JP5084366B2 - 撮像装置及び撮像装置の制御方法 - Google Patents
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Description
ステップS117では、ステップS116で読み出したRAM16に一時記憶された欠陥画素のデータに基づいて、画像に対する欠陥画素への補正処理と、ステップS111〜ステップS114にて一時記憶された補正対象の画素への補正処理とを行う(補正手段)。ここで行われる補正は、欠陥画素およびステップS111〜ステップS114にて一時記憶された補正対象の画素のデータに対して、正常の出力データが得られている周辺の画素部を用いて補間処理を行う。
2 メカニカルシャッタ
3 撮像素子
4 CDS回路
5 A/D回路
6 タイミング発生回路
7 駆動回路
8 信号処理回路
9 画像メモリ
10 記録媒体
11 記録回路
12 画像表示装置
13 表示回路
14 システム制御部
15 ROM
16 RAM
Claims (6)
- 複数の画素が2次元配列された撮像素子と、
予め抽出されている欠陥画素の出力を補正する補正手段と、
前記複数の画素の中の前記欠陥画素とは異なる画素について、所定値以上の出力値を発生する画素を注目画素として抽出する抽出手段と、
前記注目画素に対して複数の異なる方向において、受光色に関わらず、前記注目画素と同レベルの出力値を発生する画素が略同一の方向に前記注目画素を含めて連続して存在するか否かを判断する判断手段と、を備え、
前記補正手段は、前記欠陥画素の出力を補正することに加えて、前記判断手段により前記注目画素と同レベルの出力値を発生する画素が前記複数の異なる方向のいずれかにおける略同一の方向に前記注目画素を含めて連続して存在すると判断された場合に、前記注目画素の出力及び前記注目画素と同レベルの出力値を発生する画素の出力を周辺画素の出力を用いて補正することを特徴とする撮像装置。 - 前記判断手段は、予め抽出されている欠陥画素とは異なる画素を判断対象とすることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記補正手段による補正は、特定の撮影モード時に行われることを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置。
- 複数の画素が2次元配列された撮像素子を備える撮像装置の制御方法であって、
予め抽出されている欠陥画素の出力を補正する補正ステップと、
前記複数の画素の中の前記欠陥画素とは異なる画素について、所定値以上の出力値を発生する画素を注目画素として抽出する抽出ステップと、
前記注目画素に対して複数の異なる方向において、受光色に関わらず、前記注目画素と同レベルの出力値を発生する画素が略同一の方向に前記注目画素を含めて連続して存在するか否かを判断する判断ステップと、を備え、
前記補正ステップは、前記欠陥画素の出力を補正することに加えて、前記判断ステップで、前記注目画素と同レベルの出力値を発生する画素が前記複数の異なる方向のいずれかにおける略同一の方向に前記注目画素を含めて連続して存在すると判断された場合に、前記注目画素の出力及び前記注目画素と同レベルの出力値を発生する画素の出力を周辺画素の出力を用いて補正することを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 前記判断ステップでは、予め抽出されている欠陥画素とは異なる画素を判断対象とすることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記補正ステップにおける補正は、特定の撮影モード時に行われることを特徴とする請求項4または5に記載の撮像装置の制御方法。
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