JP2002541639A - 輝度制御システムを有するｘ線検査装置 - Google Patents
輝度制御システムを有するｘ線検査装置Info
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- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/64—Circuit arrangements for X-ray apparatus incorporating image intensifiers
Abstract
(57)【要約】
Ｘ線検査装置は輝度制御信号入力のあるＸ線源と、被画像物体のＸ線画像を形成させるＸ線画像装置と、Ｘ線源とＸ線画像装置との間にあるＸ線吸収手段と、Ｘ線画像装置とＸ線画像から輝度制御信号を得るための輝度制御信号入力とに結合した輝度制御システムと、Ｘ線画像装置とＸ線画像に存在する吸収手段により生じた前記輝度制御信号から検出された吸収の程度を排除するための輝度制御信号入力との間に結合した検出手段とを具備する。直接の放射線、及びＸ線画像のピクセルのヒストグラムの検出された吸収範囲にある（フィルタのような）吸収手段は自動的に輝度制御から排除され、よって改善される。
Description
【０００１】 本発明は、独立請求項１のプレアンブル部にて定義されるＸ線検査装置に関す
る。
る。
【０００２】 かかるＸ線検査装置は、欧州特許出願第ＥＰ０６２９１０５号にて公知である
。
。
【０００３】 公知なＸ線装置は、Ｘ線画像増強装置と画像ピックアップ装置とを具備する。
そのＸ線画像増強装置は、Ｘ線画像を光学画像へ変換する。その画像ピックアッ
プ装置は、光学画像から画像信号を得る。公知なＸ線検査装置の輝度制御システ
ムは、一部の光学画像の輝度値を測定する補助的光検出器を具備する。上記部分
は、測定場と呼ばれる。輝度制御システムは、測定場にて測定された輝度値に基
づいてＸ線検査装置を調整するように配設されている。特に、Ｘ線源からのＸ線
のエネルギーは、輝度制御システムにより調整される。公知なＸ線検査装置の測
定場は可調整であるが、一部のＸ線フィルタが測定場でその像が形成されるここ
とを回避することが困難であることが判明した。Ｘ線フィルタに相当する測定場
での輝度値は、Ｘ線検査装置のサブ最適調整を導く。
そのＸ線画像増強装置は、Ｘ線画像を光学画像へ変換する。その画像ピックアッ
プ装置は、光学画像から画像信号を得る。公知なＸ線検査装置の輝度制御システ
ムは、一部の光学画像の輝度値を測定する補助的光検出器を具備する。上記部分
は、測定場と呼ばれる。輝度制御システムは、測定場にて測定された輝度値に基
づいてＸ線検査装置を調整するように配設されている。特に、Ｘ線源からのＸ線
のエネルギーは、輝度制御システムにより調整される。公知なＸ線検査装置の測
定場は可調整であるが、一部のＸ線フィルタが測定場でその像が形成されるここ
とを回避することが困難であることが判明した。Ｘ線フィルタに相当する測定場
での輝度値は、Ｘ線検査装置のサブ最適調整を導く。
【０００４】 例えば、Ｘ線フィルタは調整されて、被検査物体によりほとんど減衰されない
Ｘ線を減衰させる。特に、患者の脊柱の放射線学的検査を実行する際に、肺組織
を通過する一部のＸ線は同程度の容量の空気を含有する肺組織によりほとんど減
衰されない。かかる放射線学的検査の場合には、Ｘ線フィルタは、患者の肺の部
分に向かって指向するＸ線がＸ線フィルタにより相対的に強く減衰され、患者の
脊柱に向かって指向するＸ線がＸ線フィルタにより殆ど若しくは全く減衰されな
いように配置される。Ｘ線フィルタの正確な位置決めは、欧州出願特許第ＥＰ０
４９６４３８号に開示されている。しかしながら、Ｘ線検査装置の調整に対して
悪影響を及ぼす効果は、Ｘ線フィルタの正確な位置決めにもかかわらず発生する
ことが分かっている。
Ｘ線を減衰させる。特に、患者の脊柱の放射線学的検査を実行する際に、肺組織
を通過する一部のＸ線は同程度の容量の空気を含有する肺組織によりほとんど減
衰されない。かかる放射線学的検査の場合には、Ｘ線フィルタは、患者の肺の部
分に向かって指向するＸ線がＸ線フィルタにより相対的に強く減衰され、患者の
脊柱に向かって指向するＸ線がＸ線フィルタにより殆ど若しくは全く減衰されな
いように配置される。Ｘ線フィルタの正確な位置決めは、欧州出願特許第ＥＰ０
