JP5139253B2 - 真空処理装置及び真空搬送装置 - Google Patents
真空処理装置及び真空搬送装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5139253B2 JP5139253B2 JP2008321942A JP2008321942A JP5139253B2 JP 5139253 B2 JP5139253 B2 JP 5139253B2 JP 2008321942 A JP2008321942 A JP 2008321942A JP 2008321942 A JP2008321942 A JP 2008321942A JP 5139253 B2 JP5139253 B2 JP 5139253B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transfer
- vacuum
- chamber
- area
- transport
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/6719—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the processing chambers, e.g. modular processing chambers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J11/00—Manipulators not otherwise provided for
- B25J11/0095—Manipulators transporting wafers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J5/00—Manipulators mounted on wheels or on carriages
- B25J5/02—Manipulators mounted on wheels or on carriages travelling along a guideway
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67196—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the transfer chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67201—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the load-lock chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Robotics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
また、本発明の第2の観点における真空処理装置は、室内が減圧状態に保たれる真空搬送室と、前記真空搬送室の周囲に隣接して設けられ、減圧下の室内で被処理体に所定の処理が行われる1つまたは複数の真空処理室と、前記真空搬送室の周囲に隣接して設けられ、室内が選択的に大気状態または減圧状態に切り換えられ、大気空間と前記真空搬送室との間で転送される被処理体を一時的に留め置く1つまたは複数のロードロック室と、前記ロードロック室といずれかの前記真空処理室との間で、または異なる前記真空処理室の間で、前記被処理体を搬送するために前記真空搬送室内に設けられる第1および第2の真空搬送ロボットとを有し、前記第1および第2の真空搬送ロボットが、前記ロードロック室側から見て前記真空搬送室の左側搬送エリアおよび右側搬送エリアでそれぞれ奥行き方向に延びる第1および第2の搬送路上でそれぞれ前記真空搬送室内を移動できるように構成され、前記第1の真空搬送ロボットは、前記左側搬送エリアに隣接するすべての前記真空処理室に対して、および前記右側搬送エリアに隣接する少なくとも1つの前記真空処理室に対して、および少なくとも1つの前記ロードロック室に対して、前記被処理体の搬入または搬出のためのアクセスが可能であり、前記第2の真空搬送ロボットは、前記右側搬送エリアに隣接するすべての前記真空処理室に対して、および前記左側搬送エリアに隣接する少なくとも1つの前記真空処理室に対して、および少なくとも1つの前記ロードロック室に対して、前記被処理体の搬入または搬出のためのアクセスが可能であり、前記第1の真空搬送ロボットは、前記左側搬送エリア内にすべて収まる基本姿勢で前記第1の搬送路上を移動するとともに、アクセス可能ないずれの前記真空処理室に対しても前記左側搬送エリアから前記右側搬送エリアにはみ出して前記被処理体の搬入または搬出を行い、前記第2の真空搬送ロボットは、前記右側搬送エリア内にすべて収まる基本姿勢で前記第2の搬送路上を移動するとともに、アクセス可能ないずれの前記真空処理室に対しても前記右側搬送エリアから前記左側搬送エリアにはみ出して前記被処理体の搬入または搬出を行い、前記第1および第2の真空搬送ロボットが、前記第1および第2の搬送