JPH1033523A

JPH1033523A - Ｘ線ｃｔ装置

Info

Publication number: JPH1033523A
Application number: JP8212124A
Authority: JP
Inventors: Koichi Hirokawa; 浩一廣川; Yusuke Shimizu; 祐介清水
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 1996-07-24
Filing date: 1996-07-24
Publication date: 1998-02-10

Abstract

(57)【要約】【課題】Ｘ線ＣＴ装置において、無効被曝を生ずること
なく、ＣＴ値コントラストのスライス厚さ依存性を低減
し、ＣＴ値による定量的な診断を可能とする。【解決手段】Ｘ線ＣＴ装置のＸ線検出器５からの検出信
号を数値化した計測データを用いて画像処理を行う画像
処理装置１４内にて、画像データを作成する逆投影器１
９の後段に、Ｘ線管電圧ｖ、スライス厚さｔ、被検体サ
イズｓに応じて画素値のコントラスト及びレベルの補正
を行うＣＴ値コントラスト・レベル補正器２４を設け
た。これにより、ＣＴ値コントラストのスライス厚さ依
存性を効果的に実用レベルにまで低減し、Ｘ線管電圧、
スライス厚さ、被検体サイズに関わらず、適切な画素値
のコントラスト及びレベルを保つことができ、もって、
画素値を正しいＣＴ値と見なして行う、いわゆる、ＣＴ
値による定量的な診断が可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線により断層画
像を得るＸ線ＣＴ装置に関し、特に、ＣＴ値を用いた定
量的な診断を可能にしたＸ線ＣＴ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】診断のためにＸ線により被検体である人
体などの断層画像を得るＸ線ＣＴ装置では、一般に、計
測位置の被検体を中心にして対向配置されたＸ線管球と
Ｘ線検出器とを備え、これらを上記被検体の周りに回転
すると共に、上記Ｘ線管球から被検体にＸ線を放射し、
その透過Ｘ線をＸ線検出器で検出し、この検出信号を計
測回路などにより増幅及び数値化し、その数値化された
計測データを画像処理装置によって画像化することによ
り、診断部位の断層画像を提供する。

【０００３】従来のこの種のＸ線ＣＴ装置は、図５に示
すように、被検体２を寝載する天板１と、上記天板１上
に被検体２を寝載して該被検体２を計測位置へ移動させ
る被検体テーブル３と、スキャナ９と、画像処理装置１
４と、操作卓１５などを有して成っていた。なお、上記
スキャナ９においては、上記計測位置の被検体２を中心
にしてＸ線管球４とＸ線検出器５とが対向配置されると
共に、上記被検体２の周りに回転されるＸ線管球４から
は、被検体２に対してＸ線コリメータ６によって適切な
スライス厚さに制限されたＸ線ビーム７を放射し、被検
体２を透過したＸ線をＸ線検出器５によって検出し、計
測回路８によって増幅及び数値化する。

【０００４】また、Ｘ線ＣＴ装置は、上記スキャナ９を
回転させるスキャナ駆動装置１０を備え、さらに、上記
スキャナ駆動装置１０と上記Ｘ線コリメータ６と上記被
検体テーブル３とを制御するスキャナ・テーブル制御装
置１１と、上記Ｘ線管球４に高電圧を印加する高電圧発
生装置１２と、上記Ｘ線管球４からのＸ線の放射を制御
するＸ線制御装置１３とを有している。また、上記画像
処理装置１４は、上記計測回路８の出力を用いて画像処
理を行い、所望の断層画像データを作成する。上記操作
卓１５では、上記画像処理装置１４からの画像データを
実際に画像として表示すると共に、操作指令や計測条件
を入力する。

【０００５】なお、上記画像処理装置１４は、上記計測
回路８からの出力データに対して対数変換を施す対数変
換器１６と、この対数変換器１６からの出力データに対
し、上記Ｘ線管球４で発生したＸ線の変動や、上記Ｘ線
検出器５（一般的には多チャンネル形）及び計測回路８
（一般的には多チャンネル形）におけるチャンネル間の
感度の不均一（いわゆる、ばらつき）等を補正する前処
理器１７と、この前処理器１７からの出力データに対
し、いわゆる、ぼけを補正するためのフィルタリングを
行うフィルタリング器１８と、このフィルタリング器１
８からの出力データを逆投影して画像データ化する逆投
影器１９と、この逆投影器１９からの画像データに対し
てＣＴ値のレベル補正を行うＣＴ値レベル補正器２０と
から成る。また、符号２１は、ＣＴ値レベル補正後の画
像データを格納しておく画像ファイル装置、符号２２
は、上記操作卓１５に設置されたテレビモニタなどの画
像表示装置を示している。

