JP2002125154A - 電子カメラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 出荷時に予め記憶された画素欠陥に加えてよ
り適切な時期に新たな画素欠陥を点検して、これらの画
素欠陥を補正する。 【解決手段】 操作者により時計の時刻設定がなされた
とき、シャッターを閉じた状態で（Ｓ１００）撮影する
（Ｓ１０２）。そして、撮影された画像信号を画素毎に
読み込んで（Ｓ１０４）、この画像が黒であるか否かを
判定する（Ｓ１０６）。黒でないと判定された画素が予
め記憶された画素欠陥でないときは、新規の画素欠陥と
して記憶する（Ｓ１１２）。これにより、空路により北
極圏や南極圏を通過した場合など、画素欠陥の発生確率
が高い時期に新たな画素欠陥を点検することができ、こ
の点検結果に基づいて画素欠陥を補正することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電子カメラに関
し、詳しくは、予め記憶された撮像素子の画素欠陥を補
正する電子カメラに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の電子カメラとしては、カ
メラ内のＲＯＭに予め記憶された撮像素子の画素欠陥を
補正するものが提案されている。このカメラでは、出荷
前に測定装置により撮像素子の画素欠陥を点検して、発
見された画素欠陥の位置をカメラ内のＲＯＭに記憶させ
ておき、撮像素子による撮像信号を読み出すときにその
画素欠陥を有する位置の信号を置き換えることにより、
欠陥画素が撮像画像に与える影響を少なくして画質が劣
化するのを防止している。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、こうし
た電子カメラでは、カメラ内のＲＯＭに記憶されていな
い新たな画素欠陥を補正することができない。例えば、
北極圏や南極圏を空路でカメラを搬送した場合に宇宙線
により画素欠陥が発生する場合があることが知られてい
るが、これにより新たに画素欠陥が生じたときには、そ
の欠陥部分の補正ができず、正しい画像が得られなくな
ってしまう。

【０００４】本発明の電子カメラは、新たに生じた撮像
素子の画素欠陥を点検してこれを補正することを目的の
一つとする。また、本発明の電子カメラは、所望の時期
に新たに生じた撮像素子の画素欠陥を点検してこれを補
正することを目的の一つとする。更に、本発明の電子カ
メラは、ユーザの意思によらずにより適切な時期に新た
に生じた撮像素子の画素欠陥を点検してこれを補正する
ことを目的の一つとする。

【０００５】

【課題を解決するための手段およびその作用・効果】本
発明の電子カメラは、上述の目的の少なくとも一部を達
成するために以下の手段を採った。

【０００６】本発明の電子カメラは、予め記憶された撮
像素子の画素欠陥を補正する電子カメラであって、所定
の操作により前記撮像素子の新たな画素欠陥を検出する
画素欠陥検出手段と、該検出された新たな画素欠陥を補
正する画素欠陥補正手段とを備えることを要旨とする。

【０００７】この本発明の電子カメラでは、予め記憶さ
れた撮像素子の画素欠陥の補正に加えて新たに生じた撮
像素子の画素欠陥を検出して補正するから、撮像素子に
新たに画素欠陥が生じた場合でも、より良好な撮像画像
を得ることができる。

【０００８】こうした本発明の電子カメラにおいて、前
記所定の操作は、前記画素欠陥検出手段による検出を指
示する操作であるものとすることもできる。こうすれ
ば、所望の時期に撮像素子の画素欠陥を点検することが
でき、発見された画素欠陥を補正することができる。

【０００９】また、本発明の電子カメラにおいて、現在
時刻を設定可能な時刻設定手段を備え、前記所定の操作
は、前記時刻設定手段により現在時刻を設定する操作で
あるものとすることもできる。こうすれば、ユーザの意
思によらず空路により北極圏や南極圏を通過したときな
ど画素欠陥の発生確率の高い時期に撮像素子の画素欠陥
を点検でき、発見された画素欠陥を補正することができ
る。

