JP4340833B2 - 偏光解消板及び偏光解消板を用いた光学装置 - Google Patents
偏光解消板及び偏光解消板を用いた光学装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4340833B2 JP4340833B2 JP2001173722A JP2001173722A JP4340833B2 JP 4340833 B2 JP4340833 B2 JP 4340833B2 JP 2001173722 A JP2001173722 A JP 2001173722A JP 2001173722 A JP2001173722 A JP 2001173722A JP 4340833 B2 JP4340833 B2 JP 4340833B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- plate
- diffraction grating
- optical axis
- incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/28—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
- G02B27/286—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising for controlling or changing the state of polarisation, e.g. transforming one polarisation state into another
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
- G02B5/3083—Birefringent or phase retarding elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、偏光依存性を解消するために用いられる偏光解消板及び、その偏光解消板を使用した分光器及び光スペクトラムアナライザ等の光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の偏光解消板としては、図2に記載のものがあった。
図2において、13a及び13bは、それぞれ水晶板等の複屈折材料で構成されるウエッジ板である。
【0003】
そして、それぞれの複屈折材料で構成されるウエッジ板の結晶光学軸は図2に示す如く、13aに対しては実線の矢印、13bに対しては点線矢印で示す如く、ウエッジ板に対して45度の角度になっている。また、それぞれのウエッジ板13a及び13bは、垂直方向に厚みが変化するように切断され、それぞれの結晶光学軸が直交するように張り合わされている。したがって、それぞれのウエッジ板は、その結晶光学軸に対して45度の方向にその厚みが連続して変化している。
【0004】
複屈折材料は、通過する光の内の、結晶光学軸に平行に振動する成分と、結晶光学軸に垂直に振動する成分との間に位相差を与える性質を有しており、与える位相差は複屈折材料の厚みに比例する。
図2の偏光解消板では、ウエッジ板の厚味が結晶光学軸に45度の方向である垂直方向に対してその厚みが変化しているので、光が透過する場所により、与えられる位相差がそれぞれ異なり、通過した光は空間的に多くの偏光状態が混ざった状態となる。
【0005】
図2の従来の偏光解消板を通過した入射光は、ウエッジ部で2本の光線に分離する。
この光の分離を図5を用いて説明する。
ウエッジ板13aでの常光線は、ウエッジ板13bの異常光線であり、ウエッジ板13aでの異常光線は、ウエッジ板13bでの常光線であるため、材料の持つ屈折率差によりウエッジ部で屈折が生じるが、その方向が異なり分離が生じる。
【0006】
分離した光は以下の関係を有している。
α=2(ne-no)tanθ0
α:分離した2光線のなす角
θ0:ウエッジ角
ne:常光線の屈折率
no:異常光線の屈折率
【0007】
このような、図2に示すような従来の偏光解消板13を、入射光1を入射スリット2を介して平行光に変換して出射する凹面鏡3と、この凹面鏡から出射された平行光を回折する平面回折格子4と、この平面回折格子で回折された回折光を集光する凹面鏡5と、特定な波長の光のみを選択する出射スリット6を有する図3に示す如き、従来のモノクロメータ(分光器)に適用した場合について説明する。
【0008】
図3において、入射光1は、入射スリット2を介して偏光解消板に入射され、2本に分離した光線が、平面回折格子に入射する状態を図6を用いて説明する。偏光解消板13で分離された2本の光線(14a、14b)は、第1の凹面鏡3で平行光線にされて、平面回折格子4へ入射して、各々回折させる。
この状態を、図6を用いて説明する。
【0009】
平面回折格子4の入射角と回折角の関係は以下の式で記述される。
mλ=dcosθ(sinα1+sinα2)
m:回折次数
d:格子定数
λ:波長
θ:入射光と溝の深さ方向とがなす角
α1:回折格子への入射光に入射角
α2:回折格子からの出射光の出射角
【0010】
前述の2本の光線は、上式において、同一の入射角α1を持つ。
しかし、前記偏光解消板13で生じた2本の光線の分離角αのために、平面回折格子4への入射角と、平面回折格子の溝の深さ方向とがなす角θは、前記凹面鏡3への入射光の入射高さ位置が凹面鏡の中心軸と一致した場合を除き、各々異なった値を持つことになる。
【0011】
即ち、2本の光線は、異なった出射角α2を持つことになる。
このため、図4の(a)に黒点で示すように、出射スリット6の矩形開口部の長手方向に対して斜めに分離することになる。
したがって、一方の光線は出射スリットを通過できない。
【0012】
しかし、出射スリットは集光された光の内の特定波長成分の光を選択する必要がある。
この2点に集光された光は、同一波長であるので、2点の光の全てが出射スリット6から出射される必要があるので、この2点の光を出射スリット6から全て出射させるために下記の如き調整が必要になる。
【0013】
分離された2点の光を、狭い出射スリット6を全て通過させるためには、分離された入射光が凹面鏡3により平行光にされ、平面回折格子4へ入射する際に、その入射角と平行回折格子の溝の深さとがなす角θを同一にする必要がある。
【0014】
即ち、入射光の入射高さ位置は、凹面鏡の中心軸と一致させることになる。
このことは、モノクロメータの部品配置に制約が付くことになり、装置の設計が困難になる。
また、モノクロメータの高分解能化や高近傍ダイナミックレンジ化の手段として、入射光を2回、またはそれ以上の回数平面回折格子をパスさせる場合には、複数回折した後の光のみ出射スリットを通過させるのはより設計が困難になる。
【0015】
また、2点に集光された光のズレを、出射スリットの傾きを調整することによって合わせることが考えられるが、温度変化等の外乱により光の通過高さが変化した場合には、平面回折格子の設定角度と出射光の波長にズレが生じて、分光特性が悪くなるという問題がある。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
上述の如く、モノクロメータに図2に示す如き従来の偏光解消板を使用した場合には、偏光解消板によって分離した2本の光線が、平面回折格子による回折によって、出射スリットの矩形開口部の長手方向に対して斜め方向に分離して、分離した2本の光線が出射スリットを通過できないという問題があった。
本発明の課題
(目的)は、偏光解消板は、出射スリットの矩形開口部の長手方向に分離させて、2本の光線を共に出射スリットを通過させることのできる新規な偏光解消板を提供することにある。
また、その偏光解消板を使用した精度の高いモノクロメータ及び光スペクトラムアナライザを提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、矩形の対角線方向に第1の結晶光学軸が存在する厚みを連続的に変化させた第1のウエッジ板と、矩形の対角線方向に前記第1の結晶光学軸と直交する第2の結晶光学軸が存在する厚みを連続的に変化させた第2のウエッジ板を、前記第1の結晶光学軸と第2の結晶光学軸とが直交するように張り合わせ、入射光を常光線と異常光線に分離する偏光解消板において、
前記張り合わせによって形成される前記ウエッジ板の接合部の斜面の角度及び向きは、前記分離される2本の光線が、前記ウエッジ板の結晶光学軸に対して45度の角度で配置されたスリットを長手方向と平行に通過するように形成されていることを特徴とする。(請求項1)
【0018】
また、入射光を入射スリットを介して平行光に変換して出射する第1の凹面鏡と、前記凹面鏡から出射された平行光を回折する平面回折格子と、前記平面回折格子で回折された回折光を集光する第2の凹面鏡と、特定な波長の光のみを選択する出射スリットと、前記入射スリットと前記第1の凹面鏡との間に配置された偏光解消板とで構成されたモノクロメータにおいて、前記偏光解消板として請求項1に記載の偏光解消板を用いたことを特徴とする。(請求項2)
【0019】
また、本発明のモノクロメータに、前記第2の凹面鏡の反射光を反射させる反射手段を設け、前記平面回折格子に複数回光を入射する。
また、前記請求項3に記載のモノクロメータに、前記平面回折格子4を格子と平行な軸を回転軸として回転させる平面回折格子回転機構と、受光器10、制御部11及び表示器12とを付加して、光スペクトラムアナライザを構成する。
また、前記第2の凹面鏡の反射光を反射させる反射手段を設け、前記平面回折格子に複数回光を入射するようにして、マルチパス光スペクトラムアナライザを構成する。
【0020】
また、前記偏光解消板が、矩形の対角線方向に第1の結晶光学軸が存在するウエッジ板の水平方向及び垂直方向の厚味を、前記第1の結晶光学軸の45度の方向に対して連続的に変化させた第1のウエッジ板と、矩形の対角線方向に前記第1の結晶光学軸と直交する第2の結晶光学軸が存在するウエッジ板の水平方向及び垂直方向の厚味を、前記第2の結晶光学軸の45度の方向に対して連続的に変化させた第2のウエッジ板と、を前記第1の結晶光学軸と第2の結晶光学軸とが直交する位置で張り合わせた偏光解消板とすることにより、よりモノクロメータの精度を高めることができる。
【0021】
また、本発明のモノクロメータに、前記第2の凹面鏡の反射光を反射させる反射手段を設け、前記平面回折格子に複数回光を入射して、マルチパスモノクロメータを構成した場合には、より精度の高い分光が可能になり、本発明の偏光解消板を用いた効果がより得られる。
また、本発明のモノクロメータに、前記平面回折格子4を格子と平行な軸を回転軸として回転させる平面回折格子回転機構と、受光器10、制御部11及び表示器12とを付加して、光スペクトラムアナライザを構成することができる。
また、前記第2の凹面鏡の反射光を反射させる反射手段を設け、前記平面回折格子に複数回光を入射させるマルチパス光スペクトラムアナライザを構成することもできる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の偏光解消板について、図1を用いて説明する。
図1において、7a及び7bは、それぞれ水晶板等の複屈折材料で構成されるウエッジ板である。
本発明の偏光解消板では、偏光解消板を構成するウエッジ板13a及び13bと同様に、7a及び7bの光学軸方向は+45°と−45°のままで、第1のウエッジ板7aと第2のウエッジ板7bの接合部を、従来の垂直方向に厚みが変化していくような斜面を、入射光の進行方向を回転軸として図1のpの如く回転させた構成としている。
【0023】
この本発明における偏光解消板を通過した入射光は、図1の場合と同様にウエッジ部で2本の光線に分離する。
この光の分離を図5を用いて説明する。
ウエッジ板13aでの常光線は、ウエッジ板13bの異常光線であり、ウエッジ板13aでの異常光線は、ウエッジ板13bでの常光線であるため、材料の持つ屈折率差により生じる。
【0024】
分離した光は以下の関係を有している。
α=2(ne-no)tanθ0
α:分離した2光線のなす角
θ0:ウエッジ角
ne:常光線の屈折率
no:異常光線の屈折率
【0025】
このような、図1に示すような本発明の偏光解消板7を、入射光1を入射スリット2を介して平行光に変換して出射する凹面鏡3と、この凹面鏡から出射された平行光を回折する平面回折格子4と、この平面回折格子で回折された回折光を集光する凹面鏡5と、特定な波長の光のみを選択する出射スリット6を有する図7に示す如き、本発明のモノクロメータ(分光器)に適用した場合について説明する。
【0026】
図7において、入射光1は、入射スリット2を介して偏光解消板に入射され、2本に分離した光線が、平面回折格子に入射する状態を図6を用いて説明する。偏光解消板13で分離された2本の光線(14a、14b)は、第1の凹面鏡3で平行光線にされて、平面回折格子4へ入射して、各々回折させる。
この状態を、図6を用いて説明する。
【0027】
平面回折格子4の入射角と回折角の関係は以下の式で記述される。
mλ=dcosθ(sinα1+sinα2)
m:回折次数
d:格子定数
λ:波長
θ:入射光と溝の深さ方向とがなす角
α1:回折格子への入射光に入射角
α2:回折格子からの出射光の出射角
【0028】
2本の光線は、分離角αのために、溝の深さ方向となす角θは各々異なった値を持つが、本発明の偏光解消板では、第1のウエッジ板7aと第2のウエッジ板7b間斜面を、入射光線の進行方向を回転軸として回転しているために、2本の分離された光線は各々異なった値の入射角α1を持って平面回折格子に入射することになる。
したがって、2本の光線は、平面回折格子7から同一の出射角α2で出射することが可能になる。
【0029】
平面回折格子7から出射される2本の光線は、同一の出射角になるので、出射スリット6における集光状態は図4の(b)に示す如く、矩形開口部の長手方向に分離した2つの焦点となる。このことにより、従来の偏光解消板では、分離した2本の光線が両方同時に出射スリットを通過できなかったという問題が解決できる。
【0030】
次に、図1に示す本発明の偏光解消板7を、入射光1を入射スリット2を介して平行光に変換して出射する凹面鏡3と、この凹面鏡から出射された平行光を回折する平面回折格子4と、この平面回折格子で回折された回折光を集光する凹面鏡5と、特定な波長の光のみを選択する出射スリット6を有し、平面回折格子4を格子と平行な軸を回転軸として回転させる平面回折格子回転機構9、受光器10、制御部11及び表示器12を備えた光スペクトラムアナライザに適用した場合について図8を用いて説明する。
【0031】
この光スペクトラムアナライザは、制御部11からの出力により平面回折格子回転機構9を調整することによって、入射された光の内の選択された波長の光の強度を測定して、表示器12の画面に、そのスペクトルを表示する際の測定精度を改善することができる。
【0032】
図9は、本発明の偏光解消板をマルチパスモノクロメータに適用した例を示している。
図9において、1は入射光、2,6,13及び15はスリット、3及び5は凹面鏡、4は平面回折格子、14Aはレンズ、14Bは平面鏡である。
7は平面回折格子4の偏光依存性を解消するための偏光解消板であり、入射光は平面鏡14Bで反射されて、平面回折格子4に2回入射することによって、より精度の高い波長に分離が可能になる。
【0033】
この実施例では、入射光を遮ることなく、2回目の回折光を取り出すために、入射位置と回折光の出射位置の高さをずらす手段が用いられている。このようなマルチパスモノクロメータの場合には、偏光解消板により分離した光の平面回折格子への入射する角度θが異なるため、出射スリット上の2点の光の位置にズレが生じるので、本発明の偏光解消板が特に有効である。
【0034】
なお、本実施例のマルチパスモノクロメータは、光が平面回折格子を2回通過するダブルパスモノクロメータであるが、光が2回以上の多数回通過するものでも良いことはいうまでもない。
また、本発明の用途は、発明の説明に用いたツェルニ・ターナー型モノクロメータだけに限定されるものではなく、リトロー型モノクロメータ等の種々の変形型モノクロメータへの適用が可能である。
【0035】
【発明の効果】
請求項1に記載の発明では、矩形の対角線方向に第1の結晶光学軸が存在する厚みを連続的に変化させた第1のウエッジ板と、矩形の対角線方向に前記第1の結晶光学軸と直交する第2の結晶光学軸が存在する厚みを連続的に変化させた第2のウエッジ板を、前記第1の結晶光学軸と第2の結晶光学軸とが直交するように張り合わせ、入射光を常光線と異常光線に分離する偏光解消板において、
前記張り合わせによって形成される前記ウエッジ板の接合部の斜面の角度及び向きは、前記分離される2本の光線が、前記ウエッジ板の結晶光学軸に対して45度の角度で配置されたスリットを長手方向と平行に通過するように形成されていることによって、新規な偏光解消板を得ることができる。
【0036】
また、請求項2に記載の発明では、入射光を入射スリットを介して平行光に変換して出射する第1の凹面鏡と、前記凹面鏡から出射された平行光を回折する平面回折格子と、前記平面回折格子で回折された回折光を集光する第2の凹面鏡と、特定な波長の光のみを選択する出射スリットと、前記入射スリットと前記第1の凹面鏡との間に配置された偏光解消板とで構成されたモノクロメータにおいて、前記偏光解消板として請求項1に記載の偏光解消板を用いたことにより、入射光の偏光状態に依存しないモノクロメータを得ることができる。
【0037】
また、請求項2に記載の発明では、前記偏光解消板によって分離された光線が、前記出射スリット上の矩形開口部を同時に通過できるように、前記偏光解消板の張り合わせによって形成される斜面を入射光線の進行方向を回転軸として回転させることにより、出射スリットの矩形開口部を分離した光線を同時に通過させることができる。
また、請求項2に記載の発明では、前記第2の凹面鏡の反射光を反射させる反射手段を設け、前記平面回折格子に複数回光を入射するようにして、より精度の高いモノクロメータを得ることができる。
【0038】
また、請求項2に記載の発明では、前記平面回折格子を格子と平行な軸を回転軸として回転させる平面回折格子回転機構と、受光器、制御部及び表示器とを付加して、光スペクトラムアナライザを構成することによって、より精度の高い測定が可能になる。
また、請求項2に記載の発明では、前記第2の凹面鏡の反射光を反射させる反射手段を設け、前記平面回折格子に複数回光を入射するようにして、マルチパス光スペクトラムアナライザを構成することにより、本発明の偏光解消板を用いたことによる効果を一層高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の偏光解消板の構成を示す図である。
【図2】従来の偏光解消板の構成を示す図である。
【図3】従来のモノクロメータの構成を示す図である。
【図4】モノクロメータの出射スリットの集光状況を示す図である。
【図5】偏光解消板による光線の分離を説明するための図である。
【図6】平面回折格子によって分光される光の状況を示す図でる。
【図7】本発明のモノクロメータの構成を示す図である。
【図8】本発明の光スペクトラムアナライザの構成を示す図である。
【図9】本発明のマルチパスモノクロメータの構成を示す図である。
【符号の説明】
1 光源
2 入射スリット
3,5 凹面鏡
4 平面回折格子
6 出射スリット
7 偏光解消板
8 モノクロメータ
9 平面回折格子回転機構
10 受光部
11 制御部
12 表示器
Claims (2)
- 矩形の対角線方向に第1の結晶光学軸が存在する厚みを連続的に変化させた第1のウエッジ板と、矩形の対角線方向に前記第1の結晶光学軸と直交する第2の結晶光学軸が存在する厚みを連続的に変化させた第2のウエッジ板を、前記第1の結晶光学軸と第2の結晶光学軸とが直交するように張り合わせ、入射光を常光線と異常光線に分離する偏光解消板において、
前記張り合わせによって形成される前記ウエッジ板の接合部の斜面の角度及び向きは、前記分離される2本の光線が、前記ウエッジ板の結晶光学軸に対して45度の角度で配置されたスリットを長手方向と平行に通過するように形成されていることを特徴とする偏光解消板。 - 入射光を入射スリットを介して平行光に変換して出射する第1の凹面鏡と、前記凹面鏡から出射された平行光を回折する平面回折格子と、前記平面回折格子で回折された回折光を集光する第2の凹面鏡と、特定な波長の光のみを選択する出射スリットと、前記入射スリットと前記第1の凹面鏡との間に配置された偏光解消板とで構成されたモノクロメータにおいて、
前記偏光解消板として請求項1に記載の偏光解消板を用いたことを特徴とするモノクロメータ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001173722A JP4340833B2 (ja) | 2001-06-08 | 2001-06-08 | 偏光解消板及び偏光解消板を用いた光学装置 |
EP02012359A EP1265094A3 (en) | 2001-06-08 | 2002-06-05 | Depolarizing plate and an optical apparatus using the same |
US10/163,915 US6744506B2 (en) | 2001-06-08 | 2002-06-06 | Depolarizing plate and an optical apparatus using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001173722A JP4340833B2 (ja) | 2001-06-08 | 2001-06-08 | 偏光解消板及び偏光解消板を用いた光学装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002365592A JP2002365592A (ja) | 2002-12-18 |
JP4340833B2 true JP4340833B2 (ja) | 2009-10-07 |
Family
ID=19015131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001173722A Expired - Lifetime JP4340833B2 (ja) | 2001-06-08 | 2001-06-08 | 偏光解消板及び偏光解消板を用いた光学装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6744506B2 (ja) |
EP (1) | EP1265094A3 (ja) |
