JP4829887B2 - 画像および/または電子エネルギー損失スペクトルを得るためのデバイス - Google Patents
画像および/または電子エネルギー損失スペクトルを得るためのデバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP4829887B2 JP4829887B2 JP2007524336A JP2007524336A JP4829887B2 JP 4829887 B2 JP4829887 B2 JP 4829887B2 JP 2007524336 A JP2007524336 A JP 2007524336A JP 2007524336 A JP2007524336 A JP 2007524336A JP 4829887 B2 JP4829887 B2 JP 4829887B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photosensitive
- image sensor
- image
- spectrum
- reading
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/244—Detectors; Associated components or circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/252—Tubes for spot-analysing by electron or ion beams; Microanalysers
- H01J37/256—Tubes for spot-analysing by electron or ion beams; Microanalysers using scanning beams
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/25—Tubes for localised analysis using electron or ion beams
- H01J2237/2505—Tubes for localised analysis using electron or ion beams characterised by their application
- H01J2237/2516—Secondary particles mass or energy spectrometry
- H01J2237/2522—Secondary particles mass or energy spectrometry of electrons (ESCA, XPS)
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Electric Double-Layer Capacitors Or The Like (AREA)
- Prostheses (AREA)
- Vehicle Body Suspensions (AREA)
Description
上記特徴を備えることによって、広範に異なる強度を有するスペクトルの部分を、露光時間中感知することができる。
特定する特徴によれば、読取手段が、まず感光部分のライン毎に読取りを行い、次に、読取り前に感光部分の感光個所から電荷の蓄積を実行するように構成されている。
特定する特徴によれば、概略的にこれまでに説明したデバイスが、ライン毎に読取られた部分の異なるラインに対応する信号の値を加算するように構成された加算手段をさらに備えている。
上記特徴を備えることによって、デバイスのS/N比が、最も遅く読取られる感光ゾーンのために改良されている。
特定する特徴によれば、概略的にこれまでに説明したデバイスが、画像センサーの少なくとも二つの感光部分を交互に露光する機能を果たす各偏向器の配置中、スペクトルを偏向器から外して移動させるように構成された高速ブランキング偏向器をさらに備えている。
特定する特徴によれば、概略的にこれまでに説明したデバイスが、少なくとも一つのレンズを備えている光学転送手段をさらに備えている。
本発明の他の利点、目的および特徴は、限定しない説明と添付図面を参照することによって与えられた以下の説明を参照することで理解される。
高速モードにおける操作はゼロ露光時間で1秒当り42(「HS3」モード)、24(「HS2」モード)および13(「HS1」モード)画像に対応する3操作範囲を含んでいる。このビデオ・モードは顕微鏡を手動操作または自動操作で合焦することができ、また先行技術で使用されるビデオ・カメラとは異なり転位の変位のような高速過渡現象を観察し、記録するために必要とする画像の実時間シーケンスで記録することができる。このモードは「高解像度」時間(以下参照)としての観察の同じフィールドを維持する。読取り率は露光時間を調整することによって適合される。
結果として、これらの条件下で、また、簡単な構造を維持するために、この変換器で画像センサー17を読取るのに使用される周波数は10MHzを超えてはいけない。
水平シフト信号、PhiLに対して:8MHz 62.5ns
加算信号、PhiSに対して:4MHz 187.5ns
リセット信号、PhiRに対して:4MHz 37.5ns
ブロッキング:4MHz 62.5ns
サンプリング:HSx 8MHz 62.5ns
HS3モードにおける画像当りのデータ量:131キロバイト
圧縮せずに利用可能な512メガバイト(RAMの1ギガバイト)を伴うハードディスクを使用せずに実時間で観察する記録時間:215s
画像シーケンス・ショットに対して、図3で与えられた時間図は先行例と同じである。水平ビニングが計算ユニット32によるデジタル的加算によって実行される。
利用可能な512メガバイト(RAMの1ギガバイト)を伴うハードディスクを使用せずに実時間で観察する記録時間:54s
HS1モードにおける画像当りのデータ量:2048キロバイト
利用可能な512メガバイト(RAMの1ギガバイト)を伴うハードディスクを使用せずに実時間で観察する記録時間:13.5s
ここで説明した実施例において、短時間露光および比較的高い読取り周波数が非マルチ−ピン位相(非MPP)操作(MPPは係数25だけ暗電流を低減することを可能にするCCDアーキテクチャのタイプである)を実行するのが好ましく、読取りレジスターの電位ウエルの最大容量が、HS1 530ke−であり、また−30℃における操作温度で計算された総ノイズが、
HS1:530ke− 48e−
HS2:1060ke− 63e−
HS3:2126ke− 89e−
である。
モードの全てに対して、画像がウインドウ処理できる。高解像度において、ウインドウ外部に配備されたCCDの電荷が高速度で転送される。
