JP4750842B2 - パラメータ制御回路 - Google Patents

パラメータ制御回路 Download PDF

Info

Publication number
JP4750842B2
JP4750842B2 JP2008506129A JP2008506129A JP4750842B2 JP 4750842 B2 JP4750842 B2 JP 4750842B2 JP 2008506129 A JP2008506129 A JP 2008506129A JP 2008506129 A JP2008506129 A JP 2008506129A JP 4750842 B2 JP4750842 B2 JP 4750842B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
frequency
parameter
clock
equalizer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008506129A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2007108125A1 (ja
Inventor
俊一郎 正木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Publication of JPWO2007108125A1 publication Critical patent/JPWO2007108125A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4750842B2 publication Critical patent/JP4750842B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B3/00Line transmission systems
    • H04B3/02Details
    • H04B3/04Control of transmission; Equalising
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0262Arrangements for detecting the data rate of an incoming signal
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/028Arrangements specific to the transmitter end
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/03Shaping networks in transmitter or receiver, e.g. adaptive shaping networks
    • H04L25/03878Line equalisers; line build-out devices
    • H04L25/03885Line equalisers; line build-out devices adaptive

Description

本発明は、LSI(Large Scale Integrated circuit)チップ間やチップ内あるいはボード間や装置間など、デジタル信号を高速に入出力するインターフェース回路やクロック発生回路などにおいて、回路特性を動作クロックに応じて自動制御するパラメータ制御回路に関する。
近年、コンピュータや通信分野において、処理される情報量が飛躍的に増大し、システム全体の性能向上が求められている。システムの性能を向上するには、システムを構成する装置や装置を構成する各要素の性能を向上する必要があり、例えば、SRAMやDRAMなどのメモリ、プロセッサ、ネットワークスイッチ用LSIなどが高速化されてきた。
一方で、LSIチップ間の信号伝送、LSIチップ内の複数の素子間あるいは回路ブロック間での信号伝送、ボード間やネットワーク装置間の信号伝送などにおいて、デジタル信号を高速に処理する必要がある。特に、LSIチップ間、素子間、ボード間、装置間で信号を入出力するインターフェース回路の高速化が要求されている。
ところが、これらのインターフェース回路は、下位互換を求められることが多く、2つ以上の動作周波数で動かなければならないことが多い。例えば、HDMI(画像用のデジタルインターフェース)は、低い解像度の時は低い周波数で動作し、高い解像度の時は高い周波数で動作する。また、USB(汎用シリアルインターフェース)の場合もVer1.1とVer2.0とでは動作速度が異なる。同様に、PCIe(パソコンのインターフェース)もGen1とGen2との2つのバージョンがあり、SATA(ハードディスクのインターフェース)も速度の異なるVer.1とVer.2がある。
特に、最近は、シリアルインターフェース回路が多く利用されており、このようなシリアルインターフェース回路は、超高速で動作するアナログ回路を有している。アナログ回路は、ディジタル回路とは異なり、クロック周波数が低いほど動作し易いとは限らず、ある範囲でしか最適な動作をしない。
このような問題に対処するために、回路のパラメータを変えて異なる回路特性を実現する方法が考えられている。例えば、周波数に対するパラメータを予めROM等に記憶しておき、ROMに記憶されているパラメータを選択することで、回路特性を可変する。このような従来技術の一つとして、特許文献1などでは、電力増幅回路でのバイアスを可変する技術が開示されている。
特開平11−220342号公報
上述したように、インターフェース回路を構成する一般的なアナログ回路は、ある特定の周波数範囲で最適な動作をする傾向があり、低速から高速までの信号を入出力するインターフェース回路で常に最適に動作する回路を設計するのは難しい。無理な設計を行った場合、限られた周波数以外では、性能が著しく低下する場合もある。
また、特許文献1などのように、パラメータを予めROM等に記憶しておく場合は、今後、インターフェースの種類が増えて、動作速度の種類の増加や動作モードの多様化が進むと、その都度、ROMのデータを更新しなければならなくなる。さらに、どの回路がどのバージョンのインターフェースに対応したものであるかを管理することも困難になる。
