JP4694942B2 - 定電流回路 - Google Patents

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本発明は、電源電圧の変動によって出力電流が変化することを抑制した定電流回路に関するものである。
図3に従来の定電流回路を示す。MN11,MN12はカレントミラー接続されたエンハンスメント型のNMOSトランジスタ、MP11,MP12,MP13は同様にカレントミラー接続されたエンハンスメント型のPMOSトランジスタ、C11は起動用のキャパシタ、R11は電流設定用の抵抗、R12は負荷抵抗である。トランジスタMN12はトランジスタMN11に対してそのサイズ比(W/L)がK倍になっている。Wはゲート幅、Lはゲート長である。
この定電流回路が発生する電流Irefは、
Figure 0004694942
で与えられる。ここで、βはトランスコンダクタンス係数であり、
Figure 0004694942
である。μnはキャリア移動度、Coxは単位面積当りのゲート容量、WMN12はトランジスタMN12のゲート幅、LMN12はゲート長である。
この電流Irefが、トランジスタMP13によって転移され、出力電流Ioutとして負荷抵抗R12に供給される。
図4に別の従来の定電流回路を示す。この回路は、図3に示した定電流回路に対して、トランジスタMP11に直列にトランジスタMP14を、トランジスタMP12に直列にトランジスタMP15をそれぞれ接続し、それらトランジスタMP14,MP15のゲートに共通のバイアス電圧VB1を印加して、それらトランジスタMMP14,MP15を飽和領域で動作させたのである。この種の定電流回路は、例えば非特許文献1、非特許文献2に開示されている。
黒田忠広、「アナログCMOS集積回路の設計応用編」、丸善株式会社、平成15年3月30日、461頁。 R.Jacob他2名、「CMOS Circuit Design,Layaut,Simulation」、(米国)、IEEE PRESS,1998年、P481。
ところが、図3の定電流回路では、電源電圧VDDが変動すると、トランジスタMP11,MP12,MP13のドレイン・ソース間電位差VDSが変動して、チャネル長変調効果によって、電流Iref、出力電流Ioutが変化するという問題がある。また、図4の定電流回路では、直列接続されているトランジスタMP14,MP15を飽和領域で使用するため、電源電圧VDDの変動に対して電流Iref、出力電流Ioutの変動を抑制できるものの、トランジスタMP14,MP15でのドレイン・ソース間電位差VDSが大きくなり、電源電圧VDDを低くすることができないという問題がある。
本発明の目的は、電源電圧の変動の影響を抑制した出力電流を得ることができ、且つ低い電源電圧でも動作させることができるようにした定電流回路を提供することである。
上記課題を解決するため、請求項1にかかる発明は、同一極性の第1および第2のトランジスタを差動入力段にもつ差動増幅回路と、前記第1および第2のトランジスタの共通ソースに接続された電流源と、前記第1のトランジスタのドレインにゲートが接続されドレインから電流を出力する第3のトランジスタと、一端が該第3のトランジスタのドレインに接続された第1の抵抗とを備え、前記第1および第2のトランジスタのサイズ比を異ならせると共に、前記第1の抵抗の前記一端を前記第2のトランジスタのゲートに、他端を前記第1のトランジスタのゲートにそれぞれ接続して帰還回路を形成し、前記電流源に流れる電流が前記第1の抵抗に流れる電流の2倍になるよう制御する制御手段を設けた定電流回路において、前記第1および第2のトランジスタをエンハンスメント型のNMOSで構成し、前記電流源をエンハンスメント型のNMOSの第4のトランジスタで構成し、前記第1の抵抗の前記他端に直列にエンハンスメント型のNMOSの第5のトランジスタを接続し、前記制御手段を前記第4および第5のトランジスタによるカレントミラーで構成したことを特徴とする定電流回路とした。
本発明の定電流回路によれば、帰還回路を用いて定電流を得るため、電源電圧の変動の影響を抑制した出力電流を得ることができ、且つ低い電源電圧でも動作させることができる利点がある。
[第1の実施例]
図1に本発明の第1の実施例の定電流回路を示す。MP1,MP2,MP3はカレントミラー接続されたエンハンスメント型のPMOSトランジスタ、MND1,MND2は差動接続されたデプレッション型のNMOSトランジスタ、MND3はそのトランジスタMND1,MND2の共通ソースに接続された電流源としてのデプレッション型のNMOSトランジスタ、R1は電流調整用の抵抗、C1は起動用キャパシタ、R2は負荷抵抗である。トランジスタMND1はMND2に対してそのサイズ比(W/L)がK倍に設定されている。トランジスタMP1,MP2はトランジスタMND1,MND2からなる差動回路の能動負荷として働く。つまり、トランジスタMP1,MP2、MND1〜MND3は差動増幅回路を構成する。トランジスタMP3のゲートはこの差動増幅回路の出力端子(トランジスタMP1,MND1の共通ドレイン)に接続されている。負荷抵抗R2は差動回路への帰還回路としても働き、そこに発生する電圧は、トランジスタMND1,MND2からなる差動回路のゲート間に帰還入力する。なお、特許請求の範囲の第1および第2のトランジスタはMND1,MND2に、第3のトランジスタはMP3に、第1の抵抗はR2に、それぞれ相当する。
さて、トランジスタMND1,MND2のドレイン電流Id1,Id2は、Vgs1、Vgs2をトランジスタMND1,MND2のゲート・ソース間電圧、Vth1,Vth2をトランジスタMND1,MND2の閾値電圧、βをトランジスタMND2のトランスコンダクタンス係数とすると、
Figure 0004694942
である。βは、
Figure 0004694942
