DE1521486A1 - Verfahren zur reduktiven Metallabscheidung - Google Patents

Verfahren zur reduktiven Metallabscheidung

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DE1521486A1
DE1521486A1 DE19651521486 DE1521486A DE1521486A1 DE 1521486 A1 DE1521486 A1 DE 1521486A1 DE 19651521486 DE19651521486 DE 19651521486 DE 1521486 A DE1521486 A DE 1521486A DE 1521486 A1 DE1521486 A1 DE 1521486A1
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DE
Germany
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metal
bath
semiconductor
alloy
metal deposition
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Pending
Application number
DE19651521486
Other languages
English (en)
Inventor
Heinz Walz
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/54Contact plating, i.e. electroless electrochemical plating
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/81Structural details of the junction
    • H10N10/817Structural details of the junction the junction being non-separable, e.g. being cemented, sintered or soldered

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Description

SIEMEN3-3QHUCKBR!StÄ«KE |·Ι|>| j . Erlangen, den ·* **m^ AktiengeöellBOhaft l; ; ' Werner-von-Slegens-Str.
?LA 65/1897 . PLA 9/190/831 .
Verfahren zur reduktive« Metallabscheidung* h
> '■ ■'■■
Die Erfindung betrifft ein Verfahren *zura redukti,ven Abscheiden eines Metalles A.aus einem reduktiven Bad auf einen Körper »lift einem Metall oder einem Halbleiter B, wobei das!Metall B edler als das Metall A ist und bei dem dae Material B aitJ einen Metall C ge-» impft wird, das gleichedel oder unedler als dani Metall A ist.
ι ■
Bekannt ist ee, ein edleres Metall A auf ein Metall B *u*r einem Bad reduktiv abzuscheiden. Ist dag Metall B edler al» das Metall A,-so muß die Oberflüche des Gegenstandes aus dem Metall B mit einem Metall C geimpft werden j das gleichedel oder unedler al» d»as abzuscheidende Metall A ist. Pur das Impfen eind folgende Maßnahmen bekannt. Der Gegenstand aus dem Metall B wiyk<J in Körbe«J
- 1 - ^ : SchiJ/Kp"| ■■ . 90SI834/1165 · ) ■ . Jj Vf H
BAD ORIGINAL
" . PIA 65/1897
aus dem Metall G oder an Haken aus dem Ve tall C in (Jas Bad gehängt
J 'oder mit einen 2t ;ick aus dem IJetall C"berührt, bevor man ihn in Bad einbringt. Diese bekannten Verfahren haben den llachteil, daß man zum Abscheiden der Metallschicht lungere Zelt braucht und daß man bei komplexen Formen des Gegenstandes aus dem Metall B«, bei bohren z. B«., im Inneren derselben keinen gleichmäßigen f.Ietallüber zug erhalt. Überdien iat es mit den geschilferten Maßnahmen nicht möglich, Metallüberzüge auf Halbleiterkörpern herzustellen, da die * Haftfestigkeit diener BIetallUbera-Uge auf Halbleiterkörpern wicht ausreichend"int.
Qei1 Brfinlung liegt die Aufgabe zugrunde» das reduktive.Abscheiden eine» Metalle A aut einen Halbleiter B ztt ermöglichen und die Behandlung s zeit bei den bekannten Verfahren der einleitend genannten Art zu verkürzen.
S vdri die.ie Aufgab© dadurch gelöst, daß daa Metall CJ pulverisiert und in dem 3ad d ti roh Umrühren oier Erhitzen des Baden zun Siedepunkt aufgeschwööiafwird,
Die. sum Abscheiden von, iietall auf Metall nötige Zeit wird gegenüber Je» bekannten Verfahren auf ei«'Viertel gefeürst uni auch auf komplizierten Me tall formen üncT »auf Halbleiterkörpern Wird einereatbQftend© Metallschicht abgesenie-ien.
Im folgen Jen Wird das Verfahren nach der Erfindung, ar: h an I einiger Au»fU'hrunr~sbei3piele unter Bezugnahme auf die Zeichnungen n-iher e lliutert. Biese Beinpiele beschreiben die Herstellung-von Thermo-· eleiaentschenkeln aus acheibenfoi-migem Halbleitermaterial.. Von .den ..■"..■ - """ "'" . 3chö/Kn
009834/1145
■■"■ ·' -...-:-.-■-■■ BAD .OBlGlNAL
Zeichnungen zeigt: " «5
Figur 1 das Bad 1 mit dem Rührraotor 2· und der Haltevorrichtung 3 fUr die Halbleiterscheiben, ,
Figur 2 die Draufsicht auf eine Halbleiterscheibe 4 mit den Schnitten 8, die zum Zerteilen der Scheibe im Thermoelementschenkel; nötig sind, ' ' · ■
Figur 3 den Schnitt iurch einen Thermoelementschenkel 5» mit zwei ernten Metallüberzügen 6, die auf zwei gegenüberliegende Flächen des Schenkels aufgebracht sind und mit einem zweiten t'etall überzug 7, der sämtliche Flachen des Thermoelemonts-chenkelB-überzieht. ' '
Beispiel 1 ; Halbleiterscheiben 4 werden zur Reinigung und Oberflächer.-
■ -3 · —3
vergrößerung mit Sandstrahlen cfer. Korngröße 10.10 biß 30.10 ram behan.lelt. Die Scheiben werden "in-Methanol 5 Ilinuten bei 700C gekocht und weitere 5 Ilj^rj-ten in Methanol bei 2t;O0 gespült. Anschließend
werden sie in ein reduktivee Bad folgender Zusammensetzung eingebracht:
\ . ■ ■ 1 2 .
Konzentration in μ/1
Nickelchlorid IiIOl2.6Hp - 30 45 j
Katriumlr'pophoiipli-lt UaHnPQ0,H0O 10 11
liatriumnitrat. Hä«JrHRÖ.~.4-'S9O — · <1OO
5 6 5 7 2. ,
Ammoniumchlorid -UH.^l "50 5O-
pH-7/Qrt · 8-10V B-IO
Temperatur in 0C , 90-99 , 90-99
In dem Bad wird T- g pro Liter Aluminiumpulver der Korngröße 15.1O- mn
■.■■.·-,'■"-■ - ■: '■■■ y: ■- . - 3 ■"- : a
BAD ORlQWAL
FLA -65/1897
aufgeschwemmt. Das Bad v/i rd bis zum Sieden erhitzt, nach 15 Minuten
—3 ist 'auf den Halb,]-eitersohclben eine. Nickelschioht von 3.10 ram Di cke , abgeschieden, !lach Beendigung des Abscheidens werden die Scheiben in fließendem Leitungswasser gespült. Anschließend werden sie wieder in Methar.C/1 5 Minuten ausgekocht un'J ebenfalls in Methanol" bei Zimmertemperatur 5 !!!nuten gespült. Nach dem Säubern ,werden die Scheiben getrocknet und bei 12O0G ca. 20 "S'td. getempert. Hun· wer.ien aus den Halbleiterscheiben Thermoelementsehenkel 5 herausgeschnitten und anschließend na-·.·] oben "beschriebenem "Verfahren-mit einer zweiten Fiekelschicht 7 von 10 ram Stärke versehen. Dieser /,weite Nicke] überzug bewirkt, daß beim Kontaktieren auch die Kanten der Thermoelementschenkel gut mit Ιο:. benetet. werden. - " ''.-
V ' '"■-■'■ ■■ ■
Beispiel ?? um aus Halbleiterscheiben Thermoelementschenkel mit einem Kobalt-Kickel-Über."ur; herzustellen, werden die Halbleiterscheiben wie im Beispi-el 1 vor- und nachbehandelt. Als-reduktives Bad wird eine Lösung folgender Zusammensetzung verwendet ι
Kobaj teh1ο rii GoCIp.6H?0 . Nickelchlorid NiGl2.6H2O ilatriumglykolat ITaC2H3O5 Na t r iurr:} 1 j ρc ph 0 s phi t Ii aH2PO 2." ■pH-tfert- ■■■"-■■ Temperatur in 0J
-Konzentration
g/l
3Θ- ■ 100 ■20 .5,0" 90-99
in dem Bad wird ebenfalls wieder 1 g pro Liter Aluminiumpulver der Korngröße 15.10" mm aufgefschwemmt. Die Dauer des Abscheidevorgangs und die Schichtdicke des Kobalt-lfickelTÜberzugs unterscheiden sich nicht von den im Beispiel 1 angeführten -Zahlenangaben.

Claims (6)

  1. Patentansprüche
    i. Verfahren :i\m reduktiven Abscheiden eines Metalles A auseinem rcdiilctiven Bad auf einen Körper aus einein Metall
    oder einem Halbleiter B, v/o "bei das Metall B edler als
    Metall A ist und bei dem das Material B mit einem Metall
    C geimpft wird, Jas gleiohedel oder unedler als das Metal/1
    A ist, dadurch £ekenn;;ei'jhnet, daß diener, Metall r.) pulver-iniert und in dem Legierungsba·:! durch Umrühren· o<3er Erhitzen M den Bales bin ;:üm »Siedepunkt aufgeschwemmt v/ir.l.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch T, dadurch gekennzeichnet, -iaß als Metall A Nickel verwendet'wird. · '
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dafl als
    Metall A eine Kobaltniokellegierung verwendet wird.
    ■ » ■ ■ .
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 1, daäurah. gekennzeichnet, daß zum
    Impfen Aluminiumpulver mit einer jCbriigrÜße Von etwa 15"· TO" mm
    -!- ' ■ * ; ι' ' I " ·
    verwendet
  5. 5. Verfahren nach Annpruoh 1, dadurch gekennzeichnet, daß Halb- x leiterscheijjtea. (A) mit einem Metallüberzug (6) .von etwa 3«1O"5inia
    Dicke versehen werden.' '*·■>
  6. 6. Vcrfah'ren naoh Anspruch. 5, dadurch gekennzeichnet, Jaß die
    909Θ3Α/1.185 - bad
    metallisierter: '.irx'L bleitersehei ben ;;n Thennoelemoiit^-ihunkcln
    (5) "erteil:: ■;:·..I nn:;chlie.'3en.l 'lie ;>:hcr:kel ir.it einen ;.',volton Metall ;oer:Mg ("') von etwa '0~ mm Dicke vernchen v/er Jen.
    BAD ORIGINAL
    - 6 - :jc
    \ 909834/11ÖG
DE19651521486 1965-12-24 1965-12-24 Verfahren zur reduktiven Metallabscheidung Pending DE1521486A1 (de)

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JPS5554561A (en) * 1978-10-18 1980-04-21 Nippon Mining Co Ltd Metal plating method for powdered body by substitution method
CN100335679C (zh) * 1999-09-27 2007-09-05 西铁城时计株式会社 化学镀膜方法

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FR1506003A (fr) 1967-12-15
GB1103297A (en) 1968-02-14
NL6615681A (de) 1967-06-26

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