JP5013906B2 - 光学素子保持装置 - Google Patents

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Description

本発明は、光学素子を保持するための光学素子保持装置に関するもので、特に露光装置で投影光学系の一部を構成する光学素子を保持する光学素子保持装置に関するものである。
フォトリソグラフィー技術を用いてマイクロデバイスを製造する際に、マスクに描画された回路パターンを投影光学系によってウェハ等に投影して回路パターンを転写する縮小投影露光装置が使用されている。
露光の解像度は露光光の波長と、投影光学系の開口数(NA)に依存し、波長が短ければ短いほど、また開口数が大きければ大きいほど、高い解像度が得られる。
このため、近年の半導体素子の微細化への要求に伴い露光光の短波長化が進められてきた。具体的には、超高圧水銀ランプ(i線(波長が約365nm))、KrFエキシマレーザー(波長が約248nm)、ArFエキシマレーザー(波長約193nm)の順に露光光の波長が短くなってきた。
しかし、上記のような紫外域の露光光を用いたフォトリソグラフィー技術では半導体素子のさらなる微細化には対応できない。そこで、0.1μm以下の非常に微細な回路パターンを高解像度で転写するために、紫外光よりも更に波長が短い波長10nm乃至15nm程度の極端紫外線(EUV)光を用いた縮小投影露光装置(以下、「EUV露光装置」という。)が開発されている。
高解像度で露光するEUV露光装置では、投影光学系に求められる精度が極めて高い。また、保持装置には十分高い固有振動数が求められる。
図13は特許文献1に記載されている保持装置を示す図である。光学素子1を保持する保持装置は光学素子1の周縁に沿う3箇所に設けられた支持装置2を備える。支持装置2は、光学素子1に対して正接をなすように配置される曲げ部材7,9と、径方向に延びる曲げ部材11とを備え、これらは取り付け部4を介して光学素子1に接続され、接続部6を介して基部構造体3に接続される。また、曲げ部材7と曲げ部材9は堅いアダプタ8を介して接続される。このような構成により十分な固有振動数が得られるようにしている。
特開2002−350699号公報
光学素子を保持する上で、光学素子に外部からの熱や力による変形が伝わらないように、光学素子の6自由度を冗長な拘束がない状態で保持する必要がある。例えば3箇所の保持部で光学素子を保持する場合、保持部1箇所につき2自由度のみを拘束し、残りの4自由度は柔軟に保持する必要がある。
しかしながら、上述のような曲げ部材を直交させて配置する保持装置では、保持部のねじり方向の剛性が十分柔軟になっていないため、拘束が冗長な状態であるといえる。このような拘束が冗長である状態では外乱による変形がミラーに伝わり、光学性能の悪化を招く。
本発明は上述の点に鑑みてなされたものであり、簡素な構造で高いかわし性能を得て、外部からの熱や力による光学素子の変形を低減することを目的とする。
光学素子の周縁部の3箇所に保持部を備える保持装置であって、前記各保持部は、第1軸回りに変形可能な板状の第1弾性部材と、前記第1弾性部材と繋がっており、前記第1軸回りに変形可能であるとともに、前記第1軸に垂直な軸である第2軸回りに変形可能であり、さらに前記第1軸および前記第2軸の両方に垂直な軸である第3軸回りに変形可能である第2弾性部材とを備え、前記各保持部は前記第1軸および前記第3軸における前記光学素子の位置を拘束するように構成され、3箇所の保持部を用いて前記光学素子を6自由度でキネマティックに保持することを特徴としている。
本発明によれば、簡素な構造で高いかわし性能を得て、外部からの熱や力による光学素子の変形を低減することができる。
以下、添付図面に基づいて本発明の実施形態を説明する。
(実施例1)
図1を参照しつつ光学素子を保持する保持装置10について詳細を説明する。
保持装置10は、光学素子8の周縁部の3箇所に保持部20を備える。保持部20は、その一端が接続部材19を介して光学部材8と繋がっており、他端がベース部材12に繋がっている。接続部材19は金属でできており、光学素子8に接着して取り付けられる。取り付け方法はこれ以外の方法であってもよく、例えば光学素子8に突起部を設けて突起部を接続部材19で挟み込むようにしてもよい。
ベース部材12は、後述する投影光学系の鏡筒に締結され、外部からの力によって光学素子8が変形しないように堅い構造体となっている。またベース部材12は熱の影響を考慮して低熱膨張材質であることが好ましく、さらには光学素子8と同程度の熱膨張係数の材質が好ましい。本実施例ではベース部材12の形状は円筒形状だが、これにかぎるものではなく例えば多角形の形状であってもよい。また、光学素子8を駆動するアクチュエータや光学素子8の位置を検出するセンサ等をさらに配置してもよい。
