JP2003208997A - Ｘ線照射制御のための方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 制御曲線及び照射条件とは無関係に検査され
るべき対象に当てられる放射線量率（入力線量率）が選
択可能な最大の値に制限されうるＸ線照射制御のための
方法及び装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、放射線源（１）による対象の
照射中、特にＸ線照射中に、対象に当てられる放射線
（入力線量率）を制限する方法及び装置に係る。所定の
最大の入力線量率を超過する検査されるべき対象上の入
力線量率を生じさせる制御曲線の対の値は、計算された
係数によって補正される。その結果、最大の入力線量率
を超過する危険性を与えることなしに、その長さ全体が
所望の管パラメータ（管電圧、管電流、又は負荷）を調
整することによって使用されうる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、放射線源による対
象の照射中、特にＸ線照射中に対象に当てられる放射線
（入力線量率）を制限する方法及び装置に関する。本発
明はまた、入力線量率を制限する方法又は装置を使用し
つつＸ線照射制御を行う方法及び装置に関する。本発明
はまた、上述の方法を実行するＸ線発生器、並びに、上
述の装置を含む対応するＸ線設備又はＸ線システムに関
する。

【０００２】

【従来の技術】概して、Ｘ線設備又はＸ線システムは、
Ｘ線を発生するＸ線管を具備した１以上のＸ線源と、本
線に接続される部分を含みＸ線管の動作に必要な高電圧
を供給する電圧供給部（高圧発生器）を具備したＸ線発
生器とを含む。Ｘ線源及び高電圧を発生する構成要素が
一体となった構造的なユニットを形成するよう組み合わ
される場合、このようなユニットはシングル・タンク発
生器とも称される。

【０００３】照射された領域について最適な画質（輝
度、コントラスト、信号対雑音比、及び鮮鋭度）を達成
するために、当該の領域に入射するＸ線の強度が特に重
要である。概して、画質は、Ｘ線線量が大きくなるほど
良くなる。一方で、明らかに、患者は過度に高い線量率
に曝されないことが確実とされるべきである。これに関
する最大の値は、国ごとに公式な規則及び条例によって
定められている。

【０００４】患者又は対象が曝される照射線量は、本質
的には、Ｘ線管に印加される電流及び電流の調整、Ｘ線
管と対象の間の距離（ＳＳＤ、即ち、源−皮膚間距
離）、及びＸ線管と対象の間のビーム路中に配置されう
る任意のフィルタに依存する。

【０００５】これらのパラメータは、一般的には自動照
射装置によって制御されるか、検査中にユーザによって
変更されうるため、患者が曝される定められた最大線量
率を超過しないことを確実とするための特別な手段が講
じられねばならない。

【０００６】特許文献１は、Ｘ線源と対象の間の距離又
はＸ線源と画像捕捉装置の間の距離の変化によって当該
の対象が幾何学的に拡大された場合に対象上の放射線量
が一定に保たれたときの信号対雑音比に関する問題を解
決するための放射線イメージングシステムにおける照射
制御のための方法及び装置を開示している。特許文献１
の方法及び装置では、入力線量は、適当な等しい線量が
対象面において一定に保たれるよう上記の２つの距離に
依存して変更される。

【０００７】

【特許文献１】欧州特許公開第１０３５４２０号明細書

【発明が解決しようとする課題】本発明は、放射線源を
動作させるためにユーザによって選択される制御曲線と
は無関係に、また、例えば、対象と放射線源の間の距
離、放射線核エネルギー収量（radiation yield）、ビ
ーム路中に配置されたフィルタといった照射条件とは無
関係に、検査されるべき対象に当てられる（Ｘ線）放射
線量率（入力線量率）が選択可能な最大の値に制限され
うる方法及び装置を提供することを目的とする。

【０００８】更に、本発明は、制御曲線及び照射条件と
は無関係に、即ち、自動照射装置が使用されている場合
に、選択可能な入力線量率を超過しないＸ線照射制御の
ための方法及び装置を提供することを目的とする。