４９６４３８号に開示されている。しかしながら、Ｘ線検査装置の調整に対して
悪影響を及ぼす効果は、Ｘ線フィルタの正確な位置決めにもかかわらず発生する
ことが分かっている。
【０００５】 本発明の目的は、Ｘ線検査装置の調整に及ぼすＸ線フィルタの影響を実質的に
軽減させた、Ｘ線検査装置を提供することである。
軽減させた、Ｘ線検査装置を提供することである。
【０００６】 上記の目的は、独立請求項１にて定義されるＸ線検査装置により達成される。
【０００７】 本発明によれば、輝度制御システムは、閾値よりも大きいＸ線画像の輝度値に
基づいて、Ｘ線検査装置を調整するように配設される。閾値よりも小さい輝度値
は、Ｘ線フィルタにより引き起こされる少なくとも強いＸ線吸収に相当する。閾
値以下のＸ線画像のかかる輝度値はＸ線フィルタと関係するが、被検査物体の画
像情報とは関係しない。よって、閾値よりも大きい輝度値に基づいて、Ｘ線検査
装置を調整することにより、Ｘ線検査装置の調整に及ぼすＸ線フィルタの悪影響
の効果は実質的に回避される。特に、Ｘ線検査装置の調整は、Ｘ線源からのＸ線
のエネルギー設定と関係する。また、Ｘ線検査装置の調整は画像信号が印加され
る増幅器の利得要因の設定と関係する。閾値はＸ線エネルギーから、並びにＸ線
フィルタの組成から得る。本願では、閾値はＸ線フィルタによるＸ線吸収はＸ線
エネルギー、その材料及びＸ線フィルタの厚さに無関係であるという事実を考慮
する。結果として、正確な調整が達成され、特にＸ線フィルタの悪影響の効果は
、Ｘ線エネルギーのさまざまな値に対して回避される。特に、Ｘ線エネルギーに
変動は生じている場合でも、正確な調整は維持される。
基づいて、Ｘ線検査装置を調整するように配設される。閾値よりも小さい輝度値
は、Ｘ線フィルタにより引き起こされる少なくとも強いＸ線吸収に相当する。閾
値以下のＸ線画像のかかる輝度値はＸ線フィルタと関係するが、被検査物体の画
像情報とは関係しない。よって、閾値よりも大きい輝度値に基づいて、Ｘ線検査
装置を調整することにより、Ｘ線検査装置の調整に及ぼすＸ線フィルタの悪影響
の効果は実質的に回避される。特に、Ｘ線検査装置の調整は、Ｘ線源からのＸ線
のエネルギー設定と関係する。また、Ｘ線検査装置の調整は画像信号が印加され
る増幅器の利得要因の設定と関係する。閾値はＸ線エネルギーから、並びにＸ線
フィルタの組成から得る。本願では、閾値はＸ線フィルタによるＸ線吸収はＸ線
エネルギー、その材料及びＸ線フィルタの厚さに無関係であるという事実を考慮
する。結果として、正確な調整が達成され、特にＸ線フィルタの悪影響の効果は
、Ｘ線エネルギーのさまざまな値に対して回避される。特に、Ｘ線エネルギーに
変動は生じている場合でも、正確な調整は維持される。
【０００８】 本発明によるＸ線検査装置の好適な実施例は、独立請求項にて定義される。
【０００９】 Ｘ線検査装置の調整は、閾値よりも大きな輝度値の平均値に基づいて実行され
ることが好ましい。その平均は、Ｘ線画像の選択された部分の輝度値を利用して
行われ、また、その輝度値は選択部分を超える。その平均値は、Ｘ線画像の輝度
よりも、Ｘ線量子のノイズのようなノイズにあまり影響を受けない。よって、平
均値に基づいて、Ｘ線検査装置のより安定した調整が達成される。
ることが好ましい。その平均は、Ｘ線画像の選択された部分の輝度値を利用して
行われ、また、その輝度値は選択部分を超える。その平均値は、Ｘ線画像の輝度
よりも、Ｘ線量子のノイズのようなノイズにあまり影響を受けない。よって、平
均値に基づいて、Ｘ線検査装置のより安定した調整が達成される。
【００１０】 好適な実施例では、Ｘ線検出器はＸ線画像増強装置と、テレビカメラのような
画像ピックアップ装置とを具備する。その画像増強装置はＸ線画像から光学画像
を得る。したがって、光学画像の輝度値はＸ線画像の輝度値に相当する。結果と
して、Ｘ線検査装置の正確な調整は、閾値よりも大きな光学画像の輝度値に基づ
いて達成される。Ｘ線フィルタと関連する光学画像部分は、特に、閾値以下の輝
度値を有し、よって、Ｘ線検査装置の調整を誘導することを考慮しなくてもよい
。
画像ピックアップ装置とを具備する。その画像増強装置はＸ線画像から光学画像
を得る。したがって、光学画像の輝度値はＸ線画像の輝度値に相当する。結果と
して、Ｘ線検査装置の正確な調整は、閾値よりも大きな光学画像の輝度値に基づ