JP (1) | JP4340833B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7116848B2 (en) * | 2000-04-07 | 2006-10-03 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Optical spectrum analyzer using a diffraction grating and multi-pass optics |
JP2003015085A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-15 | Ando Electric Co Ltd | 偏光解消板および分光器 |
JP2003161654A (ja) * | 2001-11-26 | 2003-06-06 | Ando Electric Co Ltd | 光スペクトラムアナライザ及び光スペクトル測定方法 |
US7209230B2 (en) | 2004-06-18 | 2007-04-24 | Luckoff Display Corporation | Hand-held spectra-reflectometer |
US7233394B2 (en) | 2005-06-20 | 2007-06-19 | Luckoff Display Corporation | Compact spectrometer |
JP2008070870A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-27 | Jds Uniphase Corp | パッシブ・デポラライザ |
US7817274B2 (en) | 2007-10-05 | 2010-10-19 | Jingyun Zhang | Compact spectrometer |
US8345226B2 (en) | 2007-11-30 | 2013-01-01 | Jingyun Zhang | Spectrometers miniaturized for working with cellular phones and other portable electronic devices |
US8422013B2 (en) | 2008-11-11 | 2013-04-16 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Optical multiplexer/demultiplexer |
US9863810B2 (en) | 2015-01-07 | 2018-01-09 | Yokogawa Electric Corporation | Optical device for improved wavelength resolution and wavelength accuracy |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4198123A (en) * | 1977-03-23 | 1980-04-15 | Baxter Travenol Laboratories, Inc. | Optical scrambler for depolarizing light |
JPS63284432A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-21 | Iwatsu Electric Co Ltd | 分光測光装置 |
DE69014781T2 (de) * | 1989-09-12 | 1995-05-24 | Advantest Corp | Instrument zur Messung eines Spektrums. |
JP2995985B2 (ja) * | 1992-01-17 | 1999-12-27 | 安藤電気株式会社 | 偏光解消板 |
JP2995989B2 (ja) * | 1992-01-31 | 1999-12-27 | 安藤電気株式会社 | 偏光解消板 |
JP3239512B2 (ja) * | 1993-01-28 | 2001-12-17 | 安藤電気株式会社 | 2段式分光器 |
US5532818A (en) * | 1993-12-27 | 1996-07-02 | Advantest Corporation | Difference dispersive double-path monochromator having wavelength-independent imaging point |
JP3407834B2 (ja) * | 1993-12-27 | 2003-05-19 | 株式会社アドバンテスト | 差分散形ダブルパスモノクロメータ |
JPH08122706A (ja) * | 1994-10-19 | 1996-05-17 | Advantest Corp | 偏光解消装置及びこれを用いた分光装置 |
JP3661266B2 (ja) * | 1996-03-29 | 2005-06-15 | 株式会社島津製作所 | 偏光解消板 |
JP3861496B2 (ja) * | 1998-07-13 | 2006-12-20 | 横河電機株式会社 | 2段式分光器 |
JP2000074742A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-03-14 | Yokogawa Electric Corp | 分光器および光スペクトラムアナライザ |
-
2001
