JP4199742B2 - 遅延回路、及びこれらを備えた半導体装置 - Google Patents
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Description
2 遅延回路
3 レベル発生回路
4 m倍電圧発生回路
61,81,82 基準電圧発生回路
62,73 差動増幅器
63 半導体回路
71 NMOSトランジスタ
72 PMOSトランジスタ
74,83 定電流源
84,85 降圧出力回路
11,13 差動増幅器
12,14 節点
15 インバータ
P1,P5,P6,P10 PMOSトランジスタ
N1,N2,N5,N6 NMOSトランジスタ
R1,R2,R3,R4 抵抗
Claims (9)
- 電源電圧降圧回路において、オフセット電圧と製造ばらつきに依存する電圧とを加算した基準電圧を発生させるレベル発生回路と、前記基準電圧をm(mは正数)倍した電圧を出力するm倍電圧発生回路とを備えたことを特徴とする電源電圧降圧回路。
- 前記製造ばらつきに依存する電圧は、同一導電型のMOSトランジスタの閾値電圧のn(nは正の整数)倍であることを特徴とする請求項1に記載の電源電圧降圧回路。
- 前記レベル発生回路は、差動増幅器と、出力段とから構成され、前記出力段は前記差動増幅器からの出力を受けるトランジスタと、それぞれダイオード接続されたn個のトランジスタと、定電流源とが、電源電圧と内部電源電圧との間にそれぞれ縦方向に順に接続され、前記差動増幅器は前記オフセット電圧と、前記定電流源と前記ダイオード接続されたトランジスタとの接続点の電位を入力されることを特徴とする請求項2に記載の電源電圧降圧回路。
- 前記m倍電圧発生回路は、差動増幅器と、出力段とから構成され、前記出力段は前記差動増幅器からの出力を受けるトランジスタと、抵抗とから構成され、前記差動増幅器は前記レベル発生回路からの出力と、前記抵抗の分割節点からの電位が入力されることを特徴とする請求項1に記載の電源電圧降圧回路。
- 遅延回路において、該遅延回路はPMOSまたはNMOSトランジスタにより遅延時間が支配的となるインバータ回路を複数段接続して構成され、オフセット電圧と前記遅延回路の遅延時間を支配するMOSトランジスタと同じ導電型のMOSトランジスタの閾値電圧のn(nは正の整数)倍の電圧とを加算した基準電圧をm(mは正数)倍した電圧を前記インバータ回路の電源電圧とすることを特徴とする遅延回路。
- 遅延回路において、該遅延回路はPMOSまたはNMOSトランジスタにより遅延時間が支配的となるインバータ回路を複数段接続して構成され、オフセット電圧と前記遅延回路の遅延時間を支配するMOSトランジスタと同じ導電型のMOSトランジスタの閾値電圧のn(nは正の整数)倍の電圧とを加算した基準電圧を発生させるレベル発生回路と、前記基準電圧をm(mは正数)倍した電圧を出力するm倍電圧発生回路とを備えた電源電圧降圧回路からの出力電圧を前記インバータ回路の電源電圧とすることを特徴とする遅延回路。
- 前記電源電圧降圧回路は、製造ばらつきのベスト及びワースト条件において、前記遅延回路の遅延時間がほぼ同一遅延時間となる電源電圧値から前記オフセット電圧およびm値を決め、前記遅延回路の遅延時間が遅くなる条件には高電源電圧を出力し、前記遅延回路の遅延時間が早くなる条件には低電源電圧を出力することを特徴とする請求項6に記載の遅延回路。
- 半導体装置において、PMOSまたはNMOSトランジスタにより遅延時間が支配的となるインバータ回路を複数段接続して構成された遅延回路と、オフセット電圧と前記遅延回路の遅延時間を支配するMOSトランジスタと同じ導電型のMOSトランジスタの閾値電圧のn(nは正の整数)倍の電圧とを加算した基準電圧を発生させるレベル発生回路と前記基準電圧をm(mは正数)倍した電圧を出力するm倍電圧発生回路とから構成された電源電圧降圧回路とを備え、前記電源電圧降圧回路からの出力電圧を前記遅延回路の電源電圧とすることを特徴とする半導体装置。
- 前記遅延回路によりセンスアンプの活性化信号を遅らせることを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。
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