JPS6184094A - 多層プリント配線板の検査用パタ−ン - Google Patents

多層プリント配線板の検査用パタ−ン

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Publication number
JPS6184094A
JPS6184094A JP20583684A JP20583684A JPS6184094A JP S6184094 A JPS6184094 A JP S6184094A JP 20583684 A JP20583684 A JP 20583684A JP 20583684 A JP20583684 A JP 20583684A JP S6184094 A JPS6184094 A JP S6184094A
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JP
Japan
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layer
multilayer printed
printed wiring
pattern
wiring board
Prior art date
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Pending
Application number
JP20583684A
Other languages
English (en)
Inventor
大前 憲一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS6184094A publication Critical patent/JPS6184094A/ja
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は′電子部品を実装し、部品相互およびプリント
配線板相互の電気的接続を行なうための配線を持ち、か
つ少なくとも2層以上の導体層より?I’ff成され、
特に俣査用配に、メパターンの電気的特性検査を容易に
した多層プリント配線板に関するものである。
〔従来の技術〕
一般に、多層プリント配線板において、その用途として
、高速IC,LSIおよびそれらのチップを搭載したプ
リント配線板相互の配線接続等に多く用いられる。従っ
て、各導体層のうち信号層の配線パターンを、その電気
的特性とくに特性インピーダンスの要求値に近く設定し
、かつそのバラツキを小さくしなければならない。
〔解決すべき問題点〕
従来は製造された多層プリント配線板の特性を検査する
には破壊によシ導体厚、層間厚、パターン幅を調べなけ
ればならなかった。また製品自体を破壊するわけにはい
かないため、製造された多層プリント配線板の周辺の不
要fZ f5分を用いてこの検査を行なうが、この部分
で測定した値と製品内部の値が多少異なるため、この関
係もつかんでおかなければ正確な検査結果がわからない
という問題点があった。
また、製品の信号層の特性インピーダンスの測定は、十
分な長さをもった配線パターンをさがし、これを測定す
れば特性インピーダンスを求めることができるが、この
方法でも十分な長さをもったパターンをさがしだすには
時間がかかるし、一般に配線は2層にわたって引かれる
ため層ごとのインピーダンスを求めることは非常に雅か
しいという問題点があった。
〔問題点の解決手段〕
本発明は、上記問題点を解決したものであう、少なくと
も2層以上の導体層から<r=成される多層プリント配
線板において、前記多層プリント配線板内の前記導体層
のうち各信号層に、一定長さ以上でかつその長さの90
チ以上が同一層内に配線され、しかもその一端が表面層
へ貫通する接続スルーホールへ接続される検査用配線パ
ターンが設定されていることを特徴とするものである。
〔実施例〕
次に、その実施例を、第1図〜第4図と共に説明する。
第1図及び第2図は夫々本発明に係る多層プリント配線
板の一実施例の縦断図、及び第1図中1−■線に沿う横
断図である。
図中、多層プリント配線基板1は、第1図から明らかな
如く、6層の配線層9〜14を有する。
このうち、信号層は第1層9と第6層14、第3層11
と第4層■2が夫々ペアとなっており、それぞれY方向
配線パターン層、X方向配線パターン層に分けて配線さ
れている。ここでは第1層9と第4層[2はX方向配線
パターン層、第3層11と第6層[4はY方向配線パタ
ーン層となっている。尚第2層はGND層、第5層は電
源層である。
まず第3層11に検査用パターンを設定する場合、第2
図の如く基板端に検を用スルーホール2を設定し、これ
に第37脅11の検量用配線パターン4を接続する。配
線パターン4は長いほど測定しやすく、30crn以上
が妥当と思われる。基板の大きさなどの都合で配線パタ
ーン4を迂回させなければならない場合等、配線が例え
ば第3層、第4層間の接続Via6を通して他の層を走
ることも考えられるが、これも全配線長の10チ程度な
らば問題ないと考えられる。一方スルーホール2の近傍
には第3層11に最も近い第2層to(GNDJE3)
に接続された接続スルーホール7を置く。
ここでスルーホール2とスルーホール7に第3図に示す
同軸ケーブル16を接続し、TDR(TIME DOM
AIN REFLECTOMETER) 15で入射波
に対する反射波の割合を測定してやれば特性インピーダ
ンスを求めることができる。
実際の測定方法は第3図に示す通!り T D R15
に50Ωの同軸ケーブルを接続し同軸芯線17をスルー
ホール2に接続し、かつ同軸G N D 18をスルー
ホール7に接続する。ここでパターンの特性インピーダ
ンスをZoとすると、 ■ 入射波電圧Vに対する反射波電圧VRの比を求めると特
性インピーダンスZoを求めることができる。
このようにして他の各信号層(第1層9、第4層12、
第6層14)に同様な配線を走らせ、かつその一端を基
板端に設けたスルーホールに接続しておくことによって
この基板端のスルーホールの部分の測定により各信号層
の特性インビ−ターンスを求めることができる。尚第2
図中、第41612の検査用スルーホール3、及び第4
層に最も近い第5層(電極層)に接続された接続スルー
ホール8を示す。
また、同一層内でも測定用パターンの走らせる場所を変
えたものを数本用意することによって、例えば基板中央
、基板端等場所による特性インピーダンスの差を測定す
ることができる。
〔発朋の効果〕
以上説明した如く、本発明は、多層プリント配線基板の
各信号層に特性インピーダンス測定用の一定長以上の配
線パターンを設定するようにしτいるため、各信号層の
特性インピーダンスが闇単に測定でさるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は夫々本発明に係る多層プリント配線
板の一実施例の縦i;、7i図、及び第I図中II −
n線に沿う横断図、第3図は上記配線板の配線パターン
のインピーダンスを測定する測定器具を示す図、第4図
はそのインピーダンス特性を示す図である。 ■・・・多層プリント配線基板 2・・・検査用スルーホール(第3層用)3・−・検査
用スルーホール(第4層用)4・・・検査用パターン(
第3 M )5・・・検を用パターンC第4M) 6・・・第3層・第4層間接続Via 7・・・第2層接!スルーホール 8・・・第5層接!スルーホール 9・・・第1層(信号層) 10・・・第2層(GND
層)11・・・第3層(信号層)12・−・第4層(信
号層)[3・・・第5層(電源層)[4・・・第6/V
(信号層)15−TDR(TIME DOMAIN R
EFIECTOMETER)16・・・同軸ケーブル 
 17・・・同軸芯線18−・・同軸GND     
19・−・入射波電圧20・・・反射波電圧

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 少なくとも2層以上の導体層から構成される多層プリン
    ト配線板において、前記多層プリント配線板内の前記導
    体層のうち各信号層に、一定長さ以上でかつその長さの
    90%以上が同一層内に配線され、しかもその一端が表
    面層へ貫通する接続スルーホールへ接続される検査用配
    線パターンが設定されていることを特徴とする多層プリ
    ント配線板。
JP20583684A 1984-10-01 1984-10-01 多層プリント配線板の検査用パタ−ン Pending JPS6184094A (ja)

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Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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