JP5277357B2 - 微細凹凸構造転写用無機組成物 - Google Patents
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Description
0.2≦CM1/CSi≦24 (1)
0.04≦CM1/CSi≦4.56 (2)
0.2≦CM1/CSi≦24 (3)
本発明者は、シリコーン化合物と、金属種M1(但し、M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In,Alからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素)を持つ金属アルコキシドと、金属種Siを持つ金属アルコキシドの少なくとも2種類の金属アルコキシドとを含有し、金属種M1を持つ金属アルコキシドのモル濃度CM1と、金属種Siを持つ金属アルコキシドのモル濃度CSiとの間の比が、0.2≦CM1/CSi≦24を満たす微細凹凸構造転写用組成物(1)(以下、組成物(1)とも言う)から構成される微細凹凸構造は、転写精度、耐環境性、耐熱性や耐光性、屈折率可変性、無機前駆体溶液としての水蒸気に対する安定性、レベリング性、接着性、のすべてに優れるため、屈折率を調整可能な無機物から構成される微細凹凸構造を、良好な転写工程を経て作製可能とすることを見出した。
第1の実施形態に係る組成物(1)中に含有されるシリコーン化合物としては、後述する(B)金属アルコキシドを除いて、ケイ素と酸素を主骨格とするシロキサン材料であれば特に限定されない。また、1種類のシリコーン化合物のみを組成物(1)に含めても、複数の種類のシリコーン化合物を含めてもよい。組成物(1)に、シロキサン材料を添加することで、転写形成される微細凹凸構造の(1−2)耐環境性、耐熱性や耐光性を維持した状態で、(1−1)転写精度、(1−4)水蒸気への安定性、そして(1−5)レベリング性を向上することが出来る。
第1の実施形態に係る組成物(1)は、金属種M1(但し、M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In,Alからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素)を持つ金属アルコキシドと、金属種Siを持つ金属アルコキシドの、少なくとも2種類の金属アルコキシドを含有する。金属種M1の金属アルコキシドを含むことにより、(1−3)屈折率を調整可能となる。また、金属種Siの金属アルコキシドを含むことにより、(1−1)樹脂モールド/組成物(1)/被処理体から成る系から樹脂モールドを剥離する際の、微細凹凸構造の転写精度、(1−4)組成物(1)の水蒸気に対する安定性、及び、(1−6)接着性が向上する。金属種M1の金属アルコキシドを2成分以上用いても、金属種Siの金属アルコキシドを2成分以上用いてもよい。また、金属種M1の金属アルコキシドと金属種Siの金属アルコキシドの他に、金属種M2(但し、M2≠M1,且つM2≠Si)の金属アルコキシドを用いてもよい。同様に、金属種M3(但し、M3≠M2、M3≠M1、且つM3≠Si)の金属アルコキシドを用いてもよい。
第1の実施形態に係る組成物(1)は、ポリシランを含むことが出来る。ポリシランは、シリコン元素が主鎖を構築し、主鎖が―Si−Si―の繰り返しから構成される化合物である。ポリシランに、UVを照射することで、―Si−Si―結合が切断され、シロキサン結合が生成する。このため、ポリシランを含むことで、UV照射により、効果的にシロキサン結合を生成出来、組成物(1)の(1−1)転写精度及び(1−6)接着性が向上する。
第1の実施形態に係る組成物(1)を用いた微細凹凸構造形成方法は、樹脂モールド(鋳型)の表面に具備された微細凹凸構造を、被処理体上に転写作製し形成されるものであれば、特に限定されるものではない。ここでは、図1〜図3のそれぞれに示す微細凹凸構造形成方法を例として説明する。図1〜図3は、本発明の実施の形態に係る微細凹凸構造を有する構造体の製造工程示す断面模式図である。
本発明の第2の実施形態について、以下、具体的に説明する。
第2の実施形態に係る組成物(2)中に含有されるシリコーン化合物としては、後述する(B)金属アルコキシドを除いて、ケイ素と酸素を主骨格とするシロキサン材料であれば特に限定されず、上述した組成物(1)に使用されるシリコーン化合物を使用することが出来る。シリコーン化合物は、1種類のシリコーン化合物のみを組成物(2)に含有しても、複数の種類のシリコーン化合物を含有してもよい。組成物(2)に、シロキサン材料を添加することにより、転写形成される微細凹凸構造の(2−2)耐環境性、耐熱性や耐光性を維持した状態で、(2−1)微細凹凸構造の転写精度、及び(2−5)無機前駆体液の水蒸気に対する安定性を向上することが出来る。
第2の実施形態に係る組成物(2)は、金属種M1(但し、M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In,Alからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素)を持つ金属アルコキシドと、金属種Siを持つ金属アルコキシドの、少なくとも2種類の金属アルコキシドを含有する。金属種M1を持つ金属アルコキシドを含むことにより、(2−3)微細凹凸構造の屈折率が調整可能となる。また、金属種Siを持つ金属アルコキシドを含むことにより、(2−5)組成物(2)の水蒸気に対する安定性が向上する。金属種M1を持つ金属アルコキシドを2成分以上用いても、金属種Siを持つ金属アルコキシドを2成分以上用いてもよい。また、金属種M1を持つ金属アルコキシドと金属種Siを持つ金属アルコキシドの他に、金属種M2(但し、M2≠M1、且つM2≠Si)を持つ金属アルコキシドを用いてもよい。同様に、金属種M3(但し、M3≠M2、M3≠M1、且つM3≠Si)を持つ金属アルコキシドを用いてもよい。
