JPH1057361A

JPH1057361A - Ｘ線装置

Info

Publication number: JPH1057361A
Application number: JP8214466A
Authority: JP
Inventors: Hironori Ueki; 広則植木; Takeshi Ueda; 健植田; Akira Hisayoshi; 明久芳; Rika Baba; 理香馬場; Ken Ishikawa; 謙石川
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 1996-08-14
Filing date: 1996-08-14
Publication date: 1998-03-03

Abstract

(57)【要約】【課題】Ｘ線散乱やグレア散乱の影響を考慮して、適
正な濃度レベルでのＸ線撮影が可能なＸ線装置を提供す
ること。【解決手段】高電圧を発生する高電圧発生手段と、該
出力に応じたＸ線を発生するＸ線管と、前記Ｘ線のエネ
ルギー分布を変化させるＸ線フィルタと、被検体のＸ線
像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段に入射する散乱
Ｘ線を除去するＸ線グリッドと、前記Ｘ線像を表示する
表示手段とを有するＸ線装置において、予め計測した、
直接Ｘ線の強度と前記撮像手段のビデオ信号出力との関
係と、前記被検体で散乱されるＸ線の点広がりとを格納
する格納手段と、透視時の条件と前記格納手段に格納さ
れる情報とに基づき、撮影時の撮影条件を決定する撮影
条件決定手段と、該撮影条件決定手段の出力に基づき、
前記高電圧発生手段の出力、前記フィルタおよび前記撮
像手段を制御する制御手段とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線装置に関し、
特に、Ｘ線診断における撮影時のＸ線条件を適正に制御
する露出制御装置に適用して有効な技術に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】Ｘ線装置におけるＸ線自動露出制御方法
は、古くから工夫、改良が行われているが、被検体透過
時の造影剤や骨等の影響で適正なＸ線条件設定が難し
く、特に多用されている消化器診断においては、その改
良の要求が強い。

【０００３】従来のＸ線自動露出制御方法としては、た
とえば、特開昭５７−８８６９８号公報に記載されるＸ
線自動露出装置がある。

【０００４】このＸ線自動露出装置は、被検体のＸ線透
過像を一部採光したものを複数のフォトダイオードで検
出し、この複数のフォトダイオードの内選択された幾つ
かのフォトダイオードの検出器の出力に基づいて、Ｘ線
撮影時におけるＸ線の照射時間を制御する方法である。

【０００５】すなわち、このＸ線自動露出装置では、フ
ォトダイオードの出力信号に基づいてＸ線撮影時におけ
るＸ線の照射時間をリアルタイムに制御できるので、被
検体の個体差やＸ線撮影条件等に左右されない制御が可
能となる。

【０００６】また、他のＸ線自動露出制御方法として
は、特開昭６２−１５８００号公報に記載されるＸ線診
断装置がある。

【０００７】このＸ線診断装置は、被検体のＸ線透視時
におけるＸ線検出器から出力されるビデオ信号から、被
検体の平均的な厚さおよび最小・最大の厚さを求め、前
記被検体のＸ線撮影像のコントラストが最大となるよう
なＸ線撮影条件を決定し、撮影を制御する。

【０００８】すなわち、Ｘ線検出器から出力されるビデ
オ信号を用いて被検体のＸ線撮影条件を決定するので、
前記特開昭５７−８８６９８号公報の場合のようにフォ
トダイオードを用意する必要がなく、簡単な装置構成で
Ｘ線撮影条件を制御することができる。

【０００９】一般に、ビデオ信号を用いて露出制御を行
う場合、ビデオ信号の読み込み速度よりも短い時間スケ
ールで撮影時間の制御を行う必要があるので、リアルタ
イムの制御が不可能である。

【００１０】このため、前述する特開昭６２−１５８０
０号公報に記載のように、被検体のＸ線撮影条件を予め
決定する必要がある。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】本発明者は、前記従来
技術を検討した結果、以下の問題点を見いだした。

【００１２】特開昭５７−８８６９８号公報に記載のＸ
線自動露出装置は、正確な露出制御を行うために多数の
フォトダイオードを必要とするので、コストが上昇して
しまうという問題がある。

【００１３】また、多数のフォトダイオードを制御する
と共に、多数の入力に基づいて露出を制御するための制
御装置もフォトダイオード数の増加と共に複雑となるの
で、コストがかかるという問題がある。

【００１４】さらには、フォトダイオードとＸ線検出器
とでは、光に対する感度特性に差があるので、正確な露
出制御を困難なものにするという問題がある。

【００１５】一方、Ｘ線が被検体内を透過する際に生じ
るＸ線散乱は、一般的にＸ線管の管電圧、Ｘ線フィルタ
の種類、被検体の厚さ、被検体とＸ線検出器の入力面と
の距離（以下、エアギャップと記す）、および、Ｘ線グ
リッドの種類等により、その散乱強度および散乱分布が
変化すると共に、Ｘ線の照射領域の大きさの影響を受け
ることが知られている。

【００１６】また、検出器にＸ線イメージインテンシフ
ァイア（以下、Ｘ線Ｉ．Ｉ．と記す）を使用する装置で
は、Ｘ線像を光学像に変換する際に生じるグレア散乱が
検出領域を規定するＩ．Ｉ．モードにしたがって、その
散乱強度および散乱分布を変化することが知られてい
る。

【００１７】したがって、Ｘ線Ｉ．Ｉ．とテレビカメラ
とを用いた装置では、Ｘ線Ｉ．Ｉ．に入射する直接Ｘ線
および散乱Ｘ線に加え、Ｘ線Ｉ．Ｉ．で生じるグレア散
乱をも含んだ結果がテレビカメラで撮影すなわちビデオ
信号に変換されることになる。

【００１８】一方、特開昭６２−１５８００号公報に記
載のＸ線診断装置では、ビデオ信号を用いて露出制御を
行う際に、Ｘ線散乱やグレア散乱の影響が考慮されてい
ないので、被検体の正確な厚さを求めることができず、
この結果、Ｘ線撮影条件を正確に決定できないという問
題がある。

【００１９】本発明の目的は、被検体のＸ線透視像のビ
デオ信号から被検体のＸ線撮影を行う際に、Ｘ線散乱や
グレア散乱の影響を考慮して、適正な濃度レベルでのＸ
線撮影が可能なＸ線装置を提供することにある。

【００２０】本発明の他の目的は、簡単な装置構成によ
り低コストなＸ線装置を実現することが可能な技術を提
供することにある。

【００２１】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。

【００２２】

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。

【００２３】（１）高電圧を発生する高電圧発生手段
と、該高電圧発生手段の出力に応じたＸ線を発生するＸ
線管と、前記Ｘ線の照射領域内のＸ線エネルギー分布を
変化させるＸ線フィルタと、被検体を透過したＸ線像を
撮像する撮像手段と、該撮像手段の前面に配置され前記
撮像手段に入射する散乱Ｘ線を除去するＸ線グリッド
と、前記撮像手段が撮像したＸ線像を表示する表示手段
とを有するＸ線装置において、予め計測した、直接Ｘ線
の強度と前記撮像手段のビデオ信号出力との関係と、前
記被検体で散乱されるＸ線の点広がりとを格納する格納
手段と、透視時の条件と前記格納手段に格納される情報
とに基づき、撮影時の撮影条件を決定する撮影条件決定
手段と、該撮影条件決定手段の出力に基づき、前記高電
圧発生手段の出力、前記フィルタおよび前記撮像手段を
制御する制御手段とを具備する。

【００２４】（２）高電圧を発生する高電圧発生手段
と、該高電圧発生手段の出力に応じたＸ線を発生するＸ
線管と、前記Ｘ線の照射領域内のＸ線エネルギー分布を
変化させるＸ線フィルタと、被検体を透過したＸ線像を
光学像に変換する光学像変換手段と、該光学像を撮像す
る光学像撮像手段と、前記光学像変換手段の前面に配置
され前記光学像変換手段に入射する散乱Ｘ線を除去する
Ｘ線グリッドと、前記撮像手段が撮像したＸ線像を表示
する表示手段とを有するＸ線装置において、予め計測し
た、直接Ｘ線の強度と前記光学像撮像手段のビデオ信号
出力との関係と、前記光学像変換手段がＸ線像を光学像
に変換する際に生じるグレア散乱の点広がりとを格納す
る格納手段と、透視時の条件と前記格納手段に格納され
る情報とに基づき、撮影時の撮影条件を決定する撮影条
件決定手段と、該撮影条件決定手段の出力に基づき、前
記高電圧発生手段の出力、前記フィルタおよび前記光学
像撮像手段を制御する制御手段とを具備する。

【００２５】（３）高電圧を発生する高電圧発生手段
と、該高電圧発生手段の出力に応じたＸ線を発生するＸ
線管と、前記Ｘ線の照射領域内のＸ線エネルギー分布を
変化させるＸ線フィルタと、被検体を透過したＸ線像を
光学像に変換する光学像変換手段と、該光学像を撮像す
る光学像撮像手段と、前記光学像変換手段の前面に配置
され前記光学像変換手段に入射する散乱Ｘ線を除去する
Ｘ線グリッドと、前記撮像手段が撮像したＸ線像を表示
する表示手段とを有するＸ線装置において、予め計測し
た、直接Ｘ線の強度と前記光学像撮像手段のビデオ信号
出力との関係、前記被検体で散乱されるＸ線の点広が
り、および、前記光学像変換手段がＸ線像を光学像に変
換する際に生じるグレア散乱の点広がりを格納する格納
手段と、透視時の条件と前記格納手段に格納される情報
とに基づき、撮影時の撮影条件を決定する撮影条件決定
手段と、該撮影条件決定手段の出力に基づき、前記高電
圧発生手段の出力、前記フィルタおよび前記光学像撮像
手段を制御する制御手段とを具備する。

【００２６】（４）前述する（１）に記載のＸ線装置に
おいて、前記格納手段は、前記高電圧発生手段の出力電
圧、前記Ｘ線フィルタの種類、前記被検体の厚さおよび
前記Ｘ線グリッドの種類をパラメータとする直接Ｘ線成
分の前記撮像手段におけるビデオ信号出力のテーブル
と、前記高電圧発生手段の出力電圧、前記Ｘ線フィルタ
の種類、前記被検体の厚さ、前記被検体と前記撮像手段
の撮像面との距離および前記Ｘ線グリッドの種類をパラ
メータとする前記散乱Ｘ線の点広がり関数のテーブルと
を格納する。

【００２７】（５）前述する（２）に記載のＸ線装置に
おいて、前記格納手段は、前記高電圧発生手段の出力電
圧、前記Ｘ線フィルタの種類、前記被検体の厚さおよび
前記Ｘ線グリッドの種類をパラメータとする直接Ｘ線成
分の前記光学像撮像手段におけるビデオ信号出力のテー
ブルと、前記光学像変換手段の検出領域の大きさをパラ
メータとする前記光学像変換手段によるグレア散乱の点
広がり関数のテーブルとを格納する。

【００２８】（６）前述する（３）に記載のＸ線装置に
おいて、前記格納手段は、前記高電圧発生手段の出力電
圧、前記Ｘ線フィルタの種類、前記被検体の厚さおよび
前記Ｘ線グリッドの種類をパラメータとする直接Ｘ線成
分の前記光学像撮影手段におけるビデオ信号出力のテー
ブルと、前記高電圧発生手段の出力電圧、前記Ｘ線フィ
ルタの種類、前記被検体の厚さ、前記被検体と前記光学
像変換手段との距離および前記Ｘ線グリッドの種類をパ
ラメータとする前記散乱Ｘ線の点広がり関数のテーブル
と、前記光学像変換手段の検出領域の大きさをパラメー
タとする前記光学像変換手段によるグレア散乱の点広が
り関数のテーブルとを格納する。

【００２９】（７）前述する（１）ないし（６）の内の
いずれかに記載のＸ線装置において、前記撮影条件決定
手段は、被検体の透視時における前記撮像手段あるいは
前記光学像撮影手段のビデオ信号出力と、前記透視条件
と、前記格納手段に格納される各テーブルとを用いて前
記被検体の厚さを求め、該被検体の厚さに基づいて撮影
時の前記高電圧発生手段の出力電圧および前記Ｘ線フィ
ルタの種類を決定する。

