39とが配設される。なお、表示パネル39及び操作パネル40は、マンモグラフィ装置12に配設する代わりに、マンモグラフィ装置12に接続される図示しないコンソールに配設して構成することもできる。
図2は、放射線源収納部34の内部構成図である。
放射線源収納部34は、ハウジング52内に収納されるモリブデンやタングステン等からなる放射線源であるターゲット54と、ターゲット54に向けて電子線eを放出する陰極56とを備える。また、ハウジング52は、陰極56から放出された電子線eがターゲット54に衝突することで生成される放射線Xを、所定の照射野で被写体32の撮影部位であるマンモ44に曝射する開口部58を備える。なお、ハウジング52は、放射線を外部に漏出しない重金属を材料として形成される。
図3は、マンモグラフィ装置12における撮影台36の内部構成図であり、撮影台36及び押圧板38間に被写体32の撮影部位であるマンモ44を設定した状態を示す。
撮影台36の内部には、放射線源収納部34に内蔵されたターゲット54から開口部58を介して射出された放射線Xを検出するX線検出器46と、マンモ44の所望の部位を透過した放射線Xの線量を検出して露出制御を行うための露出制御用センサ47(線量検出手段)と、X線検出器46により検出された放射線Xの情報を読み取るために、X線検出器46に読取光を曝射する読取光源48と、X線検出器46に蓄積されている不要電荷を除去するために、X線検出器46に消去光を照射する消去光源50とを備える。
X線検出器46は、直接変換方式且つ光読出方式の放射線固体検出器であって、マンモ44を透過した放射線Xの情報を静電潜像として蓄積し、読取光源48からの読取光により走査されることで、静電潜像に応じた電流を発生する。
X線検出器46は、より具体的には、ガラス基板上に形成され、放射線Xを透過する第1導電層と、放射線Xが曝射されることで電荷を発生する記録用光導電層と、第1導電層に帯電される潜像極性電荷に対して略絶縁体として作用する一方、潜像極性電荷と逆極性の輸送極性電荷に対して略導電体として作用する電荷輸送層と、読取光が曝射されることで電荷を発生して導電性を呈する読取用光導電層と、放射線Xを透過する第2導電層とを順に積層して構成される。記録用光導電層と電荷輸送層との界面には、蓄電部が形成される。
第1導電層及び第2導電層は、それぞれ電極を構成する。第1導電層の電極は、二次元状の平坦な平板電極とされ、第2導電層の電極は、記録される放射線Xの情報を画像信号として検出するための所定の画素ピッチからなる多数の線状電極として構成される。線状電極の配列方向が主走査方向、線状電極の延在する方向が副走査方向に対応する。
読取光源48は、例えば、複数のLEDチップを一列に並べて構成されるライン光源と、ライン光源から出力された読取光をX線検出器46上に線状に照射する光学系とを有し、X線検出器46の第2導電層である線状電極の延在方向と直交する方向にLEDチップが配列されたライン光源を前記線状電極の延在方向に移動させることでX線検出器46の全面を露光走査する。
消去光源50は、短時間で発光/消光し、且つ、残光の非常に小さい光源が好適であり、例えば、読取光源48を構成するLEDチップの配列方向に延在し、且つ、前記配列方向と直交する方向に配列される複数の外部電極型希ガス蛍光ランプを使用することができる。
露出制御用センサ47は、フォトダイオード等からなり、マンモ44の所望の部位を透過した放射線Xの線量を検出すべく、X線検出器46と消去光源50との間の任意の位置に移動可能に構成される。なお、マンモ44の所望の部位としては、例えば、乳腺部位を挙げることができる。
図4は、マンモグラフィ装置12を構成する制御回路のブロック図である。
マンモグラフィ装置12は、撮影部位に応じた被写体32による放射線Xの吸収率、押圧板38による放射線Xの吸収率、X線検出器46の感度、ターゲット54の原子番号等に応じた指数、ターゲット54及びX線検出器46間の距離に応じた放射線Xの減衰特性等のパラメータを記憶するパラメータ記憶部60と、押圧板38の位置情報から撮影部位の厚さである被写体厚さを測定する被写体厚さ測定器62と、操作パネル40より入力された被写体32の撮影部位、管電圧、ターゲット54及びフィルタの種類等の撮影情報、パラメータ記憶部60より読み出したパラメータ、及び、被写体厚さ測定器62より供給される被写体厚さのデータを用いて、管電流、曝射時間、曝射量等からなる曝射条件を設定する曝射条件設定部64と、放射線源収納部34に内蔵される陰極56及びターゲット54からなるX線管66を、曝射条件設定部64により設定された曝射条件に従って制御するX線管制御部68と、X線検出器46により検出した放射線Xの情報に基づいて、マンモ44の放射線画像を形成する放射線画像形成部70と、露出制御用センサ47により検出した放射線Xの線量からマンモ44の所定部位の曝射量を演算し、その曝射量が、曝射条件として設定された所定値となった時点で放射線の曝射を自動停止させるべくX線管制御部68を制御する露出制御部72とを備える。この場合、X線管制御部68及び露出制御部72は、放射線源制御手段を構成する。
