JP5203086B2 - 電源電圧低下検出回路 - Google Patents

電源電圧低下検出回路 Download PDF

Info

Publication number
JP5203086B2
JP5203086B2 JP2008201662A JP2008201662A JP5203086B2 JP 5203086 B2 JP5203086 B2 JP 5203086B2 JP 2008201662 A JP2008201662 A JP 2008201662A JP 2008201662 A JP2008201662 A JP 2008201662A JP 5203086 B2 JP5203086 B2 JP 5203086B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
power supply
nmos transistor
supply voltage
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008201662A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009065649A (ja
Inventor
文靖 宇都宮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP2008201662A priority Critical patent/JP5203086B2/ja
Priority to KR1020080077490A priority patent/KR101444465B1/ko
Priority to US12/188,766 priority patent/US7868622B2/en
Priority to CN2008101350007A priority patent/CN101363878B/zh
Priority to TW097130437A priority patent/TWI421508B/zh
Publication of JP2009065649A publication Critical patent/JP2009065649A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5203086B2 publication Critical patent/JP5203086B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/28Supervision thereof, e.g. detecting power-supply failure by out of limits supervision
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H03K17/223Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

本発明は、電源電圧の低下を検出する電源電圧低下検出回路に関する。
一般的に、半導体装置は、電源電圧の低下を検出する電源電圧低下検出回路を搭載している。この電源電圧低下検出回路が、電源電圧が最低動作電圧未満になったこと検出すると、半導体装置は、誤動作する回路または電源電圧低下検出回路以外の全ての回路をシャットダウンすることにより、誤動作しなくなる。
ここで、半導体装置の最低動作電圧について説明する。
図5は、半導体装置の要素回路の例を示す回路図である。図5の回路は、NMOSトランジスタ31〜34によって構成されるNMOSカスコードタイプのカレントミラー回路である。この回路の最低動作電圧は、NMOSトランジスタ31の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計とNMOSトランジスタ32の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計との和電圧である。
図6は、半導体装置の他の要素回路の例を示す回路図である。図6の回路は、PMOSトランジスタ41〜44によって構成されるPMOSカスコードタイプのカレントミラー回路である。この回路の最低動作電圧は、PMOSトランジスタ41の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計とPMOSトランジスタ42の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計との和電圧である。