【０００９】本発明はまた、上記のパラメータとは無関
係に選択可能な最大入力線量率が超過されることがな
く、透視法、並びに、連続的な照射（個々の画像）に使
用されうるＸ線照射制御のための方法及び装置を提供す
ることを目的とする。

【００１０】また、本発明は、上述の方法のうちの１つ
を実行する装置を含むＸ線発生器を提供することを目的
とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的は、請求項１に
よれば、放射線源、特にＸ線源による対象の照射中に対
象に当てられる放射線（入力線量率）を制限する方法で
あって、放射線源は、放射線源の少なくとも１つの第１
の動作パラメータを放射線源の第２の動作パラメータに
関連付ける複数の値の対によって形成される制御曲線に
よって制御され、制御曲線は、入射線量率が照射中にど
の値の対に対しても超過されないよう照射条件に依存し
て補正される方法によって達成される。

【００１２】上記目的は、請求項６によれば、上記方法
を実行するための装置であって、少なくとも１つの制御
曲線及び少なくとも１つの核エネルギー収量曲線のため
の第１の記憶装置と、補正された制御曲線を計算するプ
ログラム可能な算術ユニットと、補正された制御値を格
納する第２の記憶装置とを含む装置によって達成され
る。

【００１３】これらの解決策の特別な利点は、最大入力
線量率を超過する危険性を生ずることなく、所望の管の
パラメータ（管電圧、管電流、又は負荷）の調整、及
び、画質の最適化のためにその長さ全体が使用されうる
補正された制御曲線が利用可能であることである。

【００１４】従属項は、本発明の更なる有利な実施例に
関連する。

【００１５】請求項２及び請求項３は望ましい制御曲線
について記載し、請求項４及び請求項５は望ましい照射
条件及びかかる条件を考慮する方法について記載してい
る。

【００１６】

【発明の実施の形態】本発明の更なる詳細、特徴、及び
利点については、図面を参照として、例として与えられ
る望ましい実施例について図面を参照として説明する以
下の説明から明らかとなろう。図１は、本発明によるＸ
線システムを示すブロック図である。システムは、検査
されるべき対象８（患者）へＸ線を当てるＸ線管１の形
のＸ線源を含む。Ｘ線管の焦点と対象の入射面との間の
距離（ＳＳＤ、即ち、源−皮膚間距離）は、距離測定装
置１１によって測定される。所定の検査のためには、Ｘ
線源１と検査されるべき対象８の間にフィルタ２が配置
されうる。使用されているフィルタの種類は、フィルタ
センサ装置２１によって検出される。

【００１７】検査されるべき対象８を横切った放射線
は、カメラ４によって対応する画像信号へ変換されるよ
う、例えば２次電子増倍管（イメージインテンシファイ
ア）といった検出器３によって検出される。画像信号
は、続いて、線量率センサ９を有するビームスプリッタ
を介して導かれ、それにより対象の後ろ側の線量率が測
定され、対応する線量率信号（１０）が発生される。画
像信号は、続いてビデオ増幅器５において処理され、そ
の後、モニタ６上で表示される。

【００１８】Ｘ線管１の動作のため、本質的には、制御
装置７０と、Ｘ線発生器の一部として形成されるか別個
のユニットとされ制御装置７０によって制御されるＸ線
管１用の電圧供給ユニット８０とを含むＸ線発生器７が
設けられる。

【００１９】制御装置７０は、距離測定装置１１によっ
て形成される距離信号と、フィルタセンサ装置２１によ
って形成されるフィルタ信号と、線量率センサ９によっ
て形成される線量率信号（１０）とを受信する。

【００２０】更に、ユーザは、制御ユニット７０につい
て様々な調整又は選択を行いうる。これらの活動は、本
質的には、当該の検査のための適当な制御曲線の選択
（７１）、検査中に超過されてはならない検査されるべ
き対象上の最大の線量率（入力線量率）の調整（７
２）、自動照射装置がそれに基づいて照射の制御を行う
管電圧及び／又は管電流の初期値の調整（７３）、並び
に、連続した照射（個々に照射された静的な画像）の場
合は管電圧のためのパルス繰返し周波数の調整（７４）
である。

