JP5203572B2 - 自動光学検査システム及び方法 - Google Patents
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Description
1)第1カメラ(視野25mm):
*TAB製品検査項目である透過量を利用した内側リードの曲りを検査。
*COFの場合、反射光を利用した内側リード上の表面検査(変色、スクラッチ、異物など)。
2)第2カメラ(視野35mm):
*反射光を利用したパターンめっき領域の表面検査(変色、スクラッチ、異物など)とソルダレジスト領域(ピンホール、スクラッチ、位置ずれなど)。
*製品及び顧客の検査基準に応じて透過光も利用可能。
3)第3カメラ(視野50mm):
*反射光を利用したソルダレジスト領域(ピンホール、位置ずれなど)と搬送基準ホール(ホール破れなど)
*検査対象物(製品)及び使用者の検査基準に応じて反射照明または透過照明も利用可能。
*第2カメラのイメージ(映像データ)を参照して、異物による誤検出を防止することができる新しい検査方法を提示することができる。
110 1次ビジョン検査部
150 2次ビジョン検査部
160 マーキング部
106 巻き取り部
Claims (18)
- フレキシブル印刷回路基板ユニットが連続して形成された検査対象物の自動光学検査システムにおいて、当該自動光学システムが、
前記検査対象物が提供される巻き出し部と、
前記巻き出し部から提供される前記検査対象物の表面を検査するビジョン検査部と、
検査を終えた前記検査対象物がアンローディングされる巻き取り部と、
を含み、
前記ビジョン検査部は、前記検査対象物を撮像する複数の撮像部材を含み、前記撮像部材のうち少なくとも2つは互いに異なる視野を有し、
前記ビジョン検査部は、前記検査対象物を円弧状に移送するラウンド移送部をさらに含み、前記撮像部材は、前記円弧状に移送する前記検査対象物の表面を撮像し、
前記撮像部材は、前記フレキシブル印刷回路基板ユニットの内側リードの曲り、変色、スクラッチ、異物を検査するために前記内側リード領域を撮像する第1カメラと、前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのパターンめっき領域の変色、スクラッチ、異物を検査する表面検査とソルダレジスト領域のピンホール、スクラッチ、位置ずれを検査とをするために前記パターンめっき領域と前記ソルダレジスト領域とを撮像する第2カメラと、前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのソルダレジスト領域のピンホール、スクラッチ、位置ずれと搬送基準ホールの破れを検査するために前記検査対象物の幅を撮像する第3カメラと、を含むことを特徴とする自動光学検査システム。 - 前記撮像部材の各々は、前記検査対象物の検査項目に対応する視野を有するように配置されることを特徴とする請求項1に記載の自動光学検査システム。
- 前記撮像部材の各々は、カメラと、前記検査対象物に光を照射する照明部材と、を含み、
前記照明部材は、前記検査対象物に透過光を照射する透過照明と、前記検査対象物に反射光を照射する反射照明のうち少なくとも1つと、を含むことを特徴とする請求項1に記載の自動光学検査システム。 - 前記ビジョン検査部は、
前記第1カメラにより撮像されたイメージを用いて前記フレキシブル印刷回路基板ユニットの内側リードの曲り、変色、スクラッチ、または異物のうち少なくともいずれか1つを判定する第1処理部と、
前記第2カメラにより撮像されたイメージを用いて前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのパターンめっき領域の変色、スクラッチ、異物を検査する表面検査、ソルダレジスト領域のピンホール、またはスクラッチ、位置ずれのうち少なくともいずれか1つを判定する第2処理部と、
前記第3カメラにより撮像されたイメージを用いて前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのソルダレジスト領域のピンホール、スクラッチ、位置ずれを検査する表面検査、または搬送基準ホールの破れのうち少なくともいずれか1つを判定する第3処理部と、
を含む映像処理部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の自動光学検査システム。 - 前記ビジョン検査部は、前記撮像部材のうち2つの撮像部材は同一視野を有して撮像し、前記同一視野を撮像する2つの撮像部材は各々反射光と透過光とを利用して欠陥の類型を撮像することを特徴とする請求項1に記載の自動光学検査システム。
- 前記ラウンド移送部は、前記検査対象物の曲りや垂れが発生しないように前記検査対象物を支持する支持部を含み、
前記支持部は、前記ラウンドの半径に沿って配置されて、前記検査対象物を円弧状に移送することを特徴とする請求項5に記載の自動光学検査システム。 - 前記撮像部材の各々は、カメラと、前記検査対象物に光を照射する照明部材と、を含み、
前記支持部は、互いに離隔して設けられる一対の支持ローラを含み、
前記照明部材は、前記一対の支持ローラの間の隙間を通じて前記検査対象物に光を照射することを特徴とする請求項6に記載の自動光学検査システム。 - 前記自動光学検査システムは、前記ビジョン検査部で前記撮像部材によって撮像された前記検査対象物を最終撮像して、その欠陥の有無を判定する2次ビジョン検査部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の自動光学検査システム。
- 前記2次ビジョン検査部は、前記フレキシブル印刷回路基板ユニットをエリアスキャン方式で撮像するエリアカメラを含むことを特徴とする請求項8に記載の自動光学検査システム。
- 前記2次ビジョン検査部は、前記1次ビジョン検査部及び前記エリアカメラで撮像されたイメージを有して、欠陥として判定された部分をカラーイメージで撮像するカラーカメラをさらに含み、
前記映像処理部は、前記1次ビジョン検査部及び前記エリアカメラで撮像されたイメージのうち欠陥として判定された部分のイメージと前記カラーカメラで撮像されたイメージとを作業者に表示して、作業者が最終的に欠陥であるか否かを判断する最終処理部を含むことを特徴とする請求項9に記載の自動光学検査システム。 - 前記カメラは、ラインスキャンカメラであることを特徴とする請求項3に記載の自動光学検査システム。
- 前記自動光学検査システムは、前記検査対象物に形成された前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのうち欠陥として判定されたユニットを表示するマーキング部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の自動光学検査システム。
- フレキシブル印刷回路基板ユニットが連続して形成された検査対象物の自動光学検査方法において、
前記検査対象物が提供される段階と、
前記巻き出し部から提供される前記検査対象物の表面を検査する1次ビジョン検査段階と、
検査を終えた前記検査対象物がアンローディングされる段階と、
を含み、
前記1次ビジョン検査段階は、前記検査対象物を円弧状に移送する段階と、撮像部材が検査項目の各々に対応する視野を有して、前記円弧状に移送する前記検査対象物を撮像する段階と、少なくとも2つの前記撮像部材で前記検査対象物の同一の視野を反射光と透過光とをそれぞれ利用して二重撮像をして、各々のイメージの特徴を比較検査する段階と、を含み、
また、前記1次ビジョン検査段階は、第1カメラが前記フレキシブル印刷回路基板ユニットの内側リード領域をラインスキャン方式で撮像して、前記フレキシブル印刷回路基板ユニットの内側リードの曲り、変色、スクラッチ、または異物のうち少なくともいずれか1つを判定する第1処理段階と、第2カメラが前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのパターンめっき領域とソルダレジスト領域とをラインスキャン方式で撮像して、前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのパターンめっき領域の変色、スクラッチ、異物を検査する表面検査、ソルダレジスト領域のピンホール、またはスクラッチ、位置ずれのうち少なくともいずれか1つを判定する第2処理段階と、第3カメラが前記検査対象物の幅をラインスキャン方式で撮像して、前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのソルダレジスト領域の表面検査または搬送基準ホールの破れのうち少なくともいずれか1つを判定する第3処理段階と、を含むことを特徴とする自動光学検査方法。 - 前記ソルダレジスト領域の表面検査は、ピンホール、スクラッチ、位置ずれのうち少なくともいずれか1つを含むことを特徴とする請求項13に記載の自動光学検査方法。
- 前記自動光学検査方法は、前記1次ビジョン検査段階で前記撮像部材によって撮像された前記検査対象物を再度撮像して、その欠陥の有無を判定する2次ビジョン検査段階をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の自動光学検査方法。
- 前記2次ビジョン検査段階は、前記フレキシブル印刷回路基板ユニットをエリアスキャン方式で撮像して、そのユニットに対する検査結果を算出するエリアスキャン処理段階を含むことを特徴とする請求項15に記載の自動光学検査方法。
- 前記2次ビジョン検査段階は、前記1次ビジョン検査段階及び前記エリアスキャン処理段階で欠陥として判定された部分のイメージと前記欠陥として判定された部分をカラーイメージで撮像したカラーイメージとを表示して、作業者が最終に欠陥であるか否かを判断する最終処理段階をさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の自動光学検査方法。
- 前記検査対象物に形成された前記フレキシブル印刷回路基板ユニットのうち欠陥として判定されたユニットを表示するマーキング段階をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の自動光学検査方法。
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