路上でそれぞれ前記真空搬送室内を移動できるように構成された第1および第2の搬送本体と、前記奥行き方向と交差する水平なオフセット方向で移動できるように前記第1および第2の搬送本体にそれぞれ搭載された第1および第2の搬送基台と、前記第1および第2の搬送基台にそれぞれ搭載され、水平面内で旋回運動できる第1および第2の搬送アーム本体と、前記第1および第2の搬送アーム本体に搭載され、前記第1および第2の搬送アーム本体上で水平方向に直進移動できる第1および第2の搬送アームと、前記第1および第2の搬送アームに取り付けられ、前記被処理体を支持できるように構成されたエンドエフェクタとをそれぞれ有し、前記第1の搬送基台は、前記左側搬送エリア内に収まる第1の復動位置と前記左側搬送エリアから前記右側搬送エリアにはみ出る第1の往動位置との間で移動可能であり、前記第2の搬送基台は、前記右側搬送エリア内に収まる第2の復動位置と前記右側搬送エリアから前記左側搬送エリアにはみ出る第2の往動位置との間で移動可能である。
そして、第1の真空搬送ロボットは、右側搬送エリアに隣接する向かい側の真空処理室にアクセスするときだけでなく、左側搬送エリアに隣接する最寄りの真空処理室にアクセスするときも、左側搬送エリアから右側搬送エリアにはみ出して被処理体の搬入または搬出を行う。一方、第2の真空搬送ロボットは、左側搬送エリアに隣接する向かい側の真空処理室にアクセスするときだけでなく、右側搬送エリアに隣接する最寄りの真空処理室にアクセスするときも、右側搬送エリアから左側搬送エリアにはみ出して被処理体の搬入または搬出を行う。
ここで、第1の観点の真空処理装置においては、第1および第2の真空搬送ロボットが、第1および第2の搬送路上でそれぞれ真空搬送室内を移動できるように構成された第1および第2の搬送本体と、奥行き方向と交差する水平なオフセット方向で左側搬送エリア内に収まる第1の復動位置と左側搬送エリアから右側搬送エリアにはみ出る第1の往動位置との間で移動できるように第1の搬送本体に搭載された第1の搬送基台、およびオフセット方向で右側搬送エリア内に収まる第2の復動位置と右側搬送エリアから左側搬送エリアにはみ出る第2の往動位置との間で移動できるように第2の搬送本体に搭載された第2の搬送基台と、水平面内で旋回運動できるとともに、水平な方向で直進移動できるように第1および第2の搬送基台にそれぞれ搭載され、かつ被処理体を支持できるように構成された第1および第2の搬送アームとをそれぞれ有する。
また、第2の観点の真空処理装置においては、第1および第2の真空搬送ロボットが、 第1および第2の搬送路上でそれぞれ真空搬送室内を移動できるように構成された第1および第2の搬送本体と、奥行き方向と交差する水平なオフセット方向で移動できるように第1および第2の搬送本体にそれぞれ搭載された第1および第2の搬送基台と、第1および第2の搬送基台にそれぞれ搭載され、水平面内で旋回運動できる第1および第2の搬送アーム本体と、第1および第2の搬送アーム本体に搭載され、第1および第2の搬送アーム本体上で水平方向に直進移動できる第1および第2の搬送アームと、第1および第2の搬送アームに取り付けられ、被処理体を支持できるように構成されたエンドエフェクタとをそれぞれ有し、第1の搬送基台は、左側搬送エリア内に収まる第1の復動位置と左側搬送エリアから右側搬送エリアにはみ出る第1の往動位置との間で移動可能であり、第2の搬送基台は、右側搬送エリア内に収まる第2の復動位置と右側搬送エリアから左側搬送エリアにはみ出る第2の往動位置との間で移動可能である。
このように、第1および第2の真空搬送ロボットのいずれも、常に真空搬送室内の幅方向中心部の位置から真空処理室にアクセスするので、当該真空搬送室が向かい側にあるか最寄りにあるかに関係なくシンプルかつ定形的な動作で被処理体の搬入または搬出を行うことができる。
PC1〜PC6 プロセス・チャンバ
LLCa,LLCb ロードロック・チャンバ
GV1〜GV6,GVa,GVb ゲートバルブ
16a 第1の真空搬送ロボット
16b 第2の真空搬送ロボット
46L 左側ガイドレール
46R 右側ガイドレール
48L(48R) 搬送本体
50L(50R) 搬送基台
52L(52R) 搬送アーム
55L(55R) アーム本体
64 アーム搬送機構
Claims (8)
- 室内が減圧状態に保たれる真空搬送室と、
前記真空搬送室の周囲に隣接して設けられ、減圧下の室内で被処理体に所定の処理が行われる1つまたは複数の真空処理室と、
前記真空搬送室の周囲に隣接して設けられ、室内が選択的に大気状態または減圧状態に切り換えられ、大気空間と前記真空搬送室との間で転送される被処理体を一時的に留め置く1つまたは複数のロードロック室と、
前記ロードロック室といずれかの前記真空処理室との間で、または異なる前記真空処理室の間で、前記被処理体を搬送するために前記真空搬送室内に設けられる第1および第2の真空搬送ロボットと
を有し、
前記第1および第2の真空搬送ロボットが、前記ロードロック室側から見て前記真空搬送室の左側搬送エリアおよび右側搬送エリアでそれぞれ奥行き方向に延びる第1および第2の搬送路上でそれぞれ前記真空搬送室内を移動できるように構成され、
前記第1の真空搬送ロボットは、前記左側搬送エリアに隣接するすべての前記真空処理室に対して、および前記右側搬送エリアに隣接する少なくとも1つの前記真空処理室に対して、および少なくとも1つの前記ロードロック室に対して、前記被処理体の搬入または搬出のためのアクセスが可能であり、
前記第2の真空搬送ロボットは、前記右側搬送エリアに隣接するすべての前記真空処理室に対して、および前記左側搬送エリアに隣接する少なくとも1つの前記真空処理室に対して、および少なくとも1つの前記ロードロック室に対して、前記被処理体の搬入または搬出のためのアクセスが可能であり、
前記第1の真空搬送ロボットは、前記左側搬送エリア内にすべて収まる基本姿勢で前記第1の搬送路上を移動するとともに、アクセス可能ないずれの前記真空処理室に対しても前記左側搬送エリアから前記右側搬送エリアにはみ出して前記被処理体の搬入または搬出を行い、
前記第2の真空搬送ロボットは、前記右側搬送エリア内にすべて収まる基本姿勢で前記第2の搬送路上を移動するとともに、アクセス可能ないずれの前記真空処理室に対しても前記右側搬送エリアから前記左側搬送エリアにはみ出して前記被処理体の搬入または搬出を行い、
前記第1および第2の真空搬送ロボットが、
前記第1および第2の搬送路上でそれぞれ前記真空搬送室内を移動できるように構成された第1および第2の搬送本体と、
前記奥行き方向と交差する水平なオフセット方向で前記左側搬送エリア内に収まる第1の復動位置と前記左側搬送エリアから前記右側搬送エリアにはみ出る第1の往動位置との間で移動できるように前記第1の搬送本体に搭載された第1の搬送基台、および前記オフセット方向で前記右側搬送エリア内に収まる第2の復動位置と前記右側搬送エリアから前記左側搬送エリアにはみ出る第2の往動位置との間で移動できるように前記第2の搬送本体に搭載された第2の搬送基台と、
水平面内で旋回運動できるとともに、水平な方向で直進移動できるように前記第1および第2の搬送基台にそれぞれ搭載され、かつ前記被処理体を支持できるように構成された第1および第2の搬送アームと
をそれぞれ有する、真空処理装置。 - 室内が減圧状態に保たれる真空搬送室と、
前記真空搬送室の周囲に隣接して設けられ、減圧下の室内で被処理体に所定の処理が行われる1つまたは複数の真空処理室と、
前記真空搬送室の周囲に隣接して設けられ、室内が選択的に大気状態または減圧状態に切り換えられ、大気空間と前記真空搬送室との間で転送される被処理体を一時的に留め置く1つまたは複数のロードロック室と、
前記ロードロック室といずれかの前記真空処理室との間で、または異なる前記真空処理室の間で、前記被処理体を搬送するために前記真空搬送室内に設けられる第1および第2の真空搬送ロボットと
を有し、
前記第1および第2の真空搬送ロボットが、前記ロードロック室側から見て前記真空搬送室の左側搬送エリアおよび右側搬送エリアでそれぞれ奥行き方向に延びる第1および第2の搬送路上でそれぞれ前記真空搬送室内を移動できるように構成され、
前記第1の真空搬送ロボットは、前記左側搬送エリアに隣接するすべての前記真空処理室に対して、および前記右側搬送エリアに隣接する少なくとも1つの前記真空処理室に対して、および少なくとも1つの前記ロードロック室に対して、前記被処理体の搬入または搬出のためのアクセスが可能であり、
前記第2の真空搬送ロボットは、前記右側搬送エリアに隣接するすべての前記真空処理室に対して、および前記左側搬送エリアに隣接する少なくとも1つの前記真空処理室に対して、および少なくとも1つの前記ロードロック室に対して、前記被処理体の搬入または搬出のためのアクセスが可能であり、
前記第1の真空搬送ロボットは、前記左側搬送エリア内にすべて収まる基本姿勢で前記第1の搬送路上を移動するとともに、アクセス可能ないずれの前記真空処理室に対しても前記左側搬送エリアから前記右側搬送エリアにはみ出して前記被処理体の搬入または搬出を行い、
前記第2の真空搬送ロボットは、前記右側搬送エリア内にすべて収まる基本姿勢で前記第2の搬送路上を移動するとともに、アクセス可能ないずれの前記真空処理室に対しても前記右側搬送エリアから前記左側搬送エリアにはみ出して前記被処理体の搬入または搬出を行い、
前記第1および第2の真空搬送ロボットが、
前記第1および第2の搬送路上でそれぞれ前記真空搬送室内を移動できるように構成された第1および第2の搬送本体と、
前記奥行き方向と交差する水平なオフセット方向で移動できるように前記第1および第2の搬送本体にそれぞれ搭載された第1および第2の搬送基台と、
前記第1および第2の搬送基台にそれぞれ搭載され、水平面内で旋回運動できる第1および第2の搬送アーム本体と、
前記第1および第2の搬送アーム本体に搭載され、前記第1および第2の搬送アーム本体上で水平方向に直進移動できる第1および第2の搬送アームと、
前記第1および第2の搬送アームに取り付けられ、前記被処理体を支持できるように構成されたエンドエフェクタと
をそれぞれ有し、
前記第1の搬送基台は、前記左側搬送エリア内に収まる第1の復動位置と前記左側搬送エリアから前記右側搬送エリアにはみ出る第1の往動位置との間で移動可能であり、