図7は、半導体装置の他の要素回路の例を示す回路図である。図7の回路は、PMOSトランジスタ51、PMOSトランジスタ55〜56、NMOSトランジスタ52、NMOSトランジスタ54及び抵抗53によって構成される定電流回路である。この回路を動作させる信号がPMOSトランジスタ55のゲートに入力し、PMOSトランジスタ55がオンすると、この回路は動作する。この回路の最低動作電圧は、NMOSトランジスタ52の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計とNMOSトランジスタ54の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計との和電圧、及び、PMOSトランジスタ55の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計とPMOSトランジスタ56の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計との和電圧における高い方の電圧である。
半導体装置は、一般的に、上記の要素回路を用いることが多いので、半導体装置の最低動作電圧は、半導体装置内の最も和電圧が高い2個のNMOSトランジスタにおける、一のNMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計と他のNMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計との和電圧、及び、半導体装置内の最も和電圧が高い2個のPMOSトランジスタにおける、一のPMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計と他のPMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計との和電圧における高い方の電圧である。
従来の電源電圧低下検出回路について説明する。図8は、従来の電源電圧低下検出回路を示す図である。
従来の電源電圧低下検出回路は、基準電圧を出力する基準電圧回路72と、電源71の電源電圧を抵抗75と抵抗76とで分圧して分圧電圧を出力する分圧回路73と、基準電圧と分圧電圧とを比較して電源電圧の低下を検出する差動増幅回路74と、差動増幅回路74の出力端子をプルアップするプルアップ抵抗77と、を備えている(例えば、特許文献1参照)。
特開2005−278056号公報(図4)
しかし、特許文献1によって開示された回路では、基準電圧回路、分圧回路及び差動増幅回路が必要になり、回路規模が大きくなってしまう。よって、その分、消費電流が多くなってしまう。
本発明は、上記課題に鑑みてなされ、回路規模が小さい電源電圧低下検出回路を提供する。
本発明は、上記課題を解決するため、電源電圧の低下を検出する電源電圧低下検出回路において、第一導電型であり、前記電源電圧に基づき、前記電源電圧から閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧を減算した電圧に基づいたソース電圧を出力する第一トランジスタと、前記第一導電型であり、前記第一トランジスタのソース電圧に基づき、オンオフする第二トランジスタと、第二導電型であり、接地電圧に基づき、前記接地電圧に閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧を加算した電圧に基づいたソース電圧を出力する第三トランジスタと、前記第二導電型であり、前記第三トランジスタのソース電圧に基づき、オンオフする第四トランジスタと、前記第一トランジスタに電流を供給する第一定電流回路と、前記第二トランジスタ及び前記第三トランジスタに電流を供給する第二定電流回路と、前記第四トランジスタに電流を供給する第三定電流回路と、を備えていることを特徴とする電源電圧低下検出回路を提供する。
本発明の電源電圧低下検出回路は、基準電圧回路、分圧回路及び差動増幅回路が不必要になり、回路規模が小さくなる。よって、その分、消費電流が少なくなる。
以下、本発明の電源電圧低下検出回路の実施形態を、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の電源電圧低下検出回路を示す回路図である。
本発明の電源電圧低下検出回路は、電源端子1、接地端子2及び出力端子3を備えている。また、電源電圧低下検出回路は、定電流回路4〜6を備えている。また、電源電圧低下検出回路は、NMOSトランジスタ12、NMOSトランジスタ17、PMOSトランジスタ15及びPMOSトランジスタ19を備えている。
定電流回路4がNMOSトランジスタ12のソースと接地端子2との間に設けられている。定電流回路5が電源端子1とPMOSトランジスタ15のソースとの間に設けられている。定電流回路6が出力端子3と接地端子2との間に設けられている。NMOSトランジスタ12のゲート及びドレインは電源端子1に接続され、バックゲートは接地端子2に接続されている。NMOSトランジスタ17のゲートはNMOSトランジスタ12のソースに接続され、ソース及びバックゲートは接地端子2に接続され、ドレインはPMOSトランジスタ15のドレインに接続されている。PMOSトランジスタ15のゲートは接地端子2に接続され、バックゲートは電源端子1に接続されている。PMOSトランジスタ19のゲートはPMOSトランジスタ15のソースに接続され、ソース及びバックゲートは電源端子1に接続され、ドレインは出力端子3に接続されている。
