JP3402776B2 - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
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- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 38
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 30
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 4
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 3
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 235000008733 Citrus aurantifolia Nutrition 0.000 description 1
- 101000911772 Homo sapiens Hsc70-interacting protein Proteins 0.000 description 1
- 235000001537 Ribes X gardonianum Nutrition 0.000 description 1
- 235000001535 Ribes X utile Nutrition 0.000 description 1
- 235000016919 Ribes petraeum Nutrition 0.000 description 1
- 244000281247 Ribes rubrum Species 0.000 description 1
- 235000002355 Ribes spicatum Nutrition 0.000 description 1
- 235000011941 Tilia x europaea Nutrition 0.000 description 1
- 229920006397 acrylic thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000004571 lime Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- ISXSCDLOGDJUNJ-UHFFFAOYSA-N tert-butyl prop-2-enoate Chemical compound CC(C)(C)OC(=O)C=C ISXSCDLOGDJUNJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線診断装置に係わ
り、特に、Ｘ線の出力レベルを変化させる管電圧、管電
流、照射時間等のＸ線出力条件を決定する技術に関す
る。
り、特に、Ｘ線の出力レベルを変化させる管電圧、管電
流、照射時間等のＸ線出力条件を決定する技術に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、Ｘ線診断装置において、Ｘ線の出
力レベルを変化させる管電圧、管電流、照射時間等のＸ
線出力条件を決定する方法として、Ｉ．Ｉ（イメージイ
ンテンシファイア）出力光をモニタし、その光量が、所
定のレベルになるようにＸ線出力条件をフィードバック
制御していた。なお、前記フィードバック制御するＸ線
出力条件としては、制御の容易性から管電圧を変化させ
る方式が多く用いられていた。
力レベルを変化させる管電圧、管電流、照射時間等のＸ
線出力条件を決定する方法として、Ｉ．Ｉ（イメージイ
ンテンシファイア）出力光をモニタし、その光量が、所
定のレベルになるようにＸ線出力条件をフィードバック
制御していた。なお、前記フィードバック制御するＸ線
出力条件としては、制御の容易性から管電圧を変化させ
る方式が多く用いられていた。
【０００３】また、所望の領域のＳ／Ｎ比が最大になる
ようにＸ線出力条件を決定するようにしていた。
ようにＸ線出力条件を決定するようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
Ｘ線診断装置のＸ線出力条件決定方法の内、前者の方法
では、管電圧を変化させるとＳ／Ｎ比、コントラスト、
Ｉ．Ｉ入射線量および被曝線量が変化するため、画質を
一定に保つことが難しく、かつ、被曝線量の管理も不可
能であるという問題があった。
Ｘ線診断装置のＸ線出力条件決定方法の内、前者の方法
では、管電圧を変化させるとＳ／Ｎ比、コントラスト、
Ｉ．Ｉ入射線量および被曝線量が変化するため、画質を
一定に保つことが難しく、かつ、被曝線量の管理も不可
能であるという問題があった。
【０００５】また、後者の方法では、管電圧が小さくな
り、被検体（患者）の被曝線量が増加するという問題が
あった。
り、被検体（患者）の被曝線量が増加するという問題が
あった。
【０００６】本発明は上記事情に鑑みて成されたもので
あり、その目的は、被検体の被曝線量と、画像のＳ／Ｎ
比またはコントラスト値を所定の基準に保つようにＸ線
出力条件を決定することが可能なＸ線診断装置を提供す
ることにある。
あり、その目的は、被検体の被曝線量と、画像のＳ／Ｎ
比またはコントラスト値を所定の基準に保つようにＸ線
出力条件を決定することが可能なＸ線診断装置を提供す
ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、被検体にＸ線を曝射するＸ線管と、前記
被検体を透過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変換手
段と、前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、前記
光学像を撮影する撮影手段と、Ｓ／Ｎ比を設定する設定
手段と、前記撮影する透過Ｘ線像のＳ／Ｎ比を前記設定
されたＳ／Ｎ比とする前記Ｘ線管のＸ線曝射条件及び前
記絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及び前記絞
り手段をそれぞれ制御する制御手段とを備えることを特
徴としている。このとき前記制御手段は、管電圧、管電
流、曝射時間を制御することが好適である。
めに本発明は、被検体にＸ線を曝射するＸ線管と、前記
被検体を透過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変換手
段と、前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、前記
光学像を撮影する撮影手段と、Ｓ／Ｎ比を設定する設定
手段と、前記撮影する透過Ｘ線像のＳ／Ｎ比を前記設定
されたＳ／Ｎ比とする前記Ｘ線管のＸ線曝射条件及び前
記絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及び前記絞
り手段をそれぞれ制御する制御手段とを備えることを特
徴としている。このとき前記制御手段は、管電圧、管電
流、曝射時間を制御することが好適である。
【０００８】また、コントラスト値を設定する設定手段
と、前記撮影する透過Ｘ線像のコントラスト値を前記設
定されたコントラスト値とする前記Ｘ線管のＸ線曝射条
件及び前記絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及
び前記絞り手段をそれぞれ制御する制御手段とを備える
ことを特徴としている。このとき前記制御手段は、管電
圧、管電流、曝射時間を制御することが好適である。
と、前記撮影する透過Ｘ線像のコントラスト値を前記設
定されたコントラスト値とする前記Ｘ線管のＸ線曝射条
件及び前記絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及
び前記絞り手段をそれぞれ制御する制御手段とを備える
ことを特徴としている。このとき前記制御手段は、管電
圧、管電流、曝射時間を制御することが好適である。
【０００９】さらに、前記変換手段のＸ線入射面への入
射線量を設定する入射線量設定手段と、前記変換手段の
Ｘ線入射面への入射線量が前記入射線量設定手段に設定
された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組み合わせと前記組
み合わせにおける前記絞りの光量透過率、透過Ｘ線像の
Ｓ／Ｎ比及び被検体の被曝線量とを求める演算手段と、
前記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶
する保持手段と、前記保持手段に記憶されている組み合
わせの中から、前記Ｓ／Ｎ比設定手段に設定された値以
上のＳ／Ｎ比であり、かつ被検体の被曝線量が最小とな
る組み合わせを選択する手段とを備えることを特徴とし
ている。
射線量を設定する入射線量設定手段と、前記変換手段の
Ｘ線入射面への入射線量が前記入射線量設定手段に設定
された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組み合わせと前記組
み合わせにおける前記絞りの光量透過率、透過Ｘ線像の
Ｓ／Ｎ比及び被検体の被曝線量とを求める演算手段と、
前記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶
する保持手段と、前記保持手段に記憶されている組み合
わせの中から、前記Ｓ／Ｎ比設定手段に設定された値以
上のＳ／Ｎ比であり、かつ被検体の被曝線量が最小とな
る組み合わせを選択する手段とを備えることを特徴とし
ている。
【００１０】さらに、前記変換手段のＸ線入射面への入
射線量が前記入射線量設定手段に設定された入射線量と
なる管電圧、ｍＡｓ値の組み合わせと前記組み合わせに
おける前記絞りの光量透過率、透過Ｘ線像のコントラス
ト値及び被検体の被曝線量とを求める演算手段と、前記
演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶する
保持手段と、前記保持手段に記憶されている組み合わせ
の中から、前記コントラスト値設定手段に設定された値
以上のコントラスト値であり、かつ被検体の被曝線量が
最小となる組み合わせを選択する手段とを備えることを
特徴としている。
射線量が前記入射線量設定手段に設定された入射線量と
なる管電圧、ｍＡｓ値の組み合わせと前記組み合わせに
おける前記絞りの光量透過率、透過Ｘ線像のコントラス
ト値及び被検体の被曝線量とを求める演算手段と、前記
演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶する
保持手段と、前記保持手段に記憶されている組み合わせ
の中から、前記コントラスト値設定手段に設定された値
以上のコントラスト値であり、かつ被検体の被曝線量が
最小となる組み合わせを選択する手段とを備えることを
特徴としている。
【００１１】さらに、前記撮影する透過Ｘ線像のＳ／Ｎ
比が前記Ｓ／Ｎ比設定手段に設定された値となる管電
圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと前記組み合わ
せにおける被検体の被曝線量とを求める演算手段と、前
記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶す
る保持手段と、前記保持手段に記憶されている組み合わ
せの中から被検体の被曝線量が最小となる組み合わせを
選択する手段とを備えることを特徴としている。
比が前記Ｓ／Ｎ比設定手段に設定された値となる管電
圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと前記組み合わ
せにおける被検体の被曝線量とを求める演算手段と、前
記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶す
る保持手段と、前記保持手段に記憶されている組み合わ
せの中から被検体の被曝線量が最小となる組み合わせを
選択する手段とを備えることを特徴としている。
【００１２】さらに、前記撮影する透過Ｘ線像のコント
ラスト値が前記コントラスト値設定手段に設定された値
となる管電圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと前
記組み合わせにおける被検体の被曝線量とを求める演算
手段と、前記演算手段により求めた値を条件テーブルと
して記憶する保持手段と、前記保持手段に記憶されてい
る組み合わせの中から被検体の被曝線量が最小となる組
み合わせを選択する手段とを備えることを特徴としてい
る。
ラスト値が前記コントラスト値設定手段に設定された値
となる管電圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと前
記組み合わせにおける被検体の被曝線量とを求める演算
手段と、前記演算手段により求めた値を条件テーブルと
して記憶する保持手段と、前記保持手段に記憶されてい
る組み合わせの中から被検体の被曝線量が最小となる組
み合わせを選択する手段とを備えることを特徴としてい
る。
【００１３】
【作用】上記構成によれば、制御手段は、撮影する透過
Ｘ線像のＳ／Ｎ比を、設定手段に設定されたＳ／Ｎ比と
するＸ線管のＸ線曝射条件及び光学像の透過量を制御す
る絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及び前記絞
り手段をそれぞれ制御する。また、制御手段は、撮影す
る透過Ｘ線像のコントラスト値を設定手段に設定された
コントラスト値とする前記Ｘ線管のＸ線曝射条件及び前
記絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及び前記絞
り手段をそれぞれ制御する。
Ｘ線像のＳ／Ｎ比を、設定手段に設定されたＳ／Ｎ比と
するＸ線管のＸ線曝射条件及び光学像の透過量を制御す
る絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及び前記絞
り手段をそれぞれ制御する。また、制御手段は、撮影す
る透過Ｘ線像のコントラスト値を設定手段に設定された
コントラスト値とする前記Ｘ線管のＸ線曝射条件及び前
記絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及び前記絞
り手段をそれぞれ制御する。
【００１４】さらに、入射線量設定手段は、被検体を透
過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変換手段のＸ線入
射面への入射線量を設定し、演算手段は、前記変換手段
のＸ線入射面への入射線量が前記入射線量設定手段に設
定された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組み合わせと前記
組み合わせにおける前記絞りの光量透過率、透過Ｘ線像
のＳ／Ｎ比及び被検体の被曝線量とを求める。そして、
選択手段は、前記演算手段により求めた値を条件テーブ
ルとして記憶する保持手段に記憶されている組み合わせ
の中から、Ｓ／Ｎ比設定手段に設定された値以上のＳ／
Ｎ比であり、かつ被検体の被曝線量が最小となる組み合
わせを選択する。また、演算手段は、前記変換手段のＸ
線入射面への入射線量が前記入射線量設定手段に設定さ
れた入射線量となる管電圧、ｍＡｓ値の組み合わせと前
記組み合わせにおける前記絞りの光量透過率、透過Ｘ線
像のコントラスト値及び被検体の被曝線量とを求め、選
択手段は、前記演算手段により求めた値を条件テーブル
として記憶する保持手段に記憶されている組み合わせの
中から、前記コントラスト値設定手段に設定された値以
上のコントラスト値であり、かつ被検体の被曝線量が最
小となる組み合わせを選択する。
過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変換手段のＸ線入
射面への入射線量を設定し、演算手段は、前記変換手段
のＸ線入射面への入射線量が前記入射線量設定手段に設
定された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組み合わせと前記
組み合わせにおける前記絞りの光量透過率、透過Ｘ線像
のＳ／Ｎ比及び被検体の被曝線量とを求める。そして、
選択手段は、前記演算手段により求めた値を条件テーブ
ルとして記憶する保持手段に記憶されている組み合わせ
の中から、Ｓ／Ｎ比設定手段に設定された値以上のＳ／
Ｎ比であり、かつ被検体の被曝線量が最小となる組み合
わせを選択する。また、演算手段は、前記変換手段のＸ
線入射面への入射線量が前記入射線量設定手段に設定さ
れた入射線量となる管電圧、ｍＡｓ値の組み合わせと前
記組み合わせにおける前記絞りの光量透過率、透過Ｘ線
像のコントラスト値及び被検体の被曝線量とを求め、選
択手段は、前記演算手段により求めた値を条件テーブル
として記憶する保持手段に記憶されている組み合わせの
中から、前記コントラスト値設定手段に設定された値以
上のコントラスト値であり、かつ被検体の被曝線量が最
小となる組み合わせを選択する。
【００１５】さらに、演算手段は、撮影する透過Ｘ線像
のＳ／Ｎ比がＳ／Ｎ比設定手段に設定された値となる管
電圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと前記組み合
わせにおける被検体の被曝線量とを求め、選択手段は、
前記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶
する保持手段に記憶されている組み合わせの中から被検
体の被曝線量が最小となる組み合わせを選択する。ま
た、演算手段は、撮影する透過Ｘ線像のコントラスト値
がコントラスト値設定手段に設定された値となる管電
圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと前記組み合わ
せにおける被検体の被曝線量とを求め、選択手段は、前
記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶す
る保持手段に記憶されている組み合わせの中から被検体
の被曝線量が最小となる組み合わせを選択する。
のＳ／Ｎ比がＳ／Ｎ比設定手段に設定された値となる管
電圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと前記組み合
わせにおける被検体の被曝線量とを求め、選択手段は、
前記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶
する保持手段に記憶されている組み合わせの中から被検
体の被曝線量が最小となる組み合わせを選択する。ま
た、演算手段は、撮影する透過Ｘ線像のコントラスト値
がコントラスト値設定手段に設定された値となる管電
圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと前記組み合わ
せにおける被検体の被曝線量とを求め、選択手段は、前
記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶す
る保持手段に記憶されている組み合わせの中から被検体
の被曝線量が最小となる組み合わせを選択する。
【００１６】これらにより、被検体の被曝線量と、画像
のＳ／Ｎ比またはコントラスト値を所定の基準に保つよ
うにＸ線出力条件を決定できる。
のＳ／Ｎ比またはコントラスト値を所定の基準に保つよ
うにＸ線出力条件を決定できる。
【００１７】
【実施例】図１は、本発明に係るＸ線診断装置の第１実
施例を示すブロック図である。
施例を示すブロック図である。
【００１８】図１に示すように、第１実施例のＸ線診断
装置１は、Ｘ線を発生するＸ線管球３と、Ｘ線管球３の
管電圧、管電流、Ｘ線パルス幅等の出力条件を制御する
Ｘ線コントローラ５と、前記Ｘ線出力条件を決定する演
算装置７と、Ｘ線管球３と後述するイメージインテンシ
ファイアとの距離、Ｘ線管球３と被検体との距離を制御
する支持器コントローラ９と、被検体を透過し、さらに
散乱Ｘ線を除去するグリッド１１を通過したＸ線像を光
学像に変換するイメージインテンシファイア（以下Ｉ．
Ｉ．と記す）１３と、Ｉ．Ｉ．１３と光学系（レンズ、
アイリス）１５を通過した光学像を電気信号に変換する
ＴＶカメラ１７と、を備えている。
装置１は、Ｘ線を発生するＸ線管球３と、Ｘ線管球３の
管電圧、管電流、Ｘ線パルス幅等の出力条件を制御する
Ｘ線コントローラ５と、前記Ｘ線出力条件を決定する演
算装置７と、Ｘ線管球３と後述するイメージインテンシ
ファイアとの距離、Ｘ線管球３と被検体との距離を制御
する支持器コントローラ９と、被検体を透過し、さらに
散乱Ｘ線を除去するグリッド１１を通過したＸ線像を光
学像に変換するイメージインテンシファイア（以下Ｉ．
Ｉ．と記す）１３と、Ｉ．Ｉ．１３と光学系（レンズ、
アイリス）１５を通過した光学像を電気信号に変換する
ＴＶカメラ１７と、を備えている。
【００１９】また、図２に示すように演算装置７は、据
付時もしくは点検時に測定された後述のグリッドの直接
Ｘ線透過率、アクリルのＸ線減弱係数、Ｉ．Ｉ．から発
生するベーリングブレア発生率、散乱Ｘ線発生率および
画像に重畳するノイズを基にして被検体の厚みをアクリ
ルの厚みに換算し、この換算されたアクリルの厚みから
管電圧ＫＶに対するｍＡｓ値（管電流と照射時間の
積）、光量透過率α、Ｓ／Ｎ比および被検体被曝線量を
演算し、これらをテーブル化したＸ線出力条件テーブル
を作成する演算部３１と、前記Ｘ線出力条件テーブルを
保持する条件保持部３３と、オペレータにより入力され
た値以上のＳ／Ｎ比となり、かつその中で最少の被検体
被曝線量となる出力条件の組み合わせを前記Ｘ線出力条
件テーブルの中から選択する選択部３５と、選択部３５
に対して選択の基準となるＳ／Ｎ比等の入力を行うデー
タ入力部３７と、オペレータからデータ入力部３７を介
して入力されたＳ／Ｎ比等のデータを表示するととも
に、選択部３５により選択されたＸ線出力条件を表示す
る表示部３９と、を備えている。なお、演算部３１と選
択部３５を一つの装置で行わせるようにしても良い。
付時もしくは点検時に測定された後述のグリッドの直接
Ｘ線透過率、アクリルのＸ線減弱係数、Ｉ．Ｉ．から発
生するベーリングブレア発生率、散乱Ｘ線発生率および
画像に重畳するノイズを基にして被検体の厚みをアクリ
ルの厚みに換算し、この換算されたアクリルの厚みから
管電圧ＫＶに対するｍＡｓ値（管電流と照射時間の
積）、光量透過率α、Ｓ／Ｎ比および被検体被曝線量を
演算し、これらをテーブル化したＸ線出力条件テーブル
を作成する演算部３１と、前記Ｘ線出力条件テーブルを
保持する条件保持部３３と、オペレータにより入力され
た値以上のＳ／Ｎ比となり、かつその中で最少の被検体
被曝線量となる出力条件の組み合わせを前記Ｘ線出力条
件テーブルの中から選択する選択部３５と、選択部３５
に対して選択の基準となるＳ／Ｎ比等の入力を行うデー
タ入力部３７と、オペレータからデータ入力部３７を介
して入力されたＳ／Ｎ比等のデータを表示するととも
に、選択部３５により選択されたＸ線出力条件を表示す
る表示部３９と、を備えている。なお、演算部３１と選
択部３５を一つの装置で行わせるようにしても良い。
【００２０】次に、第１実施例のＸ線診断装置１の作用
を説明する。
を説明する。
【００２１】まず、Ｘ線診断装置１の据付時もしくは点
検時に少なくとも以下の諸量を測定する。
検時に少なくとも以下の諸量を測定する。
【００２２】ａ．グリッドの直接Ｘ線透過率（グリッド
を通過する際のＸ線の透過率） ｂ．アクリルのＸ線減弱係数（アクリルによるＸ線の減
弱量。被検体をアクリルの厚みに換算するために測定す
る） ｃ．Ｉ．Ｉ．から発生するベーリングブレア発生率（Ｘ
線の入射量が少ないときのコントラストの失われ方を示
す） ｄ．散乱Ｘ線発生率（被検体にＸ線を照射したときに生
じる散乱Ｘ線の発生率） ｅ．画像に重畳するノイズ 上記諸量を測定することにより、例えば下式を用いてＸ
線量、Ｘ線エネルギー、Ｘ線フォトン数、画像レベル、
ノイズ等が推定される。
を通過する際のＸ線の透過率） ｂ．アクリルのＸ線減弱係数（アクリルによるＸ線の減
弱量。被検体をアクリルの厚みに換算するために測定す
る） ｃ．Ｉ．Ｉ．から発生するベーリングブレア発生率（Ｘ
線の入射量が少ないときのコントラストの失われ方を示
す） ｄ．散乱Ｘ線発生率（被検体にＸ線を照射したときに生
じる散乱Ｘ線の発生率） ｅ．画像に重畳するノイズ 上記諸量を測定することにより、例えば下式を用いてＸ
線量、Ｘ線エネルギー、Ｘ線フォトン数、画像レベル、
ノイズ等が推定される。
【００２３】
式中のパラメータは次の意味を有する。
【００２４】μair …空気のＸ線吸収係数
Ｃ …定数
Ｅtube …Ｘ線管球から発生するＸ線の平均エネルギー
ＥP …Ｉ．Ｉ．に吸収される直接Ｘ線の平均エネル
ギー ＥS …Ｉ．Ｉ．に吸収される散乱Ｘ線の平均エネル
ギー Φ …Ｘ線管球内のＸ線ターゲットから発生するＸ
線フォトン数であり、Ｘ線管球と管電圧、ｍＡｓ値が定
まることにより決定される。 μf …固有ろ過のＸ線減弱係数 ｔf …固有ろ過の厚み μac …アクリルのＸ線減弱係数 ｔac …アクリルの厚み。被検体、特に人体はアクリ
ルに置き換えてＸ線の透過を計算したり、推定したりす
ることが近似的に可能という考え方に基づく。 ＴS …グリッドの散乱Ｘ線透過率 ｆ(A,F) …散乱Ｘ線の視野サイズ(F) と被検体−検出器
間距離(A) による変動ファクタ。例えば、F=20cm,A=0cm
のときｆ(0,20)=1.0としてF やA が変化したときの散乱
