JP4778321B2 - 半導体メモリ、メモリシステム - Google Patents

半導体メモリ、メモリシステム Download PDF

Info

Publication number
JP4778321B2
JP4778321B2 JP2006021338A JP2006021338A JP4778321B2 JP 4778321 B2 JP4778321 B2 JP 4778321B2 JP 2006021338 A JP2006021338 A JP 2006021338A JP 2006021338 A JP2006021338 A JP 2006021338A JP 4778321 B2 JP4778321 B2 JP 4778321B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
command
address
mrs
address code
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006021338A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007207285A (ja
Inventor
邦範 川畑
聡 江渡
俊哉 三代
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Semiconductor Ltd
Original Assignee
Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Semiconductor Ltd filed Critical Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority to JP2006021338A priority Critical patent/JP4778321B2/ja
Priority to US11/442,576 priority patent/US7818516B2/en
Publication of JP2007207285A publication Critical patent/JP2007207285A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4778321B2 publication Critical patent/JP4778321B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/16Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
    • G06F13/1668Details of memory controller
    • G06F13/1694Configuration of memory controller to different memory types
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dram (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Memory System (AREA)

Description

本発明は、内部設定を変更できる半導体メモリやメモリシステムに関する。
一般に、半導体メモリを含む半導体集積回路では、製品完成等に際して機能テストが行なわれる。そのため各種内部設定を変更できる必要がある。また半導体メモリ等は使用される形態やニーズによって、BL(Burst−Length)やRL(Read−Latency)など、各種内部設定を変更できた方が望ましい。
しかし半導体集積回路は、近年の高集積化・微細化に伴って、外部端子の削減が要請されており、テスト実施のためや種々の動作モード設定のための信号入力用に特別な外部端子を設けない傾向にある。そのため、専用の端子を設けずに、各種設定を変更できるようにするための様々な工夫が提案されている。
例えば一般的な半導体メモリでは、動作モードを切り替えるレジスタを備え、そのレジスタ情報を外部から電気的に書き換えることによって動作モードを変更する。そして多くの場合、このレジスタの書き換えは、RD(読み出し)、WT(書き込み)、Ref(リフレッシュ)といった通常用いられるコマンドとは異なるイリーガルなコマンドを複数回アドレスコードを組み合わせて入力することによって行なう。
また特許文献1には、特定のアドレス値をモード設定用に割り当て、そのアドレス値にデータを書き込むことにより、設定値の変更を行なう構成が開示されている。
特開平7−92242号公報
上記したような、通常はイリーガルなコマンドを動作モードを設定するときに有効にして設定を変更する構成としたり、特許文献1のメモリのように特定のアドレス値にデータを書き込むことによってメモリの設定を変更する構成は、メモリシステムの設計が複雑になる。
以上の点を鑑み、本発明は、簡単な手続きによりメモリの内部設定を変更でき、またその回路構成も簡単なメモリシステムを提供することを課題とする。
また特に画像を扱うメモリシステムのように、メモリコントローラからメモリに与えられるアドレス入力で指定できるアドレス空間のうち、実メモリが実装されておらず使用されないアドレスがある場合に、そのアドレスコードを用いてメモリを使用する際の動作モードを設定できるシンプルなメモリシステムを提供することを課題とする。
本発明による、メモリコントローラはメモリに接続されており、アドレス受付部及びコマンド変換部を備える。