第2の実施形態に係る組成物(2)で使用される光重合開始剤は、光によりラジカル反応又はイオン反応を引き起こすものであり、ラジカル反応を引き起こす光重合開始剤が好ましい。また、第2の実施形態に係る光重合開始剤は、カチオン硬化性組成物に対する開始剤、すなわち、光酸発生剤を含む。光重合開始剤としては、下記の光重合開始剤が挙げられる。光重合開始剤の添加量は、(メタ)アクリル基、(メタ)アクリロイル基、(メタ)アクリロキシ基、ビニル基、エポキシ基、オキセタン基を同一分子内に具備するSiを金属種に有す金属アルコキシド(シランカップリング材)に対して、0.05重量%〜10重量%であると、光重合性が向上し、(2−1)転写精度及び(2−4)スループット性が向上するため好ましい。特に、前記効果をより発揮する観点から、0.1重量%〜10重量%であると好ましく、0.5重量%〜9重量%であるとより好ましく、1重量%〜9重量%であると最も好ましい。更に、組成物(2)の硬化物に対するブリードアウトを低減できるため、1重量%〜8重量%であると好ましい。
第2の実施形態に係る組成物(2)は、組成物(1)と同様に、ポリシランを含むことが出来る。ポリシランを含むことで、UV照射により、効果的にシロキサン結合を生成出来、組成物(2)の(2−1)転写精度が向上する。また、上述したパターニングの効果も向上する。
第2の実施形態に係る組成物(2)を用いた微細凹凸構造形成方法は、樹脂モールド(鋳型)の表面に具備された微細凹凸構造を、被処理体上に転写作製し形成されるものであれば、特に限定されるものではない。組成物(2)は、上述の第1の実施形態において、図1〜図3を用いて説明した微細凹凸構造形成方法に使用することが出来る。そして、組成物(2)の効果は、以下の通りである。ここで、特に記載する他は、組成物(2)は、上述の第1の実施形態で説明したのと同様の効果を奏する。
本発明の第3の実施形態について、以下、具体的に説明する。
第3の実施形態に係るシリコーン化合物としては、後述する(B)金属アルコキシドを除いて、ケイ素と酸素を主骨格とするシロキサン材料であれば特に限定されず、上述した組成物(2)に使用されるシリコーン化合物を使用することが出来る。また、1種類のシリコーン化合物のみを組成物(3)に含めても、複数の種類のシリコーン化合物を含めてもよい。組成物(3)に、シロキサン材料を添加することで、転写形成される微細凹凸構造の(3−2)耐環境性、耐熱性や耐光性を維持した状態で、(3−1)転写精度及び(3−5)水蒸気への安定性を向上することが出来る。
第3の実施形態に係る組成物(3)は、金属種M1(但し、M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In,Alからなる群から選択させる少なくとも1種の金属元素)を持つ金属アルコキシドと、金属種Siを持つ金属アルコキシドの少なくとも2種類の金属アルコキシドを含有する。金属種M1の金属アルコキシドを含むことにより、(3−3)微細凹凸構造の屈折率が調整可能となる。また、金属種Siの金属アルコキシドを含むことにより、(3−5)組成物(3)の水蒸気に対する安定性が向上する。金属種M1の金属アルコキシドを2成分以上用いても、金属種Siの金属アルコキシドを2成分以上用いてもよい。また、金属種M1の金属アルコキシドと金属種Siの金属アルコキシドの他に、金属種M2(但し、M2≠M1,且つM2≠Si)の金属アルコキシドを用いてもよい。同様に、金属種M3(但し、M3≠M2、M3≠M1、且つM3≠Si)の金属アルコキシドを用いてもよい。
第3の実施形態に係る組成物(3)に使用される光酸発生剤は、光照射により光酸を発生すれば、特に限定されるものではない。例えば、スルホニウム塩、ヨードニウム塩といった芳香族オニウム塩が挙げられる。光酸発生剤としては、例えば、スルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、ベンジルトリフェニルホスホニウムヘキサフルオロホスフェート、ベンジルピリジニウムヘキサフルオロホスフェート、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロホスフェート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロホスフェート、ベンゾイントシレート、アデカオプトマーsp−170(ADEKA社製)、アデカオプトマーsp−172(ADEKA社製)、WPAG−145(和光純薬工業社製)、WPAG−170(和光純薬工業社製)、WPAG−199(和光純薬工業社製)、WPAG−281(和光純薬工業社製)、WPAG−336(和光純薬工業社製)、WPAG−367(和光純薬工業社製)、CPI−100P(サンアプロ社製)、CPI−101A(サンアプロ社製)、CPI−200K(サンアプロ社製)、CPI−210S(サンアプロ社製)、DTS−102(みどり化学社製)、TPS−TF(東洋合成工業社製)、DTBPI−PFBS(東洋合成工業社製)等が挙げられる。
第3の実施形態に係る組成物(3)は、金属アルコキシドの安定化剤として、キレート剤を含むことが出来る。キレート剤とは、配位子分子内の複数の原子が金属イオンと結合し、金属キレート錯体を形成させる物質の総称である。キレート剤は、金属アルコキシドをキレート化出来、且つ、光照射により開裂すれば特に限定されないが、例えば、β―ジケトン化合物やβ―ケトエステル化合物が挙げられる。例えば、β−ジケトンとして、アセチルアセトン、ベンゾイルアセトン、ジベンゾイルメタン、2,2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオン、ビニルアセチルアセトン等の炭素数5〜13のβ―ジケトンが挙げられる。特に、アセチルアセトン或いは、ベンゾイルアセトンであると(3−5)水蒸気への安定化の効果がより、顕著になるため好ましい。
第3の実施形態に係る組成物(3)は、光重合開始剤を含むことが出来る。光重合開始材としては、上述した組成物(2)に使用される光重合開始材を選択出来る。また、光重合開始剤の他に、組成物(2)に使用される光増感剤を含むことが出来る。
第3の実施形態に係る組成物(3)を用いた微細凹凸構造形成方法は、樹脂モールド(鋳型)の表面に具備された微細凹凸構造を、被処理体上に転写作製して形成されるものであれば、特に限定されるものではない。
本発明の第4の実施形態について説明する。
本発明の第5の実施形態について説明する。
に係る微細凹凸構造転写用無機組成物を用いた被処理体への微細凹凸構造形成方法を説明するための断面模式図である。
まず、第1の実施形態に係る組成物(1)の効果を明確にするために行った実施例について説明する。評価は、下記試験1−1〜試験1−6、及び屈折率測定で行った。以下の各表中の略語は次の意味を示す。また、各表中に示す組成割合は、使用した金属アルコキシドの合計を100質量部として表記した。
・M350…トリメチロールプロパン(EO変性)トリアクリレート(東亞合成社製 M350)
・I.184…1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトン(BASF社製 Irgacure(登録商標) 184)
・I.369…2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1(BASF社製 Irgacure(登録商標) 369)
・TTB…チタニウム(IV)テトラブトキシドモノマー(Wako社製)
・TTiP…チタニウムテトライソプロポキシド(Wako社製)
・DEDFS…ジエトキシジフェニルシラン(信越シリコーン社製 LS−5990)
・TEOS…テトラエトキシシラン(信越シリコーン社製 LS−2430)
・TEB…トリエトキシボラン(東京化成工業社製)
・SH710…フェニル変性シリコーン(東レ・ダウコーニング社製)
・X21−5841…末端OH変性シリコーン(信越シリコーン社製)
・KR213…シリコーンアルコキシオリゴマー(信越シリコーン社製)
・SH200(20c)…ポリジメチルシロキサン(東レ・ダウコーニング社製)
・Silicone…使用したシリコーンの合計量
XPS測定条件
使用機器 ;サーモフィッシャーESCALAB250
励起源 ;mono.AlKα 15kV×10mA
分析サイズ;約1mm(形状は楕円)
取込領域
Survey scan;0〜1, 100eV
Narrow scan;F 1s,C 1s,O 1s,N 1s
Pass energy
Survey scan;100eV
Narrow scan;20eV
円筒状金型の基材には石英ガラスを用い、半導体レーザを用いた直接描画リソグラフィー法により微細凹凸構造を石英ガラス表面に形成した。微細表面凹凸を形成した石英ガラスロール表面に対し、デュラサーフHD−1101Z(ダイキン化学工業社製)を塗布し、60℃で1時間加熱後、室温で24時間静置、固定化した。その後、デュラサーフHD−ZV(ダイキン化学工業社製)で3回洗浄し、離型処理を実施した。
表1に示す樹脂番号に相当する原料を混合した。全ての溶液に対し、下記工程を行った。なお、後述する樹脂モールド(A)から樹脂モールド(B)を作る工程では、樹脂モールド(A)を作製する際に使用した樹脂と同一の樹脂を使用し、樹脂モールド(B)を形成した。
調液した組成物(1)を、イソプロピルアルコール(IPA)で10倍に希釈し、石英基材上にキャストし、組成物(1)の外観を目視で観察した。試験は、大気下、温度24度、湿度49%の条件で行った。組成物(1)を薄膜化することで、体積あたりの表面積が大きくなり、また、アルコール溶剤で希釈することで、キャスト後の溶剤乾燥時に水蒸気と反応しやすくなる。組成物(1)が水蒸気と反応した場合、組成物(1)膜表面が白濁する。
×… キャスト後IPAの揮発とともに白濁した場合。
△… キャスト後IPAの揮発とともに僅かに白く濁り、また3分以内に組成物(1)膜面に縮合による皺やウネリが発生した場合。
○… キャスト後IPAの揮発では白濁は生じず、また5分以内に組成物(1)膜面に縮合による皺やウネリが発生した場合。
◎… IPAの揮発では白濁は生じず、また5分間以上組成物(1)膜面に縮合による皺やウネリが発生しなかった場合。
樹脂モールドの微細凹凸構造面に対し、メチルエチルケトン(MEK)で1.5倍に希釈後の調液した組成物(1)をバーコータにて、速度50mm/sec.で塗工した。樹脂モールド表面は、フッ素元素が偏析しているため撥水性を有している。このため、レベリング性が悪いと、塗工しても塗工した溶液がはじかれてしまう。これを、目視にて観察評価した。
×… 微細凹凸構造が存在する部分全面に渡り、弾きが生じ、組成物(1)がドット形状を形成する場合。
△… 微細凹凸構造が存在する部分全面に渡り、僅かに弾きが生じ、ドット形状が部分的に存在する場合。
○… 微細凹凸構造が存在する部分全面に渡り、塗工性は良好であるが、構造部分と構造の無い部分の界面で大きな弾きが生じる場合。
