JPH07225626A - 基準電圧発生回路 - Google Patents

基準電圧発生回路

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JPH07225626A
JPH07225626A JP1840094A JP1840094A JPH07225626A JP H07225626 A JPH07225626 A JP H07225626A JP 1840094 A JP1840094 A JP 1840094A JP 1840094 A JP1840094 A JP 1840094A JP H07225626 A JPH07225626 A JP H07225626A
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JP
Japan
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voltage
mosfet
resistor
terminal
gate
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Application number
JP1840094A
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English (en)
Inventor
Hideji Koike
池 秀 治 小
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 製造プロセス等によるMOSFETの閾値電
圧の変化、あるいは電源電圧の変動により、基準電圧に
変化が生じるのを抑制することができる基準電圧発生回
路を提供する。 【構成】 電源電圧Vcc端子に一端が接続された抵抗2
と、この抵抗2の他端と接地電圧Vss端子との間に両端
が接続され、ゲートが電源電圧Vcc端子と抵抗2との接
続ノードに接続されたMOSFET1と、MOSFET
の両端に並列に接続されMOSFET1と閾値電圧及び
寸法が等しいMOSFET3と、MOSFET1及びM
OSFET3の閾値電圧の約2倍の電圧を発生してMO
SFET3のゲートに印加する定電圧回路6,4及び5
とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基準電圧発生回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来の基準電圧発生回路には、例えば特
開昭54−152138号公報に開示されたものがあ
る。この回路は、図2に示されるように電源電圧Vcc端
子と接地電圧Vss端子との間に、抵抗2とNチャネルM
OS型電界効果トランジスタ(以下、MOSFETとい
う)1とが直列に接続され、MOSFET1のゲートに
は電源電圧Vccが印加されている。そして、抵抗2とM
OSFET1のドレインとの間に出力端子11が接続さ
れ基準電圧Vref が出力される。
【0003】また、特公平5−67964号公報には図
3のような基準電圧発生回路が開示されている。
【0004】この回路は、図2の回路において出力端子
11と接地電圧Vss端子との間に抵抗12をさらに付加
したものに相当する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の基準電
圧発生回路にはいずれも次のような問題があった。
【0006】MOSFET1の閾値電圧は、製造プロセ
スや温度の変動により変化する。MOSFET1の閾値
電圧が変化した場合、従来は出力端子11から出力され
る基準電圧Vref に変化が生じないように抑制すること
ができなかった。
【0007】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、MOSFETの閾値電圧が変化した場合でも、基準
電圧に変化が生じるのを抑制することができる基準電圧
発生回路を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の基準電圧発生回
路は、第1の電源電圧端子に一端が接続された抵抗と、
前記抵抗の他端と第2の電源電圧端子との間に両端が接
続され、ゲートが前記第1の電源電圧端子に接続された
一導電型の第1のMOSFETと、前記第1のMOSF
ETの両端に両端が並列に接続され、前記第1のMOS
FETと閾値電圧と寸法が等しい一導電型の第2のMO
SFETと、前記第1及び第2のMOSFETの閾値電
圧の約2倍の電圧を発生し、この電圧を前記第2のMO
SFETのゲートに印加する定電圧回路とを備えてい
る。
【0009】ここで、前記定電圧回路は、前記第1の電
源電圧端子に一端が接続された第1の抵抗と、前記第1
の抵抗の他端と前記第2の電源電圧端子との間に直列に
接続され、ゲートがドレインにそれぞれ接続され前記第
1及び第2のMOSFETの閾値電圧と等しい閾値電圧
を有する一導電型の第3及び第4のMOSFETとを備
え、前記第1の抵抗の他端と前記第3のMOSFETの
一端とを接続するノードが前記第2のMOSFETのゲ
ートに接続されていてもよい。
【0010】
【作用】第1のMOSFETの閾値が変化すると、この
第1のMOSFETに流れる電流が変化する。また、第
1の電源電圧と第2の電源電圧との電位差が相対的に変
動した場合にも、第1のMOSFETに流れる電流が変
化する。第1のMOSFETに流れる電流が増加又は減
少すると、この増加又は減少分を相殺するように、第1
のMOSFETと並列に接続された第2のMOSFET
に流れる電流が変化する。これにより、抵抗と第1のM
OSFETとの接続ノードから発生される基準電圧が変
化することを抑制することができる。
【0011】ここで、定電圧回路が第1の抵抗と第3及
び第4のMOSFETとを備える場合、第1の抵抗と、
第3及び第4のMOSFETの持つ導通抵抗との比で分
割される一定の電圧が第2のMOSFETのゲートに印
加される。
【0012】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。
【0013】先ず、第1の実施例による基準電圧発生回
路の構成を図1に示す。
【0014】電源電圧Vcc端子と接地電圧Vss端子との
間に、抵抗2とNチャネル型MOSFET1とが直列に
接続され、MOSFET1のゲートには電源電圧Vccが
印加されている。そして、抵抗2とMOSFET1のド
レインとを接続するノードAに出力端子11が接続され
基準電圧Vref が出力される。
【0015】さらに、本実施例ではノードAと接地電圧
Vss端子との間に、MOSFET1と並列にNチャネル
型MOSFET3が接続されている。このMOSFET
3は、MOSFET1と閾値電圧と寸法が等しい。
【0016】MOSFET1のゲートには、一定の電圧
を出力する定電圧回路の出力ノードBが接続されてい
る。この定電圧回路は、電源電圧Vcc端子と接地電圧V
ss端子との間に、抵抗6と、Nチャネル型MOSFET
4及び5とが直列に接続されている。ここで、MOSF
ET4及び5は、それぞれゲートがドレインに接続され
MOSFET1及びMOSFET3と同じ閾値電圧を有
する。抵抗6と、MOSFET4のドレインとを接続す
るノードBから、一定の電圧が発生されてMOSFET
3のゲートに印加される。
【0017】この実施例では、MOSFET1と並列に
閾値電圧と寸法が等しいMOSFET3が設けられてお
り、このMOSFET3のゲートにMOSFET1及び
MOSFET3の閾値電圧の2倍の電圧が印加されてい
る点に特徴がある。製造プロセスの変動や温度変化によ
りMOSFET1の閾値電圧が変化すると、MOSFE
T1に流れる電流が増加または減少する。しかし、MO
SFET3に流れる電流が、この増加分又は減少分を相
殺するように変化するので、結果的に出力端子Aから出
力される基準電圧Vref は一定に保たれる。このような
作用について以下に詳述する。
【0018】MOSFET1に流れる電流をi1 、抵抗
2に流れる電流をi2 、MOSFET3に流れる電流を
i3 とすると、ノードAにおいて次の(1)式が成り立
つ。
【0019】但し、MOSFET1、MOSFET3は
3極管動作をしているものとする。 i2 =i1 +i3 (1) さらに、電流i1 ,i2 ,及びi3 についてそれぞれ以
下の(2)〜(4)式が成り立つ。
【0020】 i1 =−β〔Vref −2(Vcc−Vth)〕・Vref /2 (2) i2 =(Vcc−Vref )/R2 (3) i3 =−β〔Vref −2(VB −Vth)〕・Vref /2 (4) 但し、R2 は抵抗2の抵抗値、βは、MOSFET1及
び3の大きさであって、以下の(5)式で表されるもの
とする。
【0021】 β=W・εox・μ/(L・tox) (5) 但し、LはMOSFET1及び3のゲート長 WはMOSFET1及び3のゲート幅 εoxはゲート酸化膜の誘電率 toxはゲート酸化膜の膜厚 μは移動度 とする。
【0022】(2)〜(4)式を(1)に代入すると、 (Vcc−Vref )/R2 =−β〔Vref −2(Vcc−Vth)〕・Vref /2 −β〔Vref −2(VB −Vth)〕・Vref /2 (6) (6)式の両辺をVccで微分すると、 ΔVcc/R2 =β・Vref ・ΔVcc よって、抵抗R2 は、 R2 =1/(β・Vref ) (7) 抵抗R2 の抵抗値を(7)式のように設定すると、
(6)式は電源電圧Vccの変動に対して無関係に成立す
ることになる。
【0023】さらに、(6)式の両辺を閾値電圧Vthに
より微分すると、 0=−β・Vref ・dVth+β(m−1)Vref ・dVth (8) 但し、mは m=VB /Vth (9) とする。
【0024】(8)式より、 m=2 (10) となる。
【0025】よって、(9)及び(10)式より、VB
=2・Vthのとき、(6)式は閾値電圧Vthの変化とは
無関係に成立することになる。
【0026】また、VB =2・Vth且つ1/R2 =β・
Vref のとき(6)式は常に成立する。
【0027】このように、MOSFET3のゲートに印
加されるノードBの出力電圧が、MOSFET1及び3
の閾値電圧Vthの2倍であれば、電源電圧Vccの変動及
びMOSFET1及び3の閾値電圧Vthの変化の影響を
受けずに基準電圧Vref が一定に保たれる。
【0028】2Vthの出力電圧は、図1に示されたよう
な抵抗6と、MOSFET4及び5から成る定電圧回路
を用いることで容易に得られる。即ち、ゲートとドレイ
ンをそれぞれ接続した2つのMOSFET4及び5を直
列に接続したダイオード回路と、抵抗6とを、電源電圧
Vcc端子と接地電圧Vss端子との間に直列に接続するこ
とで、接続ノードBから2Vthが出力される。
【0029】また、このときの基準電圧Vref は、
(7)式より、 Vref =1/(R2 ・β) (11) で表される。
【0030】上述した実施例はいずれも一例であり、本
発明を限定するものではない。例えば、実施例では定電
圧回路が一つの抵抗6と、ゲートとドレインとが接続さ
れた二つのMOSFET4及び5とで構成されている
が、この構成には限定されない。第2のMOSFET3
のゲートに閾値電圧の約2倍の電圧を印加し得るもので
あればよい。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の基準電圧
発生回路は、第1のMOSFETの閾値が変化したり電
源電圧が変動した場合、第1のMOSFETに流れる電
流が変化した分を相殺するように、第1のMOSFET
と並列に接続された第2のMOSFETに流れる電流が
変化するため、出力する基準電圧に変化が生じることを
抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例による基準電圧発生回路
の構成を示した回路図。
【図2】従来の基準電圧発生回路の構成を示した回路
図。
【図3】従来の他の基準電圧発生回路の構成を示した回
路図。
【符号の説明】
1,3〜5 Nチャネル型MOSFET 2,6 抵抗 11 出力端子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の電源電圧端子に一端が接続された抵
    抗と、 前記抵抗の他端と第2の電源電圧端子との間に両端が接
    続され、ゲートが前記第1の電源電圧端子に接続された
    一導電型の第1のMOS型電界効果トランジスタと、 前記第1のMOS型電界効果トランジスタの両端に両端
    が並列に接続され、前記第1のMOS型電界効果トラン
    ジスタと閾値電圧及び寸法が等しい一導電型の第2のM
    OS型電界効果トランジスタと、 前記第1及び第2のMOS型電界効果トランジスタの閾
    値電圧の約2倍の電圧を発生し、この電圧を前記第2の
    MOS型電界効果トランジスタのゲートに印加する定電
    圧回路とを備えたことを特徴とする基準電圧発生回路。
  2. 【請求項2】前記定電圧回路は、 前記第1の電源電圧端子に一端が接続された第1の抵抗
    と、 前記第1の抵抗の他端と前記第2の電源電圧端子との間
    に直列に接続され、ゲートがドレインにそれぞれ接続さ
    れ前記第1及び第2のMOSFETの閾値電圧と同じ閾
    値電圧を有する一導電型の第3及び第4のMOS型電界
    効果トランジスタとを備え、 前記第1の抵抗の他端と前記第3のMOS型電界効果ト
    ランジスタの一端とを接続するノードが前記第2のMO
    S型電界効果トランジスタのゲートに接続されているこ
    とを特徴とする請求項1記載の基準電圧発生回路。
JP1840094A 1994-02-15 1994-02-15 基準電圧発生回路 Pending JPH07225626A (ja)

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Effective date: 20040106

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