JP4498652B2 - 無電解メッキ方法 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、無電解メッキが直接行えない材料の被メッキ体に無電解メッキを行う方法に関し、特に、無電解メッキが直接行えない金属または半導体の端面に導電膜を形成するのに適した無電解メッキ方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
熱電素子はその両端に温度差を与えると電圧を発生するため熱電発電に利用され、逆に電流を流すと一端では発熱、他端では吸熱が起こるため吸熱現象を利用した冷却装置などにも利用されている。このような熱電素子は構造が簡単であり他の発電機などに比較して微小化に有利であることなどから、電子式の腕時計のような携帯用電子機器への応用も期待されている。
熱電素子はｐ型半導体の熱電材料とｎ型半導体の熱電材料による熱電対が直列に複数個配列して形成されている。このような一般的な熱電素子の構造について図１９を用いて説明する。
【０００３】
図１９に示す熱電素子１０は、ｐ型とｎ型の熱電半導体１がエポキシ樹脂からなる絶縁層４を介して交互に配置された熱電素子ブロック１１を有し、各熱電半導体１の両側端面に設けられた導電膜３と基板７上に設けられた銅や金などからなる配線電極６とを接続層５により接続することによって、熱電素子ブロック１１が基板７と電気的に接続され、かつその各熱電半導体１が直列に接続されている。
熱電素子１０は、基板７に接続するにあたって熱電半導体１の両側端面の配線電極６と接続する部分に導電膜３を形成しているが、それは次の理由による。
【０００４】
接続層５は、熱電半導体１と配線電極６との導通をとるために設けられているが、その接続層５をハンダ（半田）で形成した場合、そのスズ成分が熱電半導体１の中に拡散して熱電素子１０の性能を劣化させることを防止するとともに、ハンダの濡れ性を確保するため導電膜３を形成する必要がある。また、接続層５を導電接着剤で形成する場合にも、熱電半導体１と導電接着剤の接触抵抗が大きいため、導電接着剤との接触抵抗が低い導電膜３を形成する必要がある。
【０００５】
ところで、一般に熱電半導体上に導電膜として金属膜を形成する場合にはメッキが行われている。メッキを行う場合には、自己触媒型の無電解メッキ浴を用いる無電解メッキが生産性の点で有利である。ところが、ビスマス−テルル系又はアンチモン−テルル系の金属間化合物からなる熱電半導体には、無電解メッキを行うことができない。
そのため、熱電半導体のような無電解メッキが行えない材料の表面に導電膜を形成する場合には、通常、電解メッキが行われていた。
【０００６】
しかしながら、電解メッキにより熱電半導体の表面に導電膜を形成するには、熱電半導体に給電しなくてはならないが、熱電半導体の抵抗値による電圧降下のため、給電点から距離が離れるに従って形成されるメッキ膜の厚さが薄くなるという問題があった。このため、メッキ膜による導電膜の厚さがばらついてしまい、ハンダに含まれるスズの拡散防止効果を低下させ、ハンダの濡れ性にも悪影響を与える。
【０００７】
また、このような無電解メッキが行えない材料に導電膜を形成するための方法として、特開平１１−１８６６１９号公報には、熱電半導体に白金やパラジウムなどの触媒を付与して無電解メッキを行う方法が記載されている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この方法は、触媒を核として付与して無電解メッキを行う方法であるが、一般にプラスチック上に導電膜を形成する際に用いられる方法である。この方法によると、上述した電解メッキによる膜厚の不均一という問題はなくなるが、次の点に問題があった。
すなわち、この方法では、核となる触媒が熱電半導体以外の部分にも吸着してしまうため、無電解メッキ浴に浸漬すると導電膜が形成される部分の選択性がなくなってしまい、導電膜の形成が不要な部分、例えば絶縁物の表面上にも導電膜が形成されてしまうという問題があった。
【０００９】
以上のように、従来、無電解メッキを行えない材料に、無電解メッキにより導電膜を形成することができないという問題だけでなく、無電解メッキにより導電膜を形成するにしても、導電膜の形成される部分の選択性が無くなってしまうという問題があった。
特に、熱電素子の熱電半導体の場合には、大きさが小さく、隣接する熱電半導体が数μｍ〜数十μｍ程度の間隔で配置される微細な構造のものもある。構造が微細になるほど熱電半導体にだけ選択的に導電膜を形成することは困難になるから、無電解メッキにより選択的に導電膜を形成することは、熱電素子を生産する上での大きな問題である。
【００１０】
この発明は、このような問題を解決するためになされたもので、無電解メッキが行えない材料でも無電解メッキにより導電膜を形成できるようにすることを目的とし、さらには無電解メッキが行えない材料で形成される熱電半導体の端面に無電解メッキにより均一な導電膜を選択的に形成して、熱電素子の生産性および信頼性を高めることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
この発明による無電解メッキ方法は、ある無電解メッキ浴に浸漬しても直接は無電解メッキ膜を析出させられない材料からなる被メッキ体の表面の一部に、上記無電解メッキ浴にて無電解メッキ膜が表面に析出可能な金属からなる金属膜を形成するか又は該金属を接触させる工程と、上記金属膜を形成するか又は上記金属を接触させた被メッキ体を上記無電解メッキ浴に浸漬して、上記金属膜又は金属を含む該被メッキ体の表面全体に無電解メッキ膜を形成する工程と、上記金属膜又は金属とそれを被覆する部分の無電解メッキ膜を上記被メッキ体から除去する工程と、該工程を経た上記被メッキ体を再び上記無電解メッキ浴に浸漬する工程とを有する無電解メッキ方法である。
上記の方法において、上記被メッキ体は、複数種類の材料の積層体とすることができる。
【００１２】
この発明による無電解メッキ方法は、熱電素子の製造に応用して、以下の各工程を有する無電解メッキ方法としてもよい。
（１） 複数の熱電半導体が絶縁層を介して配置されて一体化された熱電素子ブロックの一方の端面に無電解メッキ膜が析出可能な金属からなる金属膜を形成する工程、
（２） 上記金属膜を形成した熱電素子ブロックを無電解メッキ浴に浸漬して、上記金属膜上および該金属膜が一方の端面に形成された上記熱電半導体の他方の端面に無電解メッキ膜を形成する工程、
（３） 上記金属膜および該金属膜を被覆する部分の無電解メッキ膜を除去する工程、
（４） 該工程を経た熱電素子ブロックを再び無電解メッキ浴に浸漬して、上記熱電半導体の上記金属膜が除去された端面に無電解メッキ膜を形成する工程、
【００１３】
以上の無電解メッキ方法において、上記（１）〜（４）の工程に代えて次の（５）〜（８）の各工程を有するようにしてもよい。
（５） 複数の熱電半導体が絶縁層を介して配置されて一体化された熱電素子ブロックの各熱電半導体の少なくとも一方の端面の一部に無電解メッキ膜が析出可能な金属を接触させる工程、
（６） 上記金属を接触させた熱電素子ブロックを無電解メッキ浴に浸漬して、上記各熱電半導体の各端面の上記金属を接触させた部分を除く全面に無電解メッキ膜を形成する工程、
（７） 上記各熱電半導体に接触させた金属を該各熱電半導体から離間させる工程、
（８） 該工程を経た熱電素子ブロックを再び無電解メッキ浴に浸漬して、上記各熱電半導体の端面の上記金属が接触していた部分に無電解メッキ膜を形成する工程、
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、この発明による無電解メッキ方法を実施するための最良の形態について、図面を用いて詳細に説明する。まず、図１及び図２によって、この発明による無電解メッキ方法の基本的な実施形態について説明する。
〔基本的な実施形態：図１および図２〕
図１は、無電解メッキが行えない材料からなる被メッキ体の一例である熱電半導体の表面の一部に、無電解メッキ膜が析出可能な金属からなる金属膜を形成した状態を示す断面図である。
【００１５】
この熱電半導体８は、ブロック状に形成されており、一般に、ビスマス−テルル系、アンチモン−テルル系、ビスマス−テルル−アンチモン系、ビスマス−テルル−セレン系などの金属間化合物から形成されているが、鉛−ゲルマニウム系、シリコン−ゲルマニウム系などの金属間化合物から形成してもよく、特にこれらに制限されるものではない。
この発明による無電解メッキ方法を実施するには、まず図１に示すようにこの熱電半導体８の表面上の一部に真空蒸着又はスパッタリングなどによって、無電解メッキ膜が析出可能な金属からなる金属膜２を形成する。このとき形成する金属膜２は、無電解メッキ浴中の金属による析出反応が起こる金属であればよい。例えば、無電解ニッケルメッキを行う場合であれば、パラジウム、白金、ニッケルなどの金属を用いる。なお、金属膜２は、真空蒸着又はスパッタリング以外に無電解メッキ膜が析出可能な金属の粒子と絶縁樹脂で構成された導電性ペーストなどの導電性樹脂を印刷法などにより配置してもよい。
【００１６】
その後、金属膜２を形成した熱電半導体８を図示しない無電解メッキ浴に浸漬する。すると、まず無電解メッキ膜が金属膜２の表面に析出する。その時、熱電半導体８にはその金属膜２が接触しているので、熱電半導体８は、無電解メッキ浴に対する電位（無電解メッキ浴中の金属と電子の受渡しをするための状態）が変化して、無電解メッキ膜が析出可能になる。そのため、金属膜２から析出した無電解メッキ膜が熱電半導体８にまで広がり、図２に示すように熱電半導体８と金属膜２の表面の全体にわたり均一な厚さを有する無電解メッキ膜による導電膜３が形成される。
【００１７】
この導電膜３は、無電解メッキが行えない材料が上述の熱電半導体の場合には、スズや銅などが熱電半導体中に拡散することを防止する効果の高いニッケル（Ｎｉ）で形成するのが望ましいが、特にニッケルに制限されるものではない。
また、導電膜３は二種類以上の金属膜を積層して形成してもよい。例えば、導電膜３はニッケルからなる金属膜の上に金（Ａｕ）又は銅（Ｃｕ）からなる金属膜を積層して二層構造としてもよい。こうすると、形成したニッケルからなる金属膜に応力や熱応力が加わることにより発生するクラックを金（Ａｕ）又は銅（Ｃｕ）の展延性によって防止することが可能となるため、熱電素子の信頼性が向上する。
【００１８】
上述の方法により、導電膜を直接析出させることができないとされていた材料からなる熱電半導体の表面にも無電解メッキによって均一な厚さの導電膜を形成することが可能になり、熱電半導体を使用した熱電素子の生産性を向上させることが可能になる。
この方法による被メッキ体は熱電半導体に限られない。無電解メッキを行うことが不可能とされていた金属であるカドミウム、タングステン、亜鉛、スズ、鉛、ビスマス、アンチモンなどにも、無電解メッキにより導電率の高い金属からなる導電膜を形成することが可能になる。
【００１９】
また、上述のように被メッキ体の表面の一部に無電解メッキ膜が析出可能な金属膜を形成する代わりに、無電解メッキ膜が析出可能な金属を熱電半導体等の被メッキ体に接触させてクリップなどの器具によりその接触状態を保持しておき、その被メッキ体を無電解メッキ浴に浸漬するようにしてもよい。この方法によっても同様の効果が得られ、被メッキ体の全面に均一な厚さの導電膜を形成することができる。このとき、無電解メッキ膜が析出可能な金属で形成されているクリップを被メッキ体に直に接触させてもよい。またクリップは、その全体ではなく被メッキ体に接触する部分のみが無電解メッキ膜が析出可能な金属から形成されていてもよい。
【００２０】
さらに、図２に示した金属膜２と金属膜２を被覆する部分の導電膜３ａとを取り除いて、その熱電半導体８を再度無電解メッキ浴に浸漬させるようにしてもよい。こうすると、熱電半導体８の表面の全体に導電膜３を形成することが可能である。
【００２１】
次に、この発明により熱電素子ブロックに無電解メッキを行う実施例について図３から図１８までの図面を用いて詳細に説明する。これらの図において、図１９と対応する部分には同一の符号を付している。
【００２２】
〔第１実施例：図３から図８、図１７〕
まず、その第１実施例を図３から図８と図１７とによって説明する。この熱電素子ブロックに無電解メッキを行う方法は、上述したこの発明による無電解メッキ方法を応用したものである。
【００２３】
図３は、その被メッキ体となる熱電素子ブロック１１を示す断面図である。この熱電素子ブロック１１は、ｐ型とｎ型の棒状の熱電半導体１がエポキシ樹脂からなる絶縁層４を介して約５〜８０μｍの間隔で交互に配置されており、隣接する各熱電半導体１を絶縁層４により絶縁している。
熱電半導体１としては、前述した熱電半導体８と同様に、一般的に用いられるビスマス−テルル系、アンチモン−テルル系、ビスマス−テルル−アンチモン系、ビスマス−テルル−セレン系、あるいは鉛−ゲルマニウム系、シリコン−ゲルマニウム系などの金属間化合物からなるものを用いるが、特にこれらに制限されるものではない。
【００２４】
この熱電素子ブロック１１は、次のようにして形成している。まず、図示しない熱電半導体のブロックにそれぞれ一定ピッチで複数本の溝を設けて櫛歯状に加工したものをｐ型、ｎ型のそれぞれについて用意する。そして、これらを互いの溝と隔壁とが嵌合するように組み合わせてその隙間にエポキシ樹脂を流し込み、次いで、流し込んだエポキシ樹脂を熱処理により硬化させて一体化したブロックを形成する。その後、その一体化したブロックの不要部分を研削して除去すると、熱電素子ブロック１１が得られる。
【００２５】
次に、図４に示すように、熱電半導体１の端面１ａ、１ｂを含む熱電素子ブロック１１の端面１１ａ、１１ｂのうち一方の端面１１ａの全面にわたり、真空蒸着あるいはスパッタリングなどによって金属膜２を形成する。この金属膜２は、無電解メッキ膜が析出可能な金属、つまり無電解メッキ浴中の金属による析出反応が起こる金属の膜である。例えば無電解ニッケルメッキを行う場合であれば、パラジウム、白金、ニッケルなどの金属によって形成する。なお、金属膜２は、真空蒸着又はスパッタリング以外に無電解メッキ膜が析出可能な金属の粒子と絶縁樹脂で構成された導電性ペーストなどの導電性樹脂を印刷法などにより配置してもよい。
【００２６】
続いて、金属膜２を形成した熱電素子ブロック１１を無電解メッキ浴に浸漬する。すると、図５に示すように、金属膜２上で無電解メッキ膜の析出反応が起こり、それと同時に各熱電半導体１は、無電解メッキ浴に対する電位（無電解メッキ浴中の金属と電子の受渡しをするための状態）が変化して、金属膜２が形成されていない側の端面１ｂにも無電解メッキ膜の析出反応が起こる。こうして、熱電半導体１には、その端面１ｂにのみ無電解メッキ膜である導電膜３を直接形成することができる。
【００２７】
そして、図６に示すように金属膜２および金属膜２上に形成されて金属膜２を被覆している部分の導電膜３をエッチングにより除去した後、熱電素子ブロック１１を再び無電解メッキ浴に浸漬する。すると、図７に示すように、熱電半導体１には金属膜２をエッチングにより除去して露出させた端面１ａにのみ選択的に導電膜３を形成することができる。この方法によれば、導電膜３が絶縁層４のような不要な部分に形成されるようなことがないため、各熱電半導体１の電気的な絶縁を確実にすることができ、各熱電半導体１の両端面１ａ、１ｂ上にのみ導電膜３を形成した信頼性の高い熱電素子が得られる。
【００２８】
また、熱電素子ブロック１１に上述のような金属膜２を形成する代わりに、次のようにしてもよい。まず、図１７に示すようにして無電解メッキ膜が析出可能な金属からなる針状のプローブ１４を各熱電半導体１の端面１ｂの一部に接触させ、あるいは熱電素子ブロックの端面１１ａ（１１ｂ）に対応する形状に形成した無電解メッキ膜が析出可能な金属からなるプレート（図示せず）を各熱電半導体１の端面１ｂに接触させる。そして、そのプローブ１４を接触させた熱電素子ブロック１１を無電解メッキ浴に浸漬して、そのプローブ１４を接触させた部分を除く各熱電半導体１の全面に無電解メッキ膜を析出させる。その後、そのプローブ１４を各熱電半導体１から離間させてから熱電素子ブロック１１を再度無電解メッキ浴に浸漬し、そのプローブ１４が接触していた部分に無電解メッキ膜を析出させる。このようにしても、各熱電半導体１の両端面１ａ、１ｂ上にのみ導電膜３を形成することができる。
【００２９】
上述のエッチングを行う場合は、図５に示した熱電素子ブロック１１の端面１１ｂ側の全面にフォトレジスト（図示せず）を塗布する。これは、既に各熱電半導体１の一方の端面１ｂ上に選択的に形成されている導電膜３をそのフォトレジストにより保護するとともに、熱電素子ブロック１１の端面１１ａ側に形成されている金属膜２と導電膜３を確実に除去するためである。なお、不要な金属膜２と導電膜３を除去するための方法としては、エッチング以外に研削による方法もある。
【００３０】
無電解メッキで形成する導電膜３は、スズや銅などの熱電半導体１への拡散を防止する効果が高いという点でニッケルを用いるのが望ましいが、特にニッケルに制限されるものではない。また、導電膜３は二種類以上の金属膜を積層して形成してもよい。例えば、導電膜３はニッケルからなる金属膜の上に金（Ａｕ）又は銅（Ｃｕ）からなる金属膜を積層して二層構造としてもよい。こうすると、形成したニッケルからなる金属膜に応力や熱応力が加わることにより発生するクラックを金（Ａｕ）又は銅（Ｃｕ）の展延性によって防止することが可能となるため、熱電素子の信頼性が向上する。
【００３１】
次に、図７に示すように各熱電半導体１の両側の端面１ａ、１ｂ上に導電膜３が形成された熱電素子ブロック１１に対し、図８に示すように導電接着剤又はソルダペーストなどの接続材料からなる接続層９を印刷法により形成する。この接続層９によってｐ型とｎ型の熱電半導体１が交互に接続され、加熱処理を施すと各熱電半導体１が電気的に直列に接続されて熱電素子２０が得られる。
【００３２】
各熱電半導体１を直列に接続して熱電素子２０を得るには、図１９に示したようしてもよい。すなわち、銅や金などからなる配線電極６を形成した基板７を用意して、その配線電極６と導電膜３とをハンダや導電接着剤又は異方性導電接着剤などの接続層５により接続することにより、各熱電半導体１を直列に接続してもよい。
【００３３】
〔第２実施例：図３と図９から図１１〕
次に、この発明による熱電素子ブロックに無電解メッキを行う第２実施例について、図３と図９から図１１によって説明する。
この実施例では、前述の第１実施例と同様に、図３に示した熱電素子ブロック１１を用い、その他の金属膜、導電膜、無電解メッキ浴などの材料も第１実施例と同様のものを用いる。
【００３４】
まず、図３に示した熱電素子ブロック１１に対し、その一方の端面１１ａに無電解メッキ膜が析出可能な金属膜２を、真空蒸着あるいはスパッタリングなどによって形成する。この金属膜２は、メタルマスクなどを用いて、図９に示すように、各熱電半導体１の一方の端面１ａのうち、隣接するｐ型、ｎ型熱電半導体１を絶縁層４を挟んで接続するのに必要な部分にのみ選択的に形成する。つまり、熱電素子ブロック１１の端面１１ａにおいて、絶縁層４を挟んで隣接する熱電半導体１の両方に跨るようにし、かつ端面１１ａにおいて、金属膜２が形成される絶縁層４と形成されない絶縁層４とが交互に配置されるように、絶縁層４の１つ置きの一端面４ａとその両側の熱電半導体１の端面１ａの一部に金属膜２を形成する。
【００３５】
次に、この金属膜２を形成した熱電素子ブロック１１を無電解メッキ浴に浸漬する。すると、図１０に示すように金属膜２上で無電解メッキ膜の析出反応が起こり、それと同時に熱電半導体１の一部に金属膜２が形成されている（接触している）端面１ａとその反対側の端面１ｂにも無電解メッキ膜の析出反応が起こる。こうして、各熱電半導体１の金属膜２を含む各端面１ａと、その反対側の各端面１ｂ上にのみ導電膜３を形成することができる。
【００３６】
そして、各熱電半導体１の端面１ｂについて、導電膜３が選択的に形成されている部分に、図１０に仮想線で示すように、導電接着剤又はソルダペーストなどの接続材料からなる接続層を印刷法により形成し、ｐ型とｎ型の熱電半導体１を交互に接続する。そして、加熱処理を施すと各熱電半導体１が電気的に直列に接続されて熱電素子が得られる。
また、各熱電半導体１を直列に接続して熱電素子を得るためには、図１１に示すように、銅や金などからなる配線電極６を形成した基板７を用い、熱電素子ブロック１１の端面１１ａ側の各導電膜３と基板７の配線電極６とを、ハンダ、導電接着剤、異方性導電接着剤などの接続層５によって電気的に接続し、各熱電半導体１を直列に接続して熱電素子２１としてもよい。
【００３７】
この第２実施例によれば、前述の第１実施例の場合と異なり、熱電素子ブロック１１の一方の端面１１ａ側に形成した金属膜を除去する工程が不要であるから、熱電素子が得られるまでの工程が短縮される。したがって、熱電素子の生産性を向上させることができる。
【００３８】
〔第３の実施形態：図３と図１２および図１３〕
次に、この発明による熱電素子ブロックに無電解メッキを行う方法の第３実施例について、図３と図１２および図１３によって説明する。
この実施例では、前述の第１実施例と同様に、図３に示した熱電素子ブロック１１を用い、その他の金属膜、導電膜、無電解メッキ浴などの材料も第１実施例と同様のものを用いる
【００３９】
まず、図３に示した熱電素子ブロック１１に対して、図１２に示すように、その両側の端面１１ａ、１１ｂを対象に、無電解メッキ膜が析出可能な金属膜２を真空蒸着あるいはスパッタリングなどにより形成する。この金属膜２は、メタルマスクなどを用いて、絶縁層４の両側の端面４ａ、４ｂのうち、交互に１つ置きにその両側に配置されるｐ型およびｎ型の熱電半導体１を互いに接続して、各熱電半導体１を直列に接続するのに必要な部分にのみ選択的に形成する。つまり、絶縁層４を挟んで隣接する両側の熱電半導体１の端面１ａ又は１ｂの一部に跨るようにし、かつ金属膜２が絶縁層４の一端面４ａと他端面４ｂに交互に形成されるようにする。
【００４０】
次に、その金属膜２を形成した熱電素子ブロック１１を無電解メッキ浴に浸漬する。すると、図１３に示すように各金属膜２上で析出反応が起こり、それと同時に熱電半導体１の一部に金属膜２が形成されている（接触している）端面１ａ又は１ｂ上と反対側の金属膜２が形成されていない端面１ｂ又は１ａ上にも無電解メッキ膜の析出反応が起こる。こうして、熱電半導体１の各端面１ａ、１ｂ上と金属膜２上にのみ導電膜３を形成することができる。
【００４１】
この各導電膜３によって、熱電素子ブロック１１の各熱電半導体１が電気的に直列に接続されるので、第１および第２実施例のようにして接続層を形成したり、基板を用いたりして隣接する各熱電半導体１を交互に接続する工程を行わなくても、各熱電半導体１が直列に接続された熱電素子２２が得られる。したがって、第１および第２実施例の場合に比較すると、熱電素子を得るまでの工程が短縮されるので、熱電素子の生産性が向上する。
【００４２】
〔第４実施例：図１４から図１６、図１８〕
次に、この発明による熱電素子ブロックに無電解メッキを行う方法の第４実施例について、図１４から図１６と図１８とによって説明する。
この実施例では、第１〜第３実施例とは異なり、各熱電半導体１のうち、その配列方向の両端部に位置するものの外側の面を絶縁層４で被覆せずに、図１４に示すように露出させた熱電素子ブロック１５を用いるが、その他の金属膜、導電膜、無電解メッキ浴などの材料は、第１実施例と同様のものを用いる。
【００４３】
この実施例では、まず、第１〜第３実施例のいずれかと同様にして熱電半導体１の端面１ａ又は１ｂに金属膜２を形成する。第３実施例と同様にする場合は、図１４に示すように、熱電素子ブロック１５に対して、その各絶縁層４の端面４ａと４ｂ上に交互にその両側の各熱電半導体１の端面１ａ又は１ｂの一部に跨るように無電解メッキ膜が析出可能な金属膜２を形成する。なお、第１実施例と同様にする場合は図４に示すように金属膜２を形成する。第２実施例と同様にする場合は図１８に示すように金属膜２を形成する。
【００４４】
次いで、この金属膜２を形成した熱電素子ブロック１５を無電解メッキ浴に浸漬する。すると、図１５に示すように、金属膜２上で析出反応が起こると同時に、一部に金属膜２が形成されている（接触している）熱電半導体１の両側端面１ａ、１ｂにも無電解メッキ膜の析出反応が起こり、さらに最も外側（配列方向の両端部）に位置する熱電半導体１の露出している側面上にも析出反応が起こる。こうして、絶縁層４の金属膜２が形成されていない端面を除いて各金属膜２上と各熱電半導体１の両側端面１ａ、１ｂ上および両端部に位置する熱電半導体１の露出した側面上にも導電膜３を形成し、各熱電半導体１を直列に接続することができる。
【００４５】
そして、この導電膜３を形成した熱電素子ブロック１５を、導電接着剤やハンダなどの接続材料による接続層１９を形成して、配線電極６を形成した基板７に対して図１６に示すようにして実装する。それによって、熱電素子ブロック１５の導電膜３と配線電極６とが電気的に接続され、熱電素子２３が得られる。この場合、熱電素子ブロック１５（図１５）には、配列方向の両端部に位置する熱電半導体１の露出した側面にも導電膜３が形成されているため、接続層１９の接触面積を大きくすることができる。したがって、配線電極６と導電膜３との接続を容易に行うことができ、しかもその接続状態は確実になる。
【００４６】
また、上述した第１〜第４の各実施例のいずれにおいても、被メッキ体である熱電素子ブロックの金属膜２又は導電膜３を形成する表面は、エッチング、サンドブラスト、研磨などの方法により粗の状態にしておくのが好ましい。こうすると、導電膜の密着性が向上して確実な導電膜が形成されるので、熱電素子の信頼性が向上する点でより効果的である。
【００４７】
さらに、上述した第１〜第４の各実施例において、各工程の間で、アルカリ脱脂、超音波洗浄、流水洗浄などの洗浄工程を行うようにするとよい。そうすると、導電膜３と熱電半導体１との密着力をさらに向上させることができるので、熱電素子の信頼性がより一層向上して効果的である。
【００４８】
【発明の効果】
この発明による無電解メッキ方法によれば、無電解メッキによる導電膜を直接析出させることができないとされていた材料にも、無電解メッキを直接行って導電率の高い金属による導電膜を形成することが可能になる。
【００４９】
また、この発明を熱電素子の製造方法に適用すれば、絶縁層と熱電半導体が数μｍから数十μｍの距離で微細に配置されている熱電素子ブロックに対しても、その熱電半導体の両端面だけに均一な厚さの導電膜を選択的に形成することが可能になる。したがって、熱電素子に各熱電半導体の接続層を形成する目的とその接続層からスズや銅などが熱電半導体中へ拡散することを防止する効果を有する導電膜を、熱電半導体の両端面上へ均一な厚さで容易に形成することができ、熱電素子の生産性および信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明により熱電半導体の表面の一部に無電解メッキ膜が析出可能な金属膜を形成した状態を示す断面図である。
【図２】 図１に示した熱電半導体と金属膜の全面に無電解メッキ膜による導電膜を形成した状態を示す断面図である。
【図３】 この発明により無電解メッキを行う熱電素子ブロックを模式的に示す断面図である。
【図４】 この発明により熱電素子ブロックに無電解メッキを行う第１実施例における一工程を示す断面図である。
【図５】 図４の続きの工程を示す断面図である。
【図６】 図５の続きの工程を示す断面図である。
【図７】 図６の続きの工程を示す断面図である。
【図８】 図７の続きの工程を示す断面図である。
【図９】 この発明により熱電素子ブロックに無電解メッキを行う第２実施例における一工程を示す断面図である。
【図１０】 図９の続きの工程を示す断面図である。
【図１１】 図１０の続きの工程を示す断面図である。
【図１２】 この発明により熱電素子ブロックに無電解メッキを行う第３実施例における一工程を順に示す断面図である。
【図１３】 図１２の続きの工程を示す断面図である。
【図１４】 この発明により熱電素子ブロックに無電解メッキを行う第４実施例における一工程を順に示す断面図である。
【図１５】 図１４の続きの工程を示す断面図である。
【図１６】 図１５の続きの工程を示す断面図である。
【図１７】 この発明により熱電素子ブロックに無電解メッキを行う第１実施例においてプローブを接触させた状態を示す断面図である
【図１８】 この発明により熱電素子ブロックに無電解メッキを行う第４実施例において用いられる別の熱電素子ブロックに金属膜を形成した状態を示す断面図である。
【図１９】 一般的な熱電素子の構造を模式的に示す断面図である。
【符号の説明】
１，８：熱電半導体 ２：金属膜 ３，３ａ：導電膜 ４：絶縁層
５，９，１９：接続層 ６：配線電極 ７：基板 １０，２０：熱電素子
１１，１５：熱電素子ブロック ２１，２２，２３：熱電素子 １４：プローブ
１ａ，１ｂ：端面 ４ａ，４ｂ：端面 １１ａ，１１ｂ：端面

Claims (4)

1. ある無電解メッキ浴に浸漬しても直接は無電解メッキ膜を析出させられない材料からなる被メッキ体の表面の一部に、前記無電解メッキ浴にて無電解メッキ膜が表面に析出可能な金属からなる金属膜を形成するか又は該金属を接触させる工程と、
   前記金属膜を形成するか又は前記金属を接触させた被メッキ体を前記無電解メッキ浴に浸漬して、前記金属膜又は金属を含む該被メッキ体の表面全体に無電解メッキ膜を形成する工程と、
   前記金属膜又は金属とそれを被覆する部分の無電解メッキ膜を前記被メッキ体から除去する工程と、
   該工程を経た前記被メッキ体を再び前記無電解メッキ浴に浸漬する工程とを有する無電解メッキ方法。
2. 請求項１に記載の無電解メッキ方法であって、
   前記被メッキ体が複数種類の材料の積層体である無電解メッキ方法。
3. 複数の熱電半導体が絶縁層を介して配置されて一体化された熱電素子ブロックの一方の端面に無電解メッキ膜が析出可能な金属からなる金属膜を形成する工程と、
   前記金属膜を形成した熱電素子ブロックを無電解メッキ浴に浸漬して、前記金属膜上および該金属膜が一方の端面に形成された前記熱電半導体の他方の端面に無電解メッキ膜を形成する工程と、
   前記金属膜および該金属膜を被覆する部分の無電解メッキ膜を除去する工程と、
   該工程を経た熱電素子ブロックを再び無電解メッキ浴に浸漬して、前記熱電半導体の前記金属膜が除去された端面に無電解メッキ膜を形成する工程とを有する無電解メッキ方法。
4. 複数の熱電半導体が絶縁層を介して配置されて一体化された熱電素子ブロックの各熱電半導体の少なくとも一方の端面の一部に無電解メッキ膜が析出可能な金属を接触させる工程と、
   前記金属を接触させた熱電素子ブロックを無電解メッキ浴に浸漬して、前記各熱電半導体の各端面の前記金属を接触させた部分を除く全面に無電解メッキ膜を形成する工程と、
   前記各熱電半導体に接触させた金属を該各熱電半導体から離間させる工程と、
   該工程を経た熱電素子ブロックを再び無電解メッキ浴に浸漬して、前記各熱電半導体の端面の前記金属が接触していた部分に無電解メッキ膜を形成する工程とを有する無電解メッキ方法。

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