JPH04269675A - 伝送線路長の測定方法 - Google Patents
伝送線路長の測定方法Info
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Abstract
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Description
パルスを送出して得られる反射波形から伝送線路長を測
定する伝送線路長測定方法に関し、特に複数の試験ピン
を有する集積回路試験装置等において、これら試験ピン
に対応して設置された試験パタン出力/試験結果判定回
路から被試験回路の入出力ピンに至るまでの伝送線路長
の高精度測定等に適した伝送線路長の測定方法に関する
。
設置された試験パタン出力/試験結果判定回路から被試
験回路の入出力ピンに至るまでの伝送線路長は、試験ピ
ン間で変動する。
維持するために必要なタイミングを補正するにあたって
は、これら試験ピン間バラツキによって生じるタイミン
グ誤差を補正することが主要な処理項目の一つとなって
いる。
、たとえば、特開昭58−176560号に記載されて
いる。この従来方法では、図3に示すように、伝送線路
の遠端を開放したときに進行波に反射波が重畳されて得
られる階段波の、進行波による立上りエッジから反射波
による立上りエッジまでの時間差を求める。この時間差
は伝送線路を往復したときの伝搬遅延時間であるから、
この時間差を二分して伝送線路長とみなしていた。
間を決定する主たる要因は、線路を構成する分布容量と
分布インダクタンスによる伝搬速度成分である。入力さ
れる信号の周波数帯域内において、線路が無損失でかつ
無歪であれば入力信号は波形に歪を生じることなく伝送
線路を通過できる。この場合には、真の伝搬遅延時間は
、伝送線路の遠端を開放したときに進行波に反射波が重
畳されて得られる階段波の、進行波によるエッジから反
射波によるエッジまでの時間差の2分の1に一致する。
、たとえば同軸ケーブルや、マイクロストリップライン
は、それらを構成する素材や構造によって、本質的に、
損失成分や有限の周波数帯域を有し、かつ群遅延歪が存
在する。さらには、集積回路試験装置と被試験素子との
接続状態を想定すると、被試験素子の入力端子やパッケ
ージの有する容量成分によって、その容量値と線路の特
性インピーダンスできまる時定数成分によっても高周波
成分が減衰せしめられる。これらの効果によって、伝送
線路の出力端から得られる信号波形は入力信号に対して
、歪んだものとなる。
高周波成分の減衰が支配的であり、入力信号の周波数帯
域よりも伝送線路の通過帯域の方が狭帯域である場合に
は、信号波形の立上り/立下りの遷移スピードが鈍った
ものとなる。通常、伝送路の伝搬遅延時間は、信号振幅
の中心値における入出力信号間の時間差として測定する
が、出力信号の立上り/立下り時間の増加分が実効的に
含まれることになる。この立上り/立下り時間は伝送線
路長とともに単調に増加するが、比例関係にはない。た
とえば、高周波成分の損失として、表皮効果を仮定する
と、立上り/立下り時間の増加は伝送線路長の誤差関数
で表される。容量値と線路の特性インピーダンスで決ま
る時定数成分を仮定すると、時定数の指数関数で表され
る。従って、このような損失を含む伝送線路の線路長を
上述した反射波形から求めるときに、進行波と反射波の
時間差の2分の1として求めると、線路長に対する遅延
時間増加の比例関係からのずれ分が誤差として含まれて
しまう。
が、1GHzでの減衰量が10dB/10m程度の同軸
ケーブルを1m通過すると、上記の単純計算による伝搬
遅延時間は実際のそれよりも数ピコ秒大きくなる。同様
の信号が3GHz以下での減衰量が3dB以下のマイク
ロストリップラインを30cm通過すると、誤差は10
ピコ秒以上になる。入力信号の立上り時間が大きくなれ
ば、それだけ入力信号に含まれる高周波成分が少なくな
るからこの誤差量は減少する傾向にある。しかしながら
、数百MHzで動作する半導体素子では100ピコ秒前
後の立上り時間が達成されており、現在の集積回路試験
装置と被試験素子との接続形態では上記の例よりもさら
に特性の劣る伝送線路が使用されることも多分にある。 数百MHzで動作する半導体素子の試験を行なう際には
、素子に与える複数の試験信号間の時間ずれと素子の複
数の出力信号を判定する判定回路間での時間ずれをピコ
秒オーダーで補正することが必要となっている。しかし
ながら、上述した従来技術ではこのような高精度な伝送
線路長の測定が実現できなかった。
従来の問題点を解決し、高精度に伝送線路長を測定する
方法を提供することにある。
るために、本発明は、遠端開放の伝送線路にパルスを送
出して得られる反射波形から伝送線路長を測定する伝送
線路長測定方法において、前記パルスの進行波成分によ
るパルスエッジから反射波成分によるパルスエッジまで
の時間差と、進行波成分によるパルスエッジの波形と、
反射波成分によるパルスエッジの波形の3要素を測定し
、得られた3要素の測定結果から該伝送線路を往復して
伝搬する際の伝達関数を算出し、得られた伝達関数から
、さらに前記伝送線路の往路、もしくは復路のみを伝搬
する際の伝達関数を算出し、得られた往路、もしくは復
路のみを伝搬する際の伝達関数を用いて個別の入力信号
に対する出力信号応答を求め、それにより求められた出
力信号応答から、入力信号に対する当該出力信号応答の
時間遅れを算出することによって、前記個別の入力信号
波形に対する伝送線路の伝搬遅延時間を測定することを
特徴とする。
際の伝達関数をフーリエ変換によって周波数の関数とし
て求め、当該周波数の関数から算出される往路もしくは
復路のみを伝搬する際の伝達関数と、入力信号の周波数
応答との積を逆フーリエ変換して個別の入力信号に対す
る出力信号を算出することができる。
限の理想条件における真性伝搬遅延時間と理想条件から
遊離したことで生ずる付加的遅延時間に分離し、前記伝
送線路の往路もしくは復路を、前記真性伝搬遅延時間を
定数、前記付加的遅延時間を当該伝送線路の特性インピ
ーダンスと容量成分の積で与えられる時定数成分として
回路記述し、前記伝送線路の往復路を、前記伝送線路の
往路もしくは復路に対する回路記述を直列接続して回路
記述し、当該回路記述が与える伝達関数として前記伝送
線路の伝達関数を近似することができる。
出して得られる反射波形を測定し、その測定結果から進
行波に対する伝達関数を算出し、与えられる入力信号毎
に、算出された伝達関数を用いて出力端(遠端)におけ
る出力信号の波形を推定し、推定された出力信号波形の
遷移タイミングから入力信号の遷移タイミングまでの時
間差を算出することによって、伝搬線路の伝搬遅延時間
を求める。
に説明する。
施例を示すフローチャートである。
を開放状態にし、他方の端点(以下近端とする)からパ
ルス信号を印加すると、近端の出力インピーダンスが伝
送線路の特性インピーダンスと整合している場合には、
図3に示すように、近端では進行波に反射波が重畳した
階段状の波形が観測される。本実施例では、この階段状
の波形を用いて、当該伝送線路の伝搬遅延時間を以下の
手順によって測定する。
1に示すように、進行波成分による立上りエッジaから
反射波成分による立上りエッジbまでの時間差Tと、進
行波成分による立上りエッジaの波形と、反射波成分に
よる立上りエッジbの波形の3要素、もしくは進行波成
分による立下がりエッジから反射波成分による立下がり
エッジまでの時間差と、進行波成分による立下がりエッ
ジの波形と、反射波成分による立下がりエッジの波形の
3要素を測定する。
ク1で得られた3要素の測定結果から当該伝送線路の往
復路を伝搬する際の伝達関数を算出する。
ク2で得られた伝送線路の往復路を伝搬する際の伝達関
数から、さらに往路、もしくは復路のみを伝搬する際の
伝達関数を算出する。
ク3で得られた往路、もしくは復路のみを伝搬する際の
伝達関数を用いて個別の入力信号波形に対する出力信号
応答を算出する。
ブロック4で得られた出力信号応答の入力信号に対する
時間遅れを算出することによって、個別の入力信号波形
に対する伝送線路の伝搬遅延時間を測定する。
サンプリングオシロスコープや特願昭62−30932
6号に示された伝送線路長測定装置等を適用することに
よって、進行波成分による立上りエッジaから反射波成
分による立上りエッジbまでの時間差Tと、進行波成分
による立上りエッジaの波形と、反射波成分による立上
りエッジbの波形の3要素、もしくは進行波成分による
立下がりエッジから反射波成分による立下がエッジまで
の時間差と、進行波成分による立下がりエッジの波形と
、反射波成分による立下がりエッジの波形の3要素を測
定できる。
行波エッジの波形測定によって、時間領域での入力信号
の応答νin(t)が求まる。νin(t)から入力信
号の周波数応答Vin(f)をたとえばフーリエ変換に
よって求め、反射波エッジの波形測定結果から反射波信
号の周波数応答Vref(f)をフーリエ変換によって
求めれば、伝送線路を往復する際の伝送線路自体の周波
数応答Hround(f)は次式によって求まる。
ころで、伝送線路を往復した反射波にとっては、同一の
伝送線路2本を直列接続した伝送線路を一方通行するの
と電気的に等価である。従って、たとえば第三のブロッ
ク3に於ては、この伝送線路を一方通行する際の伝送線
路自体の周波数応答Honeway(f)は、Hrou
nd(f)の平方根で求められる。
は、周波数応答Vin(f)をもつ入力信号が当該伝送
線路を一方通行した遠端での出力信号の周波数応答Vo
ut(f)は次式によって求まる。
これより、時間領域での出力信号の応答νout(t)
は逆フーリエ変換によって次式のように求まる。
)×Vin(f)]但し、F−1はフーリエ逆変換の演
算子を示す。
ては、信号レベルが振幅の50%になる中間レベルにお
けるνout(t)およびνin(t)の時間t1およ
びt2を各々求め、両者の差分をとれば測定すべき伝搬
遅延時間が得られる。
号と特性の異なる信号に対しても、前記第一のブロック
における信号波エッジに対する波形測定と同様に新たに
入力される信号に対する応答νin(t)を求めておけ
ば、これを用いてその入力信号に対する伝搬遅延時間を
正確に測定することができる。
、伝送線路を一方通行する際の伝達関数を求めたうえで
、その伝達関数と入力信号の特性に基づいて伝搬遅延時
間を測定できるので、伝送線路の往復に要する時間の2
分の1として単純に測定していた従来方法に比べて、よ
り実動作状態に近い測定値を得ることができる。測定値
には入力信号の周波数成分に対する依存性も反映され、
個別の入力信号に対する伝搬遅延時間を高精度に測定で
きる。
処理はコンピュータを用いた演算により実施することが
できる。
続状態を想定すると、被試験素子の入力端子やパッケー
ジの有する容量成分と線路の特性インピーダンスで決ま
る時定数成分によって高周波成分が減衰せしめられる。 この効果が、伝送線路の出力端から得られる信号波形の
入力信号に対する劣化の主たる要因となっている。
である伝送線路伝達関数の算出にあたって、図2のよう
なモデルを考える。すなわち、伝送線路を理想特性にお
ける伝搬遅延時間成分toと、被試験素子の入力端子や
パッケージの有する容量成分Cと線路の特性インピーダ
ンスZoで決まる時定数成分τとによつてモデル化し、
さらに進行波と反射波の効果を説明するために、各々独
立した線路として考え、従属接続している。
、すなわち前記階段状波形における進行波成分νin(
t)が印加され、中間点bに伝送線路の遠端での出力信
号νout(t)が現われ、そして、出力端cに反射波
成分νref(t)が現われると考えることができる。
分を遅延成分toと時定数成分τのみに単純化できるか
ら、ラプラス変換/ラプラス逆変換を用いて簡単に伝送
線路の単路、および往復路の伝達関数を求めることがで
き、第一の実施例と同様の手順を踏むことによって、伝
搬遅延時間を測定することができる。
に、伝送線路の往復に要する時間の2分の1として単純
に測定していた従来方法に比べて、より実動作状態に近
い測定値を得ることができ、かつ測定値には入力信号の
周波数成分に対する依存性も反映され、個別の入力信号
に対する伝搬遅延時間を高精度に測定できる。
によれば、遠端開放の伝送線路にパルスを送出して得ら
れる反射波形を測定し、その測定結果から進行波に対す
る伝達関数を算出し、与えられる入力信号毎に、算出さ
れた伝達関数を用いて出力端(遠端)における出力信号
の波形を推定し、推定された出力信号波形の遷移タイミ
ングから入力信号の遷移タイミングまでの時間差を算出
することによって、伝送線路の周波数特性や入力信号の
周波数特性によって決まる波形劣化による遅延時間の増
加を反映して高精度に伝送線路長を測定することが実現
できる。
例を示すフローチャートである。
算出方法の一実施例を説明するためのモデルを示す回路
図である。
例の説明図である。
送線路の特性インピーダンスC 容量成分 τ 時定数
Claims (3)
- 【請求項1】 遠端開放の伝送線路にパルスを送出し
て得られる反射波形から伝送線路長を測定する伝送線路
長測定方法において、前記パルスの進行波成分によるパ
ルスエッジから反射波成分によるパルスエッジまでの時
間差と、進行波成分によるパルスエッジの波形と、反射
波成分によるパルスエッジの波形の3要素を測定し、得
られた3要素の測定結果から該伝送線路を往復して伝搬
する際の伝達関数を算出し、得られた伝達関数から、さ
らに前記伝送線路の往路、もしくは復路のみを伝搬する
際の伝達関数を算出し、得られた往路、もしくは復路の
みを伝搬する際の伝達関数を用いて個別の入力信号に対
する出力信号応答を求め、それにより求められた出力信
号応答から、入力信号に対する当該出力信号応答の時間
遅れを算出することによって、前記個別の入力信号に対
する伝送線路の伝搬遅延時間を測定することを特徴とす
る伝送線路長の測定方法。 - 【請求項2】 前記伝送線路の往復路を伝搬する際の
伝達関数をフーリエ変換によって周波数の関数として求
め、当該周波数の関数から算出される往路、もしくは復
路のみを伝搬する際の伝達関数と入力信号の周波数応答
との積を逆フーリエ変換して個別の入力信号に対する出
力信号応答を算出することを特徴とする請求項1記載の
伝送線路長の測定方法。 - 【請求項3】 前記伝搬遅延時間を周波数帯域無限の
理想条件における真性伝搬遅延時間と理想条件から遊離
したことで生ずる付加的遅延時間に分離し、前記伝送線
路の往路もしくは復路を、前記真性伝搬遅延時間を定数
、前記付加的遅延時間を当該伝送線路の特性インピーダ
ンスと容量成分の積で与えられる時定数成分として回路
記述し、前記伝送線路の往復路を、前記伝送線路の往路
もしくは復路に対する回路記述の直列接続として回路記
述し、当該回路記述が与える伝達関数として前記伝送線
路の伝達関数を近似したことを特徴とする請求項1また
は2記載の伝送線路長の測定方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3030947A JP2853753B2 (ja) | 1991-02-26 | 1991-02-26 | 伝送線路長の測定方法 |
US07/840,118 US5321632A (en) | 1991-02-26 | 1992-02-24 | Method and apparatus for measuring the length of a transmission line in accordance with a reflected waveform |
EP96201797A EP0736773B1 (en) | 1991-02-26 | 1992-02-24 | Transmission line length measurement method and apparatus |
EP92301526A EP0501722B1 (en) | 1991-02-26 | 1992-02-24 | Transmission line length measurement method |
DE69225262T DE69225262T2 (de) | 1991-02-26 | 1992-02-24 | Verfahren zur Messung der Länge einer Übertragungsleitung |
DE69232208T DE69232208T2 (de) | 1991-02-26 | 1992-02-24 | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Länge einer Übertragungsleitung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3030947A JP2853753B2 (ja) | 1991-02-26 | 1991-02-26 | 伝送線路長の測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04269675A true JPH04269675A (ja) | 1992-09-25 |
JP2853753B2 JP2853753B2 (ja) | 1999-02-03 |
Family
ID=12317870
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3030947A Expired - Lifetime JP2853753B2 (ja) | 1991-02-26 | 1991-02-26 | 伝送線路長の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2853753B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003535344A (ja) * | 2000-05-31 | 2003-11-25 | テラダイン・インコーポレーテッド | Ateタイミング測定装置および方法 |
JP2006186967A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-07-13 | Alpine Electronics Inc | 通信装置 |
JP2006300688A (ja) * | 2005-04-20 | 2006-11-02 | Agilent Technol Inc | 校正方法および校正装置 |
JP2008096126A (ja) * | 2006-10-06 | 2008-04-24 | Hioki Ee Corp | 多芯ケーブル長測定装置 |
-
1991
- 1991-02-26 JP JP3030947A patent/JP2853753B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
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JP2853753B2 (ja) | 1999-02-03 |
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