Ｘ線の変化率を表す。 Ｖ …ベーリングブレア発生率 Ｓpix …デジタル画像の１ピクセルに相当するＩ．
Ｉ．上の面積 α …光学絞りや光量減衰用ＮＤフィルタ等による
光量透過率 ζ …システムゲイン（Ｉ．Ｉ．に単位面積当り入
ってくるＸ線エネルギーの画素値への変換ゲイン） Ｎdet …ＴＶカメラやＩ．Ｉ．等から発生するノイズ
成分 Ｍc …３３mg/cc の造影剤のＸ線減衰係数 具体的には、対象となっている装置上で所定の厚みのア
クリルファントムを実際にＸ線撮影し、その結果から式
１〜９で用いているパラメータを全て算出し、データ入
力部３７から演算部３１に入力しておく。これにより、
如何なる条件の下でも被検体（患者）被曝線量、Ｉ．
Ｉ．入射線量、画像レベル、画像ノイズ等を推定するこ
とができる。
ギー ＥS …Ｉ．Ｉ．に吸収される散乱Ｘ線の平均エネル
ギー Φ …Ｘ線管球内のＸ線ターゲットから発生するＸ
線フォトン数であり、Ｘ線管球と管電圧、ｍＡｓ値が定
まることにより決定される。 μf …固有ろ過のＸ線減弱係数 ｔf …固有ろ過の厚み μac …アクリルのＸ線減弱係数 ｔac …アクリルの厚み。被検体、特に人体はアクリ
ルに置き換えてＸ線の透過を計算したり、推定したりす
ることが近似的に可能という考え方に基づく。 ＴS …グリッドの散乱Ｘ線透過率 ｆ(A,F) …散乱Ｘ線の視野サイズ(F) と被検体−検出器
間距離(A) による変動ファクタ。例えば、F=20cm,A=0cm
のときｆ(0,20)=1.0としてF やA が変化したときの散乱
Ｘ線の変化率を表す。 Ｖ …ベーリングブレア発生率 Ｓpix …デジタル画像の１ピクセルに相当するＩ．
Ｉ．上の面積 α …光学絞りや光量減衰用ＮＤフィルタ等による
光量透過率 ζ …システムゲイン（Ｉ．Ｉ．に単位面積当り入
ってくるＸ線エネルギーの画素値への変換ゲイン） Ｎdet …ＴＶカメラやＩ．Ｉ．等から発生するノイズ
成分 Ｍc …３３mg/cc の造影剤のＸ線減衰係数 具体的には、対象となっている装置上で所定の厚みのア
クリルファントムを実際にＸ線撮影し、その結果から式
１〜９で用いているパラメータを全て算出し、データ入
力部３７から演算部３１に入力しておく。これにより、
如何なる条件の下でも被検体（患者）被曝線量、Ｉ．
Ｉ．入射線量、画像レベル、画像ノイズ等を推定するこ
とができる。
【００２５】なお、この様な式を用いなくても管電圧を
１ｋＶ毎、被検体（アクリルファントム）の厚みを１ｃ
ｍ毎に変化させ、画像レベル、ノイズ等を被検体被曝線
量等を実測してＸ線出力条件テーブルを作成しても良い
（但し、この場合は多大な計測時間を必要とする）。
１ｋＶ毎、被検体（アクリルファントム）の厚みを１ｃ
ｍ毎に変化させ、画像レベル、ノイズ等を被検体被曝線
量等を実測してＸ線出力条件テーブルを作成しても良い
（但し、この場合は多大な計測時間を必要とする）。
【００２６】次に、Ｘ線診断装置１の作用を図３に示す
Ｘ線出力条件テーブル作成フローチャートを基に説明す
る。
Ｘ線出力条件テーブル作成フローチャートを基に説明す
る。
【００２７】通常、医療行為では、透視によって被検体
（患者）の撮影部位を確認したり、カテーテル治療を行
う。このとき、Ｘ線コントローラ５内の自動露出により
透視時の管電圧（ＦＫＶ）、ｍＡｓ値（ＦｍＡｓ）およ
び光量透過率（Ｆα）が決められ、適正な画像が表示さ
れる。
（患者）の撮影部位を確認したり、カテーテル治療を行
う。このとき、Ｘ線コントローラ５内の自動露出により
透視時の管電圧（ＦＫＶ）、ｍＡｓ値（ＦｍＡｓ）およ
び光量透過率（Ｆα）が決められ、適正な画像が表示さ
れる。
【００２８】ここで演算装置７は、前記ＦＫＶ、ＦｍＡ
ｓ、Ｆαと実際に出力された透視像とから被検体（患
者）の厚みを推定する（ステップＳＴ１）。この推定値
は、人体の主な構成物質とＸ線吸収が近いアクリルの厚
みに換算されて表示部３９に表示される。被検体（患
者）は、Ｘ線吸収の大きい所と小さい所を有している。
このため、透視像の画像レベルの最大、最小および平均
値を基にして被検体の最大、最小および平均の厚みを推
定する。
ｓ、Ｆαと実際に出力された透視像とから被検体（患
者）の厚みを推定する（ステップＳＴ１）。この推定値
は、人体の主な構成物質とＸ線吸収が近いアクリルの厚
みに換算されて表示部３９に表示される。被検体（患
者）は、Ｘ線吸収の大きい所と小さい所を有している。
このため、透視像の画像レベルの最大、最小および平均
値を基にして被検体の最大、最小および平均の厚みを推
定する。
【００２９】そして演算部３１は、管電圧を５０ｋＶ
（初期値）としたとき、予め設定されたＩ．Ｉ．入射線
量となるｍＡｓ値をそれぞれ算出する（ステップＳＴ
３，ＳＴ５）。例えば、アクリルに換算した被検体の平
均の厚みが２０ｃｍとすれば、そのアクリルを透過して
Ｉ．Ｉ．１３に吸収される直接Ｘ線エネルギー（φP ・
ＥP ）と散乱Ｘ線エネルギー（φs ・ＥS ）の和を基
に、Ｉ．Ｉ．入射線量が決まる（式２，式４）。このと
き、φP ・ＥP ，φs ・ＥS およびμair は管電圧ＫＶ
によって定まる。仮に管電圧５０ｋＶ，１ｍＡｓのと
き、Ｉ．Ｉ．入射線量が１０μＲ／ｆ（１フレーム当り
の入射線量）と計算されたとすれば、予め設定された
Ｉ．Ｉ．入射線量、例えば５０μＲ／ｆを実現するのは
５ｍＡｓということになる。
（初期値）としたとき、予め設定されたＩ．Ｉ．入射線
量となるｍＡｓ値をそれぞれ算出する（ステップＳＴ
３，ＳＴ５）。例えば、アクリルに換算した被検体の平
均の厚みが２０ｃｍとすれば、そのアクリルを透過して
Ｉ．Ｉ．１３に吸収される直接Ｘ線エネルギー（φP ・
ＥP ）と散乱Ｘ線エネルギー（φs ・ＥS ）の和を基
に、Ｉ．Ｉ．入射線量が決まる（式２，式４）。このと
き、φP ・ＥP ，φs ・ＥS およびμair は管電圧ＫＶ
によって定まる。仮に管電圧５０ｋＶ，１ｍＡｓのと
き、Ｉ．Ｉ．入射線量が１０μＲ／ｆ（１フレーム当り
の入射線量）と計算されたとすれば、予め設定された
Ｉ．Ｉ．入射線量、例えば５０μＲ／ｆを実現するのは
５ｍＡｓということになる。
【００３０】その後、演算部３１は、Ｓ／Ｎ比を算出す
る（ステップＳＴ７）。例えば、図４に示すようにアク
リルに換算した被検体の最大の厚みの領域に存在するヨ
ード含有量３３ｍｇ／ｃｍ2 の造影血管によるＳ／Ｎ比
を算出する。このとき、図４に示すようにアクリルに換
算した被検体の最大の厚みを２５ｃｍとすれば、前記造
影血管によって周辺の画像レベルと差が生じた成分すな
わち造影剤が入ったときの影（Ｓ）と周辺の画像レベル
のノイズ成分（Ｎ）は式８，９，１０から推定できる。
なお、図４中Ｌ25とあるのはアクリルに換算した被検体
の最大の厚み（２５ｃｍ）の領域の画像レベル、Ｌ20と
あるのはアクリルに換算した被検体の平均の厚み（２０
ｃｍ）の領域の画像レベル、Ｌ15とあるのはアクリルに
換算した被検体の平均の厚み（１５ｃｍ）の領域の画像
レベルを示す。
る（ステップＳＴ７）。例えば、図４に示すようにアク
リルに換算した被検体の最大の厚みの領域に存在するヨ
ード含有量３３ｍｇ／ｃｍ2 の造影血管によるＳ／Ｎ比
を算出する。このとき、図４に示すようにアクリルに換
算した被検体の最大の厚みを２５ｃｍとすれば、前記造
影血管によって周辺の画像レベルと差が生じた成分すな
わち造影剤が入ったときの影（Ｓ）と周辺の画像レベル
のノイズ成分（Ｎ）は式８，９，１０から推定できる。
なお、図４中Ｌ25とあるのはアクリルに換算した被検体
の最大の厚み（２５ｃｍ）の領域の画像レベル、Ｌ20と
あるのはアクリルに換算した被検体の平均の厚み（２０
ｃｍ）の領域の画像レベル、Ｌ15とあるのはアクリルに
換算した被検体の平均の厚み（１５ｃｍ）の領域の画像
レベルを示す。
【００３１】また、演算部３１は、画像レベルを算出す
るときに用いる光量透過率αをアクリルに換算した被検
体の最小の厚みの領域が所定の画像レベルとなるように
算出する。
るときに用いる光量透過率αをアクリルに換算した被検
体の最小の厚みの領域が所定の画像レベルとなるように
算出する。
【００３２】さらに、演算部３１は、被検体（患者）の
被曝線量をアクリルに換算した被検体の平均の厚みの領
域で推定する（ステップＳＴ９）。
被曝線量をアクリルに換算した被検体の平均の厚みの領
域で推定する（ステップＳＴ９）。
【００３３】こうして管電圧５０ｋＶから２ｋＶおきに
１２０ｋＶまで変化させ、前述同様にｍＡｓ値、Ｓ／Ｎ
比および被検体の被曝線量をそれぞれ算出する（ステッ
プＳＴ５〜ＳＴ１３）。そして、これら算出結果を基に
図５に示すようなＸ線出力条件テーブルを作成する。
１２０ｋＶまで変化させ、前述同様にｍＡｓ値、Ｓ／Ｎ
比および被検体の被曝線量をそれぞれ算出する（ステッ
プＳＴ５〜ＳＴ１３）。そして、これら算出結果を基に
図５に示すようなＸ線出力条件テーブルを作成する。
【００３４】また、予め設定された最大画像レベル、例
えばデジタルカラント値で３０００となる光量透過率α
も演算部３１により算出し前記Ｘ線出力条件テーブルに
併記している。なお、図５に示すＸ線出力条件テーブル
は、管電圧１０ｋＶおきに抜粋した形で記している。
えばデジタルカラント値で３０００となる光量透過率α
も演算部３１により算出し前記Ｘ線出力条件テーブルに
併記している。なお、図５に示すＸ線出力条件テーブル
は、管電圧１０ｋＶおきに抜粋した形で記している。
【００３５】その後、作成されたＸ線出力条件テーブル
は、条件保持部３３に保持される。
は、条件保持部３３に保持される。
【００３６】そして、選択部３５は、オペレータにより
データ入力部３７から入力された値以上のＳ／Ｎ比とな
り、かつその中で最少の被検体被曝線量となるＸ線出力
条件を前記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択する。
データ入力部３７から入力された値以上のＳ／Ｎ比とな
り、かつその中で最少の被検体被曝線量となるＸ線出力
条件を前記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択する。
【００３７】例えば、図５に示すＸ線出力条件テーブル
が条件保持部３３に保持され、かつ、オペレータがＳ／
Ｎ比４．９を入力したとする。この場合、Ｓ／Ｎ比４．
９以上となるのは管電圧８０ｋＶ以下の各Ｘ線出力条件
であるが、管電圧８０ｋＶ、２．６ｍＡｓのとき被検体
の被爆線量が最も少ないので、選択部３５は、管電圧８
０ｋＶ、２．６ｍＡｓのＸ線出力条件を選択する。
が条件保持部３３に保持され、かつ、オペレータがＳ／
Ｎ比４．９を入力したとする。この場合、Ｓ／Ｎ比４．
９以上となるのは管電圧８０ｋＶ以下の各Ｘ線出力条件
であるが、管電圧８０ｋＶ、２．６ｍＡｓのとき被検体
の被爆線量が最も少ないので、選択部３５は、管電圧８
０ｋＶ、２．６ｍＡｓのＸ線出力条件を選択する。
【００３８】その後、選択部３５は、選択したＸ線出力
条件を表示部３９に供給するとともに、Ｘ線コントロー
ラ５に供給する。
条件を表示部３９に供給するとともに、Ｘ線コントロー
ラ５に供給する。
【００３９】表示部３５では、前記供給されたＸ線出力
条件を画面上に表示する。これにより、オペレータは選
択されたＸ線出力条件を知ることができる。また、Ｘ線
コントローラ５は、前記供給されたＸ線出力条件でＸ線
管球３からＸ線を発生させる。
条件を画面上に表示する。これにより、オペレータは選
択されたＸ線出力条件を知ることができる。また、Ｘ線
コントローラ５は、前記供給されたＸ線出力条件でＸ線
管球３からＸ線を発生させる。
【００４０】このように、第１実施例のＸ線診断装置１
は、Ｘ線診断装置１の据付時もしくは点検時に所定の厚
みのアクリルファントムを用いて測定された各特性と、
透視時の管電圧、ｍＡｓ値、光量透過率および実際に出
力された透視像とから被検体の最大、最小および平均の
厚みをアクリルに換算して推定し、この厚みに対応し、
かつ予め設定されたＩ．Ｉ入射線量となるｍＡｓ値と、
前記最小値から最大値内に存在する造影血管によるＳ／
Ｎ比と、被検体の被曝線量と、前記最小の厚みに対して
画像レベルを所定値とする光量透過率とを管電圧５０〜
１２０ｋＶに変化させてそれぞれ算出してＸ線出力条件
テーブルを作成し、オペレータにより入力された値以上
のＳ／Ｎ比となり、かつその中で最少の被検体被曝線量
となる管電圧、ｍＡｓ値および光量透過率の組み合わせ
を前記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択し、それをＸ
線の出力条件としているので、Ｓ／Ｎ比を一定値以上に
することができ、常に安定した画質を得ることができ
る。さらに、Ｓ／Ｎ比を一定値以上にするＸ線出力条件
の中で最少の被検体被曝線量となるものを選択している
ので、被検体被曝線量を減少させることができる。
は、Ｘ線診断装置１の据付時もしくは点検時に所定の厚
みのアクリルファントムを用いて測定された各特性と、
透視時の管電圧、ｍＡｓ値、光量透過率および実際に出
力された透視像とから被検体の最大、最小および平均の
厚みをアクリルに換算して推定し、この厚みに対応し、
かつ予め設定されたＩ．Ｉ入射線量となるｍＡｓ値と、
前記最小値から最大値内に存在する造影血管によるＳ／
Ｎ比と、被検体の被曝線量と、前記最小の厚みに対して
画像レベルを所定値とする光量透過率とを管電圧５０〜
１２０ｋＶに変化させてそれぞれ算出してＸ線出力条件
テーブルを作成し、オペレータにより入力された値以上
のＳ／Ｎ比となり、かつその中で最少の被検体被曝線量
となる管電圧、ｍＡｓ値および光量透過率の組み合わせ
を前記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択し、それをＸ
線の出力条件としているので、Ｓ／Ｎ比を一定値以上に
することができ、常に安定した画質を得ることができ
る。さらに、Ｓ／Ｎ比を一定値以上にするＸ線出力条件
の中で最少の被検体被曝線量となるものを選択している
ので、被検体被曝線量を減少させることができる。
【００４１】なお、第１実施例のＸ線診断装置１では、
Ｓ値を算出する際、ヨード含有量３３ｍｇ／ｃｍ2 の造
影血管を用いた例を示したが、これに限らず、バリウ
ム、石灰等、種々物質を仮定して決めても良い。
Ｓ値を算出する際、ヨード含有量３３ｍｇ／ｃｍ2 の造
影血管を用いた例を示したが、これに限らず、バリウ
ム、石灰等、種々物質を仮定して決めても良い。
【００４２】また、第１実施例のＸ線診断装置１では、
オペレータから入力されたＳ／Ｎ比を基にＸ線出力条件
を選択しているが、これに限らず、Ｓ／Ｎ比の代わり
に、あるいはＳ／Ｎ比に加えてコントラスト値を用いる
ようにしても良い。例えば、コントラスト値１０％以
上、Ｓ／Ｎ比４．９以上と設定し、このＳ／Ｎ比とコン
トラスト値を同時に満たす条件の内、最少被曝線量とな
る条件を選択するように制御することもできる。なお、
ここで言うコントラスト値とは、図４中のＳ／Ｌ25の値
で定義できる。
オペレータから入力されたＳ／Ｎ比を基にＸ線出力条件
を選択しているが、これに限らず、Ｓ／Ｎ比の代わり
に、あるいはＳ／Ｎ比に加えてコントラスト値を用いる
ようにしても良い。例えば、コントラスト値１０％以
上、Ｓ／Ｎ比４．９以上と設定し、このＳ／Ｎ比とコン
トラスト値を同時に満たす条件の内、最少被曝線量とな
る条件を選択するように制御することもできる。なお、
ここで言うコントラスト値とは、図４中のＳ／Ｌ25の値
で定義できる。
【００４３】次に、本発明に係るＸ線診断装置の第２実
施例を説明する。
施例を説明する。
【００４４】第２実施例のＸ線診断装置は、第１実施例
のＸ線診断装置１と同一構成であるため、図示は省略
し、第１実施例のＸ線診断装置１と同一符号を用いて説
明する。
のＸ線診断装置１と同一構成であるため、図示は省略
し、第１実施例のＸ線診断装置１と同一符号を用いて説
明する。
【００４５】第２実施例のＸ線診断装置１は、Ｉ．Ｉ．
入射線量を束縛条件とせず、各管電圧毎にＳ／Ｎ比を所
定値とするｍＡｓ値を算出して、Ｘ線出力条件テーブル
を作成するようにしたものである。
入射線量を束縛条件とせず、各管電圧毎にＳ／Ｎ比を所
定値とするｍＡｓ値を算出して、Ｘ線出力条件テーブル
を作成するようにしたものである。
【００４６】第２実施例のＸ線診断装置１により作成さ
れたＸ線出力条件テーブルを図６に示す。図６に示すＸ
線出力条件テーブルは、図４に示した被検体条件下でＳ
／Ｎ比＝５．０を満たすｍＡｓ値、α値、被検体被曝線
量を示している。
れたＸ線出力条件テーブルを図６に示す。図６に示すＸ
線出力条件テーブルは、図４に示した被検体条件下でＳ
／Ｎ比＝５．０を満たすｍＡｓ値、α値、被検体被曝線
量を示している。
【００４７】ここで第１実施例のＸ線診断装置１により
作成されたＸ線出力条件テーブル（図５）と比較する
と、管電圧８０ｋＶより小さい場合、ｍＡｓ値は減少
し、管電圧８０ｋＶより大きい場合、ｍＡｓ値は増加し
ている。例えば管電圧５０ｋＶのときｍＡｓ値が２６か
ら１０．２に低下している。これは、ｍＡｓ値が２６の
とき、Ｓ／Ｎ比が７．５となり設定値５．０より大きい
ので、その分ｍＡｓ値を下げたためである。また、逆に
管電圧１２０ｋＶのときｍＡｓ値が０．４から４．２に
増加している。これは、ｍＡｓ値が０．４のとき、Ｓ／
Ｎ比が２．４となり設定値５．０より小さいので、その
分ｍＡｓ値を上げたためである。
作成されたＸ線出力条件テーブル（図５）と比較する
と、管電圧８０ｋＶより小さい場合、ｍＡｓ値は減少
し、管電圧８０ｋＶより大きい場合、ｍＡｓ値は増加し
ている。例えば管電圧５０ｋＶのときｍＡｓ値が２６か
ら１０．２に低下している。これは、ｍＡｓ値が２６の
とき、Ｓ／Ｎ比が７．５となり設定値５．０より大きい
ので、その分ｍＡｓ値を下げたためである。また、逆に
管電圧１２０ｋＶのときｍＡｓ値が０．４から４．２に
増加している。これは、ｍＡｓ値が０．４のとき、Ｓ／
Ｎ比が２．４となり設定値５．０より小さいので、その
分ｍＡｓ値を上げたためである。
【００４８】図６に示すＸ線出力条件テーブルが作成さ
れた場合、選択部３５は、被検体被曝線量の最も少ない
管電圧７０ｋＶ、３．３ｍＡｓのＸ線出力条件を選択す
る。
れた場合、選択部３５は、被検体被曝線量の最も少ない
管電圧７０ｋＶ、３．３ｍＡｓのＸ線出力条件を選択す
る。
【００４９】以後、第１実施例のＸ線診断装置１と同様
に作用し、前記選択されたＸ線出力条件でＸ線管球３か
らＸ線が発生される。
に作用し、前記選択されたＸ線出力条件でＸ線管球３か
らＸ線が発生される。
【００５０】このように第２実施例のＸ線診断装置１
は、Ｘ線診断装置１の据付時もしくは点検時に所定の厚
みのアクリルファントムを用いて測定された各特性と、
透視時の管電圧、ｍＡｓ値、光量透過率および実際に出
力された透視像とから被検体の最大、最小および平均の
厚みをアクリルに換算して推定し、Ｓ／Ｎ比を所定値と
するｍＡｓ値と、被検体の被曝線量と、前記最小の厚み
に対して画像レベルを所定値とする光量透過率とを管電
圧５０〜１２０ｋＶに変化させてそれぞれ算出してＸ線
出力条件テーブルを作成し、最少の被検体被曝線量とな
る管電圧、ｍＡｓ値および光量透過率の組み合わせを前
記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択し、それをＸ線の
出力条件としているので、Ｓ／Ｎ比を一定にすることが
でき、かつ、被検体被曝線量を減少させることができ
る。
は、Ｘ線診断装置１の据付時もしくは点検時に所定の厚
みのアクリルファントムを用いて測定された各特性と、
透視時の管電圧、ｍＡｓ値、光量透過率および実際に出
力された透視像とから被検体の最大、最小および平均の
厚みをアクリルに換算して推定し、Ｓ／Ｎ比を所定値と
するｍＡｓ値と、被検体の被曝線量と、前記最小の厚み
に対して画像レベルを所定値とする光量透過率とを管電
圧５０〜１２０ｋＶに変化させてそれぞれ算出してＸ線
出力条件テーブルを作成し、最少の被検体被曝線量とな
る管電圧、ｍＡｓ値および光量透過率の組み合わせを前
記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択し、それをＸ線の
出力条件としているので、Ｓ／Ｎ比を一定にすることが
でき、かつ、被検体被曝線量を減少させることができ
る。
【００５１】なお、第２実施例のＸ線診断装置１では、
Ｓ／Ｎ比を５．０一定としているが、これに限らず、前
記Ｓ／Ｎ比を変更するようにしても良い。例えば、非常
に厚い被検体の場合、Ｓ／Ｎ比の基準値が大きいとその
Ｓ／Ｎ比を実現できないことがある。これは、Ｘ線管球
容量やＮdet 、（ＴＶカメラ１７やＩ．Ｉ．１３から発
生するシステム固有のノイズで、Ｘ線量に関係なく存在
する）の存在のための制限である。この場合は基準とな
るＳ／Ｎ比を実現可能な値に演算装置７内で自動的に修
正するようにしても良い。
Ｓ／Ｎ比を５．０一定としているが、これに限らず、前
記Ｓ／Ｎ比を変更するようにしても良い。例えば、非常
に厚い被検体の場合、Ｓ／Ｎ比の基準値が大きいとその
Ｓ／Ｎ比を実現できないことがある。これは、Ｘ線管球
容量やＮdet 、（ＴＶカメラ１７やＩ．Ｉ．１３から発
生するシステム固有のノイズで、Ｘ線量に関係なく存在
する）の存在のための制限である。この場合は基準とな
るＳ／Ｎ比を実現可能な値に演算装置７内で自動的に修
正するようにしても良い。
【００５２】また、第１実施例、第２実施例のＸ線診断
装置１では、Ｓ／Ｎ比を算出する際、アクリルに換算し
た被検体の最大の厚みの領域で推定する例を示したが、
これに限らず、アクリルに換算された被検体の厚み分布
の最大〜最小の範囲内であれば、いずれの厚みを用いて
も良い。例えば、平均の厚み、ヒストグラムの最頻値を
基にして推定された厚み等、種々決定の方法がある。
装置１では、Ｓ／Ｎ比を算出する際、アクリルに換算し
た被検体の最大の厚みの領域で推定する例を示したが、
これに限らず、アクリルに換算された被検体の厚み分布
の最大〜最小の範囲内であれば、いずれの厚みを用いて
も良い。例えば、平均の厚み、ヒストグラムの最頻値を
基にして推定された厚み等、種々決定の方法がある。
【００５３】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
検体を透過した透過Ｘ線像のＳ／Ｎ比を、設定手段に設
定されたＳ／Ｎ比とするＸ線曝射条件と光量透過率を求
め、この求められた値を基にＸ線管及び光学像の透過量
を制御する絞り手段をそれぞれ制御するようにしている
ので、被検体の被曝線量と、画像のＳ／Ｎ比を所定の基
準に保つようにＸ線出力条件を容易に決定することが可
能となる。
検体を透過した透過Ｘ線像のＳ／Ｎ比を、設定手段に設
定されたＳ／Ｎ比とするＸ線曝射条件と光量透過率を求
め、この求められた値を基にＸ線管及び光学像の透過量
を制御する絞り手段をそれぞれ制御するようにしている
ので、被検体の被曝線量と、画像のＳ／Ｎ比を所定の基
準に保つようにＸ線出力条件を容易に決定することが可
能となる。
【００５４】また、被検体を透過した透過Ｘ線像のコン
トラスト値を、設定手段に設定されたコントラスト値と
するＸ線曝射条件と光量透過率を求め、この求められた
値を基にＸ線管及び光学像の透過量を制御する絞り手段
をそれぞれ制御するようにしているので、被検体の被曝
線量と、画像のコントラスト値を所定の基準に保つよう
にＸ線出力条件を容易に決定することが可能となる。
トラスト値を、設定手段に設定されたコントラスト値と
するＸ線曝射条件と光量透過率を求め、この求められた
値を基にＸ線管及び光学像の透過量を制御する絞り手段
をそれぞれ制御するようにしているので、被検体の被曝
線量と、画像のコントラスト値を所定の基準に保つよう
にＸ線出力条件を容易に決定することが可能となる。
【００５５】さらに、Ｘ線入射面への入射線量が入射線
量設定手段に設定された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組
み合わせと、この組み合わせにおける光量透過率、透過
Ｘ線像のＳ／Ｎ比及び被検体の被曝線量とを求め、これ
を条件テーブルとして保持手段に保持し、保持手段に記
憶されている組み合わせの中から設定手段に設定された
Ｓ／Ｎ比以上であり、かつ被検体の被曝線量が最小とな
る組み合わせを選択するようにしているので、被検体の
被曝線量と、画像のＳ／Ｎ比を所定の基準に保つように
Ｘ線出力条件を容易に決定することが可能となる。
量設定手段に設定された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組
み合わせと、この組み合わせにおける光量透過率、透過
Ｘ線像のＳ／Ｎ比及び被検体の被曝線量とを求め、これ
を条件テーブルとして保持手段に保持し、保持手段に記
憶されている組み合わせの中から設定手段に設定された
Ｓ／Ｎ比以上であり、かつ被検体の被曝線量が最小とな
る組み合わせを選択するようにしているので、被検体の
被曝線量と、画像のＳ／Ｎ比を所定の基準に保つように
Ｘ線出力条件を容易に決定することが可能となる。
【００５６】さらに、Ｘ線入射面への入射線量が入射線
量設定手段に設定された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組
み合わせと、この組み合わせにおける光量透過率、透過
Ｘ線像のコントラスト値及び被検体の被曝線量とを求
め、これを条件テーブルとして保持手段に保持し、保持
手段に記憶されている組み合わせの中から設定手段に設
定されたコントラスト値以上であり、かつ被検体の被曝
線量が最小となる組み合わせを選択するようにしている
ので、被検体の被曝線量と、画像のコントラスト値を所
定の基準に保つようにＸ線出力条件を容易に決定するこ
とが可能となる。
量設定手段に設定された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組
み合わせと、この組み合わせにおける光量透過率、透過
Ｘ線像のコントラスト値及び被検体の被曝線量とを求
め、これを条件テーブルとして保持手段に保持し、保持
手段に記憶されている組み合わせの中から設定手段に設
定されたコントラスト値以上であり、かつ被検体の被曝
線量が最小となる組み合わせを選択するようにしている
ので、被検体の被曝線量と、画像のコントラスト値を所
定の基準に保つようにＸ線出力条件を容易に決定するこ
とが可能となる。
【００５７】さらに、被検体を透過した透過Ｘ線像のＳ
／Ｎ比がＳ／Ｎ比設定手段に設定された値となる管電
圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと、この組み合
わせにおける被検体の被曝線量とを求め、これを条件テ
ーブルとして保持手段に保持し、保持手段に記憶されて
いる組み合わせの中から被検体の被曝線量が最小となる
組み合わせを選択するようにしているので、被検体の被
曝線量と、画像のＳ／Ｎ比を所定の基準に保つようにＸ
線出力条件を容易に決定することが可能となる。
／Ｎ比がＳ／Ｎ比設定手段に設定された値となる管電
圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと、この組み合
わせにおける被検体の被曝線量とを求め、これを条件テ
ーブルとして保持手段に保持し、保持手段に記憶されて
いる組み合わせの中から被検体の被曝線量が最小となる
組み合わせを選択するようにしているので、被検体の被
曝線量と、画像のＳ／Ｎ比を所定の基準に保つようにＸ
線出力条件を容易に決定することが可能となる。
【００５８】さらに、被検体を透過した透過Ｘ線像のコ
ントラスト値がコントラスト値設定手段に設定された値
となる管電圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと、
この組み合わせにおける被検体の被曝線量とを求め、こ
れを条件テーブルとして保持手段に保持し、保持手段に
記憶されている組み合わせの中から被検体の被曝線量が
最小となる組み合わせを選択するようにしているので、
被検体の被曝線量と、画像のコントラスト値を所定の基
準に保つようにＸ線出力条件を容易に決定することが可
能となる。
ントラスト値がコントラスト値設定手段に設定された値
となる管電圧、ｍＡｓ値、光量透過率の組み合わせと、
この組み合わせにおける被検体の被曝線量とを求め、こ
れを条件テーブルとして保持手段に保持し、保持手段に
記憶されている組み合わせの中から被検体の被曝線量が
最小となる組み合わせを選択するようにしているので、
被検体の被曝線量と、画像のコントラスト値を所定の基
準に保つようにＸ線出力条件を容易に決定することが可
能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＸ線診断装置の第１実施例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】図１に示すＸ線診断装置の演算装置を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】Ｘ線出力条件テーブルの作成動作を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図４】アクリルに換算した被検体の最大の厚みの領域
に存在する造影血管のＳ／Ｎ比を算出する場合の例を示
す説明図である。
に存在する造影血管のＳ／Ｎ比を算出する場合の例を示
す説明図である。
【図５】Ｘ線出力条件テーブルの一例を示す説明図であ
る。
る。
【図６】Ｘ線出力条件テーブルの他の例を示す説明図で
ある。
ある。
１ Ｘ線診断装置
３ Ｘ線管球
５ Ｘ線コントローラ（制御手段）
７ 演算装置
９ 支持器コントローラ（制御手段）
１１ グリッド
１３ Ｉ．Ｉ（変換手段）
１５ 光学系（絞り手段）
１７ ＴＶカメラ（撮影手段）
３１ 演算部（演算手段）
３３ 条件保持部（保持手段）
３５ 選択部（（Ｓ／Ｎ比，コントラスト比）設定手
段、選択手段） ３７ データ入力部 ３９ 表示部
段、選択手段） ３７ データ入力部 ３９ 表示部
Claims (7)
- 【請求項１】 被検体にＸ線を曝射するＸ線管と、 前記被検体を透過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変
換手段と、 前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、 前記光学像を撮影する撮影手段と、 Ｓ／Ｎ比を設定する設定手段と、 前記撮影する透過Ｘ線像のＳ／Ｎ比を前記設定されたＳ
／Ｎ比とする前記Ｘ線管のＸ線曝射条件及び前記絞り手
段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及び前記絞り手段を
それぞれ制御する制御手段とを備えることを特徴とする
Ｘ線診断装置。 - 【請求項２】 被検体にＸ線を曝射するＸ線管と、 前記被検体を透過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変
換手段と、 前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、 前記光学像を撮影する撮影手段と、 コントラスト値を設定する設定手段と、 前記撮影する透過Ｘ線像のコントラスト値を前記設定さ
れたコントラスト値とする前記Ｘ線管のＸ線曝射条件及
び前記絞り手段の光量透過率を求め、前記Ｘ線管及び前
記絞り手段をそれぞれ制御する制御手段とを備えること
を特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項３】 前記制御手段は、管電圧、管電流、曝射
時間を制御するものであることを特徴とする請求項１ま
たは請求項２のいずれか１項記載のＸ線診断装置。 - 【請求項４】 被検体にＸ線を曝射するＸ線管と、 前記被検体を透過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変
換手段と、 前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、 前記光学像を撮影する撮影手段と、 Ｓ／Ｎ比を設定するＳ／Ｎ比設定手段と、 前記変換手段のＸ線入射面への入射線量を設定する入射
線量設定手段と、 前記変換手段のＸ線入射面への入射線量が前記入射線量
設定手段に設定された値となる管電圧、ｍＡｓ値の組み
合わせと前記組み合わせにおける前記絞りの光量透過
率、透過Ｘ線像のＳ／Ｎ比及び被検体の被曝線量とを求
める演算手段と、 前記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶
する保持手段と、 前記保持手段に記憶されている組み合わせの中から、前
記Ｓ／Ｎ比設定手段に設定された値以上のＳ／Ｎ比であ
り、かつ被検体の被曝線量が最小となる組み合わせを選
択する手段とを備えることを特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項５】 被検体にＸ線を曝射するＸ線管と、 前記被検体を透過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変
換手段と、 前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、 前記光学像を撮影する撮影手段と、 コントラスト値を設定するコントラスト値設定手段と、 前記変換手段のＸ線入射面への入射線量を設定する入射
線量設定手段と、 前記変換手段のＸ線入射面への入射線量が前記入射線量
設定手段に設定された入射線量となる管電圧、ｍＡｓ値
の組み合わせと前記組み合わせにおける前記絞りの光量
透過率、透過Ｘ線像のコントラスト値及び被検体の被曝
線量とを求める演算手段と、 前記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶
する保持手段と、 前記保持手段に記憶されている組み合わせの中から、前
記コントラスト値設定手段に設定された値以上のコント
ラスト値であり、かつ被検体の被曝線量が最小となる組
み合わせを選択する手段とを備えることを特徴とするＸ
線診断装置。 - 【請求項６】 被検体にＸ線を曝射するＸ線管と、 前記被検体を透過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変
