JP2007244484A - Ｘ線診断装置 - Google Patents

Abstract

【課題】Ｘ線を照射せずに先に生成された画像をモニタに表示させて補償フィルタの位置合わせを行うときに、補償フィルタによる画像の輝度の変化を確認することが可能なＸ線診断装置を提供すること。
【解決手段】Ｘ線管７１と被検体Ｐとの間に挿入可能に設けられたＸ線を減弱させる補償フィルタ６１の挿入に応じて、先に生成された透視画像に補償フィルタと等価な仮想フィルタを挿入するようにして、その挿入された仮想フィルタの領域とそのＸ線透過率に基づいて仮想フィルタの領域における輝度を算出する算出手段３５と、モニタ２に先に生成された透視画像を、仮想フィルタの領域を算出された輝度に変更して表示させる表示制御手段３１とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、ハレーションを生じないようにＸ線を減弱させる補償フィルタを有するＸ線診断装置に関する。

従来、循環器用Ｘ線診断装置において、図１０に示すように寝台５上被検体ＰにＸ線管７１からＸ線絞り部６を介してＸ線を照射し、被検体Ｐを通過したＸ線をＸ線検出器４で受けて、検出結果から得られる画像データに基づく透視画像を図示しないモニタ等に表示させ位置の確認等が行われる。このとき、表示されている透視画像の中にＸ線透過の差が大きい部位が存在する場合に、明るい画像部分で、ハレーションを発生する場合があり、画像が見にくくなってしまうことがあった。そのために、Ｘ線管７１と被検体Ｐとの間にＸ線を減弱させる板状の補償フィルタ６１を例えば操作者が透視画像を見ながらハレーション位置を覆うように挿入し、ハレーションの低減を行っていた。そして、補償フィルタ６１の位置合わせを行った状態で、画像の観察や、Ｘ線撮影等が行われていた。

しかしながら、上述のように透視を行いながら補償フィルタの位置合わせることによれば、位置合わせを行っている間、被検体である患者は、Ｘ線を被曝し続けることになり好ましくない。

そこで、例えば透視を中断したときの画像データを記憶し、その画像データに基づいて静止画像をモニタに表示するＬＩＨ（Ｌａｓｔ Ｉｍａｇｅ Ｈｏｌｄ）機能を用いて、静止画像上に補償フィルタの位置を例えば補償フィルタの端部を白線等で表示させて、補償フィルタの位置合わせを行ういわゆるバーチャルコリメーション機能がある。また、Ｘ線撮影条件等に基づいて補償フィルタを適した位置に挿入する装置がある（例えば、特許文献１参照。）。したがって、循環器用Ｘ線診断装置では、（１）透視画像表示、（２）ＬＩＨによる静止画像表示、（３）バーチャルコリメーションによる補償フィルタ位置合わせ、（４）Ｘ線撮影というような手順で診断が行われている。このようにすれば、補償フィルタの位置が確認できるばかりでなく補償フィルタの位置合わせをＬＩＨによる静止画像を用いて行うために、患者の被曝は低減できる。

特開平９−２６２２２７号公報

しかしながら、補償フィルタの位置を合わせても、補償フィルタによって画像の明るさがどのようになるかは、Ｘ線を照射して画像を表示しないと確認はできない。

したがって、補償フィルタの挿入後に表示される透視画像やＸ線撮影による画像が、最適な画像とならないことがある。つまり、バーチャルコリメーションによる補償フィルタ位置合わせでは、実際には補償フィルタの位置に微調整が必要な場合がある。特に、補償フィルタが、位置によって厚さが異なるような場合、例えば端部から内部に厚さが増加するような場合には、補償フィルタの位置だけではなく厚さの違いによる画像の輝度の変化をＸ線撮影等の前に確認できることが望まれる。

また、上述のような手順で診断を行う場合に、Ｘ線撮影を行うときのＸ線照射条件を透視画像を表示しているときのＸ線照射条件から求めることが行われる。例えば、透視画像におけるＸ線照射条件をＲＯＩ（輝度調整用領域）内の輝度の平均値が所定の値を示すようにフィードバック制御により求め、Ｘ線撮影を行うときのＸ線照射条件は、の例えばＮ倍にするというようにして決められている。

ところが、補償フィルタがＲＯＩ内に挿入され、Ｘ線撮影が行われるとＸ線撮影により得られる画像が暗くなる場合がある。これは、透視画像から求められるＸ線照射条件に補償フィルタ挿入による画像の輝度の変化が考慮されていないためである。したがって、Ｘ線照射条件を決定する際にも、画像の輝度の変化を確認しＸ線撮影時に補償フィルタ挿入を考慮することが望まれる。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、第１の目的とするところは、Ｘ線を照射せずに先に生成された画像をモニタに表示させて補償フィルタの位置合わせを行うときに、補償フィルタによる画像の輝度の変化を確認することが可能なＸ線診断装置を提供することにある。

第２の目的とするところは、Ｘ線を照射せずに先に生成された静止画像を用いて補償フィルタの位置合わせを行うときに、補償フィルタの挿入を考慮して撮影時のＸ線照射条件を設定することが可能なＸ線診断装置を提供することにある。

上記第１の目的を達成するために請求項１に記載の発明は、Ｘ線管から被検体に対しＸ線を照射し、前記被検体を透過したＸ線をＸ線検出手段で検出して透視画像を生成するＸ線診断装置であって、前記Ｘ線管と前記被検体との間に挿入可能に設けられたＸ線を減弱させる補償フィルタを挿入する挿入手段と、前記補償フィルタの挿入に応じて、先に生成された透視による静止画像に前記補償フィルタと等価な仮想フィルタを挿入するようにして、その挿入された仮想フィルタの領域とそのＸ線透過率に基づいて前記仮想フィルタの領域における輝度を算出する算出手段と、表示手段と、前記表示手段に前記先に生成された透視による静止画像を、前記仮想フィルタの領域を前記算出された輝度に変更して表示させる表示制御手段とを備えることを特徴としている。

また、上記第２の目的を達成するために請求項４に記載の発明は、Ｘ線管から被検体に対しＸ線を照射し、前記被検体を透過したＸ線をＸ線検出手段で検出して透視画像を生成し、前記透視後に透視時のＸ線照射条件から撮影時のＸ線照射条件を設定し撮影を実行するＸ線診断装置であって、前記Ｘ線管と前記被検体との間に挿入可能に設けられたＸ線を減弱させる補償フィルタを挿入する挿入手段と、前記補償フィルタの挿入に応じて、先に生成された透視による静止画像に前記補償フィルタと等価な仮想フィルタを挿入するようにして、その挿入された仮想フィルタの領域とそのＸ線透過率に基づいて前記仮想フィルタの領域における輝度を算出する算出手段と、前記算出された輝度に基づいて前記撮影時のＸ線照射条件を設定する撮影条件設定手段とを備えることを特徴としている。

請求項１に記載の発明によれば、先に生成された透視による静止画像の輝度情報と補償フィルタのＸ線減弱性能とから補償フィルタに覆われた領域の輝度を求め表示させることにより補償フィルタに覆われた領域の輝度を確認することができる。

請求項４に記載の発明によれば、先に生成された透視による静止画像の輝度情報と補償フィルタのＸ線減弱性能とから補償フィルタに覆われた領域の輝度を求め、その輝度に基づいて撮影時のＸ線照射条件を設定することにより、補償フィルタの挿入を考慮した撮影時のＸ線照射条件の設定を行うことができる。

〈第１の実施形態〉
まず、本発明に係る第１の実施形態としてのＸ線診断装置について、図を参照しつつ説明する。

（構成）
図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の構成を示す機能ブロック図である。

本実施の形態のＸ線診断装置は、被検体ＰにＸ線を照射して画像信号を出力する撮像部１と、本装置の各部の制御を行う制御部３と、各種入力や操作を行うための操作入力部９と、画像信号に基づく透視画像や撮影画像等を表示するための表示手段としてのモニタ２とを含んで構成されている。

操作入力部９は、キーボード等の入力デバイスや、マウス・トラックボール等のポインティングデバイスから構成されている。そして、操作を行うための各種入力などに対応する信号が制御部３に出力される。

撮像部１は、被検体Ｐを載置するための寝台５、Ｘ線発生部７、Ｘ線絞り部６及びＸ線検出器４（Ｘ線検出手段）を有している。

Ｘ線発生部７は、高電圧発生器７２及びＸ線管７１を含んで構成され、後述のＸ線制御部３７により制御され、Ｘ線管７１からＸ線が寝台５の被検体に向けて照射される。

Ｘ線絞り部６は、Ｘ線発生部７と寝台５の間に設置されている。また、Ｘ線絞り部６は、例えばＸ線発生部７側から順にＸ線絞り６２及び補償フィルタ６１を有している。Ｘ線絞り６２は、図示しないが例えば鉛などのＸ線遮蔽体で開口部を形成し、開口度合いを調整することにより、照射野が拡大縮小するようになっている。また、補償フィルタ６１は、透視画像や撮影画像にハレーション等が生じないようＸ線を減弱する時に使われるもので、Ｘ線を減弱させるような材料及び厚さでできている。図２は、補償フィルタ６１の構成を示す図である。例えば図２に示すように中央部に開口部を形成するように４枚の板で、それぞれの板が前後左右に移動可能かつ全体が回転可能に構成されている。本実施の形態では、Ｘ線絞り６２及び補償フィルタ６１は、操作者による操作入力部９からの入力に基づいて図示しない動作手段によって動作するようになっている。したがって、本発明の挿入手段は、操作入力部９及び動作手段を含み構成されている。

Ｘ線検出器４は、例えばＦＰＤ（Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）装置が用いられ、被検体Ｐを透過したＸ線を受けて画像信号に変換し制御部３へ出力する。例えば画像信号は、各画素の明るさを示す輝度情報である。また、イメージングインテンシファイア（Ｉ．Ｉ．）及びＸ線ＴＶカメラを含む構成であってもよい。

制御部３は、表示制御手段としての画像処理ユニット３１、画像記憶手段３４、算出手段としての輝度算出手段３５、位置検出手段としてのフィルタ位置検出手段３６、Ｘ線条件設定手段３８´及び、Ｘ線制御部３７を含んでいる。

制御部３は、ＣＰＵ等の演算制御装置を含み、プログラムを格納するＲＯＭ等のプログラム格納部（図示省略）を含み、記憶されたプログラムや操作入力部９から出力される各種信号などに従ってＸ線診断装置の各部の制御を行う。また、そのプログラムを実行するときのワークエリアを構成するシステムメモリ（図示せず）や不揮発性ＲＡＭなどで構成される記憶手段を含んで構成される。

Ｘ線条件設定手段３８´は、Ｘ線照射条件を設定し、Ｘ線制御部３７へ送る。Ｘ線照射条件は、管電圧、管電流、パルス幅を含み、例えば、透視の場合には、それぞれ５０〜１２０ｋＶ、１０〜１６０ｍＡ、２〜１３ｍｓに設定され、撮影の場合には、５０〜１２０ｋＶ、５０〜１０００ｍＡ、２〜１００ｍｓに設定される。本実施の形態のＸ線条件設定手段３８´は、Ｘ線検出器４から出力される輝度情報を受けて、輝度平均値が一定となるようにＸ線照射条件は設定する。例えば、図３は、輝度調整用領域としてのＲＯＩの一例を示す図である。図３に示す透視画像中の輝度調整用領域としてのＲＯＩ内の輝度平均値を算出し、輝度平均値が所定の値になるようにＸ腺の線量を変化させるようにＸ線照射条件を設定するものとする。これにより、例えば透視中に寝台５を動かすなどして被検体Ｐを移動しＸ線の透過の状態が変化しても、ＲＯＩ内の画像の明るさは一定に保たれる。ただし、透視開始時のＸ線照射条件は予め定めた所定の条件を用い、上記の様にフィードバック制御によりＸ線照射条件を設定する。また、撮影の場合のＸ線照射条件は、透視画像に設定されたＸ線照射条件によるＸ線の線量の例えばＮ倍となるように設定する。また、倍率（Ｎ倍）は、Ｘ線診断装置に予め設定されているものとする。

Ｘ線制御部３７は、Ｘ線条件設定手段３８´により設定されたＸ線照射条件に基づいてＸ線発生部７を制御する。

画像処理ユニット３１は、例えば透視を行っているときにＸ線検出部４から出力される画像信号に基づいて透視画像（動画）をモニタ２に表示させる。また、透視を一時的に終了したときにモニタ２に表示されている画像の画像信号を画像記憶手段３４に記憶させ、その記憶した画像情報に基づいて透視画像（この画像は静止画像であり、以下、ＬＩＨ静止画像（Ｌａｓｔ Ｉｍａｇｅ Ｈｏｌｄ）ということがある。これは、本発明の透視による静止画像である。）をモニタ２に表示させる。例えば、図４に、モニタ２に表示されるＬＩＨ静止画像の一例を示す。このＬＩＨ静止画像は、本発明の先に生成された透視画像である。

図４に示すように、ＬＩＨ静止画像の高輝度領域にハレーションが生じている場合には、操作入力部９を操作することにより、補償フィルタ６１を動作させる。

フィルタ位置検出手段３６は、補償フィルタ６１の位置を検出し、フィルタ位置情報を画像処理ユニット３１及び輝度算出手段３５に送る。また、位置の検出は、例えば補償フィルタ６１の動作をエンコーダ等を用いて検出してもよく、また、操作入力部９からの信号から検出してもよい。

画像処理ユニット３１のフィルタ位置表示画像生成手段３２は、フィルタ位置情報から、ＬＩＨ静止画像内に挿入された補償フィルタ６１を示す画像を生成し、画像合成手段３３により、ＬＩＨ静止画像に合成してモニタ２に表示させる。図５に、ＬＩＨ静止画像に補償フィルタ６１の端部を示す線を表示した一例を示す。これにより、ＬＩＨ静止画像で補償フィルタ６１の位置を確認しながら挿入することができる。

輝度算出手段３５は、ＬＩＨ静止画像の補償フィルタ６１に覆われた領域について、ＬＩＨ静止画像の輝度情報と補償フィルタ６１のＸ線減弱性能を示すＸ線透過率とから、Ｘ線が減弱されたときの輝度を算出する。すなわち、Ｘ線を照射せずに、ＬＩＨ静止画像に補償フィルタ６１が挿入されたものとして、つまり補償フィルタ６１と等価な仮想フィルタをＬＩＨ静止画像に挿入するようにして輝度を算出するものである。

一般的に、補償フィルタ６１の減弱係数をμ〔ｃｍ^−１〕、厚さをｘ〔ｃｍ〕、元のＸ線の強さをＩ_０とすれば、補償フィルタ６１を透過後のＸ線の強さＩは、
Ｉ＝Ｉ_０ｅ^−μｘ
で表すことができ、透過率Ｉ／Ｉ_０は、
Ｉ／Ｉ_０＝ｅ^−μｘ
となる（ｅは自然対数の底である）。

また、透過率Ｉ／Ｉ_０は、管電圧によって変化する。横軸を厚さｘ、縦軸をと透過率Ｉ／Ｉ_０すれば、透過率Ｉ／Ｉ_０は、管電圧毎に厚さｘが増加するとともに減少する曲線（Ｘ線減弱曲線）で表すことができる。図６は、補償フィルタの厚さと透過率の関係の一例を示すグラフである。

輝度算出手段３５は、図６に示すような厚さｘと透過率Ｉ／Ｉ_０の関係を図示しないデータベース（記憶手段）に記憶しておく。そして、フィルタ位置検出手段３６から送られたフィルタ位置情報からＬＩＨ静止画像の補償フィルタ６１に覆われた領域を求めて、ＬＩＨ静止画像を取得したときのＸ線照射条件か示す管電圧と挿入された補償フィルタ６１の厚み情報（予め図示しない記憶手段に記憶しておく）とから透過率Ｉ／Ｉ_０を求め、その領域内の輝度情報に透過率Ｉ／Ｉ_０を乗算することによりＸ線が減弱されたときの輝度を算出する。そして、Ｘ線が減弱されたときの輝度情報として画像処理ユニット３１に送る。

画像処理ユニット３１の画像合成手段３３は、ＬＩＨ静止画像の補償フィルタ６１に覆われた領域について、ＬＩＨ静止画像の輝度情報を輝度算出手段３５から送られた輝度情報に置き換え、画像処理ユニット３１は、輝度情報が置き換えられたＬＩＨ静止画像をモニタ２に表示させる。図７に、補償フィルタ６１によってＸ線が減弱されたときの輝度に置き換えられて表示されるＬＩＨ静止画像の一例を示す。図７に示すように、図４または図５で示した高輝度部分を含むＬＩＨ静止画像の補償フィルタ６１に覆われた領域の輝度が低下して表示される。これにより、ＬＩＨ静止画像で補償フィルタ６１に覆われた領域の輝度を確認することができる。

また、本例では、ハレーション部分は一定の低下した輝度で表示されてしまうが、表示されているＬＩＨ静止画像の輝度情報のｂｉｔ数よりｂｉｔ数の多い輝度情報のＬＩＨ静止画像を画像記憶手段３４に記憶しておき、輝度算出手段３５は、ｂｉｔ数の多い輝度情報を用いて算出するようにし、Ｘ線が減弱されたときのハレーション部分の部位の画像を表示することも可能である。

また、例えば補償フィルタ６１をテーパ形状で構成した場合には、補償フィルタ６１の位置に応じて透過率Ｉ／Ｉ_０を求め輝度情報に乗算するようにすればよい。これにより、挿入位置に応じた輝度の変化を確認することができ、挿入位置の調整を行うことが可能となる。

上述のように補償フィルタを挿入して、ＬＩＨ静止画像について撮影を場合には、操作入力部９を操作することにより、Ｘ線条件設定手段３８´は、撮影のＸ線照射条件をＬＩＨ静止画像を得たときのＸ線照射条件に基づいて設定し、Ｘ線制御部３７は、そのＸ線照射条件に基づいてＸ線発生部７を制御する。

Ｘ線発生部７は、Ｘ線制御部３７により制御され、Ｘ線管７１からＸ線を寝台５の被検体に向けて照射する。

Ｘ線検出器４は、被検体Ｐを透過したＸ線を受けて画像信号に変換し制御部３へ出力する。

制御部３は、画像処理ユニット３１により撮影により得られた画像信号に基づいて画像をモニタ２に表示させるように制御を行う、または、画像信号を画像記憶手段３４に記憶する。

（動作）
次に、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の動作について、図８を参照しつつ説明する。図８は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置における動作態様を示すフローチャートである。

図８に示すように、操作者が、操作入力部９を操作して透視を実行させる入力を行う。（ステップＳ１０１、Ｙ。以下、ステップＳ１０１を省略してＳ１０１と表示する。他のステップも同様に省略して表示する。）。

制御部３は、この入力を受け透視を実行する（Ｓ１０２）。Ｘ線制御部３７は、まず、所定のＸ線照射条件に基づいてＸ線発生部７を制御する。Ｘ線発生部７は、Ｘ線を被検体に向けて照射し、Ｘ線検出器４は、被検体Ｐを透過したＸ線を受けて画像信号に変換し制御部３へ出力する。制御部３では、画像処理ユニット３１が画像信号に基づいて透視画像（動画）をモニタ２に表示させる。一方、Ｘ線条件設定手段３８´は、この画像信号を受けて、図３に示すＲＯＩ内の画像の輝度平均値を算出し、輝度平均値が所定の値になるようにＸ線照射条件を設定し、Ｘ線制御部３７は、新たに設定されたＸ線照射条件に基づいてＸ線発生部７を制御する。このようにフィードバック制御がなされているので、例えば操作者が寝台５を動かし被検体Ｐを移動しＸ線の透過の状態が変化しても、ＲＯＩ内の画像の明るさは一定に保たれて表示される。