上記課題に鑑み、本発明の目的は、インターフェース回路などの動作速度の種類の増加や動作モードの多様化が進んでも、ROMを取り替えることなく、インターフェース回路やクロック回路で使用する周波数に応じたパラメータを自動的に設定することが可能なパラメータ制御回路を提供することである。
本発明の一形態では、複数の速度のデータを入出力するインターフェース回路に、相補信号を受け取る第1トランジスタおよび第2トランジスタを含むとともに、回路パラメータを可変できる差動型イコライザと、クロック周波数を検出する周波数検出部と、クロック周波数によって適切な回路パラメータを算出し、差動型イコライザを制御するパラメータ算出制御部とを設けた。
差動型イコライザは、回路パラメータに基づいて制御されるとともに、前記第1トランジスタのドレインと前記第2トランジスタのドレインとの間に接続される可変容量コンデンサを含み、可変容量コンデンサは複数のバラクタを有する。
周波数検出部は、インターフェース回路に入力するクロックまたは前記データから再生されるクロックからインターフェース回路が現在どのくらいの周波数で動いているかを検出し、パラメータ算出制御部に引き渡す。パラメータ算出制御部は、インターフェース回路が、検出した周波数で最適に動作するように、差動型イコライザの回路パラメータを算出し、差動型イコライザに設定する。例えば、クロック周波数が高くなれば、パラメータ算出制御部は、高周波でも動作するように、差動型イコライザの特性を制御する。逆に、クロック周波数が低くなれば、パラメータ算出制御部は、低周波で最適に動作するように、差動型イコライザの特性を制御する。
このように、入出力するクロック周波数に合わせて、インターフェース回路の差動型イコライザの回路パラメータを適切に制御することができるので、使用するインターフェースの速度の増加や動作モードの多様化が進んでも、常に、最適な動作が可能となる。
また、別の一形態では、複数の速度のデータを入出力するインターフェース回路に、回路パラメータを可変できる差動型イコライザと、入出力するデータからクロックを再生するクロック再生部と、クロック再生部が再生したクロック周波数を検出する周波数検出部とを設けている。また、周波数検出部が検出した周波数によって適切な回路パラメータを算出し、差動型イコライザを制御するパラメータ算出制御部を有している。
このように、クロックを持たないインターフェース回路でも、クロック再生部が、入出力するデータからクロックを再生するので、パラメータ算出制御部は、現在動いている周波数に合わせて、インターフェース回路の差動型イコライザの回路パラメータを適切に制御することができる。
また、上記形態において、バラクタは直列接続され、直列接続されるノードに回路パラメータが供給されることを特徴とする。
また、パラメータ算出制御部は、回路パラメータをアナログ電圧で出力し、イコライザの特性をアナログ電圧で制御することを特徴とする。
本発明の別の一形態では、複数の速度のデータを入出力するインターフェース回路と、インターフェース回路に入力するクロックまたはデータから再生されるクロックの周波数を検出する周波数検出部と、インターフェース回路の特性を可変するイコライザと、周波数検出部が検出した周波数に応じて、イコライザの回路パラメータを算出し、イコライザの特性を制御するパラメータ算出制御部と、パラメータ算出制御部が出力するアナログ電圧をデジタルコードに変換するA/D変換部と、デジタルコードをデコードしてデコード信号を出力するデコーダと、デコード信号が入力される単極増幅器と、を含み、単極増幅器は、並列接続される複数のバッファと、複数のバッファのそれぞれに接続されるとともにデコード信号によって制御される複数のスイッチとを含むことを特徴とする。
本発明の別の一形態では、複数の速度のデータを入出力するインターフェース回路と、インターフェース回路に入力するクロックまたはデータから再生されるクロックの周波数を検出する周波数検出部と、インターフェース回路の特性を可変するイコライザと、周波数検出部が検出した周波数に応じて、イコライザの回路パラメータを算出し、イコライザの特性を制御するパラメータ算出制御部とを有し、パラメータ算出制御部は、回路パラメータをアナログ電流で出力し、イコライザは、前記アナログ電流が供給される第1トランジスタおよび第2トランジスタと前記第2トランジスタに接続される第3トランジスタおよび第4トランジスタを含むカレントミラー回路と前記第4トランジスタに流れる電流によって制御されるとともに相補信号が入力される第5トランジスタおよび第6トランジスタとを含む差動増幅器とを含ことを特徴とする。
また、本発明に関連する技術では、回路の動作クロックに応じて電圧制御発振器の特性を制御する。周波数検出部は、回路の動作クロックのクロック周波数を検出し、パラメータ算出制御部は、電圧制御発振器のパラメータを算出し、電圧制御発振器の特性を制御する。例えば、回路の動作クロックが速ければ、電圧制御発振器の発振周波数が高くなるように制御し、逆に、動作クロックが遅ければ、電圧制御発振器の発振周波数が低くなるように制御する。
このように、動作クロックに合わせて電圧制御発振器の発振周波数を制御するので、現在動いている周波数に合わせて、最適な発振周波数を得ることができる。
上述した形態における好ましい例では、パラメータ算出制御部は、イコライザの回路特性を、アナログ電圧やアナログ電流、或いは、デジタルコードなどの方法で制御する。これにより、使用している回路に合った制御方法を用いることができる。特に、周波数検出部やパラメータの算出部分を共用化することができるので、回路の無駄をなくすことができる。さらに、A/D変換器やD/A変換器を設けることによって、アナログ電圧の制御方法からデジタルコードによる制御方法に変換したり、逆に、デジタルコードによる制御方法からアナログ電圧やアナログ電流などによる制御方法に変換することもできる。これにより、アナログとデジタルのが混在した回路の制御も容易に行うことが可能となる。
本発明に係るパラメータ制御回路は、インターフェース回路やクロック回路で使用する周波数に応じた回路パラメータを自動的に設定することが可能で、動作速度の種類の増加や動作モードの多様化が進んでも、使用する周波数に応じたパラメータを自動的に設定することができる。
