JP4445780B2 - 電圧レギュレータ - Google Patents

電圧レギュレータ Download PDF

Info

Publication number
JP4445780B2
JP4445780B2 JP2004057714A JP2004057714A JP4445780B2 JP 4445780 B2 JP4445780 B2 JP 4445780B2 JP 2004057714 A JP2004057714 A JP 2004057714A JP 2004057714 A JP2004057714 A JP 2004057714A JP 4445780 B2 JP4445780 B2 JP 4445780B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
potential
node
transistor
power supply
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004057714A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005250664A (ja
Inventor
裕一 松下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lapis Semiconductor Co Ltd
Original Assignee
Oki Semiconductor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Semiconductor Co Ltd filed Critical Oki Semiconductor Co Ltd
Priority to JP2004057714A priority Critical patent/JP4445780B2/ja
Priority to US11/065,201 priority patent/US7224208B2/en
Publication of JP2005250664A publication Critical patent/JP2005250664A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4445780B2 publication Critical patent/JP4445780B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Description

本発明は、与えられた電源電圧以下の一定の直流電圧を出力する電圧レギュレータに関するものである。
図2は、従来の電圧レギュレータの回路図である。この電圧レギュレータは、バイアス電位BH,BLを生成するバイアス部10、出力する直流電圧OUTの基準となる基準電位REFを発生させる基準電位発生部20、差動増幅部30及び出力部40で構成されている。
差動増幅部30は、基準電位REFと比較電圧VCの差に応じた制御信号CONを出力するもので、これらの基準電位REFと比較電圧VCが、それぞれのゲートに与えられるNチャネルMOSトランジスタ(以下、「NMOS」という)31,32を有している。NMOS31,32のドレインは、それぞれPチャネルMOSトランジスタ(以下、「PMOS」という)33,34を介して、電源電位VCCに接続されている。また、NMOS31,32のソースはノードN1に接続され、このノードN1と接地電位GNDの間に、バイアス電位BLに基づいて一定電流を流すNMOS35が接続されている。
PMOS33,34のゲートは、NMOS32のドレインに接続されている。そして、NMOS31のドレインが接続されたノードN2から、制御信号CONが出力されるようになっている。
出力部40は、制御信号CONによって直流電圧OUTのレベルが制御されると共に、この直流電圧OUTに応じた電圧を、比較電圧VCとして差動増幅部30にフィードバックするものである。出力部40は、電源電位VCCと接地電位GNDの間に、制御信号CONで導通状態が制御されるPMOS41、ダイオード接続されたNMOS42、及びバイアス電位BLで導通状態が制御されるNMOS43が直列に接続されて構成されている。そして、NMOS42のドレインとソースから、それぞれ直流電圧OUTと比較電圧VCが出力されるようになっている。
次に動作を説明する。
ここでは、与えられる電源電圧が2.5〜4.0Vの範囲で、所望の直流電圧(例えば、1.5V)が出力されるものとする。
まず、電源電位VCCが2.5Vであるとする。差動増幅部30において、基準電位発生部20から与えられる基準電位REF(例えば、1.0V)が、出力部40から与えられる比較電圧VCよりも高い場合、NMOS31のオン抵抗が減少し、NMOS32のオン抵抗が増加する。このため、ノードN2の電位が低下し、出力部40のPMOS41のゲートに与えられる制御信号CONの電位が低下する。これにより、PMOS41のオン抵抗が減少し、直流電圧OUT及び比較電圧VCが上昇する。
逆に、基準電位REFが比較電圧VCよりも低い場合には、NMOS31のオン抵抗が増加しNMOS32のオン抵抗が減少するので、制御信号CONの電位が上昇してPMOS41のオン抵抗が増加し、比較電圧VCが低下する。
このようなフィードバック動作により、比較電圧VCは基準電位REFと同じ電位となるように制御される。従って、NMOS42の閾値電圧Vt(ダイオード接続されたNMOS42の順方向電圧)が0.5Vであれば、直流電圧OUTは、基準電位REF+閾値電圧Vt(=1.5V)となる。このとき、制御信号CONは、PMOS41に電流が流れるか流れないかの、ぎりぎりの電位(VCC−Vt=2.0V)となる。
次に、電源電位VCCが2.5Vから4.0Vに上昇すると、基準電位REFは変化せず、制御信号CONの電位はPMOS41のソース・ゲート間容量等により、電源電位VCCと共に上昇する。これにより、PMOS41は電流が流れるか流れないかのぎりぎりの状態に維持され、直流電圧OUTと比較電圧VCは、上昇前の電位に維持され、この直流電圧OUTは変動せずに所望の電圧に保たれる。電源電位VCCが4.0Vから2.5Vに低下したときも同様である。
特開2002−189522号公報
しかしながら、前記電圧レギュレータでは、与えられる電源電圧が、例えば1.3〜4.0Vの広範囲で変動するような場合に、次のような問題が発生していた。
例えば、電源電位VCCが1.3Vのとき、基準電位REFは1.0Vとなるが、出力部40の直流電圧OUTは電源電位VCC以上にはならないので、最高でも1.3Vである。従って、比較電圧VCは0.8Vまでしか上昇しない。このため、ノードN2の制御信号CONは、PMOS41をほぼ短絡状態にさせるような、極めて低い電位(例えば、0.3V)に低下する。
その後、電源電位VCCが1.3Vから4.0Vに上昇すると、ノードN2の電位は、PMOS41のソース・ゲート間容量等により、電源電位VCCと共に上昇する。この時、PMOS41はほぼ短絡状態となっているので、ノードN2の電位が上昇しても、PMOS41のオン抵抗を下げるまでには至らない。このため、直流電圧OUTは、電源電位VCCの急激な上昇に従って所望の1.5Vを越えて上昇し、その後フィードバック動作により、所望の1.5Vに落ち着く。
このような電源電位VCCの急激な変動に即応させるためには、差動増幅部30に常に大きな電流を流しておく必要があるが、消費電力を抑えた回路では、上記のように電源電圧が規定された電圧以下から急上昇すると、オーバーシュートによる大きな出力変動が発生するという課題があった。
本発明は、与えられる電源電圧が規定された入力電圧範囲外であっても、オーバーシュートによる大きな出力変動を発生させない電圧レギュレータを提供すること目的としている。
本発明の電圧レギュレータは、所望の直流電圧に対応する出力レベルと基準電位が与えられ、該出力レベルと該基準電位の差に応じた制御信号を出力する差動増幅部と、前記直流電圧を出力する出力ノードと電源電位の間に接続されて前記制御信号で導通状態が制御されるトランジスタを有し、該出力ノードの電位に応じて前記出力レベルを前記差動増幅部に帰還する出力部と、前記電源電位が前記直流電圧よりも低いときに、前記基準電位を前記出力レベルと同じレベルに調整して前記差動増幅部に与える基準電位調整部とを備えている。
ここで、前記出力部は、前記電源電位と前記出力ノードの間に接続されて前記制御信号で導通状態が制御される第1の前記トランジスタと、前記出力ノードと前記出力レベルが出力される第1ノードの間にダイオード接続された第2のトランジスタと、前記第1ノードと接地電位の間に接続されてバイアス電位で導通状態が設定される第3のトランジスタとを有している。更に、前記基準電位調整部は、前記第2のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記電源電位と第2ノードの間にダイオード接続された第4のトランジスタと、前記第2ノードと第3ノードの間にダイオード接続された第5のトランジスタと、前記第3のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記第3ノードと前記接地電位の間に接続されて前記バイアス電位で導通状態が設定される第6のトランジスタと、前記第5のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記基準電位と前記第3ノードの間にダイオード接続された第7のトランジスタとを有している。
本発明の他の電圧レギュレータでは、前記出力部が、前記電源電位と前記出力ノードの間に接続されて前記制御信号で導通状態が制御される第1の前記トランジスタと、前記出力ノードと前記出力レベルが出力される第1ノードの間にダイオード接続された第2のトランジスタと、前記第1ノードと接地電位の間に接続されてバイアス電位で導通状態が設定される第3のトランジスタとを有している。更に、前記基準電位調整部は、前記第2のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記電源電位と第2ノードの間にダイオード接続された第4のトランジスタと、前記第2ノードと第3ノードの間にダイオード接続された第5のトランジスタと、前記第3ノードと第4ノードの間に接続されて前記基準電位で導通状態が制御される第6のトランジスタと、前記第3のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記第4ノードと前記接地電位の間に接続されて前記バイアス電位で導通状態が設定される第7のトランジスタと、前記第5のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記基準電位と前記第3ノードの間にダイオード接続された第8のトランジスタとを有している。
本発明では、与えられる電源電圧が所望の直流電圧よりも低いときに、基準電位を出力レベルと同じレベルに調整して差動増幅部に与える基準電位調整部を設けている、これにより、電源電圧が所望の直流電圧よりも低い時にでも、差動増幅部は平衡状態を保つことができ、電源電圧が急に上昇したときにオーバーシュートが発生せず、大きな出力変動を抑えることができるという効果がある。
出力部を、電源電位と出力ノードの間に接続されて制御信号で導通状態が制御される第1のトランジスタと、出力ノードと第1ノードの間にダイオード接続された第2のトランジスタと、第1ノードと接地電位の間に接続されてバイアス電位で導通状態が設定される第3のトランジスタとで構成する。また、基準電位調整部を、電源電位と第2ノードの間にダイオード接続された第4のトランジスタと、第2ノードと第3ノードの間にダイオード接続された第5のトランジスタと、第3ノードと接地電位の間に接続されてバイアス電位で導通状態が設定される第6のトランジスタと、基準電位と第3ノードの間にダイオード接続された第7のトランジスタとで構成する。そして、第2と第4のトランジスタを同じディメンジョンに設定し、第3と第6のトランジスタを同じディメンジョンに設定し、更に、第5と第7のトランジスタを同じディメンジョンに設定する。
この発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は、次の好ましい実施例の説明を添付図面と照らし合わせて読むと、より完全に明らかになるであろう。但し、図面は、もっぱら解説のためのものであって、この発明の範囲を限定するものではない。
図1は、本発明の実施例1を示す電圧レギュレータの回路図であり、図2中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
この電圧レギュレータは、図2と同様のバイアス部10、基準電位発生部20、差動増幅部30及び出力部40に加えて、基準電位調整部50を設けた構成となっている。
バイアス部10は、電源電位VCCに影響されずに、基準電位発生部20等に一定の電流を流すための、バイアス電位BH,BLを発生させる回路である。このバイアス部10は、例えば、電源電位VCCと接地電位GNDの間に直列接続されたPMOS11、NMOS12及び抵抗13を有している。PMOS11のゲートとドレインは、電流ミラーを構成するPMOS14のゲートに接続され、このPMOS14のソースは電源電位VCCに、ドレインはNMOS15を介して接地電位GNDにそれぞれ接続されている。NMOS15のドレインとゲートは、NMOS12のゲートに接続されている。そして、PMOS11のドレインからバイアス電位BHが出力され、NMOS15のドレインからバイアス電位BLが出力されるようになっている。
基準電位発生部20は、出力すべき直流電圧OUTの基準となる基準電位REFを発生させるものである。この基準電位発生部20は、例えば、ソースが電源電位VCCに接続され、ゲートにバイアス電位BHが与えられるPMOS21と、このPMOS21のドレインと接地電位GND間に接続された抵抗22で構成されている。そして、PMOS21のドレインから、基準電位REFが出力されるようになっている。
差動増幅部30は、基準電位REFと比較電圧VCの差に応じた制御信号CONを出力するもので、これらの基準電位REFと比較電圧VCが、それぞれのゲートに与えられるNMOS31,32を有している。NMOS31,32のドレインは、それぞれPMOS33,34を介して、電源電位VCCに接続されている。また、NMOS31,32のソースはノードN1に接続され、このノードN1と接地電位GNDの間に、バイアス電位BLに基づいて一定電流を流すNMOS35が接続されている。
PMOS33,34のゲートは、NMOS32のドレインに接続されている。そして、NMOS31のドレインが接続されたノードN2から、制御信号CONが出力されるようになっている。
出力部40は、制御信号CONによって直流電圧OUTが制御されると共に、この直流電圧OUTに応じた電圧を、比較電圧VCとして差動増幅部30にフィードバックするものである。出力部40は、電源電位VCCと接地電位GNDの間に、制御信号CONで導通状態が制御されるPMOS41、ダイオード接続されたNMOS42、及びバイアス電位BLで導通状態が制御されるNMOS43が直列に接続されて構成されている。そして、NMOS42のドレインとソースから、それぞれ直流電圧OUTと比較電圧VCが出力されるようになっている。
基準電位調整部50は、電源電位VCCが所望の直流電圧OUTよりも低いときに、基準電位REFを比較電圧VCとほぼ同じ電位に調整するものである。この基準電位調整部50では、電源電位VCCとノードN3の間に、ダイオード接続された2つのNMOS51,52が直列に接続され、このノードN3と接地電位GNDの間に、バイアス電位BLによって導通状態が制御されるNMOS53が接続されている。更に、この基準電位調整部50は、基準電位発生部20の出力側をノードN3に接続するための、ダイオード接続されたNMOS54を有している。
なお、基準電位調整部50では、基準電位発生部20よりも大きな電流が流れるように、各NMOS51〜54のディメンジョンが設定されている。更に、NMOS52,54は同じディメンジョンに設定され、NMOS51,53は、それぞれ出力部40のNMOS42,43と同じディメンジョンに設定されている。ここで、同じディメンジョンとは、トランジスタのゲート長及びゲート幅の寸法のみならず、電気的な特性が同一であることを意味している。
図3は、実施例1の動作を説明するための信号波形図である。以下、この図3を参照しつつ、実施例1の動作を説明する。
ここでは、所望の直流電圧を1.5V、各トランジスタの閾値電圧Vtを0.5Vとして説明する。
電源電圧、即ち電源電位VCCが1.3Vで、所望の直流電圧(1.5V)よりも低い場合、出力部40から出力される直流電圧OUTは、最高でも1.3Vである。従って、比較電圧VCは0.8Vとなる。一方、基準電位調整部50では、NMOS51,52の閾値電圧Vtがそれぞれ0.5Vであるので、ノードN3の電位は、電源電位VCCよりも1V下がって0.3Vとなる。更に、基準電位発生部20の出力側は、NMOS54を介してノードN3に接続され、かつ基準電位調整部50に流れる電流が遥かに大きいので、差動増幅部30に与えられる基準電位REFは、0.8Vに引き下げられる。
これにより、差動増幅部30に与えられる基準電位REFと比較電圧VCは同電位となり、ノードN2の制御信号CONは、PMOS41に電流が流れるか流れないかの、ぎりぎりの電位(VCC−Vt=0.8V)となる。
その後、電源電位VCCが1.3Vから4.0Vに上昇すると、基準電位調整部50のノードN3の電位は3Vとなり、基準電位発生部20から出力される基準電位REF(1.0V)よりも高くなる。従って、基準電位調整部50のNMOS54はオフとなり、基準電位REFは所定の1.0Vとなる。
一方、差動増幅部30のノードN2の電位と、出力部40の直流電圧OUT及び比較電圧VCも、電源電位VCCと共に上昇する。そして、差動増幅部30と出力部40のフィードバック動作により、比較電圧VCは基準電位REFと同じ電位となるように制御される。従って、直流電圧OUTは、基準電位REF+閾値電圧Vt(=1.5V)となり、ノードN2の電位は、電源電位VCC−閾値電圧Vt(=3.5V)となる。
電源電位VCCが上昇するとき、出力部40のPMOS41は短絡状態にはなっていない。従って、電源電位VCCの急激な上昇があっても、PMOS41に過渡的な大電流が流れることがなく、直流電圧OUTがオーバーシュートによって大きく変動するおそれはない。
以上のように、この実施例1の電圧レギュレータは、電源電圧が所望の直流電圧よりも低いときに、基準電位REFを比較電圧VCとほぼ同じ電位に調整する基準電位調整部50を有している。これにより、電源電圧が所望の直流電圧よりも低くても、出力部40のPMOS41が短絡状態にならないので、規定範囲の電源電圧が印加されたときに、オーバーシュートによる大きな出力変動の発生を抑えることができるという利点がある。
なお、ダイオード接続されたNMOS42,51,52,54に代えて、ダイオード接続されたPMOSやダイオードを用いることができる。また、電流を小さくするために、NMOS35,43,53を用いて定電流回路を構成しているが、特性上問題が無ければ、通常動作のトランジスタ(ゲートが電源電位VCCに接続されたNMOS、またはゲートが接地電位GNDに接続されたPMOS)や抵抗を用いることが可能である。
図4は、本発明の実施例2を示す基準電位調整部の回路図である。この基準電位調整部50Aは、図1中の基準電位調整部50に代えて設けられるもので、共通の要素には共通の符号が付されている。
この基準電位調整部50Aは、図1中の基準電位調整部50において、ノードN3とNMOS53のドレインの間にNMOS55を挿入し、このNMOS55のゲートを基準電位REFに接続したものである。その他の構成は、図1と同様である。
図5は、実施例2の動作を説明するための信号波形図である。なお、基本的な動作は実施例1と同様であるので、この実施例2に特徴的な部分のみ説明する。
電源電位VCCが1.3Vで、所望の直流電圧(1.5V)よりも低い場合、実施例1と同様に、基準電位調整部50AのノードN3の電位は、0.3Vとなる。また、NMOS55はオンとなり、ノードN4の電位も0.3Vとなる。従って、差動増幅部30に与えられる基準電位REFは、実施例1と同様に、0.8Vに引き下げられる。
その後、電源電位VCCが1.3Vから4.0Vに上昇すると、基準電位調整部50のノードN3の電位は3Vとなり、基準電位発生部20から出力される基準電位REF(1.0V)よりも高くなる。従って、基準電位調整部50のNMOS54はオフとなり、基準電位REFは所定の1.0Vとなる。
このとき、NMOS55もオフとなり、ノードN4の電位は基準電位REF−閾値電圧Vt(=0.5V)となる。従って、NMOS53に印加される電圧は、最大でも0.5Vであり、実施例1の場合の3.0Vに比べて大幅に低下する。
以上のように、この実施例2の基準電位調整部50Aは、ノードN3とNMOS53のドレインの間にNMOS55を挿入し、このNMOS55の導通状態を基準電位REFで制御するようにしている。これにより、この基準電位調整部50Aは、実施例1の基準電位調整部50と同様の機能を備え、かつ、NMOS53に印加される電圧を大幅に低下させることができる。従って、出力部40のNMOS43と同じディメンジョンに設定されるNMOS53に、高耐圧のトランジスタを用いる必要がなくなる。なお、NMOS55には、最大2.5Vの電圧が印加されるが、このNMOS55は回路特性上の制約はないので、高耐圧となるようなディメンジョンに設定すれば問題は生じない。