そして、操作者は、注目部位がモニタ２に表示されるように寝台５を操作し、注目部位が表示されたら、透視を一時的に終了させるように操作入力部９を操作する（Ｓ１０３、Ｙ）。

制御部３は、この入力を受けると、そのときにモニタ２に表示されている画像の画像信号を画像記憶手段３４に記憶させるとともに、ＬＩＨ静止画像としてモニタ２に表示させる（Ｓ１０４）。

ここで操作者は、ＬＩＨ静止画像にハレーションが発生している場合、もしくは次の撮影時にハレーションが発生すると思われる場合、その領域を補償フィルタ６１で覆うように操作入力部９を操作する。このとき、制御部３は、補償フィルタ６１を示す画像をモニタ２に表示し、補償フィルタ６１に覆われた領域について、補償フィルタ６１によってＸ線が減弱されたときの輝度にして表示する（Ｓ１０５）。具体的には、フィルタ位置検出手段３６は、補償フィルタ６１の位置を検出し、フィルタ位置情報を画像処理ユニット３１及び輝度算出手段３５に送る。画像処理ユニット３１のフィルタ位置表示画像生成手段３２は、フィルタ位置情報から、ＬＩＨ静止画像内に挿入された補償フィルタ６１を示す画像を生成し、画像合成手段３３により、ＬＩＨ静止画像に合成してモニタ２に表示させる。また、輝度算出手段３５は、ＬＩＨ静止画像の補償フィルタ６１に覆われた領域について、ＬＩＨ静止画像の輝度情報と補償フィルタ６１のＸ線透過率とから、Ｘ線が減弱されたときの輝度を算出し画像処理ユニット３１に送り、画像処理ユニット３１の画像合成手段３３は、ＬＩＨ静止画像の補償フィルタ６１に覆われた領域について、ＬＩＨ静止画像の輝度情報を輝度算出手段３５から送られた輝度情報に置き換え、画像処理ユニット３１は、輝度情報が置き換えられたＬＩＨ静止画像をモニタ２に表示させる。したがって、操作者は、補償フィルタ６１を示す画像が表示され、Ｘ線が減弱されたときの輝度で表示されたＬＩＨ静止画像を見ながら、補償フィルタ６１を挿入することができる。

そして、操作者が、操作入力部９を操作して撮影を実行させる入力を行う。（ステップＳ１０６、Ｙ）。

制御部３は、この入力を受け撮影を実行する（Ｓ１０７）。Ｘ線条件設定手段３８´は、撮影のＸ線照射条件をＬＩＨ静止画像を得たときのＸ線照射条件に基づいて設定し、Ｘ線制御部３７は、そのＸ線照射条件に基づいてＸ線発生部７を制御する。Ｘ線発生部７は、Ｘ線管７１からＸ線を寝台５の被検体に向けて照射し、Ｘ線検出器４は、被検体Ｐを透過したＸ線を受けて画像信号に変換し制御部３へ出力する。そして、制御部３は、画像処理ユニット３１により撮影により得られた画像信号に基づいて画像をモニタ２に表示させるように制御を行う、または、画像信号を画像記憶手段３４に記憶する。

また、例えばハレーションとなる所定の輝度を予め設定しておき、画像記憶手段３４に記憶したＬＩＨ静止画像を読み出して、各輝度情報を検出し、その輝度情報と所定の輝度情報とを比較し、所定の輝度を超える画素で構成される領域を求め、その領域を覆うように動作手段を動作させて補償フィルタ６１を挿入する挿入手段をさらに備えてもよい。

〈第２の実施形態〉
本発明に係る第２の実施形態としてのＸ線診断装置について説明する。本実施形態は、補償フィルタ６１によってＸ線が減弱されたときの輝度に基づいて、撮影の場合のＸ線照射条件を設定する点にある。なお、以下には第１の実施の形態と実質的に同様の構成については、詳細な説明を省略し、主に異なる点について述べる。

（構成）
図９は、第２の実施形態に係るＸ線診断装置の構成を示す機能ブロック図である。

Ｘ線条件設定手段３８は、透視の場合には、第１の実施の形態と同様にＸ線照射条件を設定し、Ｘ線制御部３７へ送る。

ＬＩＨ静止画像の表示、補償フィルタの挿入が第１の実施の形態と同様に行われる。

輝度算出手段３５は、第１の実施の形態と同様に補償フィルタ６１によってＸ線が減弱されたときの輝度を求め、本実施の形態においては、求めた輝度情報を画像処理ユニット３１のみならず、Ｘ線条件設定手段３８にも送る。

Ｘ線条件設定手段３８は、本発明の撮影条件設定手段としての機能を有する。ＲＯＩ内の補償フィルタ６１に覆われた領域の輝度を輝度算出手段３５から送られた輝度に置き換えて輝度平均値を算出し、透視時に算出した輝度平均値と比較し、その差から低下率を求める。例えば、透視時に算出した輝度平均値をＲ、輝度を置き換えて求めた輝度平均値をＲｈとし、低下率を
１００×（Ｒ−Ｒｈ）／Ｒ 〔％〕
として求める。

例えば、低下率がＴ％であれば、ＲＯＩ内の輝度平均値が所定の値よりＴ％低くなることを示す。本来、補償フィルタ６１が挿入された透視では、フィードバック制御され、Ｔ％の低下を補うＸ線の線量とするようにＸ線照射条件が設定されるはずであるから、透視時に算出した輝度平均値に基づいて設定されたＸ線照射条件を、低下率に基づいて補正することにより、フィードバック制御されて設定されるＸ線照射条件と同等のＸ線照射条件を求める。

例えば、ＬＩＨ静止画像を取得したときのＸ線照射条件が、（８０ｋＶ、５０ｍＡ、６ｍｓ）で、低下率が１０％であれば、線量を１０％増加させるように補正し、補償フィルタ６１が挿入されたときのＸ線照射条件は、（８０ｋＶ、５５ｍＡ、６ｍｓ）となる。ここでは、管電流を変更したが、管電圧、または、パルス幅の変更、または、管電圧、管電流及びハルス幅を組み合わせて変更によりＸ線照射条件を補正することができる。

そして、撮影の場合のＸ線照射条件は、補正されたＸ線照射条件によるＸ線の線量の例えばＮ倍となるように設定する。例えば、１０倍とすれば、撮影の場合のＸ線照射条件は、（８０ｋＶ、５５０ｍＡ、６ｍｓ）となる。例えば、低下率に基づく補正を行わなければ、ＬＩＨ静止画像を取得したときのＸ線照射条件（８０ｋＶ、５０ｍＡ、６ｍｓ）の１０倍であるから、（８０ｋＶ、５００ｍＡ、６ｍｓ）となり画像が暗くなってしまう。

そして、撮影時にＸ線制御部３７は、そのＸ線照射条件に基づいてＸ線発生部７を制御する。

（動作）
図８のＳ１０７における撮影のＸ線照射条件の設定において、Ｘ線条件設定手段３８は、ＬＩＨ静止画像を得たときのＸ線照射条件を上述の如く補正し、補正したＸ線照射条件に基づいて設定する。

このようにして、ＬＩＨ静止画像を用いて補償フィルタの挿入を行った場合に、上記の補正を行うことにより、撮影時のＸ線照射条件を、透視中に補償フィルタを挿入した場合と同等に設定することが可能となる。

本発明に係るＸ線診断装置の第１の実施形態における制御構成を表す機能ブロック図である。 第１の実施形態に係る補償フィルタの構成を示す図である。 輝度調整用領域としてのＲＯＩの一例を示す図である。 モニタに表示されるＬＩＨ静止画像の一例を示す図である。 ＬＩＨ静止画像に補償フィルタの端部を示す線を表示した図である。 補償フィルタの厚さと透過率の関係の一例を示すグラフである。 補償フィルタによってＸ線が減弱されたときの輝度に置き換えられて表示されるＬＩＨ静止画像の一例を示す図である。 第１の実施の形態におけるＸ線診断装置における動作態様の一例を示すフローチャートである。 本発明に係るＸ線診断装置の第２の実施形態における制御構成を表す機能ブロック図である。 従来のＸ線診断装置の構成を表す図である。

符号の説明

１ 撮像部
４ Ｘ線検出器
５ 寝台
６ Ｘ線絞り部
６１ 補償フィルタ
６２ Ｘ線絞り
７ Ｘ線発生部
７１ Ｘ線管
７２ 高電圧発生器
２ モニタ
３ 制御部
３１ 画像処理ユニット
３２ フィルタ位置表示画像生成手段
３３ 画像合成手段
３４ 画像記憶手段
３５ 輝度算出手段
３６ フィルタ位置検出手段
３７ Ｘ線制御部
３８、３８´ Ｘ線条件設定手段
９ 操作入力部
Ｐ 被検体

Claims (7)

1. Ｘ線管から被検体に対しＸ線を照射し、前記被検体を透過したＸ線をＸ線検出手段で検出して透視画像を生成するＸ線診断装置であって、
   前記Ｘ線管と前記被検体との間に挿入可能に設けられたＸ線を減弱させる補償フィルタを挿入する挿入手段と、
   前記補償フィルタの挿入に応じて、先に生成された透視による静止画像に前記補償フィルタと等価な仮想フィルタを挿入するようにして、その挿入された仮想フィルタの領域とそのＸ線透過率に基づいて前記仮想フィルタの領域における輝度を算出する算出手段と、
   表示手段と、
   前記表示手段に前記先に生成された透視による静止画像を、前記仮想フィルタの領域を前記算出された輝度に変更して表示させる表示制御手段とを備えることを特徴とするＸ線診断装置。
2. 前記表示制御手段は、さらに前記先に生成された透視による静止画像上に前記補償フィルタの端部の位置を視認可能に表示させる請求項１に記載のＸ線診断装置。
3. 前記挿入手段は、前記先に生成された透視による静止画像の輝度を検出し、その検出した輝度から所定の輝度を超える領域を求め、前記所定の輝度を超える領域を覆うように前記補償フィルタを挿入する請求項２または請求項３に記載のＸ線診断装置。
4. Ｘ線管から被検体に対しＸ線を照射し、前記被検体を透過したＸ線をＸ線検出手段で検出して透視画像を生成し、前記透視後に透視時のＸ線照射条件から撮影時のＸ線照射条件を設定し撮影を実行するＸ線診断装置であって、
   前記Ｘ線管と前記被検体との間に挿入可能に設けられたＸ線を減弱させる補償フィルタを挿入する挿入手段と、
   前記補償フィルタの挿入に応じて、先に生成された透視による静止画像に前記補償フィルタと等価な仮想フィルタを挿入するようにして、その挿入された仮想フィルタの領域とそのＸ線透過率に基づいて前記仮想フィルタの領域における輝度を算出する算出手段と、
   前記算出された輝度に基づいて前記撮影時のＸ線照射条件を設定する撮影条件設定手段とを備えることを特徴とするＸ線診断装置。
5. 前記撮影条件設定手段は、前記先に生成された透視による静止画像の前記仮想フィルタの領域を前記算出された輝度に変更し、その輝度が変更された透視による静止画像の平均輝度及び前記先に生成された透視による静止画像の平均輝度を求め、前記輝度が変更された透視による静止画像の平均輝度と前記先に生成された透視による静止画像の平均輝度との差を求め、前記差に基づいて前記撮影時のＸ線照射条件を設定する請求項４に記載のＸ線診断装置。
6. 前記撮影条件設定手段は、前記平均輝度を前記輝度が変更された透視による静止画像及び前記先に生成された透視による静止画像の所定の領域について求める請求項５に記載のＸ線診断装置。
7. 前記挿入手段は、前記先に生成された透視による静止画像の輝度を検出し、その検出した輝度から所定の輝度を超える領域を求め、前記所定の輝度を超える領域を覆うように前記補償フィルタを挿入する請求項４乃至請求項６のいずれかに記載のＸ線診断装置。