◎… 微細凹凸構造が存在する部分全面に渡り、塗工性は良好であり、構造部分と構造の無い部分の界面でも大きな弾きがない場合。
調液した組成物(1)を、IPAで3倍に希釈し、ポリエチレンフィルム(PE)上にスピンコート法にて製膜した。続いて、室温にて5分間静置し、その後、樹脂モールドの微細凹凸構造面と貼合した。貼合後、80℃で30分間養生し、室温に戻した後に、PEフィルムを剥離した。
×… PEフィルムの剥離抵抗が大きく、剥離と共にPEフィルムが撓んだ場合。
△… PEフィルムの剥離に抵抗感があるが、組成物(1)の薄膜が、樹脂モールドの微細凹凸構造面に形成されていた場合。
○… 室温に戻す過程で、自ずと、PEフィルムが部分的に剥離し、残りの部分の剥離も触るととれる程度の密着性であり、組成物(1)の薄膜が、樹脂モールドの微細凹凸構造面に形成されていた場合。
◎… 室温に戻す過程で、自ずと、PEフィルムが剥離し、組成物(1)の薄膜が、樹脂モールドの微細凹凸構造面に形成されていた場合。
調液した組成物(1)を、ITO製膜した石英基板上にスピンコート法により製膜し、室温で3分静置し、その後、80℃で30秒加熱した。続いて、作製した樹脂モールドを、組成物(1)膜面上に貼合した。その後、0.05MPaで5分間押圧し、室温で養生した。最後に、樹脂モールドを剥離した。
×… 樹脂モールド側に組成物(1)が付着し、石英基板上に転写されなかった場合或いは、組成物(1)の硬化が不十分であった場合。
△… 部分的に樹脂モールド側に組成物(1)が付着した場合。
○… 石英基板上に組成物(1)が存在し、微細凹凸構造も転写されているが、部分的な微小欠陥が生じた場合。
◎… 石英基板上に組成物(1)が存在し、微細凹凸構造も転写されている場合。
調液した組成物(1)を、樹脂モールド上にバーコータにて製膜した。続いて、樹脂モールド上に形成された組成物(1)膜を、室温で5分間静置し、石英基板上に貼合した。その後、0.05MPaで5分間押圧し、室温で養生した。最後に、樹脂モールドを剥離した。転写精度の評価は、試験4(転写1)と同様である。
調液した組成物(1)を、樹脂モールド上にバーコータにて製膜した。続いて、樹脂モールド上に形成された組成物(1)膜を、室温で5分間続いて、80℃で5分間静置しタック性を排除した。続いて、ポリエチレンフィルムを、タック性を排除した組成物(1)の、樹脂モールドとは反対側の面に貼合し、保存した。
表2に示すサンプル番号に対応する試薬を混合し、組成物(1)を調液した。これらの組成物(1)に対し、上記試験1−1〜試験1−6を行った。結果を表3に記載した。
実施例1−1におけるサンプルNo.1−4の組成物(1)に対し、表4に示すように、部分縮合条件を変化させた。部分縮合は、試薬を混合した溶液を80℃雰囲気中の熟成で行い、縮合時間を変化させた。これらの組成物(1)に対し、上記試験1−1〜試験1−6を行った。結果を表5に記載した。なお、表5中の評価表記に下記項目を付加した。
○+…試験1−1〜試験1−6の評価項目○よりは改善したが、◎までは届かない場合。
また、表4中の時間とは、縮合時間を意味する。
実施例1及び実施例2における組成物(1)とは異なる組成の、表6に示すサンプル番号に対応する組成物(1)に対し、同様に、上記試験1−1〜試験1−6を行った。試験の結果を表7に記載した。
試験1−1〜試験1−6全ての評価が「○」以上の組成に対し、屈折率を測定した。調液した組成物(1)を、MEKで希釈し、石英基板上に薄膜を形成した。続いて、室温で5分間静置し、その後、105℃〜150℃の温度で加熱した。得られたサンプルの膜厚を、1um以下程度に調整した。屈折率測定は、分光エリプソメトリーにより測定した。測定結果を、図8に示した。図8に示すグラフの、横軸はCM1/CSiの値、縦軸は屈折率である。
表8に示すサンプル番号に対応する試薬を混合し、各試験を試みた。サンプルNo.1−22(CM1/CSi=0.03)及び、サンプルNo.1−23(CM1/CSi=0.10)の場合、試験1−1において、塗膜が白濁したため、転写性の試験を行うことは出来なかった。また、白濁による散乱が大きく、エリプソメトリーによる屈折率の測定も出来なかった。一方、サンプルNo.1−24(CM1/CSi=79.2)及び、サンプルNo.1−25(CM1/CSi=39.4)の場合、各転写試験において、全て、微細凹凸構造に多くの欠陥が見られ、転写することが出来なかった。
以下、第2の実施形態の効果を明確にするために行った実施例について説明する。評価は、下記試験2−1〜試験2−6、及び屈折率測定で行った。以下の各表中の略語は、次の意味を示す。また、各表中に示す組成割合は、使用した金属アルコキシドの合計を100質量部として表記した。また、光重合開始剤は、光重合性を持つ金属アルコキシドと光重合性基を持つシリコーンの総量に対し、5%を添加した。開始剤としては、樹脂モールド作製で使用したものと同様のものを使用した。
・3APTMS…3アクリロキシプロピルトリメトキシシラン(信越化学社製 KBM5103)
・光重合性量…光重合性基を有する金属アルコキシド/(金属アルコキシド+シリコーン)×100
調液した組成物(2)を、イソプロピルアルコール(IPA)で10倍に希釈し、石英基材上にキャストし、組成物(2)の外観を目視で観察した。試験は、大気下、温度23度、湿度49%の条件で行った。組成物(2)を薄膜化することで、体積あたりの表面積が大きくなり、また、アルコール溶剤で希釈することで、キャスト後の溶剤乾燥時に水蒸気と反応しやすくなる。組成物(2)が水蒸気と反応した場合、組成物(2)膜表面が白濁する。
×… キャスト後IPAの揮発とともに白濁した場合。
△… キャスト後IPAの揮発とともに僅かに白く濁り、また3分以内に組成物(2)膜面に縮合による皺やウネリが発生した場合。
