JP4329967B2 - プラスチック基板に設けられるピングリッドアレイ用icリードピンに適した銅合金線材 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、プラスチック基板に設けられるピングリッドアレイ(Pin Grid Array:PGA)用ICリードピン(以下、PGA用ICリードピンと略記する。)に適した銅合金線材に関する。
【0002】
【従来の技術】
PGA用ICリードピンは、半導体素子を搭載した基板の裏面に電気入出力端子としてろう付けなどにより設けられている。そして前記基板にはセラミックス材が用いられ、PGA用ICリードピンには前記セラミックス基板と同等の低熱膨張係数を有し、引張強さおよび繰り返し曲げ性に優れるコバール(Kovar:Fe−Ni−Co合金)が主に用いられていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
近年、前記基板にプラスチック基板が使用されるようになり、プラスチック基板の場合はPGA用ICリードピンに低熱膨張係数材を用いる必要がない。
一方、ICの機能向上のために、CPU(Central Processing Unit) における伝送高速化およびICの高密度化が望まれており、PGA用ICリードピンには高導電率材料が要求されている。
このようなことから、本発明者等は、CPUの伝送高速化とICの高密度化に対応できる、プラスチック基板に設けられるPGA用ICリードピンについて研究し、その必要特性は62%IACS以上の導電率、コバール同等の引張強さ、高度の繰り返し曲げ性であることを突き止め、さらに研究を重ねて本発明を完成させるに至った。
本発明は、プラスチック基板に設けられるPGA用ICリードピンに適した、導電率、引張強さおよび繰り返し曲げ性に優れる銅合金線材の提供を目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、Feを2.1〜2.6wt%、Znを0.05〜0.2wt%、Pを0.015〜0.15wt%含有し残部が不可避不純物とCuからなる銅合金線材において、導電率が62%IACS以上68%IACS以下、引張り強さが440MPa以上500MPa以下であり、線材の端部に230gの荷重を吊り下げて90度曲げした際の繰り返し曲げ回数が9回以上であることを特徴とするプラスチック基板に設けられるピングリッドアレイ用ICリードピンに適した銅合金線材である。
請求項2記載の発明は、Feを2.1〜2.5wt%、Znを0.1〜0.2wt%、Pを0.1wt%含有し残部が不可避不純物とCuからなる銅合金線材において、導電率が62%IACS以上68%IACS以下、引張り強さが440MPa以上500MPa以下であり、線材の端部に230gの荷重を吊り下げて90度曲げした際の繰り返し曲げ回数が9回以上であることを特徴とするプラスチック基板に設けられるピングリッドアレイ用ICリードピンに適した銅合金線材である。
【0005】
【発明の実施の形態】
本願請求項1の発明の銅合金線材は、Cu−Fe−Zn−P合金線材であり、合金元素量を適正化することにより、62%IACS以上68%IACS以下の導電率と、440MPa以上500MPa以下の引張り強さと、実用上差し支えない程度の繰り返し曲げ性とを具備した、プラスチック基板に設けられるピングリッドアレイ用ICリードピンに適した銅合金線材である。
【0006】
本発明において、導電率を62%IACS以上68%IACS以下に規定する理由は、62%IACS未満ではCPUの伝送高速化やICの高密度化に十分対応できず、68%IACSを超えると引張り強さが低下してIC組み立て時および使用中にピンが損傷する恐れがあるためである。また引張強さを440MPa以上500MPa以下に規定する理由は、440MPa未満ではIC組み立て時および使用中にピンが損傷する恐れがあり、500MPaを超えると十分な繰り返し曲げ性が得られなくなるためである。
【0007】
以下に、本発明の銅合金線材の合金元素について説明する。
【0008】
本願請求項1の発明のCu−Fe−Zn−P合金線材において、Fe、ZnおよびPは強度向上に寄与する。この銅合金線材でFeを2.1〜2.6wt%、Znを0.05〜0.2wt%、Pを0.015〜0.15wt%にそれぞれ規定する理由は、いずれが下限値未満でも十分な引張強さが得られず、いずれが上限値を超えても十分な導電率または繰り返し曲げ性が得られないためである。
【0009】
本発明の銅合金線材は、例えば、溶解鋳造、熱間加工(押出、圧延など)、引抜加工(伸線加工含む)をこの順に施す常法により製造できる。導電率、引張強さなどの特性は、主に合金組成により決まるが、引抜加工時に施す中間焼鈍などの熱処理条件を選定することにより調整することができる。
【0010】
【実施例】
以下に本発明を実施例により詳細に説明する。
(実施例1)
本発明規定組成のCu−Fe−Zn−P合金を常法により溶解鋳造して鋳塊とし、この鋳塊に熱間押出と引抜加工をこの順に施し、次いで中間焼鈍を入れながら伸線加工して直径0.4mmの線材を製造した。
【0011】
(比較例1)
各銅合金の組成を本発明規定値外とした他は、実施例1と同じ方法により直径0.4mmの線材を製造した。
【0012】
実施例1および比較例1で製造した各々の線材について引張り強さ、導電率、繰り返し曲げ性を調べた。さらに前記PGA用ICリードピンに施されるAuめっきの密着性についても調査した。繰り返し曲げ性は、線材の端部に230gの荷重を吊り下げて90度曲げを左右方向に行い破断するまでの曲げ回数を測定した。曲げ回数は1往復を1回と数えた。曲げ回数は9回以上なら実用上問題ないため曲げ回数が9回以上のものを良好と判定した。
Auめっき密着性は、前記線材にAuを常法によりめっきし、このAuめっき線材を捻回試験して調べた。捻回試験は、チャック間距離50mm、50回正転後40回反転する条件で行った。Auめっきの剥離の有無は目視観察により判定した。結果を表1に示す。
【0013】
【表1】
【0014】
表1より明らかなように、本発明例のNo.1〜4は、いずれも、導電率が62%IACS以上68%IACS以下、引張強さが440MPa以上500MPa以下であり、繰り返し曲げ性およびAuめっき密着性も良好で、プラスチック基板に設けられるPGA用ICリードピンとして優れた特性を示した。
他方、比較例のNo.5はFeおよびZnが少ないため、引張強さが低く、No.6はFeおよびZnが多いため、導電率および繰り返し曲げ性に劣り、比較例は全てPGA用ICリードピンとして不適当であった。
【0015】
実施例1で製造した本発明例の線材をヘッダー加工してPGA用ICリードピンとし、これを用いて高速・高密度ICを組み立てた。このICは良好に稼働し、またPGA用ICリードピンは組み立て時に曲がりや破断を起こすようなことがなかった。これはPGA用ICリードピンが高導電率であり、また引張強さおよび繰り返し曲げ性に優れたためである。
【0016】
【発明の効果】
以上に述べたように、本発明の銅合金線材は、CPUの伝送高速化やICの高密度化に十分対応し得る導電率、従来のコバールと同等の引張強さ、実用上差し支えない程度の高度の繰り返し曲げ性を具備するものであり、プラスチック基板に設けられるPGA用ICリードピンに好適である。依って、工業上顕著な効果を奏する。
Claims (2)
- Feを2.1〜2.6wt%、Znを0.05〜0.2wt%、Pを0.015〜0.15wt%含有し残部が不可避不純物とCuからなる銅合金線材において、導電率が62%IACS以上68%IACS以下、引張り強さが440MPa以上500MPa以下であり、線材の端部に230gの荷重を吊り下げて90度曲げした際の繰り返し曲げ回数が9回以上であることを特徴とするプラスチック基板に設けられるピングリッドアレイ用ICリードピンに適した銅合金線材。
- Feを2.1〜2.5wt%、Znを0.1〜0.2wt%、Pを0.1wt%含有し残部が不可避不純物とCuからなる銅合金線材において、導電率が62%IACS以上68%IACS以下、引張り強さが440MPa以上500MPa以下であり、線材の端部に230gの荷重を吊り下げて90度曲げした際の繰り返し曲げ回数が9回以上であることを特徴とするプラスチック基板に設けられるピングリッドアレイ用ICリードピンに適した銅合金線材。
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