前記第2の搬送基台は、前記右側搬送エリア内に収まる第2の復動位置と前記右側搬送エリアから前記左側搬送エリアにはみ出る第2の往動位置との間で移動可能である、真空処理装置。 - 前記第1および第2の搬送本体は、前記第1および第2の搬送路上でそれぞれスライド移動する、請求項1または請求項2に記載の真空処理装置。
- 前記第1および第2の搬送本体は、前記第1および第2の搬送路上で互いにすれ違いながら移動できる、請求項1〜3のいずれか一項に記載の真空処理装置。
- 前記第1および第2の搬送基台は、前記オフセット方向でスライド移動可能に前記第1および第2の搬送本体にそれぞれ搭載される、請求項1〜4のいずれか一項に記載の真空処理装置。
- 各々の前記真空処理室の室内を排気するための真空排気装置が当該真空処理室の下に配置されるとともに、前記真空搬送室はいずれの前記真空排気装置よりも高い位置に配置され、少なくとも1つの前記真空排気装置に含まれるAPCバルブが前記真空搬送室の下に突き出ている、請求項1〜5のいずれか一項に記載の真空処理装置。
- 前記第1および第2の真空搬送ロボットに用いられるすべての駆動源が前記真空搬送室の外に設けられる、請求項1〜6のいずれか一項に記載の真空処理装置。
- 室内が減圧状態に保たれる真空搬送室の周囲に、前記真空搬送室に隣接して設けられ、減圧下の室内で被処理体に所定の処理が行われる1つまたは複数の真空処理室と、前記搬送室に隣接して設けられ、室内が選択的に大気状態または減圧状態に切り換えられ、大気空間と前記真空搬送室との間で転送される被処理体を一時的に留め置く1つまたは複数のロードロック室とを配置する真空処理装置において、前記真空搬送室と前記真空処理室または前記ロードロック室との間で前記被処理体の受け渡しを行うために前記真空搬送室内に設けられる真空搬送装置であって、
前記ロードロック室側から見て前記真空搬送室の左側搬送エリアおよび右側搬送エリアでそれぞれ奥行き方向に延びる第1および第2の搬送路上でそれぞれ前記真空搬送室内を移動できるように構成された第1および第2の真空搬送ロボットを備え、
前記第1の真空搬送ロボットは、前記左側搬送エリアに隣接するすべての前記真空処理室に対して、および前記右側搬送エリアに隣接する少なくとも1つの前記真空処理室に対して、および少なくとも1つの前記ロードロック室に対して、前記被処理体の搬入または搬出のためのアクセスが可能であり、
前記第2の真空搬送ロボットは、前記右側搬送エリアに隣接するすべての前記真空処理室に対して、および前記左側搬送エリアに隣接する少なくとも1つの前記真空処理室に対して、および少なくとも1つの前記ロードロック室に対して、前記被処理体の搬入または搬出のためのアクセスが可能であり、
前記第1の真空搬送ロボットは、前記左側搬送エリア内にすべて収まる基本姿勢で前記第1の搬送路上を移動するとともに、アクセス可能ないずれの前記真空処理室に対しても前記左側搬送エリアから前記右側搬送エリアにはみ出して前記被処理体の搬入または搬出を行い、
前記第2の真空搬送ロボットは、前記右側搬送エリア内にすべて収まる基本姿勢で前記第2の搬送路上を移動するとともに、アクセス可能ないずれの前記真空処理室に対しても前記右側搬送エリアから前記左側搬送エリアにはみ出して前記被処理体の搬入または搬出を行い、
前記第1および第2の真空搬送ロボットが、
前記第1および第2の搬送路上でそれぞれ前記真空搬送室内を移動できるように構成された第1および第2の搬送本体と、
前記奥行き方向と交差する水平なオフセット方向で前記左側搬送エリア内に収まる第1の復動位置と前記左側搬送エリアから前記右側搬送エリアにはみ出る第1の往動位置との間で移動できるように前記第1の搬送本体に搭載された第1の搬送基台、および前記オフセット方向で前記右側搬送エリア内に収まる第2の復動位置と前記右側搬送エリアから前記左側搬送エリアにはみ出る第2の往動位置との間で移動できるように前記第2の搬送本体に搭載された第2の搬送基台と、
水平面内で旋回運動できるとともに、水平な方向で直進移動できるように前記第1および第2の搬送基台にそれぞれ搭載され、かつ前記被処理体を支持できるように構成された第1および第2の搬送アームと
をそれぞれ有する、真空搬送装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008321942A JP5139253B2 (ja) | 2008-12-18 | 2008-12-18 | 真空処理装置及び真空搬送装置 |
KR1020107013829A KR101192288B1 (ko) | 2008-12-18 | 2009-12-16 | 진공 처리 장치 및 진공 반송 장치 |
PCT/JP2009/006919 WO2010070896A1 (ja) | 2008-12-18 | 2009-12-16 | 真空処理装置及び真空搬送装置 |
CN2009801498492A CN102246286A (zh) | 2008-12-18 | 2009-12-16 | 真空处理装置、真空运送装置 |
US12/920,145 US8380337B2 (en) | 2008-12-18 | 2009-12-16 | Vacuum processing apparatus and vacuum transfer apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008321942A JP5139253B2 (ja) | 2008-12-18 | 2008-12-18 | 真空処理装置及び真空搬送装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010147207A JP2010147207A (ja) | 2010-07-01 |
JP5139253B2 true JP5139253B2 (ja) | 2013-02-06 |
Family
ID=42268575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008321942A Active JP5139253B2 (ja) | 2008-12-18 | 2008-12-18 | 真空処理装置及び真空搬送装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8380337B2 (ja) |
JP (1) | JP5139253B2 (ja) |
KR (1) | KR101192288B1 (ja) |
CN (1) | CN102246286A (ja) |
WO (1) | WO2010070896A1 (ja) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5168300B2 (ja) * | 2010-02-24 | 2013-03-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
IT1403040B1 (it) * | 2010-12-10 | 2013-09-27 | Steelco Spa | Impianto di lavaggio perfezionato |
WO2012098871A1 (ja) * | 2011-01-20 | 2012-07-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 真空処理装置 |
JP5964548B2 (ja) * | 2011-02-24 | 2016-08-03 | 株式会社ディスコ | ウエーハ加工装置 |
JP5883232B2 (ja) * | 2011-03-26 | 2016-03-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
CN103594403B (zh) * | 2012-08-15 | 2016-06-08 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 片盒传输装置及具有其的半导体设备 |
WO2014037057A1 (en) * | 2012-09-10 | 2014-03-13 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing system and method of processing substrates |
JP2014093489A (ja) * | 2012-11-06 | 2014-05-19 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置 |
TWI624897B (zh) * | 2013-03-15 | 2018-05-21 | 應用材料股份有限公司 | 多位置批次負載鎖定裝置與系統,以及包括該裝置與系統的方法 |
CN103624766A (zh) * | 2013-04-27 | 2014-03-12 | 张家港诺信自动化设备有限公司 | 一种机器视觉并联分拣机器人 |
JP6213079B2 (ja) * | 2013-09-09 | 2017-10-18 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | Efem |
KR101527901B1 (ko) * | 2013-10-10 | 2015-06-10 | 피에스케이 주식회사 | 기판 처리 장치 및 기판 반송 방법 |
JP6246569B2 (ja) * | 2013-11-20 | 2017-12-13 | シロキ工業株式会社 | ワーク搬送装置及びワーク搬送方法 |
TWI641066B (zh) * | 2014-01-21 | 2018-11-11 | 美商應用材料股份有限公司 | 允許低壓汰換工具之薄膜封裝處理系統及製程套組 |
KR102173658B1 (ko) * | 2016-11-30 | 2020-11-03 | 주식회사 원익아이피에스 | 기판처리시스템 |
JP6887332B2 (ja) * | 2017-07-19 | 2021-06-16 | 東京エレクトロン株式会社 | 検査システム |
CN111742400A (zh) * | 2018-02-15 | 2020-10-02 | 朗姆研究公司 | 移动衬底传送室 |
JP7014055B2 (ja) * | 2018-06-15 | 2022-02-01 | 東京エレクトロン株式会社 | 真空処理装置、真空処理システム、及び真空処理方法 |
JP7154986B2 (ja) * | 2018-12-11 | 2022-10-18 | 平田機工株式会社 | 基板搬送装置及び基板搬送システム |
KR102132993B1 (ko) * | 2020-04-27 | 2020-07-10 | (주)볼타오토메이션 | 열과 압력에 의한 챔버의 변형방지장치 |
JP7522579B2 (ja) | 2020-04-30 | 2024-07-25 | ニデックインスツルメンツ株式会社 | 搬送システム |
KR102620088B1 (ko) * | 2023-05-12 | 2024-01-02 | 에이피티씨 주식회사 | 기판 이송 장치 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2644912B2 (ja) * | 1990-08-29 | 1997-08-25 | 株式会社日立製作所 | 真空処理装置及びその運転方法 |
JPH0846013A (ja) | 1994-05-23 | 1996-02-16 | Tokyo Electron Ltd | マルチチャンバ処理システム用搬送装置 |
US5944857A (en) * | 1997-05-08 | 1999-08-31 | Tokyo Electron Limited | Multiple single-wafer loadlock wafer processing apparatus and loading and unloading method therefor |
US6270582B1 (en) * | 1997-12-15 | 2001-08-07 | Applied Materials, Inc | Single wafer load lock chamber for pre-processing and post-processing wafers in a vacuum processing system |
WO2001075965A1 (fr) | 2000-04-05 | 2001-10-11 | Tokyo Electron Limited | Dispositif de traitement |
US6487799B2 (en) * | 2000-05-24 | 2002-12-03 | Darrell Burk | Removable hitch attachment for earth-moving equipment |
US6899507B2 (en) * | 2002-02-08 | 2005-05-31 | Asm Japan K.K. | Semiconductor processing apparatus comprising chamber partitioned into reaction and transfer sections |
KR101120497B1 (ko) * | 2002-11-15 | 2012-02-29 | 외를리콘 솔라 아게, 트뤼프바흐 | 2차원 확장 기판의 진공처리용 장치 및 그기판의 제조방법 |
JP4283559B2 (ja) | 2003-02-24 | 2009-06-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 搬送装置及び真空処理装置並びに常圧搬送装置 |
JP2006073835A (ja) * | 2004-09-02 | 2006-03-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板搬送装置およびそれを用いた基板処理装置 |
JP4353903B2 (ja) | 2005-01-07 | 2009-10-28 | 東京エレクトロン株式会社 | クラスタツールの処理システム |
JP4841183B2 (ja) * | 2005-06-28 | 2011-12-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置,搬送装置,搬送装置の制御方法 |
JP4694436B2 (ja) * | 2006-07-28 | 2011-06-08 | 株式会社ダイヘン | 搬送ロボット |
US8070408B2 (en) * | 2008-08-27 | 2011-12-06 | Applied Materials, Inc. | Load lock chamber for large area substrate processing system |
US8246284B2 (en) * | 2009-03-05 | 2012-08-21 | Applied Materials, Inc. | Stacked load-lock apparatus and method for high throughput solar cell manufacturing |
-
2008
- 2008-12-18 JP JP2008321942A patent/JP5139253B2/ja active Active
-
2009
- 2009-12-16 WO PCT/JP2009/006919 patent/WO2010070896A1/ja active Application Filing
- 2009-12-16 CN CN2009801498492A patent/CN102246286A/zh active Pending
- 2009-12-16 US US12/920,145 patent/US8380337B2/en active Active
- 2009-12-16 KR KR1020107013829A patent/KR101192288B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110238201A1 (en) | 2011-09-29 |
WO2010070896A1 (ja) | 2010-06-24 |
KR20100089107A (ko) | 2010-08-11 |
JP2010147207A (ja) | 2010-07-01 |
US8380337B2 (en) | 2013-02-19 |
CN102246286A (zh) | 2011-11-16 |
KR101192288B1 (ko) | 2012-10-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5139253B2 (ja) | 真空処理装置及び真空搬送装置 | |
KR101887110B1 (ko) | 빠른 교환 로봇을 가진 컴팩트 기판 운송 시스템 | |
TWI614102B (zh) | 基板沉積系統、機械手臂運輸設備及用於電子裝置製造之方法 | |
JP6006643B2 (ja) | 真空処理装置 | |
US8016542B2 (en) | Methods and apparatus for extending the reach of a dual scara robot linkage | |
KR101429827B1 (ko) | 반송 시스템 | |
WO1999018603A1 (en) | Modular substrate processing system | |
CN105529293A (zh) | 用于传送晶片的设备前端模块以及传送晶片的方法 | |
KR102650824B1 (ko) | 워크피스 처리를 위한 시스템 및 방법 | |
TW202129825A (zh) | 多指機器人設備、電子元件製造設備及適於在電子元件製造過程中運輸多個基板的方法 | |
US11358809B1 (en) | Vacuum robot apparatus for variable pitch access | |
WO2013077322A1 (ja) | ワーク搬送システム | |
JP2024120941A (ja) | 基板搬送装置、基板搬送方法、および基板処理システム | |
US11538705B2 (en) | Plasma processing system and operating method of the same | |
JP6296164B2 (ja) | ロボットシステムおよび搬送方法 | |
US20240071802A1 (en) | Operations of robot apparatuses within rectangular mainframes | |
KR102139613B1 (ko) | 기판 반송 장치 및 기판 처리 장치 | |
JP2022523156A (ja) | 2リンクアームを有するリニアロボット | |
TW202405992A (zh) | 具有機器人的淺深度設備前端模組 | |
TW202323171A (zh) | 可與整合裝載閘一起使用的工廠介面機器人 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100528 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120214 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120412 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120807 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121004 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121113 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121115 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5139253 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151122 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |