JPS61138318A - 基準電圧発生回路 - Google Patents

基準電圧発生回路

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JPS61138318A
JPS61138318A JP26035484A JP26035484A JPS61138318A JP S61138318 A JPS61138318 A JP S61138318A JP 26035484 A JP26035484 A JP 26035484A JP 26035484 A JP26035484 A JP 26035484A JP S61138318 A JPS61138318 A JP S61138318A
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JP
Japan
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reference voltage
trs
temperature
transistor
channel
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Application number
JP26035484A
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English (en)
Inventor
Toru Shibata
柴田 透
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • G05F3/245Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the temperature

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、絶縁ゲート型電界効果トランジスタ(以下、
MOS)ランジスタと記す)で構成された基準電圧発生
回路に関する。
(従来の技術) 一般に、集積回路において、アナログ・ディジタル変換
器、あるいけ、ディジタル拳アナログ変換器等を構成す
る場合、同一チップ内に基準電圧発生回路を設ける場合
が数多くある。しかも、この基準電圧は温度変動に対し
て極めて安定であることが要求される。
従来、MOS集積回路における基準電子発生回路の一つ
として、同一極性で閾値電圧が異なるMOS)ランジス
タを用いて差動増幅器を構成し、互いのMOS)ランジ
スタの閾値電圧の差を基準電圧として取シ出すという回
路が用いられている。
第1図は従来の基準電圧発生回路の一例の回路図である
Pチャネルトランジスタ11及び12の共通ソース電極
を第1の電源端子10に接続し、共通ゲート電極をトラ
ンジスタ11のドレイン電極に接続すると共にNチャネ
ルトランジスタ13のドレイン電極に接続し、トランジ
スタ12のドレイン電極をトランジスタ13とは閾値電
圧が異々るNチャネルトランジスタ14のドレイン電極
に接続すると共にソース電極が第1の電源端子10にさ
れたPチャネルトランジスタ16のゲート電極に接続し
、トランジスタ13及び14の共通ソース電極をソース
電極が第2の電源端子20に接続されたNチャネルトラ
ンジスタ15のドレイン電極に接続し、トランジスタ1
6のドレイン電極をソース電極が第2の電源端子20に
接続されたNチャネルトランジスタ17のドレイン電極
に接続すると共に出力端子21に接続し、ソース電極が
第1の電源端子10に接続されゲート電極が第2の電源
端子20に接続されたPチャネルトランジスタ18のド
レイン電極をソース電極が第2の電源端子20に接続さ
れたNチャネルトランジスタ19のドレイン電極及びゲ
ート電極及びトランジスタ15.17のゲート電極に接
続することにより差動増幅器を構成し、さらに、トラン
ジスタ14のゲート電極を接地し、トランジスタ13の
ゲート電極を出力端子21に接続することにより基準電
圧発生回路を構成している。
第1図に示した基準電圧発生回路は、現在一般的に用い
られているものであるためその動作原理についての詳細
な説明は省略するが、この回路よシ得られる基準電圧は
、基準電圧をVBIF、 )ランジスタ13のゲート・
ソース間電圧をVosxa、トランジスタ14のゲート
・ソース間電圧をVGI114とすると次式で表わされ
る。
VILIP = Vosta −VGl+14    
   …−−11)次に、この基準電圧VRIIFの温
度依存性について説明する。
MOS)ランジスタのドレイン電流を次式で表わす。
ここで、■はドレイン電流、μは移動度、Cox′は単
位面積当りのゲート酸化膜容量、Wはゲート幅、Lはゲ
ート長、vG!+はゲート・ンース間電、田、VTは閾
値電圧である。
(2)式より次式が得られる。
従って、基準電圧VRIIFは、トランジスタ15に流
れる電流iIo、トランジスタ13に流れる電流をIと
すると、(1)式及び(3)式より次式で表わされる。
ここで添字13及び14はそれぞれトランジスタ13及
び14を示す。
基準電圧VRBFの温度依存性は、(4)式を温度Tで
微分することによシ次式で表わされる。
(5)式かられかるように%MO8)ランジスタの閾値
電圧、移動度、及び、MOSトランジスタに流れる電流
が温度によシ変化するために、基準電圧は温度により変
化する。
次に、このような基準電圧の温度依存性を小さくするた
めに、従来行なわれていた設計法について説明する。
第2図は、従来行なわれていた設計法を説明するための
特性図であfi、MOS)ランジスタのドレイン電流I
Dとゲート・ソース間電圧vG8との関係をパラメータ
として示した図である。
■G8が小さい場合、ドレイン電流は温度が上昇するに
つれ増加するが、これは温度が上昇するにつれ閾値電圧
が減少することが支配項となって生じる。一方、vG8
が大きい場合、ドレイン電流は温度が上昇するにつれ減
少するが、これは温度が上昇するにつれ移動度が減少す
ることが支配項となって生じる。このように、閾値電圧
及び移動度が温度により変化するためにあるvGllに
おいてドレイン電流が温度に依存しなくなる(第2図の
A点)。このことを式で表わすと次のようになる。
(発明が解決しようとする問題点) 上記のように、あるVosにおいてドレイン電流が温度
に依存しなくなるために、従来の基準電圧発生回路にお
いては、第1図におけるトランジスタ13及び14のド
レイン電流及びゲート・ソース間電圧をそれぞれ第2図
におけるA点に定めることによシ、その基準電圧の温度
依存性を小さくするという設計が一般的であった。この
ような設計により得た基準電圧の温度依存性は、(5)
式において(第1項)+(第3項)=0としたものとな
る。なぜなら、トランジスタ13及び14のドレイン電
流及びゲート・ソース間電圧をそれぞれ第2図における
A点に定めるということは、閾値電。
王の温度依存性と移動度の温度依存性とが互いに消去し
合うことになるからである。このときの基準電圧の温度
依存性を式で表わすと次のようになる。
この式は、トランジスタ13及び14に流れる電流が温
度によシ変化するために生じる基準電圧の温度依存性を
示している。従来の設計においては、この項に対する考
慮がされていなかったため、その結果得られる基準電圧
の温度依存性は十分に小さいとは言えない場合が多くあ
った。
本発明の目的は、MOS)ランジスタにより構成され、
かつ温度変動に対する安定性が高い基準電圧を得ること
ができる基準電圧発生回路を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明の基準電圧発生回路は、第1の絶縁ゲート型電界
効果トランジスタと、前記第1のトランジスタと同一極
性で閾値電圧が異なる第2の絶縁ゲート型電界効果トラ
ンジスタとを有し、前記第1及び第2のトランジスタの
閾値電圧の差を基準電圧として出力させる基準電圧発生
回路において、前記第1及び第2のトランジスタのドレ
イン電流。
移動度、チャネル長、チャネル幅、閾値電圧をそれぞれ
s′I *  I o  ’ *  p t +  l
’ 2 、Ll 1  L21 Wl 1W2.v〒1
.V〒2とし、また、温度変動に対するパ かつ を満足させるように、前記第1及び第2のトランジスタ
のドレイン電流、チャネル長、チャネル幅を定めたこと
を特徴として構成される。
(発明の説明) 次に、本発明について更に詳しく説明する。
本発明は、基準電圧発生回路の設計において従来考慮さ
れていkかった(5)式の第2項について、これが最小
となるように設計し、その結果、温度変動に対する安定
性が高い基準電圧を得ようとするものである。具体的に
は、(5)式の第2項の係数を最小にしようとする。
(5)式の第2項の係数は、第1図におけるトランジス
タ13及び14に流れる電流の関数になっているので、
この電流を最適化させることによシこの係数を最小にさ
せることができる。次に、この係数を最小にさせるため
の条件を求める。
・・・・・・・・・ (9) とし、dX/dI=0となる条件を求めると、となり、
これが(5)式の第2項を最小にする条件となる。この
とき、 61式を満足させるようKLus。
L、、、 W、3. W、4.  I、  1.−Iを
決めるだけで々く、同時にトランジスタ13及び14の
ドレイン電流及びゲート・ソース間電圧をそれぞれ第2
図におけるA点に定めることはいうまでもない。
(発明の効果) 以上、詳細に説明したように、本発明によれば、温度変
動に対して極めて安定な基準電圧を出力させる基準電圧
発生回路を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が適用される基準電圧発生回路の等価回
路説明図、第2図は基準電圧の温度特性の一例を示す特
性図をそれぞれ示す。 10.20・・・・・・電源端子、21・・・・・・出
力端子、11.12,16.18・・・・・・Pチャネ
ルトランジスタ、13,14,15,17.19・・・
・・・Nチャネルトランジスタ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 第1の絶縁ゲート型電界効果トランジスタと、前記第1
    のトランジスタと同一極性で閾値電圧が異なる第2の絶
    縁ゲート型電界効果トランジスタとを有し、前記第1及
    び第2のトランジスタの閾値電圧の差を基準電圧として
    出力させる基準電圧発生回路において、前記第1及び第
    2のトランジスタのドレイン電流、移動度、チャネル長
    、チャネル幅、閾値電圧をそれぞれ、I、I_0−1、
    μ_1、μ_2、L_1、L_2、W_1、W_2、V
    _T_1、V_T_2とし、また、温度変動に対する変
    動量を(d/dT)とするとき、 (d/dT)(V_T_1−V_T_2)+√2/2{
    √(I_0−I)/(μ_2)√[(L_2)/(μ_
    2C_0_xW_2)][(d_μ_2)/(dT)]
    −√I/(μ_1)√[(L_1)/(μ_1C_0_
    xW_1)][(d_μ_1)/(dT)]}=0かつ √[(μ_2W_2L_1)/(μ_1W_1L_2)
    ]=(I/I_0−I)^3^/^2を満足させるよう
    に、前記第1及び第2のトランジスタのドレイン電流、
    チャネル長、チャネル幅を定めたことを特徴とする基準
    電圧発生回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6356713A (ja) * 1986-08-28 1988-03-11 Seiko Epson Corp 電圧発生回路
JPH0290215A (ja) * 1988-09-27 1990-03-29 Nec Corp 定電圧発生回路
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