いて達成される。Ｘ線フィルタと関連する光学画像部分は、特に、閾値以下の輝
度値を有し、よって、Ｘ線検査装置の調整を誘導することを考慮しなくてもよい
。
【００１１】 Ｘ線検査装置は、光学画像の選択部分における光強度を測定する光センサを具
有することが好ましい。その光センサは入射光を電流に変換し、光学画像の選択
部分を表示する電気的光センサ信号を発生させる。例えば、光センサ信号は光学
画像の選択部分における平均光強度に相当する。Ｘ線源からのＸ線強度は、Ｘ線
源に印加される電流により制御され、上記電流は、しばしばフィラメント電流と
呼ばれる。上記フィラメント電流はＸ線源のカソードを加熱し、Ｘ線源のアノー
ドへ電子を放出する。その電子はカソードとアノードとの間に印加された高電圧
により発生した電場中で加速される。電子がアノードに衝突すると、Ｘ線が放出
され、その強度はフィラメント電流に左右され、そのエネルギーは高電圧に依存
する。フィラメント電流に対する光センサ信号の信号レベルの比は、問題となる
光学画像の部分に像が形成されるＸ線フィルタの部分のＸ線吸収に対して、被検
査の一部の物体の平均Ｘ線吸収を表わす。フィラメント電流に対する光センサ信
号の信号レベルの比は、吸収比と呼ばれる。光学画像の個々の位置で、つまり光
学画像のピクセルでは、相対的輝度値は基準輝度値に対する輝度値の比である。
好ましくは、基準輝度値は選択部分の平均輝度値である。光学画像の各々のピク
セルにて、相対的輝度に対する吸収比の割合は、選択部分の平均輝度に無関係で
あり、輝度値、つまり光学画像にて問題とするピクセルでの光強度を生じさせる
Ｘ線吸収を表わす。本発明によるＸ線検査装置は、閾値以下の個々の相対的輝度
値に対する個々の吸収比の割合を有する光学画像の部分に基づいて調整される。
Ｘ線源の輝度制御信号は、光学画像の上記部分から得ることが望ましい。
有することが好ましい。その光センサは入射光を電流に変換し、光学画像の選択
部分を表示する電気的光センサ信号を発生させる。例えば、光センサ信号は光学
画像の選択部分における平均光強度に相当する。Ｘ線源からのＸ線強度は、Ｘ線
源に印加される電流により制御され、上記電流は、しばしばフィラメント電流と
呼ばれる。上記フィラメント電流はＸ線源のカソードを加熱し、Ｘ線源のアノー
ドへ電子を放出する。その電子はカソードとアノードとの間に印加された高電圧
により発生した電場中で加速される。電子がアノードに衝突すると、Ｘ線が放出
され、その強度はフィラメント電流に左右され、そのエネルギーは高電圧に依存
する。フィラメント電流に対する光センサ信号の信号レベルの比は、問題となる
光学画像の部分に像が形成されるＸ線フィルタの部分のＸ線吸収に対して、被検
査の一部の物体の平均Ｘ線吸収を表わす。フィラメント電流に対する光センサ信
号の信号レベルの比は、吸収比と呼ばれる。光学画像の個々の位置で、つまり光
学画像のピクセルでは、相対的輝度値は基準輝度値に対する輝度値の比である。
好ましくは、基準輝度値は選択部分の平均輝度値である。光学画像の各々のピク
セルにて、相対的輝度に対する吸収比の割合は、選択部分の平均輝度に無関係で
あり、輝度値、つまり光学画像にて問題とするピクセルでの光強度を生じさせる
Ｘ線吸収を表わす。本発明によるＸ線検査装置は、閾値以下の個々の相対的輝度
値に対する個々の吸収比の割合を有する光学画像の部分に基づいて調整される。
Ｘ線源の輝度制御信号は、光学画像の上記部分から得ることが望ましい。
【００１２】 輝度制御システムの機能は、適切にプログラム化されたコンピュータにより実
行されることが好ましい。代替としては、輝度制御システムは輝度制御システム
の機能を果たすように配設された電子回路を具有する特別目的の（マイクロ）プ
ロセッサを有する。
行されることが好ましい。代替としては、輝度制御システムは輝度制御システム
の機能を果たすように配設された電子回路を具有する特別目的の（マイクロ）プ
ロセッサを有する。
【００１３】 本発明による装置及び方法は、添付図面を参照して、さらなる効果とともにさ
らに説明し、類似構成部品は同じ参照番号により表示される。
らに説明し、類似構成部品は同じ参照番号により表示される。
【００１４】 図１は、物体Ｏを照射するＸ線ビームの強度を制御する輝度制御入力３を有す
るＸ線源２のあるＸ線検査装置１の模式図を示す。Ｘ線をある程度吸収する、吸
