JP4839560B2 - Ic外観検査方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、IC外観検査方法に関し、特にBGA(Ball Grid Array)、LGA(Land Grid Array)のように外部接続端子が基板上にマトリックス状に並んでいるICのパッケージ外形の形状・寸法の検査を定量的に行なうIC外観検査方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来のICの形状検査方法の一例が、特開平10−213417号公報「ICパッケージ位置検出方法」に記載されている。この従来の技術では、 カメラによりICを上方より撮影したIC画像の輝度のヒストグラムを算出し、このヒストグラム上でパッケージ上面を示すドット群、パッケージ側面を示すドット群の間のレベルをスレッショルドレベルとして、IC画像を2値化する。そして、この2値化により得られたIC画像の各辺についてパッケージ上面と側面の境界点をパッケージ側面に該当する低輝度のドット領域の端部に定める一方、各辺の延びる方向の軸上で、この軸と直交する方向の分布の変位(直交する方向での微分値)を累積した累積グラフを作成し、この累積グラフのドット数が最大である部分の変位値から上側および下側にそれぞれ一定間隔の幅を設定し、その上限および下限内に位置するドットを有効ドットとしてこの有効ドットに関して最小二乗法により直線を引いて、パッケージ側面に該当する低輝度の領域とパッケージ上面に該当する高輝度の領域との境界を定める。そして、この従来の技術では、求められたX方向、Y方向のパッケージ上面境界線の交点を原点にし、2つの軸の成す交角が90度よりも大きいときは、2つの軸の交わる角が90度になる方向に原点を中心に所定角度だけ、2つの軸をそれぞれ回転させて基準線を得る。また、上記公報には、上記のようにして求められた基準線に基づいてICのパッケージ寸法に従い「パッケージ欠け検出ウインドウ」を設定し、そのウインドウ内での低輝度ドット数と高輝度ドット数との比を求め、その比が一定以上の場合には「パッケージ欠け」があると判定することが記載されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の技術は、境界線近傍でのドットの分布の微分値の分布に基づいて境界線を定める直線を決定するものであるため、パッケージ外周のような直線的な形状のものについての検出は可能であるものの、例えばBGAにおけるボール配列上の直線を求めることは困難であった。また、従来技術では、輝度のヒストグラムに基づいてスレッショルドレベルを決定し2値化を行っているが、背景とパッケージとの輝度の差が少ない場合や輝度の遷移が連続的であるような場合には、2値化による切り分けが困難となる。
本発明の課題は、上述した従来技術の問題点を解決することであって、その目的は、第1に、ボール配列のような輝度の分布が入り組んでいる場合にも、その配列上の直線を求めることが出来るようにすることであり、第2に、背景とパッケージとの輝度差が少ない場合であっても容易にパッケージ外形を特定できるようにすることある。
【0004】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明によれば、原画像と予め記憶された外部端子2値化レベルを用いて外部端子位置を算出する過程と、算出された外部端子位置から求められるX方向およびY方向の外部端子中心線に基づいて外部端子基準軸を算出する過程と、X方向およびY方向の外部端子基準軸の交点とパッケージ設計パターンとから概算パッケージ外周を算出する過程と、前記概算パッケージ外周上を含むように各辺毎に複数のサーチ領域を設定する過程と、予め記憶されたテンプレートと前記サーチ領域における原画像とのパターンマッチングを行って最大相関個所をパッケージ四辺の外周座標として求める過程と、前記パッケージの外周座標に基づいて四辺の辺別直線を算出する過程と、2本のX方向辺別直線の中点間の距離をパッケージ幅として、2本のY方向辺別直線の中点間の距離をパッケージ長として求める過程と、求められたパッケージ幅およびパッケージ長が予め定められた範囲内にあるかを検証する過程と、を有することを特徴とするIC外観検査方法、が提供される。
【0005】
また、上記の目的を達成するため、本発明によれば、原画像と予め記憶された外部端子2値化レベルを用いて外部端子位置を算出する過程と、算出された外部端子位置から求められるX方向およびY方向の外部端子中心線に基づいて外部端子基準軸を算出する過程と、2本の前記外部端子基準軸の交点とパッケージ設計パターンに基づいて概算パッケージ外周を求める過程と、前記概算パッケージ外周上を含むように各辺毎に複数のサーチ領域を設定する過程と、予め記憶されたテンプレートと前記サーチ領域における原画像とのパターンマッチングを行って最大相関個所をパッケージの外周座標として求める過程と、前記外周座標から最小二乗法により各辺毎に辺別直線を求める過程と、を有することを特徴とするIC外観検査方法、が提供される。
【0006】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
[第1の実施の形態]
図1に示すように、本発明の第1の実施の形態は、ICを撮像したデジタル信号を濃淡画像として記憶し原画像7を出力する原画像記憶手段1と、パラメータ記憶手段6に記憶されているボール2値化レベル11とラベル面積除外範囲12を使用し原画像7からボール位置情報8(ボール座標(重心)、ボール基準軸)を検出するボール位置検出手段2と、パラメータ記憶手段6に記憶されているパッケージ2値化レベル13を使用して原画像7からパッケージの外形情報9(外周座標、辺別外周座標、辺別直線、パッケージ基準軸)を検出するパッケージ外形検出手段3と、ボール位置情報8とパッケージ外形情報9から最外周ボールを検出しパッケージ外形からの距離10(Zd、Ze:X方向距離ZdとY方向の距離Ze)を検出する最外周ボール検出手段4と、パラメータ記憶手段に記憶されているパッケージ許容値15のうちZd、Ze許容値により良否判定を行い最外周ボール判定結果16を出力する最外周ボール判定手段5とで構成される。
【0007】
図2に示すように、図1のボール位置検出手段2は、以下のように構成されている。原画像7をパラメータ記憶手段6に記憶されているボール2値化レベル11により、ボール部分が1、それ以外が0となるように2値化し、ボール2値画像207を出力するボール2値化手段201と、ボール2値画像207に対してラベリング処理(集団化処理)を施しラベル図形208を出力するラベリング手段202と、ラベル図形208の面積を計測しラベル情報209を出力するラベル計測手段203と、パラメータ記憶手段6に記憶されているラベル面積除外範囲12により過小、過大なラベルを除去しボール図形210を出力する過小・過大ラベル除去手段204と、ボール図形210のボール図形の個数と重心を計測しボール情報211(ボール個数、ボール座標)を出力するボール計測手段205と、ボール情報211から、ボール位置情報8(ボール座標、ボール基準軸)を算出するボール基準軸算出手段206を備える。ボール基準軸8は、次のように算出する。ボール座標(211)から、X方向のボールの列毎に最小二乗近似直線を算出し、これら直線の平均を計算することによりX方向の平均直線(X方向中心直線;X中線)を算出し、同様にY方向の平均直線(Y方向中心直線;Y中線)を算出する。これら2直線のなす角α〔単位:度(°)〕が直角になるように交点を中心として(90°−α)/2ずつ2直線を反対方向に回転させることによりボール基準軸を算出する(図10参照)。
【0008】
図3に示すように、図1のパッケージ外形検出手段3は、以下のように構成されている。原画像7をパラメータ記憶手段6に記憶されているパッケージ2値化レベル13により、パッケージ部分が1、それ以外の背景が0となるように2値化し2値画像309を出力するパッケージ2値化手段301と、2値画像309に対してラベリング処理を施しラベル図形310を出力するラベリング手段302と、ラベル図形310の面積を計測しラベル情報311として出力するラベル計測手段303と、ラベル情報311から最大の面積を持つラベルを検出し最大ラベル情報としてIC図形312を出力する最大ラベル検出手段304と、IC図形312から最大ラベルの外周座標313と傾きωと重心Gを検出する外周座標検出手段305と、外周座標313をパラメータ記憶手段6に記憶されている有効範囲、削除範囲14により辺毎に4分割し辺別外周座標314を出力する外周座標四辺分割手段306と、辺別外周座標314をもとに辺毎に最小二乗法を使用して近似直線を算出して辺別直線315として出力する辺別直線検出手段307と、4本の辺別直線315からパッケージ外形情報9としてパッケージ基準軸316を算出するパッケージ基準軸算出手段308とで構成される。
【0009】
図4に示すように、図3の外周座標四辺分割手段306は、以下のように構成されている。すなわち、撮像したときの原画像中のパッケージの傾きの影響を最小限に抑えるために、最大ラベルを示す外周座標313を図5(a)に示すようにIC図形312の傾きωが0になるように最大ラベルの重心Gを回転中心として回転補正し、補正済み外周座標3606を出力する回転補正手段3601と、図5(b)に示すように補正済み外周座標3606からX座標の最小値Xmin、Y座標の最小値Ymin、X座標の最大値Xmax、Y座標の最大値Ymaxを検出し(ここでは、左上コーナ部を原点としている)外接四角形頂点座標3607(Xmin,Ymin)、(Xmax,Ymin)、(Xmin,Ymax)、(Xmax,Ymax)を出力する外接四角形検出手段3602と、外接四角形頂点座標3607と外周座標が有効となる幅Wで表される有効範囲(14)と、パッケージの四隅の座標を除外する幅Dで表される削除範囲(14)から、点(Xmin+D,Ymin)−点(Xmax−D,Ymin+W)で決定される上辺有効領域と、点(Xmin+D,Ymax−W)−点(Xmax−D,Ymax)で決定される下辺有効領域と、点(Xmin,Ymin+D)−点(Xmin+W,Ymax−D)で決定される左辺有効領域と、点(Xmax−W,Ymin+D)−点(Xmax,Ymax−D)で決定される右辺有効領域の辺別有効領域3608を算出する辺別有効領域作成手段3603と、辺別有効領域3608の上辺、下辺、左辺、右辺に対応した有効領域をパッケージの傾きωと同じになるようにパッケージの重心を中心として回転させ補正済み辺別有効領域3609を出力する辺別有効領域回転手段3604と、補正済み辺別有効領域3609内の外周座標313を検出し辺別外周座標314として出力する外周座標選別手段3605とで構成される。
【0010】
図6に示すように、図3の辺別直線検出手段307とパッケージ基準軸算出手段308は、以下のように構成されている。すなわち、パッケージの四辺の辺別外周座標314の上辺部分から辺別直線(上辺)3705を検出する上辺直線検出手段3701と、辺別外周座標314の下辺部分から辺別直線(下辺)3706を検出する下辺直線検出手段3702と、辺別外周座標314の左辺部分から辺別直線(左辺)3707を検出する左辺直線検出手段3703と、辺別外周座標314の右辺部分から辺別直線(右辺)3708を検出する右辺直線検出手段3704と、辺別直線(上辺)3705と辺別直線(下辺)3706との平均であるX中線3805を算出するX中線算出手段3801と、辺別直線(左辺)3707と辺別直線(右辺)3708の平均であるY中線3806を算出するY中線算出手段3802と、X中線3805とY中線3806のなす角αを算出し、X中線3805、Y中線3806が直角となるような補正角β3807(=90−α)を算出する補正角算出手段3803と、X中線3805、Y中線3806の交点を中心として、X、Y中線のなす角が90度となるようにX中線、Y中線を等しい角度だけ回転させ、X方向パッケージ基準軸316aと、Y方向パッケージ基準軸316bをパッケージ基準軸316として算出する回転補正手段3804とで構成される。
【0011】
次に、図7のフローチャートを参照して本実施の形態の全体の動作について説明する。
まず、撮像したパッケージ画像のデジタル信号を原画像記憶手段1に記憶する(ステップf1)。次に、ボール位置検出手段2を使用して原画像7からボール位置情報8を検出する(ステップf2)。次に、パッケージ位置検出手段3を使用して原画像7からパッケージ外形情報9を検出する(ステップf3)。次に、最外周ボール検出手段4を使用してボール位置情報8から最外周ボール座標を検出して距離10(Zd、Ze)を算出し、最外周ボール判定手段5を使用して、得られたZd、Zeがパラメータ記憶手段6に記憶されている許容範囲内であれば「最外周ボール判定合格」、それ以外であれば「最外周ボール判定不合格」と判定する(ステップf4)。
【0012】
次に、図8のフローチャートを参照して図7のボール位置検出フロー(ステップf2)の動作について詳細に説明する。ボール2値化手段201により原画像7を、パラメータ記憶手段6に記憶されているボール2値化レベル11により、ボール部分を1、それ以外を0とするように2値化する(ステップf201)。ボール2値画像207に対してラベリング手段202を使用してラベリング(集団化)を行い、ラベル図形208を検出する(ステップf202)。ラベル図形208の面積を計測する(ステップf203)。雑音や背景とボールを分離するため、過小・過大ラベル除外手段204を用いて、ラベル図形208のうち面積がパラメータ記憶手段6に記憶されているラベル面積除外範囲12に当てはまるような過小な図形や過大な図形を除外しボール図形210を検出する(ステップf204)。ボール計測手段205において、残ったラベル図形209のボール座標として重心、ラベル図形の個数をボール情報211として算出する(ステップf204)。ボール情報211からボール位置情報8となるボール基準軸を算出する(ステップf206)。
【0013】
次に、図9のフローチャートおよび動作説明図である図10を参照して図8のボール基準軸算出フロー(ステップf206)の動作について詳細に説明する。ボール基準軸算出手段206において、ボール情報211のボール個数が正常であれば、図10(a)に示すように、ボール座標101aから横(X方向)、縦(Y方向)の一列のボール101の並びに対してそれぞれ最小二乗法により近似直線102、104を算出する(ステップf2601)。次いで、図10(a)に示すように、縦、横それぞれ平均となるX方向平均直線103、Y方向平均直線105を算出する(ステップf2602)。さらに、図10(b)に示すように、2直線がなす角αを算出する(ステップf2603)。次に、図10(c)に示すように、2直線の交点を中心に、2直線のなす角が直角となるように、等しい角度β=(90−α)/2だけそれぞれの直線を反対方向に回転させ、X方向ボール基準軸103a、Y方向ボール基準軸105aを算出する(ステップf2604)。
【0014】
次に、図11のフローチャートを参照して図7のパッケージ外形検出フロー(ステップf3)の動作について詳細に説明する。パッケージ2値化手段301において、原画像7をパラメータ記憶手段6に記憶されているパッケージ2値化レベル13でパッケージ部分が1、それ以外の背景が0となるように2値化し、2値画像309を算出する(ステップf301)。ラベリング手段302において、2値画像309に対してラベリングを行い、ラベル図形310を検出する(ステップf302)。ラベル計測手段303において、ラベル図形310のラベル面積をラベル情報311として計測する(ステップf303)。最大ラベル検出手段304において、最大面積のラベルをIC図形312として検出する(ステップf305)。外周座標検出手段305においてIC図形312の外周座標313と傾きωと重心Gを検出する(ステップf305)。外周座標四辺分割手段306において外周座標313を辺毎に分割し、辺別外周座標314を検出する(ステップf306)。辺別直線検出手段307において辺別直線315を検出する(ステップf307)。パッケージ基準軸算出手段308において、辺別直線315からパッケージ基準軸316を算出する(ステップf308)。
【0015】
次に、図12のフローチャートおよび動作説明図である図5ないし図13を参照して図11の四辺分割処理フロー(ステップf306)の動作について詳細に説明する。図5(a)に示すように、IC図形の外周座標313をIC図形312の傾きωをもとに回転補正手段3601でICの傾きが0になるようにIC図形の重心Gを回転中心としてIC図形の傾きωと同じ回転角で回転補正をかけ補正済み外周座標3606を算出する(ステップf3601)。外接四角形検出手段3602を用いて補正済み外周座標3606の外接四角形頂点座標3607を算出する(ステップf3612(ステップf3602、ステップf3603、ステップf3604、ステップf3605))。すなわち、最小のX座標Xminを計算し(ステップf3602)、最大のX座標Xmaxを計算し(ステップf3603)、最小のY座標Yminを計算し(ステップf3604)、最大のY座標Ymaxを計算する(ステップf3605)。次に、辺別有効領域作成手段3603を使用して、図13または図5(b)に示すように、外接四角形頂点座標3607から辺別有効領域3608を作成する(ステップf3613(ステップf3606、ステップf3607、ステップf3608、ステップf3609))。すなわち、(Xmin,Ymin)−(Xmax,Ymin)で結ばれる直線を基準としてICの内側に向かってY方向に幅W、X方向に2点から幅Dずつ削除した上辺有効領域3608aを作成し(ステップf3606)、(Xmin,Ymax)−(Xmax,Ymax)で結ばれる直線を基準としてICの内側に向かってY方向に幅W、X方向に2点から幅Dずつ削除した下辺有効領域3608bを作成し(ステップf3607)、(Xmin,Ymin)−(Xmin,Ymax)で結ばれる直線を基準としてICの内側に向かってX方向に幅W、Y方向に2点から幅Dずつ削除した左辺有効領域3608cを作成し(ステップf3608)、(Xmax,Ymin)−(Xmax,Ymax)で結ばれる直線を基準としてICの内側に向かってX方向に幅W、Y方向に2点から幅Dずつ削除した右辺有効領域3608dを作成する(ステップf3609)。次に、辺別有効領域回転手段3604を使用して、辺別有効領域3608をICの傾きωに合わせてICの重心Gを回転中心として傾きωの角度だけ回転させ(ステップf3601における回転と逆方向)補正済み辺別有効領域3609を算出する(ステップf3610)。最後に、外周座標選別手段3605を使用して、 外周座標313の中で補正済み辺別有効領域3609に含まれる辺別外周座標314を検出する(ステップf3611)。
【0016】
次に、図14のフローチャートを参照して図11の辺別直線算出フロー(ステップf307)の動作について詳細に説明する。上辺直線検出手段3701、下辺直線検出手段3702、左辺直線検出手段3703、右辺直線検出手段3704を使用して、辺別直線を算出する(図6参照)。まず、辺カウントを初期化して0とする(ステップf3701)。辺カウントに対応した辺の辺別直線を辺別外周座標314をもとに最小二乗法を使用して近似直線を算出する(ステップf3702)。四辺の場合、辺カウントは0、1、2、3になる。例えば、0を上辺、1を下辺、2を左辺、3を右辺とした場合、辺カウント0では辺別直線(上辺)3705、辺カウント1では辺別直線(下辺)3706、辺カウント2では辺別直線(左辺)3707、辺カウント3では辺別直線(右辺)3708を検出する。次に、辺カウントを1加算する(ステップf3703)。辺カウントが最大辺数(4辺)より小であればステップf3702に進み、最大辺数以上であればこのフローを終える(ステップf3704)。
【0017】
次に、図15のフローチャートおよび動作説明図である図16を参照して図11のパッケージ基準軸算出フロー(ステップf308)の動作について詳細に説明する。図16に示すように、X中線算出手段3801を使用して、まず、X方向の向い合う上辺の辺別直線3705と下辺の辺別直線3706からX方向のX中線3805を算出する(ステップf3801)。次に、Y中線算出手段3802を使用して、Y方向の向い合う左辺の辺別直線3707と右辺の辺別直線3708からY中線3806を算出する(ステップf3802)。補正角算出手段3803を使用して、X中線3805、Y中線3806のなす角αを算出し、補正角β3807(=(90−α)/2)を算出する(ステップf3803)。次に回転補正手段3804を使用して、2直線の交点を回転中心として、2直線が直交するようにX、Yの中線を等しい角度β3807だけ反対方向に回転させパッケージ基準軸316(X方向パッケージ基準軸316a、Y方向パッケージ基準軸316b)を算出する(ステップf3804)。
【0018】
次に、図17のフローチャートおよび動作説明図である図18を参照して図7の最外周ボール座標検査フロー(ステップf4)の動作について詳細に説明する。最外周ボール検出手段4を使用して、図18に示すように、ボール座標101aと辺別直線3705〜3708から、辺別直線(上辺)3705に最も近いボールをY方向最突出ボールとして検出する(ステップf401)。そして、Y方向最突出ボールのX座標を固定としてパッケージ上辺直線までの距離Zdを算出する(ステップf402)。次に、辺別直線(左辺)3707に最も近いボールをX方向最突出ボールとして検出する(ステップf403)。そして、X方向最突出ボールのY座標を固定としてパッケージ左辺直線までの距離Zeを算出する(ステップf404)。得られたZdが最外周ボール許容値範囲内であればZd合格としてステップf406に進み、それ以外であればZd不合格としてステップf407に進む(ステップf405)。Zdが合格のとき、ステップf406において、Zeが最外周ボール許容値範囲内であれば合格となり(ステップf408)、それ以外であれば、最外Ze不合格と判定する(ステップf407)。以上説明したように、本実施の形態によれば、パッケージの外形情報とボールの位置情報を利用して、パッケージとボールの相対的な位置関係を定量的に検出することができる。ボール位置検出手段では、ボールの位置を画像空間上の座標として検出し、ボール座標から縦・横の列毎に、最小二乗法により近似直線を算出し、縦方向、横方向別に平均線を算出することで、ボールの位置ずれを最小限に抑えながらも、ボールの配置を考慮したボール基準軸を検出することができる。さらに、外周座標四辺分割手段では、辺の分類があいまいとなるパッケージの四隅の座標をのぞきながら、パッケージ外周を辺別に分割することで、辺別直線の検出を簡単にすることができる。さらに、辺別直線検出手段では、突起や欠けを含む辺別外周座標を最小二乗法により直線近似することにより、突起や欠けの影響を最小限に抑えながら、辺の形状の大きな傾向を考慮した辺別直線を検出することができる。さらに、パッケージ基準軸算出手段では、四本の辺別直線の向い合う2辺の中線を算出し使用することにより、X方向、Y方向の両辺の形状を考慮したパッケージ基準軸を算出することができる。さらに、最外周ボール検出手段では、ボール基準軸上でのボールと上辺直線にもっとも近いボール座標との距離、左辺直線にもっとも近いボール座標との距離を算出することで、パッケージ外形に対するボール配置を定量的に検出できる。
【0019】
[第2の実施の形態]
図1からの変更箇所のみを示した図19を参照するに、本発明の第2の実施の形態は、最外周ボール検出手段4の代わりに、辺別外周座標と辺別直線とパッケージ基準軸の情報を持つパッケージ外形情報9からパッケージの長さ、幅4103を検出する長さ/幅検出手段4101を有し、最外周ボール判定手段5の代わりに、長さ、幅4103をパラメータ記憶手段6に記憶されているパッケージ許容値15(長さ/幅許容値)により良否判定する長さ/幅判定手段4102を有する。
【0020】
図20のフローチャートおよび図21の動作説明図を参照して本発明の第2の実施の形態の動作について詳細に説明する。図21に示すように、まず、長さ/幅検出手段4101を使用して、X方向パッケージ基準軸316aを挟んで、上辺方向または下辺方向にある辺別外周座標314まで距離が最大となる距離を算出し、これらの距離を加算して長さDを算出する(ステップf4101)。同様にして、長さ/幅検出手段4101を使用して、Y方向パッケージ基準軸316bを挟んで、左辺方向または右辺方向にある辺別外周座標314までの距離が最大となる距離を算出し、これらの距離を加算して幅Eを算出する(ステップf4102)。次に、長さ/幅判定手段4102を使用して、長さDが長さ/幅許容値範囲内であれば、長さD合格と判定してステップf4104に進み、それ以外であれば不合格と判定してステップf4105へ進む(ステップf4103)。同様にして、長さDが合格のとき、幅Eが長さ/幅許容値範囲内であれば合格と判定し(ステップf4106)、それ以外であれば不合格と判定する(ステップf4105)。これにより、パッケージ外形の幅と長さを検出することができる。
以上説明したように、本実施の形態によれば、長さ/幅検出手段において、X方向、Y方向のパッケージ基準軸からもっとも遠いパッケージ外周座標を左辺と右辺、上辺と下辺から検出し、パッケージ基準軸からの距離をX方向、Y方向別に加算することにより、パッケージの長さと幅を定量的に安定して検出することができる。
第2の実施の形態では、パッケージ基準軸316から辺別外周座標314までの距離を算出していたが、これに代え外周座標313または辺別直線315までの距離を算出してその距離によりパッケージ外形の幅と長さを検出するようにしてもよい。
【0021】
[第3の実施の形態]
図1からの変更箇所のみを示した図22を参照するに、本発明の第3の実施の形態は、最外周ボール検出手段4の代わりに、パッケージ基準軸316とパッケージの長さ、幅の設計値と許容範囲Vから検査領域を設定し、検査領域内の外周座標313の数をカウントするパッケージ端検出手段4201を有し、最外周ボール判定手段5の代わりに、パッケージ端を表す外周座標数4203をパラメータ記憶手段6に記憶されているパッケージ許容値15(パッケージ端許容値)により良否判定するパッケージ端判定手段4202を有する。
【0022】
図23のフローチャートと動作説明図である図24を参照して本発明の第3の実施の形態について詳細に説明する。図24に示すように、まず、パッケージ端検出手段4201を使用して、X方向パッケージ基準軸316aを中心として両側に、長さ設計値の1/2の距離の位置を中心として幅Vの領域を設定し、次にY方向パッケージ基準軸316bを中心に両側に、幅設計値の1/2の距離の位置を中心として幅Vの領域を設定し、これらの領域で囲まれる領域を検査領域106として作成する(ステップf4201)。次に、検査領域106内にあるパッケージの外周座標313の数をカウントし、全外周座標の割合を算出する(ステップf4202)。次に、パッケージ端判定手段4202を使用して、検査領域内のパッケージ外周座標の割合で表されるパッケージ端許容値の範囲内であればパッケージ端合格とし(ステップf4204)、それ以外であればパッケージ端不合格(ステップf4205)と判定する(ステップf4203)。これにより、パッケージの外周の歪みが設計値からどの程度であるかを定量的に検出し、判定することができる。
【0023】
[第4の実施の形態]
図1からの変更箇所のみを示した図25を参照するに、本発明の第4の実施の形態は、最外周ボール検出手段4の代わりに、ボール基準軸103a、105aとパッケージ基準軸316a、316bがそれぞれパッケージの辺別直線315と交わる点との距離を中心位置4304(PD1、PD2、PE1、PE2)として検出する中心位置検出手段4301を有し、最外周ボール判定手段5の代わりに、中心位置4303をパラメータ記憶手段6に記憶されているパッケージ許容値15(中心位置許容値)により良否判定する中心位置判定手段4302を有する。
【0024】
図26のフローチャートと動作説明図である図27、図28を参照して本発明の第4の実施の形態について詳細に説明する。まず、図27に示すように、中心位置検出手段4301を使用して、Y方向パッケージ基準軸316bとパッケージの辺別直線(上辺)3705との交点PE1を算出する(ステップf4301)。同様に、Y方向パッケージ基準軸316bと辺別直線(下辺)3706との交点PE2を算出する(ステップf4302)。次に、図28に示すように、中心位置検出手段4301を使用して、X方向パッケージ基準軸316aと辺別直線(左辺)3707との交点PD1を算出する(ステップf4303)。同様に、X方向パッケージ基準軸316aと辺別直線(右辺)3708との交点PD2を算出する(ステップf4304)。次に、中心位置判定手段4302を使用して、Y方向のボール基準軸を中心に幅Wの許容範囲を設定する(ステップf4305)。同様に、X方向のボール基準軸を中心に幅Wの許容範囲を設定する(ステップf4306)。PE1、PE2がY方向許容範囲内にあり、PD1、PD2がX方向許容範囲W/2内にあればパッケージ中心位置判定は合格(ステップf4308)とし、それ以外であれば、パッケージ位置判定は不合格(ステップf4309)と判定する(ステップf4307)。これにより、パッケージに対するボール搭載位置を検出し、判定することができる。
以上説明したように、本実施の形態によれば、中心位置検出手段において、パッケージの下辺直線、上辺直線とY方向のパッケージ基準軸が交差する点を算出して、Y方向のボール基準軸との距離を算出し、同様に、パッケージの左辺直線、右辺直線とX方向のパッケージ基準軸が交差する点を算出して、X方向のボール基準軸との距離を算出する。これによりパッケージに対するボールの配置の傾きを定量的に検出することができる。
【0025】
[第5の実施の形態]
図1からの変更箇所のみを示した図29を参照するに、本発明の第5の実施の形態は、最外周ボール検出手段4の代わりに、ボール位置情報8とパッケージ外形情報9からボールの外形基準位置度4403を算出する外形基準位置度検出手段4401を有し、最外周ボール判定手段5の代わりに、外形基準位置度4403がパラメータ記憶手段6に記憶されているパッケージ許容値15(外形基準位置度許容値)により良否判定を行い、外形基準位置度判定結果4404を出力する外形位置度判定手段4402を有する。
図30のフローチャートと動作説明図である図31を参照して本発明の第5の実施の形態について詳細に説明する。まず、外形基準位置度検出手段4401を使用して、パッケージ上のボールの設計上の理想座標を算出する(ステップf4401)。全てのボール座標に対して理想座標からみた実測座標との差を計算する(ステップf4402)。外形基準位置度判定手段4402を使用して、全てのボールの差である外形基準位置度4403がパラメータ記憶手段6に記憶されている外形基準位置度許容値(15)の範囲内であれば、外形基準位置度判定は合格とし(ステップf4404)、それ以外であれば、外形位置度判定不合格(ステップf4405)と判定する(ステップf4403)。
ここで、図31(a)に示すように、パッケージ上での設計上のボール理想座標108は、製品データのパッケージ長(LX、LY)と、パッケージ端と最近傍ボール中心座標との距離(BX、BY)、パッケージ基準軸中心座標107(CX、CY)から基準となる左上ボールの中心座標を、X=CX−LX/2+BX、Y=CY−LY/2+BY、と算出し、この値とX方向・Y方向のピッチとボールの配置から、全ボールの理想座標を算出する。そして、図31(b)に示すように、ボール理想座標108からみた実際のボール座標101aの差をパッケージ外形基準位置度として算出する。
以上説明したように、本実施の形態によれば、外形基準位置度検出手段において、パッケージ基準軸上の設計上でのボールの理想座標を算出し、理想座標からみた実際のボール座標との差を算出することにより、パッケージに対する個々のボールの位置ずれを定量的に検出することができる。
【0026】
[第6の実施の形態]
図1からの変更箇所のみを示した図32を参照するに、本発明の第6の実施の形態は、パッケージ外形検出手段3と最外周ボール検出手段4と最外周ボール判定手段5の代わりに、予めパラメータ記憶手段6に記憶されているテンプレート画像4511と最も相関値が高い位置を検索するサーチ領域4506を原画像7に対して辺毎に設定する領域設定手段4501と、辺毎に複数設定したサーチ領域からテンプレート画像4511ともっとも相関値が高い座標を辺別パッケージ端座標4507としてパターンマッチング処理により検出するパッケージ端検出手段4502と、辺毎に複数得られた辺別パッケージ端座標4507を、辺毎に最小二乗法により直線近似して辺別直線4508を算出するパッケージ外周検出手段4503と、辺別直線4508で囲まれる四角形の交点を算出し、辺毎に中点を算出し、向い合う2辺の中点の距離をパッケージの縦、横の外形寸法4509として算出する外形寸法検出手段4505と、外形寸法4509がパラメータ記憶手段6に記憶されているパッケージ許容値15(外形寸法許容値)により良否判定し外形寸法判定結果4510を出力する外形寸法判定手段4505とを有する。
【0027】
図33のフローチャートと動作説明図である図34〜図36を参照して本発明の第6の実施の形態について詳細に説明する。まず、領域設定手段4501を使用して、図34に示すように、ボール位置情報8のボール基準軸の交点をパッケージの中心とみなし、設計上のパッケージ寸法から求められる概算パッケージ端109を含む位置に辺毎に複数のサーチ領域4506を設定する(ステップf4501)。図35に示すように、良品のある一辺(例えば上辺)境界部を含むような矩形領域をテンプレート画像4511として予めパラメータ記憶手段6に登録しておく。サーチ領域4506は、テンプレート画像より大きい面積で、設計上のパッケージ端を含むような矩形領域として設定する。また、テンプレート画像と相関が取れる確率が低いパッケージの四隅を除外領域110として除いた、設計上のパッケージ端を含む位置に設定する。テンプレート画像は、辺毎に設定しても良いが、1個のみ登録しておき下辺および左右辺に対して使用する場合には180度ないし90度回転させて使用するようにしてもよい。
辺カウントを0に初期化する(ステップf4502)。カウントと辺は一対一で対応する。例えば、0が上辺、1が下辺、2が左辺、3が右辺となる。次に、サーチ領域カウントを0に初期化する(ステップf4503)。サーチ領域カウントはサーチ領域毎に処理を移すための制御用変数である。座標カウントを0に初期化する(ステップf4504)。座標カウントは、有効な座標の数を計数するために使用する。次に、パッケージ端検出手段4502を使用して、辺毎に複数設定されたサーチ領域毎にパターンマッチング処理を施し、相関値がもっとも高い座標値を、図35に示すように、サーチ領域毎のパッケージ端座標4507aとする(ステップf4505)。パッケージ端として出力する座標値の決定の仕方としては、テンプレート画像中に予め定めておいた座標により決定する方法や、取得した領域内でパッケージ端に垂直な方向で、最も濃度差が大きい部分とする方法などがある。次に、相関値がパラメータ記憶手段6に記憶されている相関許容範囲(15)内にあれば、ステップf4507に進み、有効な座標として座標カウントを1加算し(ステップf4507)、それ以外であれば、そのサーチ領域ではパッケージ端は無いと判断してステップ4508に進む(ステップf4506)。サーチ領域カウントを1加算する(ステップf4508)。サーチ領域カウントがサーチ領域の最大サーチ領域数(例えば4)未満であればステップf4505に進み、サーチ領域の最大サーチ領域数以上であれば、ステップf4510に進む(ステップf4509)。次に、座標カウントが座標カウント最小数(例えば3)未満であれば、直線近似不可能としてステップf4518に進み、座標カウント最小数以上であればステップf4511に進む(ステップf4510)。
【0028】
次に、パッケージ寸法検出手段4504により辺別パッケージ端座標4507から最小二乗法により直線近似を行い、図36に示すように、辺別直線4508を算出する(ステップf4511)。次に、辺カウントを1加算する(ステップf4512)。辺カウントが最大辺数(ここでは4)未満であれば、ステップf4503に進み、最大辺数以上であれば、ステップf4514に進む(ステップf4513)。次に4本の辺別直線の交点を算出する(ステップf4514)。各辺の中点を算出し、向い合う2組の辺の中点間の距離を算出し、パッケージ外形寸法4509を算出する(ステップf4515)。外形寸法4509が外形寸法許容値(15)範囲内であれば、外形寸法判定合格(ステップf4517)となり、それ以外は外形寸法判定不合格(ステップf4518)となる(ステップf4516)。
これにより、パッケージも背景も模様の無い濃淡でありながら、濃淡差があまりなく、2値化による背景との分離が容易でない場合も、パッケージ端を検出できるため、パッケージ寸法を検出し、判定することができる。
なお、本実施の形態において用いたパッケージ端座標を求める手法を、他の実施の形態において2値化レベルを用いる手法に代えて採用してもよい。
【0029】
[第7の実施の形態]
図37を参照するに、本発明の第7の実施の形態は、パッケージ外形検出手段3に微分手段317を有する点で第1〜第5の実施の形態と異なる。微分手段317は、原画像7を微分オペレータを作用させて微分し微分画像318を出力する。例えばスポンジのような、ざらざらとした一様な模様をもった背景の場合、2値化だけでは背景とパッケージの分離が困難なことがあるが、微分することにより、背景とパッケージの違いが強調され、分離が容易となる。
【0030】
[第8の実施の形態]
図38は、本発明の第8の実施の形態のボール基準軸の算出方法を示すフローチャートである。図38と動作説明図である図39を参照して本発明の第8の実施の形態について詳細に説明する。まず、図39に示すように、すべてのボール101の座標からX方向の近似直線111を算出する(ステップf4601)。次に、全てのボール101の座標からY方向の近似直線112を算出する(ステップf4602)。これらX、Y方向の近似直線がなす角αを算出する(ステップf4603)。2直線が直交するように、補正角β=(90°―α)/2を算出し、2直線の交点を原点として、原点を中心にβずつ等しく反対方向に回転させて、X方向ボール基準軸111a、Y方向ボール基準軸112aを算出する(ステップf4603)。ボール基準軸算出の際に、列毎に近似直線を算出せず、すべてのボール座標を使用することから、ボールのレイアウトがばらばら(例えば、ある列でボールが一つしかなくて孤立している場合など)であってもボール基準軸を算出することができる。
これら、実施例およびその他の実施例をいくつか組み合わせ、判定結果を総合判定する構成も可能である。また、実施例およびその他の実施例については、便宜上BGAを対象に記述しているが、ボールをランドと読み替えることで、LGAにも適用が可能である。
【0031】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のIC外形検査方法は、ボール位置を原画像と2値化レベルとの比較によって得、これに基づいてボール基準軸を算出し、さらにパッケージ外形検出手段によってパッケージ外形情報を得るものであるので、パッケージとボールの相対的な位置関係を定量的に検出することができる。また、ドットの分布を微分することによってボールの配列の近似直線を得るものではないので、2値化画像のドットが直線的に分布していなくてもボール配列の近似直線やボール基準軸を算出することができる。
また、本発明の他のIC外形検査方法は、原画像とテンプレート画像とのパターンマッチングにより、パッケージ端座標を得るものであるので、背景とパッケージの濃淡差が少なく、2値化レベルを使用した安定した2値化が困難な場合でも、パッケージ端の座標を安定して算出することができる。
【0032】
また、外周座標四辺分割手段を用いることにより、辺の分類があいまいとなるパッケージの四隅の座標を除くことができ、近似直線の算出を簡単に精度よく行なうことが可能になる。また、辺別直線検出手段を用いることにより、突起や欠けを含む辺別外周座標を最小二乗法により直線近似して、突起や欠けの影響を最小限に抑えつつ、辺の大きな形状の傾向を考慮した辺別直線を検出することができる。さらに、原画像に対して微分処理を施すことにより、パッケージの背景がスポンジなどの一様なざらざらとした模様で、安定した2値化が困難な場合でも、背景とパッケージの差を強調することができ、2値化を容易にし、安定してパッケージ外周を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態の構成を示すブロック図。
【図2】 図1のボール位置検出手段の構成を示すブロック図。
【図3】 図1のパッケージ外形検出手段の構成を示すブロック図。
【図4】 図3の四辺分割手段の構成を示すブロック図。
【図5】 図3の四辺分割手段の動作を説明する模式図。
【図6】 図3の辺別直線検出手段とパッケージ基準軸算出手段の構成を示すブロック図。
【図7】 本発明の第1の実施の形態の動作を示す流れ図。
【図8】 図7のボール位置検出処理の動作を示す流れ図。
【図9】 図8のボール基準軸算出処理の動作を示す流れ図。
【図10】 図2のボール基準軸算出手段の動作を説明する模式図。
【図11】 図7のパッケージ外形検出処理の動作を示す流れ図。
【図12】 図11の四辺分割処理の動作を示す流れ図。
【図13】 図3の四辺分割手段の動作を詳細に説明する模式図。
【図14】 図11の辺別直線算出処理の動作を示す流れ図。
【図15】 図11のパッケージ基準軸算出処理の動作を示す流れ図。
【図16】 図3のパッケージ基準軸算出手段の動作を説明する模式図。
【図17】 図7の最外周ボール検査処理の動作を示す流れ図。
【図18】 図1の最外周ボール検出手段の動作を説明する模式図。
【図19】 本発明の第2の実施の形態の構成を示すブロック図。
【図20】 本発明の第2の実施の形態の動作を示す流れ図。
【図21】 図19の長さ/幅検出手段の動作を説明する模式図。
【図22】 本発明の第3の実施の形態の構成を示すブロック図。
【図23】 本発明の第3の実施の形態の動作を示す流れ図。
【図24】 図22のパッケージ端検出手段の動作を説明する模式図。
【図25】 本発明の第4の実施の形態の構成を示すブロック図。
【図26】 本発明の第4の実施の形態の動作を示す流れ図。
【図27】 図25の中心位置検出手段の動作を説明する模式図。
【図28】 図25の中心位置検出手段の動作を説明する模式図。
【図29】 本発明の第5の実施の形態の構成を示すブロック図。
【図30】 本発明の第5の実施の形態の動作を示す流れ図。
【図31】 本発明の第5の実施の形態の動作を説明する模式図。
【図32】 本発明の第6の実施の形態の構成を示すブロック図。
【図33】 本発明の第6の実施の形態の動作を示す流れ図。
【図34】 図32の領域設定手段の動作を説明する模式図。
【図35】 図32のパッケージ端検出手段の動作を説明する模式図。
【図36】 図32のパッケージ外周検出手段の動作を説明する模式図。
【図37】 本発明の第6の実施の形態の構成を示すブロック図。
【図38】 本発明の第7の実施例の動作を示す流れ図。
【図39】 本発明の第7の実施例の動作を説明する模式図。
【符号の説明】
1 原画像記憶手段
2 ボール位置検出手段
3 パッケージ外形検出手段
4 最外周ボール検出手段
5 最外周ボール判定手段
6 パラメータ記憶手段
7 原画像
8 ボール位置情報(ボール座標、ボール基準軸)
9 パッケージ外形情報(外周座標、辺別外周座標、辺別直線、パッケージ基準軸)
10 距離(Zd、Ze)
11 ボール2値化レベル
12 ラベル面積除外範囲
13 パッケージ2値化レベル
14 有効範囲、削除範囲
15 パッケージ許容値(Zd、Ze許容値、長さ/幅許容値、パッケージ端許容値、中心位置許容値、外形基準位置度許容値、外形寸法許容値)
16 最外周ボール判定結果
101 ボール
101a ボール座標
102、104、111,112 近似直線
103 X方向平均直線
103a、111a X方向ボール基準軸
105 Y方向平均直線
105a、112a Y方向ボール基準軸
106 パッケージ外形端検査領域
107 パッケージ基準軸中心座標
108 ボール理想座標
141 テンプレート画像
109 概算パッケージ端
143 サーチ領域
110 除外領域
201 ボール2値化手段
202 ラベリング手段
203 ラベル計測手段
204 過小・過大ラベル除去手段
205 ボール計測手段
206 ボール基準軸算出手段
207 ボール2値画像
208 ラベル図形
209 ラベル情報
210 ボール図形
211 ボール情報(ボール数、ボール座標、ボール基準軸)
301 パッケージ2値化手段
302 ラベリング手段
303 ラベル計測手段
304 最大ラベル検出手段
305 外周座標検出手段
306 外周座標四辺分割手段
307 辺別直線検出手段
308 パッケージ基準軸算出手段
309 2値画像
310 ラベル図形
311 ラベル情報
312 IC図形
313 外周座標
314 辺別外周座標
315 辺別直線
316 パッケージ基準軸
316a X方向パッケージ基準軸
316b Y方向パッケージ基準軸
317 微分手段
318 微分画像
3601 回転補正手段
3602 外接四角形検出手段
3603 辺別有効領域作成手段
3604 辺別有効領域回転手段
3605 外周座標選別手段
3606 補正済み外周座標
3607 外接四角形頂点座標
3608 辺別有効領域
3608a 上辺有効領域
3608b 下辺有効領域
3608c 左辺有効領域
3608d 右辺有効領域
3609 補正済み辺別有効領域
3701 上辺直線検出手段
3702 下辺直線検出手段
3703 左辺直線検出手段
3704 右辺直線検出手段
3705 辺別直線(上辺)
3706 辺別直線(下辺)
3707 辺別直線(左辺)
3708 辺別直線(右辺)
3801 X中線算出手段
3802 Y中線算出手段
3803 補正角算出手段
3804 回転補正手段
3805 X中線
3806 Y中線
3807 補正角β
4101 長さ/幅検出手段
4102 長さ/幅判定手段
4103 長さ、幅
4104 長さ/幅判定結果
4201 パッケージ端検出手段
4202 パッケージ端判定手段
4203 パッケージ端
4204 パッケージ端判定結果
4301 中心位置検出手段
4302 中心位置判定手段
4303 中心位置
4304 中心位置判定結果
4401 パッケージ基準軸位置度検出手段
4402 パッケージ基準軸位置度判定手段
4403 外形基準位置度
4404 外形基準位置度判定結果
4501 領域設定手段
4502 パッケージ端検出手段
4503 パッケージ外周検出手段
4504 パッケージ寸法検出手段
4505 外形寸法判定手段
4506 サーチ領域
4507 辺別パッケージ端座標
4507a パッケージ端座標
4508 辺別直線
4509 外形寸法
4510 外形寸法判定結果
4511 テンプレート画像

Claims (9)

  1. 原画像と予め記憶された外部端子2値化レベルを用いて外部端子位置を算出する過程と、算出された外部端子位置から求められるX方向およびY方向の外部端子中心線に基づいて外部端子基準軸を算出する過程と、X方向およびY方向の外部端子基準軸の交点とパッケージ設計パターンとから概算パッケージ外周を算出する過程と、前記概算パッケージ外周上を含むように各辺毎に複数のサーチ領域を設定する過程と、予め記憶されたテンプレートと前記サーチ領域における原画像とのパターンマッチングを行って最大相関個所をパッケージ四辺の外周座標として求める過程と、前記パッケージの外周座標に基づいて四辺の辺別直線を算出する過程と、2本のX方向辺別直線の中点間の距離をパッケージ幅として、2本のY方向辺別直線の中点間の距離をパッケージ長として求める過程と、求められたパッケージ幅およびパッケージ長が予め定められた範囲内にあるかを検証する過程と、を有することを特徴とするIC外観検査方法。
  2. 原画像と予め記憶された外部端子2値化レベルを用いて外部端子位置を算出する過程と、算出された外部端子位置から求められるX方向およびY方向の外部端子中心線に基づいて外部端子基準軸を算出する過程と、2本の前記外部端子基準軸の交点とパッケージ設計パターンに基づいて概算パッケージ外周を求める過程と、前記概算パッケージ外周上を含むように各辺毎に複数のサーチ領域を設定する過程と、予め記憶されたテンプレートと前記サーチ領域における原画像とのパターンマッチングを行って最大相関個所をパッケージの外周座標として求める過程と、前記外周座標から最小二乗法により各辺毎に辺別直線を求める過程と、を有することを特徴とするIC外観検査方法。
  3. 四つの辺別直線から求められるX方向およびY方向のパッケージ中心線に基づいてパッケージ基準軸を算出する過程が付加されることを特徴とする請求項2に記載のIC外観検査方法。
  4. X方向のパッケージ基準軸から二つのX方向の辺の座標または辺の座標から求められる辺別直線までの最遠距離の和Dを求める過程と、Y方向のパッケージ基準軸から二つのY方向の辺の座標または辺の座標から求められる辺別直線までの最遠距離の和Eを求める過程と、距離の和DおよびEが予め定められた範囲内にあるかを検証する過程と、を有することを特徴とする請求項記載のIC外観検査方法。
  5. X方向のパッケージ基準軸までの距離がD/2±V/2である第1の領域(但し、Dはパッケージ幅の設計値、Vは領域幅を定める定数)、X方向のパッケージ基準軸までの距離が−D/2±V/2である第2の領域、Y方向のパッケージ基準軸までの距離がE/2±V/2である第3の領域(但し、Eはパッケージ長の設計値)、Y方向のパッケージ基準軸までの距離が−E/2±V/2である第4の領域、によって構成される環状領域を設定する過程と、前記環状領域内に存在する前記パッケージの四辺の座標を計数する過程と、前過程にて得られた計数値が予め定められた範囲内にあるかを検証する過程と、を有することを特徴とする請求項記載のIC外観検査方法。
  6. 前記パッケージ中心線に基づいて前記パッケージ基準軸を算出する過程は、2本のパッケージ中心線の交角が90度になるように2本のパッケージ中心線を交点を中心として同じ角度互いに逆方向に回転させる過程とであることを特徴とする請求項記載のIC外観検査方法。
  7. 前記外周座標に基づいて前記辺別直線を算出する過程においては、パッケージ四隅の外周座標を除外して前記辺別直線を算出することを特徴とする請求項1〜のいずれかに記載のIC外観検査方法。
  8. 前記外周座標に基づいて前記辺別直線を算出する過程においては、パッケージ四隅の外周座標を除外するのに先立ってパッケージの傾きに対する補正を行い、辺別直線の算出に先立ってパッケージの傾きを元に戻すことを特徴とする請求項記載のIC外観検査方法。
  9. 前記外部端子中心線に基づいて前記外部端子基準軸を算出する過程は、2本の外部端子中心線の交角が90度になるように2本の外部端子中心線を交点を中心として同じ角度互いに逆方向に回転させる過程とであることを特徴とする請求項1記載のIC外観検査方法。
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