このように、実施例2の基準電位調整部50Aを用いた電圧レギュレータは、実施例1と同様の利点に加えて、トランジスタ耐圧の低い製造プロセスを用いることができるという利点がある。
図6は、本発明の実施例3を示す電圧レギュレータの回路図であり、図2中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
この電圧レギュレータは、図2中の差動増幅部30に代えて、若干構成の異なる差動増幅部30Aを設けたものである。
この差動増幅部30Aは、定電流回路を構成するNMOS35のゲートに、抵抗36及びキャパシタ37を介して、バイアス電位BLを印加するように構成されている。即ち、抵抗36の一端はバイアス電位BLに接続され、この抵抗36の他端とキャパシタ37の一端、及びNMOS35のゲートがノードN5に接続されている。そして、キャパシタ37の他端が電源電位VCCに接続されている。その他の構成は、図2と同様である。
図7は、実施例3の動作を説明するための信号波形図である。以下、この図7を参照しつつ、図6における問題発生時の条件での動作について説明する。
まず、電源電位VCCが1.3Vのとき、直流電圧OUTは最大でも1.3Vであるので、比較電圧VCは0.8V、基準電位REFは1.0Vとなり、差動増幅部30AのノードN2の電位は低くなって、出力部40のPMOS41はほぼ短絡状態となる。このとき、ノードN5の電位は、バイアス電位BLと同電位で、NMOS35を定電流回路として、差動増幅部30Aに流れる電流を極力抑えるようになっている。
その後、電源電位VCCが1.3Vから4.0Vに上昇すると、PMOS41がほぼ短絡状態で電源電位VCCが上昇するが、この電源電位VCCの上昇と同時に、キャパシタ37を介してノードN5の電位が上昇する。これにより、NMOS35に大きな電流が流れ、差動増幅部30Aがすばやく反応して、ノードN2の電位が急速に上昇する。そして、直流電圧OUTが所定の電位(1.5V)に上昇した時点で、PMOS41がほぼオフ状態となり、オーバーシュート等の急激なレベル変動は発生しない。その後、ノードN5の電位は、抵抗36とキャパシタ37の時定数に従って、バイアス電位BLに戻る。
以上のように、この実施例3によれば、定電流回路を構成するNMOS35のゲートに抵抗36を介してバイアス電位BLを与えると共に、このNMOS35のゲートをキャパシタ37を介して電源電位VCCに接続した差動増幅部30Aを有している。これにより、電源電位VCCが急激に上昇したときに、一時的にバイアス電位BLが上昇して差動増幅部30Aが大電流で動作する。従って、通常時の消費電流を抑えた差動増幅部30Aを用いても、直流電圧OUTの大きな変動を抑制することができるという利点がある。
図8は、本発明の実施例4を示す電圧レギュレータの回路図であり、図2中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
この電圧レギュレータは、図2中の差動増幅部30に代えて、若干構成の異なる差動増幅部30Bを設けると共に、電源変動検知部60を追加したものである。
電源変動検知部60は、電源電位VCCの急激な上昇を検出するもので、電源電位VCCとノードN6の間に並列に接続されたPMOS61及びキャパシタ64と、このノードN6と接地電位GNDの間に直列に接続されたNMOS62,63で構成されている。PMOS61とNMOS63のゲートには、バイアス電位BH,BLがそれぞれ与えられている。また、NMOS62はダイオード接続されている。なお、PMOS61とNMOS63は、流れる電流を極力抑えた定電流回路を構成するもので、抵抗等で代用することもできる。
一方、差動増幅部30Bは、図2中の差動増幅部30のノードN1と接地電位GNDの間にNMOS38を設け、このNMOS38のゲートを電源変動検知部60のノードN6に接続したものである。その他の構成は、図2と同様である。
図9は、実施例4の動作を説明するための信号波形図である。以下、この図9を参照しつつ、図8における問題発生時の条件での動作について説明する。
まず、電源電位VCCが1.3Vのとき、電源変動検知部60のノードN6の電位は、NMOS62の閾値電圧Vtとなっており、差動増幅部30BのNMOS38は、ほとんど電流が流れない状態となっている。その他のノードN1,N2の電位は、実施例3と同様である。
その後、電源電位VCCが1.3Vから4.0Vに上昇すると、電源電位VCCとノードN6の間に接続されたキャパシタ64によって、このノードN6の電位が上昇する。このため、NMOS38がオン状態となって差動増幅部30Bに流れる電流が増加する。これにより、実施例3と同様に、差動増幅部30Bがすばやく反応し、オーバーシュート等の急激なレベル変動を発生せずに、直流電圧OUTが所定の電圧まで上昇する。その後、ノードN6の電位は、NMOS63を流れる電流によって低下し、当初の閾値電圧Vtに戻る。
以上のように、この実施例4によれば、電源電位VCCの急激な上昇を検出する電源変動検知部60と、この電源電位VCCの急激な上昇が検出されたときに、一時的に追加の動作電流を流すためのNMOS38が設けられた差動増幅部30Bを有している。これにより、実施例3と同様の利点が得られる。特に、差動増幅部30Bは、通常動作時の一定電流を流すNMOS35に加えて、追加の動作電流を流すNMOS38を有しているので、電源電位VCCが急激に上昇したときだけでなく、急激に低下したときにも、安定した直流電圧OUTを得ることができるという利点がある。
なお、電源変動検知部60のNMOS62として、他のNMOSよりも閾値電圧Vtの低い低閾値電圧NMOSを使用することができる。これにより、通常動作時のノードN6の電位を、閾値電圧の差だけ低くすることができるので、差動増幅器30BのNMOS38を完全にオフ状態にすることができる。従って、電源電位VCCの小さな変動によってNMOS3に電流が流れることがなくなり、小さな雑音に影響されずに安定した動作が可能になる。
図10は、本発明の実施例5を示す電源変動検知部の回路図である。この電源変動検知部60Aは、図8中の電源変動検知部60に代えて設けられるもので、共通の要素には共通の符号が付されている。
この電源変動検知部60Aは、図8中の電源変動検知部60で電源電位VCCとノードN6の間に接続されていたキャパシタ64を除去すると共に、PMOS61のゲートに与えるバイアス電位BHを、抵抗65とキャパシタ66で構成される遅延回路を介して与えるようにしたものである。その他の構成は、図8と同様である。
次に動作を説明する。
電源電位VCCが安定しているとき、PMOS61のゲートの電位は、バイアス電位BHと同じである。
電源電位VCCが1.3Vから4.0Vに上昇すると、バイアス電位BHも電源電位VCCに追従して上昇するが、PMOS61のゲート電位の変化は、抵抗65とキャパシタ66による遅延回路で遅延する。従って、電源電位VCCの急上昇により、PMOS61のソース・ゲート間に電源電位VCC−バイアス電位BH以上の電位差が発生する。これにより、PMOS61には、遅延回路が無い場合に比べて一時的に大きな電流が流れ、ノードN6の電位が一時的に上昇する。その後、電源電位VCCが4.0Vで安定すると、ノードN6は通常通りの電位に落ち着く。
以上のように、この実施例5の電源変動検知部60Aは、PMOS61の電流によってノードN6の電位を調整できるので、例えば実施例4のようにキャパシタ64によってノードN6の電位を引き上げる回路に比べて、ノードN6の電位の調整可能範囲が広がる。従って、この実施例5は実施例4と同様の利点に加えて、差動増幅部30Bの電流調整が容易になるという利点がある。
図11は、本発明の実施例6を示す電源変動検知部の回路図である。この電源変動検知部60Bは、図8中の電源変動検知部60に代えて設けられるもので、共通の要素には共通の符号が付されている。
この電源変動検知部60Bは、図8中の電源変動検知部60でノードN6に接続されていたNMOS62のゲートを、抵抗67とキャパシタ68による遅延回路を介してノードN6に接続したものである。即ち、NMOS62のゲートを、抵抗67を介してノードN6に接続すると共に、キャパシタ68を介して接地電位GNDに接続している。その他の構成は、図8と同様である。
次に動作を説明する。
電源電位VCCが安定しているとき、NMOS62のゲートの電位は、バイアス電位BLと同じである。
電源電位VCCが1.3Vから4.0Vに上昇すると、ノードN6の電位はキャパシタ64によって引上げられるが、NMOS62のゲート電位の変化は、抵抗67とキャパシタ68による遅延回路で遅延し、若干遅れてノードN6に追従する。
電源電位VCCの上昇時に、NMOS62のゲート電位の変化が遅れることにより、このNMOS62がオンになるタイミングがおくれ、ノードN6の電位上昇時間を長く確保することができる。また、電源電位VCCが下降するときにも、NMOS62のゲート電位の変化が遅れるので、このNMOS62がオフになるタイミングが遅れ、余分な電荷がこのNMOS62,63を介して接地電位GNDに流れる。
以上のように、この実施例6の電源変動検知部60Bは、遅延回路を追加することによって、NMOS62のオン・オフを電源電位VCCの変化のタイミングよりも遅らせるようにしているので、差動増幅部30Bの電流を増加させるための時間を容易に確保することができ、安定した直流電圧OUTを確実に出力することができるという利点がある。
本発明の実施例1を示す電圧レギュレータの回路図である。 従来の電圧レギュレータの回路図である。 実施例1の動作を説明するための信号波形図である。 本発明の実施例2を示す基準電位調整部の回路図である。 実施例2の動作を説明するための信号波形図である。 本発明の実施例3を示す電圧レギュレータの回路図である。 実施例3の動作を説明するための信号波形図である。 本発明の実施例4を示す電圧レギュレータの回路図である。 実施例4の動作を説明するための信号波形図である。 本発明の実施例5を示す電源変動検知部の回路図である。 本発明の実施例6を示す電源変動検知部の回路図である。
符号の説明
10 バイアス部
20 基準電位発生部
30,30A 差動増幅部
31,32,35,38,42,43,51〜55,62,63 NMOS
36,65,67 抵抗
37,64,65,68 キャパシタ
33,34,41,61 PMOS
40 出力部
50,50A 基準電位調整部
60,60A,60B 電源変動検出部

Claims (2)

  1. 所望の直流電圧に対応する出力レベルと基準電位が与えられ、該出力レベルと該基準電位の差に応じた制御信号を出力する差動増幅部と、
    前記直流電圧を出力する出力ノードと電源電位の間に接続されて前記制御信号で導通状態が制御されるトランジスタを有し、該出力ノードの電位に応じて前記出力レベルを前記差動増幅部に帰還する出力部と、
    前記電源電位が前記直流電圧よりも低いときに、前記基準電位を前記出力レベルと同じレベルに調整して前記差動増幅部に与える基準電位調整部と
    を備えた電圧レギュレータであって、
    前記出力部は、
    前記電源電位と前記出力ノードの間に接続されて前記制御信号で導通状態が制御される第1の前記トランジスタと、
    前記出力ノードと前記出力レベルが出力される第1ノードの間にダイオード接続された第2のトランジスタと、
    前記第1ノードと接地電位の間に接続されてバイアス電位で導通状態が設定される第3のトランジスタとを有し、
    前記基準電位調整部は、
    前記第2のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記電源電位と第2ノードの間にダイオード接続された第4のトランジスタと、
    前記第2ノードと第3ノードの間にダイオード接続された第5のトランジスタと、
    前記第3のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記第3ノードと前記接地電位の間に接続されて前記バイアス電位で導通状態が設定される第6のトランジスタと、
    前記第5のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記基準電位と前記第3ノードの間にダイオード接続された第7のトランジスタとを有することを特徴とする電圧レギュレータ。
  2. 所望の直流電圧に対応する出力レベルと基準電位が与えられ、該出力レベルと該基準電位の差に応じた制御信号を出力する差動増幅部と、
    前記直流電圧を出力する出力ノードと電源電位の間に接続されて前記制御信号で導通状態が制御されるトランジスタを有し、該出力ノードの電位に応じて前記出力レベルを前記差動増幅部に帰還する出力部と、
    前記電源電位が前記直流電圧よりも低いときに、前記基準電位を前記出力レベルと同じレベルに調整して前記差動増幅部に与える基準電位調整部と、
    を備えた電圧レギュレータであって、
    前記出力部は、
    前記電源電位と前記出力ノードの間に接続されて前記制御信号で導通状態が制御される第1の前記トランジスタと、
    前記出力ノードと前記出力レベルが出力される第1ノードの間にダイオード接続された第2のトランジスタと、
    前記第1ノードと接地電位の間に接続されてバイアス電位で導通状態が設定される第3のトランジスタとを有し、
    前記基準電位調整部は、
    前記第2のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記電源電位と第2ノードの間にダイオード接続された第4のトランジスタと、
    前記第2ノードと第3ノードの間にダイオード接続された第5のトランジスタと、
    前記第3ノードと第4ノードの間に接続されて前記基準電位で導通状態が制御される第6のトランジスタと、
    前記第3のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記第4ノードと前記接地電位の間に接続されて前記バイアス電位で導通状態が設定される第7のトランジスタと、
    前記第5のトランジスタと同じディメンジョンに設定され、前記基準電位と前記第3ノードの間にダイオード接続された第8のトランジスタとを有することを特徴とする電圧レギュレータ。
JP2004057714A 2004-03-02 2004-03-02 電圧レギュレータ Expired - Fee Related JP4445780B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004057714A JP4445780B2 (ja) 2004-03-02 2004-03-02 電圧レギュレータ
US11/065,201 US7224208B2 (en) 2004-03-02 2005-02-25 Voltage regulator which outputs a predetermined direct-current voltage with its extreme variation restrained

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004057714A JP4445780B2 (ja) 2004-03-02 2004-03-02 電圧レギュレータ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005250664A JP2005250664A (ja) 2005-09-15
JP4445780B2 true JP4445780B2 (ja) 2010-04-07

Family

ID=34909054

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004057714A Expired - Fee Related JP4445780B2 (ja) 2004-03-02 2004-03-02 電圧レギュレータ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7224208B2 (ja)
JP (1) JP4445780B2 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3874247B2 (ja) * 2001-12-25 2007-01-31 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
JP4199742B2 (ja) * 2005-02-28 2008-12-17 エルピーダメモリ株式会社 遅延回路、及びこれらを備えた半導体装置
JP4783223B2 (ja) * 2006-06-30 2011-09-28 Okiセミコンダクタ株式会社 電圧レギュレータ
KR100818105B1 (ko) * 2006-12-27 2008-03-31 주식회사 하이닉스반도체 내부 전압 발생 회로
JP5085233B2 (ja) * 2007-08-28 2012-11-28 ルネサスエレクトロニクス株式会社 基準電圧発生回路及びタイマ回路
US7816974B2 (en) * 2008-04-04 2010-10-19 Panasonic Corporation Semiconductor integrated circuit device
TWI400592B (zh) * 2009-09-15 2013-07-01 Acer Inc 線性穩壓器
US8779838B2 (en) 2011-10-25 2014-07-15 International Business Machines Corporation Methodology and apparatus for tuning driving current of semiconductor transistors
CN102591392B (zh) * 2012-02-01 2013-11-27 深圳创维-Rgb电子有限公司 一种低压差线性稳压器及芯片
JP5975907B2 (ja) 2012-04-11 2016-08-23 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP6232232B2 (ja) * 2013-09-03 2017-11-15 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置及び電流量制御方法
US9665114B2 (en) * 2013-10-02 2017-05-30 Mediatek Inc. Regulator applied on output terminal of power source to adjust adjusting current for increasing reference voltage when sensing decrease of reference voltage and decreasing reference voltage when sensing increase of reference voltage and regulating method
CN104122924B (zh) * 2014-07-18 2016-08-24 苏州华兴源创电子科技有限公司 一种开关型稳压电路以及包含该电路的恒压恒流产生电路
JP6805049B2 (ja) * 2017-03-31 2020-12-23 エイブリック株式会社 基準電圧発生装置
KR102605008B1 (ko) * 2018-01-24 2023-11-24 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치, 전자 부품, 및 전자 기기
JP2021033472A (ja) 2019-08-20 2021-03-01 ローム株式会社 リニア電源
JP7366692B2 (ja) * 2019-11-01 2023-10-23 三菱電機株式会社 電源回路

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2901434B2 (ja) * 1992-09-30 1999-06-07 シャープ株式会社 直流安定化電源装置
US5545970A (en) * 1994-08-01 1996-08-13 Motorola, Inc. Voltage regulator circuit having adaptive loop gain
JP3394389B2 (ja) * 1995-07-13 2003-04-07 シャープ株式会社 直流安定化電源回路
KR100320672B1 (ko) * 1995-12-30 2002-05-13 김덕중 스위칭 제어 집적회로
US5952890A (en) * 1997-02-05 1999-09-14 Fox Enterprises, Inc. Crystal oscillator programmable with frequency-defining parameters
JP3416949B2 (ja) * 1997-03-04 2003-06-16 セイコーエプソン株式会社 電子回路、半導体装置、電子機器および時計
KR100735440B1 (ko) * 1998-02-13 2007-10-24 로무 가부시키가이샤 반도체장치 및 자기디스크장치
JP2001147726A (ja) * 1999-09-06 2001-05-29 Seiko Instruments Inc ボルテージ・レギュレータ
JP2002189522A (ja) 2000-12-21 2002-07-05 Rohm Co Ltd レギュレータ
JP3817446B2 (ja) * 2001-02-15 2006-09-06 株式会社リコー 電源回路及びdc−dcコンバータの出力電圧制御方法
JP2003173211A (ja) * 2001-12-05 2003-06-20 Rohm Co Ltd レギュレータ
JP4301760B2 (ja) * 2002-02-26 2009-07-22 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
US6664773B1 (en) * 2002-05-23 2003-12-16 Semiconductor Components Industries Llc Voltage mode voltage regulator with current mode start-up
US6995588B2 (en) * 2003-04-30 2006-02-07 Agilent Technologies, Inc. Temperature sensor apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
US7224208B2 (en) 2007-05-29
JP2005250664A (ja) 2005-09-15
US20050195020A1 (en) 2005-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4445780B2 (ja) 電圧レギュレータ
US7304540B2 (en) Source follower and current feedback circuit thereof
US20080018388A1 (en) Step-down power supply
US7592861B2 (en) Reference voltage generation circuit, and constant voltage circuit using the reference voltage generation circuit
JP2004280923A (ja) 内部電源回路
JP6354720B2 (ja) 保護回路付きのレギュレータ回路
JP2008015925A (ja) 基準電圧発生回路
US5990671A (en) Constant power voltage generator with current mirror amplifier optimized by level shifters
KR100818105B1 (ko) 내부 전압 발생 회로
JP2017126259A (ja) 電源装置
TWI672572B (zh) 電壓調節器
CN111488028A (zh) 形成半导体器件的方法
US7863969B2 (en) Power supply voltage dropping circuit using an N-channel transistor output stage
KR100762873B1 (ko) 내부 전압 발생기
US7888993B2 (en) Bias current generator for multiple supply voltage circuit
US7545128B2 (en) Regulator circuit
JP2001022455A (ja) レギュレータ回路
KR20050011275A (ko) 내부전원 전압발생회로
KR100748459B1 (ko) 반도체 메모리의 벌크 전압 레벨 감지 장치
JP5849585B2 (ja) 過電流検出回路
JP2011118865A (ja) 過電流保護回路及び定電圧電源回路
JP2010152894A (ja) 不揮発性メモリ用の一定の基準セル電流発生器
US7961037B2 (en) Intermediate potential generation circuit
KR100660876B1 (ko) 센스앰프용 디벨로프 기준전압 발생회로를 구비하는 반도체메모리 장치
KR20080003048A (ko) 기준 전압 발생 회로

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060825

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20081126

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090302

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091027

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091130

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091222

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100118

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4445780

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130122

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees