JP5034285B2 - 多層配線基板及び特性インピーダンスの測定方法 - Google Patents
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Description
前記テストクーポンが、相互に平行に延びる複数の直線部と該複数の直線部を相互につなぐ折り返し部とから構成され、前記折り返し部は複数の折れ曲がり部から構成され、該折れ曲がり部の曲がり角度が45°以下である、ことを特徴とする。
Z0=50×電圧/(1−電圧) (1)
で表される。この(1)式に基づいて、パターン配線部の反射時間領域の電圧値から、各パターン配線部51のインピーダンスが算出できる。
11:パターン配線部(テストクーポン)
12:直線部
13:折り返し部
14:測定用パッド(テストクーポン用)
15:スルーホール
16:測定用パッド(グランド用)
17:開放端
18:スルーホール
20:コーナー部
21:折れ曲がり部
22:斜辺
Claims (5)
- 複数の信号配線層及び少なくとも1層のグランド層を有する多層配線基板において、
各信号配線層に形成したインピーダンス測定用のテストクーポンと、
前記各信号配線層のテストクーポンを直列に接続するスルーホールと、
前記直列に接続されたテストクーポンの一端に接続された測定用パッド、及び、前記グランド層に接続された測定用パッドとを備え、
前記テストクーポンは、相互に平行に延びる複数の直線部と該複数の直線部を相互につなぐ折り返し部とから構成され、
前記折り返し部は、複数の折れ曲がり部から構成され、該折れ曲がり部の曲がり角度が45°以下である、
ことを特徴とする多層配線基板。 - 前記各信号配線層に形成したテストクーポンを、多層配線基板の積層方向に実質的に重なり合うように配置した、
ことを特徴とする請求項1に記載の多層配線基板。 - 信号配線層にテストクーポンを形成した多層配線基板において、
前記テストクーポンが、相互に平行に延びる複数の直線部と該複数の直線部を相互につなぐ折り返し部とから構成され、
前記折り返し部は複数の折れ曲がり部から構成され、該折れ曲がり部の曲がり角度が45°以下である、
ことを特徴とする多層配線基板。 - 複数の信号配線層及び少なくとも1層のグランド層を有する多層配線基板の前記信号配線層の特性インピーダンスを測定する方法において、
各信号配線層に相互に平行に延びる複数の直線部と該複数の直線部を相互につなぐ折り返し部とから構成され、前記折り返し部を、複数の折れ曲がり部から構成し、各折れ曲がり部の曲がり角度を45°以下としたインピーダンス測定用のテストクーポンを形成し、
前記各信号配線層のテストクーポンを直列に接続し、該直列に接続されたテストクーポンの一端に接続された測定用パッドと、前記グランド層に接続された測定用パッドとの間にステップパルスを印加し、
前記直列に接続された各テストクーポンからの反射波の電圧を測定する、
ことを特徴とする特性インピーダンスの測定方法。 - 前記各信号配線層に形成したテストクーポンを、多層配線基板の積層方向に実質的に重なり合うように配置する、
ことを特徴とする請求項4に記載の特性インピーダンスの測定方法。
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