JP5164597B2 - データ制御装置 - Google Patents
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Description
本発明の第1の実施の形態に係るデータ制御装置12の原理的ブロック構成は、図1に示すように、一次側電源電圧VDD1が供給される一次側電源線VDL1と、二次側電源電圧VDD2が供給される二次側電源線VDL2と、一次側電源線VDL1と二次側電源線VDL2との間に配置され、一次側電源電圧VDD1を二次側電源電圧VDD2に変換する電源電圧変換部14と、一次側電源線VDL1と二次側電源線VDL2との間に配置される検出・制御部15とを備える。図1に示すように、二次側電源線VDL2に接続される制御対象回路10は、検出・制御部15を介して、一次側電源線VDL1にも接続されている。
本発明の第1の実施の形態に係るデータ制御装置12は、図5に詳細な模式的ブロック構成を示すように、一次側電源電圧VDD1が供給される一次側電源線VDL1と、二次側電源電圧VDD2が供給される二次側電源線VDL2と、一次側電源線VDL1と二次側電源線VDL2との間に配置され,一次側電源電圧VDD1を二次側電源電圧VDD2に変換する電圧変換部14と、一次側電源線VDL1に接続され,電圧レベル検知信号VDTを出力する電圧レベル検出部18と、二次側電源線VDL2に接続され,リセット信号RSTnを出力するリセット信号発生部16と、電圧レベル検出部18より電圧レベル検知信号VDT,リセット信号発生部16よりリセット信号RSTnを受信して、制御信号CLSを出力する制御信号発生部20とを備える。
図6は、図5に示すデータ制御装置の動作例を示す。図6においては、一次側電源電圧VDD1および二次側電源電圧VDD2の電源変動波形が示され、さらに、これらの電源変動波形に対応して、リセット信号RSTn、電圧レベル検出信号VDTおよび制御信号CLSの動作波形がそれぞれ示されている。
(データ制御装置)
本発明の第2の実施の形態に係るデータ制御装置であって、データ退避/復帰制御動作を実行するデータ制御装置12は、図7に示すように、一次側電源電圧VDD1が供給される一次側電源線VDL1と、二次側電源電圧VDD2が供給される二次側電源線VDL2と、一次側電源線VDL1と二次側電源線VDL2との間に配置され,一次側電源電圧VDD1を二次側電源電圧VDD2に変換する電圧変換部14と、一次側電源線VDL1に接続され,電圧レベル検知信号VDTを出力する電圧レベル検出部18と、二次側電源線VDL2に接続され,リセット信号RSTnを出力するリセット信号発生部16と、電圧レベル検出部18より電圧レベル検知信号VDT,リセット信号発生部16よりリセット信号RSTnを受信して、データ退避制御信号DRCSおよびデータ復帰制御信号DSCSを出力する制御信号発生部20とを備える。
本発明の第2の実施の形態に係るデータ制御装置12の動作シーケンスを図8に示す状態遷移図を用いて説明する。
(a)まず、リセット状態S1において、RSTn=“1”で示されるように、リセット信号RSTnをオフ状態にすると、リセット状態S1から電源復帰待ち状態S2に状態遷移する。
図9は、図7に示すデータ制御装置12の動作例を示す。図9においては、一次側電源電圧VDD1および二次側電源電圧VDD2の電源変動波形が示され、さらに、これらの電源変動波形に対応して、リセット信号RSTn、電圧レベル検出信号VDT、データ復帰制御信号DSCSおよびデータ退避制御信号DRCSの動作波形がそれぞれ示されている。
(データ制御装置)
本発明の第3の実施の形態に係るデータ制御装置であって、不揮発性CPU40を制御対象とするデータ制御装置12は、図10に示すように、一次側電源電圧VDD1が供給される一次側電源線VDL1と、二次側電源電圧VDD2が供給される二次側電源線VDL2と、一次側電源線VDL1と二次側電源線VDL2との間に配置され,一次側電源電圧VDD1を二次側電源電圧VDD2に変換する電圧変換部14と、一次側電源線VDL1に接続され,電圧レベル検知信号VDTを出力する電圧レベル検出部18と、二次側電源線VDL2に接続され,リセット信号RSTnを出力するリセット信号発生部16と、電圧レベル検出部18より電圧レベル検知信号VDT,リセット信号発生部16よりリセット信号RSTnを受信する制御信号発生部20とを備える。
本発明の第3の実施の形態に係るデータ制御装置を適用する不揮発性CPU40の模式的ブロック構成は、図11に示すように、命令処理部102と、命令処理部102に接続され、命令処理部102から演算制御信号ACSを受信する演算処理部110と、演算処理部110に接続され、演算処理部110から演算出力信号zを受信する演算結果記憶部104と、演算結果記憶部104および命令処理部102に接続され、出力信号aを演算処理部110に供給するスイッチブロック106と、スイッチブロック106および命令処理部102に接続され、命令処理部102からスイッチ制御信号SCSを受信し、出力信号bを演算処理部110に供給するスイッチブロック108とを備える。
本発明の第3の実施の形態に係るデータ制御装置の制御対象である不揮発性CPU40に適用可能な不揮発性記憶ゲート50の構成例は、図12に示すように、第1および第2の不揮発性記憶部(NVSE)361 ,362と、第1の不揮発性記憶部361に隣接して配置され、第1の不揮発性記憶部361 へのデータ書込みおよび第1の不揮発性記憶部361からのデータ読出しのための外部制御信号を受信する第1のデータインタフェース制御部341と、第2の不揮発性記憶部362に隣接して配置され、第2の不揮発性記憶部362へのデータ書込みおよび第2の不揮発性記憶部362からのデータ読出しのための外部制御信号を受信する第2のデータインタフェース制御部342と、第1のデータインタフェース制御部341および第2のデータインタフェース制御部342に隣接して配置され、データ入力端子からデータ入力信号D、クロック入力端子からクロック信号CLKを受信し、データ出力端子からデータ出力信号Qを出力する揮発性記憶部(VSE)35とを備える。
本発明の第3の実施の形態に係るデータ制御装置の動作波形であって、不揮発性CPU40の制御時の動作タイミングチャートは、図13に示すように表される。図13において、一次側電源電圧VDD1および二次側電源電圧VDD2の電源変動波形が示され、さらに、これらの電源変動波形に対応して、リセット信号RSTn、電圧レベル検出信号VDT、クロック信号CLK、クロックイネーブル信号CLKEN、強誘電体素子書込み信号E1、通常動作信号E2、強誘電体素子両端短絡信号FRST、強誘電体素子駆動用信号PL1およびPL2、揮発性データ信号VSEDATA、および不揮発性データ信号NVSEDATAが示されている。
まず、通常動作について説明する。
次に、強誘電体素子へのデータ退避動作について説明する。
ノード電圧V1が「L」となり、ノード電圧V2が「H」となる。従って、時点W1〜W
2において、第1プレートラインに印加される強誘電体素子駆動用信号PL1と第2プレートラインに印加される強誘電体素子駆動用信号PL2が「L」とされている間、強誘電体キャパシタ51a、51bの両端間には電圧が印加されない状態となり、強誘電体キャパシタ52aの両端間には負極性の電圧が印加される状態となり、強誘電体キャパシタ52bの両端間には正極性の電圧が印加される状態となる。
次に、強誘電体素子からのデータ復帰動作について説明する。
上記のように、本発明は第1〜第3の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述および図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。
4…電圧変換器
12…データ制御装置
14…電源電圧変換部
15…検出・制御部
16…リセット信号発生部
18…電圧レベル検出部
20…制御信号発生部
32…主動作部
34、341、342…データインタフェース(I/F)制御部
35…揮発性記憶部(VSE)
36、361、362…不揮発性記憶部(NVSE)
40…不揮発性CPU
42…クロック生成装置
44…ANDゲート
50…不揮発性記憶ゲート
51a、51b、52a、52b…強誘電体キャパシタ
54、56、58…論理回路ブロック
60、61、64、70、72、74、76、80…インバータ
62、66、68、78、82…パススイッチ
84、86…マルチプレクサ
D…データ入力信号
Q…データ出力信号
CLK…クロック信号
CLKB…反転クロック信号
E1…強誘電体素子書込み信号
E2…通常動作信号
FRST…強誘電体素子両端短絡信号
PL1,PL2…強誘電体素子駆動用信号
VDD…電源電圧
VDD1…一次側電源電圧
VDD2…二次側電源電圧
VDL1…一次側電源線
VDL2…二次側電源線
TW1、TW2…処理可能期間
RSTn…リセット信号(負論理)
VDT…電圧レベル検知信号
CLS…制御信号
VLV1…VDD1検知電圧レベル
VLV2…VDD2検知電圧レベル
VRST…リセット電圧レベル
C1、C2…キャパシタ
DRCS…データ退避制御信号
DSCS…データ復帰制御信号
Claims (8)
- 一次側電源電圧が供給される一次側電源線と、
前記一次側電源電圧より低い二次側電源電圧が供給される二次側電源線と、
前記一次側電源線と前記二次側電源線との間に配置され,前記一次側電源電圧を前記二次側電源電圧に変換する電圧変換部と、
前記一次側電源線に接続され、前記一次側電源電圧と第1閾値電圧を比較する電圧レベル検出部と、
前記二次側電源線に接続され、前記電圧レベル検出部の出力信号に応じた信号が入力される制御回路と
を備え、
前記制御回路は、
前記一次側電源電圧が前記第1閾値電圧より高い電圧から低い電圧に変化したときに、前記二次側電源電圧が前記第1閾値電圧より低い第2閾値電圧よりも高い電圧から低い電圧に移行する移行時間に第1の制御信号を生成し、
前記二次側電源電圧が前記第2閾値電圧より低い電圧から高い電圧に変化した後に、前記一次側電源電圧が前記第1閾値電圧より低い電圧から高い電圧に変化したときに、第2の制御信号を生成することを特徴とするデータ制御装置。 - 前記制御回路は、
前記第1の制御信号および前記第2の制御信号を制御対象回路に送出し、
前記第1の制御信号は、前記制御対象回路のデータのバックアップを指示する信号であり、
前記第2の制御信号は、前記制御対象回路のデータの復帰処理を指示する信号であることを特徴とする請求項1に記載のデータ制御装置。 - 一次側電源電圧が供給される一次側電源線と、
前記一次側電源電圧より低い二次側電源電圧が供給される二次側電源線と、
前記一次側電源線と前記二次側電源線との間に配置され,前記一次側電源電圧を前記二次側電源電圧に変換する電圧変換部と、
前記一次側電源線に接続され、前記一次側電源電圧と第1閾値電圧を比較する電圧レベル検出部と、
前記二次側電源線に接続され、前記電圧レベル検出部の出力信号に応じた信号が入力される制御対象回路と
を備え、
前記制御対象回路は、
前記一次側電源電圧が前記第1閾値電圧より高い電圧から低い電圧に変化したときに、前記二次側電源電圧が前記第1閾値電圧より低い第2閾値電圧よりも高い電圧から低い電圧に移行する移行時間にデータのバックアップを行い、
前記二次側電源電圧が前記第2閾値電圧より低い電圧から高い電圧に変化した後に、前記一次側電源電圧が前記第1閾値電圧より低い電圧から高い電圧に変化したときに、データの復帰処理を行うことを特徴とするデータ制御装置。 - 前記二次側電源線に接続され,リセット信号を出力するリセット信号発生部と、
前記電圧レベル検出部の出力信号および前記リセット信号を受信して、制御信号を出力する制御信号発生部と
をさらに備えることを特徴とする請求項2または3に記載のデータ制御装置。 - 前記制御信号発生部は、前記制御対象回路のデータを不揮発性化するデータ退避制御信号と、不揮発性化した前記データを処理可能な状態に戻すデータ復帰制御信号とを前記制御対象回路に出力することを特徴とする請求項4に記載のデータ制御装置。
- 制御対象回路は、主動作部と、不揮発性記憶部と、主動作部と不揮発性記憶部との間に配置されるデータインタフェース制御部とを備え、
前記データインタフェース制御部は、前記データ退避制御信号に従って前記不揮発性記憶部からデータを退避し、前記データ復帰制御信号に従って前記不揮発性記憶部からデータを復帰することを特徴とする請求項5に記載のデータ制御装置。 - 制御対象回路は、不揮発性CPUであり、
前記制御信号発生部は、前記不揮発性CPUの記憶素子へのデータの退避を指示する信号と、前記記憶素子に退避した前記データの復帰を指示する信号とを前記不揮発性CPUに出力することを特徴とする請求項4に記載のデータ制御装置。 - 前記不揮発性CPUは、
命令処理部と、
命令処理部に接続され、前記命令処理部から演算制御信号を受信する演算処理部と、
前記演算処理部に接続され、前記演算処理部から演算出力信号を受信する演算結果記憶部と、
前記演算結果記憶部および前記命令処理部に接続され、第1の出力信号を前記演算処理部に供給する第1のスイッチブロックと、
前記第1のスイッチブロックおよび前記命令処理部に接続され、前記命令処理部からスイッチ制御信号を受信し、第2の出力信号を前記演算処理部に供給する第2のスイッチブロックと
を備えることを特徴とする請求項7に記載のデータ制御装置。
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JP2003158782A (ja) * | 2001-11-21 | 2003-05-30 | Fujitsu Ten Ltd | 制御装置および電子制御システムでの自己診断方法 |
JP2003316664A (ja) * | 2002-04-24 | 2003-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2003345672A (ja) * | 2002-05-23 | 2003-12-05 | Mitsubishi Electric Corp | コンピュータのデータ保護システム及びデータ保護のプログラム |
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US7170315B2 (en) * | 2003-07-31 | 2007-01-30 | Actel Corporation | Programmable system on a chip |
US7680975B2 (en) * | 2004-09-21 | 2010-03-16 | Panasonic Corporation | Semiconductor memory card enabling continuation of processing when processing execution is interrupted due to interruption of voltage supply |
US7639052B2 (en) * | 2007-04-06 | 2009-12-29 | Altera Corporation | Power-on-reset circuitry |
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