【０００６】次に、上記図５に示した従来のＸ線ＣＴ装
置における断層画像の計測方法について、図６に示すフ
ローチャートを参照して説明する。まず、操作者は、図
５に示した操作卓１５を用いて、被検体２の断層画像の
計測に必要な種々の操作指令や計測条件を入力する（ス
テップＡ）。次に、これら入力された操作指令や計測条
件から、必要な制御信号を、画像処理装置１４を介して
スキャナ・テーブル制御装置１１とＸ線制御装置１３に
送り、計測準備動作をする（ステップＢ）。次に、上記
スキャナ・テーブル制御装置１１とＸ線制御装置１３か
ら、スキャナ駆動装置１０、Ｘ線コリメータ６、被検体
テーブル３、並びに、高電圧発生装置１２などに制御信
号を送り、所定条件で断層画像の計測が行えるよう一連
の制御を行って、計測開始の判断ステップ、いわゆる、
計測開始の命令待ちの状態になる（ステップＣ）。そし
て、操作者が操作卓１５を用いて計測開始命令を入力す
ると、上記ステップＣでは、「ＹＥＳ」と判定され、そ
の結果処理が進んでステップＤに入り、被検体２の断層
画像の計測を開始する。

【０００７】これにより、上記図５においては、Ｘ線管
球４から放射されたＸ線は、Ｘ線コリメータ６により所
望のスライス厚さに制御された後、被検体２を透過す
る。この透過Ｘ線をＸ線検出器５によって検出し、Ｘ線
検出器５は検出信号を計測回路８へ送る。この計測回路
８は、スキャナ９が被検体２を中心にして回転する間
に、多数の方向（角度サンプリング点）において、多チ
ャンネル形Ｘ線検出器５の各チャンネルからの出力を増
幅し、これをＡ／Ｄ変換して数値データ化した上で、上
記画像処理装置１４へ送る（ステップＥ）。

【０００８】上記画像処理装置１４内では、計測回路８
の出力データに対して対数変換器１６で対数変換を行い
（ステップＦ）、次に、前処理器１７でＸ線の変動や、
Ｘ線検出器５及び計測回路８のチャンネル間感度のばら
つき等を補正する（ステップＧ）。さらに、フィルタリ
ング器１８では、ぼけ補正のためのフィルタリングを行
い（ステップＨ）、逆投影器１９ではフィルタリング器
１８からの出力データを逆投影して画像データ化し（ス
テップＩ）、さらに、ＣＴ値レベル補正器２０では、画
像データの各画素値（理想的にはＣＴ値を表わす）に対
してレベル補正を行い、これにより、水に対する画像デ
ータの画素値が０になるようにする（ステップＪ）。な
お、このＣＴ値レベル補正後の画像データは、その後に
おいても再度あらためて観察できるよう、上記画像ファ
イル装置２１内に格納されると共に、操作卓１５に設置
された画像表示装置２２上に表示される（ステップ
Ｋ）。

【０００９】ここで、上記のＣＴ値レベル補正は、次の
式のように表わされる。

【数１】ただし、この数式において、Ｐ（ｉ，ｊ）は、上記逆投
影器１９で作成された画像データにおける画素、すなわ
ち、Ｘ座標＝ｉ、Ｙ座標＝ｊにおける画素の値を示す。
また、Ｃ₀（ｖ，ｔ，ｓ）は、水に対する画素値が０に
なるように定めたレベル補正値であり、Ｘ線管電圧ｖと
スライス厚さｔと被検体サイズｓの関数である。Ｐ’
（ｉ，ｊ）は、ＣＴ値レベル補正後の画像データのＸ座
標＝ｉ、Ｙ座標＝ｊにおける画素の値を示す。