NMOSトランジスタ12及びNMOSトランジスタ17について、NMOSトランジスタ12の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計とNMOSトランジスタ17の閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計との和電圧は、半導体装置内の所定の2個のNMOSトランジスタにおける一のNMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計と他のNMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧の合計との和電圧よりも、高くなっている。PMOSトランジスタ15及びPMOSトランジスタ19についても、同様である。
また、定電流回路4は、NMOSトランジスタ12に電流を供給する。定電流回路5は、NMOSトランジスタ17及びPMOSトランジスタ15に電流を供給する。定電流回路6は、PMOSトランジスタ19に電流を供給する。NMOSトランジスタ12は、電源電圧に基づき、電源電圧から閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧を減算した電圧に基づいたソース電圧を出力する。このソース電圧に基づき、NMOSトランジスタ17は、オンオフする。PMOSトランジスタ15は、接地電圧に基づき、接地電圧に閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧を加算した電圧に基づいたソース電圧を出力する。このソース電圧に基づき、PMOSトランジスタ19は、オンオフする。
次に、本発明の電源電圧低下検出回路の動作について説明する。
ここで、NMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値をVtnとし、PMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値をVtpとする。
[Vtp>Vtnの時(NMOSトランジスタがPMOSトランジスタよりもオフしにくい時)における電源電圧の低下検出動作]
電源電圧が低くなっていくと、NMOSトランジスタ12のゲート電圧が低くなっていき、NMOSトランジスタ12がオフしていき、NMOSトランジスタ17のゲート電圧も低くなっていき、NMOSトランジスタ17もオフしていく。よって、PMOSトランジスタ19のゲート電圧が高くなっていき、PMOSトランジスタ19はオフしていく。電源電圧が2Vtp未満になってしまうと、NMOSトランジスタ12及びNMOSトランジスタ17はまだオンしているが、PMOSトランジスタ15によってPMOSトランジスタ19のゲート電圧が完全にロウにならず、PMOSトランジスタ19はオフする。よって、電源電圧が2Vtp未満になってしまうと、つまり、電源電圧が半導体装置の最低動作電圧未満になると、電源電圧低下検出回路はロウ信号を検出信号として出力端子3から外部に出力する。
[Vtp<Vtnの時(PMOSトランジスタがNMOSトランジスタよりもオフしにくい時)における電源電圧の低下検出動作]
電源電圧が低くなっていき、電源電圧が2Vtn未満になってしまうと、NMOSトランジスタ12はまだオンしているが、定電流回路4によってNMOSトランジスタ17のゲート電圧が完全にハイにならず、NMOSトランジスタ17はオフし、PMOSトランジスタ19のゲート電圧がハイになり、PMOSトランジスタ19もオフする。よって、電源電圧が2Vtn未満になってしまうと、つまり、電源電圧が半導体装置の最低動作電圧未満になると、電源電圧低下検出回路はロウ信号を検出信号として出力端子3から外部に出力する。
[Vtp>Vtn(NMOSトランジスタがPMOSトランジスタよりもオンしやすい時)の時における電源電圧の低下検出解除動作]
電源電圧が2Vtp及び2Vtnの両方よりも低くなっていて、その後、電源電圧が高くなっていくと、NMOSトランジスタ12のゲート電圧が高くなっていき、NMOSトランジスタ12がオンしていき、NMOSトランジスタ17のゲート電圧も高くなっていき、NMOSトランジスタ17もオンしていく。よって、PMOSトランジスタ19のゲート電圧が低くなっていき、PMOSトランジスタ19もオンしていく。電源電圧が2Vtn以上になると、NMOSトランジスタ12及びNMOSトランジスタ17はオンするが、PMOSトランジスタ15によってPMOSトランジスタ19のゲート電圧が完全にロウにならず、PMOSトランジスタ19はまだオフしている。電源電圧が2Vtp以上になると、NMOSトランジスタ12及びNMOSトランジスタ17はすでにオンしていて、PMOSトランジスタ19のゲート電圧がロウになり、PMOSトランジスタ19もオンする。よって、電源電圧が2Vtp以上になると、つまり、電源電圧が半導体装置の最低動作電圧以上になると、電源電圧低下検出回路はハイ信号を検出信号として出力端子3から外部に出力する。
[Vtp<Vtnの時(PMOSトランジスタがNMOSトランジスタよりもオンしやすい時)における電源電圧の低下検出解除動作]
電源電圧が2Vtp及び2Vtnの両方よりも低くなっていて、その後、電源電圧が高くなっていき、電源電圧が2Vtn以上になると、NMOSトランジスタ12及びNMOSトランジスタ17はオンし、PMOSトランジスタ19のゲート電圧がロウになり、PMOSトランジスタ19もオンする。よって、電源電圧が2Vtn以上になると、つまり、電源電圧が半導体装置の最低動作電圧以上になると、電源電圧低下検出回路はハイ信号を検出信号として出力端子3から外部に出力する。
次に、本発明の電源電圧低下検出回路の定電流回路について説明する。図2は、本発明の電源電圧低下検出回路の定電流回路の一具体例を示す回路図である。
定電流回路4は、例えば、デプレッションNMOSトランジスタ11によって実現される。デプレッションNMOSトランジスタ11のゲート、ソース及びバックゲートは接地端子2に接続され、ドレインはNMOSトランジスタ11のソースに接続されている。デプレッションNMOSトランジスタ11のドレインは、電流をNMOSトランジスタ12のソースから引き抜く。
定電流回路5は、例えば、デプレッションNMOSトランジスタ11及びPMOSトランジスタ13〜14によって実現される。PMOSトランジスタ13のゲート及びドレインはNMOSトランジスタ12のドレインに接続され、ソース及びバックゲートは電源端子1に接続されている。PMOSトランジスタ14のゲートはPMOSトランジスタ13のゲートに接続され、ソース及びバックゲートは電源端子1に接続され、ドレインはPMOSトランジスタ15のソースに接続されている。PMOSトランジスタ14のドレインは、定電流回路4の電流に基づいた電流をPMOSトランジスタ15のソースに流す。
定電流回路6は、例えば、デプレッションNMOSトランジスタ11、PMOSトランジスタ13〜14、NMOSトランジスタ16及びNMOSトランジスタ18によって実現される。NMOSトランジスタ16のゲート及びドレインはPMOSトランジスタ15のドレインに接続され、ソースはNMOSトランジスタ17のドレインに接続され、バックゲートは接地端子2に接続されている。NMOSトランジスタ18のゲートはNMOSトランジスタ16のゲートに接続され、ソース及びバックゲートは接地端子2に接続され、ドレインはPMOSトランジスタ19のドレインに接続されている。NMOSトランジスタ18のドレインは、定電流回路4の電流に基づいた電流をPMOSトランジスタ19のドレインから引き抜く。
以上説明したように、本発明の電源電圧低下検出回路は、基準電圧回路、分圧回路及び差動増幅回路が不必要になり、回路規模が小さくなる。従って、消費電流も少なくなる。
また、基準電圧のばらつきを補償するために、分圧回路の抵抗トリミングが必要であったが、トリミングが不必要になる。従って、製造工程が減るので、製造コストが安くなる。
また、PMOSトランジスタとNMOSトランジスタの動作の関係がいずれであっても、電源電圧が半導体装置の最低動作電圧未満になると、電源電圧低下検出回路はロウ信号を検出信号として出力端子3から外部に出力するので、半導体装置は誤動作しなくなる。
なお、図1及び図2におけるNMOSトランジスタをPMOSトランジスタに変更してPMOSトランジスタをNMOSトランジスタに変更してもよい。
次に、本発明の他の実施例の電源電圧低下検出回路を、図面を参照して説明する。
図3は、本発明の他の実施例の電源電圧低下検出回路を示す回路図である。図1の電源電圧低下検出回路との差において、定電流回路4は定電流回路7に変更され、定電流回路5は定電流回路8に変更され、定電流回路6は定電流回路9に変更されている。
図4は、本発明の他の実施例の電源電圧低下検出回路の定電流回路の一具体例を示す回路図である。図2の電源電圧低下検出回路との差において、NMOSトランジスタ12はPMOSトランジスタ22に変更され、NMOSトランジスタ17はPMOSトランジスタ27に変更され、PMOSトランジスタ15はNMOSトランジスタ25に変更され、PMOSトランジスタ19はNMOSトランジスタ29に変更されている。ここで、デプレッションNMOSトランジスタ11はデプレッションNMOSトランジスタ21に変更され、PMOSトランジスタ13はNMOSトランジスタ23に変更され、PMOSトランジスタ14はNMOSトランジスタ24に変更され、NMOSトランジスタ16はPMOSトランジスタ26に変更され、NMOSトランジスタ18はPMOSトランジスタ28に変更されている。
図3、及び図4のように電源電圧低下検出回路を構成しても、図1、及び図2のような電源電圧低下検出回路と同様な効果が得られることは明白である。
本発明の電源電圧低下検出回路を示す回路図である。 本発明の電源電圧低下検出回路の定電流回路の一具体例を示す回路図である。 本発明の他の実施例の電源電圧低下検出回路を示す回路図である。 本発明の他の実施例の電源電圧低下検出回路の定電流回路の一具体例を示す回路図である。 半導体装置の要素回路の例を示す回路図である。 半導体装置の要素回路の他の例を示す回路図である。 半導体装置の要素回路の他の例を示す回路図である。 従来の電源電圧低下検出回路を示す回路図である。
符号の説明
1 電源端子
2 接地端子
3 出力端子
4〜6 定電流回路
11 デプレッションNMOSトランジスタ
13〜15、19 PMOSトランジスタ
12、16〜18 NMOSトランジスタ