○… キャスト後IPAの揮発では白濁は生じず、また5分以内に組成物(2)膜面に縮合による皺やウネリが発生した場合。
◎… IPAの揮発では白濁は生じず、また5分間以上組成物(2)膜面に縮合による皺やウネリが発生しなかった場合。
調液した組成物(2)を、バイアル瓶に入れ、攪拌子により攪拌した。この状態でUV光を照射し、液体の挙動を目視観察した。
×… 溶液に変化はみられず、攪拌子の回転速度も変化しなかった場合。
△… 溶液が増粘し、攪拌子の回転速度が僅かに落ちた場合。
○… 溶液が増粘し、攪拌子の回転速度が大きく落ちた場合。
◎… 溶液が増粘し、攪拌子が回転しなくなった場合。
調液した組成物(2)を、IPAで3倍に希釈し、ポリエチレンフィルム(PE)上にスピンコート法にて製膜した。続いて、室温にて5分間静置し、その後、樹脂モールドの微細凹凸構造面と貼合した。貼合後、80℃で30分間養生し、室温に戻した後に、PEフィルムを剥離した。
×… PEフィルムの剥離抵抗が大きく、剥離と共にPEフィルムが撓んだ場合。
△… PEフィルムの剥離に抵抗感があるが、組成物(2)の薄膜が、樹脂モールドの微細凹凸構造面に形成されていた場合。
○… 室温に戻す過程で、自ずと、PEフィルムが部分的に剥離し、残りの部分の剥離も触るととれる程度の密着性であり、組成物(2)の薄膜が、樹脂モールドの微細凹凸構造面に形成されていた場合。
◎… 室温に戻す過程で、自ずと、PEフィルムが剥離し、組成物(2)の薄膜が、樹脂モールドの微細凹凸構造面に形成されていた場合。
調液した組成物(2)を、ITO製膜した石英基板上にスピンコート法により製膜し、室温で3分静置し、その後、80℃で30秒加熱した。続いて、作製した樹脂モールドを、組成物(2)膜面上に貼合した。その後、0.05MPaで5分間押圧し、UV光を照射した後に、室温で養生した。最後に、樹脂モールドを剥離した。
×… 樹脂モールド側に組成物(2)が付着し、石英基板上に転写されなかった場合或いは、組成物(2)の硬化が不十分であった場合。
△… 部分的に樹脂モールド側に組成物(2)が付着した場合。
○… 石英基板上に組成物(2)が存在し、微細凹凸構造も転写されているが、部分的な微小欠陥が生じた場合。
◎… 石英基板上に組成物(2)が存在し、微細凹凸構造も転写されている場合。
調液した組成物(2)を、樹脂モールド上にバーコータにて製膜した。続いて、樹脂モールド上に形成された組成物(2)膜を、室温で5分間静置し、石英基板上に貼合した。その後、0.05MPaで5分間押圧し、UV光を照射した後に、室温で養生した。最後に、樹脂モールドを剥離した。転写精度の評価は、試験2−4(転写1)と同様である。
調液した組成物(2)を、樹脂モールド上にバーコータにて製膜した。続いて、樹脂モールド上に形成された組成物(2)膜を、室温で5分間、続いて80℃で5分間静置しタック性を排除した。続いて、ポリエチレンフィルムを、タック性を排除した組成物(2)膜の、樹脂モールドとは反対側の面に貼合し、保存した。
表9に示すサンプル番号に対応する試薬を混合し、組成物(2)を調液した。これらの組成物(2)に対し、上記試験2−1〜試験2−6を行った。結果を表10に記載した。
実施例5におけるサンプルNo.2−4の組成物(2)に対し、表11に示すように、部分縮合条件を変化させた。部分縮合は、試薬を混合した溶液を80℃雰囲気中の熟成で行い、縮合時間を変化させた。これらの組成物(2)に対し、上記試験2−1〜試験2−6を行った。結果を表12に記載した。なお、表12中の評価表記に下記項目を付加した。
○+…試験2−1〜試験2−6の評価項目○よりは改善したが、◎までは届かない場合。
実施例5及び実施例6における組成物(2)とは異なる組成の、表13に示すサンプル番号に対応する組成物(2)に対し、同様に、上記試験2−1〜試験2−6を行った。結果を表14に記載した。
試験2−1及び試験2−3〜試験2−6全ての評価が「○」以上、及び、試験2−2の光重合性評価が「△」以上の組成に対し、以下に示す組成に対しても、同様の試験を行った。その結果、各試験の評価が悪くなることはなく、同様に使用出来ることがわかった。
・3APTMSを、D2632,G0261,G0210,V0042のいずれかに変更。
・3APTMSに、D2632,G0261,G0210,V0042のいずれかを等量混合。
・X22−164Aを、KR2020に変更。
・SH710に、KR213を等量混合。
・組成物(2)中に含まれる金属アルコキシド全体に対し、5%のTTiP或いは、TEBを添加。
TTiP…チタニウムテトライソプロポキシド(Wako)
TEB… トリエトキシボラン(東京化成工業社製)
KR213… シリコーンアルコキシオリゴマー(信越シリコーン社製)
D2632…Diethoxy(3−glycidyloxypropyl)methylsilane(東京化成工業社製)
G0261…3−Glycidyloxypropyl(dimethoxy)methylsilane(東京化成工業社製)
G0210…Glycidyloxypropyltrimethoxysilane(東京化成工業社製)
V0042…Vinyltrimethoxysilane(東京化成工業社製)
KR2020…ビニル基含有フェニルメチルシリコーンレジン(信越シリコーン社製)
SR−7010…ビニル基含有フェニルメチルシリコーンレジン(東レ・ダウコーニング社製)