以下の説明は電子エネルギー損失スペクトル(EELS)を記録するように戻り、また、静止エネルギー損失スペクトルが想定され、次のシーケンスを必要として捕捉される。すなわち、
1.検出器のリンシング;
2.低損失ゾーンに対する露光(LL露光);
3.低損失ゾーンの読取り;
4.コア損失ゾーン(CL露光)に対する露光;および
5.コア損失ゾーンの読取り;
である。
図に示した実施例において、スペクトルの有効な、すなわち、作動高さは3.5mmに達し、また従って画像センサー17の250ラインを占有する。これは実際において2080ラインとなり、最も近い約数は260画素となる。従って、画像センサー17は、図5Bに示したように、垂直に8領域に副分割される。この副分割は、エネルギー分散しない方向にあるスペクトルの寸法に依存し、このパラメータの関数として最適化されなければならない。
・14×14μmの画素;
・1ラインの垂直転送に対する垂直転送時間、Ttvlは6μs;
・レジスターを読取る最大読取り周波数は8MHz、また読取りノイズを減じるためにLLを読取るために低くすることができる。
TII=1054*1/FI
である。ここで、FIは読取り周波数である。
a)コア損失(CL)ゾーンからの転送に対して:
N=8(CCDを8ゾーンに副分割)
スペクトルの高さ:3.640mm
NI=2080/N=2080/8=260
CLの転送に対する転送時間は:
TtCL=2080/N*Ttvl=260*0.006=1.560ms
である。
b)LLの露光時間は:
TpLL=TtCL=1.560ms
である。
a)低損失(LL)ゾーンの読取りに対して:
TILL=TII*NI+NI*Ttvl
ここで、FI=8MHzであり、
TILL=1054*(1/8*106)*260+260*6*10−6
TILL=35.813ms
である。
b)先行スペクトルのコア損失(CL)ゾーンの読取りに対して、値に対するノイズの読みができるだけ低くなるように低減できるように、適切な周波数を選択することが推奨される:
FICL=1054/TILL=29.43*103
TICL=1054/FICL=35.815ms
である。
c)コア損失(CL)ゾーンの露光に対して
a)とb)を選択すると、
TpCL=35.815ms
別のまたは好ましくはより高い利得、例えば、LL読取りチャネルに印加される利得よりも4倍高い利得がCL読取りチャネルに印加されるのが好ましい。従って、S/N比が改善される。電位ウエルの深さは132.5ke−、すなわち、Gaがこの比にある。このデータで、次にダイナミック・レンジの利得を計算できる。
Gd=35.815/1.560*260*4=23877
本実施例による本発明のデバイスのダイナミック・レンジは、次式に等しい。
ここで、Dgは全体のダイナミック・レンジであり、Dcは画像センサー17のダイナミック・レンジであり、またその関連電子は、
Dc=CHmaxCL/NoiseCL=132.5*103/5=26500
Dg=23877*26500=0.633*109
である。
1.ゾーン49と50に対する露光時間の比、
2.ゾーン49と50に関連するライン数の比、
3.ゾーン50と49の利得の比。
Te=(TpLL+TpCL)*64*64=153.1(s)
画像センサー17が20のスペクトル、N=20を含んでいるとき、104ラインのブロックがここで選択される。必然的にスペクトルの高さを適用することが必要となる。スペクトルは、スペクトロメータに関連するレンズの電流を調整すること、またはスペクトロメータのアウトレットにおけるビームを絞ることによって1.456mmに制限される。次に、時間は次のようになる。
a)コア損失(CL)ゾーンの転換:
TtCL=TpLL=0.624ms
b)低損失(LL)ゾーンの読取り:
TILL=TICL=TpCL=14.326ms
ここで、FICL=73kHzである。
Gd=13.702/0.624*104*4=9135
Dg=Gd*Dc
Dg=2.42*108
これらの条件下で、128×128ポイントの画像スペクトルを捕捉するための捕捉時間は:
Te=14.326*128*128=234.7(s)
となる。
本発明は1秒当り700スペクトルまで、すなわち、先行技術のデバイスで得られる数の7倍を得ることができることが観察できる。
本発明は単一の拡散スペクトルへのアクセスにも適用する。再度、全スペクトルの知識が、フーリエ・ログ式またはフーリエ比式のいずれかの計算によって、単一拡散スペクトルにアクセスすることを可能にする。サンプルのローカル厚みへのアクセスに加えて、この処理は基準的なスペクトルの量化へのアクセス開始になる。多数の分散が、非直線式にエネルギー損失閾値の形状を変化させ、これが先行技術のツールを使用してデータを量化することを非常に複雑にし、あるいは不可能にさえしている。
Claims (14)
- 画像および/または電子エネルギー損失スペクトルを得るためのデバイスであって、
少なくとも二つの感光部分を有する画像センサー(17)であって、前記少なくとも二つの感光部分の各々は、異なるスペクトルゾーンに対応する画像部分を感知する、前記画像センサー(17)と、
前記画像センサーの少なくとも二つの感光部分を交互に露光するように構成された少なくとも二つの偏向器(48a,48b)を制御するための制御手段(31)と、
前記センサーを読取るための読取手段であって、該画像センサーの各感光部分によって感知された画像部分を表わす信号を発生するように構成された読取手段と、
偏向器と読取手段とを同期化させる同期化手段(31)であって、連続している各感光部分に対して、前記感光部分を露光させ、前記感光部分を露光するのと同時に、別の異なる感光部分を読取らせるように構成された同期化手段と、
それぞれ異なるスペクトルゾーンに対応する二つの画像部分を合成してスペクトルを形成するための合成手段(35)と、
を備えていることを特徴とする画像および/または電子エネルギー損失スペクトルを得るためのデバイス。 - 前記同期化手段(31)が、異なる連続的な露光時間間隔で適用できる異なる露光時間を生じるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載のデバイス。
- 前記同期化手段(31)が、異なる感光ゾーンが異なる読取速度で読み取られるように構成され、設計されていることを特徴とする請求項1または2に記載のデバイス。
- 前記読取手段(17)が、感光部分のライン毎に読取りを行い、読取り前に感光部分の感光個所から電荷の蓄積を実行するように構成されていることを特徴とする請求項3に記載のデバイス。