収又はフィルタ手段Ａは、大量のＸ線が装置１のＸ線画像装置４に未吸収で入射
しないようにするために、通常、物体Ｏに沿って配設されている。通常、装置４
は、模式的にのみ示した画像増強テレビシステムを有する。Ｘ線画像装置４は、
内科医により検査の目的で、モニター上に可視画像を表示する。また、装置１は
輝度制御システム６を具備し、Ｘ線画像は、通常デジタルデータの形で表示され
る。模式的に図示する偏向装置Ｕは、Ｘ線画像装置４から光学画像情報を受け、
上記画像情報をデジタル化し、加工し、処理ユニットＰに保存する。処理ユニッ
トから検索して、デジタルデータＤを生じさせる。デジタルデータＤはＸ線画像
のピクセル（つまり、画素）のヒストグラムを表わし、以後、図２を参照して説
明する。Ｘ線画像のデータＤから、輝度制御入力３に印加される輝度制御信号Ｂ
Ｃを得る。
るＸ線源２のあるＸ線検査装置１の模式図を示す。Ｘ線をある程度吸収する、吸
収又はフィルタ手段Ａは、大量のＸ線が装置１のＸ線画像装置４に未吸収で入射
しないようにするために、通常、物体Ｏに沿って配設されている。通常、装置４
は、模式的にのみ示した画像増強テレビシステムを有する。Ｘ線画像装置４は、
内科医により検査の目的で、モニター上に可視画像を表示する。また、装置１は
輝度制御システム６を具備し、Ｘ線画像は、通常デジタルデータの形で表示され
る。模式的に図示する偏向装置Ｕは、Ｘ線画像装置４から光学画像情報を受け、
上記画像情報をデジタル化し、加工し、処理ユニットＰに保存する。処理ユニッ
トから検索して、デジタルデータＤを生じさせる。デジタルデータＤはＸ線画像
のピクセル（つまり、画素）のヒストグラムを表わし、以後、図２を参照して説
明する。Ｘ線画像のデータＤから、輝度制御入力３に印加される輝度制御信号Ｂ
Ｃを得る。
【００１５】 Ｘ線吸収手段Ａは、原則として、全体のＸ線画像の平均輝度レベルを低下させ
る。次いで、輝度制御により関連部分、つまり物体Ｏが過剰露光されて不良な画
質が生じる。しかしながら、その過剰露光は以下の輝度制御システム６により補
正される。Ｘ線検査装置１は、Ｘ線画像装置４と輝度制御信号入力３との間に、
通常結合される検出手段７を具備する。その検出手段７は図１の実施例に例示し
たように、輝度制御システム６に含まれるが、これは必要条件ではない。検出手
段７は、Ｘ線画像に存在する吸収手段Ａにより生じる吸収の測定又は程度を検出
するように配設され、検出された吸収の程度は、その後、輝度制御信号ＢＣから
排除される。Ｘ線画像のヒストグラムにて排除された吸収部分の例を、図２のハ
ッチングの施した部分に表わす。
る。次いで、輝度制御により関連部分、つまり物体Ｏが過剰露光されて不良な画
質が生じる。しかしながら、その過剰露光は以下の輝度制御システム６により補
正される。Ｘ線検査装置１は、Ｘ線画像装置４と輝度制御信号入力３との間に、
通常結合される検出手段７を具備する。その検出手段７は図１の実施例に例示し
たように、輝度制御システム６に含まれるが、これは必要条件ではない。検出手
段７は、Ｘ線画像に存在する吸収手段Ａにより生じる吸収の測定又は程度を検出
するように配設され、検出された吸収の程度は、その後、輝度制御信号ＢＣから
排除される。Ｘ線画像のヒストグラムにて排除された吸収部分の例を、図２のハ
ッチングの施した部分に表わす。
【００１６】 図２は、可視画像のピクセルのヒストグラムの例を示す。このヒストグラムは
全ての起こり得るグレー値ｇｒ，０（全体が黒）からｇｒmax（全体は白）に対
して発生する頻度を示す。図２にて、ヒストグラムの右外領域は、Ｘ線画像装置
４に衝突する実質上未吸収の直接放射線を示す。吸収手段により生じる検出され
た吸収のハッチング部分を輝度制御から排除することは、輝度制御には正の効果
があり、ヒストグラムの残りの左部分（ハッチングされていない部分）を専ら基
礎とし、左部分は被画像物体Ｏのついての関連情報を有する。結果として、前述
の過剰露光無しに、改善された画質をもたらすように、輝度制御が被画像物体及
びその吸収特性に対して最適に適合される。
全ての起こり得るグレー値ｇｒ，０（全体が黒）からｇｒmax（全体は白）に対
して発生する頻度を示す。図２にて、ヒストグラムの右外領域は、Ｘ線画像装置
４に衝突する実質上未吸収の直接放射線を示す。吸収手段により生じる検出され
た吸収のハッチング部分を輝度制御から排除することは、輝度制御には正の効果
があり、ヒストグラムの残りの左部分（ハッチングされていない部分）を専ら基
礎とし、左部分は被画像物体Ｏのついての関連情報を有する。結果として、前述
の過剰露光無しに、改善された画質をもたらすように、輝度制御が被画像物体及
びその吸収特性に対して最適に適合される。
【００１７】 再び図１を参照するに、図示するＸ線検査装置の実施例には、Ｘ線画像のヒス
トグラムデータを有する加工ユニットＰと、Ｘ線画像にて排除されないピクセル
範囲以上に定義される輝度パラメータから輝度制御信号を得る検出手段７とに結
合したＸ線処理手段８を有する。データ処理手段８にてプログラミングされた適
当なソフトウェアを利用して、例えば、輝度パラメータは、Ｘ線画像のヒストグ
ラムにおけるピクセルの範囲での平均値、中央値若しくは最大値から得る。
トグラムデータを有する加工ユニットＰと、Ｘ線画像にて排除されないピクセル
範囲以上に定義される輝度パラメータから輝度制御信号を得る検出手段７とに結
合したＸ線処理手段８を有する。データ処理手段８にてプログラミングされた適
当なソフトウェアを利用して、例えば、輝度パラメータは、Ｘ線画像のヒストグ
ラムにおけるピクセルの範囲での平均値、中央値若しくは最大値から得る。
【００１８】 図１の装置は、物体Ｏに照射するＸ線ビームの強度及び周波数に関係する情報
を含む出力信号Ｉ１を形成するＸ線源データ出力９を有する。Ｘ線画像装置４は
吸収手段Ａにより吸収されたＸ線画像装置４の入射する一部のＸ線ビームの強度
に関係する情報を含む出力信号Ｉ２を形成するＸ線画像データ出力１０を有する
。検出手段７は双方のデータ出力９及び１０と結合しており、吸収手段Ａによる
吸収の程度を定量化するように配設される。
を含む出力信号Ｉ１を形成するＸ線源データ出力９を有する。Ｘ線画像装置４は
吸収手段Ａにより吸収されたＸ線画像装置４の入射する一部のＸ線ビームの強度
に関係する情報を含む出力信号Ｉ２を形成するＸ線画像データ出力１０を有する
。検出手段７は双方のデータ出力９及び１０と結合しており、吸収手段Ａによる
吸収の程度を定量化するように配設される。
【００１９】 吸収前後でのビーム強度を知ることは、吸収手段Ａによる吸収の程度若しくは
速度をも知ることになる。次いで、ヒストグラムが排除レベルの左側で輝度制御
に関連する情報を含むように排除レベルｇｒexclを生じさせるように、吸収の程
度が問題となるＸ線画像の特定のヒストグラムに関連する。対応するレベルの信
号は、検出手段７も出力ＬＳに提供され、そのレベルの信号は、輝度制御信号Ｂ
Ｃが吸収手段Ａにより生じる吸収より影響を受けないヒストグラムのピクセルか
ら得るように、つまりピクセルが閾値ｇｒｔ以上のグレーレベルを有するように
、処理手段８の閾値入力Ｔに印加される。
速度をも知ることになる。次いで、ヒストグラムが排除レベルの左側で輝度制御
に関連する情報を含むように排除レベルｇｒexclを生じさせるように、吸収の程
度が問題となるＸ線画像の特定のヒストグラムに関連する。対応するレベルの信
号は、検出手段７も出力ＬＳに提供され、そのレベルの信号は、輝度制御信号Ｂ
Ｃが吸収手段Ａにより生じる吸収より影響を受けないヒストグラムのピクセルか
ら得るように、つまりピクセルが閾値ｇｒｔ以上のグレーレベルを有するように
、処理手段８の閾値入力Ｔに印加される。
【００２０】 特定の実施例では、検出手段７は物体Ｏへの強度を表わすＸ線源２の電流が画
像手段４に入射するＸ線ビーム強度の情報を形成するフォトダイオード電流によ
り分割されるように、データ出力９及び１０と結合している、模式的に示す分割
手段を有する。出力ＬＳに送られた分担により、所定のＸ線ビームでの吸収の程
度の尺度を提供する。
像手段４に入射するＸ線ビーム強度の情報を形成するフォトダイオード電流によ
り分割されるように、データ出力９及び１０と結合している、模式的に示す分割
手段を有する。出力ＬＳに送られた分担により、所定のＸ線ビームでの吸収の程
度の尺度を提供する。
【００２１】 また、出力９は電圧制御端子１１のＸ線源電圧情報を提供し、その電圧はＸ線
源ビームのエネルギーのスペクトル周波数範囲を表わし、吸収の計算された程度
は、相互に異なる源電圧でのさまざなま材料からなる吸収手段の吸収速度を比較
するために、スペクトル周波数に対して修正される。同様の修正は必要とみなさ
れるときはいつでも適用され、Ｘ線画像装置４も画像増強手段の画像フォーマッ
トに依存する前述の排除レベルの修正、及び/又はいわゆるＳＩＤに依存する排
除レベルの修正は、Ｘ線源チューブとＸ線画像手段４との間の距離に関するもの
である。
源ビームのエネルギーのスペクトル周波数範囲を表わし、吸収の計算された程度
は、相互に異なる源電圧でのさまざなま材料からなる吸収手段の吸収速度を比較
するために、スペクトル周波数に対して修正される。同様の修正は必要とみなさ
れるときはいつでも適用され、Ｘ線画像装置４も画像増強手段の画像フォーマッ
トに依存する前述の排除レベルの修正、及び/又はいわゆるＳＩＤに依存する排
除レベルの修正は、Ｘ線源チューブとＸ線画像手段４との間の距離に関するもの
である。
【図１】 本発明によるＸ線検査装置の実行可能な実施例を示す図である。
【図２】 本発明を説明するためのＸ線画像のピクセルを含有するヒストグラムの例を示
す図である。
す図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ２１Ｋ 5/00 Ｇ２１Ｋ 5/00 Ａ 5/02 5/02 Ｘ (72)発明者 ファン ベルケル，アルノルドゥス ペー エル オランダ国，5656 アーアー アインドー フェン， プロフ・ホルストラーン ６ Ｆターム(参考） 4C092 AA01 AB13 AB22 AC01 AC04 AC11 BD14 CC03 CD07 CF14 CF24 DD07 4C093 AA30 CA36 CA50 EA11 EB02 FA15 FA45 FA60 FD01 FD03 FD09 FD20
Claims (6)
- 【請求項１】 Ｘ線を発するＸ線源と、 Ｘ線画像から画像信号を得るためのＸ線検出器と、 前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器との間に配設されたＸ線フィルタと、 前記Ｘ線画像に基づいてＸ線検査装置を調整するための輝度制御システムとを
具備するＸ線検査装置であって、 前記輝度制御システムは、 前記Ｘ線のエネルギーと前記フィルタの組成からの、前記Ｘ線フィルタのＸ線
吸収性を表わす閾値を得て、 前記閾値よりも主に大きな輝度値を有する一部のＸ線画像に基づいて、前記Ｘ
線検査装置が調整されるように配設されることを特徴とするＸ線検査装置。 - 【請求項２】 前記輝度システムはＸ線源と結合し、制御信号に基づいてＸ
線源を調整し、 前記輝度制御システムは前記閾値よりも主に大きな輝度値を有するＸ線画像の
部分から制御信号を得るように配設されることを特徴とする、請求項１に記載の
Ｘ線検査装置。 - 【請求項３】 前記輝度制御システムは閾値よりも主に大きな輝度値を有す
るＸ線画像の部分の平均輝度値に基づいてＸ線検査装置を調整するように配設さ
れることを特徴とする、請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。 - 【請求項４】 Ｘ線を発するＸ線源と、 Ｘ線画像から光学画像を得るＸ線画像増強装置と、 前記Ｘ線源と前記Ｘ線画像増強装置との間に配設されたＸ線フィルタと、 Ｘ線検査装置を調整する輝度制御システムとを具備するＸ線検査装置であって
、 前記輝度制御システムは、 前記Ｘ線のエネルギーと前記フィルタの組成から、前記Ｘ線フィルタのＸ線吸
収性を表わす閾値を得て、 前記閾値よりも主に大きい輝度値を有する一部の光学画像に基づき前記Ｘ線検
査装置を調整するように配設されたことを特徴とするＸ線検査装置。 - 【請求項５】 前記Ｘ線源は電流供給源を装備しており、前記Ｘ線源へ電流
を供給し、 前記輝度制御システムは少なくとも一部の光学画像の光強度を測定し、測定し
た光強度を表わす光検出器信号を発生させる光検出器を具備し、 前記電流と前記光検出器信号の信号レベルの比と同等な吸収比を誘導し、 基準輝度に対する光学画像の各々の輝度値の比と同等な一つ以上の相対輝度を
誘導し、 前記閾値以下の相対輝度値に対する吸収の比の主な割合を有する一部の光学画
像に基づいて、前記Ｘ線検査装置を調整するように配設されることを特徴とする
、請求項４に記載のＸ線検査装置。 - 【請求項６】 前記輝度制御システムは前記Ｘ線源と結合して制御信号に基
づいて前記Ｘ線源を調整し、 前記輝度制御システムは前記閾値以下の前記相対輝度値に対する吸収の比の主
な割合を有するＸ線画像の部分から前記制御信号を得るように配設させることを
特徴とする、請求項５に記載のＸ線検査装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP99201059 | 1999-04-02 | ||
| EP99201059.5 | 1999-04-02 | ||
| PCT/EP2000/002595 WO2000060908A1 (en) | 1999-04-02 | 2000-03-22 | X-ray examination apparatus with a brightness control system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002541639A true JP2002541639A (ja) | 2002-12-03 |
Family
ID=8240063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000610260A Pending JP2002541639A (ja) | 1999-04-02 | 2000-03-22 | 輝度制御システムを有するｘ線検査装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6333965B1 (ja) |
| EP (1) | EP1082881A1 (ja) |
| JP (1) | JP2002541639A (ja) |
| WO (1) | WO2000060908A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100543278B1 (ko) * | 2001-10-11 | 2006-01-20 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 색 변환 장치 및 색 변환 방법 |
| EP1493389A1 (de) * | 2003-07-01 | 2005-01-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Einrichtung zum Erzeugen eines Röntgenbildes aus der Fokusregion eines Lithotripters |
| DE102005017489A1 (de) * | 2005-04-15 | 2006-10-19 | Siemens Ag | Verfahren zum Regeln der Dosis oder der Dosisleistung beim Aufnehmen von Röntgenbildern |
| CN101740155B (zh) * | 2008-11-19 | 2012-03-28 | 同方威视技术股份有限公司 | 辐射屏蔽装置以及辐照系统 |
| RU2431196C1 (ru) * | 2010-03-31 | 2011-10-10 | Закрытое Акционерное Общество "Импульс" | Способ определения уровня яркости в зоне интереса цифрового медицинского рентгеновского изображения |
| CN107424889A (zh) | 2012-02-28 | 2017-12-01 | X射线光学系统公司 | 具有使用多材料x射线管阳极和单色光学装置产生的多激励能带的x射线分析器 |
| DE102012216269A1 (de) * | 2012-09-13 | 2014-03-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgensystem und Verfahren zur Erzeugung von Bilddaten |
| CN103211607B (zh) * | 2013-04-28 | 2015-06-03 | 北京东方惠尔图像技术有限公司 | X光机及其控制方法和装置 |
| DE102013219249A1 (de) * | 2013-09-25 | 2015-03-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und System zur automatischen Auswahl eines Scanprotokolls |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2546948C3 (de) * | 1975-10-20 | 1980-05-29 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Röntgendiagnostikanlage für Röntgenaufnahmen mit Mitteln zur organprogrammierten Einstellung der Aufnahmewerte sowie mit einem Röntgenbelichtungsautomaten |
| NL9100019A (nl) | 1991-01-09 | 1992-08-03 | Philips Nv | Roentgenonderzoekapparaat. |
| EP0629105B1 (en) | 1993-05-21 | 1999-08-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus and visible image detection system for an X-ray examination apparatus |
| US5461658A (en) * | 1993-05-21 | 1995-10-24 | U.S. Philips Corporation | X-ray examination apparatus |
| EP0746966B1 (en) * | 1994-12-23 | 2003-07-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus comprising an exposure control circuit |
| US5574764A (en) * | 1995-06-06 | 1996-11-12 | General Electric Company | Digital brightness detector |
| US5675624A (en) * | 1995-12-14 | 1997-10-07 | General Electric Company | Adaptive x-ray brightness and display control for a medical imaging system |
| WO1998048599A2 (en) * | 1997-04-24 | 1998-10-29 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Exposure control on the basis of a relevant part of an x-ray image |
| JP4424758B2 (ja) * | 1997-04-24 | 2010-03-03 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 露出制御システムを含むｘ線検査装置 |
-
2000
- 2000-03-22 WO PCT/EP2000/002595 patent/WO2000060908A1/en active Application Filing
- 2000-03-22 JP JP2000610260A patent/JP2002541639A/ja active Pending
- 2000-03-22 EP EP00914166A patent/EP1082881A1/en not_active Withdrawn
- 2000-03-30 US US09/539,910 patent/US6333965B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2000060908A1 (en) | 2000-10-12 |
| US6333965B1 (en) | 2001-12-25 |
| EP1082881A1 (en) | 2001-03-14 |
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