【００２１】制御装置７０は、本質的に、Ｘ線管の動作
のための複数の制御曲線のための第１の記憶装置７５を
含む。制御曲線は、Ｘ線管の第１の動作パラメータをＸ
線管の第２の動作パラメータに関連付ける、例えば管電
圧を管電流又は負荷に関連付ける複数の値の対によって
形成される。

【００２２】複数の制御曲線は、最適の画質を達成する
よう検査の種類の関数としてシステムのユーザによって
選択されうる異なる制御プロファイルを実施する。

【００２３】第１の記憶装置７５はまた、多数の第１又
は第２の動作パラメータを、それによって達成されえ管
電流及びＸ線管からの距離に対して正規化される線量率
に関連付ける複数の値の対によって形成される複数の核
エネルギー収量曲線を記憶するために用いられる。

【００２４】制御装置７０はまた、使用されるＸ線管の
種類の関数として、また、印加される信号（特にフィル
タ信号）及び行われる調整の関数として適当な核エネル
ギー収量曲線を選択し、ユーザによって選択された制御
曲線を算術的に補正する算術ユニット７６と、補正され
た制御値を格納する第２の記憶装置７７とを含む。

【００２５】自動照射装置（図示せず）は、線量率セン
サ９によって発生される線量率信号（１０）に依存し
て、最適照射に適した第１の動作パラメータの値を決定
する。第１の動作パラメータの値に関連付けられる第２
の動作パラメータの値は、補正された制御値に基づいて
決定される。この対の値は、電圧供給ユニット８０に印
加される。

【００２６】最後に、電圧供給ユニット８０は、Ｘ線管
１に接続され、受信された対の値に従って、Ｘ線管１の
動作に必要な電圧及び電流を発生し、連続する照射の場
合は時間的な適当な変化を示す（例えば方形波パルス形
状）。

【００２７】Ｘ線検査を行うために、Ｘ線管１及び検査
されるべき対象８は、互いに対して検査されるべき領域
のイメージングに最適な位置に移動されねばならない。

【００２８】Ｘ線ビームの方向上の相対的な動きのた
め、線量率は検査されるべき対象の入射の領域において
増加又は減少される。Ｘ線ビームに対して垂直方向の相
対的な動きの場合、ビームは一般的に検査されるべき対
象の異なる吸収性質を有する領域を横切る。両方の動き
の方向により、このように、イメージインテンシファイ
ア３の線量率の変化、及び、モニタ６上に表示された画
像の輝度の変化が生ずる。

【００２９】取られる線量率の減少は画質に影響を与え
るため、線量率が減少したときは、Ｘ線管１に印加され
る電圧及び／又は電流は、自動照射装置によって比例し
て自動的又は手動で増加される。しかしながら、その場
合、線量率を過剰に増加させれば形成される画像中の細
部に過剰な照射が生じうることを考慮に入れねばならな
い。また、もちろん健康についての理由により、患者に
対する放射線負荷を出来る限り小さく保つ必要があり、
患者に対する所定の最大の入力線量率を超えてはならな
い。

【００３０】Ｘ線管と患者の間の距離が変化した場合、
又はビーム路に異なるフィルタが挿入されたときは、入
力線量率がかなり増加する可能性があるため、注意が必
要である。

【００３１】制御装置７０は、自動照射装置の制御範囲
のどこでも、最大入力線量率を超過しないようにするこ
とが考えられる。これについては、例を参照して以下詳
述する。

【００３２】更に特定的には、上述のように、制御装置
７０は透視法のための複数の第１の制御曲線を格納し、
それにより様々な管電圧Ｕが夫々対応する管電流Ｉと関
連付けられる。更に、制御装置は、一連の照射のための
複数の第２の制御曲線を格納し、それにより対応する負
荷値Ｑは夫々異なる管電圧Ｕに関連付けられる。図２
は、例として第１の制御曲線（I）のうちの一つを示
し、図３は第２の制御曲線（II）のうちの一つを示す。

【００３３】やはり格納されそのうちの一つが図４に示
される核エネルギー収量曲線（III）は、夫々がＸ線管
に印加される管電圧Ｕと、ビーム路に即ち１メートルに
正規化したＸ線管からの距離に挿入される可能性のある
フィルタを考慮に入れつつ、電流のｍＡ当たりに得られ
る線量率Ｙ（核エネルギー収量）との関係を示す。各Ｘ
線照射は、このようにフィルタ及び使用されるＸ線管に
関連付けられる核エネルギー収量曲線に基づく。

【００３４】ユーザによって調整又は選択されうる１以
上のパラメータ（特に、Ｘ線管と検査されるべき対象の
間の距離、管電圧、管電流、管の種類、フィルタの種
類、パルスレート）が変化した場合に対象に当てられる
Ｘ線の所定の最大線量率を超過しないよう、制御曲線
は、この最大入力線量率を考慮にいれつつ補正される。

【００３５】これに関して、透視法のための第１の制御
曲線（I）の補正と連続した照射のための第２の制御曲
線（II）の補正は区別されるべきである。

【００３６】透視法の場合、ユーザによって選択される
第１の制御曲線は、まず、図２の表現中の曲線の右上の
端、即ち、管電圧の最高値と、この電圧値に関連付けら
れる管電流の値を決定するために、まず算術的に解析さ
れる。例えば、図２の例では、最大電圧１５０ｋＶに対
して９ｍＡの電流が得られる。

【００３７】更に、使用されるフィルタ（及びＸ線管）
に従って選択される核エネルギー収量曲線に基づいて、
この最大電圧に対する核エネルギー収量が決定される。
図４に示す例では、最大電圧１５０ｋＶに対して約９
６．４μＧｙ／ｍＡｓの核エネルギー収量が得られる。

【００３８】最大管電圧の場合にＸ線管から１メートル
の距離において生ずる最大線量率は、この核エネルギー
収量と決定された最大電流とを乗算することによって得
られる。上述の例では、この最大線量率は約８６７．６
μＧｙ／ｓとなる。

【００３９】続いて、検査されるべき対象に入射する最
大線量率は、この値にＸ線管と検査されるべき対象の間
の実際の距離の逆二乗を乗算することによって決定され
る。この例では、距離測定装置１１によって決定される
０．８ｍの距離に対して、約１３５５．６３μＧ／ｓの
値が得られる。

【００４０】この値は、最大入力線量率の選択された値
（例えば６００μＧｙ／ｓ）と比較される。この最大値
を計算された値によって割り算することにより、換算係
数（本例では約０．４４２６）が得られ、これと最も高
い管電圧に関連付けられる電流値（本例では９ｍＡ）と
が乗算される。これにより、最大管電圧に対して換算さ
れた電流値（本例では約３．９８３４ｍＡ）、従って、
換算された最大電力約５９７．５１Ｗが得られる。

【００４１】この一対の値（換算された電流値、最大電
圧）は、増加する電圧の方向の情報の（最後の）対の値
であり、従って補正された制御曲線の端であると定義さ
れる。制御曲線の変化は、計算され換算された最大電
力、従って所定の最大の入力線量率がどの位置でも超過
されないようこの上側の端に基づいて補正される。

【００４２】これは、最大電圧値を下回る電圧値が夫々
の換算された電流値に関連付けられその積が夫々換算さ
れた最大電力以下の電力を生じさせる、新しい（上側）
曲線セグメント（２）を定義することによって達成され
る。新しい曲線セグメント（２）は、このように元の制
御曲線の方向にこの曲線に交わるまで延び、これらの２
つの曲線の交点（この場合は１０２．５ｋＶ）の上に位
置する元の制御曲線の部分（１）を置き換える。補正さ
れた制御曲線は、このように、元の変化に対応する第１
の下側のセグメントと、新しい第２の上側のセグメント
（２）とから構成される。

【００４３】もちろん、第２の上側のセグメントの変化
は、上側の対の値から開始して、管電圧と関連する電流
値の積が元の曲線の方向に換算され、より低い値におい
てのみ交点に達するようなものでありうる。

【００４４】方法は、望ましくは算術ユニット７６によ
って実行されるプログラムの形式で実施される。プログ
ラムの実行については、図５のフローチャートを参照し
て説明する。

【００４５】プログラムの開始１００の後、第１の段階
１０１において、フィルタ２及び／又はＸ線管１が以前
に実行された曲線補正よりも後に変更されているか否か
調べられる。変更されていれば、第２の段階１０２にお
いて、この新しい管／フィルタの組合せに関連付けられ
る核エネルギー収量曲線が選択され、第７の段階１０７
へ進む。

【００４６】第１の段階１０１において、変更されてい
ないと判定されれば、第３の段階１０３において、制御
曲線が最後の補正よりも後に変更されているか否か調べ
られる。変更されていれば、第７の段階１０７へ進む。
変更されていなければ、第４の段階１０４において、Ｘ
線管と検査されるべき対象８の間の距離が最後の補正の
後に変更されているか否か調べられる。変更されていれ
ば、第７の段階１０７へ進み、変更されていなければ、
第５の段階１０５において、選択された最大入力線量率
が最後の補正の後に変更されているか否か調べられる。
変更されていれば、第７の段階１０７へ進み、変更され
ていなければ、方法は第９の段階１０９によって終了す
る。

【００４７】第７の段階１０７において、図２に示す第
１の制御曲線が、検査されるべき対象上の選択される最
大入力線量が超過されうるか値の対を含むか否か調べら
れる。含む場合、第８の段階１０８において制御曲線
は、第２の記憶装置７７に記憶されるべく補正される。
第７の段階１０７における判定結果が否定的な場合と同
様に、プログラムは第９の段階１０９において終了す
る。

【００４８】第７の段階１０７及び第８の段階１０８
は、上述のように、第１の制御装置の補正に関連して実
行される。

【００４９】第２の制御曲線（図３）をＸ線管がパルス
化されたモードで動作する連続照射について補正するた
めに、入力線量率の所定の最大値（例えば８００μＧｙ
／ｓ）は一秒当たりの照射間隔の数（即ち、パルス繰返
し周波数、例えば２／ｓ）で割り算されねばならない。
このようにして、単一のパルス（１照射間隔）に対する
最大線量値が得られ、これに基づき更なる説明が行わ
れ、その値は本例では４００μＧｙである。

【００５０】ユーザによって選択される第２の制御曲線
の解析は、最大管電圧に対して得られる負荷を決定する
ことから始まる。図３に示す曲線は、最大電圧１３０ｋ
Ｖに対して約５．１７ｍＡｓの負荷を生じさせる。

【００５１】最大電圧に対する核エネルギー収量は、使
用されるフィルタに従って選択される核エネルギー収量
曲線に基づいて決定される。図４に示す例では、最大電
圧１３０ｋＶに対して約６７μＧｙ／ｍＡｓの核エネル
ギー収量が得られる。

【００５２】Ｘ線管から１メートルの距離において最大
管電圧に対して生ずる最大線量は、この核エネルギー収
量を決定された最大負荷によって乗算することによって
得られる。この線量は本例では約３４６．４μＧｙとな
る。

【００５３】続いて、検査されるべき対象に入射する最
大線量は、この値に、Ｘ線管と検査されるべき対象の間
の実際の距離の逆二乗を乗算することによって決定され
る。距離測定装置１１によって測定される距離が０．８
ｍの場合、本例では約５４１．２５μＧｙの値が得られ
る。

【００５４】この値は、１パルスに対する以前に計算さ
れた最大の線量の値（本例では４００μＧｙ）と比較さ
れる。この最大値を計算された値によって割り算するこ
とにより換算係数（本例では約０．７４）が得られ、制
御曲線によって計算された負荷値（本例では約５．１７
ｍＡｓ）は、この換算係数によって乗算される。これに
より１３０ｋＶの最大管電圧に対する換算された負荷値
（本例では約３．８２７ｍＡｓ）が得られ、約４９５．
５１Ｗｓの換算された最大エネルギーが得られる。