- ライン毎に、読取られた部分の異なるラインに対応する信号の値を加算するように構成された加算手段をさらに備えていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記画像センサー(17)が、少なくとも一つの感光部分に対してその読取手段が独立している少なくとも二つの部分をさらに備えていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記画像センサーの両方向に画像を移動させるように構成されている二つの偏向器(48a,48b)をさらに備えていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載のデバイス。
- 高速ブランキング偏向器(60)であって、前記画像センサーの少なくとも二つの感光部分を交互に露光する機能を果たす各偏向器(48a,48b)の配置中、スペクトルを偏向器(60)から外して移動させるように構成された高速ブランキング偏向器をさらに備えていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載のデバイス。
- エネルギー分散方向にあるスペクトルに作用する偏向器(48a)は静電タイプであり、高基準電圧から接地まで瞬時に切り替え可能な電子スイッチによって電位を変化させることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記偏向器(48a,48b)は、画像センサー(17)を両方向に画像を移動させるように構成されていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか一項に記載のデバイス。
- 少なくとも一つの偏向器(48b)が、磁気タイプであることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載のデバイス。
- 少なくとも一つのレンズを含む光学転送手段をさらに備えていることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記画像センサー(17)の表面に電子エネルギー損失スペクトルを形成するように構成されているスペクトロメータ(12)をさらに備えていることを特徴とする請求項1乃至12のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記センサーの読取手段が、前記画像センサーの二つの感光部分からの信号に異なる利得を与えるように構成されていることを特徴とする請求項1乃至13のいずれか一項に記載のデバイス。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0408633A FR2874124B1 (fr) | 2004-08-04 | 2004-08-04 | Dispositif pour l'acquisition d'images et/ou de spectres de pertes d'energie |
FR0408633 | 2004-08-04 | ||
PCT/EP2005/053745 WO2006013199A1 (fr) | 2004-08-04 | 2005-08-01 | Dispositif pour l’acquisition d'images et/ou de spectres de pertes d’energie d’electrons |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008509510A JP2008509510A (ja) | 2008-03-27 |
JP4829887B2 true JP4829887B2 (ja) | 2011-12-07 |
Family
ID=34947514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007524336A Expired - Fee Related JP4829887B2 (ja) | 2004-08-04 | 2005-08-01 | 画像および/または電子エネルギー損失スペクトルを得るためのデバイス |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7642513B2 (ja) |
EP (1) | EP1787309B1 (ja) |
JP (1) | JP4829887B2 (ja) |
AT (1) | ATE454707T1 (ja) |
DE (1) | DE602005018794D1 (ja) |
FR (1) | FR2874124B1 (ja) |
WO (1) | WO2006013199A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8080791B2 (en) * | 2008-12-12 | 2011-12-20 | Fei Company | X-ray detector for electron microscope |
WO2011071579A2 (en) * | 2009-09-18 | 2011-06-16 | California Institute Of Technology | Photon induced near field electron microscope and biological imaging system |
JP5517584B2 (ja) * | 2009-12-08 | 2014-06-11 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電子顕微鏡 |
EP2383769A1 (en) | 2010-04-28 | 2011-11-02 | Fei Company | Method of using a direct electron detector for a TEM |
US9343275B1 (en) * | 2012-06-06 | 2016-05-17 | Western Digital (Fremont), Llc | Methods for characterizing carbon overcoat |
EP2993682A1 (en) | 2014-09-04 | 2016-03-09 | Fei Company | Method of performing spectroscopy in a transmission charged-particle microscope |
EP2998979A1 (en) | 2014-09-22 | 2016-03-23 | Fei Company | Improved spectroscopy in a transmission charged-particle microscope |
EP3070732A1 (en) | 2015-03-18 | 2016-09-21 | Fei Company | Apparatus and method of performing spectroscopy in a transmission charged-particle microscope |
JP2017143060A (ja) * | 2016-01-20 | 2017-08-17 | ガタン インコーポレイテッドGatan,Inc. | 直接検出センサを用いる電子エネルギー損失分光器 |
CN111095473B (zh) * | 2017-08-04 | 2022-11-18 | 加坦公司 | 用于高速光谱采集的方法 |
EP3564982A1 (en) * | 2018-05-02 | 2019-11-06 | FEI Company | Eels detection technique in an electron microscope |
CA3146827A1 (en) * | 2019-07-10 | 2021-01-14 | Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc. | High framerate and high dynamic range electron microscopy |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10246709A (ja) * | 1997-03-03 | 1998-09-14 | Hitachi Ltd | 透過型電子顕微鏡及び元素分布観察方法 |
JPH1167138A (ja) * | 1997-08-25 | 1999-03-09 | Hitachi Ltd | 微小領域観察装置 |
JPH11108864A (ja) * | 1997-10-02 | 1999-04-23 | Hitachi Ltd | パターン欠陥検査方法および検査装置 |
JP2000113854A (ja) * | 1998-10-05 | 2000-04-21 | Nec Corp | 電子エネルギー損失分光分析装置およびそのスペクトルシフト補正方法 |
JP2001148231A (ja) * | 1999-11-22 | 2001-05-29 | Hitachi Ltd | 多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡 |
JP2003208865A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-07-25 | Leo Elektronenmikroskopie Gmbh | 検出装置および検出方法 |
JP2003329618A (ja) * | 2002-05-13 | 2003-11-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 元素分布観察方法及び装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4831255A (en) * | 1988-02-24 | 1989-05-16 | Gatan, Inc. | Variable-attenuation parallel detector |
JP2759680B2 (ja) * | 1989-07-19 | 1998-05-28 | 株式会社日立製作所 | 分析システム |
JP2004214057A (ja) * | 2003-01-06 | 2004-07-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法 |
-
2004
- 2004-08-04 FR FR0408633A patent/FR2874124B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-08-01 JP JP2007524336A patent/JP4829887B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-08-01 EP EP05776167A patent/EP1787309B1/fr not_active Not-in-force
- 2005-08-01 US US11/659,354 patent/US7642513B2/en active Active
- 2005-08-01 DE DE602005018794T patent/DE602005018794D1/de active Active
- 2005-08-01 AT AT05776167T patent/ATE454707T1/de not_active IP Right Cessation
- 2005-08-01 WO PCT/EP2005/053745 patent/WO2006013199A1/fr active Application Filing
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10246709A (ja) * | 1997-03-03 | 1998-09-14 | Hitachi Ltd | 透過型電子顕微鏡及び元素分布観察方法 |
JPH1167138A (ja) * | 1997-08-25 | 1999-03-09 | Hitachi Ltd | 微小領域観察装置 |
JPH11108864A (ja) * | 1997-10-02 | 1999-04-23 | Hitachi Ltd | パターン欠陥検査方法および検査装置 |
JP2000113854A (ja) * | 1998-10-05 | 2000-04-21 | Nec Corp | 電子エネルギー損失分光分析装置およびそのスペクトルシフト補正方法 |
JP2001148231A (ja) * | 1999-11-22 | 2001-05-29 | Hitachi Ltd | 多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡 |
JP2003208865A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-07-25 | Leo Elektronenmikroskopie Gmbh | 検出装置および検出方法 |
JP2003329618A (ja) * | 2002-05-13 | 2003-11-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 元素分布観察方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008509510A (ja) | 2008-03-27 |
FR2874124B1 (fr) | 2006-10-13 |
FR2874124A1 (fr) | 2006-02-10 |
ATE454707T1 (de) | 2010-01-15 |
DE602005018794D1 (de) | 2010-02-25 |
US20080210863A1 (en) | 2008-09-04 |
EP1787309A1 (fr) | 2007-05-23 |
EP1787309B1 (fr) | 2010-01-06 |
WO2006013199A1 (fr) | 2006-02-09 |
US7642513B2 (en) | 2010-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4829887B2 (ja) | 画像および/または電子エネルギー損失スペクトルを得るためのデバイス | |
US10215865B2 (en) | Hybrid energy conversion and processing detector | |
Degerli et al. | A fast monolithic active pixel sensor with pixel-level reset noise suppression and binary outputs for charged particle detection | |
US10832901B2 (en) | EELS detection technique in an electron microscope | |
JPS60162387A (ja) | 回路動作制御用サーボ機構 | |
Moomaw | Camera technologies for low light imaging: overview and relative advantages | |
Varidel et al. | CCDs as low-energy X-ray detectors: II. Technical aspects | |
Vecchione et al. | A direct electron detector for time-resolved MeV electron microscopy | |
JP4255223B2 (ja) | 相関2重サンプリングタイミング調整装置 | |
US20140034842A1 (en) | Electronic variable gain for x-ray detector | |
CN107242878A (zh) | 放射线成像装置和操作该装置的方法、放射线成像系统 | |
US7157720B2 (en) | Multi-mode charged particle beam device | |
JP2007242252A (ja) | 質量分析装置 | |
Barlett et al. | CCD‐based reflection high‐energy electron diffraction detection and analysis system | |
JP2006284482A (ja) | エネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡 | |
JP2000324400A (ja) | 電子線像撮像装置及び電子顕微鏡 | |
Doering et al. | A 1MPixel fast CCD sensor for X-ray imaging | |
Fan et al. | Multiport-readout frame-transfer 5 megapixel CCD imaging system for TEM applications | |
Finger et al. | Performance evaluation and calibration issues of large format infrared hybrid active pixel sensors used for ground-and space-based astronomy | |
Andresen et al. | A low noise CMOS camera system for 2D resonant inelastic soft X-ray scattering | |
JP7490693B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
Carbone et al. | New low-noise, random access, radiation-resistant and large-format charge-injection device (CID) imagers | |
Wetzel et al. | Design of a high-speed slide imaging system for pathology | |
Mick | Emerging Digital Data Capabilities in Electron Microscopy | |
Basden et al. | A new photon-counting spectrometer for the COAST |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080624 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110329 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110629 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110706 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110727 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110824 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110916 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140922 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4829887 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |