JP4789131B2 - 太陽電池及び太陽電池の製造方法 - Google Patents

太陽電池及び太陽電池の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4789131B2
JP4789131B2 JP2004054348A JP2004054348A JP4789131B2 JP 4789131 B2 JP4789131 B2 JP 4789131B2 JP 2004054348 A JP2004054348 A JP 2004054348A JP 2004054348 A JP2004054348 A JP 2004054348A JP 4789131 B2 JP4789131 B2 JP 4789131B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
solar cell
antireflection
photoelectric conversion
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004054348A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005244073A (ja
Inventor
卓矢 松井
道雄 近藤
裕之 園部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP2004054348A priority Critical patent/JP4789131B2/ja
Publication of JP2005244073A publication Critical patent/JP2005244073A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4789131B2 publication Critical patent/JP4789131B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Description

本発明は、太陽電池に関し、特に電池特性を向上させる反射防止体構造を有する太陽電池に関する。
太陽光のエネルギーを電気エネルギーに変換する太陽電池が知られている。太陽電池の構造は、大きく分けて2つのタイプのものが知られている。第1のタイプは、一般にサブストレート型太陽電池と呼ばれている。第2のタイプはスーパーストレート型太陽電池と呼ばれている。
サブストレート型太陽電池は、反射電極を製膜した基体上に光電変換層を形成し、その上に透明導電膜を対向電極として形成したもの、または、光電変換機能を有する半導体基体の裏面に反射電極を製膜し、表面に透明導電膜を対向電極として形成したものである。これらは、光入射面が表面の透明導電膜で、基体と反対側であることを特徴としている。表面の透明導電膜には、錫を添加した酸化インジウムや酸化亜鉛を主成分とする材料が用いられる。それらの屈折率は空気と光電変換層(半導体)材料のおよそ中間の値をもつため、透明導電膜が特定の膜厚条件を満たすと、空気/透明導電膜および透明導電膜/光電変換層の界面反射率を、太陽電池量子効率が最大となる波長でほぼ0%(無反射)にすることが可能である。
ただし、このタイプの太陽電池は、屋外の環境で安定した出力が得られるように機能部分を保護する必要がある。そのため、実用には透明電極透明導電膜の表面が、ガラスや樹脂、フィルムなどの透明媒質で封止される。サブストレート型太陽電池にこのような透明媒質を接着させると、結果的に前述したような無反射条件はもはや成り立たず、空気/透明導電膜ならびに透明導電膜/光電変換層界面の反射損失が生じる。これを解決する手段として、特開平11−195801号公報(特許文献1)は、透明導電膜の屈折率や表面形状のフラクタル次元、さらに凹凸の傾斜角度を制御することにより太陽電池の反射率を低減している。
一方、スーパーストレート型太陽電池は、上記とは反対に、ガラスやプラスチックなどの透明基体上に透明導電膜を形成し、その上に光電変換層と裏面反射電極を順に積層したものである。これは、光入射面が透明基体表面であることを特徴としている。この構造の利点は、大面積薄膜太陽電池の集積化が容易で生産性に優れていることである。しかし、光入射材料となる透明基体は空気の屈折率より約1.5倍高い媒質であることから、透明基体/透明導電膜と透明導電膜/光電変換層の界面反射を防止することは、単純なスーパーストレート型構造においては原理的に不可能である。我々の単純な光学計算に基づくと、透明基体/透明導電膜界面での反射損失は3%未満であるのに対し、透明導電膜/光電変換層界面での反射損失は10%以上に及ぶ。透明導電膜/光電変換層界面での反射損失の抑制が求められている。
近年、透明基体/透明導電膜界面の反射を防ぐ技術は多くの発案に基づいて開発されている。たとえば、特開2003−231968号公報(特許文献2)では基体/透明導電膜界面に高屈折率材料と低屈折材料を積層して光学的な干渉効果で反射率を低減する試みが為されている。また、特開2001−48593号公報(特許文献3)では、この界面に連続的に屈折率が遷移する層を設けて反射損失を低減している。このように透明基体/透明導電膜界面の反射を防ぐ試みは多方面で為されており、すでに実用化に至っている。
一方、透明導電膜/光電変換層の界面は太陽電池動作を左右する能動的な役割を果たすため、反射防止構造を設計する上で、反射防止体の屈折率や透明性といった光学特性だけでなく、良好な導電性と界面接合特性を兼ね備えなければならない。鐘淵化学工業株式会社は、特許2939780号公報(特許文献4)に示すように、酸化錫/非晶質(アモルファス)シリコン界面に酸化チタンを屈折率調整層として設置することによりこの界面での反射を低減し、アモルファスシリコン太陽電池の出力電流ならびに変換効率の改善に成功している。これは、酸化チタンの化学組成や不純物濃度、または表面形状の制御により屈折率と導電率を調整し、界面反射率の低減と太陽電池動作に支障のない電流の取り出しに成功した例である。
このように、透明導電膜/光電変換層界面の無反射を実現するためには、透明導電膜材料と光電変換層材料の中間の屈折率をもつ反射防止層を界面に設置することが有効である。しかし、その界面は前述したように太陽電池動作を左右する能動的な役割を果たすため、反射防止材料の設計には屈折率や透明性といった光学特性だけでなく、導電性や界面接合特性を考慮しなければならない。
さらに、スーパーストレート型太陽電池では、光電変換層の製膜プロセスがその下地接合材料に及ぼす影響について注意を払う必要がある。
たとえば、シリコン系薄膜材料の製膜には、モノシラン(SiH)や水素といった原料ガスの高周波プラズマを用いる手法(プラズマ援用化学気層堆積法、プラズマCVD法)が工業的に最も広く用いられている。そのこの手法は、プラズマ中の原子状水素量により、アモルファスシリコンから結晶相とアモルファス相が混在した微結晶シリコン、アモルファス相をほとんど含まない多結晶シリコンに至る幅広い材料制御ができる。しかし、下地となる酸化インジウムや酸化錫といった透明導電膜は、水素を含むプラズマに曝すと容易に還元反応が起こる。その結果、可視−赤外波長領域の透過率が著しく減少することが知られている。すなわち、前記反射防止層を形成する際、このような還元反応を防止することが求められている。
前述の特許2939780号公報にあるように、酸化チタンは透明導電膜/光電変換層界面の反射防止層として有望な光学材料である。加えて、2002年第49回応用物理学関係連合講演会予稿集29a−X−8(大橋他、非特許文献1)によれば、酸化チタンは酸化錫より耐還元性に優れていることから、反射防止膜防止層としての機能のみならず酸化錫(透明電極膜)のプラズマ保護層としても期待されている。
しかし、本願発明の発明者による非公知の実験によると、酸化チタンは原子状水素により比較的還元されやすい材料であることが判明した。例えば、原子状水素が発生するプラズマCVD法を用いた各種シリコン膜の製膜において、その事実が確認されている。特に、原子状水素が多く発生する微結晶シリコンや多結晶シリコンの成長条件においては酸化チタンの還元反応による着色が著しくなる。そして、透明導電膜/シリコン系光電変換層界面の分光反射スペクトルの測定結果によると、酸化チタン単層による屈折率調整では十分な無反射を得られないことがわかった。このような非公知の実験結果から、スーパーストレート型太陽電池の透明導電膜/シリコン系光電変換層界面に用いる反射防止材料の選定には、材料の耐還元性にも注意を払わなければならない。従って、光学的特性や導電性、界面接合性のほかに、耐還元性に優れた反射防止層が望まれる。
特開平11−195801号公報 特開2003−231968号公報 特開2001−48593号公報 特許2939780号公報 2002年第49回応用物理学関係連合講演会予稿集29a−X−8、大橋他
従って、本発明の目的は、太陽電池において、耐還元性に優れ、透明導電膜/光電変換層界面の反射損失を大幅に低減できる反射防止層を有する太陽電池及びその製造方法を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、透明導電膜/光電変換層界面の反射損失を大幅に低減し、かつこの界面の透光性、導電性、接合特性を阻害しない反射防止層を有する太陽電池及びその製造方法を提供することにある。
本発明の更に他の目的は、太陽電池において、耐還元性に優れ透明導電膜/光電変換層界面の反射損失を大幅に低減できる反射防止層を、製造プロセスの変更が少なく低コストで製造可能な太陽電池の製造方法を提供することにある。
本発明の更に別の目的は、太陽電池の電池特性を改善することが可能な反射防止層を、製造プロセスの変更が少なく低コストで製造可能な太陽電池の製造方法を提供することにある。
以下に、発明を実施するための最良の形態で使用される番号・符号を用いて、課題を解決するための手段を説明する。これらの番号・符号は、特許請求の範囲の記載と発明を実施するための最良の形態との対応関係を明らかにするために括弧付きで付加されたものである。ただし、それらの番号・符号を、特許請求の範囲に記載されている発明の技術的範囲の解釈に用いてはならない。
従って、上記課題を解決するために、本発明の太陽電池は、透明導電層(10)と、第1反射防止層(11)と、第2反射防止層(12)と、光電変換層(4)と、裏面電極層(5)とを具備する。透明導電層(10)は、透明な基板(9)上に形成されている。第1反射防止層(11)は、透明導電層(10)上に形成されている。第2反射防止層(12)は、第1反射防止層(11)上に形成されている。光電変換層(4)は、第2反射防止層(12)上に形成されている。裏面電極層(5)は、光電変換層(4)上に形成されている。第1反射防止層(11)は酸化チタンを含み、且つ、透明導電層(10)の屈折率と光電変換層(4)の屈折率との間の屈折率を有する。第2反射防止層(12)は、酸化亜鉛を含む。
本発明により、第1反射防止層(11)及び第2反射防止層(12)で、透明導電層(10)から入射する入射光の反射をより防止することができる。
本発明の太陽電池は、裏面電極層(8)と、光電変換層(7)と、第2反射防止層(62)と、第1反射防止層(61)と、透明導電層(60)とを具備する。裏面電極層(8)は、基板(9a)上に形成されている。光電変換層(7)は、裏面電極層(8)上に形成されている。第2反射防止層(62)は、光電変換層(7)上に形成されている。第1反射防止層(61)は、第2反射防止層(62)上に形成されている。透明導電層(60)は、第1反射防止層(61)上に形成されている。第1反射防止層(61)は酸化チタンを含み、且つ、透明導電層(60)の屈折率と光電変換層(7)の屈折率との間の屈折率を有する。第2反射防止層(62)は、酸化亜鉛を含む。
本発明により、第1反射防止層(61)及び第2反射防止層(62)で透明導電層(60)から入射する入射光の反射をより防止することができる。
上記の太陽電池において、光電変換層(4,7)は、還元性のガスを用いて形成される。
本発明では、第2反射防止膜(12,62)は第1反射防止層(11,61)よりも耐還元性に優れているので、第1反射防止層(11,61)が光電変換層(4,7)の形成時に還元され劣化するのを第2反射防止膜(12,62)により防止することができる。
上記の太陽電池において、第2反射防止層(12,62)は導電性を有する。
本発明では、第2反射防止層(12,62)は導電性を有するので、太陽電池の電気的特性を阻害することなく、反射の防止や耐還元性の向上を図ることができる。
上記の太陽電池において、第2反射防止層(12,62)の厚みは、1〜50nmの範囲にある。
本発明では、第2反射防止層(12,62)の厚みが非常に薄いので、太陽電池の電気的特性、光学的特性を阻害することなく、反射の防止や耐還元性の向上を図ることができる。
上記の太陽電池において、第2反射防止層(12,62)は、波長500〜800nmの光に対して、消衰係数が0〜0.1である。
本発明では、第2反射防止層(12,62)の入射光の吸収が少ないので、太陽電池の光学的特性を阻害することなく、反射の防止や耐還元性の向上を図ることができる。
上記の太陽電池において、第2反射防止層(12,62)は、波長500〜800nmの光に対して、屈折率が1.6〜2.5である。
本発明では、酸化亜鉛を含む膜としては、この範囲の屈折率を有することが上記各効果を発揮する膜となる点で好ましい。
上記の太陽電池において、第2反射防止層(12,62)は、最大で当該第2反射防止層(12,62)の厚み程度の凹凸を有する。
本発明により、第2反射防止層(12,62)の凹凸による反射防止効果により、入射光の反射をより防止することができる。
上記課題を解決するために、本発明の太陽電池の製造方法は、透明な基板(9)上に透明導電層(10)を形成するステップと、透明導電層(10)上に第1反射防止層(11)を形成するステップと、第1反射防止層(11)上に第2反射防止層(12)を形成するステップと、第2反射防止層(12)上に光電変換層(4)を形成するステップと、光電変換層(4)上に裏面電極層(5)を形成するステップとを具備する。そして、第1反射防止層(11)は酸化チタンを含み、且つ、透明導電層(10)の屈折率と光電変換層(4)の屈折率との間の屈折率を有する。第2反射防止層(12)は、酸化亜鉛を含む。
本発明の太陽電池の製造方法は、基板上に裏面電極層(8)を形成するステップと、裏面電極層(8)上に光電変換層(7)を形成するステップと、光電変換層(7)上に第2反射防止層(62)を形成するステップと、第2反射防止層(62)上に第1反射防止層(61)を形成するステップと、第1反射防止層(61)上に透明導電層(60)を形成するステップとを具備する。そして、第1反射防止層(61)は酸化チタンを含み、且つ、透明導電層(60)の屈折率と光電変換層(7)の屈折率との間の屈折率を有する。第2反射防止層(62)は、酸化亜鉛を含む。
上記の太陽電池の製造方法において、光電変換層(7)を形成するステップは、還元性のガスを用いて光電変換層(7)を形成する。
上記の太陽電池の製造方法において、第2反射防止層(12,62)は導電性を有する。