Claims (2)

  1. 電源電圧の低下を検出する電源電圧低下検出回路において、
    前記電源電圧に基づき、前記電源電圧から閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧を減算した電圧に基づいたソース電圧を出力する第一のNMOSトランジスタと、
    前記第一のNMOSトランジスタのソース電圧に基づき、オンオフする第二のNMOSトランジスタと、
    接地電圧に基づき、前記接地電圧に閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧を加算した電圧に基づいたソース電圧を出力する第一のPMOSトランジスタと、
    前記第一のPMOSトランジスタのソース電圧に基づき、オンオフする第二のPMOSトランジスタと、
    前記第一のNMOSトランジスタに電流を供給する第一定電流回路と、
    前記第二のNMOSトランジスタ及び前記第一のPMOSトランジスタに電流を供給する第二定電流回路と、
    前記第二のPMOSトランジスタに電流を供給する第三定電流回路と、
    前記第二のPMOSトランジスタのドレインに接続された出力端子と、
    を備えていることを特徴とする電源電圧低下検出回路。
  2. 電源電圧の低下を検出する電源電圧低下検出回路において、
    接地電圧に基づき、前記接地電圧に閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧を加算した電圧に基づいたソース電圧を出力する第一のPMOSトランジスタと、
    前記第一のPMOSトランジスタのソース電圧に基づき、オンオフする第二のPMOSトランジスタと、
    前記電源電圧に基づき、前記電源電圧から閾値電圧の絶対値及びオーバードライブ電圧を減算した電圧に基づいたソース電圧を出力する第一のNMOSトランジスタと、
    前記第一のNMOSトランジスタのソース電圧に基づき、オンオフする第二のNMOSトランジスタと、
    前記第一のPMOSトランジスタに電流を供給する第一の定電流回路と、
    前記第二のPMOSトランジスタ及び前記第一のNMOSトランジスタに電流を供給する第二の定電流回路と、
    前記第二のNMOSトランジスタに電流を供給する第三の定電流回路と、
    前記第二のNMOSトランジスタのドレインに接続された出力端子と、
    を備えていることを特徴とする電源電圧低下検出回路。
JP2008201662A 2007-08-10 2008-08-05 電源電圧低下検出回路 Active JP5203086B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008201662A JP5203086B2 (ja) 2007-08-10 2008-08-05 電源電圧低下検出回路
KR1020080077490A KR101444465B1 (ko) 2007-08-10 2008-08-07 전원 전압 저하 검출 회로
US12/188,766 US7868622B2 (en) 2007-08-10 2008-08-08 Circuit for detecting power supply voltage drop
CN2008101350007A CN101363878B (zh) 2007-08-10 2008-08-08 电源电压降低检测电路
TW097130437A TWI421508B (zh) 2007-08-10 2008-08-08 Power supply voltage reduction detection circuit

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007209106 2007-08-10
JP2007209106 2007-08-10
JP2008201662A JP5203086B2 (ja) 2007-08-10 2008-08-05 電源電圧低下検出回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009065649A JP2009065649A (ja) 2009-03-26
JP5203086B2 true JP5203086B2 (ja) 2013-06-05

Family

ID=40390355

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008201662A Active JP5203086B2 (ja) 2007-08-10 2008-08-05 電源電圧低下検出回路

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5203086B2 (ja)
KR (1) KR101444465B1 (ja)
CN (1) CN101363878B (ja)
TW (1) TWI421508B (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6619145B2 (ja) * 2014-11-11 2019-12-11 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体回路、電圧検出回路、及び電圧判定回路
CN106249034B (zh) * 2016-08-15 2018-10-02 北京航空航天大学 一种用于协同动态电压频率调整系统的片上电压降报警器
JP7325352B2 (ja) * 2020-02-07 2023-08-14 エイブリック株式会社 基準電圧回路
CN113406509B (zh) * 2021-06-11 2022-05-10 浙江今日阳光新能源车业有限公司 电动车电量显示方法、电动车仪表及计算机存储介质

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5888450U (ja) * 1981-12-10 1983-06-15 リコーエレメックス株式会社 イニシヤルリセツト回路
JPH0619686B2 (ja) * 1983-08-29 1994-03-16 日本電信電話株式会社 電源回路
JPS6111839A (ja) * 1984-06-26 1986-01-20 Ricoh Co Ltd パワ−オン・イニシヤライズ回路
JP2972245B2 (ja) * 1989-11-29 1999-11-08 株式会社日立製作所 電圧検出機能付基準電圧出力回路
JPH03218064A (ja) * 1990-01-23 1991-09-25 Sharp Corp 半導体集積回路装置
JP3077072B2 (ja) * 1992-07-14 2000-08-14 三機工業株式会社 廃棄物の管路輸送方法
KR970075931A (ko) * 1996-05-16 1997-12-10 김광호 프로그램어블 저전압검출회로
US5838191A (en) * 1997-02-21 1998-11-17 National Semiconductor Corporation Bias circuit for switched capacitor applications
US6734719B2 (en) * 2001-09-13 2004-05-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Constant voltage generation circuit and semiconductor memory device
JP3806011B2 (ja) * 2001-10-05 2006-08-09 セイコーインスツル株式会社 電圧検出回路
JP2005191821A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Seiko Epson Corp コンパレータ回路及び電源回路
JP2005278056A (ja) * 2004-03-26 2005-10-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電源電圧低下検出回路
JP2006018774A (ja) * 2004-07-05 2006-01-19 Seiko Instruments Inc ボルテージレギュレータ
JP2006112906A (ja) * 2004-10-14 2006-04-27 Sanyo Electric Co Ltd 電圧検出回路
US7161861B2 (en) * 2004-11-15 2007-01-09 Infineon Technologies Ag Sense amplifier bitline boost circuit
JP2006322711A (ja) * 2005-05-17 2006-11-30 Fuji Electric Device Technology Co Ltd 電圧検出回路および電流検出回路
JP4562638B2 (ja) * 2005-10-27 2010-10-13 三洋電機株式会社 低電圧検出回路

Also Published As

Publication number Publication date
CN101363878B (zh) 2012-12-26
KR20090016410A (ko) 2009-02-13
TWI421508B (zh) 2014-01-01
JP2009065649A (ja) 2009-03-26
CN101363878A (zh) 2009-02-11
TW200921115A (en) 2009-05-16
KR101444465B1 (ko) 2014-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4475309B2 (ja) コンパレータ
US9058048B2 (en) Voltage regulator having error amplifier
JP2004297462A (ja) 差動増幅器
KR101618069B1 (ko) 차동 증폭기
US7330056B1 (en) Low power CMOS LVDS driver
KR20140104352A (ko) 레벨 시프트 회로
JP5203086B2 (ja) 電源電圧低下検出回路
US9490762B2 (en) Operational transconductance amplifier with increased current sinking capability
JP2012203528A (ja) ボルテージ・レギュレータ
JP2008211707A (ja) 入力回路
KR102180505B1 (ko) 전압 검출 회로
US20070146023A1 (en) Reset signal generating circuit and semiconductor integrated circuit device
US7598791B2 (en) Semiconductor integrated apparatus using two or more types of power supplies
US20120268208A1 (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2007097131A (ja) 差動増幅装置
JP2007180796A (ja) 差動増幅回路
US7868622B2 (en) Circuit for detecting power supply voltage drop
US20050174125A1 (en) Multiple voltage level detection circuit
JP5606345B2 (ja) 出力回路
US7652524B2 (en) Voltage source for gate oxide protection
JP2006330837A (ja) 半導体集積回路装置およびその内部電圧制御方法
KR20080028600A (ko) 오프셋 보상 회로를 구비하는 평균회로
JP2008135834A (ja) オペアンプ回路
JP2011015017A (ja) 差動増幅回路
KR101555712B1 (ko) 풀다운 회로 및 반도체 장치

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20091108

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20091113

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110608

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121113

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121120

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130129

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130213

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5203086

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160222

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250