JP4470323B2 - 画像変換装置および方法 - Google Patents

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Description

技術分野
この発明は、テレビジョン受像機、VTR等に用いて好適な画像変換装置および方法に関する。
背景技術
従来、テレビジョン走査方式のフィールド周波数としては、50Hz(PAL方式、SECAM方式等)または60Hz(NTSC方式)が広く採用されている。フィールド周波数が50Hzのような比較的低い場合には、表示画像の大面積がチカチカする、所謂フィールドフリッカが発生する問題があった。
フィールドフリッカを低減するために、入力画像信号のフィールド数を2倍とする画像処理装置が知られている。このような処理は、フィールド倍速処理と称される。第17図は、フィールド倍速処理により得られる画素構造の一例および他の例を概略的に示すものであり、縦軸を垂直方向位置v、横軸を時間tとするものである。フィールド倍速処理の結果、入力画像信号のフィールド周期の1/2の周期の出力画像信号が形成される。入力画像信号は、インターレス方式であるため、白い丸印で示す入力画素の垂直方向の位置(ライン位置)が時間的に連続する2フィールド間で、1/2ずれている。
第17図Aに示す画素構造は、出力画像信号の倍速フィールドがインターレス関係を有するように、倍速化を行うことで得られる。従来では、入力画像信号に存在してないフィールドの出力画素を形成するために、入力中の3画素をメディアンフィルタに供給していた。第17図Aにおいて、3角形の破線で囲まれた3個の入力画素から出力画素(星マークで示す)がメディアンフィルタにより生成される。メディアンフィルタは、3個の入力画素の中間の画素値を有するものを出力する。第17図Aでは、一部の出力画素について、メディアンフィルタの処理が示されているが、入力画素の位置と一致する出力画素以外の全ての出力画素がメディアンフィルタにより生成される。第17図Aに示す画素構造の出力画像信号をABABタイプと称する。
また、第17図Bに示す出力画像信号の画素構造は、入力画像信号の時間的に前のフィールドと同一の垂直方向の位置に新たなフィールドの画素が存在するように、倍速化を行ったものである。第17図Bは、時間的に前のフィールドを繰り返して出力することによって、倍速化を行うことができる。第17図Bに示す画素構造の出力画像信号をAABBタイプと称する。
AABBタイプは、同じフィールドを繰り返し出力するので、倍速化によって、時間方向の解像度が向上しない。むしろ、ビデオカメラをパンして撮影された画像の場合には、2重像が生じ、画質が劣化することがある。ABABタイプは、AABBタイプと比較して時空間解像度(時間方向および空間内解像度)の点で有利である。しかしながら、ABABタイプは、時間的に前後のフィールドに含まれる3個の入力画素をメディアンフィルタで処理して出力画素を補間したものであるために、全画面の動き、文字の横スクロールの場合には、縦線が櫛歯状に見える劣化が生じる。例えば株式情報のように、画面に数字、文字が並んでいる画面が横スクロールする場合には、数字、文字が見にくくなる欠点がある。
従って、この発明の一つの目的は、AABBタイプの問題点である時空間解像度がない問題点を解決することができる画像変換装置および方法を提供することにある。
この発明の他の目的は、入力画像の絵柄に適応してABABタイプとAABBタイプとを切り替えることによって、画質を向上できる画像変換装置および方法を提供することにある。
発明の開示
上述した課題を達成するために、請求の範囲1の発明は、互いに隣接する第1のフィールドの画素位置と第2のフィールドの画素位置が異なる入力画像信号を、入力画像信号のフィールド周波数のN倍(Nは、2以上の整数)のフィールド周波数を有する出力画像信号に変換する画像変換装置において、
出力画像信号のうち、少なくとも入力画像信号に存在しない全てのフィールドを順次注目フィールドに設定し、注目フィールドの注目画素毎に、注目画素に基づいて決定される入力画像信号の複数の画素に基づいて、注目画素に対するクラスを決定するクラス決定部と、
予め取得された予測情報を記憶するメモリ部と、
注目画素毎に、入力画像信号の複数の画素を選択する予測画素選択部と、
クラス決定部で決定されたクラスに対応する予測情報と、予測画素選択部で選択された複数の画素とに基づいて、出力画像信号の各注目画素を生成する画素生成部とを備え、
出力画像信号は、Nと等しいフィールド単位に画素位置が変化すると共に、各フィールドの画素位置が、入力画像信号の第1又は第2のフィールドのいずれか一方のフィールドの画素位置と一致することを特徴とする画像変換装置である。
また、請求の範囲13の発明は、互いに隣接する第1のフィールドの画素位置と第2のフィールドの画素位置が異なる入力画像信号を、入力画像信号のフィールド周波数のN倍(Nは、2以上の整数)のフィールド周波数を有する出力画像信号に変換する画像変換方法において、
出力画像信号のうち、少なくとも入力画像信号に存在しない全てのフィールドを順次注目フィールドに設定し、注目フィールドの注目画素毎に、注目画素に基づいて決定される入力画像信号の複数の画素に基づいて、注目画素に対するクラスを決定するクラス決定ステップと、
注目画素毎に、入力画像信号の複数の画素を選択する予測画素選択ステップと、
決定されたクラスに対応する予測情報と、予測画素選択ステップで選択された複数の画素とに基づいて、出力画像信号の各注目画素を生成する画素生成ステップとを備え、
出力画像信号は、Nと等しいフィールド単位に画素位置が変化すると共に、各フィールドの画素位置が、入力画像信号の第1又は第2のフィールドのいずれか一方のフィールドの画素位置と一致することを特徴とする画像変換方法である。
この発明によれば、AABBタイプの出力画像信号を生成する時に、入力画像信号中に存在しない出力フィールドの画素値を前後の入力フィールドの画像情報を使用して、クラス分類適応処理で生成するので、単に同一フィールドを繰り返し出力する従来の方法と比較して、2度目に出力されるフィールドがその時間に対応する画像情報を持ち、時間解像度がないという問題点を解決することができる。また、クラス分類適応処理は、入力画像信号の複数画素に基づいてクラスを検出し、各クラスで最適となる推定予測式を用いて出力画像信号の画素値を作成するので、メディアンフィルタにより補間する場合と比較して出力画像信号の解像度を良好とすることができる。
また、フィールド倍速化の結果、出力画像信号として、AABBタイプと、ABABタイプとを選択的に生成することができる。従って、入力画像信号として、時空間解像度を要求される絵柄の場合には、ABABタイプを選択し、水平移動するテロップなどを多く見る場合には、AABBタイプを選択することが可能となる。
発明を実施するための最良の形態
以下、この発明の第1の実施形態について説明する。第1の実施形態で使用するフィールド倍速処理装置は、クラス分類適応処理によって、少なくとも入力画像信号中に存在しない出力フィールドの画素を生成するものである。最初にこの発明が適用されたAABBタイプの出力画像信号を生成するようにしたフィールド倍速化の処理について、第1図を参照して説明する。第1図は、第17図と同様に、フィールド倍速処理により得られる画素構造を概略的に示すものであり、縦軸を垂直方向位置v、横軸を時間tとするものであり、入力画像を白い丸印で示し、出力画像を黒い丸印または星マークで示す。
第1図Aは、第17図Aと同様の従来の処理を示し、この発明による処理との比較のための図である。すなわち、入力画像信号中のフィールドと同一のフィールドを繰り返して出力することによって倍速化の処理を行うことを示す。第1図Bは、この発明による倍速化の処理を示す。第1図Bにおいて、破線で囲んで示すように、入力画像信号中に存在していないフィールドの時間的に前のフィールドに属し、垂直方向の位置が同一位置の画素x1と、その上下の画素x2およびx3と、時間的に後のフィールドに属し、垂直方向の上下の位置の画素x4およびx5を使用して、新たなフィールドの画素yを生成する。この処理は、クラス分類適応処理である。なお、後述する第2の実施形態の説明から明らかなように、クラス分類適応処理で使用する入力画素は、x1〜x5に限られない。
この発明の第1の実施形態は、第1図Bに示すように、前後の入力フィールドの入力画素を使用し、クラス分類適応処理によって新たなフィールドの出力画素を生成するので、AABBタイプであって、時間方向の解像度を持った新たなフィールドを生成することができる。従って、同一フィールドを繰り返し出力する従来の方法のように、パンした画面で2重像が生じることを防止することができる。
次に、この発明の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態では、入力画像信号がフィールド周波数60Hz、ライン数が525本のインターレス信号であって、フィールド倍速化の処理によって、入力画像信号をフィールド周波数120Hz、ライン数が525本の出力画像信号へ変換するようにしたものである。また、第2の実施形態では、出力画像信号の画素構造として、AABBタイプとABABタイプとをユーザの設定によって、または入力画像信号に適応して切り替えることを可能としたものである。AABBタイプの画像信号を出力する場合には、第1図Bを参照して説明した方法でもって、画素を生成する。ABABタイプについても、クラス分類適応処理によって、画素を生成する。ABABタイプに関して、クラス分類適応処理を使用するので、メディアンフィルタを使用する従来の方法と比較して、時空間の解像度をより高くすることができる。
クラス分類適応処理は、入力信号である画像信号の時間的および/または空間的特徴に応じてクラス分割を行い、クラス毎に予め学習により獲得された予測係数値を格納した記憶手段を持ち、予測式に基づいた演算により最適な推定値を出力する方式であり、クラス分類適応処理によって、解像度を入力画像信号のもの以上に高めることが可能である。
この画素生成装置の一例では、第2図に示すように、入力インターレス画像信号(525ライン/60Hz)が領域切り出し部1に供給され、クラス分類および予測演算に必要とされる複数の画素が含まれる領域が切り出される。領域切り出し部1の出力がクラス検出回路2および12、予測タップ選択回路3および13に供給される。クラス検出回路2および12は、作成すべき出力画素の近傍の入力画素の特徴に対応するクラスを検出する。クラス検出回路2および12において、動きクラスを検出しても良い。並列に画素生成のための二つの構成を設けるのは、入力画像信号中に存在するフィールドの画素を生成する構成と、入力画像信号中に存在しないフィールドの画素を生成するためである。
クラス検出回路2および12のそれぞれにより検出されたクラスが予測タップ選択回路3、13と予測係数メモリ4、14とに供給される。予測係数メモリ4、14からは、クラスに対応する予測係数セットが読出され、積和演算回路5、15に読出された予測係数セットが供給される。予測タップ選択回路3、13は、クラスに応じて使用する予測タップを選択する構成とされている。予め各クラスの予測係数セットを学習によって得る時に、予測係数セットと使用する予測タップ位置情報との両者を得るようにしている。予測タップ選択回路3、13には、予測タップ位置情報がクラス毎に記憶されたメモリが設けられている。このメモリからクラスに対応して読出された予測タップ位置情報がタップ切り替え用のセレクタに供給され、セレクタが選択的に予測タップを出力する。予測タップ選択回路3、13からの予測タップが積和演算回路5、15に供給される。
積和演算回路5、15では、予測タップ(入力画像信号の画素)と予測係数セットとの線形推定式を用いて出力画像信号のデータを算出する。積和演算回路5、15がそれぞれフィールド倍速の出力画像信号の隣り合うフィールドの第1および第2の画素値を同時に出力する。積和演算回路5からの第1の画素値がフィールドダブラ6に供給され、積和演算回路15からの第2の画素値がフィールドダブラ16に供給される。フィールドダブラ6、16は、フィールドメモリを有し、クラス分類処理で生成された第1および第2のフィールドのそれぞれのフィールド周波数を2倍とする処理を行う。フィールドダブラ6、16の出力がフィールド毎に切り替えられるセレクタ7に入力される。セレクタ7は、フィールドダブラ6、16のそれぞれの出力を交互に選択し、出力画像信号(525ライン/120Hzの出力信号)を発生する。
図示しないが、出力画像信号が例えばCRTディスプレイに供給される。CRTディスプレイは、出力画像信号を表示することが可能なように、その同期系が構成されている。入力画像信号としては、放送信号、またはVTR等の再生装置の再生信号が供給される。すなわち、この一例をテレビジョン受像機に内蔵することができる。
さらに、選択信号発生部8が設けられている。選択信号発生部8は、出力画像信号としてAABBタイプのものを生成するか、ABABタイプのものを生成するかを指示する選択信号SL1およびSL2を発生する。選択信号SL1およびSL2のハイレベル、ローレベルがAABBタイプとABABタイプとにそれぞれ対応付けられている。選択信号発生部8は、ユーザが出力画像信号により提示される画像を見ながらスイッチ等をマニュアル操作することによって選択信号SL1およびSL2を発生する。マニュアル操作に限らず、入力画像信号と共に送られる制御信号の指示に応答して選択信号SL1およびSL2を発生しても良い。さらに、入力画像信号自体の特性に応じて自動的に選択信号SL1およびSL2を発生しても良い。
選択信号SL1により領域切り出し部1の切り出し方法が制御される。選択信号SL2によりクラス検出回路2,12および予測タップ選択回路3,13におけるクラスタップおよび予測タップの設定が制御される。選択信号SL2により予測係数メモリ4,14の予測係数テーブルが切り替えられる。さらに、選択信号SL2が同期信号発生部9に供給され、出力画像信号の各タイプに適応した垂直同期信号が生成される。この垂直同期信号によってCRTモニター(図示しない)の垂直偏向が制御される。
第3図は、フィールドダブラ6および16の動作を横軸に時間、縦軸にフィールドダブラ6および16内のフィールドメモリのアドレスをとって示すものである。積和演算回路5、15によって、第1のフィールドおよび第2のフィールドのデータが同時に生成される。第3図Aが積和演算回路5によって生成された第1のフィールドの画像信号をフィールドメモリに書き込む時のアドレスであり、第3図Cが積和演算回路15によって生成された第2のフィールドの画像信号をフィールドメモリに書き込む時のアドレスである。各フィールドに対して付加された番号1A,1B,2A,2B,・・・は、1フレームを構成する2フィールド(AおよびB)を示す。また、クラス分類適応処理による遅れを無視して、入力画像信号と積和演算回路5、15の出力画像信号に対して番号が付されている。
第3図Aに示す積和演算回路5の出力画像信号がフィールドダブラ6に供給される。フィールドダブラ6では、積和演算回路5の出力の1フィールド(例えば第3図A中の1A)がフィールドメモリに書き込まれ、この書き込みアドレスを追い越さないように、書き込み速度の2倍の速度でフィールドメモリから1フィールド(例えば第3図B中の1A)が読み出される。また、1フィールドの読み出しが2回繰り返される。従って、第3図Bに示すように、2倍のフィールド周波数とされた出力がフィールドダブラ6から発生する。他方のフィールドダブラ16も、フィールドダブラ6と同様に積和演算回路15からの演算信号のフィールド周波数を2倍に変換した出力信号(第3図D)を発生する。
これらのフィールドダブラ6および16の出力信号がセレクタ7に供給され、セレクタ7がそれぞれの出力信号をフィールド毎に交互に選択する。その結果、セレクタ7からは、第3図Eに示す出力画像信号が得られる。出力画像信号は、積和演算回路5により生成された第1のフィールドの画像信号と、積和映像回路15により生成された第2のフィールドの画像信号とが時間軸方向に交互に位置し、且つフィールド周波数が2倍とされた画像信号である。
なお、第2図に示されるクラス分類適応処理のフィールド倍速化の構成は、カラー画像信号の一つのコンポーネントに対応したものであり、輝度信号、二つの色差信号の計3個のコンポーネントに対して、第2図に示される構成をそれぞれ設けても良い。さらに、コンポーネントカラー画像信号に限らず、コンポジットカラー画像信号に対してもこの発明を適用することができる。
第4図は、同期信号発生部9により生成される垂直同期信号を説明するための図である。出力画像信号がABABタイプの場合には、第4図Aに示すように、インターレス方式でラスター走査がなされる。すなわち、第1フィールドの第1ラインから実線で示すように、走査が行われ、第263ラインの中間で第2フィールドに移り、以降、第525ラインまで走査がなされる。第1フィールドの上下のライン間の中央位置に第2フィールドのライン(破線)が存在する。従って、第4図Bに示すように、ABABタイプでは、262.5ラインの周期を有する垂直同期信号が同期信号発生部9から出力される。
AABBタイプの場合では、第4図Cに示すように、ラスター走査の物理的位置で動作がなされる。最初のフィールドでは、第1ラインから第262ラインまでの262ラインの走査がなされ、2番目のフィールドでは、前のフィールドの第1ラインから第262ラインと同一の位置の走査がされ、さらに、第263ラインの前半までの262.5ラインの走査がなされる。3番目のフィールドでは、第263ラインの後半から走査が開始され、第263ラインの前半までの263ラインの走査がなされる。4番目のフィールドでは、第263ラインの後半から走査がなされ、第262ラインまでの262.5ラインの走査がなされる。4番目のラスター走査は、第1番目の走査に戻る。このように、4フィールド周期でもって、ラスター走査がなされる。第4図Cに示すラスター走査を行うために、同期信号発生部9は、AABBタイプでは、第4図Dに示すように、垂直同期信号を発生する。
このように、同期信号発生部9は、選択信号発生部8からの選択信号SL2によって指示されるタイプに適応して垂直同期信号を発生する。この垂直同期信号によってCRTモニターの垂直偏向が制御され、フィールド倍速の出力画像信号が表示される。
以下、この発明の第2の実施形態におけるクラス分類適応処理について、より詳細に説明する。第5図は、縦軸を垂直方向、横軸を時間方向とした時に、AABBタイプの出力画像信号を生成する場合の画素位置を概略的に示す。入力画像信号中に存在しているフィールド内の画素がクラス分類処理によって生成される。すなわち、クラス検出回路2、予測タップ選択回路3、予測係数メモリ4、積和演算回路5によって、入力画像信号中に存在しないフィールド内の画素が生成される。入力画像信号中に存在していないフィールド内の画素がクラス検出回路12、予測タップ選択回路13、予測係数メモリ14、積和演算回路15によって生成される。そして、フィールドダブラ6および16とセレクタ7とによって、第5図に示す画素の配置を有するAABBタイプの出力画像信号が生成される。
第6図は、縦軸を垂直方向、横軸を時間方向とした時に、ABABタイプの出力画像信号を生成する場合の画素位置を概略的に示す。入力画像信号中に存在しているフィールド内の画素がクラス検出回路2、予測タップ選択回路3、予測係数メモリ4、積和演算回路5によって生成される。入力画像信号中に存在していないフィールド内の画素がクラス検出回路12、予測タップ選択回路13、予測係数メモリ14、積和演算回路15によって生成される。そして、フィールドダブラ6および16とセレクタ7とによって、第6図に示す画素の配置を有するABABタイプの出力画像信号が生成される。
第5図に示すAABBタイプの出力画像信号を生成する場合のタップ構造について説明する。第7図は、垂直方向および時間方向のタップ構造を示す。説明の便宜上、画素生成動作の共通性に基づいて、4個のモードを規定する。モード1は、入力画像信号中に存在する奇数フィールドおよび偶数フィールドの一方のフィールド内の画素と垂直方向で同一位置に画素を第1のフィールドの画素として生成する処理である。モード2は、入力画像信号に存在しないフィールドの画素で、一方のフィールドの画素と垂直方向で同一位置に画素を第2のフィールドの画素として生成する処理である。モード3は、入力画像信号中に存在する奇数フィールドおよび偶数フィールドの他方のフィールド内の画素と垂直方向で同一位置に画素を第3のフィールドの画素として生成する処理である。モード4は、入力画像信号に存在しないフィールドの画素で、他方のフィールドの画素と垂直方向で同一位置に画素を第4のフィールドの画素として生成する処理である。
AABBタイプの出力画像信号を生成するモード2およびモード4では、第7図において、三角形で囲んで示すように、新たに生成されるフィールドの前後のフィールドの入力画素がクラスタップまたは予測タップとして使用される。すなわち、生成する新たなフィールドの前のフィールド(−1フィールドと称する)に含まれ、生成しようとする画素と同一位置の画素と、新たなフィールドの後のフィールド(0フィールド)に含まれ、生成しようとする画素に対して垂直方向で上下の位置の画素とがタップとして使用される。
第8図Aは、モード1およびモード3における予測タップの一例であり、第8図Bは、モード1およびモード3におけるクラスタップの一例である。第8図Aおよび第8図Bは、縦軸を垂直方向、横軸を水平方向にとって画素の配置を示す。第8図Aに示すように、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素(黒い丸印)yと垂直方向で上下の位置の6個の入力画素x〜xと、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yと上下左右の位置に隣接する4個の入力画素x〜xとの合計10個の入力画素により予測タップが構成される。
第8図Bに示すように、4個の入力画素X〜Xによって、モード1およびモード3のクラスタップが構成される。XおよびXは、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yと垂直方向で上下の位置の画素である。XおよびXは、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の画素である。
第9図Aは、モード2およびモード4における予測タップの一例であり、第9図Bは、モード2およびモード4におけるクラスタップの一例である。第9図Aおよび第9図Bは、縦軸を垂直方向、横軸を水平方向にとって画素の配置を示す。第9図Aに示すように、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素(黒い丸印)yと垂直方向で同一位置の5個の入力画素x〜xと、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の6個の入力画素x〜x10との合計11個の入力画素により予測タップが構成される。生成される画素yと入力画素x2の空間的位置が同一である。
第9図Bに示すように、5個の入力画素X〜Xによって、モード2およびモード4のクラスタップが構成される。Xは、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yと空間的に同一位置の画素である。XおよびXは、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の画素である。XおよびXは、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の画素である。
第6図に示すABABタイプの出力画像信号を生成する場合のタップ構造について説明する。第10図は、垂直方向および時間方向のタップ構造を示す。処理のモードの共通性に基づいて、4個のモードを規定する。モード1は、入力画像信号中に存在する一方のフィールド内の画素と垂直方向で同一位置に画素を生成する処理である。モード2は、入力画像信号に存在しないフィールドの画素で、一方のフィールドの画素と垂直方向で1/2ラインずれた位置に画素を生成する処理である。モード3は、入力画像信号中に存在する他方のフィールド内の画素と垂直方向で1/2ラインずれた位置に画素を生成する処理である。モード4は、入力画像信号に存在しないフィールドの画素で、他方のフィールドの画素と垂直方向で同一位置に画素を生成する処理である。
モード2およびモード4では、第10図において、三角形で囲んで示すように、生成する画素の含まれる新たなフィールドの前後のフィールドの入力画素がタップとして使用される。モード2では、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素に対して垂直方向で上下の位置の画素と、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素と垂直方向で同一位置の画素とがタップとして使用される。モード4では、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素と垂直方向で同一位置の画素と、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素に対して垂直方向で上下の位置の画素とがタップとして使用される。
モード3では、第10図において、菱形で囲んで示すように、生成する画素の含まれるフィールド(0フィールド)と同一フィールドで、その上下の入力画素と、生成する画素のフィールドの前のフィールド(−1フィールド)に含まれ、生成しようとする画素と垂直方向で同一位置の画素と、新たなフィールドの後のフィールド(+1フィールド)に含まれ、生成しようとする垂直方向で同一位置の画素とがタップとして使用される。
第11図Aは、モード2における予測タップの一例であり、第11図Bは、モード2におけるクラスタップの一例である。第11図Aおよび第11図Bは、縦軸を垂直方向、横軸を水平方向にとって画素の配置を示す。第11図Aに示すように、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の6個の入力画素x〜xと、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yと垂直方向で同一位置の5個の入力画素x〜x10との合計11個の入力画素により予測タップが構成される。
第11図Bに示すように、5個の入力画素X〜Xによって、モード2のクラスタップが構成される。XおよびXは、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の画素である。Xは、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yと同一位置の画素である。XおよびXは、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素に対して垂直方向で上下の位置の画素である。
第12図Aは、モード3における予測タップの一例であり、第12図Bは、モード3におけるクラスタップの一例である。第12図Aおよび第12図Bは、縦軸を垂直方向、横軸を水平方向にとって画素の配置を示す。第12図Aに示すように、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の2個の入力画素xおよびxと、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yの周辺の6個の入力画素x〜xと、+1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の2個の入力画素xおよびxとの合計10個の入力画素により予測タップが構成される。
第12図Bに示すように、6個の入力画素X〜Xによって、モード3のクラスタップが構成される。XおよびXは、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の画素である。XおよびXは、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の画素である。XおよびXは、+1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の画素である。
第13図Aは、モード4における予測タップの一例であり、第13図Bは、モード4におけるクラスタップの一例である。第13図Aおよび第13図Bは、縦軸を垂直方向、横軸を水平方向にとって画素の配置を示す。第13図Aに示すように、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素yと垂直方向で同一位置の5個の入力画素x〜xと、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の6個の入力画素x〜x10との合計11個の入力画素により予測タップが構成される。
第13図Bに示すように、5個の入力画素X〜Xによって、モード4のクラスタップが構成される。Xは、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素と垂直方向で同一位置の画素である。XおよびXは、−1フィールドに含まれ、生成しようとする画素に対して垂直方向で上下の位置の画素である。XおよびXは、0フィールドに含まれ、生成しようとする画素yに対して垂直方向で上下の位置の画素である。
なお、モード1の予測タップおよびクラスタップは、入力信号に存在しているフィールドを作りなおす処理であって、例えば第8図Aに示すABABタイプのモード1と同様のもので良い。
上述したAABBタイプとABABタイプとで、クラスタップを切り替えるために、クラス検出回路2および12に対して選択信号SL2が供給される。また、タイプによって予測タップを切り替えるために、予測タップ選択回路3および13に対して選択信号SL2が供給される。クラスタップおよび予測タップのモードに応じた切り替えは、クラス検出回路2,12および予測タップ選択回路3,13のそれぞれにおいてなされる。領域切り出し回路1は、クラスタップおよび予測タップとして使用される可能性のある全ての入力画素を同時に出力するものである。クラス検出回路2および12は、モードと注目画素の位置に応じてクラスタップを選択するようになされている。
クラス検出回路2、12は、クラスタップの特徴例えばレベル分布を検出する。この場合、クラス数が膨大となることを防ぐために、各画素8ビットの入力データをより少ないビット数のデータへ圧縮するような処理を行う。一例として、ADRC(Adaptive Dynamic Range Coding)によって、クラスタップの入力画素のデータが圧縮される。なお、情報圧縮方式としては、ADRC以外にDPCM(予測符号化)、VQ(ベクトル量子化)等の圧縮方式を用いても良い。
本来、ADRCは、VTR(Video Tape Recoder)向け高能率符号化用に開発された適応的再量子化法であるが、信号レベルの局所的な特徴を短い語長で効率的に表現できるので、この一例では、ADRCをクラス分類のコード発生に使用している。ADRCは、クラスタップのダイナミックレンジをDR、ビット割当をn、クラスタップの画素のデータレベルをし、再量子化コードをQとして、以下の式(1)により、最大値MAXと最小値MINとの間を指定されたビット長で均等に分割して再量子化を行う。
DR=MAX−MIN+1
Q={(L−MIN+0.5)×2/DR} (1)
ただし、{ }は切り捨て処理を意味する。
なお、動きクラスを併用して、クラスと動きクラスとを統合してクラスを検出するようにしても良い。この場合、動きクラスに応じて、クラスタップを切り替えるようにしても良い。
そして、積和演算回路5,15は、予測タップ選択回路3,13でそれぞれ選択された予測タップ(画素値)と、予測係数メモリ4,14からそれぞれ読み出された予測係数セットとの線形1次結合によって、画素値を生成する。線形1次式に限らず、2次以上の高次の推定式によって画素値を生成しても良い。この場合、予測係数メモリ4,14には、AABBタイプで使用する予測係数テーブルと、ABABタイプで使用する予測係数テーブルとが格納されている。各テーブルは、複数の予測係数セットを、モードとクラス検出回路2,12で決定されたクラスとに対応する個数有する。各テーブル(予測係数)は、予め後述する学習処理によって取得されている。
積和演算回路5は、予測タップ選択回路3、または13からの予測タップ(画素値)x1,x2,・・・xiと、予測係数セットw,w,・・・wiとの線形1次結合式(式(2))の演算を行うことにより、例えばモード1およびモード3の場合の画素値を算出する。積和演算回路15は、同様にしてモード2およびモード4の場合の画素値を算出する。
L1=wx1+wx2+・・・・+wixi (2)
このように、予測係数セットが各クラス毎に予め学習により求められた上で、予測係数メモリ4、14に記憶しておき、入力される予測タップおよび読出された予測係数セットに基づいて演算が行われ、入力されたデータに対応する出力データを形成して出力することにより、入力データを単に補間処理したのとは異なり、高画質のフィールド倍速の画像信号を出力することができる。
次に、予測係数の作成(学習)について第14図を用いて説明する。AABBタイプの出力画像信号を形成する学習と、ABABタイプの出力画像信号を形成する学習とは、別々の予測係数を求めるために、別々の処理である。しかしながら、いずれの学習のためにも、第14図の構成を使用することができる。予測係数を学習によって得るためには、まず、間引き部31によって、フィールド周波数が120Hz(フィールド倍速)のプログレッシブの画像信号から、垂直方向で画素数が1/2とされ、フィールド周波数60Hzのインターレス画像信号(生徒画像)を形成する。
また、間引き部41によって、垂直方向で画素数が1/2とされ、フィールド周波数120Hzの画像信号(教師画像)を形成する。教師画像としては、AABBタイプまたはABABタイプである。間引き部41は、各フィールドの垂直方向の間引きの方法を変えることによって、AABBタイプおよびABABタイプの一方の教師画像を形成する。間引き部41からの教師画像と間引き部31からの生徒画像とを学習用の対とする。
第15図は、AABBタイプの出力画像信号を形成するための予測係数を学習する時の画素構造を示す。また、第16図は、ABABタイプの出力画像信号を形成するための予測係数を学習する時の画素構造を示す。縦軸が垂直方向であり、横軸が時間方向である。第15図および第16図において、黒い丸印がフィールド周波数が120Hzで、プログレッシブ画像の画素を示す。
AABBタイプの学習時には、間引き部41において、連続するフィールドで垂直方向で同一の位置の画素を教師画像の画素とするように、垂直方向の1/2間引きがなされる。ABABタイプの学習時には、間引き部41において、連続するフィールドで、垂直方向の位置がプログレッシブ画像の1ラインのずれを持つように、垂直方向の1/2間引きがなされる。また、間引き部31において、フィールド周波数を60Hzとするように、時間間引きがなされ、また、時間間引き後の時間的に連続するフィールド間で、垂直方向の位置がプログレッシブ画像の1ラインのずれを持つように、垂直方向の1/2間引きがなされる。このように形成される生徒画像は、画素値生成時の入力画像に対応するものである。
間引き部31からの生徒画像信号が予測タップ領域切り出し部32およびクラスタップ領域切り出し部33に供給される。クラスタップ領域切り出し部33からのクラスタップがクラス検出回路34および35に供給される。予測タップ領域切り出し部32は、各モードで画素を作成するための予測タップを出力する。クラス検出回路34、35は、第2図に示す画素生成装置におけるクラス検出回路2、12と同様に、モード毎に設定されたクラスタップのデータをADRCにより圧縮し、クラス情報を発生する。クラス検出回路34、35は、モード1および3と、モード2および4のそれぞれに関するクラスを独立に検出する。
予測タップ領域切り出し部32からの予測タップが正規方程式加算回路36、37に供給される。正規方程式加算回路36、37の説明のために、複数個の入力画素から出力画素への変換式の学習とその予測式を用いた信号変換について述べる。以下に、説明のために、より一般化してn画素による予測を行う場合について説明する。予測タップとして選択される入力画素のレベルをそれぞれx、‥‥、xとし、教師画像中の出力画素レベルをyとしたとき、クラス毎に予測係数セットw、‥‥、wによるnタップの線形推定式を設定する。これを下記の式(3)に示す。学習前は、wが未定係数である。
y=w+w+‥‥+w (3)
学習は、クラス毎に複数の信号データに対して行う。データ数がmの場合、式(3)にしたがって、以下に示す式(4)が設定される。
=wk1+wk2+‥‥+wkn (4)
(k=1,2,‥‥m)
m>nの場合、予測係数セットw、‥‥wは、一意に決まらないので、誤差ベクトルeの要素を以下の式(5)で定義して、式(6)を最小にする予測係数セットを求める。いわゆる、最小自乗法による解法である。
=y−{wk1+wk2+‥‥+wkn} (5)
(k=1,2,‥‥m)
Figure 0004470323
ここで、式(6)のwによる偏微分係数を求める。それは以下の式(7)を‘0’にするように、各係数wを求めればよい。
Figure 0004470323
以下、式(8)、(9)のようにXij、Yを定義すると、式(7)は、行列を用いて式(10)へ書き換えられる。
Figure 0004470323
Figure 0004470323
この方程式は、一般に正規方程式と呼ばれている。第14図中の正規方程式加算回路36、37のそれぞれは、クラス検出回路34、35から供給されたクラス情報と、予測タップ領域切り出し部32から供給された予測タップと、教師画像の画素を用いて、この正規方程式の加算を行う。
学習に充分なフレーム数のデータの入力が終了した後、正規方程式加算回路36、37は、予測係数決定部38に正規方程式データを出力する。予測係数決定部38は、正規方程式を掃き出し法等の一般的な行列解法を用いて、wについて解き、予測係数セットを算出する。予測係数決定部38は、算出された予測係数セットを予測係数メモリ39、40に書込む。
以上のように学習を行った結果、予測係数メモリ39、40のそれぞれには、クラス毎に、フィールド倍速信号の注目画素yを推定するための、もっとも真値に近い推定ができる予測係数が格納される。予測係数メモリ39、40に格納された予測係数は、上述の画像変換装置において、予測係数メモリ4、14にロードされる。
また、予測タップ領域切り出し部32が出力する予測タップの個数は、画素生成装置において使用される予測タップの個数より大きいものとされる。従って、予測係数決定部38は、クラス毎により多くの予測係数セットが求まる。この求まった予測係数セットの中で、絶対値が大きいものから順に使用する数の予測係数セットが選択される。選択された予測係数セットがメモリ39、40のクラスに対応するアドレスにそれぞれ格納される。従って、クラス毎に予測タップが選択されることになり、この予測タップの選択位置情報がクラス毎にメモリ(図示しない)に格納される。このような予測タップ選択処理によって、各クラスに適合した予測タップを選択することが可能となる。
以上の処理により、線形推定式により、フィールド周波数が60Hzのインターレス画像信号からフィールド周波数が120Hzの画像のデータを作成するための予測係数の学習が終了する。
上述したこの発明による画像変換装置を例えばCRTディスプレイのような表示装置と入力信号源との間に設けることによって、入力画像信号の絵柄に応じてフィールド倍速化された出力画像信号のタイプを選択することができるので、良質な再生画像を見ることができる。
この発明は、フィールド倍速化を行うと共に、出力画像信号としてAABBタイプのものを生成する時に、入力画像信号中に存在しないフィールドが前後の入力フィールドの画像情報を使用して生成されるので、生成されたフィールドがその時間に対応する画像情報となる。従って、単に入力フィールドと同一のフィールドを繰り返す処理の時間解像度を持たない問題点を解決することができる。また、クラス分類適応処理を使用するので、時空間解像度を向上させることができる。
また、この発明は、出力画像信号として、画素構造としてAABBタイプとABABタイプとを選択することができるので、入力画像信号の絵柄に適応したフィールド倍速処理を行うことができる。従って、文字が横にスクロールされるような画面例えば株式情報の提示画面の場合には、AABBタイプを選択することによって文字を明瞭に表示し、それ以外では、ABABタイプを選択することによって時空間解像度の良好な画像を表示することができる。
この発明は、上述した実施形態等に限定されるものでは無く、この発明の要旨を逸脱しない範囲内で様々な変形や応用が可能である。例えばフィールド周波数60Hzから120Hzの倍速処理について説明したが、50Hzから100Hzへの倍速処理に対しても同様にこの発明を適用できる。また、入力画像信号のフィールド周波数は、50Hz、60Hzには限定されない。さらに、上述した第2の実施形態では、フィールド倍速化の処理について説明したが、フィールド倍速化に加えて水平方向および/または垂直方向の画素数を2倍とする処理を同時に行うようにしても良い。さらに、倍速化に限らず、任意の比率のフィールド周波数変換を行うようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の第1の実施形態の説明に用いる画素構造を概略的に示す略線図である。
第2図は、この発明の第2の実施形態のブロック図である。
第3図は、フィールド倍速化を説明するための波形図である。
第4図は、フィールド倍速の出力画像信号に対する垂直同期信号を説明するための略線図である。
第5図は、入力画像信号の画素とAABBタイプの出力画像信号の画素の配置を示す略線図である。
第6図は、入力画像信号の画素とABABタイプの出力画像信号の画素の配置を示す略線図である。
第7図は、AABBタイプの出力画像信号を生成する場合のタップ構造を示す略線図である。
第8図は、AABBタイプにおける予測タップおよびクラスタップの一例を示す略線図である。
第9図は、AABBタイプにおける予測タップおよびクラスタップの一例を示す略線図である。
第10図は、ABABタイプの出力画像信号を生成する場合のタップ構造を示す略線図である。
第11図は、ABABタイプにおける予測タップおよびクラスタップの一例を示す略線図である。
第12図は、ABABタイプにおける予測タップおよびクラスタップの他の例を示す略線図である。
第13図は、ABABタイプにおける予測タップおよびクラスタップのさらに他の例を示す略線図である。
第14図は、予測係数を学習する時の構成を示すブロック図である。
第15図は、AABBタイプに関する予測係数を学習する時の教師画像と生徒画像の画素の位置関係を説明するための略線図である。
第16図は、ABABタイプに関する予測係数を学習する時の教師画像と生徒画像の画素の位置関係を説明するための略線図である。
第17図は、従来のフィールド倍速化処理の一例および他の例を説明するための略線図である。

Claims (24)

  1. 互いに隣接する第1のフィールドの画素位置と第2のフィールドの画素位置が異なる入力画像信号を、上記入力画像信号のフィールド周波数のN倍(Nは、2以上の整数)のフィールド周波数を有する出力画像信号に変換する画像変換装置において、
    上記出力画像信号のうち、少なくとも上記入力画像信号に存在しない全てのフィールドを順次注目フィールドに設定し、上記注目フィールドの注目画素毎に、上記注目画素に基づいて決定される上記入力画像信号の複数の画素に基づいて、上記注目画素に対するクラスを決定するクラス決定部と、
    予め取得された予測情報を記憶するメモリ部と、
    上記注目画素毎に、上記入力画像信号の複数の画素を選択する予測画素選択部と、
    上記クラス決定部で決定されたクラスに対応する予測情報と、上記予測画素選択部で選択された複数の画素とに基づいて、上記出力画像信号の各注目画素を生成する画素生成部とを備え、
    上記出力画像信号は、上記Nと等しいフィールド単位に画素位置が変化すると共に、各フィールドの画素位置が、上記入力画像信号の上記第1又は第2のフィールドのいずれか一方のフィールドの画素位置と一致することを特徴とする画像変換装置。
  2. 請求の範囲1において、
    上記入力画像信号の上記第1のフィールドと上記第2のフィールドとは、垂直方向に画素位置が異なることを特徴とする画像変換装置。
  3. 請求の範囲2において、
    上記入力画像信号の上記第1のフィールドと上記第2のフィールドとは、垂直方向に1/2ライン分画素位置が異なることを特徴とする画像変換装置。
  4. 請求の範囲1において、
    上記出力画像信号は、上記入力画像信号の所定のフィールドと時間が一致するフィールドを先頭としたN個のフィールドの画素位置が、上記入力画像信号の所定のフィールドの画素位置と一致することを特徴とする画像変換装置。
  5. 請求の範囲1において、
    上記クラス決定部は、上記出力画像信号の全てのフィールドを順次上記注目フィールドに設定することを特徴とする画像変換装置。
  6. 請求の範囲1において、
    上記Nが2であることを特徴とする画像変換装置。
  7. 請求の範囲1において、
    上記画素生成部は、上記クラス決定部で決定されたクラスに対応する上記予測情報と、上記予測画素選択部で選択された複数の画素との線形推定式を演算することで、上記出力画像信号の各注目画素を生成することを特徴とする画像変換装置
  8. 請求の範囲1において、
    上記入力画像信号がインターレス信号であることを特徴とする画像変換装置。
  9. 請求の範囲1において、
    上記メモリ部は、第1の変換モードと第2の変換モードとに対応する予測情報を記憶しており、
    上記画素生成部は、
    上記第1の変換モードにおいて、上記クラス決定部で決定されたクラス及び上記第1のモードに対応する予測情報と、上記予測画素選択部で選択された複数の画素とに基づいて、上記出力画像信号の各注目画素を生成することで、上記Nと等しいフィールド単位に画素位置が変化すると共に、各フィールドの画素位置が、上記入力画像信号の上記第1又は第2のフィールドのいずれか一方のフィールドの画素位置と一致する出力画像信号を生成し、
    上記第2の変換モードにおいて、上記クラス決定部で決定されたクラス及び上記第2のモードに対応する予測情報と、上記予測画素選択部で選択された複数の画素とに基づいて、上記出力画像信号の各注目画素を生成することで、各フィールド単位に画素位置が変化すると共に、各フィールドの画素位置が、上記入力画像信号の上記第1又は第2のフィールドのいずれか一方のフィールドの画素位置と一致する出力画像信号を生成することを特徴とする画像変換装置。
  10. 請求の範囲9において、
    上記第1のモードと上記第2のモードとで、上記クラス決定部で上記注目画素に基づいて決定される上記入力画像信号の複数の画素が互いに異なることを特徴とする画像変換装置。
  11. 請求の範囲9において、
    上記予測画素選択部は、上記第1のモードと上記第2のモードとで、上記注目画素毎に、上記入力画像信号から異なる複数の画素を選択することを特徴とする画像変換装置。
  12. 請求の範囲9において、
    上記第1のモードに対応する同期信号と、上記第2のモードに対応する同期信号とを選択的に発生する同期信号発生部をさらに有することを特徴とする画像変換装置。
  13. 互いに隣接する第1のフィールドの画素位置と第2のフィールドの画素位置が異なる入力画像信号を、上記入力画像信号のフィールド周波数のN倍(Nは、2以上の整数)のフィールド周波数を有する出力画像信号に変換する画像変換方法において、
    上記出力画像信号のうち、少なくとも上記入力画像信号に存在しない全てのフィールドを順次注目フィールドに設定し、上記注目フィールドの注目画素毎に、上記注目画素に基づいて決定される上記入力画像信号の複数の画素に基づいて、上記注目画素に対するクラスを決定するクラス決定ステップと、
    上記注目画素毎に、上記入力画像信号の複数の画素を選択する予測画素選択ステップと、
    上記決定されたクラスに対応する予測情報と、上記予測画素選択ステップで選択された複数の画素とに基づいて、上記出力画像信号の各注目画素を生成する画素生成ステップとを備え、
    上記出力画像信号は、上記Nと等しいフィールド単位に画素位置が変化すると共に、各フィールドの画素位置が、上記入力画像信号の上記第1又は第2のフィールドのいずれか一方のフィールドの画素位置と一致することを特徴とする画像変換方法。
  14. 請求の範囲13において、
    上記入力画像信号の上記第1のフィールドと上記第2のフィールドとは、垂直方向に画素位置が異なることを特徴とする画像変換方法。
  15. 請求の範囲14において、
    上記入力画像信号の上記第1のフィールドと上記第2のフィールドとは、垂直方向に1/2ライン分画素位置が異なることを特徴とする画像変換方法。
  16. 請求の範囲13において、
    上記出力画像信号は、上記入力画像信号の所定のフィールドと時間が一致するフィールドを先頭としたN個のフィールドの画素位置が、上記入力画像信号の所定のフィールドの画素位置と一致することを特徴とする画像変換方法。
  17. 請求の範囲13において、
    上記クラス決定ステップは、上記出力画像信号の全てのフィールドを順次上記注目フィールドに設定することを特徴とする画像変換方法。
  18. 請求の範囲13において、
    上記Nが2であることを特徴とする画像変換方法。
  19. 請求の範囲13において、
    上記画素生成ステップは、上記クラス決定ステップで決定されたクラスに対応する上記予測情報と、上記予測画素選択ステップで選択された複数の画素との線形推定式を演算することで、上記出力画像信号の各注目画素を生成することを特徴とする画像変換方法。
  20. 請求の範囲13において、
    上記入力画像信号がインターレス信号であることを特徴とする画像変換方法。
  21. 請求の範囲13において、
    上記画素生成ステップは、
    上記第1の変換モードにおいて、上記クラス決定ステップで決定されたクラス及び上記第1のモードに対応する予測情報と、上記予測画素選択ステップで選択された複数の画素とに基づいて、上記出力画像信号の各注目画素を生成することで、上記Nと等しいフィールド単位に画素位置が変化すると共に、各フィールドの画素位置が、上記入力画像信号の上記第1又は第2のフィールドのいずれか一方のフィールドの画素位置と一致する出力画像信号を生成し、
    上記第2の変換モードにおいて、上記クラス決定ステップで決定されたクラス及び上記第2のモードに対応する予測情報と、上記予測画素選択ステップで選択された複数の画素とに基づいて、上記出力画像信号の各注目画素を生成することで、各フィールド単位に画素位置が変化すると共に、各フィールドの画素位置が、上記入力画像信号の上記第1又は第2のフィールドのいずれか一方のフィールドの画素位置と一致する出力画像信号を生成することを特徴とする画像変換方法。
  22. 請求の範囲21において、
    上記第1のモードと上記第2のモードとで、上記クラス決定ステップで上記注目画素に基づいて決定される上記入力画像信号の複数の画素が互いに異なることを特徴とする画像変換方法。
  23. 請求の範囲21において、
    上記予測画素選択ステップは、上記第1のモードと上記第2のモードとで、上記注目画素毎に、上記入力画像信号から異なる複数の画素を選択することを特徴とする画像変換方法。
  24. 請求の範囲21において、
    上記第1のモードに対応する同期信号と、上記第2のモードに対応する同期信号とを選択的に発生する同期信号発生ステップをさらに有することを特徴とする画像変換方法。
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