JP4824054B2 - リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
放射ビームを調節する照明システムと、
放射ビームの断面にパターンを付与してパターン付き放射ビームを形成可能なパターニングデバイスを保持するパターニングデバイス支持体と、
基板を保持する基板支持体と、
一つ以上のレンズ素子を内側で支持する投影システムハウジングを有し、前記パターン付き放射ビームを前記基板のターゲット部分に投影する投影システムと、
前記投影システムハウジングに連結されており、かつ、前記一つ以上のレンズ素子のうち少なくとも一つのレンズ素子の固有振動数、および/または前記投影システムハウジングの固有振動数での前記投影システムハウジングの運動を減衰する運動ダンパと、
を備える、リソグラフィ装置が提供される。
前記リソグラフィ装置は、一つ以上のレンズ素子および投影システムハウジングの位置信号を使用する可動ステージコントローラを含む、投影システムハウジングを備え、
前記方法は、前記一つ以上のレンズ素子のうち少なくとも一つのレンズ素子の固有振動数、および/または前記投影システムハウジングの固有振動数での投影システムハウジングの運動を、前記投影システムハウジングに連結された運動ダンパを使用して減衰することを含む、方法が提供される。
投影システムハウジングによって支持される一つ以上のレンズ素子を使用して、パターン付き放射ビームを基板のターゲット部分に投影すること、および、
前記一つ以上のレンズ素子のうち少なくとも一つのレンズ素子の固有振動数、および/または前記投影システムハウジングの固有振動数での前記投影システムハウジングの運動を減衰すること、
を含む、デバイス製造方法が提供される。
放射ビームを調節する照明システムと、
放射ビームの断面にパターン付与してパターン付き放射ビームを形成可能なパターニングデバイスを保持するパターニングデバイス支持体と、
基板を保持する基板支持体と、
一つ以上のレンズ素子を内側に支持する投影システムハウジングを有し、前記パターン付き放射ビームを前記基板のターゲット部分に投影する投影システムと、
前記一つ以上のレンズ素子のうち少なくとも一つのレンズ素子に連結されており、かつ、前記一つ以上のレンズ素子のうちの該少なくとも一つのレンズ素子の固有振動数での運動を減衰させる運動ダンパと、
を備える、リソグラフィ装置が提供される。
Claims (13)
- 放射ビームを調節する照明システムと、
放射ビームの断面にパターンを付与してパターン付き放射ビームを形成可能なパターニングデバイスを保持するパターニングデバイス支持体と、
基板を保持する基板支持体と、
一つ以上の低減衰の実装素子と一つ以上のレンズ素子とをそれぞれ内側で連結することにより、前記一つ以上のレンズ素子を支持する投影システムハウジングを有し、前記パターン付き放射ビームを前記基板のターゲット部分に投影する投影システムと、
前記投影システムハウジングの位置信号を測定する位置センサを有するサーボ制御システムと、
前記投影システムハウジングに連結されており、かつ、前記一つ以上のレンズ素子のうち少なくとも一つのレンズ素子の固有振動数、および/または前記投影システムハウジングの固有振動数での前記投影システムハウジングの運動を減衰する同調質量ダンパと、を備え、
前記サーボ制御システムは、前記位置センサで測定した位置信号を該サーボ制御システムの制御ループに追加することによって、前記基板支持体および/または前記パターニングデバイス支持体を位置決めする、
リソグラフィ装置。 - 前記固有振動数は400〜600Hzの範囲内にある、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記固有振動数は約450Hzである、請求項2に記載のリソグラフィ装置。
- 前記同調質量ダンパは前記投影システムハウジングの外側に配置される、請求項1から3いずれか1項に記載のリソグラフィ装置。
- 前記同調質量ダンパはレンズ冷却装置の少なくとも一部分を備える、請求項1から4いずれか1項に記載のリソグラフィ装置。
- 前記投影システムは一つ以上の同調質量ダンパを備え、各同調質量ダンパは前記一つ以上のレンズ素子のうち一つのレンズ素子に連結する、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- リソグラフィ装置の可動ステージのサーボ性能を改善する方法であって、
前記リソグラフィ装置は、一つ以上のレンズ素子および投影システムハウジングの位置信号を使用する可動ステージコントローラと、一つ以上の低減衰の実装素子と一つ以上のレンズ素子とをそれぞれ内側で連結することにより、前記一つ以上のレンズ素子を支持する投影システムハウジングと、を備え、
前記方法は、前記一つ以上のレンズ素子のうち少なくとも一つのレンズ素子の固有振動数、および/または前記投影システムハウジングの固有振動数での投影システムハウジングの運動を、前記投影システムハウジングに連結された同調質量ダンパを使用して減衰すること、および、
前記投影システムハウジングの位置信号を測定する位置センサを有するサーボ制御システムを使用して、前記位置センサで測定した位置信号を前記サーボ制御システムの制御ループに追加することによって、パターン付き放射ビームをパターン付けするために使用されるパターニングデバイス、および/または基板を位置決めすること、
を含む、方法。 - 前記固有振動数は400〜600Hzの範囲内にある、請求項7に記載の方法。
- 前記固有振動数は約450Hzである、請求項8に記載の方法。
- 一つ以上の低減衰の実装素子と一つ以上のレンズ素子とをそれぞれ投影システムハウジングの内側で連結することによって支持される前記一つ以上のレンズ素子を使用して、パターン付き放射ビームを基板のターゲット部分に投影すること、
同調質量ダンパを使用して、前記一つ以上のレンズ素子のうち少なくとも一つのレンズ素子の固有振動数、および/または前記投影システムハウジングの固有振動数での前記投影システムハウジングの運動を減衰すること、および、
前記投影システムハウジングの位置信号を測定する位置センサを有するサーボ制御システムを使用して、前記位置センサで測定した位置信号を前記サーボ制御システムの制御ループに追加することによって、前記パターン付き放射ビームをパターン付けするために使用されるパターニングデバイス、および/または基板を位置決めすること、
を含む、デバイス製造方法。 - 400〜600Hzの範囲内の固有振動数に同調された同調質量ダンパを使用して前記運動を減衰することを含む、請求項10に記載の方法。
- 放射ビームを調節する照明システムと、
放射ビームの断面にパターン付与してパターン付き放射ビームを形成可能なパターニングデバイスを保持するパターニングデバイス支持体と、
基板を保持する基板支持体と、
一つ以上の低減衰の実装素子と一つ以上のレンズ素子をそれぞれ内側で連結することにより、前記一つ以上のレンズ素子を支持する投影システムハウジングを有し、前記パターン付き放射ビームを前記基板のターゲット部分に投影する投影システムと、
前記投影システムハウジングの位置信号を測定する位置センサを有するサーボ制御システムと、
前記投影システムハウジングの内側に配置され、前記一つ以上のレンズ素子のうち少なくとも一つのレンズ素子に連結されており、かつ、前記一つ以上のレンズ素子のうちの該少なくとも一つのレンズ素子の固有振動数での運動を減衰させる同調質量ダンパと、を備え、
前記サーボ制御システムは、前記位置センサで測定した位置信号を該サーボ制御システムの制御ループに追加することによって、前記基板支持体および/または前記パターニングデバイス支持体を位置決めする、
リソグラフィ装置。 - 前記固有振動数は400〜600Hzの範囲内にある、請求項12に記載のリソグラフィ装置。
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