本発明に係るパラメータ制御回路を適用する送信側のインターフェース回路のブロック図である。 本発明に係るパラメータ制御回路を適用する受信側のインターフェース回路のブロック図である。 本発明に係るパラメータ制御回路を適用する受信側のインターフェース回路のブロック図である。 本発明に係るパラメータ制御回路の第1の実施形態の回路図および説明図である。 本発明に係るパラメータ制御回路の第2の実施形態の回路図である。 本発明に係るパラメータ制御回路の第3の実施形態の回路図である。 本発明に係るパラメータ制御回路の第4の実施形態の回路図である。 本発明に係るパラメータ制御回路の第5の実施形態の回路図である。 本発明に係るパラメータ制御回路の第6の実施形態の回路図である。
本発明に係るパラメータ制御回路は、データを入出力するインターフェース回路やクロック回路に使用され、動作する周波数に応じて、回路特性を自動的に可変する制御回路である。以下、パラメータ制御回路のいくつかの実施形態について図面を用いて説明する。尚、各実施形態において、送受信データおよびクロック信号は、特に発生装置などが示されていないが、インターフェース回路を使用する装置もしくは伝送路などから供給される。
先ず、本発明に係るパラメータ制御回路を適用する各実施形態に共通のインターフェース回路の例を、いくつか説明する。
図1は、伝送用LSI(非図示)の中の送信側のインターフェース回路100の構成を示している。インターフェース回路100は、Dラッチ回路103、イコライザ104、周波数検出部106、パラメータ算出制御部107で構成される。
Dラッチ回路103は、伝送用LSIが送信するデータ101をクロック102に同期させて相補のデータに変換し、イコライザ104に出力する。
イコライザ104は、パラメータ算出制御部107が算出した回路パラメータに応じて、Dラッチ回路103が出力する相補のデータの信号特性を可変し、伝送用LSIの外部に相補のデータ105(OUT、OUTx)を出力する。
周波数検出部106は、クロック102の周波数を検出し、パラメータ算出制御部107に出力する。
パラメータ算出制御部107は、周波数検出部106が検出した周波数でイコライザ104が最適な回路特性になるように、イコライザ104の回路パラメータを算出し、イコライザ104に設定する。
ここで、本発明に係るパラメータ制御回路の主な構成要素は、周波数検出部106、パラメータ算出制御部107、イコライザ104である。
次に、図2は、伝送用LSI(非図示)の中の受信側のインターフェース回路200の構成を示している。インターフェース回路200は、イコライザ203、Dラッチ回路204、周波数検出部206、パラメータ算出制御部207で構成される。
イコライザ203は、パラメータ算出制御部207が算出した回路パラメータに応じて、伝送用LSIの外部から受信する相補のデータ201(IN、INx)の信号特性を可変し、Dラッチ回路204に出力する。
Dラッチ回路204は、イコライザ203が出力する相補のデータをクロック202に同期させ、単極のデータ205を伝送用LSI内に出力する。
周波数検出部206は、クロック202の周波数を検出し、パラメータ算出制御部207に出力する。
パラメータ算出制御部207は、周波数検出部206が検出した周波数でイコライザ203が最適な回路特性になるように、イコライザ203の回路パラメータを算出し、イコライザ203に設定する。
ここで、本発明に係るパラメータ制御回路の主な構成要素は、周波数検出部206、パラメータ算出制御部207、イコライザ203である。
尚、周波数検出部206と図1の周波数検出部106、パラメータ算出制御部207と図1のパラメータ算出制御部107、イコライザ203と図1のイコライザ104は、それぞれ同じ回路構成で実現できる。これらの構成要素の回路例は、後で詳しく説明する。
次に、図3は、伝送用LSI(非図示)の中の受信側のインターフェース回路300の構成を示している。インターフェース回路300は、イコライザ203、Dラッチ回路204、周波数検出部206、パラメータ算出制御部207、クロック再生回路(CRU:Clock Recovery Unit)301で構成される。図2と同様に、伝送用LSI(非図示)の中の受信側のインターフェース回路であるが、クロックの入力はなく、相補のデータ201(IN、INx)だけを入力する。尚、図2と同符号のものは同じものを示す。
相補のデータ201(IN、INx)は、パラメータ算出制御部207が算出した回路パラメータで最適な回路特性になるようにイコライザ203で補正され、Dラッチ回路204に出力される。Dラッチ回路204は、イコライザ203が出力する相補のデータをクロック再生回路301が出力するクロックに同期させ、単極のデータ205を伝送用LSI内に出力される。
クロック再生回路301は、データ205からクロック成分を抽出して、クロックの再生を行い、Dラッチ回路204と周波数検出部206とにクロックを出力する。例えば、クロックを再生する方法として、元のデータよりも高速なクロックでデータをサンプリングし、データ列のエッジ部分(変化点)を検出し、エッジの周期からクロックを再生することができる。
以上、本発明に係るパラメータ制御回路を適用できるインターフェース回路について説明した。次に、本発明に係るパラメータ制御回路の実施形態について説明する。
(第1の実施形態)
第1の実施形態に係るパラメータ制御回路は、図1のイコライザ104、周波数検出部106、パラメータ算出制御部107、或いは、図2のイコライザ203、周波数検出部206、パラメータ算出制御部207によって構成される。図4(a)において、401は、周波数検出部106あるいは206と、パラメータ算出制御部107あるいは207とを実現する回路である。また、402は、イコライザ104あるいは203を実現する回路で、パラメータ算出制御部107あるいは207が出力するパラメータ出力403によって特性を可変する。尚、本実施形態の場合のパラメータ出力403は電圧値で与えられる。
クロック102は、論理を反転するインバータと遅延素子とを組み合わせた反転遅延素子DL41とアンド回路AND41とに入力される。アンド回路AND41は、クロック102と反転遅延素子DL41の出力との論理積を取って、トランジスタTr41のゲートに出力する。