試験2−1及び試験2−3〜試験2−6全ての評価が「○」以上、及び、試験2−2の光重合性評価が「△」以上の組成に対し、屈折率を測定した。表15に、測定された屈折率の一覧を示した。屈折率測定は次のように行った、調液した組成物(2)を、MEKで希釈し、石英基板上に薄膜を形成した。続いて、室温で5分間静置し、その後、表15に記載の加熱温度で1時間以上加熱しサンプルとした。得られたサンプルの膜厚を、1um以下程度に調整した。屈折率測定は、分光エリプソメトリーにより測定した。
CM1/CSi=0.01,0.02,5.00,8.00となる溶液を調液し、上記転写試験を試みた。結果、CM1/CSi=0.01,0.02のサンプルに関しては、樹脂モールド貼合前に、溶液が白濁し、結果、転写出来なかった。また、屈折率測定においても、透明な薄膜を形成することが出来ず、屈折率を測定することが出来なかった。一方、CM1/CSi=5.00,8.00のサンプルにおいては、樹脂モールドの剥離時に、微細凹凸構造が破壊された。
以下、第3の実施形態の効果を明確にするために行った実施例について説明する。評価は、下記試験3−1〜試験3−4、及び屈折率測定で行った。各表中の略語は、上述した組成物(1)、(2)の実施例で説明した通りである。また、各表中に示す、組成割合は、使用した金属アルコキシドの合計を100質量部として表記した。また、表中には記載していないが、光酸発生剤にはDTS102(Diphenyl [4−(phenylthio)phenyl] sulfonium hexafluorophosphate(みどり社製))を使用し、金属アルコキシド100質量部に対し、0.55質量部の光酸発生剤(DTS102)を、6.67質量部のプロピレンカーボネートと、66.7質量部のプロピレングリコールモノメチルエーテル溶剤に溶解させ、添加させた。
調液した組成物(3)を、イソプロピルアルコール(IPA)で10倍に希釈し、石英基材上にキャストし、組成物(3)の外観を目視で観察した。試験は、大気下、温度23度、湿度49%の条件で行った。組成物(3)を薄膜化することで、体積あたりの表面積が大きくなり、また、アルコール溶剤で希釈することで、キャスト後の溶剤乾燥時に水蒸気と反応しやすくなる。組成物(3)が水蒸気と反応した場合、組成物(3)膜表面が白濁する。
以上の試験を行い、目視により、水蒸気に対する安定性を評価した
×… キャスト後IPAの揮発とともに白濁した場合。
△… キャスト後IPAの揮発とともに僅かに白く濁り、また3分以内に組成物(3)膜面に縮合による皺やウネリが発生した場合。
○… キャスト後IPAの揮発では白濁は生じず、また5分以内に組成物(3)膜面に縮合による皺やウネリが発生した場合。
◎… IPAの揮発では白濁は生じず、また5分間以上組成物(3)膜面に縮合による皺やウネリが発生しなかった場合。
調液した組成物(3)を、ITO製膜した石英基板上にスピンコート法により製膜し、室温で3分静置し、その後、80℃で30秒加熱した。続いて、作製した樹脂モールドを、組成物(3)膜面上に貼合した。その後、0.05MPaで5分間押圧し、UV光を照射した後に、室温で養生した。最後に、樹脂モールドを剥離した。
×… 樹脂モールド側に組成物(3)が付着し、石英基板上に転写されなかった場合或いは、組成物(3)の硬化が不十分であった場合。
△… 部分的に樹脂モールド側に組成物(3)が付着した場合。
○… 石英基板上に組成物(3)が存在し、微細凹凸構造も転写されているが、部分的な微小欠陥が生じた場合。
◎… 石英基板上に組成物(3)が存在し、微細凹凸構造も転写されている場合。
調液した組成物(3)を、樹脂モールド上にバーコータにて製膜した。続いて、樹脂モールド上に形成された組成物(3)膜を、室温で5分間静置し、石英基板上に貼合した。その後、0.05MPaで5分間押圧し、UV光を照射した後に、室温で養生した。最後に、樹脂モールドを剥離した。転写精度の評価は、試験4(転写1)と同様である。
調液した組成物(3)を、樹脂モールド上にバーコータにて製膜した。続いて、樹脂モールド上に形成された組成物(3)膜を、室温で5分間続いて、80℃で5分間静置しタック性を排除した。続いて、ポリエチレンフィルムを、タック性を排除した組成物(3)の、樹脂モールドとは反対側の面に貼合し、保存した。
表16に示すサンプル番号に対応する試薬を混合し、組成物(3)を調液した。これらの組成物(3)に対し、上記試験3−1〜試験3−4を行った。結果を表17に記載した。
実施例10におけるサンプルNo.3−2の組成物(3)に対し、表18に示すように、キレート剤を添加した。キレート剤は添加後、30分以上攪拌した。結果を表19に記載した。
実施例10におけるサンプルNo.3−4の組成物(3)に対し、表20に示すように、部分縮合を行った。部分縮合は、80度雰囲気中での熟成で行った。結果を表21に記載した。また、評価項目に以下の項目を付加した。
○+…試験3−1〜試験3−4の評価項目○よりは改善したが、◎までは届かない場合。
実施例10及び実施例11における組成物(3)とは異なる組成の、表22に示すサンプル番号に対応する組成物(3)に対し、同様に、上記試験3−1〜試験3−4を行った。結果を、表23に記載した。
試験3−1〜試験3−4全ての評価が「○」以上を示す組成に対して、屈折率を測定した。屈折率測定は次のように行った、調液した組成物(3)を、MEKで希釈し、石英上に薄膜を形成した。続いて、室温で5分間静置し、その後、150℃〜250℃で1時間以上加熱しサンプルとした。得られたサンプルの膜厚を、1um以下程度に調整した。屈折率測定は、分光エリプソメトリーにより測定した。測定結果を、図9に示した。図9に示すグラフの、横軸はCM1/CSiの値、縦軸は屈折率である。
CM1/CSi=0.03、CM1/CSi=0.10、CM1/CSi=0.30、及び、CM1/CSi=50となるように、調液し、上記転写試験を行った。CM1/CSi=0.03及びCM1/CSi=0.10の場合、塗膜が白濁し、そのため、転写性の試験を行うことは出来なかった。また、白濁による散乱が大きく、エリプソメトリーによる屈折率の測定も出来なかった。一方、CM1/CSi=0.30及びCM1/CSi=50の場合、各転写試験において、微細凹凸構造に多くの欠陥が見られ、転写することが出来なかった。
[実施例15]
以下に記載する組成物に対し、実施例1の試験1−1〜試験1−6を行った。側鎖にフェニル基を有すシリコーン、チタンテトラブトキシド(TTB)及びテトラエトキシシラン(TEOS)を表24の記載の分量比にて混合した。続いて、3重量%の濃度にて水を溶解させたエタノール2.2mlを、徐々に滴下した。この時、強撹拌下にて行った。続いて、800hPaの圧力下にて60℃の温度に保ち6時間撹拌した。最後に、30hPaの圧力下にて2時間撹拌することで、組成物(4)を作製した。
[実施例16]
以下に記載する組成物に対し、実施例2の試験2−1〜試験2−6を行った。側鎖にフェニル基を有すシリコーン、チタンテトラブトキシド(TTB)及び3アクリロキシルプロピルトリメトキシシラン(3APTMS)を表25の記載の分量比にて混合した。続いて、3重量%の濃度にて水を溶解させたエタノールを、5.2ml徐々に滴下した。この時、強撹拌下にて行った。続いて、800hPaの圧力下にて60℃の温度に保ち6時間撹拌し、その後、200hPaの圧力下にて60℃の温度に保ち2時間撹拌した。最後に、30hPaの圧力下にて2時間撹拌した。
続いて、表2のNo.1−2に記載の組成物(1)、表9のNo.2−2に記載の組成物(2)、表16のNo.3−2に記載の組成物(3)、表24のNo.4−4に記載の組成物(4)、表25のNo.5−4に記載の組成物(5)を使用して、サファイア基板の加工を行った。以下、表2のNo.1−2に記載の組成物(1)、表9のNo.2−2に記載の組成物(2)、表16のNo.3−2に記載の組成物(3)、表24のNo.4−4に記載の組成物(4)、表25のNo.5−4に記載の組成物(5)に関わらず、「サンプル組成物」とのみ記載する。
円筒状金型の基材には石英ガラスを用い、半導体レーザを用いた直接描画リソグラフィ法により凹凸構造を石英ガラス表面に形成した。まず石英ガラス表面上にスパッタリング法によりレジスト層を成膜した。スパッタリング法は、ターゲット(レジスト層)として、φ3インチのCuO(8atm%Si含有)を用いて、RF100Wの電力で実施し、20nmのレジスト層を成膜した。続いて、円筒状金型を回転させながら、波長405nmn半導体レーザを用い露光を行った。次に、露光後のレジスト層を現像した。レジスト層の現像は、0.03wt%のグリシン水溶液を用いて、240sec処理とした。次に、現像したレジスト層をマスクとし、ドライエッチングによるエッチング層(石英ガラス)のエッチングを行った。ドライエッチングは、エッチングガスとしてSF6を用い、処理ガス圧1Pa、処理電力300W、処理時間5分の条件で実施した。次に、表面に微細構造が付与された円筒状金型から、レジスト層残渣のみを、pH1の塩酸を用い剥離した。剥離時間は6分間とした。
転写材として以下の材料1を使用した。
樹脂モールドBを作製する工程では、上記材料1に対し、転写を行った。
次に、樹脂モールドBの微細空隙(凹部)内部にサンプル組成物を充填した。
サンプル組成物の充填された樹脂モールドBの、サンプル組成物面上に有機層を成膜した。
ベンジル系バインダー樹脂:M211b:PO−A:M350:I.184:I.369=150g:40g:40g:20g:11g:4gで混合した。ベンジル系バインダー樹脂は、ベンジルメタクリレート80質量%、メタクリル酸20質量%の2元共重合体のメチルエチルケトン溶液(固形分50%、重量平均分子量56000、酸当量430、分散度2.7)を使用した。なお、上記質量は固形分質量で記載した。
サンプルシートを用いて、サファイア基板の加工を行った。サファイア基板は、2インチφの両面c面サファイアを使用した。
Claims (15)
- シリコーン化合物と、少なくとも2種類の金属アルコキシドとを含有する微細凹凸構造転写用無機組成物であって、
前記金属アルコキシドが、金属種M1(但し、M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In及びAlからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素)を持つ金属アルコキシドと、金属種Siを持つ金属アルコキシドとであり、
前記微細凹凸構造転写用無機組成物中における、前記金属種M1を持つ金属アルコキシドのモル濃度CM1と、前記金属種Siを持つ金属アルコキシドのモル濃度CSiとの間の比が、下記式(1)を満たし、前記金属アルコキシド100質量部に対し、前記シリコーン化合物を0.2質量部以上47.6質量部以下含むことを特徴とする微細凹凸構造転写用無機組成物。
0.2≦CM1/CSi≦24 (1) - シリコーン化合物と、少なくとも2種類の金属アルコキシドと、光重合開始剤とを含有する微細凹凸構造転写用無機組成物であって、
前記金属アルコキシドが、金属種M1(但し、M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In及びAlからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素)を持つ金属アルコキシドと、金属種Siを持つ金属アルコキシドとであり、