【００１０】また、上記の式〔数１〕における被検体サ
イズｓは、例えば次の式のように表わされる。

【数２】ただし、ここで、Ｒ（ｋ，ｍ）は検出器５のチャネル番
号＝ｋ、角度サンプリング点の番号＝ｍに対応する、前
処理済みデータ（前処理器１７の出力データ）である。
そして、上記〔数２〕式における右辺は、全てのｋ，ｍ
についてのＲ（ｋ，ｍ）の和をとることを意味する。

【００１１】次のステップＬでは、被検体２について、
スライス方向の所定の範囲の分だけ断層画像を計測し終
えたかどうか、すなわち、必要な枚数の断層画像を計測
し終えたかどうかを判断している。このステップＬにお
いて、画像処理装置１４が必要な枚数の断層画像を計測
し終えていないと判断すると、上記ステップは「ＮＯ」
側へ進みステップＭへ移行する。このステップＭでは、
上記スキャナ・テーブル制御装置１１からの制御信号を
受けて、被検体テーブル３により天板１を移動させ、次
の断層画像を計測するための位置に設定し、上記ステッ
プＥからの処理を順次実行して次の断層画像の計測を行
う。一方、画像処理装置１４が、必要な枚数の断層画像
を計測し終えたと判断すると、上記ステップＬでは「Ｙ
ＥＳ」側へ進み、最終的に断層画像の計測を終了する。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】前述したような従来の
Ｘ線ＣＴ装置で得られる断層画像においては、通常よく
用いられる５ｍｍ、あるいは１０ｍｍ程度のスライス厚
さでは、水に対する画素値と空気に対する画素値との差
（ＣＴ値コントラスト）は１０００±５程度であるが、
しかしながら、上記のスライス厚さより薄いスライス厚
さ、例えば２ｍｍ程度のスライス厚さでは、ＣＴ値コン
トラストが１〜２％程度減少する。このＣＴ値コントラ
ストに関するこの程度のスライス厚さへの依存性は、従
来のように断層画像による形態診断やＣＴ値差の有無を
判別する程度の診断を行う場合には特に障害となる問題
ではないが、しかしながら、ＣＴ値そのものを用いた定
量的な診断を意図する場合には、診断の可能・不可能を
左右する重大な問題となる。

【００１３】そこで、本発明は、上記の従来技術におけ
る問題点に鑑み、ＣＴ値コントラストのスライス厚さ依
存性を効果的に実用レベルにまで低減し、ＣＴ値による
定量的な診断を可能とするＸ線ＣＴ装置を提供すること
を目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明は、画像データの
ＣＴ値レベルに加え、画像データのＣＴ値コントラスト
を、ＣＴスキャナのＸ線管球に対するＸ線管電圧、該ス
キャナのＸ線コリメータによるスライス厚さ、あるい
は、被検体のサイズを含む要素に応じて補正することを
特徴とするＸ線ＣＴ装置を開示する。

【００１５】すなわち、本発明によれば、Ｘ線ＣＴ装置
において、上記画像処理装置内にて逆投影器からの画像
データに対してＣＴ値のレベル補正を行う従来のＣＴ値
レベル補正手段に代えて、画像データのＣＴ値レベル、
及び、ＣＴ値コントラストを、Ｘ線管電圧やスライス厚
さや被検体サイズに応じて補正するものである。

【００１６】ここで、まず、ＣＴ値コントラストがスラ
イス厚さ依存性を持つ原因について、添付の図３を参照
しながら説明する。この図３において、Ｘ線コリメータ
６は、２枚１組の金属板と、図示しないコリメータ駆動
装置とから成り、スキャナ・テーブル制御装置１１（こ
こでは図示せず）からの制御信号を受け、所望のスライ
ス厚さを得るために、適切な開口幅に設定される。そし
て、Ｘ線管球４（ここでは図示せず）内のＸ線焦点２３
で発生されたＸ線は、このＸ線コリメータ６により、適
切なスライス厚さに制限されたＸ線ビーム７となる。こ
こで、上記Ｘ線ビーム７の部分７Ｂ及び７Ｂ’（いわゆ
る半影）は、Ｘ線コリメータ６の金属板のエッジ部分で
減衰させられたＸ線を含んでいる。このような減衰を受
けたＸ線の平均エネルギーは、減衰されない元のＸ線の
平均エネルギーより高くなることが知られており、その
ように、Ｘ線の減衰と共にＸ線の平均エネルギーが高く
なる効果は、いわゆる、ビームハードニング効果と呼ば
れているものである。

【００１７】そして、図３の（ａ）及び（ｂ）に示すご
とく、上記のスライス厚さが薄くなる程、Ｘ線ビーム７
に占める減衰されたＸ線を含む部分７Ｂ及び７Ｂ’の割
合は高くなる。その結果、スライス厚さが薄い程、Ｘ線
ビーム７の平均エネルギーは高くなり、これにより、Ｃ
Ｔ値のコントラストが減少することとなるものである。

【００１８】以上に述べたＣＴ値コントラストのスライ
ス厚さ依存性を低減する方法の一つとして、例えば図４
に示すように、被検体２とＸ線検出器５との間にもう一
つのＸ線コリメータ６’（ポストペイシェントコリメー
タ、などと呼ばれる）を設け、Ｘ線検出器５には、上記
Ｘ線ビーム７のうちその一部分７Ａのみが入射するよう
にする方法が考えられる。しかしながら、この方法で
は、被検体２を透過したＸ線のうちに計測に利用できな
い部分を生じる、すなわち無効被曝を生ずることとな
り、被検体に対するＸ線被曝量の低減という観点から
も、ＣＴ値コントラスト補正の方法としては一般的に採
用すべき方法ではない。

【００１９】そこで、本発明では、上記のように、上記
画像処理装内にて逆投影器からの画像データに対してＣ
Ｔ値のレベル補正を行うＣＴ値レベル補正手段に代え
て、画像データのＣＴ値コントラスト及びＣＴ値レベル
をＸ線管電圧やスライス厚さや被検体サイズに応じて補
正する手段を設けることにより、上記のような無効被曝
を生ずることなく、ＣＴ値コントラストのスライス厚さ
依存性を効果的に実用レベルにまで低減し、ＣＴ値によ
る定量的な診断を可能とするＸ線ＣＴ装置を提供するも
のである。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態になる
Ｘ線ＣＴ装置について、添付の図面に基づいて詳細に説
明する。図１は、本発明によるＸ線ＣＴ装置の実施形態
の一例を示す全体構成のブロック図である。図にも示す
ように、このＸ線ＣＴ装置においても上記従来のＸ線Ｃ
Ｔ装置と同様に、計測位置の被検体２を中心にして対向
配置されたＸ線管球４とＸ線検出器５とを上記被検体２
の周りに回転すると共に、該Ｘ線管球４から被検体２に
Ｘ線を放射し、その透過Ｘ線をＸ線検出器５で検出して
診断部位の断層画像を計測して表示するものである。す
なわち、図１に示すように、本発明のＸ線ＣＴ装置で
も、被検体テーブル３と、スキャナ９と、スキャナ駆動
装置１０と、スキャナ・テーブル制御装置１１と、高電
圧発生装置１２と、Ｘ線制御装置１３と、画像処理装置
１４と、そして、操作卓１５とを有しており、これら各
部の機能は上記従来のＸ線ＣＴ装置のそれらと同様であ
る。

【００２１】まず、上記被検体テーブル３は、天板１上
に被検体２を寝載し、該被検体２を後述するスキャナ９
の計測位置へ移動させるものであり、上記天板１は図中
の矢印Ｐ、Ｑの方向に移動可能である。ここで、スキャ
ナ９は、機能的には、上記天板１上に寝載されて計測位
置へ移動された被検体２に対してＸ線を放射すると共
に、その透過Ｘ線を検出するためのものであり、構造的
には、中心部に被検体２を挿入するための開口部を有
し、Ｘ線管球４とＸ線検出器５とが対向配置され、スキ
ャナ駆動装置１０により所定方向に回転されるようにな
っている。これにより、上記Ｘ線管球４とＸ線検出器５
とが被検体２の周りに回転され、この時、Ｘ線管球４か
ら放射されたＸ線は所定の開口幅に設定されたＸ線コリ
メータ６によってスライス方向に制限されたＸ線ビーム
７となって被検体２に照射され、この被検体２を透過し
た透過Ｘ線が、いわゆる多チャンネル形のＸ線検出器５
で検出される。

【００２２】そして、上記多チャンネル形のＸ線検出器
５から出力された検出信号は、やはり、計測回路８によ
って増幅されると共にＡ／Ｄ変換され、数値データ化さ
れて出力されるようになっている。なお、スキャナ駆動
装置１０、Ｘ線コリメータ６、そして、被検体テーブル
３は、スキャナ・テーブル制御装置１１から送られる制
御信号により所定の動作を行う。なお、スキャナ・テー
ブル制御装置１１は、同様に、画像処理装置１４を介し
て計測に必要な制御信号が入力され、そして、スキャナ
９の回転速度や回転回数、Ｘ線コリメータ６の開口幅、
上記天板１の設定位置などの制御信号を、上記スキャナ
駆動装置１０、Ｘ線コリメータ６、及び、被検体テーブ
ル３に送出するようになっている。

【００２３】高電圧発生装置１２は、上記スキャナ９内
のＸ線管球４に高電圧を印加するものであり、後述のＸ
線制御装置１３から送られる制御信号により動作し、所
定の電圧値と電流値を所定のタイミングでＸ線管球４に
印加するようになっている。なお、このＸ線制御装置１
３は、上記Ｘ線管球４からのＸ線の放射を制御するもの
で、上記画像処理装置１４を介して計測に必要な制御信
号が入力され、Ｘ線管電圧、Ｘ線管電流、及び、Ｘ線放
射のタイミングなどの制御信号を、上記高電圧発生装置
１２へ送出するようになっている。

【００２４】また、上記の画像処理装置１４は、やは
り、上記スキャナ９内の計測回路８で数値化した計測デ
ータを用いて画像処理を行うもので、上記計測回路８か
らの出力データに対して対数変換を施すための対数変換
器１６と、この対数変換器１６からの出力データに対
し、上記Ｘ線管球４で発生したＸ線の変動、Ｘ線検出器
５（一般的には多チャンネル形）及び計測回路８（一般
的には多チャンネル形）の各チャンネル間での感度のば
らつき等を補正する前処理器１７と、この前処理器１７
からの出力データに対してぼけ補正のためのフィルタリ
ングを行うフィルタリング器１８と、このフィルタリン
グ器１８からの出力データを逆投影して画像データ化す
る逆投影器１９と、この逆投影器１９からの画像データ
に対してＣＴ値のコントラスト補正及びレベル補正を行
うＣＴ値コントラスト・レベル補正器２４と、このＣＴ
値コントラスト・レベル補正後の画像データを格納して
おく画像ファイル装置２１とから成ることは、上記と同
様である。

【００２５】さらに、操作卓１５も、上記画像処理装置
１４で作成され出力された画像データを入力して画像と
して表示すると共に、各種の操作指令や計測条件を入力
するもので、一部にテレビモニタなどの画像表示装置２
２を備えている。

【００２６】ここで、本発明においては、上記画像処理
装置１４内において、従来のＸ線ＣＴ装置のＣＴ値レベ
ル補正器２０に代えて、逆投影器１９からの画像データ
に対し、Ｘ線管電圧、スライス厚さ、あるいは、被検体
サイズに応じて、上記ＣＴ値のレベルの補正を行うだけ
ではなく、さらに、上記ＣＴ値のコントラストの補正を
も行うための手段である、ＣＴ値コントラスト・レベル
補正器２４が設けられている。

【００２７】次に、このように構成された本発明のＸ線
ＣＴ装置における断層画像の計測方法について、添付の
図２に示すフローチャートを参照して説明する。なお、
本発明のＸ線ＣＴ装置における断層画像の計測方法は、
そのステップＪを除いて上記図４に示す従来のＸ線ＣＴ
装置のフローとほぼ同様であるが、但し、上記ステップ
Ｊに代えて、ステップＪ’を設けた点において異なる。
そこで、以下の説明においては、上記図４に示す手順
（ステップＡ〜Ｉ及びステップＫ〜Ｍ）については説明
を省略し、上記ステップＪに代えて設けられたステップ
Ｊ’を中心に、その内容とこれによる相違点について説
明することとする。

【００２８】まず、処理が開始すると、ステップＡ→Ｂ
→Ｃ→Ｄ→Ｅ→Ｆ→Ｇ→Ｈ→Ｉの順に処理が進み、ステ
ップＩでは、逆投影器１９で作成された画像データがＣ
Ｔ値コントラスト・レベル補正器２４へ送られることは
上記と同様である。そして、ＣＴ値コントラスト・レベ
ル補正器２４においては、逆投影器１９から送られてき
た画像データに対して、例えば後述の式〔数３〕のよう
にして、Ｘ線管電圧やスライス厚さや被検体サイズに応
じたＣＴ値のコントラスト補正及びレベル補正が行われ
る（ステップＪ’）。

【数３】ただし、ここで、Ｐ（ｉ，ｊ）は逆投影器１９で作成さ
れた画像データにおけるＸ座標＝ｉ、Ｙ座標＝ｊの画素
の値を示し、Ｐ（ｉ，ｊ）nは、上記Ｐ（ｉ，ｊ）のｎ
乗を示す。なお、この式において、ｎは最大で１であ
る。また、Ｃ_n（ｖ，ｔ，ｓ）は、水に対する画素値が
０に、空気に対する画素値が−１０００になるように、
画素値のコントラストとレベルを補正するためのｎ次の
項の係数であり、Ｘ線管電圧ｖと、スライス厚さｔと、
そして、被検体サイズｓの関数となっている。また、上
記〔数３〕の右項は、ｎ＝０〜１について、（Ｃ
_n（ｖ，ｔ，ｓ）＊Ｐ（ｉ，ｊ）n）の和をとることを意
味する。なお、Ｐ”（ｉ，ｊ）は、ＣＴ値コントラスト
・レベル補正後の画像データにおけるＸ座標＝ｉ、Ｙ座
標＝ｊの画素の値を示す。

【００２９】なお、上記〔数３〕における被検体サイズ
ｓは、例えば、既に述べた〔数２〕のように表わされ
る。また、上記〔数３〕におけるＣ₁（ｖ，ｔ，ｓ）、
及び、Ｃ₀（ｖ，ｔ，ｓ）は、以下のようにして定めら
れる。

【００３０】まず、予め、Ｘ線ＣＴ装置で各Ｘ線管電圧
と各スライス厚さにより、数種類の直径の水ファントム
（アクリル等の比較的Ｘ線吸収係数の小さい樹脂製の円
簡容器に水を満たしたもの）について断層画像計測を行
い、ファントム内の水に対応する画素値とファントムの
周囲の空気に対応する画素値との差ｄ、及び、上記〔数
２〕で計算されるサイズ値ｓを測定する。

【００３１】ここで、上記ｄが、上記の〔数３〕で用い
られているｖ、ｔ、ｓの関数により、次式のように表わ
されるとすれば、

【数４】コントラスト補正係数Ｃ₁（ｖ，ｔ．ｓ）は、上記Ｄ
（ｖ，ｔ，ｓ）の逆関数として下記の式として求められ
る。

【数５】また、上記のコントラスト補正係数Ｃ₁（ｖ，ｔ，ｓ）
によって、コントラスト補正を行った後の各水ファント
ムの水に対応する画素値（充分な画素数で平均化した値
とする）ｑが、次のような関数であるとすれば、

【数６】レベル補正定数Ｃ₀（ｖ，ｔ，ｓ）は、下記の式として
求められる。

【数７】

【００３２】以上のようにして求められたコントラスト
補正係数Ｃ₁（ｖ，ｔ，ｓ）、レベル補正定数Ｃ₀（ｖ，
ｔ，ｓ）を用いて、上記〔数３〕によるＣＴ値コントラ
スト・レベル補正を行った（ステップＪ’）後、やは
り、上記図６に示す手順と同様に、ステップＫ→ステッ
プＬと進み、上記ステップＬでは、画像処理装置１４が
必要な枚数の断層画像を計測し終えていないと判断する
と、「ＮＯ」側へ進んでステップＭ→ステップＥへと進
み、次の断層画像を計測する。一方、上記ステップＬ
で、画像処理装置１４が必要な枚数の断層画像を計測し
終えたと判断すると、「ＹＥＳ」側へ進んで、最終的に
断層画像の計測を終了する。

【００３３】以上の過程で、ステップＫにおいて画像フ
ァイル装置２１に格納された画像データ及び操作卓１５
に設置された画像表示装置２２に表示された画像は、上
記のステップＪ’において、Ｘ線管電圧（ｖ）、スライ
ス厚さ（ｔ）、被検体サイズ（ｓ）に応じて、ＣＴ値コ
ントラスト補正が行われているため、常に、水に対する
画素値と空気に対する画素値との差（ＣＴ値コントラス
ト）が１０００±５程度になるよう補正されており、そ
のため、ＣＴ値を用いた定量的な診断が可能となってい
る。

【００３４】なお、本発明の他の実施の形態として、画
素値の基準を水と空気だけでなく、合計Ｎ種類の物質に
よって定め、上記の〔数３〕の代わりに、次の〔数８〕
によって画素値を補正するようにしてもよい。

【数８】

【００３５】また、上記の実施の形態では、計測された
信号から画像データを作成する逆投影手段である逆投影
器１９の後段に、従来のＣＴ値レベル補正器に代えて、
画像データの画素値のレベルだけではなく、画像データ
の画素値のコントラストとそのレベルの両者を、Ｘ線管
再圧、スライス厚さ、被検体サイズに応じて、適切に補
正するＣＴ値コントラスト・レベル補正手段を設けてい
るが、これに代え、従来のＣＴ値レベル補正器の前段
に、画像データの画素値のコントラストを、Ｘ線管再
圧、スライス厚さ、被検体サイズに応じて、適切に補正
するＣＴ値コントラスト補正手段を設ける構成とするこ
とも可能である。加えて、かかる補正処理は、上記の演
算式に限らず、各種の補正演算を必要により入力して実
行できるように、小型の演算処理装置（ＣＰＵ、ＭＰ
Ｕ）を備えた上記画像処理装置１４内にて、すなわち、
Ｘ線ＣＴ装置のＸ線検出器５からの検出信号を数値化し
た計測データを用いて、ディジタル的に画像処理を行う
ことが、経済性等を含む種々の面からも好ましいであろ
う。

【００３６】

【発明の効果】以上の詳細な説明からも明らかなよう
に、本発明になるＸ線ＣＴ装置によれば、Ｘ線検出器か
らの検出信号を数値化した計測データを用いて画像処理
を行う画像処理装置内にて、Ｘ線管電圧、スライス厚
さ、被検体サイズに応じて画像データの画素値のコント
ラストを適切に補正する補正手段を設けたことにより、
Ｘ線管電圧、スライス厚さ、被検体サイズに関わらず、
適切な画素値のコントラストを保つことができ、これに
より、画素値を正しいＣＴ値と見なして行う、いわゆ
る、ＣＴ値による定量的な診断が可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるＸ線ＣＴ装置の実施の形態を示す
全体構成のブロック図である。

【図２】本発明によるＸ線ＣＴ装置における断層画像の
計測方法の手順を示すフローチャート図である。

【図３】Ｘ線コリメータの効果を説明する説明図であ
り、Ｘ線コリメータの開口幅が比較的広い場合及びＸ線
コリメータの開口幅が比較的狭い場合の効果を説明す
る。

【図４】ポストペイシェントコリメータの効果を説明す
るための説明図である。

【図５】従来のＸ線ＣＴ装置の全体構成を示すブロック
図である。

【図６】上記従来のＸ線ＣＴ装置における断層画像の計
測方法の手順の代表的な一例を示すフローチャート図で
ある。

【符号の説明】

１天板２被検体３被検体テーブル４Ｘ線管球５Ｘ線検出器６Ｘ線コリメータ６’ ポストペイシェントコリメータ７Ｘ線ビーム７ＡＸ線ビームの本影７ＢＸ線ビームの半影７Ｂ’ Ｘ線ビームの半影８計測回路９スキャナ１０スキャナ駆動装置１１スキャナ・テーブル制御装置１２高電圧発生装置１３Ｘ線制御装置１４画像処理装置１５操作卓１６対数変換器１７前処理器１８フィルタリング器１９逆投影器２０ＣＴ値レベル補正器２１画像ファイル装置２２画像表示装置２３Ｘ線焦点２４ＣＴ値コントラスト・レベル補正器

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画像データのＣＴ値レベルに加え、画像デ
ータのＣＴ値コントラストを、ＣＴスキャナのＸ線管球
に対するＸ線管電圧、該スキャナのＸ線コリメータによ
るスライス厚さ、あるいは、被検体のサイズを含む要素
に応じて補正することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。