換手段と、 前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、 前記光学像を撮影する撮影手段と、 Ｓ／Ｎ比を設定するＳ／Ｎ比設定手段と、 前記撮影する透過Ｘ線像のＳ／Ｎ比が前記Ｓ／Ｎ比設定
手段に設定された値となる管電圧、ｍＡｓ値、光量透過
率の組み合わせと前記組み合わせにおける被検体の被曝
線量とを求める演算手段と、 前記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶
する保持手段と、 前記保持手段に記憶されている組み合わせの中から被検
体の被曝線量が最小となる組み合わせを選択する手段と
を備えることを特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項７】 被検体にＸ線を曝射するＸ線管と、 前記被検体を透過した透過Ｘ線像を光学像に変換する変
換手段と、 前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、 前記光学像を撮影する撮影手段と、 コントラスト値を設定するコントラスト値設定手段と、 前記撮影する透過Ｘ線像のコントラスト値が前記コント
ラスト値設定手段に設定された値となる管電圧、ｍＡｓ
値、光量透過率の組み合わせと前記組み合わせにおける
被検体の被曝線量とを求める演算手段と、 前記演算手段により求めた値を条件テーブルとして記憶
する保持手段と、 前記保持手段に記憶されている組み合わせの中から被検
体の被曝線量が最小となる組み合わせを選択する手段と
を備えることを特徴とするＸ線診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20520194A JP3402776B2 (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | Ｘ線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20520194A JP3402776B2 (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | Ｘ線診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0866389A JPH0866389A (ja) | 1996-03-12 |
| JP3402776B2 true JP3402776B2 (ja) | 2003-05-06 |
Family
ID=16503081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20520194A Expired - Lifetime JP3402776B2 (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | Ｘ線診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3402776B2 (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005074000A (ja) * | 2003-09-01 | 2005-03-24 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置および被曝線量分布算出方法 |
| JP4537037B2 (ja) * | 2003-11-11 | 2010-09-01 | 東芝Ｉｔコントロールシステム株式会社 | Ｘ線検査装置及びその管電圧・管電流調整方法 |
| JP2006105861A (ja) * | 2004-10-07 | 2006-04-20 | Toshiba It & Control Systems Corp | Ｘ線検査装置及びｘ線検査装置の管電圧管電流調整方法 |
| JP4739738B2 (ja) * | 2004-12-01 | 2011-08-03 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 線量評価方法およびｘ線ｃｔ装置 |
| JP4863700B2 (ja) * | 2005-02-04 | 2012-01-25 | 東芝Ｉｔコントロールシステム株式会社 | Ｘ線検査装置 |
| WO2006106941A2 (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-12 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US7280635B2 (en) * | 2005-12-01 | 2007-10-09 | Thomas Louis Toth | Processes and apparatus for managing low kVp selection and dose reduction and providing increased contrast enhancement in non-destructive imaging |
| JP4858701B2 (ja) * | 2006-10-23 | 2012-01-18 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線高電圧装置およびｘ線高電圧装置を含むｘ線診断装置 |
| JP2008212644A (ja) | 2007-02-06 | 2008-09-18 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びその駆動方法、並びに放射線撮像システム |
| WO2008096688A1 (en) * | 2007-02-06 | 2008-08-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus and method of driving the same, and radiation imaging system |
| JP5224898B2 (ja) | 2008-05-09 | 2013-07-03 | キヤノン株式会社 | 放射線画像撮影装置及びその駆動方法 |
| JP5602014B2 (ja) * | 2008-05-22 | 2014-10-08 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線診断装置 |
| US8699658B2 (en) * | 2009-07-15 | 2014-04-15 | Mayo Foundation For Medical Education And Research | System and method for automatic tube potential selection for dose reduction in medical imaging |
| JP5844296B2 (ja) * | 2012-06-11 | 2016-01-13 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像処理装置および方法 |
| WO2016056090A1 (ja) * | 2014-10-08 | 2016-04-14 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線透視撮影装置 |
| JP2017051395A (ja) * | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像処理装置、方法およびプログラム |
| JP6902979B2 (ja) * | 2017-09-28 | 2021-07-14 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置、制御装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
-
1994
- 1994-08-30 JP JP20520194A patent/JP3402776B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0866389A (ja) | 1996-03-12 |
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