アドレス受付部は、外部からコマンドと共に入力されるアドレスコードを受け付ける。
コマンド変換部は、第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指すとき、前記アドレスコードに基づいてメモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力する。
この構成により、アドレスコードの値の設定のみにより、メモリの内部設定を変更することが出来る。
また電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイから復帰後に前記第1のコマンドが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指す前記アドレスコードと共に最初に入力されたとき、前記コマンド変換部は、前記MRSコマンドを前記メモリに出力する構成とすることも出来る。
あるいは電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイから復帰してから、前記メモリが実装されているアドレス空間を指す前記アドレスコードが前記コマンドと共に入力されるまでの間、前記コマンド変換部は、前記第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指すとき、メモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力する構成とすることも出来る。
更には電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイから復帰してから、書き込みコマンドが入力されるまでの間、前記コマンド変換部は、前記第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指すとき、メモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力する構成とすることも出来る。
これらの構成により、MRSコマンドが出力される期間が限定されるので、メモリの内部設定を誤設定するのを防ぐことが出来る。
また前記第1のコマンドがN回(Nは2以上の自然数)連続して、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指す前記アドレスコードと共に入力されたとき、前記コマンド変換部は、前記MRSコマンドを前記メモリに出力する構成とすることも出来る。
この構成により、よりメモリの内部設定を誤設定するのを防ぐことが出来る。
更には、前記N回連続して入力された第1のコマンドのうち、最初のN−1回と共に入力された前記アドレスコードが予め定められた値であるとき、前記コマンド変換部は、前記MRSコマンドを前記メモリに出力する構成とすることも出来る。
このような構成にすることにより、より一層メモリの内部設定を誤設定するのを防ぐことが出来る。
また前記第1のコマンドとは異なる第2のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指すとき、前記コマンド変換部は、メモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力することを特徴とする構成にすることが出来る。
この構成により、より多くの内部設定を変更することが出来る。
また本発明は、メモリコントローラのみならず、半導体メモリ及びメモリシステムもその範囲に含む。
本発明によれば、通常動作と同じコマンド入力で、アドレス入力だけを決められたアドレスコードによって、メモリの動作設定を変更できる。
従って、動作設定変更のための構成を通常のメモリアクセスの動作/構成を用いて行えるので、回路構成を簡易にすることが出来る。
また、データコードを用いず、アドレスコードのみを指定することによって設定変更を行えるので、従来の方式より回路構成を簡易にすることが出来る。
まず本実施形態におけるメモリシステムで用いられる半導体メモリによるメモリ空間について説明する。
画像などに用いられる半導体メモリは、例えば、96k word×32bit(3Mbit)というように2のベキ乗ではなく、3の倍数のアドレス空間が割り当てられることが多い。この場合、図1に示すように残りの1/4のアドレス空間は使われていない。
本実施形態では、この使用されていないアドレス空間のアドレス値を用いて、BL(Burst−Length)やRL(Read−Latency)、WL(Write−Latency)等の半導体メモリの内部設定を変更する。
なお以下の説明では、本実施形態におけるメモリシステムの一例として、メモリシステムは画像用のメモリで、00H〜FFHまでのアドレス空間を持ち、図1に示したように00H〜BFHまでのアドレス空間11にメモリが実装され、上位1/4のC0H〜FFHのアドレス空間12には、メモリが実装されていないものとする。なお本実施形態のメモリシステムは、このようなものアドレス空間のものに限定されるものではない。またメモリは、同期式のメモリとして説明するが本実施形態のメモリは非同期式のメモリでもよい。
またメモリに種々の内部設定を変更するコマンドをMRS(Mode−Register−Set)コマンドという。
本実施形態では、MRSコマンドとして特別なイリーガルなコマンドを設けるのではなく、上記したメモリが未実装のアドレス空間12に対してRD(読み出し)コマンド等の通常の読み出し/書き込みで用いられるコマンドを実行した場合を、MRSコマンドとして認識する。(なお以下の例では、メモリが未実装のアドレス空間に対してRDコマンドを実行した場合をMRSコマンドとする。)具体的には、最上位アドレスA<16:15>対し、アドレス入力A<16:15>=(H,H)を指定してRDコマンドが入力された場合、これをMRSコマンドとして認識する。
なお上記説明では、MRSコマンドには、RDコマンドを割り当てるとしたが、RDコマンドに限らずWT(書き込み)コマンド(WT)やRef(リフレッシュ)コマンドなど他のコマンドに割り当てても問題ない。しかし揮発性のメモリでは、一番最初にWTコマンドが実行されて書き込みが行われることになるので、最初のWTコマンド以前に入力されたRDコマンドやRefコマンドのデータは保証する必要がないため、RDコマンドあるいはREFコマンドといったWTコマンド以外のコマンドをMRSコマンドに割り当てるのが望ましい。
図2は、MRSコマンドとRDコマンドを入力した際の、各入力端子の状態を示す図である。
MRSコマンドの入力は、/CE(Chip−Enable)入力は“L”,/WE(Write−Enable)入力は“H”と、RDコマンドと同じである。しかしアドレス入力がA<16:15>=(H,H)と実メモリが非実装で、メモリとしては使用されていないアドレスを指定している。なお、アドレス入力A<16:15>=(H,H)以外の値をとるとRDコマンドとして認識される。
MRSコマンドでは、A<16:15>以外のアドレスコード21aで各動作モードの設定値を選択、設定する。例えば、アドレスコード21aのA<14:13>にRLの設定値を割り振り、A<14:13>=(L,H)の場合RL=2とし、A<14:13>=(H,H)の場合にはRL=4と設定入力する。またそれとは独立に、アドレスコード21aのA<8:7>にはBLの設定値を割り振り、例えばA<8:7>=(L,H)と入力した場合(BL)=2とし、A<8:7>=(H,H)の場合にはBL=8と設定値を設定入力するものとする。
MRSコマンドが入力されたのときは、同時に入力されるアドレス入力のアドレス空間には実メモリは実装されていないので、該当するメモリセルは存在しない。よってメモリコアは動作しない。
なお、MRSコマンド実行せずに、メモリセルにアクセスを開始した場合には、メモリは、あらかじめモードレジスタ(後述)に初期値として設定されている値に基づいた動作モードで動作することになる。
次に、MRSコマンドによる誤設定を防止する手法について説明する。
図3は、電源投入後、イニシャライズ(リセット)後、あるいは、ローパワースタンバイからの復帰後の、最初のRDコマンドのみでMRSを行なう場合を示している。
同図の場合、最初のMRSコマンドは受け付け、アドレスコード21bによって設定を変更するが、一度MRSコマンドが入力され受け付けられたら、それ以降に入力されたMRSコマンドを受け付けないようにすることで、不慮の動作によって、動作モードが切り替わることを防ぐ。このため、2番目のMRSコードのアドレスコード22では、設定は変更されない。
上述したように、DRAMやSRAM等の揮発性メモリはWTコマンドから通常の有意な動作が開始されるので、アドレス入力によらずWTコマンドが入力された場合、あるいは、WTコマンドに限らずメモリセルの存在するアドレスを指定するコマンドが入力された場合、たとえその間一度もMRSコマンドを受け付けていなくても、それ以降はMRSコマンドを受け付けないようにするのが望ましい。
なお、MRSコマンドにRDコマンドを割り当てた場合を例に説明したが、他のコマンドに割り当てた場合も同様である。
次に、MRSコマンドによる誤設定を防止する第2の手法について説明する。
図4に示す第2の手法では、電源投入後、イニシャライズ(リセット)後、あるいは、ローパワースタンバイからの復帰後、対応するメモリセルが存在するアドレスへのコマンドが入るまでの間、MRSコマンドを受付け続けるものである。
図3の場合では、最初の1回目のMRSコマンドのみを有効としたが、図4の手法では、通常の動作が開始されるまでの間に入力されたMRSコマンドを全て有効としている。
複数回のMRSコマンドを有効にすることで、MRSの不慮の設定がなされた場合の再設定が可能となる。この場合、メモリの動作モードは最後のMRSコマンドによる設定値で決まることになる。
同図の場合RDコマンドが入力されるまでの間に、3回MRSコマンドが入力されているが、各MRSコマンドと共に入力されたアドレスコード21c、21d及び21eによってメモリの設定が変更され、最終的にはアドレスコード21eによる設定値が設定される。
この手法においても、実メモリの存在するアドレスへのコマンド(MRSコマンド以外のコマンド)が入力されたら、それ以降のMRSコマンドは無効とすることで、通常のメモリアクセスを行なっている最中に動作モードが間違って切り替わることを防ぐことができる。
次に、MRSコマンドによる誤設定を防止する第3の手法について説明する。
図5に示す第3の手法では、動作モードの不慮の動作による設定が行なわれにくくするため、メモリセルの存在しないアドレスに対するアクセスが連続して3回なされた場合、すなわちMRSコマンドが連続3回入力された場合に、MRSコマンドを受け付けて設定変更を行う。
この場合3番目のMRSコマンドと共に入力されるアドレスコード21fに基づいて動作モードを設定する。
なお図5ではMRSコマンドが連続3回入力されるとMRSコマンドを受け付けているが、3回に限定されるものではなく、2回若しくは4回以上の入力によってMRSコマンドを受け付けるように構成してもよい。
また図3に示したように、3番目のMRSコマンドのみによって設定が行われ、4番目以降のMRSコマンドは受け付けないように制限したり、あるいは図4で説明したように、実メモリが実装されているアドレスを指定するコマンドが入力されるまで、3番目のMRSコマンド以降、何度でもMRSコマンドを受け付けて、設定を変更できるように構成してもよい。なお図5の場合は、後者の場合を示している。
次に、MRSコマンドによる誤設定を防止する第4の手法について説明する。
図6に示す第4の手法は、図5に示した第3の手法より、さらに動作モードの不慮の設定が行なわれにくくしたものである。
第3の手法では、複数回のMRSコマンドが入力されると、MRSコマンドを受け付ける構成となっていたが、第4の実施形態では複数回のMRSコマンドと共に入力されるアドレスコードを、予め定められた値と比較し、一致したときにMRSコマンドを受け付ける構成とする。
図6の場合には、連続して入力される1回目のMRSコマンド(MRS−1)、及び2回目のMRSコマンド(MRS−2)と同時にアドレス<14:1>として入力されるアドレスコード21g及び21hの値が予め決められた値と一致したとき、3回目のMRSコマンド(MRS−code)と共に入力されるアドレスコード21iによって、動作モードの設定を変更する。
なお、図6の構成においても、図5の第3の手法の場合と同様、3番目のMRSコマンドのみによって設定が行われ、4番目以降のMRSコマンドは受け付けないように制限したり、あるいは実メモリが実装されているアドレスを指定するコマンドが入力されるまで、3番目のMRSコマンド以降、何度でもMRSコマンドを受け付けて、設定を変更できるように構成してもよい。
また図6では、上位2ビット以外全てのアドレスコードを特定値との比較に用いていたが、必ずしも全てのビットのアドレスコードを用いる必要は無い。
次に、MRSコマンドによる誤設定を防止する第5の手法について説明する。
図7に示す第5の手法では、MRSコマンドを複数設ける。この設け方としては、第1〜第4の手法では、アドレスコードとしてメモリが非実装のアドレスを指定したRDコマンドをMRSコマンドとしていたが、第5の手法では、これに加え、アドレスコードとしてメモリが非実装のアドレスを指定したWTコマンドもMRSコマンドとする。この場合、前者をMRS−Aとし、後者をMRS−Bとする。
第5の手法では、2つのMRSコマンドをそれぞれ異なる動作モードの設定を行わせるコマンドとする。例えばMRS−AはRLやBLの設定を行うコマンドであり、MRS−Bはメモリコア内部の出力トランジスタの各種電圧レベルや動作タイミング等の能力切り替えを行なうコマンドとする。
図7では、RDコマンドによるMRSコマンドであるMRS−Aのアドレスコード21jによって、RL、WL及びBL等の設定を行ない、WTコマンドによるMRSコマンドであるMRS−Aのアドレスコード21jによって、内部トランジスタの各種能力の切換を行っている。
次に本実施形態のメモリシステムの構成について説明する。
図8は、本実施形態におけるメモリシステムの第1の構成例を示す図である。
本実施形態のメモリシステムは、メモリコントローラ31a及びメモリ32aより構成されている。
メモリコントローラ31aは、デバイス外部から入力されるアドレスコードを受け付けるアドレス受付部33aと、アドレスコードと/WR、/CE等の制御信号の入力値からメモリ32aが解釈できる命令cmdを生成して出力するコマンド変換部3aを備えている。例えば、これまで説明してきたような実メモリを実装していないアドレス空間に対するアドレスコードを指定してRD命令が入力されると、コマンド変換部3aは、メモリ32aが理解できる命令であるMRSコマンドに変換する。
メモリ32aは、グラフィック用メモリ等、全アドレス空間に対してメモリセルが対応の部分を持つメモリで、ラッチ&コマンドコーダ35a、Din/Doutコントローラ36a、モードレジスタ37a、モードコントローラ38a、及びメモリコア39aを備えている。
ラッチ&コマンドデコーダ35aは、メモリコントローラ31aからの命令cmdをラッチすると共にデコードし、コード結果に基づいてメモリコア39aに対するデータの読み出し/書き込みを制御し、及びメモリレジスタ38aにデータを書き込む。Din/Doutコントローラ36aは、メモリコントローラ31aから受け取った書き込みデータをメモリコア39aに書き込み、またメモリコア39aから読み出したデータをメモリコントローラ31aに出力する。モードレジスタ37aは、メモリ32aの各種設定がセットされるレジスタで、このモードレジスタ37aにセットされている値を変更することにより、メモリは、RL、BLなどの各種内部設定が変更される。モードコントローラ38aは、モードレジスタ37aにセットされた値に基づいて、メモリコア39a等の制御を行ない、各種内部設定の変更を実現する。メモリコア39aはメモリセルアレーやセンスアンプ等からなり、アドレスコードによって指定された位置のセルからデータを読み出し/書き込みが行われるものである。
図8の構成では、メモリ32aにメモリコントローラ31aを接続することにより本実施形態の各種動作を実現する。
図9は、本実施形態におけるメモリシステムの第2の構成例を示す図である。
図9に示す第2の構成例は、メモリコントローラ31bをメモリ32b内に内蔵した構成である。
同図の構成では、メモリコントローラ31b、アドレス受付部33b及びコマンド変換部33bを備え、メモリコントローラ31bは、基本的には図8のメモリコントローラ31aと同じ動作を行う。
またラッチ&コマンドコーダ35a、Din/Doutコントローラ36b、モードレジスタ37b、モードコントローラ38b、及びメモリコア39bは、その基本的構成や動作図8の場合と同じである。