ここで、反転遅延素子DL41とアンド回路AND41とで構成される回路は、図4(b)および(c)のように動作する。図4(b)は、クロック102の周波数が高い場合を示し、図4(c)は、クロック102の周波数が低い場合を示している。反転遅延素子DL41の出力信号は、クロック102よりも少し遅延して出力されるので、アンド回路AND41は、クロック102のエッジ付近にパルスを出力する。このパルスは、クロック102の周波数が低い場合は、単位時間当たりの個数が少なく、逆に、クロック102の周波数が高い場合は、単位時間当たりの個数が多くなる。
次に、アンド回路AND41の出力パルスは、nMOS型のトランジスタTr41のゲートに入り、トランジスタTr41は、パルスに応じて、オンオフのスイッチング動作をする。トランジスタTr41のソースは抵抗R41を介して電源(Vcc)に接続され、トランジスタTr41のドレインは抵抗R42およびコンデンサC41の並列回路を介して接地(GND)されている。今、アンド回路AND41からパルスが出ている場合は、トランジスタTr41はオンするので、コンデンサC41がチャージされ、パラメータ出力402の電圧は上昇する。逆に、アンド回路AND41からパルスが出ていない場合は、トランジスタTr41はオフするので、コンデンサC41のチャージは抵抗R42を介して放電され、パラメータ出力402の電圧は下降する。つまり、図4(b)のように、クロック102の周波数が高い場合は、アンド回路AND41から出るパルスの数が多くなるので、コンデンサC41はチャージされる回数が増加し、パラメータ出力402の電圧は高く保たれる。逆に、図4(c)のように、クロック102の周波数が低い場合は、アンド回路AND41の出力パルスは少なくなるので、コンデンサC41はチャージされても放電される時間が長くなるので、パラメータ出力402の電圧は低くなる。このように、周波数検出部106およびパラメータ算出制御部107を構成する回路401は、クロック102の周波数に応じて、パラメータ出力402の電圧を可変することができる。
次に、イコライザ104について説明する。図4(a)において、イコライザ104は、nMOS型のトランジスタTr42およびTr43、抵抗R43およびR44、定電流源CS41およびCS42で構成される一般的な差動増幅回路を基本としている。つまり、非反転入力のINと反転入力のINxとで構成される相補信号が入力され、非反転信号のOUTと反転信号のOUTxの相補信号が出力される。特に、本実施例では、差動増幅回路の特性を可変するために、トランジスタTr42のドレインとトランジスタTr43のドレインとの間に、可変容量コンデンサVC41を設けている。例えば、可変容量コンデンサVC41の容量を大きくすると、差動増幅回路の周波数特性は広くなり、可変容量コンデンサVC41の容量を小さくすると、差動増幅回路の周波数特性は狭くなる。
ここで、可変容量コンデンサVC41の構成例として、バラクタが考えられる。バラクタを使用する場合、図に示すように、2つのバラクタVC411およびVC412を背中合わせに接続することで、パラメータ出力403の電圧によって、可変容量コンデンサVC41の容量を可変することができる。例えば、パラメータ出力403の電圧が高い時、つまり、クロック102の周波数が高い時は、可変容量コンデンサVC41の容量は大きくなり、クロック102の周波数が低い時は、可変容量コンデンサVC41の容量は小さくなる。
このように、クロック102の周波数に応じて、イコライザ104の特性を可変することができ、インターフェース回路で使用するクロック周波数に応じて、常に、最適な回路パラメータになるように制御することができる。この結果、複数の種類の周波数の信号を入出力するインターフェース回路において、ひずみやエラーのないデータ伝送が可能となる。
(第2の実施形態)
第2の実施形態に係るパラメータ制御回路は、第1の実施形態と同様に、図1から図3における周波数検出部106あるいは206、パラメータ算出制御部107あるいは207、イコライザ104あるいは203によって構成される。図5において、501は、周波数検出部106あるいは206と、パラメータ算出制御部107あるいは207と、を実現する回路である。また、502は、イコライザ104あるいは203に相当する差動増幅器で、パラメータ算出制御部107あるいは207が出力するパラメータ出力503によって特性を可変する。本実施形態の場合のパラメータ出力503は電流値で与えられる。
クロック102は、反転遅延素子DL41とアンド回路AND41とに入力される。尚、クロック102がアンプAP51に入力されるまでの回路構成は、第1の実施形態と同符号のものは同じものを示し、同様に動作するので説明を省略する。アンプAP51には、クロック102の周波数に応じた電圧値が入力される。つまり、クロック102の周波数が高い時は高い電圧値が、クロック102の周波数が低い時は低い電圧値が、それぞれアンプAP51に入力される。アンプAP51の出力は、抵抗R51を介してVccに接続されるnMOS型のトランジスタTr51のゲートと、nMOS型のトランジスタTr52のゲートとに入力され、アンプAP51の入力電圧に応じてトランジスタTr51およびTr52に流れる電流値を制御する。トランジスタTr52のソースはパラメータ出力503として、差動増幅器502に入力される。差動増幅器502において、パラメータ出力503の電流値を入力するペアのpMOS型のトランジスタTr53、Tr54およびnMOS型のトランジスタTr55、Tr56は、カレントミラー回路を構成し、トランジスタTr56に流れる電流値をパラメータ出力503の電流値によって制御する。
一方、差動増幅器502は、nMOS型のトランジスタTr57およびTr58、抵抗R52およびR53、バイアス電流を制御するトランジスタTr56で構成される一般的な差動増幅回路を基本としている。つまり、非反転入力のINと反転入力のINxの相補信号が入力され、非反転信号のOUTと反転信号のOUTxの相補信号が出力される。特に、本実施形態では、トランジスタTr56によるバイアス電流を可変することによって、差動増幅回路の特性できるようにしている。例えば、パラメータ出力503の電流を大きくすると、カレントミラー回路を構成するトランジスタTr56に流れる電流値が大きくなる。つまり、差動増幅回路のバイアス電流が大きくなって、消費電力は増えるが、高速動作が可能となり、高周波信号に対応することができる。逆に、パラメータ出力503の電流を小さくすると、カレントミラー回路を構成するトランジスタTr56に流れる電流値が小さくなる。つまり、差動増幅回路のバイアス電流が小さくなり、少ない消費電力で、低周波信号に対応することができる。
このように、クロック102の周波数に応じて、差動増幅器502の特性を可変することができ、インターフェース回路で使用するクロック周波数に応じて、常に、最適な回路パラメータになるように制御することができる。この結果、様々な種類の周波数の信号を入出力するインターフェース回路において、消費電力を抑えながら、ひずみやエラーのないデータ伝送が可能となる。
(第3の実施形態)
第3の実施形態に係るパラメータ制御回路は、デジタル的にイコライザの特性を制御する。図6において、600は、図1または図2のインターフェース回路と同様に、データとクロックを入力してデータを出力するインターフェース回路である。601はデータ入力、602はクロック、603は単極増幅器、604はデータ出力、605はクロック602のクロック周波数を検出してnビットのデジタルコードを出力する周波数検出部、606は周波数検出部605が出力するnビットの周波数検出値に基づいて単極増幅器603の回路パラメータを設定するパラメータ算出制御部、をそれぞれ示している。尚、同図の中で、本発明に係るパラメータ制御回路を構成する主な要素は、周波数検出部605、パラメータ算出制御部606および単極増幅器603である。
単極増幅器603は、イコライザ104あるいは203に相当するもので、特性を可変できる。単極増幅器603は、バッファアンプ607から609と、それぞれのバッファアンプに直列に接続されたスイッチ610から612とが、データ入力602とデータ出力604との間を並列に接続している。つまり、スイッチ610がオンすれば、バッファアンプ607によって、データ入力602とデータ出力604との間が接続され、さらに、スイッチ611がオンすれば、バッファアンプ607と608とによって、データ入力602とデータ出力604との間が接続される。同様に、スイッチ610から612がオンすれば、バッファアンプ607から609とによって、データ入力602とデータ出力604との間が並列に接続される。
一般に、並列接続されるバッファアンプが多くなると、回路に流すことができる電流が増えるので、高速動作が可能となる。逆に、回路に流すことができる電流が少なくなると、高速動作が難しくなる。但し、回路に流れる電流が多くなると消費電力が増えるので、常に、最適な動作状態にすることが求められる。尚、本実施形態では、単極増幅器603の並列回路の数を3つとしたが、3つの回路でなくても複数回路であれば、同様の効果が得られることは明らかである。
次に、周波数検出部605の構成について説明する。周波数検出部605は、例えば、カウンタ613とクロック発生器614とで構成される。カウンタ613は、クロック602をカウントし、リセット(RST)信号が入るとカウンタをリセットすると同時に、その時点のカウント値(nビット)をラッチしてパラメータ算出制御部606に出力する。クロック発生器614は、カウンタ613にRST信号を出力する。尚、クロック発生器614は、クロック602と同期していても構わないし、非同期であっても構わないが、クロック602より十分に遅い周波数で、一定時間毎にカウンタ613をリセットする。つまり、カウンタ613は、クロック602を一定時間カウントし、そのカウント値をパラメータ算出制御部606に出力することになる。従って、クロック602の周波数が高い場合は、一定時間にカウントされるカウント値は大きくなり、逆に、クロック602の周波数が低い場合は、一定時間にカウントされるカウント値は小さくなる。このようにして、周波数の高低に応じたnビットのカウント値がパラメータ算出制御部606に出力される。
次に、パラメータ算出制御部606の構成例について説明する。パラメータ算出制御部606は論理演算回路(デコーダ)615で構成される。周波数検出部605から周波数の高低に応じたnビットのカウント値を入力したデコーダ615は、カウント値に応じて、単極増幅器603のスイッチ610から612をオンオフする。この時、周波数検出部605から入力したnビットのカウント値が大きい場合は、単極増幅器603の多数のスイッチをオンして、データ入力602とデータ出力604との間に挿入されるバッファアンプの数を増やし、高速動作ができるようにする。逆に、周波数検出部605から入力したnビットのカウント値が小さい場合は、高速動作する必要がないので、単極増幅器603のスイッチを少しだけオンして、データ入力602とデータ出力604との間に挿入されるバッファアンプの数を減らし、消費電力を抑える。
このように、クロック602の周波数に応じて、単極増幅器603の特性を可変することができ、インターフェース回路で使用するクロック周波数に応じて、常に、最適な回路パラメータになるように制御することができる。この結果、複数の種類の周波数の信号を入出力するインターフェース回路において、消費電力を抑えながら、ひずみやエラーのないデータ伝送が可能となる。
尚、クロック602は、図3のインターフェース回路のようなクロック入力のないインターフェース回路の場合でも、内部でクロック再生を行うクロック再生回路301を設けることで、同様に実現可能である。
(第4の実施形態)
第4の実施形態に係るパラメータ制御回路は、第1から第3の実施形態を複合した構成の回路である。第1から第3の実施形態は、イコライザの特性を制御するパラメータとして、アナログの電圧値、アナログの電流値およびデジタルデータを用い、1つのイコライザだけを制御対象とした。しかし、実際のインターフェース回路では、例えば、受信側、送信側、さらにクロックを分配するクロック回路など、インターフェース回路の中に特性を調整しなければいけない複数の箇所が存在する。図7に示す本実施形態のパラメータ制御回路は、周波数検出部やパラメータ算出制御部の一部を共通化し、複数のイコライザの特性を可変する。
図7のパラメータ制御回路700において、701は図5の回路501の一部と同じ回路で電流値制御を行うアナログのパラメータ算出制御部、702はデジタルのパラメータ算出制御部をそれぞれ示している。デジタルのパラメータ算出制御部702のデコーダ615は、図6と同様に動作するが、周波数の検出は、図6の周波数検出部605のデジタル式ではなく、図4と同じアナログ式で行い、アナログ電圧のパラメータ出力403をA/D変換器203でnビットのデジタルデータに変換して、デコーダ615に入力している。尚、図4から図6と同符号のものは同じものを示すので、説明は省略する。
このように、図7のパラメータ制御回路700は、回路401からなる1つの周波数検出部を共用化し、電圧値のパラメータで回路特性を制御するイコライザ402や、電流値のパラメータで回路特性を制御する差動増幅器502や、デジタルデータのパラメータで回路特性を制御する単極増幅器603など、複数のイコライザの特性を同時に制御することができる。
この結果、様々な周波数の信号を入出力するインターフェース回路において、入出力する周波数に応じて、複数の箇所のイコライザの特性を可変することができ、最適な回路パラメータになるように制御することができる。しかも、周波数検出部などの回路を共用化することによって、回路規模を少なくできる。また、周波数検出部などの回路の共用化によって、複数の箇所のイコライザの特性が揃うので、安定した特性のインターフェース回路を実現することができる。
(第5の実施形態)
図8に示す第5の実施形態に係るパラメータ制御回路は、第3の実施形態のデジタル式のパラメータ制御回路の応用例である。パラメータ算出制御部801の構成だけが図6のパラメータ算出制御部606と異なり、それ以外の部分は、図6と同じなので説明を省略する。
パラメータ算出制御部801において、周波数検出部605が出力するnビットの周波数値は、デコーダ615に入力されて、単極増幅器603のスイッチ610から612のオンオフを制御する。同時に、D/A変換器802も出力され、デコーダ615の出力値に応じた電圧値を出力する。尚、この時、D/A変換器802にデコーダ615の出力を入力せずに、nビットの信号803をD/A変換器802に入力するようにしても構わない。この場合は、周波数検出部605のカウント値に応じた電圧値が、D/A変換器802からイコライザに出力されることになる。また、D/A変換器802が出力する電圧値のパラメータの出力先は、例えば、図4に示すような電圧値で特性を制御できるイコライザ402である。
このように、周波数検出部605およびパラメータ算出制御部801をデジタル的に処理しながら、アナログ電圧で制御するイコライザ401も同時に制御することが可能となる。デジタルコードで制御することによって、コンピュータとの親和性が良くなり、プログラムによるソフトウェア処理でパラメータの算出を行うことも可能となる。この結果、様々な周波数の信号を入出力するインターフェース回路において、入出力する周波数に応じて、複数の箇所のイコライザの特性をデジタル的に制御するので、イコライザ毎の特性を容易に可変することができる。
(第6の実施形態)
第1から第5の実施形態は、インターフェース回路のデータ入出力部のイコライザの特性を、クロック周波数に応じて、最適な特性に制御する実施形態であったが、第6の実施形態に係るパラメータ制御回路は、イコライザではなく、クロックを生成するPLL回路に適用した例である。
図9(a)において、クロック入力102の周波数検出とパラメータ算出を行う回路401は、図4と同じなので説明を省略する。PLL回路901は、回路401が出力するパラメータ出力403に応じた周波数のクロックを生成する。PLL回路901において、902はクロック102と1/nの分周回路905の出力との位相を比較して、位相のずれを電圧値で出力する位相比較器、903は位相比較器902が出力する電圧値と、パラメータ出力403の電圧値とを加算する加算器、904は加算器903が出力する電圧値に応じて発生するクロックの周波数を可変するVCO(電圧制御発振器)である。VCO904の出力は、分周回路905でクロック102に近い周波数に分周され、位相比較器902に出力される。分周回路905の分周比を可変することで、VCOが発振する所望の周波数を得ることができる。
次に、VCO904の構成例を図9(b)に示す。インバータ906、907および908によってループ状に接続され、インバータ906の出力とインバータ907の入力との間に、可変容量コンデンサVC91が接続され、接地されている。インバータ906から908の奇数のインバータによって、発振し、インバータ908の出力がVCO904の出力クロックとなる。この時、可変容量コンデンサVC91の容量は、インバータ906からインバータ907に渡る信号線との間で一種のフィルタを構成する。
可変容量コンデンサVC91の容量を可変すると、フィルタの特性が変わり、インバータ906から908の3つのインバータが発振する周波数が変わる。例えば、可変容量コンデンサVC91の容量を大きくすると、VCO904が発振するクロックの周波数は低くなり、逆に、可変容量コンデンサVC91の容量を小さくすると、VCO904が発振するクロックの周波数は高くなる。つまり、クロック102のクロック周波数が高くなれば、PLL回路901で発生するクロック周波数も高くなり、逆に、クロック102のクロック周波数が低くなれば、PLL回路901で発生するクロック周波数も低くなる。
尚、可変容量コンデンサVC91は、例えば、図4のVC411およびVC412のように、バラクタなどで構成できる。また、本実施形態では、パラメータ出力403と、位相比較器902の出力902とを、加算器903で加算してから、VCO904に入力するようにしたが、加算器903を設けずに、VCO904の中に、可変容量コンデンサVC91と同じものを、例えば、インバータ907の出力とインバータ908の入力との間にもう一つ設け、それぞれの可変容量コンデンサを、位相比較器902の出力と、パラメータ出力403とに分けても構わない。
このように、周波数検出部およびパラメータ算出制御部を用いて、PLL回路の周波数を制御することによって、インターフェース回路などで使用するクロック周波数に応じて、PLL回路で発生するクロック周波数を可変することができる。
以上、本発明について詳細に説明してきたが、上記の実施形態およびその変形例は発明の一例に過ぎず、本発明はこれに限定されるものではない。本発明を逸脱しない範囲で変形可能であることは明らかである。
本発明は、LSIチップ間やチップ内あるいはボード間や装置間など、デジタル信号を高速に入出力するインターフェース回路やクロック発生部などに適用できる。

Claims (6)

  1. 複数の速度のデータを入出力するインターフェース回路と、
    前記インターフェース回路に入力するクロックまたは前記データから再生されるクロックの周波数を検出する周波数検出部と、
    相補信号を受け取る第1トランジスタおよび第2トランジスタを含むとともに、前記インターフェース回路の特性を可変する差動型イコライザと、
    前記周波数検出部が検出した前記周波数に応じて、前記差動型イコライザの回路パラメータを算出し、前記差動型イコライザの特性を制御するパラメータ算出制御部と
    を有し、
    前記差動型イコライザは前記パラメータに基づいて制御されるとともに、前記第1トランジスタのドレインと前記第2トランジスタのドレインとの間に接続される可変容量コンデンサを含み、
    前記可変容量コンデンサは複数のバラクタを有すること
    を特徴とするパラメータ制御回路。
  2. 前記データからクロックを再生するクロック再生部
    を有することを特徴とする請求項1に記載のパラメータ制御回路。
  3. 前記バラクタは直列接続され、前記直列接続されるノードに前記パラメータが供給されること
    を特徴とする請求項1または請求項2に記載のパラメータ制御回路。
  4. 請求項1に記載のパラメータ制御回路において、
    前記パラメータ算出制御部は、前記回路パラメータをアナログ電圧で出力し、前記差動型イコライザの特性を前記アナログ電圧で制御することを特徴とするパラメータ制御回路。
  5. 複数の速度のデータを入出力するインターフェース回路と、
    前記インターフェース回路に入力するクロックまたは前記データから再生されるクロックの周波数を検出する周波数検出部と、
    前記インターフェース回路の特性を可変するイコライザと、
    前記周波数検出部が検出した前記周波数に応じて、前記イコライザの回路パラメータを算出し、前記イコライザの特性を制御するパラメータ算出制御部と、
    前記パラメータ算出制御部が出力するアナログ電圧をデジタルコードに変換するA/D変換部と、
    前記デジタルコードをデコードしてデコード信号を出力するデコーダと、
    前記デコード信号が入力される単極増幅器と、
    を含み、
    前記単極増幅器は、並列接続される複数のバッファと、前記複数のバッファのそれぞれに接続されるとともに前記デコード信号によって制御される複数のスイッチとを含むこと
    を特徴とするパラメータ制御回路。
  6. 複数の速度のデータを入出力するインターフェース回路と、
    前記インターフェース回路に入力するクロックまたは前記データから再生されるクロックの周波数を検出する周波数検出部と、
    前記インターフェース回路の特性を可変するイコライザと、
    前記周波数検出部が検出した前記周波数に応じて、前記イコライザの回路パラメータを算出し、前記イコライザの特性を制御するパラメータ算出制御部と
    を有し、
    前記パラメータ算出制御部は、前記回路パラメータをアナログ電流で出力し、
    前記イコライザは、前記アナログ電流が供給される第1トランジスタおよび第2トランジスタと前記第2トランジスタに接続される第3トランジスタおよび第4トランジスタを含むカレントミラー回路と前記第4トランジスタに流れる電流によって制御されるとともに相補信号が入力される第5トランジスタおよび第6トランジスタとを含む差動増幅器とを含こと
    を特徴とするパラメータ制御回路。
JP2008506129A 2006-03-23 2006-03-23 パラメータ制御回路 Expired - Fee Related JP4750842B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2006/305856 WO2007108125A1 (ja) 2006-03-23 2006-03-23 パラメータ制御回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2007108125A1 JPWO2007108125A1 (ja) 2009-07-30
JP4750842B2 true JP4750842B2 (ja) 2011-08-17

Family

ID=38522165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008506129A Expired - Fee Related JP4750842B2 (ja) 2006-03-23 2006-03-23 パラメータ制御回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8428112B2 (ja)
JP (1) JP4750842B2 (ja)
WO (1) WO2007108125A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011041109A (ja) * 2009-08-17 2011-02-24 Hitachi Ltd 伝送システムおよび伝送方法
US9030238B2 (en) * 2013-08-26 2015-05-12 Semtech Corporation Semiconductor device and method of cascading matched frequency window tuned LC tank buffers

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07182785A (ja) * 1993-12-21 1995-07-21 Casio Comput Co Ltd 情報再生装置
JP2000011311A (ja) * 1998-06-15 2000-01-14 Sony Corp 再生装置及び記録装置
JP2001052438A (ja) * 1999-08-05 2001-02-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 再生装置
WO2006082648A1 (ja) * 2005-02-04 2006-08-10 Fujitsu Limited クロックバッファ
JP2006331547A (ja) * 2005-05-26 2006-12-07 Sony Corp 周波数制御装置および情報再生装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3355690B2 (ja) * 1993-03-31 2002-12-09 ソニー株式会社 クロック再生装置
JPH11220342A (ja) 1998-02-02 1999-08-10 Kokusai Electric Co Ltd 電力増幅回路におけるトランジスタの可変バイアス回路
US6097767A (en) * 1998-04-17 2000-08-01 Advanced Micro Devices, Inc. Apparatus and method for determining an optimum equalizer setting for a signal equalizer in a communication network receiver
JP2003257133A (ja) * 2002-02-28 2003-09-12 Canon Inc 情報再生装置
JP2005166175A (ja) * 2003-12-03 2005-06-23 Canon Inc 再生クロック生成回路及びそれを用いた情報再生装置
JP4234042B2 (ja) * 2004-03-15 2009-03-04 株式会社リコー 多値情報記録媒体,多値情報波形等化装置,多値情報再生装置
JP4172406B2 (ja) * 2004-03-17 2008-10-29 日本ビクター株式会社 再生装置
JP2006060381A (ja) * 2004-08-18 2006-03-02 Sony Corp 位相同期回路および情報再生装置
US7760799B2 (en) * 2005-09-28 2010-07-20 Altera Corporation Programmable digital equalization control circuitry and methods

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07182785A (ja) * 1993-12-21 1995-07-21 Casio Comput Co Ltd 情報再生装置
JP2000011311A (ja) * 1998-06-15 2000-01-14 Sony Corp 再生装置及び記録装置
JP2001052438A (ja) * 1999-08-05 2001-02-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 再生装置
WO2006082648A1 (ja) * 2005-02-04 2006-08-10 Fujitsu Limited クロックバッファ
JP2006331547A (ja) * 2005-05-26 2006-12-07 Sony Corp 周波数制御装置および情報再生装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20090016421A1 (en) 2009-01-15
JPWO2007108125A1 (ja) 2009-07-30
US8428112B2 (en) 2013-04-23
WO2007108125A1 (ja) 2007-09-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1248372B1 (en) Programmable logic device with high speed serial interface circuitry
US8130016B2 (en) Techniques for providing reduced duty cycle distortion
US6356158B1 (en) Phase-locked loop employing programmable tapped-delay-line oscillator
KR100385232B1 (ko) 서로 다른 주파수를 가지는 클럭 신호들을 동기화시키는회로
KR100295674B1 (ko) 아날로그 혼용 디지탈 디엘엘
US8363773B2 (en) Digital phase interpolation control for clock and data recovery circuit
JP2001326564A (ja) 半導体集積回路
JP2002190724A (ja) クロックアンドデータリカバリ回路とそのクロック制御方法
CN110232886B (zh) 两级判决反馈均衡器和包括两级判决反馈均衡器的显示器
JP2008066879A (ja) オーバーサンプリング回路及びオーバーサンプリング方法
CN113315510A (zh) 时钟生成电路和使用时钟生成电路的半导体装置
KR102653891B1 (ko) 지연 클록 신호의 위상을 보간하기 위한 위상 보간기 및 이를 포함하고, 위상이 보간된 클록 신호를 이용하여 데이터 샘플링을 수행하는 장치
JP4750842B2 (ja) パラメータ制御回路
US8159277B1 (en) Techniques for providing multiple delay paths in a delay circuit
JP4393111B2 (ja) ハーフレートcdr回路
JP4872228B2 (ja) 出力バッファ回路
US6842082B2 (en) Programmable voltage-controlled oscillator with self-calibration feature
JP2003218693A (ja) ハーフレートcdr回路
JP3792329B2 (ja) 内部クロック発生回路
JP2007188395A (ja) クロック信号発生回路
CN108365845B (zh) 快速响应的无参考频率检测器
JPH10126224A (ja) 電圧制御発振回路
JP2005045525A (ja) クロック再生回路

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100817

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101004

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101221

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110128

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110517

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110519

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140527

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees