JPH03218064A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
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- JPH03218064A JPH03218064A JP1455490A JP1455490A JPH03218064A JP H03218064 A JPH03218064 A JP H03218064A JP 1455490 A JP1455490 A JP 1455490A JP 1455490 A JP1455490 A JP 1455490A JP H03218064 A JPH03218064 A JP H03218064A
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- Japan
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- mos transistor
- power supply
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Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 9
- 244000145845 chattering Species 0.000 abstract 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 8
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体集積回路装置に関し、特に、電源のチヤ
タリングによる誤動作が生じることのない信頼性の高い
半導体集積回路装置に関する。
タリングによる誤動作が生じることのない信頼性の高い
半導体集積回路装置に関する。
(従来の技術)
半導体集積回路装置には、そのii#電圧端子に電源電
圧を印加したときに、内部回路をリセソトするためのク
リアパルスを自動的に発生させるオートクリアパルス発
生回路が設けられているものがある。ここで、オートク
リアパルス発生回路とは、電源がオフ状態からオン状態
に変化したときに、第4図に示す■4のようなパルスを
自動的に出力する回路である。このようなオートクリア
パルス発生回路の従来例を第2図に示す。
圧を印加したときに、内部回路をリセソトするためのク
リアパルスを自動的に発生させるオートクリアパルス発
生回路が設けられているものがある。ここで、オートク
リアパルス発生回路とは、電源がオフ状態からオン状態
に変化したときに、第4図に示す■4のようなパルスを
自動的に出力する回路である。このようなオートクリア
パルス発生回路の従来例を第2図に示す。
この従来例では、第1のNチャネルMOSトランジスタ
1と、第2のNチャネルMOSトランジスタ2と、第1
のPチャネルMOSトランジスタ3と、第2のPチャネ
ルMOSトランジスタ4と、抵抗5と、コンデンサ6と
、インバータ7とが、以下に説明するように接続される
ことによって、オートクリアパルス発生回路を形成して
いる。
1と、第2のNチャネルMOSトランジスタ2と、第1
のPチャネルMOSトランジスタ3と、第2のPチャネ
ルMOSトランジスタ4と、抵抗5と、コンデンサ6と
、インバータ7とが、以下に説明するように接続される
ことによって、オートクリアパルス発生回路を形成して
いる。
第1のNチャネルMOSトランジスタ1のソースla及
びゲートICは、電源に接続され、ドレインlbは抵抗
5を介して接地されている。ドレイン1bと抵抗5との
接続点を7ードAと称することにする。
びゲートICは、電源に接続され、ドレインlbは抵抗
5を介して接地されている。ドレイン1bと抵抗5との
接続点を7ードAと称することにする。
第2のNチャネルMOSトランジスタ2のゲート2cは
、第1のNチャネルMOSトランジスタIのドレイン1
1)と接続され、第2のNチャネルMOSトランジスタ
2のソース2aは、接地されている。
、第1のNチャネルMOSトランジスタIのドレイン1
1)と接続され、第2のNチャネルMOSトランジスタ
2のソース2aは、接地されている。
第1のPチャネルMOSトランジスタ3の7 −ス3a
は電源に接続され、ゲート3cは接地され、ドレイン3
bは第2のNチャネルMOSトランジスタ2のドレイン
2bと接続されている(ノードB)。
は電源に接続され、ゲート3cは接地され、ドレイン3
bは第2のNチャネルMOSトランジスタ2のドレイン
2bと接続されている(ノードB)。
第2のPチャネルMOSトランジスタ4のソース4aは
電源に接続され、ゲート4cは第2のNチャネルMOS
トランジスタ2のドレイン2bに接続され、ドレイン4
bとグランドの間にはコンデンサ6が設けられている。
電源に接続され、ゲート4cは第2のNチャネルMOS
トランジスタ2のドレイン2bに接続され、ドレイン4
bとグランドの間にはコンデンサ6が設けられている。
インバータ7の入力部7aは第2のPチャネルMOS}
ランンスタ4のドレイン4bと接続されている。
ランンスタ4のドレイン4bと接続されている。
次に、上記の構成を有する従来のオートクリアパルス発
生回路がクリアパルスを出力する動作について、第2図
及び第4図を参照しながら説明する。
生回路がクリアパルスを出力する動作について、第2図
及び第4図を参照しながら説明する。
まず、時刻Tl以前に於で、電源がオフ状態であるとす
る。時刻T1で電源がオフ状態からオン状態に変化する
と、電源が出力する電位レベル■lはLow(L)
レベルからHigh(H) レベルに向かって上昇し、
時刻T6で最大値となった後は、定常状態となる。
る。時刻T1で電源がオフ状態からオン状態に変化する
と、電源が出力する電位レベル■lはLow(L)
レベルからHigh(H) レベルに向かって上昇し、
時刻T6で最大値となった後は、定常状態となる。
電源の電位レベルv1が上昇し、第1のNチャ不ルMO
Sトランジスタ1の闇値を超える時刻T2以降、第1の
NチャネルMOSトランジスタ1はオン状態となる。こ
のため、第1のNチャネルMOSトランジスタ1を介し
て、電源の出力はノードAの電位レベル■2をHレベル
に向けて上昇させる。
Sトランジスタ1の闇値を超える時刻T2以降、第1の
NチャネルMOSトランジスタ1はオン状態となる。こ
のため、第1のNチャネルMOSトランジスタ1を介し
て、電源の出力はノードAの電位レベル■2をHレベル
に向けて上昇させる。
ノードAの電位レベル■1が上昇すると、第2のNチャ
ネルMOSトランジスタ2はオン状態となる。このため
、第2のNチャネルMOSトランジスタ2を介して、第
2のPチャネルMOS}ランノスタ4のゲート4cの電
位レベルがLレベルに低下する。こうして、第2のPチ
ャネルM O Sトランジスタ4がオン状帖となる(時
刻T4)。
ネルMOSトランジスタ2はオン状態となる。このため
、第2のNチャネルMOSトランジスタ2を介して、第
2のPチャネルMOS}ランノスタ4のゲート4cの電
位レベルがLレベルに低下する。こうして、第2のPチ
ャネルM O Sトランジスタ4がオン状帖となる(時
刻T4)。
このため、第2のPチャネルMOSトランジスタ4を介
して、電源の出力がインバータ7の入力部7aに入力さ
れ、入力部7aの電位レベル■3が上昇する。このとき
、コンデンサ6の容量によって、入力部7aの電位レベ
ル■3が上昇する上昇速度が変化する。容量が大きい程
、この上昇速度は低下する。
して、電源の出力がインバータ7の入力部7aに入力さ
れ、入力部7aの電位レベル■3が上昇する。このとき
、コンデンサ6の容量によって、入力部7aの電位レベ
ル■3が上昇する上昇速度が変化する。容量が大きい程
、この上昇速度は低下する。
時刻T7で、入力部7aの電位レベルV3の上昇は停止
し、電位レベル■3は定常値となる。
し、電位レベル■3は定常値となる。
電源がオン状態となった時刻T1以降、インバータ7の
電源端子部分(不図示)に印加される電源の電位レベル
が、ある充分な大きさに達する時刻T3までの間、イン
バータ7はインバータとして動作しない。このため、イ