前記金属種Siを持つ金属アルコキシドは、アクリル基、メタクリル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、アクリロキシ基、メタクリロキシ基、ビニル基、エポキシ基、又は、オキセタン基のいずれかを同一分子内に持つ金属アルコキシドを含み、
前記微細凹凸構造転写用無機組成物中における、前記金属種M1を持つ金属アルコキシドのモル濃度CM1と、前記金属種Siを持つ金属アルコキシドのモル濃度CSiとの間の比が、下記式(2)を満たし、前記金属アルコキシド100質量部に対し、前記シリコーン化合物を0.2質量部以上47.6質量部以下含むことを特徴とする微細凹凸構造転写用無機組成物。
0.04≦CM1/CSi≦4.56 (2) - シリコーン化合物と、少なくとも2種類の金属アルコキシドと、光酸発生剤とを含有する微細凹凸構造転写用無機組成物であって、
前記金属アルコキシドが、金属種M1(但し、M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In,Alからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素)を持つ金属アルコキシドと、金属種Siを持つ金属アルコキシドとであり、
前記微細凹凸構造転写用無機組成物中における、前記金属種M1を持つ金属アルコキシドのモル濃度CM1と、前記金属種Siを持つ金属アルコキシドのモル濃度CSiとの間の比が、下記式(3)を満たし、前記金属アルコキシド100質量部に対し、前記シリコーン化合物を0.2質量部以上47.6質量部以下含むことを特徴とする微細凹凸構造転写用無機組成物。
0.2≦CM1/CSi≦24 (3) - 前記シリコーン化合物又は前記金属アルコキシドの少なくともいずれか一方がアリール基を含むことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- 前記アリール基がSi元素と結合していることを特徴とする請求項4に記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- 前記金属アルコキシドが部分縮合体であることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- 前記金属アルコキシドの官能基の一部が、キレート化されていることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- 前記金属アルコキシド100質量部に対し、前記シリコーン化合物を0.5質量部以上47.6質量部以下含むことを特徴とする請求項7に記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- フッ素含有シランカップリング剤を更に含むことを特徴とする請求項1から請求項8のいずれかに記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- Siと前記Si以外の金属元素M1を含有する微細凹凸構造転写用無機組成物であって、
前記Siと前記金属元素M1が酸素を介し結合したメタロキサン結合(―Si−O−M1−)を含み、
前記Si以外の金属元素M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In及びAlからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素であると共に、
Si元素濃度(CpSi)と、Si以外の金属元素M1の元素濃度(CpM1)と、の比率(CpM1/CpSi)は、0.02以上20以下であることを特徴とする微細凹凸構造転写用無機組成物。 - Siと前記Si以外の金属元素M1を含有する微細凹凸構造転写用無機組成物であって、
前記Siと前記金属元素M1が酸素を介し結合したメタロキサン結合(―Si−O−M1−)を含み、
前記金属元素M1は、Ti,Zr,Zn,Sn,B,In及びAlからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素であると共に、
Si元素濃度(CpSi)と、Si以外の金属元素M1の元素濃度(CpM1)と、の比率(CpM1/CpSi)は、0.01以上4.5以下であり、
アクリル基、メタクリル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、アクリロキシ基、メタクリロキシ基、ビニル基、エポキシ基、又は、オキセタン基のいずれかを含むと共に、
光重合開始材を含むことを特徴とする微細凹凸構造転写用無機組成物。 - 光酸発生剤を更に含むことを特徴とする請求項10又は請求項11に記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- 前記Si元素と結合しているアリール基を含むことを特徴とする請求項10から請求項12のいずれかに記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- 25℃における粘度が30cP以上10000cP以下であることを特徴とする請求項1から請求項13のいずれかに記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
- プロピレングリコールモノメチルエーテル溶剤に3重量%の濃度にて溶解させた時に、該溶液に対し波長0.154nmのX線を使用した小角X線散乱による測定により得られる測定結果に対し、ギニエプロットを適用し計算される慣性半径が5nm以下であることを特徴とする請求項1から請求項14のいずれかに記載の微細凹凸構造転写用無機組成物。
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