図2(a),(b),(c)は保持部20の斜視図、正面図、側面図を示す。図において、光学素子8の周縁に沿う周方向に延びる軸をX軸とし、該周方向に垂直であり、光学素子8の重心と周縁部における点を結ぶ軸をY軸とし、X軸とY軸の両方向に垂直な軸をZ軸としている。
本実施例では一例として光学素子8が円形状であり、光軸が光学面に垂直に照射される場合について説明する。すなわち、円の接線方向に延びる軸をX軸、径方向に延びる軸をY軸、光軸方向に延びる軸をZ軸として説明する。
保持部20は、X軸(第1軸)回りに変形可能な板状の弾性部材22(第1弾性部材)と、X軸回りに変形可能であるとともにY軸(第2軸)回りに変形可能であり、さらにZ軸回りに変形可能な弾性部材21(第2弾性部材)とを備える。つまり、弾性部材21は3つの回転方向に柔軟なボールジョイント(ピボット)の働きをする。本実施例において、Y軸方向に厚みをもちX軸方向に延びる板ばねを弾性部材22として用いている。
なお、「変形可能」とは他の方向に比べて剛性が十分低いことをいい、弾性部材22の場合はX軸方向、Y軸方向、Z軸方向、Y軸回りの回転方向、Z軸回りの回転方向の剛性に比べてX軸回りの剛性が十分低い。同様に弾性部材21の場合は、X軸方向、Y軸方向、Z軸方向の剛性に比べてX軸回り、Y軸回り、Z軸回りの回転方向の剛性が十分低い。
さらに保持部20は3つのブロック23,24,25を備える。ブロック23は接続部材19または光学素子8と弾性部材21とを接続するための部材であり、ブロック24は弾性部材21と弾性部材22とを接続するための部材であり、ブロック25は弾性部材22とベース部材12とを接続するための部材である。すなわち、弾性部材21と弾性部材22は繋がっている。各ブロックは十分な厚みをもち、剛体片として用いられる。
これらのブロックおよび弾性部材は一体的に形成してもよく、個別に形成したものを圧着、溶接、螺合、圧入などによって接続してもよい。
弾性部材21および弾性部材22はそれぞれX軸回りに変形可能であるため、保持部20はY軸方向に変形可能である。すなわち、保持部20はX軸回り、Y軸回り、Z軸回り、Y軸方向に変形をかわしつつ、X軸方向およびZ軸方向で光学素子8の位置を拘束することができる。
保持部20は3つ設けられるため、各保持部が2方向で光学素子8の位置を拘束することによって、光学素子8を6自由度で過拘束なく保持することができる。すなわち、より周囲からの外乱の影響を受けにくいキネマティック保持が可能となる。
なお、弾性部材21の形状は図2では四角柱状としている、円柱状やその他の多角柱状としてもよい。
以上のような保持部を有する光学素子保持装置によれば、簡素な構造で高いかわし性能が得られ、外部からの熱や力による光学素子の変形を抑制し、収差の悪化を低減することができる。
なお、一般的に、ボールとV溝もしくはコーンなどによって保持する保持装置では高い固有振動数を得るためには、接続部分の締結力も大きくする必要がある。しかしながら、締結力を大きくすると摩擦が大きくなり、本来拘束されるべきでない自由度も拘束され、キネマティックな拘束状態ではなくなってしまう。それに対して、本実施例のような弾性部材を用いた保持装置は、締結力の大小に拘らずキネマティックに支持でき、なおかつ高い固有振動数を維持できる。
また、各弾性部材の間をブロックで接続することによって関節部(ジョイントの機能をする個所)以外での変形が小さいため、高剛性にすることができる。ブロックは略直方体形状であると加工が容易となるため好ましい。
さらに、ブロックと弾性部材を一体的に構成することによって、ボルト等の締結要素を少なくすることができ、高剛性にすることができる。また、加工精度の向上が望めるうえ、部品数を少なくすることができる。
(変形例1)
図3は実施例1における変形例1を示す図である。図3(a),(b),(c)は保持部20aの斜視図、正面図、側面図を示す。同様の機能をもつ部材には図2で用いた符合にアルファベットaを付している。
本変形例では弾性部材21aは円柱状となっている。また、ブロック23a,24a,25aにも曲面が形成されている。単一のブロックを光軸に延びる軸回りに回転させながら旋盤加工したときに保持部はこのような形状となる。弾性部材22aについてはワイヤカット加工により形成される。
(変形例2)
図4は実施例1における変形例2を示す図である。図4(a),(b),(c)は保持部20bの斜視図、正面図、側面図を示す。図2で説明した箇所と対応する箇所については同一の符合にアルファベットbを付している。
単一のブロックから保持部を作成するときに、エンドミルや放電加工を利用したときに例えば図4の保持部20aのような形状となる。
Y軸方向の前後からエンドミルによって掘り込み加工を行うことで円柱状の穴を形成し、さらにワイヤカット加工をすることによってブロック23bとブロック24bとの間に弾性部材21bが形成される。また、ブロック24bとブロック25bとの間もワイヤカット加工をすることによって弾性部材22bが形成される。
上述の変形例1及び変形例2のように、保持部を作成するときの加工工数を短縮するために様々な加工方法が考えられる。これにより形状に違いが生じることがあるが、上述の実施例1と同様の効果を奏する。
(変形例3)
図5は実施例1における変形例3を示す図である。図4(a),(b),(c)は保持部20cの斜視図を示す。図2で説明した箇所と対応する箇所については同一の符合にアルファベットcを付している。
本変形例では図2における弾性部材22の代わりに2つの弾性部材22cが設けられる。弾性部材21c,ブロック23c,24c,25cについては上述の実施例と同様である。弾性部材22cはそれぞれX軸回りに変形可能であるため、結果としてY軸方向にも変形可能である。
(変形例4)
図6は実施例1における変形例4を示す図であり、保持部20dの斜視図を示す。図2で説明した箇所と対応する箇所については同一の符合にアルファベットdを付している。
本変形例では、図2におけるブロック24に相当する部材がなく、弾性部材21dおよび弾性部材22dが直接接続されている。光学素子8または接続部材19と弾性部材21dとの間にはブロック23dが接続され、弾性部材22dとベース部材12との間にはブロック25dが接続される。
このように弾性部材21dおよび弾性部材22dを直接接続することによって、小型で軽量な構成することができる。
(変形例5)
図7は実施例1における変形例5を示す図であり、保持部20eの斜視図を示す。図2で説明した箇所と対応する箇所については同一の符合にアルファベットeを付している。
本変形例では、変形例4と同様に図2におけるブロック24に相当する部材がなく、弾性部材21eおよび弾性部材22eが直接接続されている。光学素子8または接続部材19と弾性部材21eとの間にはブロック20eが接続され、弾性部材22eとベース部材12との間にはブロック25eが接続される。変形例4との違いは、弾性部材22eが三角形の板状部材となっている点である。
(変形例6)
図8は実施例1における変形例6を示す図であり、保持部20fの斜視図を示す。図2で説明した箇所と対応する箇所については同一の符合にアルファベットfを付している。
本変形例では、変形例4,5と同様に図2におけるブロック24に相当する部材がなく、弾性部材21fおよび弾性部材22fが直接接続されている。変形例5との違いは、弾性部材22fが2枚の三角形の板状部材となっており、2枚の弾性部材22fの間に弾性部材21fが直接接続されている点である。ブロック23fは光学素子8と一方の弾性部材22fを接続するために用いられ、ブロック24はベース部材12と他方の弾性部材22fを接続するために用いられる。
(実施例2)
図9は実施例2における保持部を示す図である。保持部が適用される箇所については実施例1の図1および図2で説明したものと同様である。
図9(a),(b),(c)は保持部30の斜視図、正面図、側面図を示す。図において、軸方向の定義については実施例1と同様である。
保持部30は、Z軸(第1軸)回りに変形可能な弾性部材32と、Z軸回りに変形可能であると共にX軸(第2軸)回りに変形可能であり、さらにY軸(第3軸)回りに変形可能な弾性部材31とを備える。つまり、弾性部材31は3つの回転方向に柔軟なボールジョイント(ピボット)の働きをする。弾性部材32の形状はY方向に厚みをもちZ軸方向に延びる板状である。
さらに保持部30は3つのブロック33,34,35を備える。ブロック33は光学素子8と弾性部材31とを接続するための部材であり、ブロック34は弾性部材31と弾性部材32とを接続するための部材であり、ブロック35は弾性部材32とベース部材12とを接続するための部材である。
これらのブロックおよび弾性部材は一体的に形成してもよく、個別に形成したものを圧着、溶接、螺合、圧入などによって接続してもよい。
弾性部材31および弾性部材32はX軸回りに変形可能であるため、保持部30はY軸方向に変形可能である。すなわち、保持部20はX軸回り、Y軸回り、Z軸回り、Y方向に変形をかわしつつ、X軸方向およびZ軸方向で光学素子8の位置を拘束することができる。
保持部20は3つ設けられるため、各保持部が2方向で光学素子8の位置を拘束することによって、光学素子8を6自由度で過拘束なく保持することができる。すなわち、より周囲からの外乱の影響を受けにくいキネマティック保持が可能となる。
ここで、実施例2においても実施例1で説明した変形例を適用することが可能であり、同様の効果を奏する。
(露光装置に適用した例)
図10は露光装置の概要を示す図である。露光装置100は、光源51と、照明光学系52と、レチクル53を保持するレチクルステージ54と、投影光学系55と、ウエハ56を保持するウエハステージ57等を備える。
光源51はEUV光源であり、照明光学系52は、複数枚のミラーや絞りで構成されている。光源51から出射されたEUV光はこの照明光学系52により、レチクル53上に照射される。
レチクル53で反射されたEUV光は投影光学系55に入射される。投影光学系55は複数枚の光学素子8を備え、光学素子8は保持装置10によって保持される。本実施例では光学素子8としてミラーを用いた例を説明する。投影光学系55に入射したEUV光は、複数枚の光学素子8によって反射され、ウエハ56に照射される。レチクル53のパターンは、投影光学系55によって例えば1/4や1/5に縮小された状態でウエハ56上に投影される。露光時にレチクルステージ54とウエハステージ57は、投影光学系55の縮小倍率と同じ速度比で同期して走査駆動される。
図10において投影光学系55は4枚の光学素子8で構成されているが、これに限るものではなく6枚や8枚の光学素子で構成するようにしてもよい。
高解像度で露光するEUV露光装置では、投影光学系に求められる精度が極めて高い。ミラーの形状においては、1nm程度以下の変形しか許容されない。ミラーなどの光学素子に変形が生じると、変形前後で光路が屈折し、一点に結像するべき光線が一点に収束せずに収差が生じ、像のぼやけや位置シフトが発生し、結果的にはウェハ上の回路パターンの短絡を招く。上述の実施例における光学素子保持装置をEUV露光装置のミラー保持に用いることによって、ミラー形状の変形を抑えて高精度な露光を行うことができる。
(デバイス製造方法の例)
次に、図11及び図12を参照して、上述の露光装置を利用したデバイス製造方法の実施例を説明する。図11は、デバイス(ICやLSIなどの半導体チップ、LCD、CCD等)の製造を説明するためのフローチャートである。ここでは、半導体チップの製造方法を例に説明する。
ステップS1(回路設計)では半導体デバイスの回路設計を行う。ステップS2(マスク製作)では設計した回路パターンに基づいてマスクを製作する。ステップS3(ウエハ製造)ではシリコン等の材料を用いてウエハを製造する。ステップS4(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、マスクとウエハを用いて、上記の露光装置によりリソグラフィ技術を利用してウエハ上に実際の回路を形成する。ステップS5(組み立て)は、後工程と呼ばれ、ステップS4によって作製されたウエハを用いて半導体チップ化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の組み立て工程を含む。ステップS6(検査)では、ステップS5で作製された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、それが出荷(ステップS7)される。
図12は、ステップ4のウエハプロセスの詳細なフローチャートである。ステップS11(酸化)では、ウエハの表面を酸化させる。ステップS12(CVD)では、ウエハの表面に絶縁膜を形成する。ステップS13(電極形成)では、ウエハ上に電極を蒸着によって形成する。ステップS14(イオン打ち込み)では、ウエハにイオンを打ち込む。ステップS15(レジスト処理)では、ウエハに感光剤を塗布する。ステップS16(露光)では、露光装置によってマスクの回路パターンをウエハに露光する。ステップS17(現像)では、露光したウエハを現像する。ステップS18(エッチング)では、現像したレジスト像以外の部分を削り取る。ステップS19(レジスト剥離)では、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除く。これらのステップを繰り返し行うことによってウエハ上に多重に回路パターンが形成される。
なお、上記説明では好適な例としてEUV露光装置について述べたが、EUV光以外の露光光を用いた露光装置に適用してもよく、高精度に光学素子を保持すべき装置全般に適用可能である。
本発明の好適な実施形態の光学素子保持装置を示す図である。 実施例1における保持部を示す図である。 実施例1の保持部の変形例1を示す図である。 実施例1の保持部の変形例2を示す図である。 実施例1の保持部の変形例3を示す図である。 実施例1の保持部の変形例4を示す図である。 実施例1の保持部の変形例5を示す図である。 実施例1の保持部の変形例6を示す図である。 実施例2の保持部を示す図である。 本発明の好適な実施形態の露光装置の概略構成を示す図である。 露光装置を使用したデバイスの製造を説明するためのフローチャートである。 図11に示すフローチャートのステップ4のウェハプロセスの詳細なフローチャートである。 特許文献1に記載の保持装置を示す図である。
符号の説明
8 光学素子
10 光学素子保持装置
12 ベース部材
19 接続部材
20,30 保持部
21,21a,21b,21c,21d,21e,21f,31 弾性部材
22,22a,22b,22c,22d,22e,22f,32 弾性部材
23,23a,23b,23e,23f,33:ブロック、24,24a,24b,24c,34 ブロック
25,25a,25b,25c,25d,25e,25f,35 ブロック
51 光源
52 照明光学系
53 レチクル
54 レチクルステージ
55 投影光学系
56 ウエハ
57 ウエハステージ
100 露光装置

Claims (7)

  1. 光学素子の周縁部の3箇所に保持部を備える光学素子保持装置であって、
    前記各保持部は、第1軸回りに変形可能な板状の第1弾性部材と、前記第1弾性部材と繋がっており、前記第1軸回りに変形可能であるとともに、前記第1軸に垂直な軸である第2軸回りに変形可能であり、さらに前記第1軸および前記第2軸の両方に垂直な軸である第3軸回りに変形可能である第2弾性部材とを備え、前記各保持部は前記第1軸および前記第3軸における前記光学素子の位置を拘束するように構成され、3箇所の保持部を用いて前記光学素子を6自由度でキネマティックに保持することを特徴とする光学素子保持装置。
  2. 前記第1軸は前記光学素子の周方向と平行であることを特徴とする請求項1に記載の光学素子保持装置。
  3. 前記第3軸は前記光学素子の周方向に垂直であり、かつ、前記光学素子の重心と前記光学素子の周縁部における点とを結ぶ軸方向に垂直であることを特徴とする請求項1に記載の保持装置。
  4. 前記第1弾性部材と前記第2弾性部材が、ブロック状の部材を介して接続されることを特徴とする請求項1または2に記載の保持装置。
  5. 前記第1弾性部材および前記第2弾性部材および前記ブロック状の部材は、単一の部材から形成されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の光学素子保持装置。
  6. 複数の光学素子を含む光学系を備える露光装置であって、
    前記光学素子の少なくとも1つを請求項1乃至5のいずれか1項に記載の保持装置により保持することを特徴とする露光装置。
  7. 請求項6に記載の露光装置を用いて基板にパターンを露光する工程と、露光された基板を現像する工程とを備えることを特徴とするデバイス製造方法。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005049731A1 (de) * 2005-10-14 2007-04-19 Cube Optics Ag Optischer Aufbau mit elastischer Aufhängung und Verfahren zur Herstellung eines solchen
JP5127515B2 (ja) * 2008-03-12 2013-01-23 キヤノン株式会社 光学素子保持装置
FR2945638B1 (fr) * 2009-05-14 2012-01-06 Commissariat Energie Atomique Dispositif de maintien avec precision d'un composant, notamment optique, et montage comprenant au moins un tel dispositif
JP5634521B2 (ja) * 2009-09-08 2014-12-03 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 表面外形(surfacefigure)変形の少ない光学素子
DE102009045163B4 (de) 2009-09-30 2017-04-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Anordnung in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
US20120033315A1 (en) * 2010-08-06 2012-02-09 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Scanner motor
USD666353S1 (en) * 2012-04-09 2012-08-28 Advanced Optoelectronic Technology, Inc. LED lens
CN105467544B (zh) * 2015-12-21 2017-12-26 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种用于高精度光学元件的多点柔性支撑装置
US10036190B2 (en) 2016-07-21 2018-07-31 Bath Authority Llc Guide block for glass panel
USD824754S1 (en) * 2016-09-23 2018-08-07 Bath Authority Llc Guide block for glass panel
CN109752817A (zh) * 2017-11-02 2019-05-14 深圳光峰科技股份有限公司 光学元件固定结构及光学设备
CN112068277B (zh) * 2020-08-31 2021-08-20 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 大口径光学透镜的多级柔性支撑结构

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4763991A (en) * 1987-08-10 1988-08-16 Litton Systems, Inc. Adjustable six degree of freedom mount for optical components
JP2690510B2 (ja) * 1988-07-29 1997-12-10 日本電気株式会社 あおりステージ
US5313333A (en) * 1992-12-23 1994-05-17 Estman Kodak Company Method and apparatus for combined active and passive athermalization of an optical assembly
US5383168A (en) * 1993-04-01 1995-01-17 Eastman Kodak Company Actively athermalized optical head assembly
JP3221823B2 (ja) * 1995-11-24 2001-10-22 キヤノン株式会社 投影露光装置およびこれを用いた露光方法ならびに半導体製造方法
DE19825716A1 (de) * 1998-06-09 1999-12-16 Zeiss Carl Fa Baugruppe aus optischem Element und Fassung
JP4809987B2 (ja) * 2000-03-30 2011-11-09 キヤノン株式会社 光学要素の支持構造、それを用いた露光装置及び半導体デバイスの製造方法
US6400516B1 (en) * 2000-08-10 2002-06-04 Nikon Corporation Kinematic optical mounting
EP1744193A1 (en) * 2000-08-18 2007-01-17 Nikon Corporation Optical element holding device with drive mechanism allowing movement of the element along three coordinate axes
DE10115914A1 (de) 2001-03-30 2002-10-02 Zeiss Carl Vorrichtung zur Lagerung eines optischen Elementes in einer Optik
JP2002305140A (ja) * 2001-04-06 2002-10-18 Nikon Corp 露光装置及び基板処理システム
JP2004062091A (ja) * 2002-07-31 2004-02-26 Canon Inc 保持装置、露光装置及びデバイス製造方法
JP2004281644A (ja) * 2003-03-14 2004-10-07 Canon Inc 駆動機構及びそれを用いた露光装置、デバイスの製造方法
WO2004086148A1 (de) * 2003-03-26 2004-10-07 Carl Zeiss Smt Ag Vorrichtung zur deformationsarmen austauschbaren lagerung eines optischen elements
JP2004343101A (ja) 2003-04-25 2004-12-02 Canon Inc 駆動機構、それを有する露光装置、デバイスの製造方法
JP4574206B2 (ja) * 2003-04-25 2010-11-04 キヤノン株式会社 駆動装置、それを用いた露光装置、デバイスの製造方法
US7085080B2 (en) * 2003-12-06 2006-08-01 Carl Zeiss Smt Ag Low-deformation support device of an optical element
JP4576154B2 (ja) * 2004-05-13 2010-11-04 オリンパス株式会社 超音波モータ
JP2006100315A (ja) * 2004-09-28 2006-04-13 Canon Inc 保持機構、光学装置、及びデバイス製造方法
KR101157003B1 (ko) * 2004-09-30 2012-06-21 가부시키가이샤 니콘 투영 광학 디바이스 및 노광 장치

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