この構成の場合、メモリコントローラ31bをメモリ32bに内蔵しているので、新たにメモリ32bにデバイスを外付けしなくても、本実施形態の各種動作を実現することが出来る。
図10は、本実施形態におけるメモリシステムの第3の構成例を示す図である。
図10に示す第3の構成例では、図8の構成において、モードレジスタ37cをメモリ32cではなく、メモリコントローラ31c側に備える構成としたものである。この場合メモリコントローラ31cからメモリ32cに動作モードを示す信号が渡される。この動作モードを示す信号はデコードされたものでもよいが、メモリ32c内にデコーダをもつことでメモリコントローラ31cとメモリ32c間でやりとりするモード信号の数を減らす構成とすることも出来る。
この構成により、メモリコントローラ31c、メモリレジスタ37cを備えないメモリ32cに対しても対応することが出来る。
図11は、本実施形態におけるメモリシステムの第4の構成例を示す図である。
図11に示す第4の構成例では、メモリコントローラ31d及びメモリ32d共にモードレジスタを備えない構成で、代わりに、メモリコントローラ31d及びメモリ32dの外部に不揮発性メモリ40を備えている。
この不揮発性メモリ40は、上記した図8乃至図10のモードレジスタ37(37a〜37d)と基本的には、同じ機能を果たす。図11の構成では、モードレジスタ37の機能を不揮発性メモリ40により実現しているので、一度設定されたBL、RL等の内部設定は、電源を再投入しても消去されずに残っているので、起動する度に設定をし直す必要が無い。
なおメモリコントローラ31a、31c、31dに接続するメモリ32a、32c、32dは、汎用のメモリデバイスであってもよい。
図12は、本実施形態のメモリシステムの別形態として示す、グラフィックコントローラの構成例を示す。
本実施形態のメモリシステムは、図8、図10、図11に示したようなメモリコントローラ31とメモリ32のみによる構成に限らず図12のグラフィックコントローラのように、他の周辺機器を含む構成であってもよい。
図12のグラフィックコントローラ41は、メモリコントローラ43とメモリ44の他に入力データを加工してビデオ信号を生成するグラフィックコア42、グラフィックコントローラ41の内部クロックを生成するクロックジェネレータ、ビデオ信号を入出力するビデオインタフェース46、及び情報処理装置のバスとの接続を司る外部バスインタフェース47を備えている。
この構成の場合、メモリ44はグラフィック用のメモリなので3の倍数のアドレス空間に実メモリが割り当てられている。
このようなグラフィックコントローラ41においても、メモリ44の内部設定を変更したいときは、メモリコントローラ43に対して、実メモリが割り当てられていないアドレス空間を指定してコマンドを送ることにより、RL、BL等の内部設定を変更することが出来る。
なおグラフィックコントローラは、その使用目的や使用環境によって、様々な構成が考えられ、図12の構成は一例に過ぎない。
なお上記説明では、メモリとしてグラフィックに用いられるものを想定し、3の倍数のアドレス空間に実メモリが割り当てられているものとしたが、本実施形態のメモリシステムはこのような構成に限定されるものではなく、アドレス空間に実アドレスが実装されていない部分が存在すれば、他の構成でもよい。
また上記説明では、メモリシステムに用いられるメモリをDRAMとしたが、SRAM等の他のメモリでもよい。
(付記1)
メモリに接続されたメモリコントローラであって、
外部からコマンドと共に入力されるアドレスコードを受け付けるアドレス受付部と、
第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指すとき、前記アドレスコードに基づいてメモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力するコマンド変換部と、
を備えるメモリコントローラ。
(付記2)
電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイから復帰後に前記第1のコマンドが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指す前記アドレスコードと共に最初に入力されたとき、前記コマンド変換部は、前記MRSコマンドを前記メモリに出力することを特徴とする付記1に記載のメモリコントローラ。
(付記3)
電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイから復帰してから、前記メモリが実装されているアドレス空間を指す前記アドレスコードが前記コマンドと共に入力されるまでの間、前記コマンド変換部は、前記第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指すとき、メモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力することを特徴とする付記1に記載のメモリコントローラ。
(付記4)
電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイから復帰してから、書き込みコマンドが入力されるまでの間、前記コマンド変換部は、前記第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指すとき、メモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力することを特徴とする付記1に記載のメモリコントローラ。
(付記5)
前記第1のコマンドがN回(Nは2以上の自然数)連続して、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指す前記アドレスコードと共に入力されたとき、前記コマンド変換部は、前記MRSコマンドを前記メモリに出力することを特徴とする付記1に記載のメモリコントローラ。
(付記6)
前記N回連続して入力された第1のコマンドのうち、最初のN−1回と共に入力された前記アドレスコードが予め定められた値であるとき、前記コマンド変換部は、前記MRSコマンドを前記メモリに出力することを特徴とする付記5に記載のメモリコントローラ。
(付記7)
前記第1のコマンドは、読み出しコマンドであることを特徴とする付記1に記載のメモリコントローラ。
(付記8)
前記第1のコマンドとは異なる第2のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指すとき、前記コマンド変換部は、メモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力することを特徴とする付記1に記載のメモリコントローラ。
(付記9)
前記第1のコマンドは読み出しコマンドであり、前記第2のコマンドは書き込みコマンドであることを特徴とする付記8に記載のメモリコントローラ。
(付記10)
複数のメモリセルを備えるメモリコアと、
内部動作の設定値をセットするモードレジスタと、
外部からコマンドと共に入力されるアドレスコードを受け付けるアドレス受付部と、
前記メモリコアが第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが指すアドレス空間に対応する前記メモリセルを備えないとき、前記アドレスコードの値に基づいて前記モードレジスタの値を書き換えるコマンド変換部と、
を備える半導体メモリ。
(付記11)
前記メモリコアは、2のべき乗分でないメモリセルを備えることを特徴とする付記10に記載の半導体メモリ。
(付記12)
前記メモリコアは、3の倍数分のメモリセルを備えることを特徴とする付記11に記載の半導体メモリ。
(付記13)
電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイから復帰してから、書き込みコマンドが入力されるまでの間、前記コマンド変換部は、前記第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが指すアドレス空間に対応するメモリセルを前記メモリが備えないとき、前記モードレジスタの値を書き換えることを特徴とする付記11に記載の半導体メモリ。
(付記14)
前記第1のコマンドがN回(Nは2以上の自然数)連続して、前記メモリがメモリセルを備えないアドレス空間を指す前記アドレスコードと共に入力されたとき、前記コマンド変換部は、前記モードレジスタの値を書き換えることを特徴とする付記11に記載のメ半導体メモリ。
(付記15)
複数のメモリセルを備えるメモリコアを有するメモリと、
前記メモリが、第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが指すアドレス空間に対応する前記メモリセルを備えないとき、前記アドレスコードの値に基づいて前記メモリの内部設定を変更するメモリコントローラと、
を備えるメモリシステム。
(付記16)
前記メモリは、当該メモリの内部動作の設定値をセットするモードレジスタを更に有することを特徴とする付記15のメモリシステム。
(付記17)
前記メモリコントローラは、当該メモリの内部動作の設定値をセットするモードレジスタを更に有することを特徴とする付記15のメモリシステム。
(付記18)
前記メモリの内部動作の設定値をセットするモードレジスタを更に備えることを特徴とする付記15のメモリシステム。
(付記19)
前記モードレジスタは、不揮発性メモリにより構成されることを特徴とする付記18に記載のメモリシステム。
(付記20)
前記メモリシステムは、グラフィックコントローラとして構成されることを特徴とする付記15に記載のメモリシステム。
グラフィックに用いられるメモリ空間を示す図である。 MRSコマンドとRDコマンドを入力した際の、各入力端子の状態を示す図である。 電源投入後、イニシャライズ(リセット)後、あるいは、ローパワースタンバイからの復帰後の、最初のRDコマンドのみでMRSを行なう場合を示す図である。 MRSコマンドによる誤設定を防止する第2の手法について示す図である。 MRSコマンドによる誤設定を防止する第3の手法について示す図である。 MRSコマンドによる誤設定を防止する第4の手法について示す図である。 MRSコマンドによる誤設定を防止する第5の手法について示す図である。 本実施形態におけるメモリシステムの構成例を示す図である。 本実施形態におけるメモリシステムの第2の構成例を示す図である。 本実施形態におけるメモリシステムの第3の構成例を示す図である。 本実施形態におけるメモリシステムの第4の構成例を示す図である。 グラフィックコントローラの構成例を示す図である。
符号の説明
21a〜21k、22 アドレスコード
31a〜31d、43 メモリコントローラ
32a〜32d、44 メモリ
33a〜33d アドレス受付部
34a〜34d コマンド変換部
35a〜35d ラッチ&コマンドデコーダ
36a〜36d Din/Doutコントローラ
37a〜37d モードレジスタ
38a〜38d モードコントローラ
39a〜39d メモリコア
40 不揮発性メモリ
41 グラフィックコントローラ
42 グラフィックコア
45 クロックジェネレータ
46 ビデオインタフェース
47 外部バスインタフェース

Claims (4)

  1. メモリに接続されたメモリコントローラであって、
    外部からコマンドと共に入力されるアドレスコードを受け付けるアドレス受付部と、
    前記アドレス受付部が第1のコマンドと共に受け付けた前記アドレスコードが、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指しており、且つ、該第1のコマンドが読み出しコマンド、書き込みコマンド、及びリフレッシュコマンドのいずれかであったとき、前記アドレスコードに基づいてメモリの内部設定の変更を指示するMRSコマンドを前記メモリに出力するコマンド変換部と、
    を備え
    前記コマンド変換部は、前記メモリが実装されていないアドレス空間を指している前記アドレスコードを前記第1のコマンドと共に前記アドレス受付部が受け付けた時が、電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイからの復帰後における最初であった場合にのみ、前記MRSコマンドを前記メモリに出力することを特徴とするメモリコントローラ。
  2. 複数のメモリセルを備えるメモリコアと、
    内部動作の設定値をセットするモードレジスタと、
    外部からコマンドと共に入力されるアドレスコードを受け付けるアドレス受付部と、
    前記アドレス受付部が第1のコマンドと共に受け付けた前記アドレスコードが指すアドレス空間に対応する前記メモリセルを前記メモリコアが備えておらず、且つ、該第1のコマンドが読み出しコマンド、書き込みコマンド、及びリフレッシュコマンドのいずれかであったとき、前記アドレスコードの値に基づいて前記モードレジスタの値を書き換えるコマンド変換部と、
    を備え
    前記コマンド変換部は、前記メモリコアが備えていないメモリセルに対応するアドレス空間を指している前記アドレスコードを前記第1のコマンドと共に前記アドレス受付部が受け付けた時が、電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイからの復帰後における最初であった場合にのみ、前記モードレジスタの値を書き換えることを特徴とする半導体メモリ。
  3. 前記メモリコアは、2のべき乗分でないメモリセルを備えることを特徴とする請求項に記載の半導体メモリ。
  4. 複数のメモリセルを備えるメモリコアを有するメモリと、
    前記メモリが、第1のコマンドと共に入力される前記アドレスコードが指すアドレス空間に対応する前記メモリセルを備えておらず、且つ、該第1のコマンドが読み出しコマンド、書き込みコマンド、及びリフレッシュコマンドのいずれかであったとき、前記アドレスコードの値に基づいて前記メモリの内部設定を変更するメモリコントローラと、
    を備え
    前記メモリコントローラは、前記メモリコアが備えていないメモリセルに対応するアドレス空間を指している前記アドレスコードが前記第1のコマンドと共に入力された時が、電源投入後、イニシャライズリセット後、あるいは、ローパワースタンバイからの復帰後における最初であった場合にのみ、前記メモリの内部設定を変更することを特徴とするメモリシステム。
JP2006021338A 2006-01-30 2006-01-30 半導体メモリ、メモリシステム Expired - Fee Related JP4778321B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006021338A JP4778321B2 (ja) 2006-01-30 2006-01-30 半導体メモリ、メモリシステム
US11/442,576 US7818516B2 (en) 2006-01-30 2006-05-30 Memory controller, semiconductor memory, and memory system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006021338A JP4778321B2 (ja) 2006-01-30 2006-01-30 半導体メモリ、メモリシステム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007207285A JP2007207285A (ja) 2007-08-16
JP4778321B2 true JP4778321B2 (ja) 2011-09-21

Family

ID=38323496

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006021338A Expired - Fee Related JP4778321B2 (ja) 2006-01-30 2006-01-30 半導体メモリ、メモリシステム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7818516B2 (ja)
JP (1) JP4778321B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100735575B1 (ko) * 2004-06-11 2007-07-04 삼성전자주식회사 메모리의 테스트 모드 인터페이스 방법 및 장치
KR100827658B1 (ko) * 2006-09-11 2008-05-07 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치, 이 장치를 구비하는 메모리 시스템,및 이 시스템의 테스트 방법
KR100942940B1 (ko) * 2007-09-28 2010-02-22 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법
JP2009087526A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Hynix Semiconductor Inc 半導体メモリ装置およびその駆動方法
US11024352B2 (en) 2012-04-10 2021-06-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system for access concentration decrease management and access concentration decrease method
KR102160607B1 (ko) * 2014-04-02 2020-09-29 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 및 그의 구동 방법

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63271645A (ja) * 1987-04-30 1988-11-09 Toshiba Corp アドレス変換方式
US7190617B1 (en) * 1989-04-13 2007-03-13 Sandisk Corporation Flash EEprom system
JP2813223B2 (ja) * 1990-01-22 1998-10-22 富士通株式会社 半導体記憶装置
JP2697574B2 (ja) * 1993-09-27 1998-01-14 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
US6321276B1 (en) * 1998-08-04 2001-11-20 Microsoft Corporation Recoverable methods and systems for processing input/output requests including virtual memory addresses
JP3883087B2 (ja) * 1998-11-09 2007-02-21 富士通株式会社 半導体記憶装置及び半導体メモリ回路
EP2296152A1 (en) * 1999-02-16 2011-03-16 Fujitsu Semiconductor Limited Semiconductor device having test circuit
US6469703B1 (en) * 1999-07-02 2002-10-22 Ati International Srl System of accessing data in a graphics system and method thereof
KR100315347B1 (ko) * 1999-11-18 2001-11-26 윤종용 반도체 메모리 장치의 동작모드 세팅회로 및 방법
JP2001176282A (ja) * 1999-12-20 2001-06-29 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置およびその制御方法
JP2002108691A (ja) * 2000-09-29 2002-04-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置および半導体記憶装置の制御方法
JP3737437B2 (ja) * 2001-02-01 2006-01-18 Necエレクトロニクス株式会社 半導体メモリ及びその動作モードのエントリー方法
JP4707255B2 (ja) * 2001-04-26 2011-06-22 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
JP2003223287A (ja) * 2001-11-22 2003-08-08 Toshiba Corp 記憶装置、この記憶装置のバックアップ方法及びプログラム
US20040083334A1 (en) * 2002-10-28 2004-04-29 Sandisk Corporation Method and apparatus for managing the integrity of data in non-volatile memory system
JP2007200504A (ja) * 2006-01-30 2007-08-09 Fujitsu Ltd 半導体メモリ、メモリコントローラ及び半導体メモリの制御方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20070180202A1 (en) 2007-08-02
JP2007207285A (ja) 2007-08-16
US7818516B2 (en) 2010-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7764551B2 (en) Semiconductor memory system having volatile memory and non-volatile memory that share bus, and method of controlling operation of non-volatile memory
US7227777B2 (en) Mode selection in a flash memory device
US9251065B2 (en) Execute-in-place mode configuration for serial non-volatile memory
JP4778321B2 (ja) 半導体メモリ、メモリシステム
EP1764803A1 (en) Memory architecture with serial peripheral interface
JP4620504B2 (ja) 半導体メモリおよびシステム装置
CN107578789B (zh) 非易失性半导体存储装置
US20090019325A1 (en) Memory device, supporting method for error correction thereof, supporting program thereof, memory card, circuit board and electronic apparatus
TW201519237A (zh) 用於組態用於混合記憶體模組之記憶體之輸入/輸出之裝置及方法
JP2007294039A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
US8914602B2 (en) Display controller having an embedded non-volatile memory divided into a program code block and a data block and method for updating parameters of the same
JPWO2007116486A1 (ja) メモリ装置、その制御方法、その制御プログラム、メモリ・カード、回路基板及び電子機器
KR100877609B1 (ko) 버퍼 메모리의 플래그 셀 어레이를 이용하여 데이터 오류 정정을 수행하는 반도체 메모리 시스템 및 그 구동 방법
US20130107647A1 (en) Semiconductor device and method of operating the same
KR20140062842A (ko) 불휘발성 메모리 장치 및 불휘발성 메모리 장치의 동작 방법
US20060179260A1 (en) Semiconductor memory device and a data write and read method thereof
US7310277B2 (en) Non-volatile semiconductor storage device with specific command enable/disable control signal
JP3725270B2 (ja) 半導体装置
JP4660316B2 (ja) 不揮発性メモリ装置
JP2005302134A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
JP3642420B2 (ja) 半導体装置
KR100288417B1 (ko) 동기형 반도체 기억 장치
JP2009093388A (ja) 半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の制御方法
KR100388207B1 (ko) 플래시 메모리 컨트롤러
JP2007026136A (ja) 半導体集積回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080704

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20080730

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110208

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110330

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110419

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110608

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110628

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110701

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4778321

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140708

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees