JP4599075B2 - 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4599075B2 JP4599075B2 JP2004085441A JP2004085441A JP4599075B2 JP 4599075 B2 JP4599075 B2 JP 4599075B2 JP 2004085441 A JP2004085441 A JP 2004085441A JP 2004085441 A JP2004085441 A JP 2004085441A JP 4599075 B2 JP4599075 B2 JP 4599075B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adhesive tape
- peeling
- suction
- semiconductor wafer
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 498
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 73
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 claims description 246
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 83
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 82
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 73
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 66
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 56
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 54
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 21
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 17
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 17
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 12
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 12
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 12
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 7
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 claims description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims 70
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims 1
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 17
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 8
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010309 melting process Methods 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 229920003209 poly(hydridosilsesquioxane) Polymers 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- -1 Polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920000090 poly(aryl ether) Polymers 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68381—Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
- H01L2221/68386—Separation by peeling
- H01L2221/6839—Separation by peeling using peeling wedge or knife or bar
Description
裏面に接着剤層が貼り付けられた複数の半導体チップで構成され個片化された半導体ウェーハの素子形成面の上に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置が提供される
裏面全面に接着剤層が貼り付けられて個片化された半導体ウェーハの素子形成面の上に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記接着剤層を切断する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置が提供される
裏面全面に接着剤層が貼り付けられた半導体ウェーハの素子形成面の上に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記半導体ウェーハを切断して個片化するとともに前記接着剤層を切断する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置が提供される
素子形成面に接着剤層が貼り付けられた複数の半導体チップから構成されて個片化された半導体ウェーハの素子形成面に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置が提供される
半導体ウェーハの素子形成面に接着剤層を介して接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記接着剤層及び前記半導体ウェーハを半導体チップ形状に切断する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置が提供される。
個片化された半導体ウェーハの素子形成面に接着剤層を介して形成された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記接着剤層を切断する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着し、
前記接着剤層の切断状況に合わせて前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置が提供される。
半導体ウェーハの素子形成面に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記半導体ウェーハを切断して個片化する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置が提供される。
裏面に接着剤層が貼り付けられた複数の半導体チップから構成され個片化された半導体ウェーハの上に接着された粘着性テープを剥離する工程を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離方向に沿った剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含む、
半導体装置の製造方法が提供される。
個片化され、裏面全面に接着剤層が貼り付けられた半導体ウェーハの上に接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記接着剤層を半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープを剥離方向に沿って剥離し、前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記接着剤層の切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、
半導体装置の製造方法が提供される。
裏面全面に接着剤層が貼り付けられた半導体ウェーハの上に接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記半導体ウェーハ及び前記接着剤層を半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記半導体ウェーハ及び前記接着剤層の切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、
半導体装置の製造方法が提供される。
個片化された半導体ウェーハの素子形成面に接着剤層を介して接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記接着剤層を半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記接着剤層の切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、
半導体装置の製造方法が提供される。
素子形成面に接着剤層がそれぞれ貼り付けられた複数の半導体チップで構成され個片化された半導体ウェーハに接着された粘着性テープを剥離する工程を具備し、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
を含む、
半導体装置の製造方法が提供される。
素子形成面に接着剤層が貼り付けられた半導体ウェーハに接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記半導体ウェーハ及び前記接着剤層を半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記半導体ウェーハ及び前記接着剤層の切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、
半導体装置の製造方法が提供される。
半導体ウェーハに接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記半導体ウェーハを半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記半導体ウェーハの切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、
半導体装置の製造方法が提供される。
この実施形態では、半導体製造装置として粘着性テープの剥離機構、半導体チップのピックアップ機構を有するダイボンダを例にとって説明する。
ップ30は、リードフレームなどにボンディングされる。切断手段としてのレーザは、YAGレーザ、CO2レーザ、単パルスレーザを含む。
2:ウェーハ吸着部
2−1〜2−7:吸着エリア
3、33、43、53、63、73、83:保持テーブル
4:TVカメラ
5:リードフレーム供給部
6:リードフレーム搬送装置
7:ペースト供給装置
8:ボンディングツール
9:リードフレーム収納部
10、36、56、66、76、86:吸着コレット
11:位置修正ステージ
12:ボンディングヘッド
13:リードフレーム
14:導電性ペースト
15:トレイ
16:実装基板
17:フィルム基板
18:TABテープ
19a、19b:加熱ツール
20:吸引装置
21、31、41、51、61、71、81:剥離爪
22、32、42、52、62、72、82:補助プレート
23−1〜23−7:接続孔
24、34、44、54、64、74、84:粘着性テープ
25A、25B:真空配管
26−A〜26−G:切換弁
27A、27B:バキュームポンプ
28、30:プレート
29、39、49、59、69、79、89:接着剤層
35:ウェーハリング
210:低誘電率絶縁膜(low-k膜)
Claims (24)
- 裏面に接着剤層が貼り付けられた複数の半導体チップで構成され個片化された半導体ウェーハの素子形成面の上に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置。 - 裏面全面に接着剤層が貼り付けられて個片化された半導体ウェーハの素子形成面の上に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記接着剤層を切断する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置。 - 裏面全面に接着剤層が貼り付けられた半導体ウェーハの素子形成面の上に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記半導体ウェーハを切断して個片化するとともに前記接着剤層を切断する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置。 - 前記半導体ウェーハは、前記素子形成面に形成された封止樹脂と、この封止樹脂に接して成膜された低誘電率絶縁膜とを有し、
前記粘着性テープは、前記封止樹脂及び前記低誘電率絶縁膜を介して前記半導体ウェーハの前記素子形成面上に接着され、
前記低誘電率絶縁膜及び前記封止樹脂の一部を溶融固着させる加熱手段をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体製造装置。 - 前記低誘電率絶縁膜は、20度から40度の入射角で前記半導体チップの周縁部に入射するレーザにより溶融されることを特徴とする請求項4に記載の半導体製造装置。
- 素子形成面に接着剤層が貼り付けられた複数の半導体チップから構成されて個片化された半導体ウェーハの素子形成面に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置。 - 半導体ウェーハの素子形成面に接着剤層を介して接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記接着剤層及び前記半導体ウェーハを半導体チップ形状に切断する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置。 - 個片化された半導体ウェーハの素子形成面に接着剤層を介して形成された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記接着剤層を切断する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着し、
前記接着剤層の切断状況に合わせて前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置。 - 半導体ウェーハの素子形成面に接着された粘着性テープを剥離する剥離機構を具備し、
前記剥離機構は、粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材で前記半導体ウェーハを吸着固定する吸着部を有し、且つ前記半導体ウェーハを切断して個片化する切断手段を有し、
前記吸着エリアの各々に対応して設けられ、前記半導体ウェーハを吸着する第1系統及び第2系統の真空配管をさらに有し、前記粘着性テープの剥離位置にしたがって前記第1系統の真空配管と前記第2系統の真空配管とを吸引エリア毎に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着する、
半導体製造装置。 - 前記真空配管の切り換えは、前記粘着性テープの剥離が隣接する前記吸着エリアに達する付近で行われることを特徴とする請求項1乃至請求項9のいずれかに記載の半導体製造装置。
- 前記粘着性テープは、ウェーハリングに貼り付けられることを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれかに記載の半導体製造装置。
- 前記粘着性テープは、前記個片化された半導体ウェーハの外周部と等しいかそれよりも大きいことを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれかに記載の半導体製造装置。
- 前記粘着性テープの剥離終了後に、前記吸着コレットで個々の半導体チップを吸着してピックアップする吸着コレットをさらに有することを特徴とする請求項1乃至請求項12のいずれかに記載の半導体製造装置。
- 裏面に接着剤層が貼り付けられた複数の半導体チップから構成され個片化された半導体ウェーハの上に接着された粘着性テープを剥離する工程を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離方向に沿った剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含む、
半導体装置の製造方法。 - 個片化され、裏面全面に接着剤層が貼り付けられた半導体ウェーハの上に接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記接着剤層を半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープを剥離方向に沿って剥離し、前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記接着剤層の切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、
半導体装置の製造方法。 - 裏面全面に接着剤層が貼り付けられた半導体ウェーハの上に接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記半導体ウェーハ及び前記接着剤層を半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記半導体ウェーハ及び前記接着剤層の切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、半導体装置の製造方法。 - 前記半導体ウェーハは、前記素子形成面に形成された封止樹脂と、この封止樹脂に接して成膜された低誘電率絶縁膜とを有し、
前記粘着性テープは、前記封止樹脂及び前記低誘電率絶縁膜を介して前記半導体ウェーハの前記素子形成面の上に接着され、
前記低誘電率絶縁膜及び前記封止樹脂の一部を溶融固着させる加熱工程をさらに備えることを特徴とする請求項14乃至16のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。 - 個片化された半導体ウェーハの素子形成面に接着剤層を介して接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記接着剤層を半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記接着剤層の切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、半導体装置の製造方法。 - 素子形成面に接着剤層がそれぞれ貼り付けられた複数の半導体チップで構成され個片化された半導体ウェーハに接着された粘着性テープを剥離する工程を具備し、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
を含む、半導体装置の製造方法。 - 素子形成面に接着剤層が貼り付けられた半導体ウェーハに接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記半導体ウェーハ及び前記接着剤層を半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記半導体ウェーハ及び前記接着剤層の切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、
半導体装置の製造方法。 - 半導体ウェーハに接着された粘着性テープを剥離する工程と、
前記粘着性テープを剥離してから前記半導体ウェーハを半導体チップ毎に分離するように切断する工程と、を具備し、
前記粘着性テープを剥離する工程は、
前記粘着性テープの剥離方向に対して、少なくとも2つの吸着エリアに分離された多孔質材を介して、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第1系統及び第2系統の吸引経路で前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、
前記粘着性テープの剥離順序が前である隣接する吸着エリアの粘着テープが剥離されたときに、前記第1系統の吸引経路から、前記吸着エリアの各々に対応して設けられた第2系統の吸引経路に切り換えて前記半導体ウェーハを吸着固定する工程と、を含み、
前記半導体ウェーハの切断は、その切断状況に合わせて前記第1系統の吸引経路から前記第2系統の吸引経路へ切り換える制御と並行に行われる、半導体装置の製造方法。 - 前記ウェーハ吸着部における前記個片化された半導体ウェーハの吸着面は、多数の透孔を有することを特徴とする請求項14、15、17乃至19のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
- 前記個片化された半導体ウェーハにそれぞれ対応する吸着穴を有するプレートを前記ウェーハ吸着部の吸着面と前記個片化された半導体ウェーハとの間に介在させる工程をさらに具備することを特徴とする請求項14、15、17乃至19のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
- 前記粘着性テープの剥離終了後に、吸着コレットで個々の半導体チップを吸着してピックアップする工程をさらに具備することを特徴とする請求項14乃至23のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004085441A JP4599075B2 (ja) | 2003-03-26 | 2004-03-23 | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003085376 | 2003-03-26 | ||
JP2004085441A JP4599075B2 (ja) | 2003-03-26 | 2004-03-23 | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004311980A JP2004311980A (ja) | 2004-11-04 |
JP4599075B2 true JP4599075B2 (ja) | 2010-12-15 |
Family
ID=33478297
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004085441A Expired - Lifetime JP4599075B2 (ja) | 2003-03-26 | 2004-03-23 | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4599075B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100817049B1 (ko) | 2005-08-09 | 2008-03-26 | 삼성전자주식회사 | 패키징을 위한 웨이퍼 칩의 제조 방법 |
KR100688587B1 (ko) | 2006-02-23 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 반도체 칩 분리 장치 및 반도체 칩의 분리 방법 |
JP4486943B2 (ja) * | 2006-05-31 | 2010-06-23 | シャープ株式会社 | 被加工脆性板の切断装置および切断方法 |
JP4851282B2 (ja) * | 2006-09-21 | 2012-01-11 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
JP5196838B2 (ja) * | 2007-04-17 | 2013-05-15 | リンテック株式会社 | 接着剤付きチップの製造方法 |
KR101801264B1 (ko) * | 2011-06-13 | 2017-11-27 | 삼성전자주식회사 | 반도체 제조 장치 및 이를 이용한 반도체 패키지 방법 |
JP2013102126A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-23 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置 |
JP2017212255A (ja) * | 2016-05-23 | 2017-11-30 | 株式会社ジェイデバイス | 半導体製造装置及び製造方法 |
JP6708159B2 (ja) * | 2017-04-17 | 2020-06-10 | 三菱電機株式会社 | ダイシング装置 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02130103A (ja) * | 1988-11-11 | 1990-05-18 | Toshiba Corp | ダイシング用治具 |
JP2000315697A (ja) * | 1999-03-03 | 2000-11-14 | Hitachi Ltd | 半導体素子の分離方法およびその装置並びに半導体素子の搭載方法 |
JP2001156027A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Lintec Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2001156028A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Lintec Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2001345368A (ja) * | 2000-05-31 | 2001-12-14 | Fujitsu Ltd | 半導体チップ剥離・搬送方法及び装置 |
JP2002033342A (ja) * | 2000-05-12 | 2002-01-31 | Fujitsu Ltd | 半導体チップの製造方法およびその実装方法 |
JP2002075921A (ja) * | 2000-08-31 | 2002-03-15 | Lintec Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2003017513A (ja) * | 2001-07-04 | 2003-01-17 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2003179126A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-06-27 | Toshiba Corp | 粘着性テープの剥離機構、粘着性テープの剥離装置、粘着性テープの剥離方法、半導体チップのピックアップ装置、半導体チップのピックアップ方法、半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置 |
JP2004282037A (ja) * | 2003-02-28 | 2004-10-07 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置 |
JP2004311576A (ja) * | 2003-04-03 | 2004-11-04 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
-
2004
- 2004-03-23 JP JP2004085441A patent/JP4599075B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02130103A (ja) * | 1988-11-11 | 1990-05-18 | Toshiba Corp | ダイシング用治具 |
JP2000315697A (ja) * | 1999-03-03 | 2000-11-14 | Hitachi Ltd | 半導体素子の分離方法およびその装置並びに半導体素子の搭載方法 |
JP2001156027A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Lintec Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2001156028A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Lintec Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2002033342A (ja) * | 2000-05-12 | 2002-01-31 | Fujitsu Ltd | 半導体チップの製造方法およびその実装方法 |
JP2001345368A (ja) * | 2000-05-31 | 2001-12-14 | Fujitsu Ltd | 半導体チップ剥離・搬送方法及び装置 |
JP2002075921A (ja) * | 2000-08-31 | 2002-03-15 | Lintec Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2003017513A (ja) * | 2001-07-04 | 2003-01-17 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2003179126A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-06-27 | Toshiba Corp | 粘着性テープの剥離機構、粘着性テープの剥離装置、粘着性テープの剥離方法、半導体チップのピックアップ装置、半導体チップのピックアップ方法、半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置 |
JP2004282037A (ja) * | 2003-02-28 | 2004-10-07 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置 |
JP2004311576A (ja) * | 2003-04-03 | 2004-11-04 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004311980A (ja) | 2004-11-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100609790B1 (ko) | 반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
KR100609806B1 (ko) | 반도체 장치의 제조 방법 | |
KR100506109B1 (ko) | 접착성 테이프의 박리 기구, 접착성 테이프의 박리 장치,접착성 테이프의 박리 방법, 반도체 칩의 픽업 장치,반도체 칩의 픽업 방법, 반도체 장치의 제조 방법 및반도체 장치의 제조 장치 | |
US20230115122A1 (en) | Method of bonding thin substrates | |
KR100383206B1 (ko) | 웨이퍼의 분할 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
JP4818187B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2000164534A (ja) | ウェ―ハの分離装置及び方法 | |
JP4599075B2 (ja) | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 | |
JP2001093864A (ja) | 半導体ウェーハ固定治具及び半導体装置の製造方法 | |
KR100817049B1 (ko) | 패키징을 위한 웨이퍼 칩의 제조 방법 | |
EP1022778A1 (en) | Method of dividing a wafer and method of manufacturing a semiconductor device | |
WO2021045157A1 (ja) | 半導体装置の製造方法及びコレット | |
JP2011181951A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US20080092360A1 (en) | Thin semiconductor chip pickup apparatus and method | |
JP2013219245A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US10170443B1 (en) | Debonding chips from wafer | |
JP2003086540A (ja) | 半導体装置の製造方法及びその製造装置 | |
JP2003179006A (ja) | ウェーハの分割方法及び半導体装置の製造方法 | |
WO2004012247A1 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2008153487A (ja) | 半導体装置の製造装置と製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070129 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100318 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100608 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100809 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100831 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100927 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4599075 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131001 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |