JPH11230828A - エシェル分光器 - Google Patents
エシェル分光器Info
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Abstract
安定性の高いエシェル分光器を提供する。 【解決手段】 エシェル回折格子4a,4b、単一のイメ
ージ検出器10、次数分離用素子7a,7b、および結像
手段9を備え、各エシェル回折格子4a,4bは、カバー
すべき波長範囲に応じて素子定数が決められており、さ
らに、各波長範囲を選択するためのシャッタ5が設けら
れ、このシャッタ5で選択されるいずれの波長範囲のス
ペクトル光も同じイメージ検出器10に結像するよう
に、各エシェル回折格子4a,4b、次数分離用素子7
a,7b、および結像手段9が光学的に配置されている。
Description
吸収分析等の各種の分光分析装置に使用される分光器、
特に、エシェル回折格子を用いたエシェル分光器に関す
る。
て使用されるエシェル回折格子は、通常のエシェレット
回折格子に比べてブレーズ角θが大きく設定され、フリ
ースペクトルレンジが短波長側で短く、長波長側で長く
なっており、高分散、高分解能という特性を有してい
る。
を検出する光検出器として、CCDやフォトダイオード
アレー等で構成されるイメージ検出器を用いる場合は、
画素単位で各波長のスペクトル光を検出するので、従来
のフォトマルチプライヤのような光検出器を用いたもの
に比べて、光検出器の構成を簡単、小型化することがで
きる利点がある。
イメージ検出器とを組み合わせた従来のエシェル分光器
には、たとえば、図6に示すような構成のものがある。
ニターナ型配置のもので、図中の符号1は光源、2は入
口スリット、3はコリメート用ミラー、4はエシェル回
折格子、7は次数分離用素子、9は結像用ミラー、10
はイメージ検出器である。なお、上記の次数分離用素子
としては、通常のエシェレット回折格子やプリズムが使
用される。
は入口スリット2を通り、コリメート用ミラーで平行光
に調整された後、エシェル回折格子4に入射される。エ
シェル回折格子4で分散された光は、異なった次数のス
ペクトル光の重なりがあるので、次数分離用素子7によ
ってエシェル回折格子4の分散方向と直角方向に分散さ
れて、それぞれ異なる次数のスペクトル光に分離され
る。そして、そのスペクトル光が結像用ミラー9で反射
されてイメージ検出器10上に結像される。
た構成において、上記のイメージ検出器10は、半導体
素子としての製造上の制約から、素子を大きくして受光
面を長くするのが難しく、このため、広い波長範囲を測
定したい場合には、高い波長分解能が得られないという
問題がある。あえて受光面の長い素子を製作しようとす
ると、素子が極めて高価となり、また収差も大きくなる
ため実用に適さない。
かつ、高分解能を得るたの対策として、従来、次のよう
な技術が提案されている。
により、広い波長範囲をカバーする(たとえば、米国特
許4820048参照)。
方向に沿って複数段にシフトする機構を設け、広い波長
範囲をカバーする。
ぞれ次の問題がある。
数必要となるため、依然として装置全体が高価になる。
の位置再現性を確保するためには、イメージ検出器をシ
フトするための機構として、水平、垂直方向のそれぞれ
に数μm以下の高い精度が必要で、高価になるととも
に、機械的にシフトする必要があるために安定性に欠け
る。
足している場合、たとえば、図7(a)〜(c)に示すよう
に、イメージ検出器を波長方向に沿って前後にシフトし
た後、同じ波長位置λiに戻ってスペクトル像をそれぞ
れ測定したつもりでも、実際には、バックラッシュ等に
起因して最初の測定波長λiとの間で僅かの誤差Δλ,
Δλ'が生じる。また、イメージ検出器のピクセルごと
の感度差もあるため、結果として、最初の測定強度Ii
との間で差ΔI,ΔI'が生じて、測定結果の安定性が
悪くなる。
れたものであって、広い波長範囲で高い波長分解能を実
現することができ、しかも、測定結果の再現性が良くて
安定性の高いエシェル分光器を得ることを課題とする。
達成するために、概念的には、次のようにしたものであ
る。
子を経てイメージ検出器に至るまでの光路を波長範囲に
応じて複数に分離し、各々の光路のスペクトル光が全て
単一の同じイメージ検出器に結像するようにエシェル回
折格子等の各光学素子の配置関係を設定する。
れた各波長範囲ごとのスペクトル光がイメージ検出器の
全面に広がって重複した結像となるので、光路の途中に
シャッタを設け、検出すべき波長範囲に応じて必要な光
路のみを開き、他の光路を遮断して、選択された特定の
波長範囲のスペクトル光のみがイメージ検出器に結像す
るようにする。
せて光路を切り換えるだけで、広い波長範囲のスペクト
ル光が常に単一のイメージ検出器の上に切り換わって結
像することになる。そこで、予めシャッタを切り換えた
場合の選択波長範囲とイメージ検出器の検出出力を対応
付けておけば、小型のイメージ検出器であっても広い波
長範囲の分光測定が可能となる。
移動させるだけであって、イメージ検出器やエシェル回
折格子の光学的な配置関係は何ら変更しないので、スペ
クトル像の位置再現性は、従来よりも優れたものとな
る。
格子および単一のイメージ検出器を含むとともに、前記
エシェル回折格子で分散されたスペクトル光を異なる次
数のスペクトル光に分離する次数分離用素子と、この次
数分離用素子で分離されたスペクトル光を前記イメージ
検出器に結像させる結像手段とを備えたエシェル分光器
において、具体的に次のように構成している。
エシェル回折格子は、カバーすべき波長範囲に応じた複
数個で構成されるとともに、各波長範囲を選択するため
のシャッタを備え、このシャッタで選択されるいずれの
波長範囲のスペクトル光も前記イメージ検出器に結像す
るように、前記エシェル回折格子、次数分離用素子、お
よび結像手段が光学的に配置されている。
ェル回折格子と次数分離用素子とは共に単一設けられる
とともに、前記結像手段は 波長範囲に応じて互いに焦
点距離が異なるように設定された複数個で構成され、か
つ、各波長範囲を選択するためのシャッタを備え、この
シャッタで選択されるいずれの波長範囲のスペクトル光
も前記イメージ検出器に結像するように、前記エシェル
回折格子、次数分離用素子、および各々の結像手段が光
学的に配置されている。
略構成図であり、図6に示した従来技術の構成に対応す
る部分には同一の符号を付す。
ト、3はコリメート用ミラー、9は結像手段としての単
一の結像用ミラー、10は単一のイメージ検出器であ
る。
子4a,4bおよび次数分離用素子7a,7bがカバーすべ
き波長範囲に応じてそれぞれ複数個(ここでは2個ずつ)
設けられるとともに、各波長範囲を選択するためのシャ
ッタ5を備えている。
a,4bの内、一方のエシェル回折格子4aは、図2の分
光特性を示すエシェログラムにおいて、符号La(一点鎖
線の領域)で示す短波長側の波長範囲において、また、
他方のエシェル回折格子4bは、符号Ll(一点鎖線の領
域)で示す長波長側の波長範囲において、それぞれ所定
の線分散と分解能とが得られるように刻線数Nやブレー
ズ角θが設定されている。
400nm以下の短波長側で高い分解能が要求されるが、
長波長側ではそれほどの分解能は必要でないので、短波
長側で長波長側よりも大きな線分散と高い分解能とが得
られるように、各エシェル回折格子4a,4bおよび次数
分離用素子7a,7bの素子定数が決められる。
折格子4a,4bおよび次数分離用素子7a,7bの刻線数
Nやブレーズ角θは、表1に示すような値になる。な
お、その場合のイメージ検出器10は、1/2インチ角
の大きさに設定される。
これに対応する次数分離用素子7aを通り結像用ミラー
9で反射される短波長側の波長範囲Lsのスペクトル光
と、他方のエシェル回折格子4bからこれに対応する次
数分離用素子7bを通り結像用ミラー9で反射される長
波長側の波長範囲Llのスペクトル光のいずれも単一の
イメージ検出器10に共に結像するように、各エシェル
回折格子4a,4b、次数分離用素子7a,7b、および結
像用ミラー9の傾きや距離などの光学的な配置関係が設
定されている。
い場合には、長短の各波長範囲ごとのスペクトル光がイ
メージ検出器10の全面に広がって重複した結像となる
ので、本例では、エシェル回折格子4a,4bと次数分離
用素子7a,7bとの間の光路上に配置されており、短波
長の測定時には一方のエシェル回折格子4aで分散され
たスペクトル光のみが、また、長波長の測定時には他方
のエシェル回折格子4bで分散されたスペクトル光のみ
が、それぞれ光透過用の窓5aを通過するように、つま
り、図2のLs,Llの各波長範囲を選択できるように、
モータやギヤ等を組み合わせてなる駆動源6によって移
動されるようになっている。
スリット2を通り、コリメート用ミラーで平行光に調整
された後、各エシェル回折格子4a,4bに入射される。
は、各次数分離用素子7a,7bに向かう。
クトル光を測定する場合には、駆動源6によってシャッ
タ5を移動させて、短波長側のスペクトル光のみが窓5
aを通過させるようにする。また、長波長側の波長範囲
Llのスペクトル光を測定する場合には、駆動源6によ
ってシャッタ5を移動させて、長波長側のスペクトル光
のみが窓5aを通過させるようにする。
ル光がシャッタ5の窓5aを通過したとすれば、このス
ペクトル光は、その次数分離用素子7aによってエシェ
ル回折格子4aの分散方向と直角方向に分散されて、そ
れぞれ異なる次数のスペクトル光に分離される。そし
て、そのスペクトル光が結像用ミラー9で反射されてイ
メージ検出器10上に結像される。
ル光がシャッタ5の窓5aを通過したとすれば、このス
ペクトル光は、その次数分離用素子7bによってエシェ
ル回折格子4bの分散方向と直角方向に分散されて、そ
れぞれ異なる次数のスペクトル光に分離される。そし
て、そのスペクトル光が結像用ミラー9で反射されて同
じくイメージ検出器10上に結像される。
スペクトル光の波長範囲Ls,Llをシャッタ5で選択す
るようにしているため、イメージ検出器9で一度に所望
の波長範囲のスペクトル光を検出できないが、シャッタ
5の切り換えに応じてイメージ検出器9の検出出力が短
波長側の範囲Lsものか、長波長側の範囲Llのものかを
識別することが可能であるから、これにより、単一のイ
メージ検出器10を用いても、全ての波長範囲Ls,Ll
をカバーした測定結果を得ることができる。
ていて単にシャッタ5を移動させて光路を切り換えるだ
けであるから、分光器を構成する各素子の光学的な配置
関係が変動する要因が少なく安定しているため、再現性
の良い測定結果が得られる。たとえば、図3に示すよう
に、シャッタ5を移動させても、イメージ検出器10は
固定されているため、同じ波長位置λiで同じ測定強度
Iiの結果が得られる。
分散と高い分解能とが得られるように、各エシェル回折
格子4aと次数分離用素子7aの素子定数が決められてい
るので、図4に示すように、たとえばCdとAsの波長で
のピークP1,P2を分離して測定することができる。
5はエシェル回折格子4a,4bと次数分離用素子7a,
7bとの間に配置しているが、コリメート用ミラーとエ
シェル回折格子4a,4bとの間に配置してもよい。
ル回折格子4a,4bに個別に対応させて設けたが、次数
分離用素子を単一のものとし、各エシェル回折格子4
a,4bの傾きを変えて、シャッタ5で選択される長短い
ずれの波長範囲Ll,Lsのスペクトル光も、同じイメー
ジ検出器10に結像されるように光学関係を調整するよ
うにすることも可能である。
折格子4a,4bと次数分離用素子7a,7bとは、それぞ
れ2個ずつ設けているが、これに限定されるものではな
く、さらに3個以上設けてさらに分解能を高めるように
することもできる。
略構成図であり、図1に示した実施形態1の構成に対応
する部分には同一の符号を付す。
子4と次数分離用素子7とは共に単一設けられている
が、結像手段としての結像用ミラー9a,9bは 波長範
囲に応じて互いに焦点距離fa,fbが異なるように設定さ
れた複数個(本例では2個)で構成されている。
内、一方の結像用ミラー9aは、図2の分光特性を示す
エシェログラムにおいて、符号La(一点鎖線の領域)で
示す短波長側の波長範囲において、また、他方の結像用
ミラー9bは、符号Ll(一点鎖線の領域)で示す長波長側
の波長範囲においてそれぞれ所定の線分散が得られるよ
うに各焦点距離fa,fbが設定されている。
用素子7と各結像用ミラー9a,9bとの間の光路上に配
置されており、短波長の測定時には次数分離用素子7で
分離させた短波長側のスペクトル光のみが、また、長波
長の測定時には同じ次数分離用素子7で分散された長波
長側のスペクトル光のみがそれぞれ光透過用の窓5aを
通過するようになっている。
ずれの波長範囲のスペクトル光も、各々の結像用ミラー
9a,9bで反射されたときには、共に単一のイメージ検
出器10に共に結像するように、各エシェル回折格子
4、次数分離用素子7、および結像用ミラー9a,9bの
傾きや距離などの光学的な配置関係が設定されている。
であるから、ここでは詳しい説明は省略する。
口スリット2を通り、コリメート用ミラーで平行光に調
整された後、各エシェル回折格子4に入射される。
らに次数分離用素子7でエシェル回折格子4aの分散方
向と直角方向に分散されて、それぞれ異なる次数のスペ
クトル光に分離される。
sのスペクトル光が選択された場合には、そのスペクト
ル光は、結像用ミラー9aで反射されてイメージ検出器
10上に結像される。
lのスペクトル光が選択された場合には、このスペクト
ル光は、結像用ミラー9bで反射されて単一の同じイメ
ージ検出器10上に結像される。
ラー9a,9bを2個設けているが、これに限定されるも
のではなく、さらに3個以上設けてさらに分解能を高め
るようにすることもできる。
奏する。
たスペクトル光を波長範囲に応じてシャッタで選択する
が、選択された各波長範囲のスペクトル光は、いずれも
単一のイメージ検出器の上に結像するため、小さいイメ
ージ検出器であっても広い波長範囲をカバーすることが
でき、波長分解能が向上し、高精度の分析が可能にな
る。
を段階的に移動させるといった必要がなく、単にシャッ
タを切り換えることで広い波長範囲をカバーできるた
め、測定結果の再現性が良く、安定した光学系を得るこ
とができる。
囲をカバーするためにイメージ検出器を複数設けたり、
長尺の光検出素子を製作する必要がないため、装置全体
のコストアップを抑えることができる。
構成図
ログラム
果の再現性を示すための説明図
果の分解能を示すための説明図
概略構成図
定結果の再現性を示すための説明図
ー、4,4a,4b…エシェル回折格子、5…シャッタ、
6…駆動源、7,7a,7b…次数分離用素子、9,9
a,9b…結像用ミラー、10…イメージ検出器。
Claims (2)
- 【請求項1】 エシェル回折格子および単一のイメージ
検出器を含むとともに、前記エシェル回折格子で分散さ
れたスペクトル光を異なる次数のスペクトル光に分離す
る次数分離用素子と、この次数分離用素子で分離された
スペクトル光を前記イメージ検出器に結像させる結像手
段とを備えたエシェル分光器において、 前記エシェル回折格子は、カバーすべき波長範囲に応じ
た複数個で構成されるとともに、各波長範囲を選択する
ためのシャッタを備え、このシャッタで選択されるいず
れの波長範囲のスペクトル光も前記イメージ検出器に結
像するように、前記エシェル回折格子、次数分離用素
子、および結像手段が光学的に配置されていることを特
徴とするエシェル分光器。 - 【請求項2】 エシェル回折格子および単一のイメージ
検出器を含むとともに、前記エシェル回折格子で分散さ
れたスペクトル光を異なる次数のスペクトル光に分離す
る次数分離用素子と、この次数分離用素子で分離された
スペクトル光を前記イメージ検出器に結像させる結像手
段とを備えたエシェル分光器において、 前記エシェル回折格子と次数分離用素子とは共に単一設
けられるとともに、前記結像手段は波長範囲に応じて互
いに焦点距離が異なるように設定された複数個で構成さ
れ、かつ、各波長範囲を選択するためのシャッタを備
え、このシャッタで選択されるいずれの波長範囲のスペ
クトル光も前記イメージ検出器に結像するように、前記
エシェル回折格子、次数分離用素子、および各々の結像
手段が光学的に配置されていることを特徴とするエシェ
ル分光器。
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