【００１０】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を実施
例を用いて説明する。図１は、本発明の一実施例である
電子カメラ２０の構成の概略を示す構成図である。実施
例の電子カメラ２０は、図示するように被写体を捉える
レンズ２２と、被写体からの反射光（露光）の量を調整
するシャッター２４と、被写体からの反射光を電気信号
に変換する撮像素子２６（例えば、ＣＣＤやＭＯＳな
ど）と、変換された電気信号を増幅する増幅回路２８
と、増幅された信号をＲＧＢの各要素に分離する色分離
回路３０と、分離された信号をデジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器３２と、変換されたデジタル信号を画像信
号として記憶する記憶媒体３４と、現在時刻を計時する
時計４４と、時計４４に電力を供給する電力供給源とし
ての時計用電池４６と、時計４４の時刻の設定を操作す
る時刻設定ボタン５０と、撮影された画像や時計４４に
よる現在時刻などを表示するモニタ４２と、撮像素子２
６の画素欠陥の点検を指示する欠陥点検ボタン５２と、
出荷時に予め点検された画素欠陥を記憶すると共に新た
に点検された画素欠陥を記憶する書き換え可能な不揮発
性メモリ４０（例えば、フラッシュメモリなど）と、装
置全体をコントロールする制御装置６０とを備える。

【００１１】制御装置６０は、ＣＰＵ６２を中心とした
マイクロプロセッサとして構成されており、処理プログ
ラムが記憶されたＲＯＭ６４と、データを一時的に記憶
するＲＡＭ６６と、入出力ポート（図示せず）とを備え
る。この制御装置６０には、時計４４からの計時信号や
時刻設定ボタン５０からの時刻設定信号、欠陥点検ボタ
ン５２からの点検指令信号、不揮発性メモリ４０からの
欠陥画素信号、記憶媒体３４からの画像信号などが入力
ポートを介して入力されており、制御装置６０からは、
シャッター２４を開閉するシャッター駆動回路３６への
シャッター駆動信号や撮像素子２６に所定の電圧パルス
を供給して駆動する撮像素子駆動回路３８への撮像素子
駆動信号、記憶媒体３４への映像信号、不揮発性メモリ
４０への欠陥画素信号、時計４４への時刻設定信号、モ
ニタ４２への出力信号などが出力ポートを介して出力さ
れている。

【００１２】こうして構成された本発明の動作、特に撮
像素子２６の画素欠陥を点検する動作について説明す
る。図２の制御装置６０のＣＰＵ６２により実行される
画素欠陥点検処理ルーチンの一例を示すフローチャート
である。このルーチンは、電子カメラ２０の操作者が、
時刻設定ボタン５０により時計４４の時刻設定をした
り、欠陥点検ボタン５２により画素欠陥の点検を指示す
ることにより時刻設定信号や点検指令信号が入力された
ときに実行される。ここで、時刻設定ボタン５０により
時計４４の時刻設定をしたときに画素欠陥点検処理ルー
チンを実行するのは、撮像素子２６の画素欠陥が北極圏
や南極圏における宇宙線の影響により発生する場合があ
り、北極圏や南極圏を通過するような空路により移動し
たときには、通常、操作者が現地の時刻に時計４４の時
刻合わせを行なうことに基づくものである。

【００１３】画素欠陥点検処理ルーチンが実行される
と、制御装置６０のＣＰＵ６２は、まず、シャッター２
４を閉じると共に(ステップＳ１００）撮像素子２６を
駆動して撮影を行なう(ステップＳ１０２）。そして、
この撮影により記憶媒体３４に記憶された画像信号につ
いて各画素毎に読み込んで(ステップＳ１０４）、この
画像信号の信号値が黒を表す信号値であるかを判定する
処理を行なう(ステップＳ１０６）。この判定では、シ
ャッター２４を閉じたまま撮影を行なうと、撮像素子２
６の画素が正常であれば、全ての画素の画像信号値が黒
を表す信号値となるが、暗電流などが影響すると、黒を
表す信号値以外の信号値を示すため、その画素について
は欠陥があるとして判断する。判定の結果、黒でないと
判断されたときは、予め点検された画素欠陥の読み込み
を行なって(ステップＳ１０８）、黒でないと判断され
た画素が予め点検された欠陥画素でない新規の欠陥画素
であるか否かを判定する(ステップＳ１１０）。新規の
欠陥画素であると判定されると、その欠陥画素を新たに
生じた画素欠陥として不揮発性メモリ４０の所定の領域
に記憶して(ステップＳ１１２）本ルーチンを終了す
る。これにより、撮像時に新たに生じた画素欠陥および
予め設定された画素欠陥をその欠陥の位置に隣接する画
素の画像信号値に置き換える処理を行なうことで画素欠
陥が補正される。一方、すべての画素が黒を表す信号値
であると判定されたり、黒を表す信号値であると判断さ
れた画素がすべて予め設定された欠陥画素であると判定
されたときは、撮像素子２６の画素に新たな画素欠陥が
ないと判断し、何もせずに本ルーチンを終了する。