上記の太陽電池の製造方法において、第2反射防止層(12,62)の厚みは、1〜50nmの範囲にある。
上記の太陽電池の製造方法において、第2反射防止層(12,62)は、最大で当該第2反射防止層(12,62)の厚み程度の凹凸を有する。
本発明により、透明導電膜を光入射表面電極とした太陽電池において、透明導電膜/光電変換層界面に入射する可視−赤外光の反射損失を大幅に低減し、高出力電流ならびに高変換効率を実現する反射防止構造、太陽電池及び太陽電池の製造方法を得ることができる。
以下、本発明の太陽電池及び太陽電池の製造方法の実施の形態に関して、添付図面を参照して説明する。本実施の形態では、薄膜シリコン系太陽電池の一つであるスーパーストレート型太陽電池について説明するが、他の薄膜シリコン系太陽電池に適用することも可能である。
まず、本発明の太陽電池の実施の形態の構成について説明する。
図1は、本発明の太陽電池の実施の形態の構成を示す断面図である。太陽電池1は、スーパーストレート型太陽電池である。太陽電池1は、透明基体9、透明導電膜10、反射防止層3、光電変換層4及び裏面反射電極層5を具備する。これらは、この順に積層されている。光hνは、太陽電池1に対して透明基体9側から入射し、太陽電池1内で光電変換される。
本発明は、透明導電膜10と光電変換層4との界面に、反射防止層3を設けている。この反射防止層3は、透明導電膜10/光電変換層4の界面における入射光の反射を防止する。反射防止層3は、酸化チタンを主成分とする層と酸化亜鉛を主成分とする層とを備える。これら2つの層をこの順に積層することにより、光学的整合性と耐還元性に優れた反射防止層を形成することができる。そして、波長>400nmの入射光に対する界面反射ロスを大幅に低減し、出力電流ならびに変換効率を改善するものである。以下、詳細に説明する。
透明基体9は、太陽電池用の透明な基板であり、ガラスまたはプラスチック材料の少なくとも一つが選ばれる。透明基体9の光入射面における反射損失(4〜5%)を低減するため、太陽光入射側には反射防止膜(図示されず)をあらかじめ被覆しておくことが好ましい。
透明導電膜10は、透明基体9上に形成されている。透明導電膜10は、酸化インジウム、酸化亜鉛、酸化錫の中から選ばれる一つを主成分とする材料、またはそれらを二つ以上組み合わせた材料に例示される光透過性の高い導電性酸化物である。その膜厚は、100〜5000nmである。その表面は、太陽電池1の十分な光閉じこめ効果(光散乱効果)が期待できる凹凸構造を持つ。透明導電膜10の表面凹凸の形状やサイズは材料の製膜条件や化学的処理により制御できる。凹凸スパイクによる光電変換層の短絡や結晶成長の衝突を防ぐため、その平均高低差は500nm以下であることが好ましい。透明基体9と透明導電膜10との界面には、反射防止層(図示されず)や透明導電膜10の結晶核層(図示されず)、または不純物拡散防止層(図示されず)等を含んでも良い。
反射防止層3は、上述のように、酸化チタン層11と酸化亜鉛層12とを備える。
第1反射防止層としての酸化チタン層11は、透明導電膜10上に形成されている。酸化チタン層11は、酸化チタンを主成分とする膜であり、酸化チタン膜に例示される。導電性を高めるためのドーパント等を含んでいても良い。本発明における酸化チタン層11は大面積で膜厚制御が可能なスプレー法、CVD法、ゾル−ゲル法、スパッタ法の中から少なくとも一つの手法により製膜される。面積により、イオンプレーティング法、電子ビーム蒸着法、蒸着法なども使用できる。
酸化チタン層11は、波長500〜800nmにおける屈折率が2.0〜3.0の範囲にあることが好ましい。これは、透明導電膜10/光電変換層4界面での入射光の反射を防止するために、透明導電膜10の屈折率と光電変換層4の屈折率との間の屈折率にすることが好ましいからである。その膜厚は、10〜100nmの範囲にあることが好ましい。薄すぎると反射防止の効果が無くなり、厚すぎると抵抗損失が発生するからである。すなわち、第1反射防止層11の屈折率及び厚さが上記の範囲にない場合、十分な反射防止効果が得られない。
酸化チタン層11は、波長500〜800nmにおけるその消衰係数がほぼ0(0〜0.1)であることが好ましい。消衰係数が有限の値(0.1以上)を示す場合、酸化チタン層11での光吸収損失が生じ、電池特性を低下させるからである。消衰係数は、酸化チタンの組成(酸素:チタン)に依存する。そして、その組成は、成長条件に強く依存する。従って、消衰係数がほぼ0となるようにその成長条件を調整する。酸化チタンは成長条件に依存して、ルチル、アナターゼ、ブロカイトといった3つの結晶構造をとり得る。しかし、上記の光学的条件(屈折率、膜厚、消衰係数)を満足している限り、反射防止効果は得られる。
発明者は、酸化チタンが水素を含むプラズマにより還元され、波長400nm以上の光の透過率が減少することを見いだした。そこで本発明では、酸化チタン層11と光電変換層12との間に、より還元耐性に優れた酸化亜鉛層12を酸化チタン層11の還元防止層として製膜する。酸化チタンは、酸化亜鉛層12の還元防止効果により、水素を含むプラズマによる還元から保護され、波長400nm以上の透過率を維持することが可能となる。
第2反射防止層としての酸化亜鉛層12は、酸化チタン層11上に形成されている。酸化亜鉛層12は、酸化亜鉛を主成分とする膜であり、酸化亜鉛膜に例示される。導電性を高めるためのドーパント等を含んでいても良い。本発明における酸化亜鉛層12は、膜厚制御がしやすく、酸化チタン層11と連続製膜できるよう酸化チタン層11と同様の製膜手法を用いることが好ましい。
酸化亜鉛は、一般に酸化チタンより屈折率が低い。そのため、酸化チタン層11/酸化亜鉛層12の界面で反射が発生する可能性がある。従って、酸化亜鉛層12の膜厚は、できるだけ薄くすることが好ましい。一方、薄すぎると還元防止効果が無くなる。従って、1〜50nmの範囲であることが好ましい。より好ましくは、5〜20nmである。膜厚が50nmより大きくなると上記のように反射損失が急増する。しかし、膜厚が50nm以下である場合、その膜厚を調整することによって、太陽電池の分光感度最大波長を500〜650nmの範囲で制御でき、特定の波長でほぼ完全な無反射を実現できる。したがって、酸化亜鉛層12は、限られた膜厚範囲において屈折率調整層として働き、還元防止のみならず反射防止機能を兼備していることがわかった。
酸化亜鉛層12は、波長500〜800nmにおける屈折率が1.6〜2.5の範囲にあることが好ましい。これより小さい場合、キャリア濃度が増大し、長波長の光の吸収量が大きくなる。これより大きい場合、酸化チタンに対する屈折率差が小さくなるため、屈折率調整層としての機能が低下する。
酸化亜鉛層12は、波長500〜800nmにおけるその消衰係数がほぼ0(0〜0.1)であることが好ましい。消衰係数が有限の値(0.1以上)を示す場合、酸化亜鉛層12での光吸収損失が生じ、電池特性を低下させるからである。消衰係数は、酸化亜鉛の組成(酸素:亜鉛)に依存する。そして、その組成は、成長条件に強く依存する。従って、消衰係数がほぼ0となるようにその成長条件を調整する。
酸化亜鉛層12は、上記のシリコン膜(光電変換層4)の製膜時における酸化チタン膜(酸化チタン層11)の還元防止層としての効果のほかに、製膜後におけるシリコン膜と酸化チタン膜との界面での還元防止層としての効果を有することが考えられる。すなわち、シリコン膜と酸化チタン膜とが直接接合している場合、シリコン膜中に多く含まれる水素により、酸化チタン膜表面が還元され劣化することが考えられる。酸化亜鉛層12があれば、その場合にも同様に還元防止の効果を発揮することが考えられる。
また、酸化亜鉛層12は、上記の還元防止層や屈折率調整層としての効果のほかに、以下のような効果を有することが考えられる。酸化亜鉛層12は、1〜50nmと非常に薄いので、必ずしも酸化チタン層11の上を一様な膜厚で覆っているとは限らない。一般に、製膜初期の段階では島状構造ができ、その後一つながりの膜になるという製膜過程が知られている。本願の場合、酸化亜鉛層12は、製膜初期に島状であった膜厚の厚い部分と、製膜初期に島と島との間であった膜厚の薄い部分とが並存していることが考えられる。すなわち、膜厚程度の大きさの凹凸を有するように酸化亜鉛層12を形成することができる。その場合、それらによる凹凸が、入射光を散乱し、光電変換層内における多重反射を促進することで、結果的に反射防止効果を高めていると考えられえる。
光電変換層4は、入射光(太陽光)のエネルギーを電気エネルギーに変換する。p型層21、i型層22、n型層23を備える。
p型層21は、反射防止層3の最表面の酸化亜鉛層12上に形成されている。太陽電池1の窓層である。p型層21の材料には、ボロンなどのIII属元素を不純物として含むアモルファスシリコン(a−Si)、アモルファスシリコンカーバイド(a−SiC)、微結晶シリコン、微結晶シリコンカーバイドなどがあげられる。その膜厚は、0.5〜100nmの範囲である。(大気圧または減圧)プラズマCVD法、加熱触媒体を用いたCVD法、熱CVD法や反応性スパッタリング法の中から選ばれる少なくとも一つの手法で製膜される。
i型層22は、p型層21上に形成されている。i型層22の材料としては、不純物を添加しないa−Si、微結晶シリコン、アモルファスシリコンゲルマニウム、微結晶シリコンゲルマニウムなどが挙げられる。その膜厚は、100〜10000nmの範囲である。(大気圧または減圧)プラズマCVD法、加熱触媒体を用いたCVD法、熱CVD法や反応性スパッタリング法の中から選ばれる少なくとも一つの手法で製膜される。
n型層23は、i型層22上に形成されている。n型層23の材料としては、リンなどのV属元素を不純物として含むa−Si、アモルファスシリコンカーバイド、微結晶シリコン、微結晶シリコンカーバイドなどがあげられる。その膜厚は、0〜500nmの範囲である。(大気圧または減圧)プラズマCVD法、加熱触媒体を用いたCVD法、熱CVD法や反応性スパッタリング法の中から選ばれる少なくとも一つの手法で製膜される。
以上のシリコン系薄膜の製膜行程を経てp−i−n型シリコン系の光電変換層4が形成されている。光電変換層4は単一でも良いが、上記の各種シリコン系材料をi型層に用いた光電変換層を、p−i−n/p−i−nやp−i−n/p−i−n/p−i−nのように積層することにより、より高い変換効率が得られる。
裏面反射電極層5は、高い導電性と高い反射率を有し、透明導電膜31、裏面金属電極32及び金属酸化膜33を備える。
透明導電膜31は、光電変換層4の最表面のn型層23の上に形成されている。赤外光の反射率の改善および裏面金属電極32の光電変換層4への拡散を防ぐ。たとえば、酸化錫、酸化亜鉛、酸化インジウムなどを主成分とすることが好ましい。
裏面金属電極32は、透明導電膜31の上に形成されている。可視から赤外域で高い反射率を有し、高い導電性を有する。Ag、Au、Al、CuおよびPtから選択される1種の金属、またはこれらを含む合金で形成されることが好ましい。
金属酸化膜33は、裏面金属電極32の上に形成されている。裏面金属電極32を被覆し、裏面金属電極32が空気に露出して腐食されることを防止する。たとえば、酸化錫、酸化亜鉛、酸化インジウムなどを主成分とすることが好ましい。
次に、酸化チタン膜及び酸化チタン/酸化亜鉛積層膜における光の透過性について説明する。
図2は、対象となる膜における光の透過性を示すグラフである。縦軸は、分光器で測定した透過率と反射率の和(透過率+反射率)を示す。横軸は、光の波長を示す。対象となる膜を透過した光が当該膜に吸収されない完全な透明領域では、透過率+反射率=1が成り立つ。すなわち、縦軸は、(1−吸収率)と考えることもできる。曲線A1は、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタン膜の場合を示す。曲線A2は、抵抗率1Ωcm以下の酸化チタン膜の場合を示す。曲線A3は、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタン膜(曲線A1)を水素プラズマ処理した場合を示す。曲線A4は、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタン膜(曲線A1)に酸化亜鉛膜を積層した場合を示す。ほぼ、曲線A1に重なっている。曲線A5は、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタン膜に酸化亜鉛膜を積層したもの(曲線A4)を水素プラズマ処理した場合を示す。ここで、水素プラズマ処理は、対象となる膜をCVDチャンバのアノードに設置し、水素圧力0.5Torr、放電電力密度0.2W/cmで6分間水素プラズマに曝す処理である。これは、プラズマCVD法でシリコン膜を形成する条件の一例を模擬している。
曲線A1に示すように、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタン膜は、吸収端の波長400nm以上でほほ完全な透明膜である。曲線A2に示すように、1Ωcm以下の抵抗率を示す酸化チタン膜は酸素欠損が著しく、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタン膜(曲線A1)と比較して、波長400nm以上の光を吸収する。曲線A3に示すように、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタンであっても、水素プラズマによる還元処理を施されると、還元処理を施される前(曲線A1)と比較して波長400nm以上の光を吸収する。曲線A4に示すように、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタン膜に酸化亜鉛膜を積層したものは、積層しない膜(曲線A1)と同等の完全な透明膜の特性を示す。曲線A5に示すように、抵抗率1Ωcm以上の酸化チタン膜に酸化亜鉛膜を積層したものは、水素プラズマによる還元処理を施されても、還元処理を施される前(曲線A4)とほとんど変わらない特性を示す。酸化チタンにわずかに別の成分(例示:Si、Al、FeNb、F、N)をドープした酸化チタンについても、図2と同様の傾向となる。
図2に示す曲線A1と曲線A2A3との比較から、酸化チタン膜は、水素プラズマによる還元処理に弱く、その特性が劣化することが分かる。曲線A2A1と曲線A3A2と曲線A3との比較から、還元処理により膜から酸素が引き抜かれ、酸素欠損が増加したためと考えられる。
一方、曲線A4と曲線A5との比較から、酸化チタン膜の表面に酸化亜鉛膜を積層すると、水素プラズマによる還元処理に対して強い耐性を有することが分かる。前述の結果と比較すると、酸化亜鉛膜が水素プラズマによる還元処理に強い耐性を有するため、それにより酸化チタン膜の還元が防止されたためと考えられる。
なお、曲線A1と曲線A4との比較から、酸化チタン膜の表面に酸化亜鉛膜を積層しても、その光学的特性に何ら影響が無いことが分かる。酸化亜鉛膜に導電性を付与するドーパントを含ませることで、電気的にも何ら問題なく太陽電池に適用できる。ただし、酸化亜鉛膜は非常に薄く、膜面方向の抵抗が小さいので、ドーパントを含ませなくても良い。
次に、本発明の太陽電池の製造方法の実施の形態について、図1を参照して説明する。ここでは、光電変換層4として、アモルファスシリコン太陽電池とした場合を例にして説明する。
(1−1)透明電極形成
透明基体9としての1.1mm厚のガラス基板上に、厚さ0.7μmのフッ素ドープ酸化錫膜を透明導電膜10として製膜する。この透明導電膜10のシート抵抗は6Ω/sq.である。酸化錫膜(透明導電膜10)の表面には可視光を散乱する凹凸が形成されている。その凹凸のヘイズ率Hは約10%である。ヘイズ率HはC光源を用いて、H=((T−T)/T)×100で求めた値であり、ここでTは全透過率、Tは平行直進方向で観測される透過率である。
(1−2)反射防止層形成
(1−2−1)酸化チタン層形成
試料を真空スパッタリングチャンバに設置し、真空中で基板温度300Cに加熱する。TiOターゲット(TiO:100%粉末焼結体)に高周波電力(13.56MHz)を供給し、厚さ40nmの酸化チタン層11を形成する。発明者は、抵抗率のような電気的特性や透過性のような光学的特性を、製膜条件により制御できることを見いだしている。
(1−2−2)酸化亜鉛層形成
酸化チタン層11の製膜終了後、ZnO:Ga(5.7wt%)のターゲットに直流電力を印加し、厚さ10nmの酸化亜鉛層12を形成する。その後、試料を自然冷却し、真空装置から取り出す。この酸化亜鉛層12で被膜された酸化チタン層11の透過性については、図2で説明した通りである(曲線A1、A4、A5)。この酸化亜鉛層12は、膜厚が極めて薄く膜面方向の抵抗が小さいため、Gaを含まない酸化亜鉛膜でも良い。
(1−3)光電変換層形成
次に、試料を3層分離型シリコン成膜装置(CVD)にセットする。
(1−3−1)p型層形成
試料をp型シリコン製膜室に輸送する。その後、シラン(SiH)、水素(H)、ジボラン(B)、メタン(CH)の高純度半導体ガスをp型シリコン製膜室へ一定流量で導入し、基板温度200C、圧力0.5Torrに保つ。放電を開始し、1分間の製膜で厚さ10nmのボロンドープa−SiC合金膜を得る。その後、同室で上記条件のジボラン(B)ガスの導入のみを停止して、ノンドープa−SiC合金膜を太陽電池バッファー層として厚さ5nm製膜する。以上の2層からなるp型層21の製膜が終了すると、再び高真空に排気する。
(1−3−2)i型層形成
試料をi型シリコン製膜室に輸送する。その後、SiHとHを一定流量でi型シリコン製膜室へ導入し、基板温度180C、圧力1.0Torrに保つ。放電を開始し、25分間の製膜で厚さ0.3μmのノンドープa−Si(i型層22)を得る。製膜が終了すると、再び高真空に排気する。
(1−3−3)n型層形成
試料をn型シリコン製膜室に輸送する。その後、SiH、H、フォスフィン(PH)を一定流量でn型シリコン製膜室へ導入し、基板温度180C、圧力0.2Torrに保つ。放電を開始し、6分間の製膜で厚さ30nmのリンドープa−Si(n型層23)を得る。製膜が終了すると、再び高真空に排気する。
以上のp−i−nの3層の光電変換層4を製膜後、試料を室温まで冷却し、大気中に取り出す。
(1−4)裏面反射電極層形成
試料を再びマグネトロンスパッタ真空装置に設置する。そして、室温で透明導電膜31としての酸化亜鉛層を20nm、裏面金属電極32としての銀を200nm、金属酸化膜33としての酸化亜鉛層を20nmを、順に積層する。
(1−5)電極パターニング、アニーリング
試料を真空装置から取り出した後、裏面電極のパターニングにより面積0.25cmの太陽電池を16個得る。その後150Cのポストアニーリングを2時間行う。
以上(1−1)〜(1−5)の行程を経て作製した試料をB1とする。比較のため、反射防止層3の製膜(行程(1−2)全て)を省いた試料B2、酸化チタン層11の酸化亜鉛層12による被覆(行程(1−2−2)の酸化亜鉛膜の製膜)のみを省いた試料B3を作製した。以上計3種類のa−Si太陽電池にソーラーシミュレータでAM(エアマス)1.5、100mW/cmの光を照射し、短絡電流、開放端電圧、曲線因子の測定結果から光電変換効率を求めた。
試料B1の短絡電流は試料B2のものに比べて1mA/cm以上高い値を示した。反射防止層3による開放端電圧と曲線因子の変化はほとんど認められなかった。その結果、試料B1の変換効率は10.5%となり、試料B2の9.8%より1割近い効率改善を達成した。
一方、酸化チタン層11に酸化亜鉛層12を被膜していない試料B3の短絡電流は、試料B1と試料B2の中間の値であった。酸化亜鉛層12の有無による開放端電圧と曲線因子の変化はほとんど認められなかった。その結果、試料B3の変換効率は10.2%と試料B1と試料B2の中間の値となった。
図3は、試料B1、B2及びB3の分光感度測定結果を示すグラフである。縦軸は量子効率、横軸は波長である。分光感度曲線B1、B2及びB3は、それぞれ試料B1、B2及びB3に対応する。
試料B1、B2の分光感度曲線B1、B2を比較するとわかるように、反射防止層3を備えることにより、400nm以上の波長領域で量子効率が大幅に改善された。特に、波長500〜600nmにおける量子効率ピーク値は1割程度増加した。
一方、試料B3の分光感度曲線B3は、試料B2より高い量子効率をしめすが、試料B1のものに比べると常に低い。これは酸化チタン層11上に直接にa−SiCp層をプラズマCVD法を用いて製膜する事により、プラズマに含まれる原子状水素が酸化チタン層11を還元し、その結果、酸化チタン層11の可視−赤外(>400nm)の透過率が減少したことが一つの原因として考えられる。
前述のように、酸化チタン層の還元による透過率の減少は、長波長側の入射光に対してより顕著であった。しかし図3の曲線B1とB3を比較すると、波長500〜600nmにおける量子効率の差は、長波長領域(>600nm)に比べて大きい。従って、酸化亜鉛層12の被覆は、酸化チタン層11の還元防止のみならず、屈折率調整作用ならびに表面凹凸により、量子効率が最大となる波長領域で反射防止機能を効果的にしているものと考えられる。
以上の結果から、酸化亜鉛層12を被覆した酸化チタン層11は優れた還元耐性ならびに反射防止機能を示し、スーパーストレートp−i−n型a−Si太陽電池の短絡電流と変換効率を改善できることが実証された。
なお試料B1、B3の紫外領域でみられる量子効率の減少は、透明導電膜として用いた酸化錫より、反射防止膜層3の酸化チタンおよび酸化亜鉛の禁制帯幅が小さいことに基づく。しかし、地上の太陽光スペクトルにおいて紫外領域のフォトン数は非常に少ないため、反射防止膜による紫外線の吸収ロスは発電特性に影響しない。
次に、本発明の太陽電池の製造方法の実施の形態の他の例について、図1を参照して説明する。ここでは、光電変換層4として、微結晶シリコン太陽電池とした場合を例にして説明する。
(2−1)透明電極形成
透明基体9としての1.1mm厚のガラス基板上に、透明導電膜10として厚さ1μmのGaドープ酸化亜鉛膜を、基板温度300C、DCマグネトロンスパッタ(ターゲット組成ZnO:Ga(5.7wt.%))により製膜する。そして、試料を室温まで冷却し、真空チャンバーから取り出す。その後、塩酸水溶液により酸化亜鉛膜を厚さ0.2〜0.3μmまでエッチングし、シート抵抗を10〜15Ω/sq.とする。この化学エッチングにより、酸化亜鉛膜(透明導電膜10)表面には凹凸形状ができる。その凹凸のヘイズ率Hは35%であった。
(2−2)反射防止ユニット形成
(2−1)で得た試料の透明導電膜10の上に、上記(1−2)と同じ行程((1−2−1)及び(1−2−2))で反射防止層3(酸化チタン層11及び酸化亜鉛層12)を形成する。
(2−3)光電変換層形成