【００３０】（８）前述する（１）ないし（７）の内の
いずれかに記載のＸ線装置において、前記撮影条件決定
手段は、透視時の条件において出力されるべき撮像手段
あるいは前記光学像撮影手段のビデオ信号出力を被検体
の厚さを変数とする２点以上の値に対して計算し、前記
撮像手段あるいは前記光学像撮影手段のビデオ信号出力
値の計算値を関数でフィッティングする手段と、前記関
数と透視時において得られた撮像手段あるいは前記光学
像撮影手段のビデオ信号出力との関係から前記被検体の
厚さを求める手段とを具備する。

【００３１】（９）前述する（１）ないし（８）の内の
いずれかに記載のＸ線装置において、前記撮影条件決定
手段は、前記被検体の厚さおよび撮影時においてあらか
じめ決定されている前記高電圧発生手段の出力電圧、前
記Ｘ線フィルタの種類および前記Ｘ線照射領域の大きさ
に対して、透視時における前記撮像手段あるいは前記光
学像撮影手段のビデオ信号出力と撮影時における前記撮
像手段あるいは前記光学像撮影手段のビデオ信号出力と
が等しくなるように、撮影時における前記高電圧発生手
段の出力電流量、前記撮像手段あるいは前記光学像撮影
手段への入射光量、および、前記撮像手段あるいは光学
像撮影手段のゲインを決定する。

【００３２】（１０）前述する（４）ないし（９）の内
のいずれかに記載のＸ線装置において、前記直接Ｘ線成
分の前記撮像手段あるいは前記光学像撮像手段における
ビデオ信号出力のテーブルは、前記直接Ｘ線成分の前記
撮像手段あるいは前記光学像撮影手段のビデオ信号出力
を前記高電圧発生手段の出力電圧を変数とする数点の値
に対してプロットした後、前記直接Ｘ線成分の前記撮像
手段あるいは前記光学像撮影手段のビデオ信号出力のプ
ロット値を関数でフィッティングし、前記関数を前記Ｘ
線フィルタの種類、前記被検体の厚さおよび前記Ｘ線グ
リッドの種類のパラメータに対するテーブルとする。

【００３３】（１１）前述する（４）ないし（１０）の
内のいずれかに記載のＸ線装置において、前記散乱Ｘ線
の点広がり関数のテーブルは、前記散乱Ｘ線の点広がり
関数を前記高電圧発生手段の出力電圧、および、前記被
検体と前記Ｘ線グリッドとの距離を変数とする数点の値
に対してプロットした後、前記散乱Ｘ線の点広がり関数
のプロット値を関数でフィッティングし、前記関数を前
記Ｘ線フィルタの種類、前記被検体の厚さおよび前記Ｘ
線グリッドの種類のパラメータに対するテーブルとす
る。

【００３４】（１２）前述する（１）ないし（１１）の
内のいずれかに記載のＸ線装置において、撮影条件決定
手段は、前記表示手段の表示面上にあらかじめ設定され
た領域に該当する部分の前記撮像手段あるいは前記光学
像撮影手段のビデオ信号出力の平均値を、前記被検体の
厚さの決定および撮影条件の決定に用いる。

【００３５】前述した（１）の手段によれば、まず、直
接Ｘ線の強度と撮像手段のビデオ信号出力との関係と、
被検体で散乱されるＸ線の点広がりとを、予め計測して
格納手段に格納しておく。

【００３６】次に、Ｘ線撮影を行う際には、透視時の条
件と格納手段に格納される散乱Ｘ線の点広がりとから、
撮影条件決定手段が散乱Ｘ線による撮像手段の入射光量
（入射Ｘ線量）の増加分を計算し、この計算値に基づい
て、制御手段がＸ線装置を制御して撮影（Ｘ線撮影）を
行うので、Ｘ線散乱の影響を考慮して、適正な濃度レベ
ルでＸ線撮影ができる。

【００３７】また、従来のＸ線装置に対して、直接Ｘ線
の強度と撮像手段のビデオ信号出力との関係と、被検体
で散乱されるＸ線の点広がりとを予め計測して格納する
格納手段、および、該格納手段に格納される情報と透視
条件とから散乱Ｘ線による撮像手段の入射光量（入射Ｘ
線量）の増加分を計算する撮影条件決定手段を設け、制
御手段が計算結果に基づいて撮影を行うという簡単な装
置構成とするのみで、散乱Ｘ線の影響を除去できるの
で、Ｘ線装置のコストを低くできる。

【００３８】前述した（２）の手段によれば、まず、直
接Ｘ線の強度と光学像撮像手段のビデオ信号出力との関
係と、光学像変換手段がＸ線像を光学像に変換する際に
生じるグレア散乱の点広がりとを、予め計測して格納手
段に格納しておく。

【００３９】次に、Ｘ線撮影を行う際には、透視時の条
件と格納手段に格納されるグレア散乱の点広がりとか
ら、撮影条件決定手段がグレア散乱による光学像撮像手
段の入射光量、すなわち、光学像変換手段の出射光量の
増加分を計算し、この計算値に基づいて、制御手段がＸ
線装置を制御して撮影（Ｘ線撮影）を行うので、グレア
散乱の影響を考慮して、適正な濃度レベルでＸ線撮影が
できる。

【００４０】また、従来のＸ線装置に対して、直接Ｘ線
の強度と光学像撮像手段のビデオ信号出力との関係と、
光学像変換手段がＸ線像を光学像に変換する際に生じる
グレア散乱の点広がりとを予め計測して格納する格納手
段、および、該格納手段に格納される情報と透視条件と
からグレア散乱による光学像撮像手段への入射光量の増
加分を計算する撮影条件決定手段を設け、制御手段が計
算結果に基づいて撮影を行うという簡単な装置構成とす
るのみで、グレア散乱の影響を除去できるので、Ｘ線装
置のコストを低くできる。

【００４１】前述した（３）の手段によれば、まず、直
接Ｘ線の強度と光学像撮像手段のビデオ信号出力との関
係と、被検体で散乱されるＸ線の点広がりと、光学像変
換手段がＸ線像を光学像に変換する際に生じるグレア散
乱の点広がりとを、予め計測して格納手段に格納してお
く。

【００４２】次に、Ｘ線撮影を行う際には、透視時の条
件と格納手段に格納される散乱Ｘ線およびグレア散乱の
点広がりとから、撮影条件決定手段がＸ線散乱およびグ
レア散乱による光学像撮像手段の入射光量、すなわち、
光学像変換手段の出射光量の増加分を計算し、この計算
値に基づいて、制御手段がＸ線装置を制御して撮影（Ｘ
線撮影）を行うので、Ｘ線散乱およびグレア散乱の影響
を考慮して、適正な濃度レベルでＸ線撮影ができる。

【００４３】また、従来のＸ線装置に対して、直接Ｘ線
の強度と光学像撮像手段のビデオ信号出力との関係と、
被検体で散乱されるＸ線の点広がりと、光学像変換手段
がＸ線像を光学像に変換する際に生じるグレア散乱の点
広がりとを予め計測して格納する格納手段、および、該
格納手段に格納される情報と透視条件とからＸ線散乱お
よびグレア散乱による光学像撮像手段への入射光量の増
加分を計算する撮影条件決定手段を設け、制御手段が計
算結果に基づいて撮影を行うという簡単な装置構成とす
るのみで、Ｘ線散乱およびグレア散乱の影響を除去でき
るので、Ｘ線装置のコストを低くできる。

【００４４】前述した（４）の手段によれば、格納手段
が高電圧発生手段の出力電圧、Ｘ線フィルタの種類、被
検体の厚さおよび前記Ｘ線グリッドの種類をパラメータ
とする直接Ｘ線成分のビデオ信号出力のテーブルと、Ｘ
線管の管電圧、Ｘ線フィルタの種類、被検体の厚さ、被
検体と前記撮像手段の撮像面との距離およびＸ線グリッ
ドの種類をパラメータとする散乱Ｘ線の点広がり関数の
テーブルとを格納しているので、この２つのテーブルを
用いて、ビデオ信号出力中に含まれるＸ線散乱成分をＸ
線透視・撮影条件のそれぞれにおいて求めることができ
る。

【００４５】したがって、透視時におけるビデオ信号出
力から正確に被検体の厚さを求め、かつ、被検体の厚さ
に応じたＸ線撮影条件を決定でき、この結果に基づい
て、制御手段がＸ線装置を制御して撮影を行うので、Ｘ
線散乱の影響を考慮して、適正な濃度レベルでＸ線撮影
ができる。

【００４６】前述した（５）の手段によれば、格納手段
が高電圧発生手段の出力電圧、Ｘ線フィルタの種類、被
検体の厚さおよびＸ線グリッドの種類をパラメータとす
る直接Ｘ線成分のビデオ信号出力のテーブルと、光学像
変換手段の検出領域の大きさをパラメータとする光学像
変換手段によるグレア散乱の点広がり関数のテーブルと
を格納しているので、この２つのテーブルを用いて、ビ
デオ信号出力中に含まれるグレア散乱成分をＸ線透視・
撮影条件のそれぞれにおいて求めることができる。

【００４７】したがって、透視時におけるビデオ信号出
力から正確に被検体の厚さを求めると共に、被検体の厚
さに応じたＸ線撮影条件を決定でき、この結果に基づい
て、制御手段がＸ線装置を制御して撮影を行うので、グ
レア散乱の影響を考慮して、適正な濃度レベルでＸ線撮
影ができる。

【００４８】前述した（６）の手段によれば、格納手段
が高電圧発生手段の出力電圧、Ｘ線フィルタの種類、被
検体の厚さおよびＸ線グリッドの種類をパラメータとす
る直接Ｘ線成分のビデオ信号出力のテーブルと、高電圧
発生手段の出力電圧、Ｘ線フィルタの種類、被検体の厚
さ、被検体と光学像変換手段との距離およびＸ線グリッ
ドの種類をパラメータとする散乱Ｘ線の点広がり関数の
テーブルと、光学像変換手段の検出領域の大きさをパラ
メータとする光学像変換手段によるグレア散乱の点広が
り関数のテーブルとを格納しているので、この３つのテ
ーブルを用いて、ビデオ信号出力中に含まれるＸ線散乱
およびグレア散乱成分をＸ線透視・撮影条件のそれぞれ
において求めることができる。

【００４９】したがって、透視時におけるビデオ信号出
力から正確に被検体の厚さを求めると共に、被検体の厚
さに応じたＸ線撮影条件を決定でき、この結果に基づい
て、制御手段がＸ線装置を制御して撮影を行うので、Ｘ
線散乱およびグレア散乱の影響を考慮して、適正な濃度
レベルでＸ線撮影ができる。

【００５０】前述した（７）の手段によれば、撮影条件
決定手段は、被検体の透視時における撮像手段あるいは
光学像撮影手段のビデオ信号出力と、透視条件と、格納
手段に格納される各テーブルとを用いて被検体の厚さを
求め、この被検体の厚さに基づいて、撮影時の高電圧発
生手段の出力電圧およびＸ線フィルタの種類を決定する
ので、被検体の厚さに応じて、より適切な高電圧発生手
段の出力電圧すなわちＸ線管の管電圧と、Ｘ線フィルタ
の選択とを行うことができる。

【００５１】前述した（８）の手段によれば、まず、撮
影条件決定手段は、被検体の厚さの離散的な変化に対し
て用意された直接Ｘ線成分のビデオ信号出力および光学
像変換手段によるＸ線散乱の点広がり関数のテーブルを
用いて、透視時の条件において出力されるべき撮像手段
あるいは光学像撮影手段のビデオ信号出力を被検体の厚
さを変数として離散的な２点以上の値に対して計算した
後、撮像手段あるいは光学像撮影手段のビデオ信号出力
値の計算値を関数でフィッティングする。

【００５２】次に、被検体の厚さを求める手段が、前述
の関数と透視時において得られた撮像手段あるいは光学
像撮影手段のビデオ信号出力との関係から被検体の厚さ
を求めることにより、被検体の厚さの連続的な変化に対
するビデオ信号値を計算できるので、透視時において実
際に得られるビデオ信号出力から被検体の厚さを精度よ
く求めることができる。

【００５３】したがって、Ｘ線散乱の影響を考慮した正
確なＸ線撮影ができる。

【００５４】前述した（９）の手段によれば、撮影条件
決定手段が、被検体の厚さおよび撮影時においてあらか
じめ決定されている高電圧発生手段の出力電圧、Ｘ線フ
ィルタの種類およびＸ線照射領域の大きさに対して、透
視時における撮像手段あるいは光学像撮影手段のビデオ
信号出力と撮影時におけるビデオ信号出力とが等しくな
るように、撮影時における高電圧発生手段の出力電流
量、すなわちＸ線管の管電流量、光学像撮影手段への入
射光量、および、撮像手段あるいは光学像撮影手段のゲ
インを決定するので、透視時における被検体の透視像と
ほぼ同じ出力強度の撮影像を得ることができる。

【００５５】前述した（１０）の手段によれば、直接Ｘ
線成分のビデオ信号出力のテーブルは、直接Ｘ線成分の
撮像手段あるいは光学像撮影手段のビデオ信号出力を高
電圧発生手段の出力電圧を変数とする数点の値に対して
プロットした後、直接Ｘ線成分の撮像手段あるいは光学
像撮影手段のビデオ信号出力のプロット値を関数でフィ
ッティングした後、この関数をＸ線フィルタの種類、被
検体の厚さおよびＸ線グリッドの種類のパラメータに対
するテーブルとしたものであるから、高電圧発生手段の
出力電圧すなわちＸ線管の管電圧の連続的な変化に対し
て、直接Ｘ線成分のビデオ信号出力を求めることができ
る。

【００５６】したがって、直接Ｘ線量をより正確に計算
できる。

【００５７】前述した（１１）の手段によれば、散乱Ｘ
線の点広がり関数のテーブルは、散乱Ｘ線の点広がり関
数を高電圧発生手段の出力電圧、および、被検体とＸ線
グリッドとの距離を変数とする数点の値に対してプロッ
トした後、散乱Ｘ線の点広がり関数のプロット値を関数
でフィッティングし、この関数をＸ線フィルタの種類、
被検体の厚さおよびＸ線グリッドの種類のパラメータに
対するテーブルとしたものであるから、高電圧発生手段
の出力電圧すなわちＸ線管の管電圧、および、エアギャ
ップの連続的な変化に対して、散乱Ｘ線の点広がり関数
を求めることができる。

【００５８】したがって、Ｘ線散乱の影響をより正確に
計算できる。

【００５９】前述した（１２）の手段によれば、撮影条
件決定手段は、表示手段の表示面上にあらかじめ設定さ
れた領域に該当する部分の撮像手段あるいは光学像撮影
手段のビデオ信号出力の平均値を、被検体の厚さの決定
および撮影条件の決定に用いるので、あらかじめ設定さ
れた関心領域における被検体の平均的な厚さを求めると
共に、透視時と撮影時とにおけるビデオ信号出力がこの
関心領域内においてほぼ等しくなるようにＸ線装置を制
御できる。

【００６０】

【発明の実施の形態】以下、本発明について、発明の実
施の形態（実施例）とともに図面を参照して詳細に説明
する。

【００６１】なお、発明の実施の形態を説明するための
全図において、同一機能を有するものは同一符号を付
け、その繰り返しの説明は省略する。

【００６２】（実施の形態１）図１は、本発明の実施の
形態１のＸ線装置の概略構成を示すブロック図であり、
１はＸ線管、２はＸ線フィルタ、３はＸ線コリメータ
（コリメータ）、５は寝台天板、６はＸ線グリッド、７
はＸ線イメージインテンシファイア（光学像変換手段，
以下、Ｘ線Ｉ．Ｉ．と記す）、８は光学レンズ系、９は
テレビカメラ（光学像撮像手段）、１０はＸ線制御器
（高電圧発生手段）、１１はＸ線フィルタ制御器、１２
はＸ線コリメータ制御器、１３は透視・撮影位置制御
器、１４はイメージインテンシファイアモード制御器
（以下、Ｉ．Ｉ．モード制御器と記す）、１５は光学絞
り制御器、１６はテレビカメラ制御器、１７はＡ／Ｄ変
換器、１８はシステム制御器（制御手段）、１９はメモ
リ、２０はテーブル、２１は信号処理装置（撮影条件決
定手段）、２３はモニタ、２４はＸ線グリッド制御器、
２５は操作装置を示す。

【００６３】なお、前記各装置および機構は公知のもの
を用いる。

【００６４】また、本実施の形態の説明において、Ｘ線
装置を操作する操作者および透視撮影結果に基づいて病
巣部の診断を行う医者等をまとめて作業者と記すものと
する。

【００６５】Ｘ線検出器（撮像手段）は、Ｘ線Ｉ．Ｉ．
７、光学レンズ系８およびテレビカメラ９からなる。撮
影系はＸ線管１、Ｘ線フィルタ２、Ｘ線コリメータ３、
Ｘ線グリッド６およびＸ線検出器からなる。被検体４は
寝台天板５上に位置し、撮影体位を様々に変化できるも
のする。そして、被検体４の撮りたい部位を前記Ｘ線検
出器の視野の中心付近に設定する。

【００６６】本実施の形態においては、Ｘ線管１とＸ線
Ｉ．Ｉ．７の入力面との距離は１２０ｃｍ（センチメー
トル）、被検体４の厚さはｔ、寝台天板５の上面とＸ線
Ｉ．Ｉ．７の入力面との間の距離（以下、エアギャップ
と記す）はＬ、Ｘ線Ｉ．Ｉ．７のＸ線入力面の直径は３
０．５ｃｍである。ただし、ｔは被検体４により様々に
変化する。また、エアギャップＬは図示しない作業者の
設定に従い、様々に変化可能である。また、（ｘ，ｙ）
座標系はＸ線Ｉ．Ｉ．７の入力面上で定義され、Ｘ線
Ｉ．Ｉ．７の中心を原点に持ち、被検体４の体軸方向を
ｙ軸、このｙ軸に直交する方向をｘ軸として定める。Ｘ
線グリッド６は、Ｘ線Ｉ．Ｉ．７の入力面上に固定され
る。テレビカメラ９は、撮影素子として高解像度ＣＣＤ
素子を使用する。

【００６７】次に、図１に示す各部の概要を説明する
と、Ｘ線制御器１０はＸ線管１のＸ線発生を制御する制
御装置であり、システム制御器１８の指示によりＸ線の
発生に必要となる高電圧を発生し、この電圧をＸ線管１
に供給する。また、Ｘ線発生時におけるＸ線管１の管電
圧、管電流および撮影時間等の情報をリアルタイムにメ
モリ１９に記録する。

【００６８】Ｘ線フィルタ制御器１１は、Ｘ線管１から
放射されるＸ線のエネルギー分布を変化させるために用
いられる周知のＸ線フィルタの種類あるいはＸ線フィル
タの有無を制御する制御装置であり、システム制御器１
８の指示に基づき周知のＸ線フィルタの種類あるいはＸ
線フィルタの有無を切り替えるための信号を出力する。
また、Ｘ線フィルタ制御器１１は、Ｘ線発生時における
Ｘ線フィルタの種類、あるいは、Ｘ線フィルタの有無の
情報をリアルタイムにメモリ１９に記録する。

【００６９】Ｘ線コリメータ制御器１２は、システム制
御器１８の指示に基づきＸ線照射領域Ａ（ｘ，ｙ）を変
化させるためのＸ線コリメータの位置を規定する装置で
ある。ただし、本願明細書中においては、Ｘ線照射領域
Ａ（ｘ，ｙ）は、Ｘ線Ｉ．Ｉ．７の入力面上におけるＸ
線の照射領域を示すものである。また、Ｘ線コリメータ
制御器１２は、Ｘ線発生時におけるＸ線照射領域Ａ
（ｘ，ｙ）の情報をリアルタイムにメモリ１９に記録す
る。

【００７０】透視・撮影位置制御器１３は、被検体４の
Ｘ線透視・撮影位置を制御する装置であり、透視・撮影
位置の制御は固定された寝台天板５に対して撮影系全体
を移動することにより、あるいは、固定された撮影系に
対して寝台天板５を移動することにより、または、これ
らの両方を組み合わせることにより行う。また、透視・
撮影位置制御器１３は、Ｘ線発生時におけるエアギャッ
プＬの情報をリアルタイムにメモリ１９に記録する。

【００７１】Ｘ線グリッド制御器２４は、Ｘ線グリッド
６の種類を制御する装置であり、図示しないＸ線グリッ
ド選択装置を制御してＸ線グリッド６の種類を変更す
る。また、Ｘ線グリッド制御器２４は、Ｘ線発生時にお
けるＸ線グリッド６の種類の情報をリアルタイムにメモ
リ１９に記録する。

【００７２】Ｉ．Ｉ．モード制御器１４は、Ｘ線Ｉ．
Ｉ．７のＸ線検出領域すなわちＸ線Ｉ．Ｉ．の視野を規
定する制御装置であり、本実施の形態においては、Ｘ線
検出領域をＸ線Ｉ．Ｉ．７の入力面サイズで表し、７、
９、１２インチモードが用意されている。なお、Ｘ線
Ｉ．Ｉ．７は、その入力面上において、およそそれぞれ
のインチ数（ただし、１インチを２．５４ｃｍとする）
を直径とする円の内部の領域でＸ線を検出するものであ
る。また、Ｉ．Ｉ．モード制御器１４は、Ｘ線発生時に
おけるＩ．Ｉ．モードの情報をリアルタイムにメモリ１
９に記録する。

【００７３】光学絞り制御器１５は、光学レンズ系８の
光学絞りを変化し、光学絞り面積Ωを制御する。また、
Ｘ線発生時における光学絞り面積Ωの情報をリアルタイ
ムにメモリ１９に記録する。

【００７４】テレビカメラ制御器１６は、テレビカメラ
９の走査条件、走査のタイミングおよびテレビカメラ９
のゲインＧを制御する。テレビカメラ９のＸ線透視時に
おける標準走査モードは毎秒３０フレーム、走査線数１
０５０本であるが、毎秒６０フレーム、走査数５２５本
による透視も可能である。テレビカメラ９のＸ線撮影時
における標準走査線数は２１００本であるが、走査線数
１０５０本および５２５本による撮影も可能である。テ
レビカメラ制御器１６はまた、Ｘ線発生時におけるテレ
ビカメラ９の走査条件、走査のタイミングおよびテレビ
カメラ９のゲインＧの情報をメモリ１９に記録する。

【００７５】テーブル２０は、図示しない周知の外部記
憶装置（格納手段）に格納されるテーブルデータであ
り、このテーブル２０にはテーブル値として直接Ｘ線出
力Ｉｐｏ、Ｘ線散乱点広がり関数（以下、ＰＳＦ：Ｐｏ
ｉｎｔＳｐｒｅａｄＦｕｎｃｔｉｏｎと記す）Ｐｘ
（ｘ，ｙ）およびグレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）の
値が格納される。

【００７６】ここで、直接線出力Ｉｐｏは、管電流量Ｑ
＝１、光学絞り面積Ω＝１、テレビカメラ９のゲインＧ
＝１および画素面積Ｓ＝１とした場合において、Ｘ線散
乱およびグレア散乱することなしにテレビカメラ９によ
って検出されるＸ線の強度であり、また散乱ＰＳＦＰ
（ｘ，ｙ）（ただし、Ｐ（ｘ，ｙ）はＸ線散乱、グレア
散乱を表す）は、直接Ｘ線および散乱線によるテレビカ
メラ９の出力強度をそれぞれＩｐδ（ｘ，ｙ）、ｆ
（ｘ，ｙ）とした場合に、下記の数１で定義される。

【００７７】

【数１】

【００７８】また、各テーブルは、被検体４として均一
なＸ線吸収係数を持つアクリル板を用いた場合に対して
用意される。このとき、直接Ｘ線出力Ｉｐｏは、Ｘ線管
１の管電圧Ｖ、被検体４の厚さｔ、Ｘ線フィルタ２の種
類およびＸ線グリッド６の種類の４つのパラメータの変
化に対して非独立的に変化するので、これらの４つのパ
ラメータの各値に対してテーブルを用意する必要があ
る。

【００７９】また、Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）
は、Ｘ線管１の管電圧Ｖ、被検体４の厚さｔ、Ｘ線フィ
ルタ２の種類、Ｘ線グリッド６の種類およびエアギャッ
プＬの５つのパラメータの変化に対して非独立的に変化
するので、これらの５つのパラメータの各値に対してテ
ーブルを用意する必要がある。さらには、グレア散乱Ｐ
ＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）は、Ｉ．Ｉ．モードに依存して変
化するので、各Ｉ．Ｉ．モードに対するテーブル値を用
意する必要がある。なお、前述する各テーブルの例およ
びテーブル値の測定方法については後述する。

【００８０】図１において、被検体４を前述するように
アクリル板と見なして近似し、また入射するＸ線を平行
光線とみなして近似した場合、テレビカメラ９により検
出される被検体４の出力画像の強度分布Ｉ（ｘ，ｙ）
は、下記の数２で表される。

【００８１】

【数２】

【００８２】ただし、数２において、＊＊は２次元畳み
込み演算を表すものとする。

【００８３】したがって、各透視条件および撮影条件に
おいて被検体の厚さｔが決定すれば、数２を用いて出力
画像の強度分布Ｉ（ｘ，ｙ）を近似的に求めることがで
きる。

【００８４】なお、本願明細書中においては、以下、Ｘ
線管１の管電圧Ｖまたは管電流量Ｑ、Ｘ線フィルタ２の
種類、Ｘ線照射領域Ａ（ｘ，ｙ）、エアギャップＬ、Ｘ
線グリッド６の種類、Ｉ．Ｉ．モード、光学絞り面積
Ω、テレビカメラ９のゲインＧおよび画素面積Ｓの状態
をそれぞれパラメータとして、Ｘ線透視およびＸ線撮影
時における前述の各パラメータの設定値をそれぞれＸ線
透視条件およびＸ線撮影条件とする。

【００８５】ただし、管電流量Ｑは、Ｘ線透視時におい
てはＸ線管１の管電流とテレビカメラ９の１フレームの
読み込み時間の積として、また、Ｘ線撮影時においては
Ｘ線管１の管電流とＸ線放射時間の積として定義する。

【００８６】また、画素面積Ｓは、テレビカメラ９の出
力画像の１画素の面積を（ｘ，ｙ）平面上のスケールで
換算したものであり、したがって、画素面積ＳはＩ．
Ｉ．モードおよびテレビカメラ９の走査線数により決定
される。

【００８７】なお、前述するようにＸ線透視時における
前記Ｘ線透視条件は、リアルタイムにメモリ１９に記録
される。

【００８８】次に、図１に基づいて、本実施の形態のＸ
線装置の動作を説明すると、Ｘ線透視および撮影時にお
いて、Ｘ線管１から発生（照射）されたＸ線は、Ｘ線フ
ィルタ２によりエネルギー分布が変化され、Ｘ線コリメ
ータ３によりＸ線照射領域Ａ（ｘ，ｙ）を制限された後
に被検体４を透過する。このとき、Ｘ線は被検体４を透
過する際に、その一部が被検体４により散乱される。

【００８９】被検体４により散乱されたいわゆる散乱Ｘ
線は、Ｘ線グリッド６によりその大部分が遮断される
が、その一部は遮断されずにＸ線グリッド６を透過す
る。したがって、Ｘ線グリッド６を透過した散乱Ｘ線と
被検体４を散乱されずに透過する直接Ｘ線Ｉｐとは同時
にＸ線Ｉ．Ｉ．７により検出され、光学像に変換され
る。

【００９０】このとき、この光学像には、Ｘ線像から光
学像への変換過程において生ずるグレア散乱成分が含ま
れる。

【００９１】Ｘ線Ｉ．Ｉ．７で変換された光学像は、光
学レンズ系８において光学絞りを用いて光量を調節され
た後、テレビカメラ９の図示しない撮像素子の撮像面上
に結像される。テレビカメラ９は光学像をビデオ信号に
変換し、出力する。次に、ビデオ信号はＡ／Ｄ変換器１
７においてアナログ信号からデジタル信号へ変換され、
モニタ２３の表示画面上に表示される。このとき、モニ
タ２３の表示画面上には、作業者の関心領域（以下、Ｒ
ＯＩ：ＲｅｇｉｏｎＯｆＩｎｔｅｒｅｓｔとする）
２２を同時に表示することが可能である。

【００９２】ＲＯＩ２２は、自動的あるいは作業者の手
動操作によってモニタ２３の画面上に設定される。ただ
し、Ｘ線発生時におけるＲＯＩ２２の位置のおよびＲＯ
Ｉ２２内の平均出力信号ＩＦの情報は、リアルタイムに
メモリ１９に記録される。

【００９３】Ｘ線透視時においては、Ｘ線透視条件およ
びモニタ２３の表示画面上のＲＯＩ２２の位置は自動
的、あるいは、その一部または全部が作業者の手動操作
により選択される。ただし、Ｘ線透視条件およびＲＯＩ
２２の位置を作業者が手動で選択する場合は、操作装置
２５からの入力により選択が行われる。

【００９４】操作装置２５を用いて選択されたＸ線透視
条件の設定値は、システム制御器１８を通じて各制御器
に伝えられ、設定が行われる。このとき、Ｘ線フィルタ
２の種類およびＸ線グリッド６の種類は、操作装置２５
を通さずに、作業者が直接設定することもできる。透視
時における前記Ｘ線透視条件、ＲＯＩ２２の位置および
ＲＯＩ２２内の平均出力信号ＩＦの情報はリアルタイム
でメモリ１９に記録される。

【００９５】したがって、作業者はＸ線透視時において
は、被検体４の見たい部位がモニタ２３の表示画面の適
正な位置にくるように、透視・撮影位置制御器１３を用
いて位置を合わせ、位置が合った時点において、操作装
置２５を操作することにより透視終了の信号を発生す
る。また作業者は、透視終了後にＸ線撮影時におけるＸ
線照射領域等を設定し、照射領域等の設定が終了した後
に操作装置２５を操作してＸ線撮影開始の信号を発生す
る。なお、透視から撮影へ高速に移動するためには、透
視中において、Ｘ線撮影開始の信号を発生してもよい。
このときは、Ｘ線撮影開始の信号が発生されると同時に
Ｘ線透視を終了し、Ｘ線撮影へと移行する。

【００９６】Ｘ線撮影開始の信号が発生されると同時
に、信号処理装置２１はＸ線透視終了時のＸ線透視条
件、ＲＯＩ２２の位置およびＲＯＩ２２内の平均出力信
号ＩＦをメモリ１９から読み込み、また、透視時の条件
（透視条件）により決定されるテーブル値をテーブル２
０から読み込んだ後に、これらの条件に基づいてＸ線撮
影条件を算出しメモリ１９に格納する。なお、このとき
のＸ線撮影条件の算出方法の詳細は、後述する。

【００９７】次に、システム制御器１８は、前述のＸ線
撮影条件がメモリ１９に格納されると同時に各Ｘ線撮影
条件を読み出し、該当する各制御器に伝えることによ
り、Ｘ線撮影の設定を行い、設定が完了すると同時にＸ
線撮影を行う。このＸ線撮影像は、Ａ／Ｄ変換器１７に
よりデジタル信号に変換された後に、図示しないフレー
ムメモリに格納される。

【００９８】図２は、本実施の形態の信号処理装置にお
ける撮影条件の決定手順の概略を説明するための図であ
り、以下、図２に基づいて、Ｘ線撮影開始の信号が発生
してから実際に撮影が開始されるまでの処理の流れを説
明する。

【００９９】まず、作業者が操作装置２５上に設けられ
た撮影ボタンをＯＮにすると（ブロック２０１）、信号
処理装置２１は透視終了時の透視条件２０２をメモリ１
９から読み出し、数２と後述する処理Ａ２１３を用いて
被検体４の厚さｔが５、１０、１５、２０ｃｍにおける
出力画像の強度分布Ｉ（ｘ，ｙ）をそれぞれ計算した後
に、前記出力画像のＲＯＩ２２内における平均出力信号
ＩＦ（ｔ）をそれぞれのｔに対して計算して出力する
（ブロック２０３）。このときの計算にはテーブル２０
の値が参照される。テーブル２０の参照は、各テーブル
項目に対して、前記透視終了時の透視条件２０２と前述
する被検体厚ｔの設定値とから、該当するパラメータ値
に対応するテーブル値として読み出される。平均出力信
号ＩＦ（ｔ）は、下記に示す数３により、最小２乗法を
用いて関数フィッティングされる（ブロック２０４）。

【０１００】

【数３】

【０１０１】このとき、数３は前述の透視条件２０２に
おける、被検体厚ｔを変数とするＲＯＩ２２内の平均出
力信号ＩＦ（ｔ）の関数である。

【０１０２】次に、メモリ１９から、透視終了時におい
て実際に得られたＲＯＩ内出力信号ＩＦの値が読み出さ
れ（ブロック２０５）、数３とＲＯＩ内出力信号ＩＦと
から後述する処理Ｂ２１４によって、ＲＯＩ内における
平均被検体厚ｔｏを計算する（ブロック２０６）。次
に、ブロック２０６で求められたＲＯＩ内における平均
被検体厚ｔｏの情報に基づいて、撮影条件を一部決定す
る（ブロック２０７）。ブロック２０７で決定される撮
影条件としては管電圧Ｖ、Ｘ線フィルタ種類が挙げられ
る。

【０１０３】ここで、平均被検体厚ｔｏの情報に基づい
た撮影管電圧Ｖ、Ｘ線フィルタ種類の選択の方法は、Ｘ
線の物理的な特性や作業者の意志により任意に設定する
ことができる。この一例として、平均被検体厚ｔｏの増
加に比例して管電圧Ｖを増加する方法が挙げられる。こ
れは、平均被検体厚ｔｏが厚くなるに従って被検体４を
透過するＸ線量が少なくなり、撮影時間が長くなるのを
防ぐためである。

【０１０４】また、このとき、Ｘ線フィルタ種類の選択
としては、前記Ｘ線の管電圧Ｖの増加に従って、低エネ
ルギー成分をより多く吸収するＸ線フィルタを選択する
方法が挙げられる。これは、前記管電圧Ｖの増加に伴っ
て増加するＸ線量に対し、人体に有害な低エネルギーの
Ｘ線を選択的に遮断するためである。

【０１０５】このようにして決定された、撮影時におけ
る管電圧ＶおよびＸ線フィルタの種類は、撮影条件とし
てメモリ１９に保存される。また、撮影条件の他のパラ
メータのうち、エアギャップＬ、グリッドの種類および
Ｉ．Ｉ．モードの値は、透視条件のそれぞれのパラメー
タ値と同一である。

【０１０６】さらには、撮影条件の残りのパラメータの
うちＸ線照射領域Ａ（ｘ，ｙ）の設定は、透視による位
置合わせが終了した時点において作業者が設定してもよ
いし、あるいは、Ｉ．Ｉ．モードに合わせて自動的に設
定してもよいし、または、透視時の設定値と同一のもの
を用いてもよい。これらの設定値は、作業者により任意
に選択可能である。また、画素面積ＳはＩ．Ｉ．モード
とテレビカメラ９の走査線本数とにより決定する量であ
り、作業者により予め設定された透視および撮影時にお
ける走査線本数とＩ．Ｉ．モードとにより決定される。

【０１０７】さらには、撮影時における管電流量ＱＲ、
光学絞り面積ΩＲおよびカメラゲインＧＲは、この時点
においては未知数であり、これらは仮の値１としてメモ
リ１９に保存され、仮の撮影条件２０８が全て決定され
る。前記仮の撮影条件２０８が全て決定されると次に信
号処理装置２１は、この仮の撮影条件２０８をメモリ１
９から読み込み、数２と後述する処理Ａ２１３とを用い
て被検体４の厚さｔが５、１０、１５、２０ｃｍにおけ
る出力画像Ｉ（ｘ，ｙ）をそれぞれ計算した後に、前記
出力画像のＲＯＩ２２内における平均出力信号ＩＲ
（ｔ）をそれぞれのｔに対して計算して出力する（ブロ
ック２０９）。このときの計算には、テーブル２０の値
が参照される。テーブル２０の参照は各テーブル項目に
対して、前記仮の撮影条件２０８と前述の被検体厚ｔの
設定値とから、該当するパラメータ値に対応するテーブ
ル値として読み出される。前述のブロック２０９で計算
された平均出力信号ＩＲ（ｔ）は、下記の数４により最
小２乗法を用いて関数フィッティングされる（ブロック
２１０）。

【０１０８】

【数４】

【０１０９】ただし、数４は前記仮の撮影条件２０８に
おける、被検体厚ｔを変数とするＲＯＩ２２内の平均出
力信号ＩＲ（ｔ）の関数である。

【０１１０】次に、信号処理装置２１はメモリ１９か
ら、透視終了時において実際に得られたＲＯＩ内出力信
号ＩＦの値を読み出し（ブロック２０５）、数４とＲＯ
Ｉ内出力信号ＩＦとから後述する処理Ｂ２１４によっ
て、撮影時における管電流量ＱＲ、光学絞り面積ΩＲお
よびカメラゲインＧＲの値を求め（ブロック２１１）、
全ての撮影条件が決定される。最後に、全ての撮影条件
が決定されると同時に撮影が開始される（ブロック２１
２）。

【０１１１】次に、図３に本実施の形態の信号処理装置
における処理Ａの処理手順を説明するための図を示し、
以下、図３に基づいて、処理Ａでの処理内容を説明す
る。

【０１１２】前述するように、処理Ａは透視条件２０２
および仮の撮影条件２０８のそれぞれにおいて、被検体
厚ｔがそれぞれ５、１０、１５、２０ｃｍである場合の
ＲＯＩ２２内の平均出力信号Ｉ（ｔ）を算出する処理で
ある。ここで、ＲＯＩ２２内の平均出力信号Ｉ（ｔ）の
算出は数２に従って行われる。したがって、処理の流れ
は透視条件２０２に対しても撮影条件２０８に対しても
同一であり、それぞれの条件に対して演算が行われる。
また、透視条件２０２と仮の撮影条件２０８のそれぞれ
に対し、被検体厚ｔがｔ＝５、１０、１５、２０ｃｍの
全ての場合において演算を行う。

【０１１３】以下の説明では、簡単のために被検体厚を
一般的にｔで表現し、また透視条件２０２と仮の撮影条
件２０８を一般的にパラメータ条件と表現して、処理Ａ
における処理の流れを順を追って説明する。

【０１１４】まず始めに、被検体厚ｔが設定される（ブ
ロック３０１）。このときの被検体厚ｔとパラメータ条
件中のグリッド種類３５８、Ｘ線フィルタ種類３５９お
よび管電圧Ｖ３６０の各パラメータ値とから、直接Ｘ線
出力Ｉｐｏのテーブル値が参照される。

【０１１５】次に、直接Ｘ線出力Ｉｐｏのテーブル値と
パラメータ条件中の管電流量Ｑ３５０、光学絞り面積Ω
３５１、カメラゲインＧ３５２、（ただし仮の撮影条件
においては、Ｑ＝Ω＝Ｇ＝１と設定される）面積画素Ｓ
３５２およびＸ線照射領域Ａ（ｘ，ｙ）（ただし、Ａ
（ｘ，ｙ）はＸ線の照射領域内において１、それ以外に
おいて０の値を持つ関数とする）の各パラメータ値とか
ら、下記の数５を用いて直接線画像Ｉｐ（ｘ，ｙ）を作
成する（ブロック３０２）。

【０１１６】

【数５】

【０１１７】ただし、直接線画像Ｉｐ（ｘ，ｙ）は計算
機上で作成されるシミュレーション画像であり、本実施
の形態では、６４ピクセル×６４ピクセルの画素数で作
成される。

【０１１８】次に、ブロック３０１で設定された被検体
厚ｔとパラメータ条件中のエアギャップＬ３５７、グリ
ッド種類３５８、Ｘ線フィルタ種類３５９および管電圧
Ｖ３６０の各パラメータ値とから、Ｘ線散乱ＰＳＦＰ
ｘ（ｘ，ｙ）のテーブル値が参照され、フィルタ画像δ
（ｘ，ｙ）＋Ｐｘ（ｘ，ｙ）が作成される（ブロック３
１１）。

【０１１９】また、下記の数６に従い、２次元畳み込み
演算器３０３により、直接線画像Ｉｐ（ｘ，ｙ）とフィ
ルタ画像δ（ｘ，ｙ）＋Ｐｘ（ｘ，ｙ）との２次元畳み
込み演算が行われ、直接線＋散乱線画像Ｉｐｓ（ｘ，
ｙ）が出力される（ブロック３０４）。

【０１２０】

【数６】

【０１２１】次に、パラメータ条件中のＩ．Ｉ．モード
の設定値からマスク画像Ｂ（ｘ，ｙ）（ただし、Ｂ
（ｘ，ｙ）はＩ．Ｉ．モードにより決定される検出領域
と、Ｉ．Ｉ．の感度分布との積）が作成され（ブロック
３１２）、下記の数７に従い、積算器３０５により前記
直接線＋散乱線画像Ｉｐｓ（ｘ，ｙ）と前記マスク画像
Ｂ（ｘ，ｙ）との積算が行われ、Ｉ．Ｉ．入力画像Ｉ’
ｐｓ（ｘ，ｙ）が出力される（ブロック３０６）。

【０１２２】

【数７】

【０１２３】次に、パラメータ条件中のＩ．Ｉ．モード
の設定値からグレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）のテー
ブル値が参照され、フィルタ画像δ（ｘ，ｙ）＋Ｐｇ
（ｘ，ｙ）が作成される（ブロック３１３）。また下記
の数８にしたがい、２次元畳み込み演算器３０７によ
り、Ｉ．Ｉ．入力画像Ｉ’ｐｓ（ｘ，ｙ）とフィルタ画
像δ（ｘ，ｙ）＋Ｐｇ（ｘ，ｙ）との２次元畳み込み演
算が行われ、出力画像Ｉ（ｘ，ｙ）が出力される（ブロ
ック３０８）。

【０１２４】

【数８】

【０１２５】最後に、ＲＯＩの位置３５６の設定値から
ＲＯＩ内平均値演算器３０９によりＲＯＩ２２内の平均
出力信号Ｉ（ｔ）が算出される。

【０１２６】図４は、透視条件および撮影条件の設定の
一例において、被検体厚ｔ＝５、１０、１５、２０ｃｍ
におけるＲＯＩ２２内の平均出力信号Ｉ（ｔ）を前述の
方法で算出し、プロットした結果を示すグラフである。

【０１２７】図４において、透視条件２０２は管電圧Ｖ
＝７０ｋＶ、管電流量Ｑ＝１ｍＡｓ、Ｘ線フィルタは不
使用、Ｘ線照射領域Ａ（ｘ，ｙ）＝１８×１８ｃｍ
²（平方センチメートル）、エアギャップＬ＝２ｃｍ、
Ｘ線グリッドとして焦点距離１２０ｃｍ、グリッド比１
対１２の標準的なグリッド、Ｉ．Ｉ．モードを１２イン
チモード、光学絞り面積Ω＝１２．５６ｃｍ²、テレビ
カメラのゲインＧ＝１、画素面積Ｓ＝０．０２２ｍｍ²
（平方ミリメートル）とした。また、撮影条件は管電圧
Ｖ＝１１０ｋＶ、Ｘ線照射領域Ａ（ｘ，ｙ）＝３０×３
０ｃｍ²とし、残りのパラメータに関しては透視条件と
同一とした。なお、ＲＯＩとしては（ｘ，ｙ）平面スケ
ールで、（ｘ，ｙ）平面の中心に７．５×７．５ｃｍ²
の正方形の領域を設定した。

【０１２８】図４には透視条件に対する算出結果のプロ
ット値４００と、撮影条件に対する算出結果のプロット
値４０１とが同時に示されている。また図４にはそれぞ
れのプロット値を最小２乗法を用いて数３および数４で
それぞれフィッティングした結果が示される。

【０１２９】図４において、透視条件に対するプロット
値４００とそのフィッティング結果４０２および撮影条
件に対するプロット値４０１とそのフィッティング結果
４０３を見ると、比較的精度よくフィッティングが行わ
れていることがわかる。したがって、数３および数４が
前述のプロット値のフィッティング関数としてほぼ妥当
であることがわかる。

【０１３０】次に、図５に本実施の形態の信号処理装置
で実行される処理Ｂの処理手順を説明するための図を示
し、以下、図５に基づいて、処理Ｂでの処理手順を詳述
する。

【０１３１】ただし、処理Ｂを説明するに当たり、処理
Ｂは仮の撮影条件を決定する際のＲＯＩ内平均被検体厚
ｔｏを計算する第１の過程と、仮の撮影条件に基づく平
均出力信号ＩＦ（ｔ）から撮影時の管電流量ＧＲ、光学
絞り面積ΩＲおよびカメラゲインＧＲを決定する第２の
過程とに分けられる。

【０１３２】したがって、まず始めに第１の過程におけ
る動作を説明した後に、第２の過程における動作を説明
する。

【０１３３】第１の過程において、まず、処理Ａで透視
条件２０２における平均出力信号ＩＦ（ｔ）をｔ＝５、
１０、１５、２０ｃｍにおいて計算した結果が出力され
る（ブロック２０３）。

【０１３４】次に、前記平均出力信号ＩＦ（ｔ）のプロ
ット値を数３で最小２乗フィッティングし（ブロック２
０４）、数３のパラメータ値ａＦ，ｂＦを出力する（ブ
ロック５０１）。

【０１３５】次に、透視終了時において実際に得られた
ＲＯＩ内出力信号ＩＦの値（ブロック２０５）、およ
び、前述のブロック５０１のａＦ，ｂＦの値からＲＯＩ
内平均被検体厚ｔｏが下記の数９により求められる（ブ
ロック２０６）。

【０１３６】

【数９】

【０１３７】第２の過程においては、ＲＯＩ内平均被検
体厚ｔｏが求まると、図２に示されるブロック２０７に
おいて撮影条件が一部決定され、次に図２に示されるブ
ロック２０８において仮の撮影条件２０８が決定され
る。処理Ａで仮の撮影条件２０８における平均出力信号
ＩＲ（ｔ）をｔ＝５、１０、１５、２０ｃｍにおいて計
算した結果が出力される（図５のブロック２０９）。次
に前記平均出力信号ＩＲ（ｔ）のプロット値を数４で最
小２乗フィッティングし（ブロック２１０）、数４のパ
ラメータ値ａＲ，ｂＲを出力する（ブロック５０２）。
ここで、数４は管電流量ＱＲ＝１、光学絞り面積ΩＲ＝
１およびカメラゲインＧＲ＝１とした場合の仮の撮影条
件２０８に対してフィッティングされるため、本来の撮
影条件においては、被検体厚ｔとＲＯＩ内の平均出力信
号値ＩＲ（ｔ）との関係は次式で表される。

【０１３８】

【数１０】

【０１３９】次に、透視終了時において実際に得られた
ＲＯＩ内出力信号ＩＦの値（ブロック２０５）、ブロッ
ク２０６の平均被検体厚ｔｏの値、ブロック５０２のａ
Ｒ，ｂＲの値および数１０より、撮影時における管電流
量ＱＲ、光学絞り面積ΩＲおよびカメラゲインＧＲに対
する設定条件が次式で決定される（ブロック２１１）。

【０１４０】

【数１１】

【０１４１】ここで、数１１に示される設定条件に対
し、撮影時における管電流量ＱＲ、光学絞り面積ΩＲお
よびカメラゲインＧＲの個々の値は、被検体４の被曝線
量、撮影画像の空間解像度、テレビカメラ９のＳＮ比等
を考慮して自動的に、あるいはあらかじめ検者により手
動で決定される。一般に管電流量ＱＲを増加すれば被検
体４の被曝線量が増加し、また光学絞り面積ΩＲを大き
くすれば撮影画像の空間解像度が低下し、さらにカメラ
ゲインＧＲを増加すれば撮影画像のＳＮ比が低下する。
このため、撮影画像の画質を重視して撮影を行う場合に
は、光学絞り面積ΩＲおよびカメラゲインＧＲを小さく
し、逆に管電流量ＱＲを大きくして数１１を満たす状態
にすればよい。また被検体４の被曝線量の低減を重視し
て撮影を行う場合には、光学絞り面積ΩＲおよびカメラ
ゲインＧＲを大きくし、逆に管電流量ＱＲを小さくして
数１１を満たす状態にすればよい。

【０１４２】図６は本実施の形態で用いられるテーブル
２０のテーブル値を求める方法を説明するための図であ
り、特に、図６（Ａ）（Ｂ）は、テーブル２０のうち直
接Ｘ線出力Ｉｐｏのテーブルを求める方法について説明
するための図であり、図６（Ｃ）（Ｄ）および図６
（Ｅ）（Ｆ）はグレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）およ
びＸ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）のテーブルを求める
方法を説明するための図である。

【０１４３】図６（Ａ）において、Ｘ線Ｉ．Ｉ．７の入
力面の前面にはＸ線グリッド６を配置し、Ｘ線グリッド
６の前面にＸ線Ｉ．Ｉ．７の入力面全体を覆うアクリル
板６００を配置する。このアクリル板６００の前面の中
央位置には直径３ｍｍ、厚さ３ｍｍの鉛円板６０１を配
置する。このとき計測される画像の、ｘ軸上で計測され
るプロファイルを示したものが図６（Ｂ）である。