- 2001-06-08 JP JP2001173722A patent/JP4340833B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-06-05 EP EP02012359A patent/EP1265094A3/en not_active Withdrawn
- 2002-06-06 US US10/163,915 patent/US6744506B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1265094A3 (en) | 2003-12-17 |
US6744506B2 (en) | 2004-06-01 |
US20020186371A1 (en) | 2002-12-12 |
JP2002365592A (ja) | 2002-12-18 |
EP1265094A2 (en) | 2002-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7898656B2 (en) | Apparatus and method for cross axis parallel spectroscopy | |
US4198123A (en) | Optical scrambler for depolarizing light | |
JP4640577B2 (ja) | 光スペクトラムアナライザ | |
JP4340833B2 (ja) | 偏光解消板及び偏光解消板を用いた光学装置 | |
US6646739B2 (en) | Four-stage type monochromator | |
JP4123860B2 (ja) | 偏光解消板並びに分光器及びポリクロメータ | |
JPH11230828A (ja) | エシェル分光器 | |
JP4642621B2 (ja) | 分光装置 | |
JPH11183249A (ja) | 分光器 | |
JP2001183233A (ja) | 分光器および分光方法 | |
JPH05196811A (ja) | 偏光解消板 | |
JP2003015085A (ja) | 偏光解消板および分光器 | |
JP3692523B2 (ja) | 分光装置 | |
US20200300699A1 (en) | Method and apparatus for linear variable bandpass filter array optical spectrometer | |
JP5176937B2 (ja) | 光スペクトラムアナライザ | |
JP2003194627A (ja) | 分光器 | |
JP4407382B2 (ja) | 光フィルタ装置 | |
JP4122514B2 (ja) | 分光装置 | |
JP2755958B2 (ja) | ダブルグレーティング型分光装置 | |
JP2003287609A (ja) | 光分散用光学素子及び光学顕微鏡 | |
JP2005062202A (ja) | 分光装置 | |
JP2001296181A (ja) | 分光器 | |
JPH03218424A (ja) | 分光測定装置 | |
JP2001264169A (ja) | 分光装置 | |
JP2005031099A (ja) | 分光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20041001 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050621 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20050621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070612 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070620 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070809 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070905 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071024 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20071101 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090508 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090513 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090610 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090623 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120717 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4340833 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120717 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130717 Year of fee payment: 4 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |