JP4620027B2 - 窒化物系半導体発光素子 - Google Patents

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Description

本発明は、窒化物系半導体発光素子に関し、さらに詳細には、同一の単位面積のLEDチップサイズ内で低い駆動電圧を具現できる窒化物系半導体発光素子に関する。
一般に、GaNなどの窒化物系半導体は、優れた物理的、化学的特性により、発光ダイオード(LED)又はレーザーダイオード(LD)などの発光素子の核心素材として注目されつつある。このような窒化物系半導体には、AlxInyGa(1-X-Y)N組成式(ここで、0≦x,0≦y≦1,0≦x+y≦1)を有する物質が広く用いられている。
一方、前記窒化物系半導体発光素子は、従来の電流拡散効率を向上させるために、主に正四角形のLEDチップの形態で形成したが、最近、特定パッケージの形状、例えば、サイドビュー(side view)表面実装型パッケージの場合、X軸又はY軸のサイズが次第に減少しており、それにより、長方形のLEDチップの形態で形成する。
しかしながら、前記長方形のLEDチップは、X軸又はY軸のサイズ減少により、発光のための一定水準に該当する発光面積が減少し、コンタクト抵抗が増加して駆動電圧が増加するという問題がある。
以下、図1を参照して、従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子の問題について詳細に説明する。
同図は、従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子の問題を説明するために示した図であって、長方形のそれぞれのLEDチップのサイズ変化に応じる駆動電圧の変化を説明するための図である。
同図に示すように、従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子は、長方形LEDチップのX軸とY軸のサイズ変化に応じて、(イ)、(ロ)、(ハ)及び(ニ)の形態で形成されており、LEDチップのサイズが(ニ)から(イ)に変化するにつれて、すなわち、長方形LEDチップのサイズが次第に小型化するほど、駆動電圧(V)の大きさは、次第に高くなることが分かる。
さらに詳細には、まずX軸のサイズが610μmで同一であり、Y軸のサイズが210μmと300μmで互いに異なる(イ)と(ハ)を比較すれば、300μmのY軸サイズを有する(ハ)の駆動電圧に比べて、これよりも90μm小さい210μmのY軸サイズを有する(イ)の駆動電圧がより高いことが分かる。
また、X軸のサイズが610μmと660μmで互いに異なり、Y軸のサイズが300μmで同一である(ハ)と(ニ)を比較すれば、660μmのX軸サイズを有する(ニ)の駆動電圧に比べて、これよりも50μm小さい610μmのX軸サイズを有する(ハ)の駆動電圧がより高いことが分かる。
このように、従来の技術に係る長方形のLEDチップは、X軸又はY軸のサイズが減少するにつれて発光面積が減少し、すなわち長方形のLEDチップが小型化するにつれて駆動電圧が増加する。
したがって、前記長方形LEDチップの駆動電圧を向上させることができる発光素子関連技術の開発が継続して求められている。
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、p型電極とn型電極との間の距離を同一に維持して、電流拡散効率を向上させることによって、同一の単位面積のLEDチップサイズ内で低い駆動電圧を具現できる窒化物系半導体発光素子を提供することにある。
上記の目的を達成すべく、本発明に係る窒化物系半導体発光素子によれば、基板と、前記基板上に形成されているn型窒化物半導体層と、前記n型窒化物半導体層上の所定領域に形成されている活性層と、前記活性層上に形成されているp型窒化物半導体層と、前記p型窒化物半導体層上に形成されている透明電極と、前記透明電極上に2つのp型枝電極を有して形成されているp型電極と、前記活性層が形成されていないn型窒化物半導体層上に、一個のn型枝電極を有して形成されているn型電極とを備え、前記n型枝電極が、前記2つのp型枝電極の間に挿入された構造で形成されており、前記n型枝電極の両側辺と隣接した前記透明電極の最外郭の辺と、前記2つのp型枝電極とは互いに平行であり、前記2つのp型枝電極から、前記n型枝電極の両側辺と隣接した前記透明電極の最外郭の辺までの最短距離と、前記n型枝電極の端部に隣接した前記透明電極の最外郭の辺の中心から、前記2つのp型枝電極を除いた前記p型電極の部分の側辺までの最短距離が互いに実質的に同一である、ことを特徴とする。
また、本発明に係る窒化物系半導体発光素子において、前記p型電極が、前記透明電極の最外郭の辺から所定間隔が離隔されて形成されていることが好ましい。
これは、前記p型電極とn型電極との間の距離を最小化させることにより、電流拡散効率をさらに向上させるためのものである。
本発明によれば、前記透明電極170上にp型電極の枝電極を透明電極の最外郭の辺に沿って均一に取り込まれるように配置することによって、透明電極とn型窒化物系半導体層との面抵抗の差により発生する局部的な電流集中現象を最小化することができる。
また、本発明によれば、前記p型電極の間にn型電極が所定間隔で離隔されて挿入されている構造に配置し、p型電極とn型電極との間の距離を同一に維持して電流拡散効率を向上させることによって、同一の単位面積のLEDチップサイズ内で低い駆動電圧を具現できる窒化物系半導体発光素子が提供される。
したがって、本発明は、窒化物系半導体発光素子の輝度特性を向上させ、劣化率は減少させることにより、素子の特性及び信頼性を向上させることができるという効果がある。
以下、本発明の好ましい実施の形態を、添付図面に基づき詳細に説明する。
図面において、複数の層及び領域を明確に表現するために、厚さを拡大して示した。明細書全体を通じて、類似した部分に対しては、同一の符号を付している。
以下、本発明の実施の形態に係る窒化物系半導体発光素子について、図面を参考にして詳細に説明する。
まず、図2〜図4を参照して、本発明の一実施の形態に係る窒化物半導体発光素子の構造について詳細に説明する。
図2は、本発明の一実施の形態に係る窒化物系半導体発光素子の構造を示す平面図であり、図3は、図2のIII−III´断面図であり、図4は、図2に示す窒化物系半導体発光素子の発光写真である。
図2と図3を参照すれば、本発明に係る窒化物系半導体発光素子は、光透過性基板100、該基板100上にバッファ層110、n型窒化物半導体層120、活性層130、及びp型窒化物半導体層140が順次積層されて形成された発光構造物を備える。
前記基板100は、窒化物半導体単結晶を成長させるのに適した基板であって、好ましくは、サファイアを含む透明な材料を利用して形成し、サファイアの他に、基板110は、ジンクオキサイド(zinc oxide,ZnO)、ガリウムナイトライド(gallium nitride,GaN)、シリコンカーバイド(silicon carbide,SiC)、及びアルミニウムナイトライド(AlN)で形成することができる。
前記バッファ層110は、前記基板100上にn型窒化物半導体層120を成長させる前に前記サファイア基板110との格子整合を向上させるための層であって、一般にAlN/GaNで形成されている。
前記n型窒化物半導体層120、p型半導体層140、及び活性層130は、InXAlYGa1-X-YN組成式(ここで、0≦X,0≦Y,X+Y≦1)を有する半導体物質からなることができる。より詳細には、前記n型窒化物半導体層120は、n型導電形不純物がドーピングされたGaN層又はGaN/AlGaN層からなるものであってもよく、n型導電形不純物には、例えば、Si,Ge,Snなどを使用し、好ましくは、Siを主に使用する。また、前記p型窒化物半導体層140は、p型導電形不純物がドーピングされたGaN層又はGaN/AlGaN層からなるものであってもよく、p型導電形不純物には、例えば、Mg,Zn,Beなどを使用し、好ましくは、Mgを主に使用する。そして、前記活性層130は、多重量子井戸(Multi−Quantum Well)構造のInGaN/GaN層からなるものであってもよい。
一方、前記活性層130は、1つの量子井戸層又はダブルヘテロ構造で形成することができる。
また、前記活性層130とp型窒化物半導体層140の一部は、メサエッチングにより除去されて、底面に形成されたn型窒化物半導体層120の一部上面を露出している。
前記露出されたn型窒化物半導体層120上には、n型電極160が形成されている。本実施の形態に係る前記n型電極160は、電流拡散特性を向上させるために、1個のn型枝電極160´を有している。
前記p型窒化物半導体層140上には、透明電極170が形成されている。このとき、前記透明電極170は、ITO(Indium Tin Oxide)のような導電性金属酸化物のみではなく、発光素子の発光波長に対して透過率が高い場合、導電性が高く、かつコンタクト抵抗が低い金属薄膜でも形成することができる。
一方、前記透明電極170が金属薄膜からなっている場合には、透過率を確保するために、金属の膜厚を50nm以下に維持することが好ましく、例えば、膜厚10nmのNiと膜厚40nmのAuが順次積層されている構造を有することができる。
そして、前記透明電極170上には、p型電極150が形成されている。本実施の形態に係る前記p型電極150は、電流拡散特性を向上させるために、2個のp型枝電極150´を有している。
ここで、前記2個のp型枝電極150´は、水平型LEDチップの特性上、前記透明電極170の面抵抗(Rs)が前記n型窒化物系半導体層120の面抵抗より大きいことによって発生する局部的な電流集中現象を最小化するために、前記透明電極170の最外郭の辺に沿って均一に取り囲まれるように形成されており、前記2個のp型枝電極150´と1個のn型枝電極160´は、前記2個のp型枝電極150´の間にn型枝電極160´が挿入されている構造で形成されている。
また、本実施の形態では、透明電極150とn型窒化物半導体層120との互いに異なる面抵抗(Rs)により発生する局部的な電流集中現象を最小化するために、前記n型電極160と隣接した透明電極170の最外郭の辺からそれと隣接したp型電極150までの距離が、前記p型電極150のどの地点においても同一に形成されていることが好ましい。例えば、図2に示すように、a,b,c,d及びeが同じ距離を有することが好ましい。
その結果、図4に示すように、本発明に係る窒化物系半導体発光素子の電流拡散効率を向上させて、最近、長方形のLEDチップが小型化するにつれて増加している発光素子の駆動電圧を減少させることにより、優れた駆動電圧の特性を確保することが可能である。上記のように、駆動電圧が減少すれば、消費電力も減少させることができるため、窒化物半導体の発光素子を駆動する際、不要な熱の発生を減少させるようになって、素子の劣化を最小化することができる。
以下、本発明の一実施の形態に係るn型電極160とp型電極150について、図5及び図6を参考にして詳細に説明する。
図5は、本発明に係る窒化物半導体発光素子のチップサイズに応じる駆動電圧変化を説明するために示した図であり、図6は、従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子の輝度と、本発明に係る窒化物系半導体発光素子の輝度とを比較して示した図である。
まず、図5に示すように、本発明に係る窒化物系半導体発光素子は、長方形LEDチップのX軸とY軸のサイズ変化に応じて、(ホ)、(ヘ)、(ト)及び(チ)で形成されており、LEDチップのサイズが(チ)から(ホ)に変化されるにつれて、すなわち、長方形LEDチップのサイズが次第に小型化するほど、駆動電圧(V)の大きさは、次第に高くなることが分かる。
しかしながら、本発明に係る互いに異なる電極のうちのいずれかの電極が他の一方の電極の間に挿入されている構造を有する窒化物系半導体発光素子は、従来の技術によって製造された窒化物系半導体発光素子(図1参照)と比較すれば、同じ大きさの長方形LEDチップにおいて現れる駆動電圧の大きさがより低いことが分かる。
このように、駆動電圧の大きさが低くなれば、電流拡散効率も向上して、優れた窒化物系半導体発光素子の輝度特性を得ることができる。
図6は、同一のサイズの長方形LEDチップに対して、従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子の輝度と、本発明に係る窒化物系半導体発光素子の輝度特性とを比較して示した図であって、X軸のサイズが660μmであり、Y軸のサイズが270μmである(ロ)と(ヘ)、X軸のサイズが610μmであり、Y軸のサイズが300μmである(ハ)と(ト)、及びX軸のサイズが660μmであり、Y軸のサイズが300μmである(ニ)と(チ)の輝度特性を比較した。このとき、(ロ)、(ハ)及び(ニ)は、従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子であり、(ヘ)、(ト)及び(チ)は、本発明に係る窒化物系半導体発光素子である。
すなわち、図6を参照すれば、本発明に係る窒化物系半導体発光素子の輝度特性が、従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子の輝度特性に比べて優れていることが分かる。
上述した本発明の好ましい実施の形態は、例示の目的のために開示されたものであり、本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で、様々な置換、変形、及び変更が可能であり、このような置換、変更などは、特許請求の範囲に属するものである。
従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子の問題点を説明するために示す図である。 本発明の一実施の形態に係る窒化物系半導体発光素子の構造を示す平面図である。 図2のIII−III´断面図である。 図2に示す窒化物系半導体発光素子の発光写真である。 本発明に係る窒化物半導体発光素子のチップサイズに応じる駆動電圧変化を説明するために示す図である。 従来の技術に係る窒化物系半導体発光素子の輝度と、本発明に係る窒化物系半導体発光素子の輝度とを比較して示す図である。
符号の説明
100 基板
110 バッファ層
120 n型窒化物半導体層
130 活性層
140 p型窒化物半導体層
150 p型電極
150´ p型枝電極
160 n型電極
160´ n型枝電極
170 透明電極
a、b、c、d、e 距離

Claims (2)

  1. 基板と、
    前記基板上に形成されているn型窒化物半導体層と、
    前記n型窒化物半導体層上の所定領域に形成されている活性層と、
    前記活性層上に形成されているp型窒化物半導体層と、
    前記p型窒化物半導体層上に形成されている透明電極と、
    前記透明電極上に2つのp型枝電極を有して形成されているp型電極と、
    前記活性層が形成されていないn型窒化物半導体層上に、一個のn型枝電極を有して形成されているn型電極と
    を備え、
    前記n型枝電極は、前記2つのp型枝電極の間に挿入された構造で形成されており、
    前記n型枝電極の両側辺と隣接した前記透明電極の最外郭の辺と、前記2つのp型枝電極とは互いに平行であり、
    前記2つのp型枝電極から、前記n型枝電極の両側辺と隣接した前記透明電極の最外郭の辺までの最短距離と、前記n型枝電極の端部に隣接した前記透明電極の最外郭の辺の中心から、前記2つのp型枝電極を除いた前記p型電極の部分の側辺までの最短距離が互いに実質的に同一であり、
    前記2つのp型枝電極から、前記n型枝電極の両側辺と隣接した前記透明電極の最外郭の辺までの最短距離と、前記2つのp型枝電極の端部から、前記n型枝電極を除いた前記n型電極の部分に隣接した前記透明電極の最外郭の辺までの最短距離が互いに同一である
    ことを特徴とする窒化物系半導体発光素子。
  2. 前記p型電極は、前記透明電極の最外郭の辺から所定間隔が離隔されて形成されていることを特徴とする請求項1に記載の窒化物系半導体発光素子。
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Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6633120B2 (en) * 1998-11-19 2003-10-14 Unisplay S.A. LED lamps
KR100907524B1 (ko) 2007-07-06 2009-07-14 (주)더리즈 발광 다이오드 소자와 그 제조 방법
KR20090073935A (ko) * 2007-12-31 2009-07-03 주식회사 에피밸리 3족 질화물 반도체 발광소자
DE102008045653B4 (de) * 2008-09-03 2020-03-26 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauteil
KR101000276B1 (ko) * 2008-12-04 2010-12-10 주식회사 에피밸리 반도체 발광소자
WO2011040703A2 (ko) 2009-09-30 2011-04-07 주식회사 세미콘라이트 반도체 발광소자
KR101069362B1 (ko) * 2009-11-27 2011-09-30 주식회사 세미콘라이트 반도체 발광소자
US9324691B2 (en) * 2009-10-20 2016-04-26 Epistar Corporation Optoelectronic device
CN102104099B (zh) * 2009-12-18 2012-05-09 上海蓝光科技有限公司 高亮度发光二极管芯片的制造方法
JP5506417B2 (ja) * 2010-01-15 2014-05-28 スタンレー電気株式会社 フェイスアップ型光半導体装置
JP5087097B2 (ja) 2010-03-08 2012-11-28 株式会社東芝 半導体発光素子
KR101054983B1 (ko) * 2010-03-29 2011-08-05 엘지이노텍 주식회사 발광 소자, 발광 소자 제조방법, 발광 소자 패키지
KR101110937B1 (ko) * 2010-05-17 2012-03-05 엘지이노텍 주식회사 질화물 반도체 발광소자
US20120037946A1 (en) * 2010-08-12 2012-02-16 Chi Mei Lighting Technology Corporation Light emitting devices
JP2012043924A (ja) * 2010-08-18 2012-03-01 Sharp Corp Ledの信頼性評価方法および評価用チップ
KR101049490B1 (ko) * 2010-09-13 2011-07-15 주식회사 루멘스 발광소자 칩, 이를 구비한 발광소자 패키지 및 이를 구비한 백라이트 모듈
WO2012057469A2 (ko) * 2010-10-25 2012-05-03 주식회사 세미콘라이트 반도체 발광소자
KR101054112B1 (ko) * 2011-01-24 2011-08-03 (주)더리즈 반도체 발광소자 및 그의 제조방법
CN102903798B (zh) * 2011-07-28 2015-09-16 上海博恩世通光电股份有限公司 正向及背向同时出光的led及其制作方法
JP2012074748A (ja) * 2012-01-16 2012-04-12 Toshiba Corp 半導体発光素子
KR101363496B1 (ko) * 2012-07-18 2014-02-17 주식회사 세미콘라이트 반도체 발광소자의 제조 방법
CN103988322B (zh) 2012-07-18 2016-10-12 世迈克琉明有限公司 半导体发光器件
EP2782149B1 (en) 2012-07-18 2022-10-19 Semicon Light Co., Ltd. Semiconductor light-emitting device
CN103975451B (zh) * 2012-07-18 2016-10-12 世迈克琉明有限公司 制造半导体发光器件的方法
KR101291088B1 (ko) * 2012-07-18 2013-08-01 주식회사 세미콘라이트 반도체 발광소자
KR101983774B1 (ko) * 2012-09-20 2019-05-29 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
JP6400281B2 (ja) * 2013-09-12 2018-10-03 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation 複数の発光構造を有する発光素子
KR101541363B1 (ko) * 2013-11-08 2015-08-03 일진엘이디(주) 균일한 전류 확산 구조를 가진 발광 다이오드
JP2016054308A (ja) * 2015-11-17 2016-04-14 日亜化学工業株式会社 半導体発光素子
KR101662198B1 (ko) * 2015-12-30 2016-10-05 서울바이오시스 주식회사 전극 연장부들을 갖는 발광 다이오드
KR101792940B1 (ko) * 2016-04-20 2017-11-20 고려대학교 산학협력단 광 추출 효율 개선을 위한 led 소자
CN108417680B (zh) * 2017-02-21 2020-04-28 福建兆元光电有限公司 一种电流扩散效率高的半导体led芯片
CN113036014B (zh) * 2019-12-25 2022-07-05 深圳第三代半导体研究院 一种垂直集成单元发光二极管

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001345480A (ja) * 2000-03-31 2001-12-14 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体素子
JP2004056109A (ja) * 2002-05-27 2004-02-19 Nichia Chem Ind Ltd 窒化物半導体発光素子、発光素子、素子積層体、並びにそれらを用いた発光装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6614056B1 (en) * 1999-12-01 2003-09-02 Cree Lighting Company Scalable led with improved current spreading structures
US7193245B2 (en) * 2003-09-04 2007-03-20 Lumei Optoelectronics Corporation High power, high luminous flux light emitting diode and method of making same
US6650018B1 (en) * 2002-05-24 2003-11-18 Axt, Inc. High power, high luminous flux light emitting diode and method of making same
JP4415575B2 (ja) 2003-06-25 2010-02-17 日亜化学工業株式会社 半導体発光素子及びそれを用いた発光装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001345480A (ja) * 2000-03-31 2001-12-14 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体素子
JP2004056109A (ja) * 2002-05-27 2004-02-19 Nichia Chem Ind Ltd 窒化物半導体発光素子、発光素子、素子積層体、並びにそれらを用いた発光装置

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