【００１４】以上説明した実施例の電子カメラ２０によ
れば、出荷時に予め記憶された画素欠陥に加えて新たに
画素欠陥を点検してこれらを補正するから、出荷後に新
たに画素欠陥が生じた場合でも良好な撮像画像を得るこ
とができる。しかも、新たな画素欠陥の点検は、時計４
４の時刻設定がなされたときに行なうから、操作者の意
思によらず北極圏や南極圏などを通過したときのように
画素欠陥の発生確率が高い時期に画素欠陥を点検を行な
い、画素欠陥の補正をすることができる。また、操作者
による欠陥点検ボタン５２の操作によっても画素欠陥の
点検を行なうから、所望の時期に画素欠陥の点検を行な
い、画素欠陥の補正をすることができる。

【００１５】実施例の電子カメラ２０では、画素欠陥の
点検を、時計４４の時刻設定および欠陥点検ボタン５２
の操作により行なうものとしたが、いずれかが操作され
たときに画素欠陥の点検を行なうものとしてもよい。こ
のとき、時計４４の時刻設定が行われたときのみ画素欠
陥の点検を行なう場合は、欠陥点検ボタン５２は不要で
ある。

【００１６】また、実施例の電子カメラ２０では、時計
４４の時刻設定および欠陥点検ボタン５２の操作により
画素欠陥の点検を行なうものとしたが、所定のタイミン
グ、即ち、電子カメラ２０の動作用の電池や時計用電池
４６の交換のタイミングで画素欠陥の点検を行なうもの
としてもよい。例えば、時計用電池４６の残容量を検出
し、この残容量が時計４４が正確に動作するのに必要な
所定量以下となったときに画素欠陥を点検するものとし
てもよい。

【００１７】以上、本発明の実施の形態について実施例
を用いて説明したが、本発明のこうした実施例に何ら限
定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲
内において、種々なる形態で実施し得ることは勿論であ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施例である電子カメラ２０の構
成の概略を示す構成図である。

【図２】 実施例の電子カメラ２０の制御装置６０によ
り実行される画素欠陥点検処理ルーチンの一例を示すフ
ローチャートである。

【符号の説明】

２０ 電子カメラ、２２ レンズ、２４ シャッター、
２６ 撮像素子、２８増幅回路、３０ 色分離回路、３
２ Ａ／Ｄ変換器、３４ 記憶媒体、３６シャッター駆
動回路、３８ 撮像素子駆動回路、４０ 不揮発性メモ
リ、４２モニタ、４４ 時計、４６ 時計用電池、５０
時刻設定ボタン、５２ 欠陥点検ボタン、６０ 制御
装置、６２ ＣＰＵ、６４ ＲＯＭ、６４ ＲＡＭ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H054 AA01 4M118 AA07 AB01 BA10 BA14 BA30 FA06 5C022 AA00 AB31 AC32 AC42 AC52 AC54 AC69 5C024 CX23 GY01 GY31 HX17 HX23 HX46 HX55 HX57 HX60

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 予め記憶された撮像素子の画素欠陥を補
   正する電子カメラであって、 所定の操作により前記撮像素子の新たな画素欠陥を検出
   する画素欠陥検出手段と、 該検出された新たな画素欠陥を補正する画素欠陥補正手
   段とを備える電子カメラ。
2. 【請求項２】 前記所定の操作は、前記画素欠陥検出手
   段による検出を指示する操作である請求項１記載の電子
   カメラ。
3. 【請求項３】 請求項１記載の電子カメラであって、 現在時刻を設定可能な時刻設定手段を備え、 前記所定の操作は、前記時刻設定手段により現在時刻を
   設定する操作である電子カメラ。