JP4406533B2 - X線照射制御のための方法及び装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、放射線源による対象の照射中、特にX線照射中に対象に当てられる放射線(入力線量率)を制限する方法及び装置に関する。本発明はまた、入力線量率を制限する方法又は装置を使用しつつX線照射制御を行う方法及び装置に関する。本発明はまた、上述の方法を実行するX線発生器、並びに、上述の装置を含む対応するX線設備又はX線システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
概して、X線設備又はX線システムは、X線を発生するX線管を具備した1以上のX線源と、本線に接続される部分を含みX線管の動作に必要な高電圧を供給する電圧供給部(高圧発生器)を具備したX線発生器とを含む。X線源及び高電圧を発生する構成要素が一体となった構造的なユニットを形成するよう組み合わされる場合、このようなユニットはシングル・タンク発生器とも称される。
【0003】
照射された領域について最適な画質(輝度、コントラスト、信号対雑音比、及び鮮鋭度)を達成するために、当該の領域に入射するX線の強度が特に重要である。概して、画質は、X線線量が大きくなるほど良くなる。一方で、明らかに、患者は過度に高い線量率に曝されないことが確実とされるべきである。これに関する最大の値は、国ごとに公式な規則及び条例によって定められている。
【0004】
患者又は対象が曝される照射線量は、本質的には、X線管に印加される電流及び電流の調整、X線管と対象の間の距離(SSD、即ち、源−皮膚間距離)、及びX線管と対象の間のビーム路中に配置されうる任意のフィルタに依存する。
【0005】
これらのパラメータは、一般的には自動照射装置によって制御されるか、検査中にユーザによって変更されうるため、患者が曝される定められた最大線量率を超過しないことを確実とするための特別な手段が講じられねばならない。
【0006】
特許文献1は、X線源と対象の間の距離又はX線源と画像捕捉装置の間の距離の変化によって当該の対象が幾何学的に拡大された場合に対象上の放射線量が一定に保たれたときの信号対雑音比に関する問題を解決するための放射線イメージングシステムにおける照射制御のための方法及び装置を開示している。特許文献1の方法及び装置では、入力線量は、適当な等しい線量が対象面において一定に保たれるよう上記の2つの距離に依存して変更される。
【0007】
【特許文献1】
欧州特許公開第1035420号明細書
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、放射線源を動作させるためにユーザによって選択される制御曲線とは無関係に、また、例えば、対象と放射線源の間の距離、放射線核エネルギー収量(radiation yield)、ビーム路中に配置されたフィルタといった照射条件とは無関係に、検査されるべき対象に当てられる(X線)放射線量率(入力線量率)が選択可能な最大の値に制限されうる方法及び装置を提供することを目的とする。
【0008】
更に、本発明は、制御曲線及び照射条件とは無関係に、即ち、自動照射装置が使用されている場合に、選択可能な入力線量率を超過しないX線照射制御のための方法及び装置を提供することを目的とする。
【0009】
本発明はまた、上記のパラメータとは無関係に選択可能な最大入力線量率が超過されることがなく、透視法、並びに、連続的な照射(個々の画像)に使用されうるX線照射制御のための方法及び装置を提供することを目的とする。
【0010】
また、本発明は、上述の方法のうちの1つを実行する装置を含むX線発生器を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的は、放射線源、特にX線源による対象の照射中に対象に当てられる放射線(入力線量率)を制限する方法であって、放射線源は、放射線源の少なくとも1つの第1の動作パラメータを放射線源の第2の動作パラメータに関連付ける複数の値の対によって形成される制御曲線によって制御され、制御曲線は、入射線量率が照射中にどの値の対に対しても超過されないよう照射条件に依存して補正される方法によって達成される。
【0012】
上記目的は、上記方法を実行するための装置であって、少なくとも1つの制御曲線及び少なくとも1つの核エネルギー収量曲線のための第1の記憶装置と、補正された制御曲線を計算するプログラム可能な算術ユニットと、補正された制御値を格納する第2の記憶装置とを含む装置によって達成される。
【0013】
これらの解決策の特別な利点は、最大入力線量率を超過する危険性を生ずることなく、所望の管のパラメータ(管電圧、管電流、又は負荷)の調整、及び、画質の最適化のためにその長さ全体が使用されうる補正された制御曲線が利用可能であることである。
【0014】
従属項は、本発明の更なる有利な実施例に関連する。
【0015】
請求項2及び請求項3は望ましい制御曲線について記載し、請求項4及び請求項5は望ましい照射条件及びかかる条件を考慮する方法について記載している。
【0016】
【発明の実施の形態】
本発明の更なる詳細、特徴、及び利点については、図面を参照として、例として与えられる望ましい実施例について図面を参照として説明する以下の説明から明らかとなろう。図1は、本発明によるX線システムを示すブロック図である。システムは、検査されるべき対象8(患者)へX線を当てるX線管1の形のX線源を含む。X線管の焦点と対象の入射面との間の距離(SSD、即ち、源−皮膚間距離)は、距離測定装置11によって測定される。所定の検査のためには、X線源1と検査されるべき対象8の間にフィルタ2が配置されうる。使用されているフィルタの種類は、フィルタセンサ装置21によって検出される。
【0017】
検査されるべき対象8を横切った放射線は、カメラ4によって対応する画像信号へ変換されるよう、例えば2次電子増倍管(イメージインテンシファイア)といった検出器3によって検出される。画像信号は、続いて、線量率センサ9を有するビームスプリッタを介して導かれ、それにより対象の後ろ側の線量率が測定され、対応する線量率信号(10)が発生される。画像信号は、続いてビデオ増幅器5において処理され、その後、モニタ6上で表示される。
【0018】
X線管1の動作のため、本質的には、制御装置70と、X線発生器の一部として形成されるか別個のユニットとされ制御装置70によって制御されるX線管1用の電圧供給ユニット80とを含むX線発生器7が設けられる。
【0019】
制御装置70は、距離測定装置11によって形成される距離信号と、フィルタセンサ装置21によって形成されるフィルタ信号と、線量率センサ9によって形成される線量率信号(10)とを受信する。
【0020】
更に、ユーザは、制御ユニット70について様々な調整又は選択を行いうる。これらの活動は、本質的には、当該の検査のための適当な制御曲線の選択(71)、検査中に超過されてはならない検査されるべき対象上の最大の線量率(入力線量率)の調整(72)、自動照射装置がそれに基づいて照射の制御を行う管電圧及び/又は管電流の初期値の調整(73)、並びに、連続した照射(個々に照射された静的な画像)の場合は管電圧のためのパルス繰返し周波数の調整(74)である。
【0021】
制御装置70は、本質的に、X線管の動作のための複数の制御曲線のための第1の記憶装置75を含む。制御曲線は、X線管の第1の動作パラメータをX線管の第2の動作パラメータに関連付ける、例えば管電圧を管電流又は負荷に関連付ける複数の値の対によって形成される。
【0022】
複数の制御曲線は、最適の画質を達成するよう検査の種類の関数としてシステムのユーザによって選択されうる異なる制御プロファイルを実施する。
【0023】
第1の記憶装置75はまた、多数の第1又は第2の動作パラメータを、それによって達成されえ管電流及びX線管からの距離に対して正規化される線量率に関連付ける複数の値の対によって形成される複数の核エネルギー収量曲線を記憶するために用いられる。
【0024】
制御装置70はまた、使用されるX線管の種類の関数として、また、印加される信号(特にフィルタ信号)及び行われる調整の関数として適当な核エネルギー収量曲線を選択し、ユーザによって選択された制御曲線を算術的に補正する算術ユニット76と、補正された制御値を格納する第2の記憶装置77とを含む。
【0025】
自動照射装置(図示せず)は、線量率センサ9によって発生される線量率信号(10)に依存して、最適照射に適した第1の動作パラメータの値を決定する。第1の動作パラメータの値に関連付けられる第2の動作パラメータの値は、補正された制御値に基づいて決定される。この対の値は、電圧供給ユニット80に印加される。
【0026】
最後に、電圧供給ユニット80は、X線管1に接続され、受信された対の値に従って、X線管1の動作に必要な電圧及び電流を発生し、連続する照射の場合は時間的な適当な変化を示す(例えば方形波パルス形状)。
【0027】
X線検査を行うために、X線管1及び検査されるべき対象8は、互いに対して検査されるべき領域のイメージングに最適な位置に移動されねばならない。
【0028】
X線ビームの方向上の相対的な動きのため、線量率は検査されるべき対象の入射の領域において増加又は減少される。X線ビームに対して垂直方向の相対的な動きの場合、ビームは一般的に検査されるべき対象の異なる吸収性質を有する領域を横切る。両方の動きの方向により、このように、イメージインテンシファイア3の線量率の変化、及び、モニタ6上に表示された画像の輝度の変化が生ずる。
【0029】
取られる線量率の減少は画質に影響を与えるため、線量率が減少したときは、X線管1に印加される電圧及び/又は電流は、自動照射装置によって比例して自動的又は手動で増加される。しかしながら、その場合、線量率を過剰に増加させれば形成される画像中の細部に過剰な照射が生じうることを考慮に入れねばならない。また、もちろん健康についての理由により、患者に対する放射線負荷を出来る限り小さく保つ必要があり、患者に対する所定の最大の入力線量率を超えてはならない。
【0030】
X線管と患者の間の距離が変化した場合、又はビーム路に異なるフィルタが挿入されたときは、入力線量率がかなり増加する可能性があるため、注意が必要である。
【0031】
制御装置70は、自動照射装置の制御範囲のどこでも、最大入力線量率を超過しないようにすることが考えられる。これについては、例を参照して以下詳述する。
【0032】
更に特定的には、上述のように、制御装置70は透視法のための複数の第1の制御曲線を格納し、それにより様々な管電圧Uが夫々対応する管電流Iと関連付けられる。更に、制御装置は、一連の照射のための複数の第2の制御曲線を格納し、それにより対応する負荷値Qは夫々異なる管電圧Uに関連付けられる。図2は、例として第1の制御曲線(I)のうちの一つを示し、図3は第2の制御曲線(II)のうちの一つを示す。
【0033】
やはり格納されそのうちの一つが図4に示される核エネルギー収量曲線(III)は、夫々がX線管に印加される管電圧Uと、ビーム路に即ち1メートルに正規化したX線管からの距離に挿入される可能性のあるフィルタを考慮に入れつつ、電流のmA当たりに得られる線量率Y(核エネルギー収量)との関係を示す。各X線照射は、このようにフィルタ及び使用されるX線管に関連付けられる核エネルギー収量曲線に基づく。
【0034】
ユーザによって調整又は選択されうる1以上のパラメータ(特に、X線管と検査されるべき対象の間の距離、管電圧、管電流、管の種類、フィルタの種類、パルスレート)が変化した場合に対象に当てられるX線の所定の最大線量率を超過しないよう、制御曲線は、この最大入力線量率を考慮にいれつつ補正される。
【0035】
これに関して、透視法のための第1の制御曲線(I)の補正と連続した照射のための第2の制御曲線(II)の補正は区別されるべきである。
【0036】
透視法の場合、ユーザによって選択される第1の制御曲線は、まず、図2の表現中の曲線の右上の端、即ち、管電圧の最高値と、この電圧値に関連付けられる管電流の値を決定するために、まず算術的に解析される。例えば、図2の例では、最大電圧150kVに対して9mAの電流が得られる。
【0037】
更に、使用されるフィルタ(及びX線管)に従って選択される核エネルギー収量曲線に基づいて、この最大電圧に対する核エネルギー収量が決定される。図4に示す例では、最大電圧150kVに対して約96.4μGy/mAsの核エネルギー収量が得られる。
【0038】
最大管電圧の場合にX線管から1メートルの距離において生ずる最大線量率は、この核エネルギー収量と決定された最大電流とを乗算することによって得られる。上述の例では、この最大線量率は約867.6μGy/sとなる。
【0039】
続いて、検査されるべき対象に入射する最大線量率は、この値にX線管と検査されるべき対象の間の実際の距離の逆二乗を乗算することによって決定される。この例では、距離測定装置11によって決定される0.8mの距離に対して、約1355.63μG/sの値が得られる。
【0040】
この値は、最大入力線量率の選択された値(例えば600μGy/s)と比較される。この最大値を計算された値によって割り算することにより、換算係数(本例では約0.4426)が得られ、これと最も高い管電圧に関連付けられる電流値(本例では9mA)とが乗算される。これにより、最大管電圧に対して換算された電流値(本例では約3.9834mA)、従って、換算された最大電力約597.51Wが得られる。
【0041】
この一対の値(換算された電流値、最大電圧)は、増加する電圧の方向の情報の(最後の)対の値であり、従って補正された制御曲線の端であると定義される。制御曲線の変化は、計算され換算された最大電力、従って所定の最大の入力線量率がどの位置でも超過されないようこの上側の端に基づいて補正される。
【0042】
これは、最大電圧値を下回る電圧値が夫々の換算された電流値に関連付けられその積が夫々換算された最大電力以下の電力を生じさせる、新しい(上側)曲線セグメント(2)を定義することによって達成される。新しい曲線セグメント(2)は、このように元の制御曲線の方向にこの曲線に交わるまで延び、これらの2つの曲線の交点(この場合は102.5kV)の上に位置する元の制御曲線の部分(1)を置き換える。補正された制御曲線は、このように、元の変化に対応する第1の下側のセグメントと、新しい第2の上側のセグメント(2)とから構成される。
【0043】
もちろん、第2の上側のセグメントの変化は、上側の対の値から開始して、管電圧と関連する電流値の積が元の曲線の方向に換算され、より低い値においてのみ交点に達するようなものでありうる。
【0044】
方法は、望ましくは算術ユニット76によって実行されるプログラムの形式で実施される。プログラムの実行については、図5のフローチャートを参照して説明する。
【0045】
プログラムの開始100の後、第1の段階101において、フィルタ2及び/又はX線管1が以前に実行された曲線補正よりも後に変更されているか否か調べられる。変更されていれば、第2の段階102において、この新しい管/フィルタの組合せに関連付けられる核エネルギー収量曲線が選択され、第7の段階107へ進む。
【0046】
第1の段階101において、変更されていないと判定されれば、第3の段階103において、制御曲線が最後の補正よりも後に変更されているか否か調べられる。変更されていれば、第7の段階107へ進む。変更されていなければ、第4の段階104において、X線管と検査されるべき対象8の間の距離が最後の補正の後に変更されているか否か調べられる。変更されていれば、第7の段階107へ進み、変更されていなければ、第5の段階105において、選択された最大入力線量率が最後の補正の後に変更されているか否か調べられる。変更されていれば、第7の段階107へ進み、変更されていなければ、方法は第9の段階109によって終了する。
【0047】
第7の段階107において、図2に示す第1の制御曲線が、検査されるべき対象上の選択される最大入力線量が超過されうる値の対を含むか否か調べられる。含む場合、第8の段階108において制御曲線は、第2の記憶装置77に記憶されるべく補正される。第7の段階107における判定結果が否定的な場合と同様に、プログラムは第9の段階109において終了する。
【0048】
第7の段階107及び第8の段階108は、上述のように、第1の制御装置の補正に関連して実行される。
【0049】
第2の制御曲線(図3)をX線管がパルス化されたモードで動作する連続照射について補正するために、入力線量率の所定の最大値(例えば800μGy/s)は一秒当たりの照射間隔の数(即ち、パルス繰返し周波数、例えば2/s)で割り算されねばならない。このようにして、単一のパルス(1照射間隔)に対する最大線量値が得られ、これに基づき更なる説明が行われ、その値は本例では400μGyである。
【0050】
ユーザによって選択される第2の制御曲線の解析は、最大管電圧に対して得られる負荷を決定することから始まる。図3に示す曲線は、最大電圧130kVに対して約5.17mAsの負荷を生じさせる。
【0051】
最大電圧に対する核エネルギー収量は、使用されるフィルタに従って選択される核エネルギー収量曲線に基づいて決定される。図4に示す例では、最大電圧130kVに対して約67μGy/mAsの核エネルギー収量が得られる。
【0052】
X線管から1メートルの距離において最大管電圧に対して生ずる最大線量は、この核エネルギー収量を決定された最大負荷によって乗算することによって得られる。この線量は本例では約346.4μGyとなる。
【0053】
続いて、検査されるべき対象に入射する最大線量は、この値に、X線管と検査されるべき対象の間の実際の距離の逆二乗を乗算することによって決定される。距離測定装置11によって測定される距離が0.8mの場合、本例では約541.25μGyの値が得られる。
【0054】
この値は、1パルスに対する以前に計算された最大の線量の値(本例では400μGy)と比較される。この最大値を計算された値によって割り算することにより換算係数(本例では約0.74)が得られ、制御曲線によって計算された負荷値(本例では約5.17mAs)は、この換算係数によって乗算される。これにより130kVの最大管電圧に対する換算された負荷値(本例では約3.827mAs)が得られ、約495.51Wsの換算された最大エネルギーが得られる。
【0055】
この対の値(換算された負荷値、最大電圧)は、増加する電圧方向の上側の(最後の)対、従って補正された制御曲線の端として定義される。制御曲線の変化は、この上側の端に基づいて、即ち計算された換算された最大エネルギー、従って所与のパルス繰返し周波数に対する所定の最大の入力線量率がどの位置でも超過されないよう補正される。
【0056】
これは、最大電圧値を下回る電圧値が夫々その積が最大エネルギー以下のエネルギーを生じさせる換算された負荷値と関連付けられる新しい(上側)曲線セグメント(2)を定義することによって達成される。新しい曲線セグメントは、元の制御曲線の方向にこの曲線と交わるまで延び、これらの2つの曲線の交点(本例では約81.2kV)より上に位置する元の制御曲線の部分(1)を置き換える。補正された制御曲線は、このように、元の変化に対応する第1の下側のセグメントと新しい第2の上側のセグメント(2)とから構成される。
【0057】
第2の上側のセグメントの変化は、上側の対の値から始まって、管電圧と関連する負荷値の積が元の曲線の方向に換算され、低い電圧値においてのみ交点に達するようにされうる。
【0058】
望ましくは、方法は算術ユニット76によって実行されるプログラムの形で実施される。
【0059】
図6はそのようなプログラムの本質的な段階を示す図である。プログラムの実行は、第5の段階105の後に最後の補正の後にパルス繰返し周波数が変更されているか否かを調べる第6の段階106が挿入されている点で図5に示すプログラムとは異なる。この場合、段階101乃至105における判定結果が肯定的である場合のように、第7の段階107へ進み、第7の段階107において、図3に示す第2の制御曲線が選択された最大入力線量が超過されうる対の値を含むか否か判定される。この判定結果が肯定的であれば、第8の段階において制御曲線が補正され、補正された制御曲線は第2の記憶装置77に格納される。
【0060】
上述の説明と同様に、第7の段階107及び第8の段階108は、第2の制御曲線の補正に関連して実行される。
【0061】
制御曲線はまた、新しい上側の曲線のセグメント(2)が決定されないが、第1の下側のセグメントのみが使用されるよう補正されてもよい。これは、補正された制御曲線が、最大の所定の入力線量率が得られる対の値が位置する点までは元の制御曲線に従って変化することを意味する。しかしながら、本発明の格別な利点のうちの1つは、幾つかの例外を除き、これが必要でない点である。
【0062】
図2及び図3に示す曲線の代わりに他の制御曲線が使用されうる。
【0063】
他の制御曲線の1つは、例えば図2及び図3中のx軸及びy軸に夫々プロットされる第1及び第2の動作パラメータが入れ替えられた制御曲線を使用するものである。
【0064】
例えば、X線管がパルス化されたモードで動作するとき、第1の動作パラメータを管電圧又は管電流のパルス幅の形に変えることも可能である。すると、最大入力線量率は、超過されてはならない最大パルス幅に対応する。
【0065】
更なる他の制御曲線は、1つの動作パラメータが調整され、制御曲線が一方又は両方の他の動作パラメータの上述の計算によって補正される、3つの動作パラメータを用いた3次元制御曲線を定義するものである。これらのパラメータは、例えば、パルス繰返し周波数、並びに、管電圧及び管電流でありうる。
【0066】
本発明による原理は、このように、2以上の動作パラメータの実際的に任意の組合せに拡張されえ、これらのパラメータはまず管電圧、管電流、パルス化されたモードではこれらの変数のパルス幅、及び、これらの変数のパルス繰返し周波数である。X線管と検査されるべき対象の間の距離の変化と、異なる放射線吸収率を有するフィルタの交換もまたこの点で可能である。
【0067】
最後に、本発明による方法は、写真の単一の露出のためにも使用されうる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるX線システムを示すブロック図である。
【図2】X線管の第1の制御曲線を示す図である。
【図3】X線管の第2の制御曲線を示す図である。
【図4】X線管の核エネルギー収量曲線をX線管に印加される電圧の関数として示す図である。
【図5】本発明による第1の方法を示すフローチャートである。
【図6】本発明による第2の方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 X線源
2 フィルタ
3 検出器
4 カメラ
5 ビデオ増幅器
6 モニタ
7 X線発生器
8 対象
9 線量率センサ
10 線量率信号
11 距離測定装置
21 フィルタセンサ装置
70 制御装置
71 制御曲線の選択
72 最大線量率の調整
73 管電圧・管電流の初期値の調整
74 パルス繰返し周波数の調整
75 第1の記憶装置
76 算術ユニット
77 第2の記憶装置
80 電圧供給ユニット
Claims (9)
- 放射線源、特にX線源、のX線照射制御のための装置の作動方法であって、
制御装置が、放射線源の少なくとも1つの第1の動作パラメータを放射線源の第2の動作パラメータに関連付ける複数の値の対によって形成される制御曲線に従って放射線源を制御し、
算術ユニットが、入射線量率が照射中にどの値の対に対しても超過されないよう照射条件に依存して前記制御曲線を補正し、
前記制御曲線及び少なくとも1つの核エネルギー収量曲線が第1の記憶装置に格納され、且つ
補正された制御曲線が第2の記憶装置に格納される、
方法。 - 第1の動作パラメータはX線管電圧であり、第2の動作パラメータはX線管電流である、請求項1記載の方法。
- 第1の動作パラメータはX線管電圧であり、第2の動作パラメータはX線管電流と照射時間の積である、請求項1記載の方法。
- 前記照射条件は、対象と前記放射線源との間の距離、その放射線核エネルギー収量、並びに、ビーム路中に配置されるフィルタによって定義される、請求項1記載の方法。
- 前記照射条件は、動作パラメータのうちの1つがX線の正規化された量に関連付けられる複数の値の対からなる核エネルギー収量曲線の形で定義される、請求項1記載の方法。
- 請求項1乃至5のうちいずれか一項記載のX線照射制御のための装置の作動方法により作動する装置であって、
少なくとも1つの制御曲線及び少なくとも1つの核エネルギー収量曲線のための第1の記憶装置と、請求項1乃至5のうちいずれか一項記載の補正された制御曲線を計算するプログラム可能な算術ユニットと、前記補正された制御曲線を格納する第2の記憶装置とを含む装置。 - 対象に当てられた測定された線量率と前記補正された制御曲線とに基づいてX線管用の電圧供給ユニットを制御する信号が発生される自動照射制御装置を含む、請求項6記載の装置。
- X線管用の電圧供給ユニット及び請求項7に記載の装置を含む、X線発生器。
- 請求項8記載のX線発生器を含むX線システム。
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EP1684635B1 (en) * | 2003-10-29 | 2011-07-20 | Philips Intellectual Property & Standards GmbH | Device and method for adjusting imaging parameters of an x-ray apparatus |
US7372942B2 (en) * | 2004-03-29 | 2008-05-13 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Medical imaging system with dosimetry for estimating circuit board life |
DE102004030833A1 (de) * | 2004-06-25 | 2006-01-26 | Siemens Ag | Röngtendiagnostikverfahren und zugehörige Vorrichtung |
CN101115442B (zh) * | 2005-02-11 | 2011-01-19 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | X射线系统中的剂量率控制 |
US7542628B2 (en) * | 2005-04-11 | 2009-06-02 | Sarnoff Corporation | Method and apparatus for providing strobed image capture |
DE102005020898B4 (de) * | 2005-05-04 | 2016-02-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Röntgeneinrichtung zur Durchleuchtung eines in variablem Abstand zu einer Röntgenquelle platzierbaren Patienten |
CN1707251B (zh) * | 2005-05-25 | 2010-09-22 | 华南理工大学 | 可自适应调整x射线源的检测装置及其检测方法 |
JP5358057B2 (ja) * | 2006-02-24 | 2013-12-04 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置及び撮影方法 |
JP2008119094A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線管の駆動方法及びx線ct装置 |
CN101237741B (zh) * | 2008-01-22 | 2011-11-02 | 西北工业大学 | 锥束ct扫描中的曝光参数快速获取与优化方法 |
JP2010081961A (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-15 | Fujifilm Corp | 撮影制御装置 |
US8080805B2 (en) * | 2010-03-09 | 2011-12-20 | International Business Machines Corporation | FET radiation monitor |
DE102010033609B3 (de) * | 2010-08-06 | 2011-12-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Schätzung einer Strahlendosis einer Röntgenstrahlung und zugehörige Röntgenvorrichtung |
US8848873B2 (en) | 2011-01-25 | 2014-09-30 | Medtronic Navigation, Inc. | X-ray imaging system with cabling precharging module |
US8737567B2 (en) * | 2011-01-27 | 2014-05-27 | Medtronic Navigation, Inc. | Image acquisition optimization |
WO2012174508A1 (en) * | 2011-06-16 | 2012-12-20 | Suni Medical Imaging, Inc. | Digital x-ray image sensor device |
US8614111B2 (en) | 2011-07-25 | 2013-12-24 | International Business Machines Corporation | Fully depleted silicon on insulator neutron detector |
US8361829B1 (en) | 2011-08-31 | 2013-01-29 | International Business Machines Corporation | On-chip radiation dosimeter |
US9168010B2 (en) | 2012-04-11 | 2015-10-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray imaging apparatus and medical image processing apparatus |
JP6009799B2 (ja) * | 2012-04-11 | 2016-10-19 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線画像撮影装置 |
US8895995B2 (en) * | 2012-09-24 | 2014-11-25 | International Business Machines Corporation | Lateral silicon-on-insulator bipolar junction transistor radiation dosimeter |
DE102013215702A1 (de) * | 2013-08-08 | 2015-02-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Generatorsteuereinrichtung |
CN104470175B (zh) * | 2013-09-18 | 2017-01-04 | 锐珂(上海)医疗器材有限公司 | X射线发生器的阴极灯丝发射特性曲线的校准方法 |
JP2017530476A (ja) | 2014-09-24 | 2017-10-12 | プリンストン・アイデンティティー・インコーポレーテッド | バイオメトリックキーを用いたモバイルデバイスにおけるワイヤレス通信デバイス機能の制御 |
MX2017007139A (es) | 2014-12-03 | 2017-11-10 | Princeton Identity Inc | Sistema y metodo para un complemento biometrico de dispositivo movil. |
CN107374659B (zh) * | 2015-08-10 | 2021-05-18 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | Aec模式下曝光截止剂量校正方法及装置 |
CN105361898B (zh) * | 2015-12-11 | 2019-04-12 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 校正参数确定方法、装置及设备 |
EP3403217A4 (en) | 2016-01-12 | 2019-08-21 | Princeton Identity, Inc. | SYSTEMS AND METHODS FOR BIOMETRIC ANALYSIS |
WO2017173228A1 (en) | 2016-03-31 | 2017-10-05 | Princeton Identity, Inc. | Biometric enrollment systems and methods |
WO2017172695A1 (en) | 2016-03-31 | 2017-10-05 | Princeton Identity, Inc. | Systems and methods of biometric anaysis with adaptive trigger |
JP6125126B1 (ja) * | 2017-01-18 | 2017-05-10 | 典人 畠山 | X線撮影条件補正方法、プログラム、及び、x線システム |
WO2018187337A1 (en) | 2017-04-04 | 2018-10-11 | Princeton Identity, Inc. | Z-dimension user feedback biometric system |
KR101942377B1 (ko) * | 2017-04-20 | 2019-01-29 | 현대일렉트릭앤에너지시스템(주) | 절연물의 결함 검출장치의 측정대상 절연물을 고정하기 위한 지그 |
CA3071100A1 (en) | 2017-07-26 | 2019-01-31 | Princeton Identity, Inc. | Biometric security systems and methods |
CN110811662A (zh) * | 2019-11-20 | 2020-02-21 | 上海联影医疗科技有限公司 | 一种扫描剂量调制的方法、装置、设备及存储介质 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3334231A (en) * | 1964-06-25 | 1967-08-01 | Gen Electric | Plate thickness measuring device with means to adjust source voltage in response to thickness variations |
US3871579A (en) * | 1968-11-20 | 1975-03-18 | Kiyonari Inamura | Apparatus for displaying isodose curves of radiation with program for digital computer coupled thereto determined in relation to source of radiation |
US4039812A (en) * | 1973-06-28 | 1977-08-02 | Siemens Aktiengesellschaft | X-ray diagnostic apparatus |
DE2546948C3 (de) * | 1975-10-20 | 1980-05-29 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Röntgendiagnostikanlage für Röntgenaufnahmen mit Mitteln zur organprogrammierten Einstellung der Aufnahmewerte sowie mit einem Röntgenbelichtungsautomaten |
US4158138A (en) * | 1977-10-25 | 1979-06-12 | Cgr Medical Corporation | Microprocessor controlled X-ray generator |
JPS5752967A (en) * | 1980-09-17 | 1982-03-29 | Nec Corp | Device for immediately calculating and displaying dose distribution |
US4454606A (en) * | 1983-05-23 | 1984-06-12 | General Electric Company | Reconfigurable x-ray AEC compensation |
DE3600464A1 (de) * | 1986-01-10 | 1987-07-16 | Philips Patentverwaltung | Roentgengenerator mit dosisleistungsregelung |
DE4013703C2 (de) | 1990-04-28 | 1999-04-01 | Bork Klaus Peter | Schaltungsanordnung für insbesondere für Diagnosezwecke eingesetzte Röntgengeneratoren |
DE4204115A1 (de) * | 1992-02-12 | 1993-08-19 | Siemens Ag | Roentgengenerator |
DE9219111U1 (de) * | 1992-07-10 | 1998-01-22 | Siemens Ag | Röntgenbelichtungsautomat für die Mammographie |
FR2790561B1 (fr) | 1999-03-04 | 2001-06-01 | Ge Medical Syst Sa | Methode de commande de l'exposition dans des systemes d'imagerie radiologique |
US6222907B1 (en) * | 1999-07-12 | 2001-04-24 | General Electric Company | Image quality optimization using an X-ray model based optimization |
AU2002322653A1 (en) * | 2001-07-24 | 2003-02-17 | Case Western Reserve University | X-ray dose control based on patient size |
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