JPH07270478A - プリント配線板のクロスト−ク検査方法 - Google Patents

プリント配線板のクロスト−ク検査方法

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JPH07270478A
JPH07270478A JP6087391A JP8739194A JPH07270478A JP H07270478 A JPH07270478 A JP H07270478A JP 6087391 A JP6087391 A JP 6087391A JP 8739194 A JP8739194 A JP 8739194A JP H07270478 A JPH07270478 A JP H07270478A
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JP
Japan
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crosstalk
capacitance
measured
printed wiring
wiring board
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Pending
Application number
JP6087391A
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English (en)
Inventor
Mitsuru Motogami
満 本上
Yasuhito Owaki
泰人 大脇
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Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
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Publication date
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】プリント配線板のクロスト−クを、反射の問題
を排除し、かつ容易に検査できる方法を提供する。 【構成】プリント配線板の配線間のクロスト−クを検査
する方法において、そのプリント配線板のモデルについ
てパルスを用い配線間のクロスト−クを測定すると共に
その配線間の静電容量を測定してクロスト−クと静電容
量との関係を予め求めておき、被検査プリント配線板の
配線間の静電容量を測定し、この静電容量と上記の関係
とから被検査プリント配線板のクロスト−クを評価す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はプリント配線板のクロス
ト−クを検査する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】周知の通り、近接配置の導体間において
は、一方の導体に流れる信号をソ−スとして他方の導体
に静電的結合または電磁的結合によりノイズが誘導され
る現象、すなわち、クロスト−クの発生が避けられな
い。
【0003】而して、近来、電子機器の高速化・高周波
化・デジタル化・小型化に伴い、プリント配線板の配線
間のクロスト−クが原因で電子機器が誤動作するといっ
た問題が生じるに至り、プリント配線板の検査項目とし
てクロスト−クが重視されている。
【0004】従来、プリント配線板の配線導体間のクロ
スト−クを検査するには、上記電子機器の使用周波数が
数10MHzから数GHzクラスであることから、パルス
・ジェネレ−タにより立上り時間が数10psecの超
高速立上りのパルス信号をプロ−ブを介して一方の導体
に入力し、他方の導体に誘導されるノイズを他のプロ−
ブを介して広帯域オシロスコ−プで測定している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のクロスト−クの
測定において、パルス・ジェネレ−タと一方の導体一端
との接続点、オシロスコ−プと他方の導体の一端との接
続点、各導体の遠端等に特性インピ−ダンスの不整合が
あると、パルス信号、誘導ノイズがこれらのインピ−ダ
ンス不整合点で反射し、更に、これらのインピ−ダンス
不整合点の間で反射を繰り返して多重反射し、満足な精
度での測定は困難であり、検査の信頼性を保証し難い。
【0006】かかる不具合は、図1に示すように(図1
において、11は誘導側導体を、12は被誘導側導体
を、4はパルス・ジェネレ−タを、5は広帯域オシロス
コ−プをそれぞれ示している)、各導体11,12の両
端に整合インピ−ダンスR0を接続してインピ−ダンス
整合をとれば、解消できるが、この場合は、整合用イン
ピ−ダンスの取付け、取外しに時間がかかり作業性の低
下が余儀なくされ、また整合用インピ−ダンスの取付
け、取外し時に製品を傷付ける畏れもある。
【0007】本発明の目的は、プリント配線板のクロス
ト−クを、反射の問題を排除し、かつ容易に検査できる
方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に係るプリント配
線板のクロスト−ク検査方法は、プリント配線板の配線
間のクロスト−クを検査する方法において、そのプリン
ト配線板のモデルについてパルスを用い配線間のクロス
ト−クを測定すると共にその配線間の静電容量を測定し
てクロスト−クと静電容量との関係を予め求めておき、
被検査プリント配線板の配線間の静電容量を測定し、こ
の静電容量と上記の関係とから被検査プリント配線板の
クロスト−クを評価することを特徴とする構成である。
【0009】以下、図面を参照しつつ本発明の構成を説
明する。本発明によりプリント配線板のクロスト−クを
検査するには、予め、そのプリント配線板と同一仕様の
プリント配線板モデルについての配線間クロスト−クと
配線間静電容量との関係を求めておく。
【0010】そこで、検査対象であるプリント配線板と
同一仕様の測定用プリント配線板を多数箇製作し、各測
定用プリント配線板について、図1に示すように、各配
線導体11,12の両端に特性インピ−ダンス整合用の
抵抗R0を接続し、誘導側導体11にパルス・ジェネレ
−タ4によりパルスを入力し、被誘導側導体12に誘導
された出力を広帯域オシロスコ−プ5で測定し、出力/
入力の比からクロスト−ク係数を求め、更に、インピ−
ダンス整合用抵抗R0を取外し、配線導体11,12間
の静電容量をインピ−ダンスアナライザやLCRメ−タ
等で測定し、図2に示すように、クロスト−ク係数と静
電容量との関係を図表化しておく。
【0011】上記において、モデルには、所定の仕様で
製造される製品からランダムに抜き取ったものを使用す
ることもできる。上記モデルには、図3に示すように、
インピ−ダンス整合用抵抗を接続するための電極a,
a’を設けておき、この電極と導体端との間にインピ−
ダンス整合用抵抗をはんだ付けすることもできる。図3
において、13は地導体を示している。
【0012】上記において、パルス・ジェネレ−タの出
力端と誘導側導体との入力端(図3の場合は、電極a)
との接続並びに被誘導側導体の出力端と広帯域オシロス
コ−プとの接続には、通常、コンタクトプロ−ブが使用
される。
【0013】上記において、測定パルスには、電子機器
の使用周波数が数10MHzから数GHzクラスであるの
で、立上り時間が数10psecの超高速立上りパルス
が用いられ、静電容量の測定には、数10KHz〜数1
0MHzの正弦波が用いられる。
【0014】本発明により、所定仕様のプリント配線板
のクロスト−クを検査するには、製造ラインの検査工程
に送られてくる製品の配線間静電容量を上記と同様に、
インピ−ダンスアナライザやLCRメ−タを用い、数1
0KHz〜数10MHzの正弦波で測定する。例えば、
図4に示すように、インピ−ダンスアナライザ2の測定
端子21をコンタクトプロ−ブ31,32を介してプリ
ント配線板の配線導体11,12に接続し、同インピ−
ダンスアナライザ2のガ−ド端子21’をコンタクトプ
ロ−ブ33を介してプリント配線板の地導体13に接続
し、インピ−ダンスアナライザ2により配線導体11,
12間の静電容量を測定することができる。そして、こ
の測定値から、上記により予め求めておいたクロスト−
ク係数−静電容量の関係より、クロスト−ク係数を求
め、これより、被検査プリント配線板のクロスト−クの
合否を判定する。
【0015】上記において、検査工程に搬入されてくる
製品の配線導体とインピ−ダンスアナライザとを電気的
に接続するための位置決め、静電容量の測定、この測定
値から上記関係図表によりクロスト−ク係数を求める操
作、このクロスト−ク係数が許容範囲内にあるか否かの
判断をコンピュ−タ制御により行い、検査を自動化する
ことも可能である。
【0016】
【作用】配線導体間のクロスト−クの大きさは、伝送中
の信号の静電的結合や電磁的結合により生じ、配線導体
間の距離並びに配線導体と地導体間との距離の函数であ
る。一方、配線導体間の静電容量は、上記伝送信号の周
波数よりも低周波の正弦波で測定したものであっても、
配線導体間の距離並びに配線導体と地導体間との距離の
函数であることには変わりない。従って、上記クロスト
−ク係数と静電容量との間には、一定の函数関係があ
る。
【0017】而るに、本発明においては、被検査プリン
ト配線板のモデルを用いて、クロスト−ク係数と静電容
量との関係を予め求めておき、製品の検査においては、
静電容量を測定し、その測定静電容量値より前記関係か
らクロスト−ク係数を把握しており、インピ−ダンス整
合用抵抗の着脱の手間をかけることなく、反射を排除し
て充分な精度でクロスト−クを検査できる。このことは
次ぎの実施例からも確認できる。
【0018】
【実施例】検査対象としたプリント配線板の仕様は、厚
み:1.6mm、比誘電率:5.0、導体巾:0.94
mm、導体長さ:200mmの並行パタ−ンである。こ
の仕様によりプリント配線板を、常法により銅箔積層板
のフオトエッチングにより200箇製作し、この内の1
00箇に付き、前記インピ−ダンス整合を行い、一方の
配線導体にパルス・ジェネレ−タにより立上り時間20
psec、電圧振幅200mVのパルスを入力し、他方
の配線導体に誘導された出力をデジタルオシロスコ−プ
で測定し、クロスト−ク係数を求め、更に、配線導体間
の静電容量をインピ−ダンスアナライザを用い、測定周
波数1MHzで測定して、図2に示す、クロスト−ク係
数−静電容量の図表を作成した。
【0019】次いで、残り100個のプリント配線板に
つき、配線導体間の静電容量を上記と同様、インピ−ダ
ンスアナライザを用い、測定周波数1MHzで測定し、
この測定値から前記のクロスト−ク係数−静電容量図表
によりクロスト−ク係数を求めた。更に、この残り10
0個のプリント配線板につき、上記と同様にして実際に
クロスト−ク係数を測定し、クロスト−ク係数−静電容
量図表により求めたクロスト−ク係数の精度をチエック
したところ、誤差は±5%以内であり、充分に高精度で
あった。
【0020】
【発明の効果】本発明に係るプリント配線板のクロスト
−ク検査方法によれば、プリント配線板にインピ−ダン
ス整合用抵抗を接続することなく、静電容量の測定値か
ら充分に高精度でクロスト−ク係数を把握でき、良好な
作業性で、かつ製品を傷付けたりすることなく、容易に
クロスト−クを検査できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明において、クロスト−クを測定する際の
インピ−ダンス整合を示す説明図である。
【図2】本発明において、予め求めておく静電容量−ク
ロスト−ク係数の関係を示す図表である。
【図3】本発明において使用する、プリント配線板の導
体端部を示す説明図である。
【図4】本発明における、静電容量の測定状態の一例を
示す説明図である。
【符号の説明】
11 プリント配線板の配線導体 12 プリント配線板の配線導体 13 プリント配線板の地導体 2 インピ−ダンスアナライザ 31 コンタクトプロ−ブ 32 コンタクトプロ−ブ 33 コンタクトプロ−ブ 4 パルス・ジェネレ−タ 5 オシロスコ−プ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プリント配線板の配線間のクロスト−クを
    検査する方法において、そのプリント配線板のモデルに
    ついてパルスを用い配線間のクロスト−クを測定すると
    共にその配線間の静電容量を測定してクロスト−クと静
    電容量との関係を予め求めておき、被検査プリント配線
    板の配線間の静電容量を測定し、この静電容量と上記の
    関係とから被検査プリント配線板のクロスト−クを評価
    することを特徴とするプリント配線板のクロスト−ク検
    査方法。
JP6087391A 1994-03-31 1994-03-31 プリント配線板のクロスト−ク検査方法 Pending JPH07270478A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003066076A (ja) * 2001-08-28 2003-03-05 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の電気特性測定方法および電気特性測定装置
WO2003065580A1 (en) * 2002-02-01 2003-08-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. Television tuner and printed circuit board used therein

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003066076A (ja) * 2001-08-28 2003-03-05 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の電気特性測定方法および電気特性測定装置
JP4539000B2 (ja) * 2001-08-28 2010-09-08 株式会社村田製作所 電子部品の電気特性測定方法および電気特性測定装置
WO2003065580A1 (en) * 2002-02-01 2003-08-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. Television tuner and printed circuit board used therein
CN1320750C (zh) * 2002-02-01 2007-06-06 皇家飞利浦电子股份有限公司 电视调谐器及其中所用的印制电路板

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