【０１４４】図６（Ｂ）においてプロファイル６１０
は、ｘ＝０付近において鉛円板６０１により直接Ｘ線が
遮蔽されて、アクリル板６００による散乱Ｘ線とＸ線
Ｉ．Ｉ．７によるグレア散乱のみが計測される。したが
って、ｘ＝０付近における極大値６１１と極小値６１２
との差は直接Ｘ線出力Ｉｐｏに相当するので、前述する
方法を用いて、直接Ｘ線出力Ｉｐｏのテーブル値を求め
ることができる。ただし、テーブル値としては、管電流
量Ｑ＝１、光学絞り面積Ω＝１、テレビカメラ９のゲイ
ンＧ＝１および画素面積Ｓ＝１とした場合の換算値を記
録する。

【０１４５】直接Ｘ線出力Ｉｐｏは、Ｘ線管１の管電圧
Ｖ、被検体厚ｔ（この場合はアクリル６００の厚さ）、
Ｘ線フィルタ２の種類、Ｘ線グリッド６の種類の４つの
パラメータに対して、非独立的に変化する。したがっ
て、これら４つのパラメータの全ての組み合わせに対し
て、前述の計測を行い、テーブルを用意する。

【０１４６】図６（Ｃ）（Ｄ）および（Ｅ）（Ｆ）に基
づいて、テーブル２０のうちグレア散乱ＰＳＦＰｇ
（ｘ，ｙ）およびＸ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）のテ
ーブルを求める方法について説明する。

【０１４７】Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）は、Ｘ線
グリッド６のＸ線吸収材の方向に依存してその形状が決
まる。したがって、本実施の形態の場合、Ｘ線吸収材の
方向は体軸方向（ｙ軸方向）に設定されるので、Ｘ線散
乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）は、図６（Ｃ）（Ｄ）に示す
ｘ軸方向の計測と、図６（Ｅ）（Ｆ）に示すｙ軸方向の
計測との両方について行う。

【０１４８】一方、グレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）
はＸ線Ｉ．Ｉ．７のみに依存し、（ｘ，ｙ）平面上にお
ける方向性を持たないので、ｘ軸方向についてのみ計測
を行う。

【０１４９】したがって、図６（Ｃ）および（Ｅ）にお
いて、Ｘ線Ｉ．Ｉ．７の入力面の前面にはＸ線グリッド
６を配置し、Ｘ線グリッド６の前面にアクリル板６００
を配置する（ただし、グレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，
ｙ）を計測する場合は、アクリル板６００を置かずに計
測する）。このとき、アクリル板６００の前面には厚さ
３ｍｍで、アクリル板６００全面を覆う鉛板６０２を配
置する。ただし、鉛板６０２には幅３ｍｍのスリット６
０３が中央部まで切られている。

【０１５０】図６（Ｃ）に示すｘ軸方向のＰＳＦ計測お
いては、スリット６０３がｘ軸上のｘ≦０の範囲に存在
するように鉛板６０２を配置する。また、図６（Ｅ）に
示すｙ軸方向のＰＳＦ計測おいては、スリット６０３が
ｙ軸上のｙ≦０の範囲に存在するように鉛板６０２を配
置する。

【０１５１】図６（Ｃ）、（Ｅ）に示す方法において計
測される画像の、それぞれｘ軸上、ｙ軸上で計測される
プロファイルを示したものが、図６（Ｄ）、（Ｆ）であ
る。

【０１５２】いま、グレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）
を計測する場合、グレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）は、
一般に下記の数１２で示される。

【０１５３】

【数１２】

【０１５４】このとき、スリット６０３の幅が十分小さ
い場合は、図６（Ｄ）に示すプロファイル６２０は、ｘ
≧０において下記の数１３で表される。

【０１５５】

【数１３】

【０１５６】したがって、プロファイル６２０をｘ≧０
において数１３で最小２乗フィッティングすることによ
り、グレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）を決定するパラ
メータａｇおよびｂｇを求めることができる。なお、前
述のフィッティングにおいて、図６（Ａ）、（Ｂ）の方
法で求められた直接Ｘ線出力Ｉｐｏが利用できる。ま
た、プロファイル６２０のフィッティングに際しては、
ｘ＝０付近において、Ｘ線検出器の空間分解能やＸ線管
１の焦点サイズに起因する直接Ｘ線が混入するので、フ
ィッテングを行う範囲をｘｓ≦ｘ≦ｘｅの範囲に限定し
て最小２乗フィッティング値６２２を得る。ここで、ｘ
ｓおよびｘｅの代表値はそれぞれ１．５ｃｍおよび８ｃ
ｍである。

【０１５７】グレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）は、Ｘ
線Ｉ．Ｉ．７のＩ．Ｉ．モードに依存して変化するの
で、全てのＩ．Ｉ．モードに対して前述の計測を行い、
テーブルを用意する。

【０１５８】Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）を計測す
る場合、Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）は、経験的に
下記の数１４で示される。

【０１５９】

【数１４】

【０１６０】このとき、スリット６０３の幅が十分小さ
い場合は、図６（Ｄ）、（Ｆ）に示されるプロファイル
６２０、プロファイル６３０は、それぞれｘ≧０および
ｙ≧０において、下記の数１５、数１６で表される。

【０１６１】

【数１５】

【０１６２】

【数１６】

【０１６３】ただし、＊は１次元の畳み込み演算を示
す。

【０１６４】また、関数Ｅｒｆ（）は誤差関数であ
り、下記の数１７で定義する。

【０１６５】

【数１７】

【０１６６】前述の数１５、数１６に示すように、Ｘ線
散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）は、下記の数１８に示され
る、グレア散乱を伴った形で計測される。

【０１６７】

【数１８】

【０１６８】このため、数１８に対するデコンボルーシ
ョンフィルタを用いて、プロファイル６２０およびプロ
ファイル６３０からグレア成分を除去した後に、それぞ
れのプロファイルに対して、下記の数１９および数２０
で最小２乗フィッティングを行うことにより、Ｘ線散乱
ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）を決定するパラメータａｘ，ｂ
ｘ，ｃｘを決定することができる。なお、前述のフィッ
ティングにおいて、図６（Ａ）（Ｂ）の方法で求められ
た直接Ｘ線出力Ｉｐｏが利用できる。

【０１６９】

【数１９】

【０１７０】

【数２０】

【０１７１】ここで、数１８のデコンボルーションフィ
ルタの周波数応答Ｆ（ω）は、下記の数２１で表され
る。

【０１７２】

【数２１】

【０１７３】プロファイル６２０、６３０のフィッティ
ングに際しては、ｘ＝ｙ＝０付近において、Ｘ線検出器
の空間分解能やＸ線管１の焦点サイズに起因する直接Ｘ
線が混入するので、フィッテングを行う範囲をそれぞれ
ｘｓ≦ｘ≦ｘｅ、ｙｓ≦ｙ≦ｙｅの範囲に限定して最小
２乗フィッティング値６２２、６３２を得る。ここで、
ｘｓおよびｘｅの代表値は、それぞれ１．５ｃｍおよび
８ｃｍである。

【０１７４】グレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）は、Ｘ
線管１の管電圧Ｖ、被検体厚ｔ（ここではアクリル６０
０の厚さ）、エアギャップＬ、Ｘ線フィルタ２の種類、
Ｘ線グリッド６の種類の５つのパラメータに対して、非
独立的に変化する。したがって、前述の５つのパラメー
タの全ての組み合わせに対して前述の計測を行い、テー
ブルを用意する。

【０１７５】図７は本実施の形態で用いられるテーブル
２０の詳細を説明するための図であり、特に、図７
（Ａ）は直接Ｘ線出力Ｉｐｏのテーブルを説明するため
の図であり、図７（Ｂ）はＸ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，
ｙ）のテーブルを説明するための図であり、図７（Ｃ）
はグレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）のテーブルを説明
するための図である。

【０１７６】図７（Ａ）において、直接Ｘ線出力Ｉｐｏ
はＸ線管１の管電圧Ｖ、被検体厚ｔ、Ｘ線フィルタ２の
種類、Ｘ線グリッド６の種類の４つのパラメータに対し
て非独立的に変化するので、これらの全ての組み合わせ
に対してテーブルが用意される。

【０１７７】まず、全てのＸ線フィルタの種類とグリッ
ドの種類の組み合わせに対しテーブルシートが用意され
る。図７（Ａ）には、テーブルシートとして、Ｘ線フィ
ルタ種類：ｆｉｌｔｅｒ１、グリッド種類：ｇｒｉｄ１
に対するテーブルシート７００、Ｘ線フィルタ種類：ｆ
ｉｌｔｅｒ２、グリッド種類：ｇｒｉｄ２に対するテー
ブルシート７０１等が示されている。また、それぞれの
テーブルシートにおいて、管電圧Ｖ＝７０、９０、１０
０ｋＶと被検体厚ｔ＝５、１０、１５、２０ｃｍとの全
ての組み合わせに対するテーブルが用意される。

【０１７８】図７（Ｂ）において、Ｘ線散乱ＰＳＦＰ
ｘ（ｘ，ｙ）は、Ｘ線管１の管電圧Ｖ、被検体厚ｔ、エ
アギャップＬ、Ｘ線フィルタ２の種類、Ｘ線グリッド６
の種類の５つのパラメータに対して非独立的に変化する
ので、これらの全ての組み合わせに対してテーブルが用
意される。テーブル量としては、数１４に示すＸ線散乱
ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）を決定するパラメータａｘ、ｂ
ｘおよびｃｘが記録される。

【０１７９】まず、全てのＸ線フィルタの種類とグリッ
ドの種類との組み合わせに対し、テーブルシートが用意
される。図７（Ｂ）には、テーブルシートとして、Ｘ線
フィルタ種類：ｆｉｌｔｅｒ１、グリッド種類：ｇｒｉ
ｄ１に対するテーブルシート７１０、Ｘ線フィルタ種
類：ｆｉｌｔｅｒ２、グリッド種類：ｇｒｉｄ２に対す
るテーブルシート７１１等が示されている。また、それ
ぞれのテーブルシートにおいて、エアギャップＬ＝２、
９、１６ｃｍと管電圧Ｖ＝７０、９０、１００ｋＶと被
検体厚ｔ＝５、１０、１５、２０ｃｍとの全ての組み合
わせに対するテーブルが用意される。

【０１８０】図７（Ｃ）において、グレア散乱ＰＳＦ
Ｐｇ（ｘ，ｙ）は、Ｉ．Ｉ．モードに依存して変化する
ので、全てのＩ．Ｉ．モードに対してテーブルが用意さ
れる。テーブル量としては、数１２に示されるグレア散
乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）を決定するパラメータａｇお
よびｂｇが記録される。

【０１８１】図８は図７（Ａ）に示す直接Ｘ線出力Ｉｐ
ｏのテーブルおよび図７（Ｂ）に示すＸ線散乱ＰＳＦ
Ｐｘ（ｘ，ｙ）のテーブルにおける各テーブル値の管電
圧Ｖに対する依存性、および、エアギャップＬに対する
依存性の一例を示した図である。

【０１８２】図８において、Ｘ線フィルタは不使用、Ｘ
線グリッドとして焦点距離１２０ｃｍ、グリッド比１２
対１の標準的なグリッドを用いている。また、特に図８
（Ｂ）〜（Ｇ）においては、被検体厚ｔ＝１０ｃｍにお
ける結果が示されている。図７に示すテーブル値は、離
散的な管電圧ＶおよびエアギャップＬの変化するテーブ
ル値しか用意されていないが、実際の透視・撮影におい
ては、これらの値は連続的に変化する。このため、前述
するような離散的なプロット値を連続関数でフィッティ
ングして、連続的な管電圧ＶおよびエアギャップＬの変
化に対するテーブル値を用意する必要がある。

【０１８３】図８（Ａ）〜（Ｅ）、および（Ｇ）には、
各プロット値を２次関数で最小２乗フィッティングした
結果も同時に示している。また、図８（Ｆ）には各プロ
ット値を定数でフィッティングした結果も同時に示して
いる。なお、図７に示すテーブル値は、被検体厚ｔの変
化に対しても離散的であるが、これについては、図４に
示すように、撮影条件を決定する過程の中でフィッティ
ングが行われる。

【０１８４】図８（Ａ）は直接Ｘ線出力Ｉｐｏの管電圧
Ｖに対する依存性を各被検体厚ｔの値についてプロット
・フィッティングした図である。図８（Ａ）から明らか
なように、フィッティングが比較的精度よく行われてい
る。したがって、２次関数がフィッティング関数として
ほぼ妥当であることがわかる。

【０１８５】図８（Ｂ）、（Ｄ）、（Ｆ）は、それぞれ
Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）を決定するパラメータ
ａｘ、ｂｘ、ｃｘの管電圧Ｖに対する依存性を各エアギ
ャップＬの値についてプロット・フィッティングした図
である。ただし、フィッティングは、図８（Ｂ）、
（Ｄ）を２次関数で、図８（Ｆ）を定数で行った。図８
（Ｂ）、（Ｄ）から明らかなように、フィッティングが
比較的精度よく行われている。したがって、２次関数が
フィッティング関数としてほぼ妥当であることがわか
る。

【０１８６】また、図８（Ｆ）から明らかなように、パ
ラメータｃｘの管電圧依存性が殆どない。したがって、
テーブル値を計測する際には、ｃｘの管電圧依存性の計
測は省略してもよい。

【０１８７】図８（Ｃ）、（Ｅ）、（Ｇ）は、それぞれ
Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）を決定するパラメータ
ａｘ、ｂｘ、ｃｘのエアギャップＬに対する依存性を各
管電圧Ｖの値についてプロット・フィッティングした図
である。図８（Ｃ）、（Ｅ）、（Ｇ）から明らかなよう
に、フィッティングが比較的精度よく行われていること
がわかる。したがって、２次関数がフィッティング関数
としてほぼ妥当であることがわかる。

【０１８８】以上説明したように、本実施の形態１のＸ
線装置では、予め計測した直接Ｘ線出力Ｉｐｏ、Ｘ線散
乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）およびグレア散乱ＰＳＦＰ
ｇ（ｘ，ｙ）をテーブル２０に格納しておき、Ｘ線撮影
を行う際には、信号処理装置２１が透視時の条件とテー
ブル２０の直接Ｘ線出力Ｉｐｏ、Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ
（ｘ，ｙ）およびグレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，ｙ）と
から被検体４のＲＯＩ内平均被検体厚ｔｏを計算して撮
影条件の一部である管電圧およびＸ線フィルタ種類を、
まず、決定する。

【０１８９】次に、信号処理装置２１は、この撮影条件
とテーブル２０の直接Ｘ線出力Ｉｐｏ、Ｘ線散乱ＰＳＦ
Ｐｘ（ｘ，ｙ）およびグレア散乱ＰＳＦＰｇ（ｘ，
ｙ）に基づいて、平均出力信号ＩＦ（ｆ）を計算した
後、再び、関数フィッティングを行い、残りの撮影条件
である管電流量ＱＲ、光学絞り面積ΩＲおよびカメラゲ
インＧＲ決定し、システム制御器１８がこの条件をＸ線
制御器１０、Ｘ線フィルタ制御器１１、光学絞り制御器
１５およびテレビカメラ制御器１６に出力して、各部を
撮影条件に設定した後、撮影（Ｘ線撮影）を行うので、
Ｘ線散乱およびグレア散乱の影響を考慮して、適正な濃
度でＸ線撮影ができる。

【０１９０】また、本実施の形態１のＸ線装置は、Ｘ線
量あるいはＸ線Ｉ．Ｉ．７の光量を計測する装置（手
段）を特別に設けることなく、撮影条件を透視時の条件
から計算によって決定するので、従来のＸ線装置と同様
な簡単な装置構成となる。

【０１９１】したがって、Ｘ線装置の製造コストをあげ
ることなく、Ｘ線散乱およびグレア散乱の影響を除去で
きる。

【０１９２】以上に示す効果は、散乱Ｘ線量が多い場
合、すなわち、被検体厚が厚くＸ線管の管電圧が高い場
合において、特に効果的である。

【０１９３】この一例としては、被検体として厚さが２
８ｃｍのアクリルを用いて撮影制御を行った場合を以下
に示す。

【０１９４】このときの透視条件としては、Ｘ線管の管
電圧１２０ｋＶ、Ｘ線照射視野Ａ（ｘ，ｙ）＝７インチ
四方、撮影条件としては、Ｘ線管の管電圧１０８ｋＶ、
Ｘ線照射視野Ａ（ｘ，ｙ）＝１２インチ四方とした。ま
た、その他の条件（Ｘ線フィルタの種類、Ｉ．Ｉ．モー
ド、光学絞り面積、テレビカメラの走査線数およびその
ゲイン、エアギャップ）に関しては、透視時と撮影時と
で同一の条件とし、特に、エアギャップＬ＝２５ｃｍと
設定した。さらには、ＲＯＩをＩ．Ｉ．の中心７．６ｃ
ｍ四方の範囲に設定した。

【０１９５】このとき、透視時におけるＲＯＩ内の平均
出力信号を１００％（パーセント）として、撮影時にお
けるＲＯＩ内の平均出力信号を実験的に求めたところ、
本発明においては、撮影画像に対して９０〜１１０％程
度の値が得られた。すなわち、１０％程度の誤差で撮影
を行うことができた。

【０１９６】これに対して、特開昭６２−１５８００号
公報に記載されるような従来の方法で、透視時と撮影時
とにおける散乱Ｘ線量の誤差を考慮せずに撮影制御を行
った場合、撮影画像に対して１４０〜１５０％程度の値
となり、４０〜５０％の誤差が生じた。このような大き
な誤差の主原因としては、Ｘ線照射視野の変化に伴う散
乱Ｘ線量の変化が考えられる。また、このような大きな
誤差は、撮影画像においてハレーションを発生させる原
因となるため、従来の方法では、適正な濃度レベルで撮
影を行うことができない。

【０１９７】前述する実験以外にも、アクリル階段ファ
ントムやマーゲンファントムに対して、様々な条件で実
験を行ったところ、本発明では、最大１５％程度の誤差
範囲で、ほぼ適正な濃度レベルで撮影を行うことができ
た。

【０１９８】このように、本発明の実施の形態１のＸ線
装置では、Ｘ線撮影時の条件をテレビカメラ９のビデオ
信号出力に基づいて決定した場合であっても、散乱Ｘ線
量やグレア散乱量の変化に起因する撮影の失敗を減少
し、適正な濃度レベルで撮影を行うことができる。

【０１９９】（実施の形態２）図９は本発明の実施の形
態２のＸ線装置で用いられるテーブルの詳細を説明する
ための図であり、特に、図９（Ａ）は直接Ｘ線出力Ｉｐ
ｏのテーブルを説明するための図であり、図９（Ｂ）は
Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）のテーブルを説明する
ための図である。

【０２００】なお、本実施の形態２のＸ線装置は、本実
施の形態１のＸ線装置に対して、直接Ｘ線出力Ｉｐｏの
テーブルおよびＸ線散乱ＰＳＦＰｘ（ｘ，ｙ）のテー
ブルの構成が異なるのみであり、他の構成は同一であ
る。

【０２０１】したがって、ここでは、テーブルの構成に
ついてのみ、説明を行うものとする。

【０２０２】図９（Ａ）、（Ｂ）に示すテーブルは、そ
れぞれ直接Ｘ線出力ＩｐｏとＸ線散乱ＰＳＦＰｘ
（ｘ，ｙ）のテーブルに相当し、実施の形態１の図７
（Ａ）、（Ｂ）で示すテーブルに対して、それぞれ代用
される。

【０２０３】本実施の形態の直接Ｘ線出力Ｉｐｏのテー
ブルすなわち図９（Ａ）においては、まず、全てのＸ線
フィルタの種類とグリッドの種類との組み合わせに対し
て、テーブルシートが用意される。

【０２０４】図９（Ａ）には、テーブルシートとして、
Ｘ線フィルタ種類：ｆｉｌｔｅｒ１、グリッド種類：ｇ
ｒｉｄ１に対するテーブルシート９００、Ｘ線フィルタ
種類：ｆｉｌｔｅｒ２、グリッド種類：ｇｒｉｄ２に対
するテーブルシート９０１等が示されている。また、そ
れぞれのテーブルシートにおいて、被検体厚ｔ＝５、１
０、１５、２０ｃｍに対するテーブルが用意される。こ
のときのテーブル値は、図７に示されるＩｐｏのテーブ
ル値を下記の数２２で示す２次関数でフィッティングし
た場合の、２次関数を決定するパラメータαＩ、βＩ、
γＩが記録される。

【０２０５】これは、図８（Ａ）に示す２次関数のフィ
ッティングに相当する。

【０２０６】

【数２２】

【０２０７】したがって、図９（Ａ）のテーブルおよび
数２２を用いることにより、連続的に変化する管電圧Ｖ
に対して、直接Ｘ線出力Ｉｐｏを求めることができる。

【０２０８】次に、図９（Ｂ）においては、まず、全て
のＸ線フィルタの種類とグリッドの種類との組み合わせ
に対してテーブルシートが用意される。

【０２０９】図９（Ｂ）には、テーブルシートとして、
Ｘ線フィルタ種類：ｆｉｌｔｅｒ１、グリッド種類：ｇ
ｒｉｄ１に対するテーブルシート９１０、Ｘ線フィルタ
種類：ｆｉｌｔｅｒ２、グリッド種類：ｇｒｉｄ２に対
するテーブルシート９１１等が示されている。また、そ
れぞれのテーブルシートにおいて、Ｘ線散乱ＰＳＦＰｘ
（ｘ，ｙ）を決定するパラメータａｘ、ｂｘについて
は、エアギャップＬ＝２、９、１６ｃｍと被検体厚ｔ＝
５、１０、１５、２０ｃｍとの全ての組み合わせに対す
るテーブルが用意され、パラメータｃｘについては、被
検体厚ｔ＝５、１０、１５、２０ｃｍに対するテーブル
が用意される。

【０２１０】パラメータａｘ、ｂｘについて、テーブル
値は図７に示されるａｘ、ｂｘのテーブル値を下記の数
２３、数２４で示す２次関数でフィッティングした場合
の、前述の２次関数を決定するパラメータαａ、βａ、
γａおよびαｂ、βｂ、γｂが記録される。

【０２１１】これは、図８（Ｂ）、（Ｄ）にそれぞれ示
される２次関数によるフィッティングに相当する。

【０２１２】

【数２３】

【０２１３】

【数２４】

【０２１４】したがって、図９（Ｂ）のａｘ、ｂｘのテ
ーブルおよび数２３、数２４を用いて、連続的に変化す
る管電圧Ｖに対してパラメータａｘ、ｂｘの値を求める
ことができる。

【０２１５】なお、図９（Ｂ）のａｘ、ｂｘのテーブル
においては、エアギャップＬの離散的な変化に対しての
みテーブルが用意されているが、前述の方法でＬ＝２、
９、１６ｃｍにおいてそれぞれ求めたａｘ、ｂｘに対し
て、図８（Ｃ）、（Ｅ）に示されるような２次関数によ
るフィッティングを行うことにより、連続的なエアギャ
ップＬの変化に対してパラメータａｘ、ｂｘの値を求め
ることができる。また、パラメータｃｘについて、テー
ブル値は図７に示されるｃｘのテーブル値を下記の数２
５で示す２次関数でフィッティングした場合の、前述の
２次関数を決定するパラメータαｃ、βｃ、γｃが記録
される。

【０２１６】これは図８（Ｇ）に示される２次関数によ
るフィッティングに相当する。

【０２１７】

【数２５】

【０２１８】したがって、図９（Ｂ）のｃｘのテーブル
および数２５を用いて、連続的に変化するエアギャップ
Ｌに対してパラメータｃｘの値を求めることができる。
なお、図８（Ｆ）に示すように、パラメータｃｘは管電
圧依存性を殆ど持たないので、前述の方法で求めたｃｘ
の値は、全ての管電圧Ｖに対して共有される。

【０２１９】このように、図９に示されるテーブルを用
いて、連続的に変化する管電圧ＶおよびエアギャップＬ
に対して、テーブル値を求めることができる。

【０２２０】以上説明したように、本発明のＸ線装置に
よれば、被検体を透過するＸ線の直接Ｘ線出力、Ｘ線散
乱点広がり関数、グレア散乱点広がり関数をあらかじめ
計測してテーブルに格納しておき、Ｘ線撮影時には信号
処理装置２１がこのテーブルに格納されるテーブル値と
被検体のＸ線透視像のビデオ信号とからＸ線撮影条件を
決定することにより、Ｘ線散乱やグレア散乱の影響を考
慮した適切なＸ線撮影条件を決定できるので、このＸ線
撮影条件に基づいて、システム制御器１８がＸ線制御器
１０、Ｘ線フィルタ制御器１１、Ｘ線コリメータ制御器
１２、透視・撮影位置制御器１３、Ｘ線グリッド制御器
２４、Ｉ．Ｉ．モード制御器１４、光学絞り制御器１
５、テレビカメラ制御器１６およびＡ／Ｄ変換器１７を
制御してＸ線撮影を行うことにより、Ｘ線散乱やグレア
散乱の影響を除去したＸ線撮影を行うことができる。

【０２２１】なお、本発明は、一般的なＸ線透視装置、
Ｘ線撮影装置、立体Ｘ線撮影装置等にも適用できること
はいうまでもない。

【０２２２】また、本実施の形態においては、撮像手段
として、Ｘ線イメージインテンシファイアとテレビカメ
ラとから撮影系を用いた場合についてその動作および効
果を説明したが、撮像面に結像されるＸ線像を、直接、
電気信号に変換できるＸ線平面センサ等（撮像手段）を
用いた撮影系にも適用できることはいうまでもない。Ｘ
線平面センサの例としては、ＴＦＴ（ＴｈｉｎＦｉｌ
ｍＴｒａｎｓｉｓｔｏｒ）素子を用いる方法がLarge
Area,Flat-Panel,Amorphous Silicon Imagers;L.E.Anto
nuk,et al.SPIE,Vol.2432,Physics of Medical Imagin
g,pp.216-217等に記載されている。

【０２２３】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本
発明は、前記発明の実施の形態に限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能で
あることは勿論である。

【０２２４】

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。

【０２２５】（１）被検体のＸ線透視像のビデオ信号か
ら被検体のＸ線撮影を行う際に、Ｘ線散乱やグレア散乱
の影響を考慮して、適正な濃度レベルでのＸ線撮影がで
きる。

【０２２６】（２）簡単な装置構成になるので、Ｘ線装
置を低コストで製造できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１のＸ線装置の概略構成を
示すブロック図である。

【図２】本実施の形態の信号処理装置における撮影条件
の決定手順の概略を説明するための図である。

【図３】本実施の形態の信号処理装置における処理Ａの
処理手順を説明するための図である。

【図４】透視条件および撮影条件の設定の一例における
ＲＯＩ内の平均出力信号の計算結果を示す図である。

【図５】本実施の形態の信号処理装置で実行される処理
Ｂの処理手順を説明するための図である。

【図６】本実施の形態で用いられるテーブルのテーブル
値の算出方法を説明するための図である。

【図７】本実施の形態で用いられるテーブル２０の詳細
を説明するための図である。

【図８】図７に示す直接Ｘ線出力およびＸ線散乱のテー
ブルにおける各テーブル値の管電圧に対する依存性、お
よび、エアギャップに対する依存性の一例を示した図で
ある。

【図９】本発明の実施の形態２のＸ線装置で用いられる
テーブルの詳細を説明するための図である。

【符号の説明】

１…Ｘ線管、２…Ｘ線フィルタ、３…Ｘ線コリメータ、
５…寝台天板、６…Ｘ線グリッド、７…Ｘ線イメージイ
ンテンシファイア（以下、Ｘ線Ｉ．Ｉ．と記す）、８…
光学レンズ系、９…テレビカメラ、１０…Ｘ線制御器、
１１…Ｘ線フィルタ制御器、１２…Ｘ線コリメータ制御
器、１３…透視・撮影位置制御器、１４…Ｉ．Ｉ．モー
ド制御器、１５…光学絞り制御器、１６…テレビカメラ
制御器、１７…Ａ／Ｄ変換器、１８…システム制御器、
１９…メモリ、２０…テーブル、２１…信号処理装置、
２３…モニタ、２４…Ｘ線グリッド制御器、２５…操作
装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者馬場理香東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者石川謙東京都千代田区内神田一丁目１番14号株式会社日立メディコ内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】高電圧を発生する高電圧発生手段と、該
高電圧発生手段の出力に応じたＸ線を発生するＸ線管
と、前記Ｘ線の照射領域内のＸ線エネルギー分布を変化
させるＸ線フィルタと、被検体を透過したＸ線像を撮像
する撮像手段と、該撮像手段の前面に配置され前記撮像
手段に入射する散乱Ｘ線を除去するＸ線グリッドと、前
記撮像手段が撮像したＸ線像を表示する表示手段とを有
するＸ線装置において、予め計測した、直接Ｘ線の強度と前記撮像手段のビデオ
信号出力との関係と、前記被検体で散乱されるＸ線の点
広がりとを格納する格納手段と、透視時の条件と前記格
納手段に格納される情報とに基づき、撮影時の撮影条件
を決定する撮影条件決定手段と、該撮影条件決定手段の
出力に基づき、前記高電圧発生手段の出力、前記フィル
タおよび前記撮像手段を制御する制御手段とを具備する
ことを特徴とするＸ線装置。
【請求項２】高電圧を発生する高電圧発生手段と、該
高電圧発生手段の出力に応じたＸ線を発生するＸ線管
と、前記Ｘ線の照射領域内のＸ線エネルギー分布を変化
させるＸ線フィルタと、被検体を透過したＸ線像を光学
像に変換する光学像変換手段と、該光学像を撮像する光
学像撮像手段と、前記光学像変換手段の前面に配置され
前記光学像変換手段に入射する散乱Ｘ線を除去するＸ線
グリッドと、前記撮像手段が撮像したＸ線像を表示する
表示手段とを有するＸ線装置において、予め計測した、直接Ｘ線の強度と前記光学像撮像手段の
ビデオ信号出力との関係と、前記光学像変換手段がＸ線
像を光学像に変換する際に生じるグレア散乱の点広がり
とを格納する格納手段と、透視時の条件と前記格納手段
に格納される情報とに基づき、撮影時の撮影条件を決定
する撮影条件決定手段と、該撮影条件決定手段の出力に
基づき、前記高電圧発生手段の出力、前記フィルタおよ
び前記光学像撮像手段を制御する制御手段とを具備する
ことを特徴とするＸ線装置。
【請求項３】高電圧を発生する高電圧発生手段と、該
高電圧発生手段の出力に応じたＸ線を発生するＸ線管
と、前記Ｘ線の照射領域内のＸ線エネルギー分布を変化
させるＸ線フィルタと、被検体を透過したＸ線像を光学
像に変換する光学像変換手段と、該光学像を撮像する光
学像撮像手段と、前記光学像変換手段の前面に配置され
前記光学像変換手段に入射する散乱Ｘ線を除去するＸ線
グリッドと、前記撮像手段が撮像したＸ線像を表示する
表示手段とを有するＸ線装置において、予め計測した、直接Ｘ線の強度と前記光学像撮像手段の
ビデオ信号出力との関係、前記被検体で散乱されるＸ線
の点広がり、および、前記光学像変換手段がＸ線像を光
学像に変換する際に生じるグレア散乱の点広がりを格納
する格納手段と、透視時の条件と前記格納手段に格納さ
れる情報とに基づき、撮影時の撮影条件を決定する撮影
条件決定手段と、該撮影条件決定手段の出力に基づき、
前記高電圧発生手段の出力、前記フィルタおよび前記光
学像撮像手段を制御する制御手段とを具備することを特
徴とするＸ線装置。
【請求項４】前記格納手段は、前記高電圧発生手段の
出力電圧、前記Ｘ線フィルタの種類、前記被検体の厚さ
および前記Ｘ線グリッドの種類をパラメータとする直接
Ｘ線成分の前記撮像手段におけるビデオ信号出力のテー
ブルと、前記高電圧発生手段の出力電圧、前記Ｘ線フィ
ルタの種類、前記被検体の厚さ、前記被検体と前記撮像
手段の撮像面との距離および前記Ｘ線グリッドの種類を
パラメータとする前記散乱Ｘ線の点広がり関数のテーブ
ルとを格納することを特徴とする請求項１に記載のＸ線
装置。
【請求項５】前記格納手段は、前記高電圧発生手段の
出力電圧、前記Ｘ線フィルタの種類、前記被検体の厚さ
および前記Ｘ線グリッドの種類をパラメータとする直接
Ｘ線成分の前記光学像撮像手段におけるビデオ信号出力
のテーブルと、前記光学像変換手段の検出領域の大きさ
をパラメータとする前記光学像変換手段によるグレア散
乱の点広がり関数のテーブルとを格納することを特徴と
する請求項２に記載のＸ線装置。
【請求項６】前記格納手段は、前記高電圧発生手段の
出力電圧、前記Ｘ線フィルタの種類、前記被検体の厚さ
および前記Ｘ線グリッドの種類をパラメータとする直接
Ｘ線成分の前記光学像撮影手段におけるビデオ信号出力
のテーブルと、前記高電圧発生手段の出力電圧、前記Ｘ
線フィルタの種類、前記被検体の厚さ、前記被検体と前
記光学像変換手段との距離および前記Ｘ線グリッドの種
類をパラメータとする前記散乱Ｘ線の点広がり関数のテ
ーブルと、前記光学像変換手段の検出領域の大きさをパ
ラメータとする前記光学像変換手段によるグレア散乱の
点広がり関数のテーブルとを格納することを特徴とする
請求項３に記載のＸ線装置。
【請求項７】前記撮影条件決定手段は、被検体の透視
時における前記撮像手段あるいは前記光学像撮影手段の
ビデオ信号出力と、前記透視条件と、前記格納手段に格
納される各テーブルとを用いて前記被検体の厚さを求
め、該被検体の厚さに基づいて撮影時の前記高電圧発生
手段の出力電圧および前記Ｘ線フィルタの種類を決定す
ることを特徴とする請求項１ないし６の内のいずれか１
項に記載のＸ線装置。
【請求項８】前記撮影条件決定手段は、透視時の条件
において出力されるべき撮像手段あるいは前記光学像撮
影手段のビデオ信号出力を被検体の厚さを変数とする２
点以上の値に対して計算し、前記撮像手段あるいは前記
光学像撮影手段のビデオ信号出力値の計算値を関数でフ
ィッティングする手段と、前記関数と透視時において得
られた撮像手段あるいは前記光学像撮影手段のビデオ信
号出力との関係から前記被検体の厚さを求める手段とを
具備することを特徴とする請求項１ないし７の内のいず
れか１項に記載のＸ線装置。
【請求項９】前記撮影条件決定手段は、前記被検体の
厚さおよび撮影時においてあらかじめ決定されている前
記高電圧発生手段の出力電圧、前記Ｘ線フィルタの種類
および前記Ｘ線照射領域の大きさに対して、透視時にお
ける前記撮像手段あるいは前記光学像撮影手段のビデオ
信号出力と撮影時における前記撮像手段あるいは前記光
学像撮影手段のビデオ信号出力とが等しくなるように、
撮影時における前記高電圧発生手段の出力電流量、前記
撮像手段あるいは前記光学像撮影手段への入射光量、お
よび、前記撮像手段あるいは光学像撮影手段のゲインを
決定することを特徴とする請求項１ないし８の内のいず
れか１項に記載のＸ線装置。
【請求項１０】前記直接Ｘ線成分の前記撮像手段ある
いは前記光学像撮像手段におけるビデオ信号出力のテー
ブルは、前記直接Ｘ線成分の前記撮像手段あるいは前記
光学像撮影手段のビデオ信号出力を前記高電圧発生手段
の出力電圧を変数とする数点の値に対してプロットした
後、前記直接Ｘ線成分の前記撮像手段あるいは前記光学
像撮影手段のビデオ信号出力のプロット値を関数でフィ
ッティングし、前記関数を前記Ｘ線フィルタの種類、前
記被検体の厚さおよび前記Ｘ線グリッドの種類のパラメ
ータに対するテーブルとすることを特徴とする請求項４
ないし９の内のいずれか１項に記載のＸ線装置。
【請求項１１】前記散乱Ｘ線の点広がり関数のテーブ
ルは、前記散乱Ｘ線の点広がり関数を前記高電圧発生手
段の出力電圧、および、前記被検体と前記Ｘ線グリッド
との距離を変数とする数点の値に対してプロットした
後、前記散乱Ｘ線の点広がり関数のプロット値を関数で
フィッティングし、前記関数を前記Ｘ線フィルタの種
類、前記被検体の厚さおよび前記Ｘ線グリッドの種類の
パラメータに対するテーブルとすることを特徴とする請
求項４ないし１０の内のいずれか１項に記載のＸ線装
置。
【請求項１２】撮影条件決定手段は、前記表示手段の
表示面上にあらかじめ設定された領域に該当する部分の
前記撮像手段あるいは前記光学像撮影手段のビデオ信号
出力の平均値を、前記被検体の厚さの決定および撮影条
件の決定に用いることを特徴とする請求項１ないし１１
の内のいずれか１項に記載のＸ線装置。