である。μnはキャリア移動度、Coxは単位面積当りのゲート容量、WMND2はトランジスタMND2のゲート幅、LMND2はトランジスタMND2のゲート長である。
また、Vg1,Vg2をトランジスタMND1,MND2のゲート電圧、VpをトランジスタMND1,MND2の共通ソース電圧とすると、
Figure 0004694942
である。
ここで、式(3)、(4)から、
Figure 0004694942
となるので、この式(8)、(9)に式(6)、(7)を代入し、Vth1=Vth2=Vthとおくと、
Figure 0004694942
Figure 0004694942
となるので、
Figure 0004694942
となる。よって、
Figure 0004694942
となる。
ここで、帰還回路の働きにより差動増幅回路が平衡状態にあるとき、トランジスタMND1,MND2のドレイン電流Id1,Id2は、IssをトランジスタMND3のドレイン電流とすると、
Figure 0004694942
となるので、式(14)は、
Figure 0004694942
となる。
したがって、出力電流Ioutは、
Figure 0004694942
となる。
トランジスタMP3のドレイン電流Ioutにより負荷抵抗R2に発生する電圧がトランジスタMND2のゲート電圧Vg2とトランジスタMND1のゲート電圧Vg1の電位差(Vg2−Vg1)と等しくなるよう、帰還回路が働く。この結果、トランジスタMP3のチャネル長変調効果を抑制することができ、電源電圧VDDが変動しても、出力電流Ioutを一定に保つことが可能となる。また、電源端子と接地間に飽和領域で動作させるトランジスタを直列接続しないので、低電源電圧での動作が可能となる。
[第2の実施例]
図2に第2の実施例の定電流回路を示す。MP4,MP5,MP6はカレントミラー接続されたエンハンスメント型のPMOSトランジスタ、MN1,MN2は差動接続されたエンハンスメント型のNMOSトランジスタ、MN3,MN4はカレントミラー接続されたエンハンスメント型のNMOSトランジスタ、R3は負荷抵抗、C2は起動用キャパシタ、R4は電流調整用の抵抗である。トランジスタMN1はMN2に対してそのサイズ比(W/L)がK倍に設定されている。また、トランジスタMN3はMN4に対してそのサイズ比(W/L)が2倍に設定されている。トランジスタMP4,MP5はトランジスタMN1〜MN3からなる差動回路の能動負荷として働く。つまり、トランジスタMP4,MP5、MN1〜MN3は差動増幅回路を構成する。負荷抵抗R3は差動回路への帰還回路として働き、そこに発生する電圧は、トランジスタMN1,MN2からなる差動回路のゲート間に帰還入力する。特許請求の範囲の第1および第2のトランジスタはMN1,MN2に、第3のトランジスタはMP6に、第4および第5のトランジスタはMN3,MN4に、第1の抵抗はR3に、それぞれ相当する。
さて、トランジスタMN1,MN2のゲート間の電位差(Vg2−Vg1)は、図1で説明した定電流回路と同じであり、差動増幅回路が平衡状態では前記式(15)を満足し、
Figure 0004694942
となる。また、トランジスタMN3のドレイン電流Issは、トランジスタMN3,MN4のカレントミラー比が2であるので、
Figure 0004694942
である。
よって、出力電流Ioutは、
Figure 0004694942
であるので、両辺を二乗すると、右辺のIoutが消えて、
Figure 0004694942
となる。
この定電流回路でも、トランジスタMP6のドレイン電流Ioutにより負荷抵抗R3に発生する電圧がトランジスタMN2のゲート電圧Vg2とトランジスタMN1のゲート電圧Vg1の電位差(Vg2−Vg1)と等しくなるよう、帰還回路が働く。この結果、トランジスタMP4,MP5,MP6のチャネル長変調効果を抑制することができ、電源電圧VDDが変動しても、出力電流Ioutを一定に保つことが可能となる。また、電源端子と接地間に飽和領域で動作させるトランジスタを直列接続しないので、低電源電圧での動作が可能となる。さらに、トランジスタMN3は、トランジスタMN4に対してサイズ比が2倍であるので、電流Issは出力電流Ioutの2倍になるよう制御され、電流Issの変動による出力電流Ioutの変化を小さく抑えることができる。
[その他の実施例]
なお、以上の図1、図2の定電流回路では、差動増幅回路の負荷としてカレントミラー接続したトランジスタMP1,MP2による能動負荷を用いたが、これらトランジスタMP1,MP2は同値の抵抗に置き換えることができる。
本発明の第1の実施例の定電流回路の回路図である。 本発明の第2の実施例の定電流回路の回路図である。 従来の定電流回路の回路図である。 従来の別の定電流回路の回路図である。

Claims (1)

  1. 同一極性の第1および第2のトランジスタを差動入力段にもつ差動増幅回路と、前記第1および第2のトランジスタの共通ソースに接続された電流源と、前記第1のトランジスタのドレインにゲートが接続されドレインから電流を出力する第3のトランジスタと、一端が該第3のトランジスタのドレインに接続された第1の抵抗とを備え、前記第1および第2のトランジスタのサイズ比を異ならせると共に、前記第1の抵抗の前記一端を前記第2のトランジスタのゲートに、他端を前記第1のトランジスタのゲートにそれぞれ接続して帰還回路を形成し、前記電流源に流れる電流が前記第1の抵抗に流れる電流の2倍になるよう制御する制御手段を設けた定電流回路において、
    前記第1および第2のトランジスタをエンハンスメント型のNMOSで構成し、前記電流源をエンハンスメント型のNMOSの第4のトランジスタで構成し、前記第1の抵抗の前記他端に直列にエンハンスメント型のNMOSの第5のトランジスタを接続し、前記制御手段を前記第4および第5のトランジスタによるカレントミラーで構成したことを特徴とする定電流回路。
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