【００５５】この対の値（換算された負荷値、最大電
圧）は、増加する電圧方向の上側の（最後の）対、従っ
て補正された制御曲線の端として定義される。制御曲線
の変化は、この上側の端に基づいて、即ち計算された換
算された最大エネルギー、従って所与のパルス繰返し周
波数に対する所定の最大の入力線量率がどの位置でも超
過されないよう補正される。

【００５６】これは、最大電圧値を下回る電圧値が夫々
その積が最大エネルギー以下のエネルギーを生じさせる
換算された負荷値と関連付けられる新しい（上側）曲線
セグメント（２）を定義することによって達成される。
新しい曲線セグメントは、元の制御曲線の方向にこの曲
線と交わるまで延び、これらの２つの曲線の交点（本例
では約８１．２ｋＶ）より上に位置する元の制御曲線の
部分（１）を置き換える。補正された制御曲線は、この
ように、元の変化に対応する第１の下側のセグメントと
新しい第２の上側のセグメント（２）とから構成され
る。

【００５７】第２の上側のセグメントの変化は、上側の
対の値から始まって、管電圧と関連する負荷値の積が元
の曲線の方向に換算され、低い電圧値においてのみ交点
に達するようにされうる。

【００５８】望ましくは、方法は算術ユニット７６によ
って実行されるプログラムの形で実施される。

【００５９】図６はそのようなプログラムの本質的な段
階を示す図である。プログラムの実行は、第５の段階１
０５の後に最後の補正の後にパルス繰返し周波数が変更
されているか否かを調べる第６の段階１０６が挿入され
ている点で図５に示すプログラムとは異なる。この場
合、段階１０１乃至１０５における判定結果が肯定的で
ある場合のように、第７の段階１０７へ進み、第７の段
階１０７において、図３に示す第２の制御曲線が選択さ
れた最大入力線量が超過されうる対の値を含むか否か判
定される。この判定結果が肯定的であれば、第８の段階
において制御曲線が補正され、補正された制御曲線は第
２の記憶装置７７に格納される。

【００６０】上述の説明と同様に、第７の段階１０７及
び第８の段階１０８は、第２の制御曲線の補正に関連し
て実行される。

【００６１】制御曲線はまた、新しい上側の曲線のセグ
メント（２）が決定されないが、第１の下側のセグメン
トのみが使用されるよう補正されてもよい。これは、補
正された制御曲線が、最大の所定の入力線量率が得られ
る対の値が位置する点までは元の制御曲線に従って変化
することを意味する。しかしながら、本発明の格別な利
点のうちの１つは、幾つかの例外を除き、これが必要で
ない点である。

【００６２】図２及び図３に示す曲線の代わりに他の制
御曲線が使用されうる。

【００６３】他の制御曲線の１つは、例えば図２及び図
３中のｘ軸及びｙ軸に夫々プロットされる第１及び第２
の動作パラメータが入れ替えられた制御曲線を使用する
ものである。

【００６４】例えば、Ｘ線管がパルス化されたモードで
動作するとき、第１の動作パラメータを管電圧又は感電
流のパルス幅の形に変えることも可能である。すると、
最大入力線量率は、超過されてはならない最大パルス幅
に対応する。

【００６５】更なる他の制御曲線は、１つの動作パラメ
ータが調整され、制御曲線が一方又は両方の他の動作パ
ラメータの上述の計算によって補正される、３つの動作
パラメータを用いた３次元制御曲線を定義するものであ
る。これらのパラメータは、例えば、パルス繰返し周波
数、並びに、管電圧及び管電流でありうる。

【００６６】本発明による原理は、このように、２以上
の動作パラメータの実際的に任意の組合せに拡張され
え、これらのパラメータはまず管電圧、管電流、パルス
化されたモードではこれらの変数のパルス幅、及び、こ
れらの変数のパルス繰返し周波数である。Ｘ線管と検査
されるべき対象の間の距離の変化と、異なる放射線吸収
率を有するフィルタの交換もまたこの点で可能である。

【００６７】最後に、本発明による方法は、写真の単一
の露出のためにも使用されうる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるＸ線システムを示すブロック図で
ある。

【図２】Ｘ線管の第１の制御曲線を示す図である。

【図３】Ｘ線管の第２の制御曲線を示す図である。

【図４】Ｘ線管の核エネルギー収量曲線をＸ線管に印加
される電圧の関数として示す図である。

【図５】本発明による第１の方法を示すフローチャート
である。

【図６】本発明による第２の方法を示すフローチャート
である。

【符号の説明】

１ Ｘ線源 ２ フィルタ ３ 検出器 ４ カメラ ５ ビデオ増幅器 ６ モニタ ７ Ｘ線発生器 ８ 対象 ９ 線量率センサ １０ 線量率信号 １１ 距離測定装置 ２１ フィルタセンサ装置 ７０ 制御装置 ７１ 制御曲線の選択 ７２ 最大線量率の調整 ７３ 管電圧・管電流の初期値の調整 ７４ パルス繰返し周波数の調整 ７５ 第１の記憶装置 ７６ 算術ユニット ７７ 第２の記憶装置 ８０ 電圧供給ユニット

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウヴェ ボーテ ドイツ連邦共和国，25497 プリスドルフ, レートヴィッシュ ４ (72)発明者 アクセル ゼムケ ドイツ連邦共和国，22529 ハンブルク, シュテディングヴェーク ５ Ｆターム(参考） 4C092 AA01 AB04 AB16 AC01 AC11 CC13 CD02 CD03 CD04 CF42 4C093 AA01 CA01 CA06 CA34 EA11 EB02 EE30 FA15 FA18 FA43 FA51

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 放射線源、特にＸ線源による対象の照射
   中に対象に当てられる放射線（入力線量率）を制限する
   方法であって、 放射線源は、放射線源の少なくとも１つの第１の動作パ
   ラメータを放射線源の第２の動作パラメータに関連付け
   る複数の値の対によって形成される制御曲線によって制
   御され、制御曲線は、入射線量率が照射中にどの値の対
   に対しても超過されないよう照射条件に依存して補正さ
   れる、方法。
2. 【請求項２】 第１の動作パラメータはＸ線管電圧であ
   り、第２の動作パラメータはＸ線管電流である、請求項
   １記載の方法。
3. 【請求項３】 第１の動作パラメータはＸ線管電圧であ
   り、第２の動作パラメータはＸ線管電流と照射時間の積
   である、請求項１記載の方法。
4. 【請求項４】 照射条件は、対象と放射線源の間の距
   離、その放射線核エネルギー収量、並びに、ビーム路中
   に配置されるフィルタによって定義される、請求項１記
   載の方法。
5. 【請求項５】 照射条件は動作パラメータのうちの１つ
   がＸ線の正規化された量に関連付けられる複数の値の対
   からなる核エネルギー収量曲線の形で定義される、請求
   項１記載の方法。
6. 【請求項６】 請求項１乃至５のうちいずれか一項記載
   の方法を実行するための装置であって、 少なくとも１つの制御曲線及び少なくとも１つの核エネ
   ルギー収量曲線のための第１の記憶装置と、請求項１乃
   至５のうちいずれか一項記載の補正された制御曲線を計
   算するプログラム可能な算術ユニットと、補正された制
   御値を格納する第２の記憶装置とを含む装置。
7. 【請求項７】 請求項１乃至５のうちいずれか一項記載
   の方法を用いてＸ線照射を制御する方法。
8. 【請求項８】 請求項６記載の装置と、対象に当てられ
   た測定された線量率と補正された制御曲線に基づいてＸ
   線管のための電圧供給ユニットを制御する信号が発生さ
   れる自動照射制御装置とを含む、Ｘ線照射制御のための
   装置。
9. 【請求項９】 Ｘ線管用の電圧供給ユニット、並びに、
   請求項８に記載の装置を含む、Ｘ線発生器。
10. 【請求項１０】 請求項９記載のＸ線発生器を含むＸ線
    システム。