JP2002076449A - 熱電素子およびその製造方法 - Google Patents

熱電素子およびその製造方法

Info

Publication number
JP2002076449A
JP2002076449A JP2000253229A JP2000253229A JP2002076449A JP 2002076449 A JP2002076449 A JP 2002076449A JP 2000253229 A JP2000253229 A JP 2000253229A JP 2000253229 A JP2000253229 A JP 2000253229A JP 2002076449 A JP2002076449 A JP 2002076449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermoelectric
conductive material
semiconductors
thermoelectric element
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000253229A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuhiro Nakamura
中村  哲浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Watch Co Ltd
Original Assignee
Citizen Watch Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Citizen Watch Co Ltd filed Critical Citizen Watch Co Ltd
Priority to JP2000253229A priority Critical patent/JP2002076449A/ja
Publication of JP2002076449A publication Critical patent/JP2002076449A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の熱電素子の構造では、基板上に形成し
た配線と表面に導電材を設けた熱電半導体とをハンダや
導電接着剤を用いて、電気的に連結しているため、基板
と熱電素子の熱膨張係数差により、導電材と熱電半導体
の間で剥離が発生する。電気的連結の断線は温度サイク
ル試験で顕著に現れ、信頼性の面でも十分な性能を得ら
れていない。 【解決手段】 本発明では、p型とn型の熱電半導体が
エポキシ樹脂を介して交互に配置し、熱電素子全面に形
成した導電材をダイシングソーやワイヤーソーで切断
し、その導電材によりそれぞれの熱電半導体が電気的に
直列に連結している構造となっており、熱応力に強く、
信頼性の高い熱電素子を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は熱電素子の構造およ
びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】以下、図面を用いて従来技術の一例を説
明する。図9は従来例の熱電素子の構造を示す断面図で
ある。図9に記載するようにp型とn型の棒状の熱電半
導体1を交互に配置し、熱電半導体の端部に導電材3を
設けたそれぞれの熱電半導体1と、基板6上に形成した
銅や金などからなる配線5とを、ハンダや導電接着剤な
どの接続材料4により電気的に連結している。p型とn
型の熱電半導体1の間にはエポキシ樹脂2を設けてあ
り、熱電半導体1間の絶縁を保っている。
【0003】熱電半導体としては、一般的に用いられる
ビスマス−テルル系、アンチモン−テルル系、ビスマス
−テルル−アンチモン系、ビスマス−テルル−セレン系
の他に、鉛−ゲルマニウム系、シリコン−ゲルマニウム
系など材料が用いられる。
【0004】基板6としてはシリコン、アルミナなどの
熱伝導の良い金属を用い、メッキ法、スパッタリング
法、真空蒸着法などにより形成された配線5をエッチン
グなどによりパターン化している。
【0005】熱電半導体1と配線6を導通させる接続材
料4としてハンダを用いた場合、ハンダ中のスズ成分が
熱電半導体1内に拡散して性能を劣化させるのを防止す
る目的と、ハンダの濡れ性を確保する目的で配線5と接
続する熱電半導体1の面には導電材3を形成する必要が
ある。また、導電接着剤を用いて熱電半導体1と配線5
を導通させる場合にも、熱電半導体1と導電接着剤の接
触抵抗が大きいため、導電接着剤との接触抵抗が低い導
電材3を形成しておく必要がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前述した熱電素子には
以下に記載するような問題点がある。
【0007】従来の熱電素子の構造では、基板上に形成
した配線と表面に導電材を設けた熱電半導体とをハンダ
や導電接着剤を用いて、電気的に連結しているため、基
板と熱電素子の熱膨張係数差により、導電材と熱電半導
体の間で剥離が発生する。電気的連結の断線は温度サイ
クル試験で顕著に現れ、信頼性の面でも十分な性能を得
られていない。
【0008】本発明の目的は、上記課題を解決して、断
線の生じない配線を形成し、信頼性の高い熱電素子およ
びその製造方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明における熱電素子の構造およびその製造方
法は、下記記載の構成と製造方法を採用する。
【0010】複数の棒状の熱電半導体が絶縁樹脂を介し
て配列した熱電素子であって、隣り合う熱電半導体を連
続した一層の導電材によって電気的に接続し、それぞれ
の熱電半導体が電気的に直列配列していることを特徴と
している。また導電材の上に導電材とは異なる材質の層
を設けていても良い。さらに、複数の熱電半導体にはp
型とn型の熱電半導体を採用することができる。
【0011】本発明の熱電素子の製造方法は絶縁樹脂を
介して配列した、複数の棒状の熱電半導体を用意する工
程と、熱電半導体と絶縁樹脂の全面に導電材で層を設け
る導電材設置工程と、熱電半導体とその隣の熱電半導体
との間に設置された、任意の箇所の導電材を切除する導
電材切断工程とを有することを特徴としている。
【0012】導電材上に導電材とは異なる材質の層を設
ける工程をさらに有していても良い。
【0013】導電材設置工程では、触媒金属を熱電半導
体と絶縁樹脂とに吸着し、無電解メッキによって導電膜
を設置することを特徴としている。
【0014】導電材切断工程では、熱電半導体とその隣
の熱電半導体と間で任意の箇所の導電材を切断するよう
に、溝を形成することを特徴としている。
【0015】
【発明の実施の形態】図1に本発明の熱電素子の断面図
を示す。図1に記載するように棒状のp型とn型の熱電
半導体1を絶縁樹脂であるエポキシ樹脂2を介して交互
に配置し、それぞれの熱電半導体1が連続した同一の導
電材によって電気的に連結されるように、熱電半導体1
端部には導電材3が設けている構造となっている。
【0016】このようにそれぞれの熱電半導体1が直列
に連結されるように導電材3を設けてある熱電素子を形
成することで、図9に示した、配線5を形成した基板6
で熱電半導体1を直列に連結している従来の技術と比
べ、基板と熱電素子の熱膨張係数差による応力が原因に
よる、導電材3と熱電半導体1との剥離が発生しない熱
電素子を得ることができる。
【0017】
【実施例】次に実施例における熱電素子の製造方法を説
明する。図1から図7は、実施例の熱電素子の製造工程
を示す断面図である。
【0018】図2に示すように棒状のp型、n型の熱電
半導体1を櫛歯状に加工したものを図3に示すように組
み合わせた。櫛歯状の熱電半導体は縦横方向に複数加工
されている。次にp型、n型の熱電半導体1の隙間に、
絶縁樹脂としてエポキシ樹脂2を流し込み、熱処理によ
りエポキシ樹脂2を硬化させた。その後、不要な部分を
研削により除去し、図4に示すような構造の、絶縁樹脂
を介して配列した、複数の棒状の熱電半導体を用意し
た。熱電半導体と熱電半導体間の距離は横方向で約10
μm、縦方向で100μmの間隔で配列させた。
【0019】熱電半導体としては、一般的に用いられる
ビスマス−テルル系、アンチモン−テルル系、ビスマス
−テルル−アンチモン系、ビスマス−テルル−セレン系
などを用いることができるが、鉛−ゲルマニウム系、シ
リコン−ゲルマニウム系などの熱電半導体を用いても良
く、特に制限されるものではない。
【0020】それぞれの熱電半導体1を直列に連結する
ために、金属からなる導電材3を熱電半導体の端部分と
絶縁樹脂との表面上に設置しておく必要がある。例えば
金などが導電材として適当であるが、金を直接熱電半導
体上に形成すると、熱電半導体1中へ金が拡散してしま
い、熱電素子の特性が変わってしまうために、金属の拡
散防止効果の高いニッケルを形成しておくのが望まし
い。本実施例ではニッケルを形成した。
【0021】導電材設置工程では、まず図4に示す熱電
素子表面に、無電解メッキが可能となる触媒金属をセン
シタイザー・アクチベータ法、またはキャタリスト法に
より吸着させておく。その後、無電解メッキ液に浸漬
し、図5に示すように熱電素子全面にニッケルの導電材
層3を設置した。導電材の膜厚は数μmから数十μm形
成するのが好ましい。無電解メッキを行う前後でアルカ
リ脱脂や流水洗浄などの洗浄工程を行うとより効果的で
ある。
【0022】その後、導電材切断工程で、図1に示すよ
うにそれぞれの熱電半導体1が電気的に直列に連結され
るように、熱電半導体と熱電半導体との間の任意の箇所
における導電材3をダイシングソーやワイヤーソーなど
で切断し、溝を形成した。このとき、熱電半導体と熱電
半導体の間を一つおきに切断した。図1ではエポキシ樹
脂2と同じ幅で導電材3を切断しているが、図6に示す
ように熱電半導体1も同時に加工してしまっても構わな
い。また、図7に示すようにエポキシ樹脂2の幅より狭
い溝を形成しても構わない。
【0023】また、導電材3の抵抗を低減する目的で、
導電材3の上に導電材とは異なる材質の層を設ける工程
を行っても構わない。本実施例では導電材のニッケル上
に、金や銅などの体積抵抗の低い金属層7を設けた。そ
して、その後導電材切断工程を経て、図8に示すような
熱電素子を得ることができる。
【0024】上記記載の方法により熱電素子を形成する
ことで、従来技術で使用していた基板を用いずに、熱電
半導体を直列に連結することができるので、生産性が良
好で、かつ、基板と熱電素子の熱膨張係数差による応力
が原因で、導電材と熱電半導体の間で発生する剥離が発
生せず、信頼性の高い熱電素子が得られた。また、熱電
素子側面にも導電材が形成されており、リード線を引き
出す場合や、回路基板との接続が容易に行うことができ
た。
【0025】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明で
は、p型とn型の熱電半導体がエポキシ樹脂を介して交
互に配置し、熱電素子全面に形成した導電材をダイシン
グソーやワイヤーソーで切断し、その導電材によりそれ
ぞれの熱電半導体が電気的に直列に連結している構造と
なっており、生産性が良好で、熱応力に強く、信頼性の
高い熱電素子を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例における熱電素子を示す断面図
である。
【図2】本発明の実施例における熱電素子の製造方法を
示す断面図である。
【図3】本発明の実施例における熱電素子の製造方法を
示す断面図である。
【図4】本発明の実施例における熱電素子の製造方法を
示す断面図である。
【図5】本発明の実施例における熱電素子の製造方法を
示す断面図である。
【図6】本発明の実施例における熱電素子の製造方法を
示す断面図である。
【図7】本発明の実施例における熱電素子の製造方法を
示す断面図である。
【図8】本発明の実施例における熱電素子の製造方法を
示す断面図である。
【図9】従来例における熱電素子の構造を示す断面図で
ある。
【符号の説明】
1 熱電半導体 2 エポキシ樹脂 3 導電材 4 接続材料 5 配線 6 基板 7 金属層

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の棒状の熱電半導体が絶縁樹脂を介
    して配列した熱電素子において、隣り合う熱電半導体を
    連続した一層の導電材によって電気的に接続し、それぞ
    れの熱電半導体が電気的に直列配列していることを特徴
    とする熱電素子。
  2. 【請求項2】 導電材の上に導電材とは異なる材質の層
    を設けることを特徴とする請求項1に記載の熱電素子。
  3. 【請求項3】 複数の熱電半導体がp型とn型の熱電半
    導体であることを特徴とする請求項1に記載の熱電素
    子。
  4. 【請求項4】 絶縁樹脂を介して配列した、複数の棒状
    の熱電半導体を用意する工程と、熱電半導体と絶縁樹脂
    の全面に導電材で層を設ける導電材設置工程と、熱電半
    導体とその隣の熱電半導体との間に設置された、任意の
    箇所の導電材を削除する導電材切断工程とを有すること
    を特徴とする熱電素子の製造方法。
  5. 【請求項5】 導電材上に導電材とは異なる材質の層を
    設ける工程を有することを特徴とする請求項4に記載の
    熱電素子の製造方法。
  6. 【請求項6】 複数の棒状の熱電半導体がp型とn型の
    熱電半導体であることを特徴とする請求項4に記載の熱
    電素子の製造方法。
  7. 【請求項7】 導電材設置工程では、触媒金属を熱電半
    導体と絶縁樹脂とに吸着し、無電解メッキによって導電
    膜を設置することを特徴とする請求項4に記載の熱電素
    子の製造方法。
  8. 【請求項8】 導電材切断工程では、熱電半導体とその
    隣の熱電半導体と間で任意の箇所の導電材を切断するよ
    うに、溝を形成することを特徴とする請求項4に記載の
    熱電素子の製造方法。
JP2000253229A 2000-08-24 2000-08-24 熱電素子およびその製造方法 Pending JP2002076449A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000253229A JP2002076449A (ja) 2000-08-24 2000-08-24 熱電素子およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000253229A JP2002076449A (ja) 2000-08-24 2000-08-24 熱電素子およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002076449A true JP2002076449A (ja) 2002-03-15

Family

ID=18742354

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000253229A Pending JP2002076449A (ja) 2000-08-24 2000-08-24 熱電素子およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002076449A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6818470B1 (en) Process for producing a thermoelectric converter
US6221751B1 (en) Wafer fabrication of die-bottom contacts for electronic devices
CA1201537A (en) Semiconductor structures and manufacturing methods
US8105856B2 (en) Method of manufacturing semiconductor device with wiring on side surface thereof
US5904496A (en) Wafer fabrication of inside-wrapped contacts for electronic devices
US4687879A (en) Tiered thermoelectric unit and method of fabricating same
EP1227173B9 (en) Electroless plating method
US9123553B2 (en) Method and system for bonding 3D semiconductor device
JP4199513B2 (ja) 熱電素子の製造方法
JP2001320096A (ja) 熱電素子およびその製造方法
US4698901A (en) Mesa semiconductor device
EP0482215A1 (en) Method of manufacturing thermoelectric device
JP2002076449A (ja) 熱電素子およびその製造方法
US3956820A (en) Method of manufacturing a semiconductor device having a lead bonded to a surface thereof
JPH06232250A (ja) 半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP2003273413A (ja) 熱電素子およびその製造方法
JP2001257383A (ja) 熱電素子およびその製造方法
JP2001237465A (ja) 熱電素子とその製造方法
JP4136453B2 (ja) 熱電素子とその製造方法
JPH0758112A (ja) 半導体装置
JPS6265346A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2001111120A (ja) 熱電素子およびその製造方法
JPH02117157A (ja) 半導体装置
JP2003051623A (ja) 半導体素子及びその製造方法
JPS61272941A (ja) 半導体基板の結合方法