次に試料を3層分離型シリコン成膜装置(CVD)にセットする。
(2−3−1)p型層形成
試料をp型シリコン製膜室に輸送する。その後、SiH、H、Bをp型シリコン製膜室へ一定流量で導入し、基板温度150C、圧力0.5Torrに保つ。放電を開始し、6分間の製膜で厚さ35nmのボロンドープp型微結晶シリコン(p型層21)を得る。製膜が終了すると再び高真空に排気する。
(2−3−2)i型層形成
試料をi型シリコン製膜室に輸送する。その後、比較的大流量のSiHとHをi型シリコン製膜室へ一定流量で導入し、基板温度160C、高圧力7〜9Torrに保つ。放電用の電極と試料との間隔を10mm以下として放電を開始し、約18分間の製膜で厚さ2.3〜2.4μmのノンドープ微結晶シリコン(i型層22)を得る。製膜が終了すると再び高真空に排気する。
ここで、ノンドープ微結晶シリコンを光吸収層(i層)とするため、十分な光吸収が期待できるよう膜厚は他のドープ層より厚くする。したがって、前述のように高いプラズマ密度を与える条件を選定し、高速製膜することが好ましい。
(2−3−3)n型層形成
試料をn型シリコン製膜室に輸送する。その後、SiH、H、PHをn型シリコン製膜室へ一定流量で導入し、基板温度180C、圧力0.5Torrに保つ。放電を開始し、6分間の製膜で厚さ40nmのリンドープn型微結晶シリコン(n型層23)を得る。製膜が終了すると再び高真空に排気する。
以上のp−i−n3層光電変換層4を製膜後、試料を室温まで冷却し、大気中に取り出す。
(2−4)裏面反射電極層形成
(2−3)で得た試料のn型層23の上に、上記(1−4)と同じ行程で裏面反射電極層5を形成する。
(2−5)電極パターニング、アニーリング
試料を真空装置から取り出した後、裏面電極のパターニングにより面積0.25cmの太陽電池を16個得る。その後200Cのポストアニーリングを2時間行う。
以上(2−1)〜(2−5)の行程を経て作製した試料をC1とする。比較のため、反射防止層3の製膜(行程(2−2)全て)を省いた試料C2、酸化チタン層12の酸化亜鉛12による被覆(行程(2−2−2)の酸化亜鉛層の製膜)のみを省いた試料C3を作製した。以上計3種類の微結晶シリコン太陽電池にソーラーシミュレータでAM(エアマス)1.5、100mW/cmの光を照射し、短絡電流、開放端電圧、曲線因子の測定結果から光電変換効率を求めた。
試料C1の短絡電流は試料C2のものに比べて2mA/cm以上高い値を示した。反射防止層3による開放端電圧と曲線因子の変化はほとんど認められなかった。その結果、試料C1の光電変換効率は9.1%となり、試料C2の8.0%より1割以上の効率改善を達成した。
一方、酸化チタン層11に酸化亜鉛層12を被膜していない試料C3は試料C2とほぼ同じ短絡電流値であった。酸化亜鉛層12の有無による開放端電圧と曲線因子の変化はほとんど認められなかった。その結果、変換効率に改善が認められなかった。
図4は、試料C1、C2及びC3の分光感度測定結果を示すグラフである。縦軸は量子効率、横軸は波長である。分光感度曲線C1、C2及びC3は、それぞれ試料C1、C2及びC3に対応する。
試料C1、C2それぞれの分光感度曲線C1、C2を比較するとわかるように、反射防止層3を備えることにより全波長領域で量子効率が大幅に改善された。特に、波長500〜600nmでの量子効率ピーク値は1〜1.5割増加した。
一方、試料C3の分光感度曲線C3では、400〜500nmの短波長領域において反射防止効果が確認できるものの、500〜600nmの量子効率ピーク値は試料C1より低い。これは前述のa−Si太陽電池の場合と同様に、酸化亜鉛被覆による酸化チタンの還元防止に加えて、酸化亜鉛層の屈折率調整作用ならびに表面凹凸により、量子効率が最大となる波長領域で反射防止機能を効果的にしているものと考えられる。700nm以上の赤外領域では、試料C3は反射防止層3を設けていない試料C2より低い量子効率を示した。これは、酸化チタン上にシリコン層を直接製膜することにより、プラズマに含まれる原子状水素が酸化チタン層11を還元し、その結果、酸化チタン層11の透過率が特に長波長領域(>700nm)で減少したためである。
微結晶シリコンp型層(21)の製膜や微結晶シリコンi型層(22)の高速製膜を与えるプラズマは、a−Siの製膜に比べて高密度の原子状水素を含むため、微結晶シリコン太陽電池においては酸化亜鉛層12の被膜による酸化チタン層11の還元防止がより効果的であることが示されている。またしたがって、酸化亜鉛層12を被膜した酸化チタン層11はスーパーストレート型p−i−n微結晶シリコン太陽電池の反射損失を劇的に低減し、短絡電流と変換効率を大幅に改善できることが実証された。
次に、本発明の太陽電池の実施の形態の他の応用例の構成について説明する。
図5は、本発明の太陽電池の実施の形態の他の応用例の構成を示す断面図である。これは、サブストレート型太陽電池を示している。太陽電池1は、スーパーストレート型太陽電池である。太陽電池2は、裏面反射電極層8をコートした透明基体9a上に、n−i−pの順にシリコン系半導体膜を積層した光電変換層7を製膜し、この上に反射防止層6、透明導電膜60を順次積層した構造を有する。透明導電膜60の上には、電流を収集する金属グリッド電極64を設け、最後に樹脂フィルムや透明ガラスのような透明のラミネート材料65でラミネートされる。光hνは、太陽電池2に対してラミネート材料65側から入射し、太陽電池1内で光電変換される。
ここで、裏面反射電極層8は、透明導電膜81、裏面金属電極82及び金属酸化膜83を備える。光電変換層7は、n型層73、i型層72及びp型層71を備える。反射防止層6は、酸化亜鉛層62及び酸化チタン層61を備える。
サブストレート構造の製膜順序はスーパーストレート構造の行程を反対としたもので、各層に用いる材料はスーパーストレート構造のものと同じである。ただし、太陽電池2の十分な光閉じこめ(光散乱)を効果的にするため裏面反射電極層8の表面に凹凸構造を形成する。また、この構造の場合、反射防止層6の酸化チタン層61はシリコン系光電変換層7のプロセス後に製膜する。そのため、酸化チタン層61の還元防止の目的としては酸化亜鉛層62はなくてもよい。しかし、酸化チタン層61の製膜後におけるシリコン膜シリコン系光電変換層7と酸化チタン膜チタン層61との界面での還元防止層としての効果を期待する場合や、界面反射率をより低減する目的で上述のごとく屈折率調整機能や表面凹凸を有する酸化亜鉛層62を第二の反射防止層として設置することが好ましい。それにより、光電変換層7と反射防止層6との界面を良好にし、或いは、凹凸が入射光の多重反射を促進し、反射防止効果を高め、太陽電池2の電池特性を向上させることができる。
なお、図1及び図2における太陽電池1及び2において、本願発明の作用・効果を無くさない範囲で、各層、膜の間に他の層、膜を挿入しても良い。
図1は、本発明の太陽電池の実施の形態の構成を示す断面図である。 図2は、対象となる膜における光の透過性を示すグラフである。 図3は、反射防止層の効果を検証する分光感度測定結果を示すグラフである。 図4は、反射防止層の効果を検証する分光感度測定結果を示すグラフである。 図5は、本発明の太陽電池の実施の形態の他の応用例の構成を示す断面図である。
符号の説明
1、2 太陽電池
3、6 反射防止層
4、7 光電変換層
5、8 裏面反射電極層
9、9a 透明基体
10、60 透明導電膜
11、61 酸化チタン層
12、62 酸化亜鉛層
21、71 p型層
22、72 i型層
23、73 n型層
31、81 透明導電膜
32、82 裏面金属電極
33、83 金属酸化膜
64 金属グリッド電極
65 ラミネート材料

Claims (15)

  1. 透明な基板上に形成された透明導電層と、
    前記透明導電層上に形成された第1反射防止層と、
    前記第1反射防止層上に形成された第2反射防止層と、
    前記第2反射防止層上に形成された光電変換層と、
    前記光電変換層上に形成された裏面電極層と、
    を具備し、
    前記第1反射防止層は、酸化チタンを含み、且つ、前記透明導電層の屈折率と前記光電変換層の屈折率との間の屈折率を有
    前記第2反射防止層は、酸化亜鉛を含み、
    前記第2反射防止層の厚みは、1〜50nmの範囲にある太陽電池。
  2. 基板上に形成された裏面電極層と、
    前記裏面電極層上に形成された光電変換層と、
    前記光電変換層上に形成された第2反射防止層と、
    前記第2反射防止層上に形成された第1反射防止層と、
    前記第1反射防止層上に形成された透明導電層と、
    を具備し、
    前記第1反射防止層は、酸化チタンを含み、且つ、前記透明導電層の屈折率と前記光電変換層の屈折率との間の屈折率を有
    前記第2反射防止層は、酸化亜鉛を含み、
    前記第2反射防止層の厚みは、1〜50nmの範囲にある太陽電池。
  3. 請求項1に記載の太陽電池において、
    前記光電変換層は、還元性のガスを用いて形成される太陽電池。
  4. 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の太陽電池において、
    前記第2反射防止層は導電性を有する太陽電池。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の太陽電池において、
    前記第2反射防止層の厚みは、5〜20nmの範囲にある太陽電池。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の太陽電池において、
    前記第2反射防止層は、波長500〜800nmの光に対して、消衰係数が0〜0.1である太陽電池。
  7. 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の太陽電池において、
    前記第2反射防止層は、波長500〜800nmの光に対して、屈折率が1.6〜2.5である太陽電池。
  8. 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の太陽電池において、
    前記第2反射防止層は、最大で当該第2反射防止層の厚み程度の凹凸を有する太陽電池。
  9. 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の太陽電池において、
    前記第2反射防止層は、膜厚の厚い部分と膜厚の薄い部分とが並存した凹凸を有する太陽電池。
  10. 透明な基板上に透明導電層を形成するステップと、
    前記透明導電層上に第1反射防止層を形成するステップと、
    前記第1反射防止層上に第2反射防止層を形成するステップと、
    前記第2反射防止層上に光電変換層を形成するステップと、
    前記光電変換層上に裏面電極層を形成するステップと、
    を具備し、
    前記第1反射防止層は、酸化チタンを含み、且つ、前記透明導電層の屈折率と前記光電変換層の屈折率との間の屈折率を有
    前記第2反射防止層は、酸化亜鉛を含む太陽電池の製造方法。
  11. 基板上に裏面電極層を形成するステップと、
    前記裏面電極層上に光電変換層を形成するステップと、
    前記光電変換層上に第2反射防止層を形成するステップと、
    前記第2反射防止層上に第1反射防止層を形成するステップと、
    前記第1反射防止層上に透明導電層を形成するステップと、
    を具備し、
    前記第1反射防止層は、酸化チタンを含み、且つ、前記透明導電層の屈折率と前記光電変換層の屈折率との間の屈折率を有
    前記第2反射防止層は、酸化亜鉛を含む太陽電池の製造方法。
  12. 請求項10に記載の太陽電池の製造方法において、
    前記光電変換層を形成するステップは、還元性のガスを用いて前記光電変換層を形成する太陽電池の製造方法。
  13. 請求項10乃至12のいずれか一項に記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第2反射防止層は導電性を有する太陽電池の製造方法。
  14. 請求項10乃至13のいずれか一項に記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第2反射防止層の厚みは、1〜50nmの範囲にある太陽電池の製造方法。
  15. 請求項10乃至14のいずれか一項に記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第2反射防止層は、最大で当該第2反射防止層の厚み程度の凹凸を有する太陽電池の製造方法。
JP2004054348A 2004-02-27 2004-02-27 太陽電池及び太陽電池の製造方法 Expired - Lifetime JP4789131B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004054348A JP4789131B2 (ja) 2004-02-27 2004-02-27 太陽電池及び太陽電池の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004054348A JP4789131B2 (ja) 2004-02-27 2004-02-27 太陽電池及び太陽電池の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005244073A JP2005244073A (ja) 2005-09-08
JP4789131B2 true JP4789131B2 (ja) 2011-10-12

Family

ID=35025459

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004054348A Expired - Lifetime JP4789131B2 (ja) 2004-02-27 2004-02-27 太陽電池及び太陽電池の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4789131B2 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2008332347B2 (en) * 2007-12-05 2011-08-25 Kaneka Corporation Multilayer thin-film photoelectric converter and its manufacturing method
JP4418500B2 (ja) * 2008-03-28 2010-02-17 三菱重工業株式会社 光電変換装置及びその製造方法
TWI392101B (zh) * 2008-03-31 2013-04-01 Univ Nat Taiwan Normal 具有抗反射表面的太陽電池及其製造方法
JP2008153714A (ja) * 2008-04-02 2008-07-03 Masayoshi Murata 薄膜太陽電池用基板及びその製造方法、並びにそれを用いた薄膜太陽電池
JP5254917B2 (ja) * 2009-09-14 2013-08-07 三菱重工業株式会社 光電変換装置の製造方法
JP2011176242A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 薄膜光電変換装置
KR101108988B1 (ko) * 2010-04-16 2012-02-06 금호전기주식회사 표면 결정성 요철 구조의 전면 투명전극을 갖는 cigs태양전지 모듈 및 그 제조방법
CN102832261A (zh) * 2011-06-13 2012-12-19 无锡尚德太阳能电力有限公司 包含新型减反射层的薄膜太阳能电池及其制造方法
KR101833941B1 (ko) * 2011-06-27 2018-03-02 엘지전자 주식회사 박막 태양 전지
JPWO2013031978A1 (ja) * 2011-08-31 2015-03-23 旭硝子株式会社 薄膜太陽電池モジュールおよびその製造方法
CN102800711A (zh) * 2012-06-29 2012-11-28 浙江正泰太阳能科技有限公司 一种硅基薄膜太阳能电池
JP2020155530A (ja) * 2019-03-19 2020-09-24 トヨタ自動車株式会社 半導体装置の製造方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61159771A (ja) * 1985-01-07 1986-07-19 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置
JPS62247574A (ja) * 1986-04-18 1987-10-28 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置
JPH0734329B2 (ja) * 1986-09-24 1995-04-12 日本板硝子株式会社 透明導電体
JP2001015787A (ja) * 1999-04-27 2001-01-19 Asahi Glass Co Ltd 透明導電膜付き基体、その製造方法および太陽電池
JP2001085722A (ja) * 1999-09-17 2001-03-30 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 透明電極膜の製造方法及び太陽電池

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005244073A (ja) 2005-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8022291B2 (en) Method of making front electrode of photovoltaic device having etched surface and corresponding photovoltaic device
TWI438904B (zh) 薄膜式太陽能電池及其製造方法
EP1724840B1 (en) Photoelectric cell
US20090194157A1 (en) Front electrode having etched surface for use in photovoltaic device and method of making same
US20080308147A1 (en) Rear electrode structure for use in photovoltaic device such as CIGS/CIS photovoltaic device and method of making same
US20090194165A1 (en) Ultra-high current density cadmium telluride photovoltaic modules
US20090194155A1 (en) Front electrode having etched surface for use in photovoltaic device and method of making same
US20080107799A1 (en) Front electrode including transparent conductive coating on patterned glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same
JP5243697B2 (ja) 光電変換装置用透明導電膜とその製造方法
WO2005011002A1 (ja) シリコン系薄膜太陽電池
JP2001308354A (ja) 積層型太陽電池
JPS59104185A (ja) 反射体を隔設した光起電半導体装置
JP4789131B2 (ja) 太陽電池及び太陽電池の製造方法
JPH09135037A (ja) 光起電力素子
JP2003142709A (ja) 積層型太陽電池およびその製造方法
JP2008270562A (ja) 多接合型太陽電池
JP5270889B2 (ja) 薄膜光電変換装置の製造方法
WO2011032878A2 (en) Method for manufacturing a thin-film, silicon based solar cell device
Ateto et al. Triple layer antireflection design concept for the front side of c-Si heterojunction solar cell based on the antireflective effect of nc-3C-SiC: H emitter layer
JP2005347444A (ja) 光起電力素子
JP5469298B2 (ja) 光電変換装置用透明導電膜、及びその製造方法
JP5144949B2 (ja) 薄膜光電変換装置用基板とそれを含む薄膜光電変換装置の製造方法
WO2012171146A1 (zh) 包含新型减反射层的薄膜太阳能电池及其制造方法
JP6143520B2 (ja) 結晶シリコン系太陽電池およびその製造方法
JP2002222969A (ja) 積層型太陽電池

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060518

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20080626

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080710

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090602

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090609

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090804

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100803

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101004

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110628

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110713

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140729

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350