ンバータ7の出力部7bの電位レベル■4は、その入力
部7aの電位レベル■3の高さに関係なくLレベルのま
まである。
電源端子部分(不図示)に印加される電源の電位レベル
が、ある充分な大きさに達する時刻T3までの間、イン
バータ7はインバータとして動作しない。このため、イ
ンバータ7の出力部7bの電位レベル■4は、その入力
部7aの電位レベル■3の高さに関係なくLレベルのま
まである。
時刻T3以降、インバータ7が動作し始める。
このため、時刻T3から、入力部7aの電位レベル■3
がインバータ7の反転閾値を越える時刻T5までの間、
入力部7bの電位レベルv4は、Hレベルとなる。
がインバータ7の反転閾値を越える時刻T5までの間、
入力部7bの電位レベルv4は、Hレベルとなる。
時刻T5以降は、入力部7aの電位レベルv3が、イン
バータ7の反転閾値より高くなるため、出力部7bの電
位レベル■4はLレベルとなる。
バータ7の反転閾値より高くなるため、出力部7bの電
位レベル■4はLレベルとなる。
こうして、時刻T3から時刻T5までの時間幅を有する
パルスが、オートクリアパルスとして、インバータの出
力部7bから出力されることになる。このパルスのパル
ス幅は、入力部7aの電位レベル■3の上昇速度が低下
するほど、広くなる。
パルスが、オートクリアパルスとして、インバータの出
力部7bから出力されることになる。このパルスのパル
ス幅は、入力部7aの電位レベル■3の上昇速度が低下
するほど、広くなる。
従って、コンデンサ6の容量が大きいほど、パルス幅は
広くなる。
広くなる。
次に、時刻T8で、電源がオン状態からオフ状態に変化
すると、電源が出力する電位レベル■1は、Hレベルか
らLレベルに低下し始める。このため、第1のNチャネ
ルMOSトランジスタlのゲート1cの電位レベルが閾
値電位以下に低下し、第1のNチャネルMOSトランジ
スタ1はオフ状態となる。このあと、ノードAに蓄積さ
れた電荷は、抵抗5を介してグランドに放出されるため
、第2のNチャ不ルMOSトランジス2のゲート2Cの
電位レベルが低下する。第2のNチャネルMOSトラン
ジスタ2のゲート電位が閾値電位よりも低下すると、第
2のNチャ不ルMOSトランジスタ2はオフ状態となる
。このため、ノードBの電位はHレベルに上昇し、第2
のPチャネルMOSトランジスタ4はオフ状態となる。
すると、電源が出力する電位レベル■1は、Hレベルか
らLレベルに低下し始める。このため、第1のNチャネ
ルMOSトランジスタlのゲート1cの電位レベルが閾
値電位以下に低下し、第1のNチャネルMOSトランジ
スタ1はオフ状態となる。このあと、ノードAに蓄積さ
れた電荷は、抵抗5を介してグランドに放出されるため
、第2のNチャ不ルMOSトランジス2のゲート2Cの
電位レベルが低下する。第2のNチャネルMOSトラン
ジスタ2のゲート電位が閾値電位よりも低下すると、第
2のNチャ不ルMOSトランジスタ2はオフ状態となる
。このため、ノードBの電位はHレベルに上昇し、第2
のPチャネルMOSトランジスタ4はオフ状態となる。
この後、インバータ7の入力部7aの電位レベル■3は
、Lレベルに低下する。
、Lレベルに低下する。
入力部7aの電位レベル■3がインバータ7の反転閾値
以下に低下する前に、インバータ7の電源電圧端子(不
図示)に印加されている電源電圧の電位レベルv1が、
インバータ7の動作に必要なレベル以下に低下する。こ
のため、インバータ7の出力部7bの電位のレベルv4
は、入力部7aの電位レベル■3に関係なく、Lレベル
のままとなる。
以下に低下する前に、インバータ7の電源電圧端子(不
図示)に印加されている電源電圧の電位レベルv1が、
インバータ7の動作に必要なレベル以下に低下する。こ
のため、インバータ7の出力部7bの電位のレベルv4
は、入力部7aの電位レベル■3に関係なく、Lレベル
のままとなる。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上述の従来技術においては、以下に述べ
る問題点がある。
る問題点がある。
電源をオン状態からオフ状態に変化した後、直ちに、オ
ン状態に戻すと、オートクリアパルスが出力されずに内
部回路がリセットされないという誤動作が生じてしまう
。この誤動作を、第5図を参照しながら説明する。
ン状態に戻すと、オートクリアパルスが出力されずに内
部回路がリセットされないという誤動作が生じてしまう
。この誤動作を、第5図を参照しながら説明する。
時刻T9に於で、電源をオン状態からオフ状態に変化さ
せた後、すぐに時刻TIOで1i源をオフ状呑からオン
状態に変化させ場合、ノードAの電位■2は、Lレベル
に低下しないうちに、再び上昇することになる。ノード
Aに蓄積された電荷は、抵抗値が数100kΩ程度の高
抵抗を有する抵抗5を介してグランドに放畠されるため
、ノードAの電位レベル■2がLレベルに低下するため
には、相当の時間がかかる。このため、第2のPチャネ
ルM O S トランジスタ4がオフ状態にならないで
、電源が出力するHレベルの出力が、インバータ7の入
力部7aに入力されてしまう。従って、入力部7aの電
位レベルv3は、時刻T9以降、Lレベルに低下するこ
となく、インバータ7の反転閾値以上の電位レベルを保
つことになる。
せた後、すぐに時刻TIOで1i源をオフ状呑からオン
状態に変化させ場合、ノードAの電位■2は、Lレベル
に低下しないうちに、再び上昇することになる。ノード
Aに蓄積された電荷は、抵抗値が数100kΩ程度の高
抵抗を有する抵抗5を介してグランドに放畠されるため
、ノードAの電位レベル■2がLレベルに低下するため
には、相当の時間がかかる。このため、第2のPチャネ
ルM O S トランジスタ4がオフ状態にならないで
、電源が出力するHレベルの出力が、インバータ7の入
力部7aに入力されてしまう。従って、入力部7aの電
位レベルv3は、時刻T9以降、Lレベルに低下するこ
となく、インバータ7の反転閾値以上の電位レベルを保
つことになる。
インバータ7は、時刻T9以降、電源の出力電位レベル
■1の低下によって、インバータとして動作しなくなる
が、時刻Tll以降、再びインバータとして動作し始め
る。しかし、その時刻以降での入力部7aの電位レベル
■3がHレベルであるため、出力部7bの電位レベルV
4はLレベルのままである。
■1の低下によって、インバータとして動作しなくなる
が、時刻Tll以降、再びインバータとして動作し始め
る。しかし、その時刻以降での入力部7aの電位レベル
■3がHレベルであるため、出力部7bの電位レベルV
4はLレベルのままである。
こうして、電源をオン状態からオフ状態を経て直ちにオ
ン状態に変化させると、オートクリアパルスが出力され
なくなってしまう。
ン状態に変化させると、オートクリアパルスが出力され
なくなってしまう。
なお、ノードAの電位レベル■2を速やかに低下させ、
第2のNチャネルMOSトランジスタ2を速やかにオフ
状態に変化する目的で、抵抗5として低抵抗値を有する
ものを用いることが考えられる。しかし、抵抗5の抵抗
値と第1のNチャネルMOSトランジスタ1のオン抵抗
とによって、電源がオン状態のときのノードAの電位が
決定されるため、低抵抗の抵抗を用いると、ノードAの
電位レベル■2が、第2のNチャネルMOSトランジス
タ2の閾値よりも高い値に上昇することができず、第2
のNチャネルMOSトランジスタ2をオン状態にするこ
とができなくなってしまう。
第2のNチャネルMOSトランジスタ2を速やかにオフ
状態に変化する目的で、抵抗5として低抵抗値を有する
ものを用いることが考えられる。しかし、抵抗5の抵抗
値と第1のNチャネルMOSトランジスタ1のオン抵抗
とによって、電源がオン状態のときのノードAの電位が
決定されるため、低抵抗の抵抗を用いると、ノードAの
電位レベル■2が、第2のNチャネルMOSトランジス
タ2の閾値よりも高い値に上昇することができず、第2
のNチャネルMOSトランジスタ2をオン状態にするこ
とができなくなってしまう。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであ
り、その目的とするところは、74#の状態をオン状態
からオフ状態を経て直ちにオン状態に変化させても、オ
ートクリアパルスが確実に出力され、電源のチヤタリン
グによる誤動作が生じることのない信頼性の高い半導体
集積回路装置を提供することにある。
り、その目的とするところは、74#の状態をオン状態
からオフ状態を経て直ちにオン状態に変化させても、オ
ートクリアパルスが確実に出力され、電源のチヤタリン
グによる誤動作が生じることのない信頼性の高い半導体
集積回路装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明の半導体集積回路装置は、ソース及びゲートが4
4源に接続された第1のNチャネルMOSトランジスタ
と、該第1のNチャネルMOSトランジスタのドレイン
と一端が接続され、池端がグランドに接続された抵抗と
、ゲートが該第1のNチャネルMOSトランジスタのド
レインと接続され、ソースがグランドに接続された第2
のNチャネルMOSトランジスタと、ソースが該電源に
接続され、ゲートがグランドに接続され、ドレインが該
第2のNチャネルMOSトランジスタのドレインと接続
された第1のPチャネルMOSトランジスタと、ソース
が該電源に接続され、ゲートが該第2のNチャネルMO
Sトランジスタのドレインに接続された第2のPチャネ
ルMOSトランジスタト、該第2のPチャネルMOSト
ランシスタのドレインとグランドとの間に設けられたコ
ンデンサと、入力部が該第2のPチャネルMOSトラン
ジスタのドレインと接続されたインバータと、アノード
が該第2のNチャネルMOSトランジスタのゲートと接
続され、カンードが該電源に接続されたダイオードと、
を備えており、そのことにより上記目的が達成される。
4源に接続された第1のNチャネルMOSトランジスタ
と、該第1のNチャネルMOSトランジスタのドレイン
と一端が接続され、池端がグランドに接続された抵抗と
、ゲートが該第1のNチャネルMOSトランジスタのド
レインと接続され、ソースがグランドに接続された第2
のNチャネルMOSトランジスタと、ソースが該電源に
接続され、ゲートがグランドに接続され、ドレインが該
第2のNチャネルMOSトランジスタのドレインと接続
された第1のPチャネルMOSトランジスタと、ソース
が該電源に接続され、ゲートが該第2のNチャネルMO
Sトランジスタのドレインに接続された第2のPチャネ
ルMOSトランジスタト、該第2のPチャネルMOSト
ランシスタのドレインとグランドとの間に設けられたコ
ンデンサと、入力部が該第2のPチャネルMOSトラン
ジスタのドレインと接続されたインバータと、アノード
が該第2のNチャネルMOSトランジスタのゲートと接
続され、カンードが該電源に接続されたダイオードと、
を備えており、そのことにより上記目的が達成される。
(実施例)
以下に本発明を実施例について説明する。
まず、第1図に示す実施例の構成について説明する。
本実施例では、第1ONチャネルMOSトランジスタl
と、第2のNチャネルMOSトランジスタ2と、第1の
PチャネルMOSトランジスタ3と、第2のPチャネル
MOSトランジスタ4と、抵抗5と、コンデンサ6と、
インバータ7、ダイオード8とが、以下に説明するよう
に接続されることによって、オートクリアパルス発生回
路を形成している。
と、第2のNチャネルMOSトランジスタ2と、第1の
PチャネルMOSトランジスタ3と、第2のPチャネル
MOSトランジスタ4と、抵抗5と、コンデンサ6と、
インバータ7、ダイオード8とが、以下に説明するよう
に接続されることによって、オートクリアパルス発生回
路を形成している。
第1のNチャネルMOSトランジスタ1のソース1a及
びゲートICは、電源に接続され、ドレインlbは抵抗
5を介して接地されている。
びゲートICは、電源に接続され、ドレインlbは抵抗
5を介して接地されている。
第2のNチャネルMOSトランジスタ2のゲート2cは
、第1のNチャ不ルMOSトランジスタlのドレイン1
bと接続され、第2のNチャネルMOSトランジスタ2
のソース2aは、接地されている。
、第1のNチャ不ルMOSトランジスタlのドレイン1
bと接続され、第2のNチャネルMOSトランジスタ2
のソース2aは、接地されている。
第1のPチャネルMOSトランジスタ3のソース3aは
電源に接続され、ゲー1−3cは接地され、ドレイン3
bは第2のNチャネルMOS!−ランジスタ2のドレイ
ン2bと接続されている。
電源に接続され、ゲー1−3cは接地され、ドレイン3
bは第2のNチャネルMOS!−ランジスタ2のドレイ
ン2bと接続されている。
第2のPチャネルMOSトランジスタ4のソース4aは
電源に接続され、ゲート4Cは第2のNチャネルMOS
トランジスタ2のドレイン2bに接続され、ドレイン4
bとグランドの間にはコンデンサ6が設けられている。
電源に接続され、ゲート4Cは第2のNチャネルMOS
トランジスタ2のドレイン2bに接続され、ドレイン4
bとグランドの間にはコンデンサ6が設けられている。
インバータ7の入力部7aは第2のPチャネルMOSト
ランジスタ4のドレイン4bと接続されている。
ランジスタ4のドレイン4bと接続されている。
本実施例の構成と第2図に示す従来例の構成との大きな
違いは、本実施例の構成に於いて、ダイオード8のアノ
ード8aと7ードAとが接続され、ダイオード8のカソ
ード8bと電源とが接続されていることである。
違いは、本実施例の構成に於いて、ダイオード8のアノ
ード8aと7ードAとが接続され、ダイオード8のカソ
ード8bと電源とが接続されていることである。
次に、上記の構成を有するオートクリアパルス発生回路
がクリアパルスを出力する動作を説明する。
がクリアパルスを出力する動作を説明する。
まず、電源がオフ状態からオン状態に変化すると、電源
が出力する電位レベルはLレベルからHレベルに上昇す
る。このとき、ダイオード8のカソード8bの電位がダ
イオード8のアノード8aの電位よりも高いため、ダイ
オード8を介した電荷の移動は起こらない。従って、こ
のときの実施例のオートクリアパルス発生回路がクリア
パルスを発生する動作は、第2図に示す従来例のオート
クリアパルス発生回路がクリアパルスを発生させる動作
と変わるところはない。
が出力する電位レベルはLレベルからHレベルに上昇す
る。このとき、ダイオード8のカソード8bの電位がダ
イオード8のアノード8aの電位よりも高いため、ダイ
オード8を介した電荷の移動は起こらない。従って、こ
のときの実施例のオートクリアパルス発生回路がクリア
パルスを発生する動作は、第2図に示す従来例のオート
クリアパルス発生回路がクリアパルスを発生させる動作
と変わるところはない。
次に、第1図及び第3図を参照しながら、電源をオン状
態からオフ状態に変化させた後、すぐに電源をオフ状態
からオン状態に変化させる場合について、本実施例のオ
ートクリアパルス発生回路がクリアパルスを発生させる
動作を説明する。
態からオフ状態に変化させた後、すぐに電源をオフ状態
からオン状態に変化させる場合について、本実施例のオ
ートクリアパルス発生回路がクリアパルスを発生させる
動作を説明する。
時刻T15に於で、電源をオン状態からオフ状態に変化
させた後、すぐに時刻T16で電源をオフ状態からオン
状態に変化させると、ダイオード8のカソード8bの電
位はダイオード8のアノード8aの電位よりも低くなる
ため、ダイオード8を介した電荷の移動が起こる。ダイ
オード8のオン抵抗は、数100Ωであるため、ノード
Aに蓄積された電荷は、ダイオード8を介して′N#側
に速やかに放出される。従って、ノードAの電位レベル
■2が再びHレベルに向かって上昇する前に、ノードA
の電位レベルv2はLレベルに確実に低下する。このた
め、第2のNチャネルMOSトランジスタ2が速やかに
オフ状態となり、続いて第2のPチャネルMOSトラン
ジスタ4がオフ状聾となる。この後、ノードAの電位レ
ベレ■2がHレベルに上昇し、第2のPチャネルMOS
トランジスタ4がオン状態に変化する時刻T18まで、
インバータ7の入力部7aの電位レベルv3は低下する
。
させた後、すぐに時刻T16で電源をオフ状態からオン
状態に変化させると、ダイオード8のカソード8bの電
位はダイオード8のアノード8aの電位よりも低くなる
ため、ダイオード8を介した電荷の移動が起こる。ダイ
オード8のオン抵抗は、数100Ωであるため、ノード
Aに蓄積された電荷は、ダイオード8を介して′N#側
に速やかに放出される。従って、ノードAの電位レベル
■2が再びHレベルに向かって上昇する前に、ノードA
の電位レベルv2はLレベルに確実に低下する。このた
め、第2のNチャネルMOSトランジスタ2が速やかに
オフ状態となり、続いて第2のPチャネルMOSトラン
ジスタ4がオフ状聾となる。この後、ノードAの電位レ
ベレ■2がHレベルに上昇し、第2のPチャネルMOS
トランジスタ4がオン状態に変化する時刻T18まで、
インバータ7の入力部7aの電位レベルv3は低下する
。
第2のPチャネルMOSトランジスタ4がオン状態に変
化する時刻T18以降、インバータ7の入力部7aの電
位レベル■3は上昇し、やがて定常状態となる。
化する時刻T18以降、インバータ7の入力部7aの電
位レベル■3は上昇し、やがて定常状態となる。
インバータ7は、時刻T15以降、電源の出力レベル■
1の低下によって、インバータとして動作しなくなるが
、時刻T17以降、再びインバータとして動作し始める
。時刻T17での入力部7aの出力電位レベルv3が、
インバータ7の反転閾値以下であるため、その時刻でイ
ンバータ7の出力部7bの電位レベル■4はHレベルと
なる。
1の低下によって、インバータとして動作しなくなるが
、時刻T17以降、再びインバータとして動作し始める
。時刻T17での入力部7aの出力電位レベルv3が、
インバータ7の反転閾値以下であるため、その時刻でイ
ンバータ7の出力部7bの電位レベル■4はHレベルと
なる。
時刻19で、入力部7aの電位レベル■3が反転閾値以
上に上昇すると、出力部7bの電位レベル■4はLレベ
ルとなる。
上に上昇すると、出力部7bの電位レベル■4はLレベ
ルとなる。
こうして、電源をオン状態からオフ状態を経て直ちにオ
ン状態に変化させても、オートクリアパルスが正常に出
力される。
ン状態に変化させても、オートクリアパルスが正常に出
力される。
(発明の効果)
このように本発明によれば、電源の状態がオン状態から
オフ状態に変化すると、第2のNチャネルMOSトラン
ジスタのゲート電極に蓄積されていた電荷がダイオード
を介して速やかに電源に放出されるため、まず第2のN
チャネルMOSトランジスタ、続いて第2のPチャネル
MQSトランジスタが速やかにオフ状態となり、インバ
ータの入力部の電位は速やかにLレベルになる。このた
め、電源の状態をオン状態からオフ状態を経て直ちにオ
ン状態に変化させても、オートクリアパルスが確実に出
力される。従って、本発明によれば、電源のチヤタリン
グによる誤動作が生じることのない信頼性の高い半導体
集積回路装置が提供される。
オフ状態に変化すると、第2のNチャネルMOSトラン
ジスタのゲート電極に蓄積されていた電荷がダイオード
を介して速やかに電源に放出されるため、まず第2のN
チャネルMOSトランジスタ、続いて第2のPチャネル
MQSトランジスタが速やかにオフ状態となり、インバ
ータの入力部の電位は速やかにLレベルになる。このた
め、電源の状態をオン状態からオフ状態を経て直ちにオ
ン状態に変化させても、オートクリアパルスが確実に出
力される。従って、本発明によれば、電源のチヤタリン
グによる誤動作が生じることのない信頼性の高い半導体
集積回路装置が提供される。
4.゛の。 な言日
第1図は本発明の実施例を示す回路構成図、第2図は従
来例を示す回路構成図、第3図は本実施例の各部分に於
ける電位レベルの時間的変化を示すタイミングチャート
、第4図及び第5図は従来例の各部分に於ける電位レベ
ルの時間的変化を示すタイミングチャートである。
来例を示す回路構成図、第3図は本実施例の各部分に於
ける電位レベルの時間的変化を示すタイミングチャート
、第4図及び第5図は従来例の各部分に於ける電位レベ
ルの時間的変化を示すタイミングチャートである。
1・・・第1のNチャネルMOSトランジスタ、2・・
・第2のNチャネルMOSトランジスタ、3・・・第1
のPチャネルMOSトランジスタ、4・・・第2のPチ
ャネルMOSトランジスタ、5・・・抵抗、6・・・コ
ンデンサ、7・・・インバータ、8・・・ダイオード。
・第2のNチャネルMOSトランジスタ、3・・・第1
のPチャネルMOSトランジスタ、4・・・第2のPチ
ャネルMOSトランジスタ、5・・・抵抗、6・・・コ
ンデンサ、7・・・インバータ、8・・・ダイオード。
以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ソース及びゲートが電源に接続された第1のNチャ
ネルMOSトランジスタと、 該第1のNチャネルMOSトランジスタのドレインと一
端が接続され、他端がグランドに接続された抵抗と、 ゲートが該第1のNチャネルMOSトランジスタのドレ
インと接続され、ソースがグランドに接続された第2の
NチャネルMOSトランジスタと、ソースが該電源に接
続され、ゲートがグランドに接続され、ドレインが該第
2のNチャネルMOSトランジスタのドレインと接続さ
れた第1のPチャネルMOSトランジスタと、 ソースが該電源に接続され、ゲートが該第2のNチャネ
ルMOSトランジスタのドレインに接続された第2のP
チャネルMOSトランジスタと、該第2のPチャネルM
OSトランジスタのドレインとグランドとの間に設けら
れたコンデンサと、入力部が該第2のPチャネルMOS
トランジスタのドレインと接続されたインバータと、 アノードが該第2のNチャネルMOSトランジスタのゲ
ートと接続され、カソードが該電源に接続されたダイオ
ードと、 を備えた半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1455490A JPH03218064A (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1455490A JPH03218064A (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03218064A true JPH03218064A (ja) | 1991-09-25 |
Family
ID=11864368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1455490A Pending JPH03218064A (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03218064A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07303035A (ja) * | 1993-12-10 | 1995-11-14 | Samsung Electron Co Ltd | 電圧オンリセット回路 |
JP2009065649A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-03-26 | Seiko Instruments Inc | 電源電圧低下検出回路 |
-
1990
- 1990-01-23 JP JP1455490A patent/JPH03218064A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07303035A (ja) * | 1993-12-10 | 1995-11-14 | Samsung Electron Co Ltd | 電圧オンリセット回路 |
JP2009065649A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-03-26 | Seiko Instruments Inc | 電源電圧低下検出回路 |
KR101444465B1 (ko) * | 2007-08-10 | 2014-09-24 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 전원 전압 저하 검출 회로 |
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