図5は、露出制御部72の回路ブロック図である。
露出制御部72は、露出制御用センサ47によって検出された放射線Xの線量に係る電流信号を電圧信号に変換する電流/電圧変換器74と、前記電圧信号を高い倍率で増幅する増幅器76と、増幅された電圧信号を時間積分し、放射線Xの曝射量としての電圧信号を算出する積分器78(曝射量算出手段)と、積分器78からの出力信号である時間積分値としての電圧信号に基づき、露出制御用センサ47、電流/電圧変換器74、増幅器76、積分器78等の回路素子の温度や経時による出力変化を補正するためのオフセット値であるオフセット電圧信号を算出するオフセット電圧算出部80と、積分器78から出力された電圧信号をオフセット電圧算出部80より供給されるオフセット電圧信号を用いて補正する電圧補正回路82(曝射量補正手段)とを備える。
ここで、オフセット電圧算出部80には、積分器78をリセットするリセット信号と、X線管66を駆動して放射線Xを曝射させる曝射開始信号とが供給される。オフセット電圧算出部80は、リセット信号が入力されてから曝射開始信号が入力されるまでの間に、積分器78が出力する電圧信号の変化率を算出する変化率算出手段として機能するとともに、算出した変化率からオフセット値であるオフセット電圧信号を算出するオフセット値算出手段として機能する。
本実施形態のマンモグラフィ装置12は、基本的には以上のように構成されものであり、次にその動作について説明する。
先ず、マンモグラフィ装置12に付設された操作パネル40、図示しないコンソール、IDカード等を用いて、被写体32に係るID情報、撮影方向、撮影部位、X線管66に供給する管電圧、X線管66を構成するターゲット54の種類、線量調整用のフィルタの種類等の撮影情報を入力する。以下の説明では、これらの撮影情報を操作パネル40を用いて設定し、且つ、表示パネル39に表示して確認できるものとして説明する。
撮影情報を入力した後、技師は、指定された撮影方向に従ってマンモグラフィ装置12を所定の状態に設定する。例えば、マンモ44の撮影方向としては、上部から放射線Xを曝射して撮影を行う頭尾方向(CC)撮影、側面から放射線Xを曝射して撮影を行う側面方向(ML)撮影、斜め方向から放射線Xを曝射して撮影を行う内外側斜位(MLO)撮影があり、これらの撮影方向の情報に応じてアーム部材30を旋回軸28を中心に旋回させる。
次に、マンモグラフィ装置12に対して被写体32を指定された撮影状態に設定する。例えば、被写体32のマンモ44に対する頭尾方向(CC)撮影を行う場合、図3に示すように、マンモ44を撮影台36に載置した後、押圧板38を押し下げ、撮影台36及び押圧板38間にマンモ44を保持させる。
マンモ44が所定の撮影状態に設定された後、被写体厚さ測定器62によりマンモ44の厚さである被写体厚さを測定し、その測定データを曝射条件設定部64に供給する。
曝射条件設定部64は、操作パネル40で入力された被写体32の撮影部位、管電圧、ターゲットの種類及びフィルタの種類と、パラメータ記憶部60から読み出した撮影部位による放射線Xの吸収率、押圧板38による放射線Xの吸収率、X線検出器46の感度、ターゲット54の原子番号等に応じた指数、ターゲット54及びX線検出器46間の距離に応じた放射線の減衰特性等のパラメータと、被写体厚さ測定器62から供給された被写体厚さとを用いて、X線管66に供給する管電流及び曝射時間を算出するとともに、撮影に必要な放射線Xの曝射量を算出し、これらを曝射条件としてX線管制御部68に設定する。
例えば、X線検出器46に曝射される放射線XのエネルギをEとすると、
E=K・Vn・I・t・S/L2・exp(−μ・d) …(1)
として表すことができる。ここで、Kはマンモグラフィ装置12固有の特性値、Vは管電圧、nは管電圧指数、Iは管電流、tは放射線Xの曝射時間、SはX線検出器46の感度、Lはターゲット54及びX線検出器46間の距離、μは撮影部位の放射線Xの吸収率、dは被写体厚さである。この場合、X線検出器46が放射線Xを高精度に検出できる必要なエネルギE(曝射量)を与えれば、放射線画像の撮影に必要な管電流I及び曝射時間tの各曝射条件は、被写体厚さdを含むパラメータを用いて、(1)式に基づいて設定することができる。
以上のようにして曝射条件が設定された後、露出制御用センサ47を図3の矢印方向に移動させることで、例えば、マンモ44の乳腺部位に対応する位置に設定し、放射線画像の撮影を開始する。この場合、X線管制御部68は、X線管66を駆動して放射線Xをマンモ44に曝射するのに先立ち、露出制御部72を構成する積分器78及びオフセット電圧算出部80にリセット信号を供給し、積分器78から出力される電圧信号を0Vにリセットするとともに、オフセット電圧算出部80で算出されるオフセット電圧信号を0Vにリセットする。次いで、X線管制御部68に曝射開始信号を供給する。
曝射開始信号の供給されたX線管制御部68は、操作パネル40によって設定された管電圧をX線管66に印加するとともに、曝射条件設定部64によって設定された管電流及び曝射時間からなる曝射条件に従ってX線管66を駆動する。X線管66を構成する陰極56及びターゲット54間に所定の管電圧が印加され、曝射条件で設定された管電流が流されると、陰極56から電子線eが放出されてターゲット54に衝突し、ターゲット54から放射線Xが射出される。ターゲット54から射出された放射線Xは、開口部58から押圧板38を介してマンモ44に曝射される。マンモ44を透過した放射線Xは、撮影台36に収納されているX線検出器46に曝射される。なお、X線検出器46は、撮影に先立ち、消去光源50からの消去光が全面に照射されて不要電荷が除去されているものとする。
そこで、第1導電層及び第2導電層間に高電圧を印加した状態において、放射線画像情報を担持した放射線XがX線検出器46に曝射されると、X線検出器46の記録用光導電層内で正負の電荷対が発生し、その負電荷が記録用光導電層と電荷輸送層との界面に形成された蓄電部に蓄積される。この蓄積された負電荷、すなわち、潜像極性電荷の量は、マンモ44を透過した放射線Xの線量に略比例している。なお、記録用光導電層で発生した正電荷は、第1導電層に引き寄せられ、印加されている高電圧の負電荷と結合して消滅する。
一方、マンモ44に曝射される放射線Xの線量は、露出制御用センサ47によって検出され、露出制御部72に供給される。露出制御部72は、検出した線量からマンモ44の所望の部位における曝射量を算出してX線管制御部68にフィードバックする。X線管制御部68は、露出制御部72からフィードバックされた曝射量が曝射条件として設定された曝射量となったとき、曝射終了信号を出力してX線管66への管電流の供給を停止する。この結果、放射線画像の撮影が終了する。
次に、露出制御部72の動作について詳細に説明する。
露出制御用センサ47や露出制御部72を構成する各回路素子から出力される信号が温度に依存しない理想的なものであると仮定した場合、積分器78から出力される時間積分値としての電圧信号は、図6に示すようになる。
すなわち、積分器78にリセット信号が供給されてから、X線管制御部68に曝射開始信号が供給されるまでの間、温度の影響がないと仮定すると、積分器78から出力される電圧信号は、0Vを維持する。次いで、曝射開始信号がX線管制御部68に供給されてX線管66が駆動され、放射線Xが露出制御用センサ47に照射されると、露出制御用センサ47は、放射線Xの線量を検出する。生成された線量に係る電流信号は、電流/電圧変換器74に供給されて電圧信号に変換され、次いで、電圧信号が増幅器76によって増幅され、積分器78に供給される。積分器78は、供給された電圧信号を時間積分し、曝射量としての電圧信号をX線管制御部68に供給する。X線管制御部68は、積分器78から供給される電圧信号を、曝射条件として設定した所定曝射量である閾値aと比較し、これらが一致した時間t1において曝射終了信号を出力し、X線管66による放射線Xの曝射を停止させる。
上記の動作は、理想的な状態を仮定したものであるが、露出制御用センサ47や露出制御部72を構成する各回路素子は、通常、温度の影響や特性の経時的変化によって出力が変化する。本実施形態では、オフセット電圧算出部80及び電圧補正回路82を用いて、積分器78から出力される電圧信号を補正して温度補償を行う。
オフセット電圧算出部80は、リセット信号が入力されてから曝射開始信号が入力されるまでの間の所定時間において、積分器78から出力される電圧信号の変化率を算出する。図7は、積分器78から出力される時間積分値としての電圧信号を示す。
露出制御用センサ47や露出制御部72を構成する電流/電圧変換器74、増幅器76等の各回路素子が環境温度の影響を受けることにより、積分器78からは、リセット信号が供給されてから曝射開始信号がX線管制御部68に供給されるまでの間、徐々に増加する電圧信号が出力される。リセット信号が供給されてから曝射開始信号が供給されるまでの短い時間における露出制御部72の温度変化が無視でき、この間の出力電圧を一次関数で近似できるものとすると、環境温度や回路素子の特性に依存する電圧信号の変化率αは、例えば、リセット信号が入力されてから曝射開始信号が入力されるまでの時間t0と、時間t0において積分器78から出力される電圧信号とを用いて算出することができる。
オフセット電圧算出部80は、算出した変化率αと、リセット信号が供給されてからの時間tとを用いて、オフセット電圧信号Voffを、
Voff=α・t (2)
として算出し、電圧補正回路82に供給する。
次いで、曝射開始信号がX線管制御部68に供給されてX線管66が駆動され、放射線Xが露出制御用センサ47に照射されると、露出制御用センサ47は、放射線Xの線量を検出し、電流/電圧変換器74、増幅器76及び積分器78を介して、放射線Xの曝射量としての電圧信号が電圧補正回路82に供給される。電圧補正回路82は、電圧信号から(2)式の関係で設定されるオフセット電圧信号Voffを減算し、オフセット電圧分だけ補正された温度補償電圧分の電圧信号をX線管制御部68に出力する。
X線管制御部68では、電圧補正回路82によって補正された電圧信号を、曝射条件として設定した所定曝射量である閾値aと比較し、これらが一致した時間t1において曝射終了信号を出力し、X線管66による放射線Xの曝射を停止させる。なお、このときのオフセット電圧信号Voffは、Voff=α・t1である。
このように、本実施形態では、リセット信号によってリセットされてから曝射開始信号が供給されるまでの間の積分器78からの出力信号の変化率からオフセット電圧信号を算出して補正を行うため、露出制御用センサ47等の個々の回路素子に対する温度補償を容易且つ高精度に行うことができる。この結果、マンモ44の所定部位に曝射される放射線Xの曝射量を極めて正確に制御して最適な放射線画像の撮影を行うことができる。また、オフセット電圧信号の算出処理を放射線画像の撮影毎に行うことにより、撮影時におけるマンモグラフィ装置12の環境温度に対応した最適な曝射量制御を行うことができる。
なお、積分器78から出力される電圧信号を、電圧補正回路82においてオフセット電圧分だけ補正してX線管制御部68に供給する代わりに、図8に示すよに露出制御部83を構成し、積分器78から出力される電圧信号を補正することなくX線管制御部68に供給する一方、オフセット電圧算出部80で算出したオフセット電圧信号を曝射条件補正部84(必要曝射量補正手段)に供給し、曝射条件として設定される必要曝射量である閾値aにオフセット電圧信号を加算し、補正された必要曝射量である新たな閾値bを設定し、X線管制御部68において、この閾値bと積分器78の電圧信号とを比較して曝射量制御を行うようにしてもよい。
曝射終了信号がX線管66に供給されて撮影が終了した後、露出制御用センサ47をX線検出器46と消去光源50との間から退避させ、次いで、読取光源48がX線検出器46に沿って矢印方向に移動して読取光が照射されると、読取用光導電層に正負の電荷対が発生し、その正電荷が蓄電部に蓄積されている負電荷(潜像極性電荷)に引きつけられるようにして電荷輸送層内を移動し、蓄電部の負電荷と結合して消滅する。読取用光導電層で発生した負電荷は、第2導電層に供給される正電荷と結合して消滅する。このようにして、X線検出器46に蓄積されている負電荷が電荷結合によって消滅し、この電荷結合の際の電荷の移動による電流がX線検出器46内に発生する。X線検出器46内に発生した電流は、放射線画像形成部70に供給され、マンモ44の放射線画像が形成される。放射線画像が形成された後、X線検出器46には、次の撮影を行うため、消去光源50から発せられた消去光が照射され、蓄積されている不要電荷が除去される。
ここで、上述した実施形態では、パラメータ記憶部60に記憶されている各種パラメータや、被写体厚さ測定器62によって測定されたマンモ44の厚さ等の情報に基づいて曝射条件を設定し、その曝射条件に従って放射線画像の撮影を行っている。
これに対して、撮影に先立ち、規定量の少ない線量からなる放射線Xをマンモ44に曝射する、いわゆる、「プレ曝射」を行うことで得られるマンモ44の透過線量に基づいて曝射条件を設定した後、その曝射条件に従ってマンモ44に放射線Xを曝射する、いわゆる、「本曝射」を行うことにより所望の放射線画像の撮影を行う場合にも適用することができる。
すなわち、撮影台36にマンモ44を位置決めした後、X線管66より規定量の放射線Xをマンモ44に曝射することでプレ曝射を行い、その透過線量を露出制御用センサ47によって検出する。露出制御用センサ47により検出された放射線Xの線量は、図4の点線で示すように、曝射条件設定部64に供給され、曝射条件が設定される。プレ曝射が終了した後、積分器78及びオフセット電圧算出部80にリセット信号を供給する。オフセット電圧算出部80は、リセット信号が入力されてから本曝射のための曝射開始信号が入力されるまでの間の所定時間において、積分器78から出力される電圧信号の変化率を算出する。次いで、曝射開始信号がX線管制御部68に供給されてX線管66が駆動され、プレ曝射に基づいて設定された曝射条件に従った放射線Xをマンモ44に曝射する本曝射が行われる。この場合、本曝射におけるX線管66の制御は、プレ曝射と本曝射との間に算出した電圧信号の変化率に従って補正された曝射量に基づいて行われる。
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で自由に変更できることは勿論である。
本実施形態のマンモグラフィ装置の構成図である。 本実施形態のマンモグラフィ装置における放射線源収納部の内部構成図である。 本実施形態のマンモグラフィ装置における撮影台の内部構成図である。 本実施形態のマンモグラフィ装置を構成する制御回路のブロック図である。 図4に示す露出制御部の回路ブロック図である。 回路素子が温度に影響されない理想的な状態における積分器からの出力信号の説明図である。 回路素子が温度に影響される状態における積分器からの出力信号の説明図である。 露出制御部の他の実施形態の回路ブロック図である。
符号の説明
12…マンモグラフィ装置 26…基台
32…被写体 34…放射線源収納部
36…撮影台 39…表示パネル
40…操作パネル 46…X線検出器
47…露出制御用センサ 54…ターゲット
64…曝射条件設定部 66…X線管
68…X線管制御部 70…放射線画像形成部
72…露出制御部 74…電流/電圧変換器
76…増幅器 78…積分器
80…オフセット電圧算出部 82…電圧補正回路

Claims (9)

  1. 放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影装置において、
    前記被写体に曝射される前記放射線の線量を検出する線量検出手段と、
    検出された前記線量を時間積分することで、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出する曝射量算出手段と、
    前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影に先立ち、前記曝射量算出手段をリセットしてから前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影を開始するまでの期間における前記曝射量算出手段の出力電圧の変化率を算出する変化率算出手段と、
    前記変化率から、前記曝射量のオフセット値を算出するオフセット値算出手段と、
    前記曝射量算出手段によって算出された前記曝射量から前記オフセット値を減算する曝射量補正手段と、
    前記曝射量補正手段により減算された前記曝射量と予め設定した閾値との比較に基づき、前記放射線源を制御する放射線源制御手段と、
    を備え
    前記曝射量算出手段は、前記変化率算出手段によって当該曝射量算出手段の出力電圧の変化率が算出された後、リセットすることなく継続して前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
  2. 放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影装置において、
    前記被写体に曝射される前記放射線の線量を検出する線量検出手段と、
    検出された前記線量を時間積分することで、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出する曝射量算出手段と、
    前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影に先立ち、前記曝射量算出手段をリセットしてから前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影を開始するまでの期間における前記曝射量算出手段の出力電圧の変化率を算出する変化率算出手段と、
    前記変化率から、前記曝射量のオフセット値を算出するオフセット値算出手段と、
    前記被写体に曝射される前記放射線の必要曝射量に前記オフセット値を加算する必要曝射量補正手段と、
    前記必要曝射量補正手段により加算された前記必要曝射量と、前記曝射量算出手段によって算出された前記曝射量との比較に基づき、前記放射線源を制御する放射線源制御手段と、
    を備え
    前記曝射量算出手段は、前記変化率算出手段によって当該曝射量算出手段の出力電圧の変化率が算出された後、リセットすることなく継続して前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
  3. 請求項1又は2記載の装置において、
    前記変化率算出手段は、前記放射線の曝射前に前記変化率を算出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
  4. 請求項1又は2記載の装置において、
    前記変化率算出手段は、前記放射線源の曝射条件を設定するための前記被写体に対する前記放射線の曝射後であって、前記放射線画像を撮影するための前記放射線の曝射前に前記変化率を算出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
  5. 請求項1又は2記載の装置において、
    前記変化率算出手段は、当該放射線画像撮影装置の温度に依存する前記変化率を算出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
  6. 請求項1又は2記載の装置において、
    前記オフセット値算出手段、前記変化率αと、前記曝射量算出手段をリセットしてからの経過時間tとを用いて、前記オフセット値Voffを、
    Voff=α・t
    として算出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
  7. 請求項1又は2記載の装置において、
    前記オフセット値は、前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影直前に算出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
  8. 放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影方法において、
    前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影に先立って、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出する曝射量算出手段をリセットしてから前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影を開始するまでの期間における前記曝射量算出手段の出力電圧の変化率を求める第1のステップと、
    前記変化率から前記曝射量のオフセット値を算出する第2のステップと、
    前記被写体に前記放射線を曝射する際、前記曝射量算出手段により算出された前記曝射量から前記オフセット値を減算する第3のステップと、
    減算された前記曝射量と予め設定された閾値との比較に基づいて前記放射線源を制御し、前記被写体に放射線を曝射する第4のステップと、
    からなり、
    前記第3のステップにおいて、前記曝射量算出手段は、前記第1のステップで当該曝射量算出手段の出力電圧の変化率を算出した後、リセットすることなく継続して前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出することを特徴とする放射線画像撮影方法。
  9. 放射線源から放射線を射出し、被写体に曝射することで放射線画像を撮影する一方、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量に基づいて前記放射線源を制御する放射線画像撮影方法において、
    前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影に先立って、前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出する曝射量算出手段をリセットしてから前記被写体に前記放射線を曝射することによる前記放射線画像の撮影を開始するまでの期間における前記曝射量算出手段の出力電圧の変化率を求める第1のステップと、
    前記変化率から前記曝射量のオフセット値を算出する第2のステップと、
    前記被写体に曝射される前記放射線の必要曝射量に前記オフセット値を加算する第3のステップと、
    加算された前記必要曝射量と、前記曝射量算出手段によって算出された前記曝射量との比較に基づいて前記放射線源を制御し、前記被写体に放射線を曝射する第4のステップと、
    からなり、
    前記第4のステップにおいて、前記曝射量算出手段は、前記第1のステップで当該曝射量算出手段の出力電圧の変化率を算出した後、リセットすることなく継続して前記被写体に曝射される前記放射線の曝射量を算出することを特徴とする放射線画像撮影方法。
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