JP4230473B2 - X線異物検出装置 - Google Patents

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Description

本発明は、被検査体を透過したX線量に基づいて生成されたX線画像を処理して被検査体中の異物の有無を検出するX線異物検出装置に関するものである。
従来、X線異物検出装置として、ハム、ソーセージ等の内容物と、内容物の収容状態を保持するためのクリップとからなる被検査体中の異物の有無を検出する場合に、クリップがあると想定される所定の位置にマスク領域を設定し、異物の有無の検出においてマスク領域を除外することによって、クリップが異物として検出されることを防止するものが知られている(例えば特許文献1参照。)。
特開2002−243665号公報(第2頁、第10図)
しかしながら、従来のX線異物検出装置においては、内容物と、内容物と一緒に包装された脱酸素剤、粉末スープ、玩具(おまけ)等の添付品とからなる被検査体中の異物の有無を検出する場合、添付品が内容物上の何れの位置に存在するか不明であるときにはマスク領域が設定できず、添付品が異物として検出されることを防止することができないという問題があった。
本発明は、従来の問題を解決するためになされたもので、被検査体中の添付品の位置に拘らず添付品が異物として検出されることを防止することができるX線異物検出装置を提供することを目的とする。
本発明のX線異物検出装置は、X線発生器から被検査体に照射されたX線を検出するX線検出器と、該X線検出器の検出結果に基づいて生成されたX線画像を処理して前記被検査体中の異物の有無を検出するX線異物検出装置において、前記X線画像の中を前記被検査体中の添付品に対応する添付品領域及び前記添付品領域以外の添付品外領域に分割するための分割閾値を設定する分割閾値設定手段と、前記X線画像を指定回数だけ一旦縮小してから元の大きさに拡大する縮小拡大処理を1回以上行った後の画素の濃度及び前記分割閾値設定手段によって設定された前記分割閾値に基づいて前記添付品領域及び前記添付品外領域を分割する領域分割手段と、前記X線画像の中の前記領域分割手段によって分割された前記添付品外領域に対して、前記X線画像の画素の濃度及び所定の閾値に基づいて前記異物の有無を判断する添付品外領域異物判断手段と、前記領域分割手段によって分割された前記添付品領域の前記X線画像に対して前記X線画像の画素の濃度と、前記所定の閾値とは異なる閾値とに基づいて前記異物の有無を判断する添付品領域異物判断手段と、を備えた構成を有している。
この構成により、本発明のX線異物検出装置は、被検査体のX線画像のうち被検査体中の添付品に対応する添付品領域と、添付品領域以外の添付品外領域とを分割し、添付品外領域のX線画像に対して異物の有無を判断するので、被検査体中の添付品の位置に拘らず添付品が異物として検出されることを防止することができる。
また、本発明のX線異物検出装置は、被検査体のX線画像において添付品と重なっている異物を検出することができる。
また、本発明のX線異物検出装置は、被検査体のX線画像のうち実際には添付品ではなく異物に対応する領域が誤って添付品領域に含まれる可能性を低減することができる。
また、本発明のX線異物検出装置は、前記領域分割手段によって分割された前記添付品領域の大きさに基づいて前記被検査体中の前記添付品の有無を判断する添付品有無判断手段を備えた構成を有している。
この構成により、本発明のX線異物検出装置は、被検査体中の添付品の位置に拘らず添付品の有無を判断することができる。
また、本発明のX線異物検出装置は、前記領域分割手段によって分割された前記添付品領域の大きさと、前記領域分割手段によって分割された前記添付品領域の前記X線画像の濃度との少なくとも一方に基づいて前記被検査体中の前記添付品の過不足を判断する添付品過不足判断手段を備えた構成を有している。
この構成により、本発明のX線異物検出装置は、被検査体中の添付品の位置に拘らず添付品の過不足を判断することができる。
また、本発明のX線異物検出装置は、前記X線画像を表示する表示手段と、前記表示手段に表示された前記X線画像において利用者によって指定された位置である指定位置を特定する位置特定手段とを備え、前記分割閾値設定手段は、前記位置特定手段によって特定された前記指定位置の近傍の前記X線画像の画素の濃度に基づいて前記分割閾値を設定する構成を有している。
この構成により、本発明のX線異物検出装置は、表示手段に表示されたX線画像に基づいて利用者に分割閾値を間接的に設定させることができるので、利用者に分割閾値を数値によって直接設定させる構成と比較して容易に利用者に分割閾値を設定させることができる。
また、本発明のX線異物検出装置は、前記表示手段の画面に重ねて配置されたタッチパネルを備え、前記位置特定手段は、前記タッチパネルのうち触れられた部分に対応する前記X線画像中の位置を前記指定位置として特定する構成を有している。
この構成により、本発明のX線異物検出装置は、表示手段によって表示されたX線画像を見ながらタッチパネルのうちX線画像中の添付品の画像の部分を触れるという簡単な操作で利用者に分割閾値を設定させることができる。
また、本発明のX線異物検出装置の前記表示手段は、利用者の指示に応じて移動させられるカーソルを表示し、前記位置特定手段は、前記表示手段に表示された前記X線画像において前記カーソルによって指定された位置を前記指定位置として特定する構成を有している。
この構成により、本発明のX線異物検出装置は、表示手段によって表示されたX線画像を見ながらX線画像中の添付品の画像にカーソルを合わせるという簡単な操作で利用者に分割閾値を設定させることができる。
本発明は、被検査体中の添付品の位置に拘らず添付品が異物として検出されることを防止することができるX線異物検出装置を提供することができるものである。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
(第1の実施の形態)
まず、第1の実施の形態に係るX線異物検出装置の構成について説明する。
図1及び図2に示すように、本実施の形態に係るX線異物検出装置1は、被検査体80の搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査体80中(表面も含む。)に混入されている異物の有無を検出する装置である。
X線異物検出装置1は、被検査体80が搬入される搬入口2a及び被検査体80が搬出される搬出口2bが形成された装置本体2を備えている。
また、X線異物検出装置1は、装置本体2に対して水平に配置され搬入口2aから装置本体2内に搬入されてきた被検査体80を矢印Xで示す搬送方向に搬送して搬出口2bから装置本体2外に搬出する搬送ベルト3と、所定の搬送速度で搬送ベルト3を駆動するモータ4と、搬送ベルト3によって搬送されている被検査体80を検出する投受光センサ等の位置検出器5と、搬送ベルト3の上方に配置されて搬送ベルト3によって搬送される被検査体80にX線11aを照射するX線発生器11と、搬送ベルト3の下方にX線発生器11に対向するように配置されてX線発生器11によって照射されたX線11aを検出するX線検出器12と、X線検出器12の検出結果に基づいてX線画像30(図3参照。)を生成し、生成したX線画像30を処理して被検査体80中の異物の有無を判断するコンピュータ13とを装置本体2の内部に備えている。
また、X線異物検出装置1は、コンピュータ13による異物の判断結果等を表示する表示手段としてのディスプレイ14と、ディスプレイ14の画面に重ねて配置されて利用者の操作に応じた信号をコンピュータ13に入力するタッチパネル15とを装置本体2の外部に備えている。
X線発生器11は、矢印Xで示す被検査体80の搬送方向と直交する矢印Yで示す方向に延在した図示していないスリットがX線検出器12側に形成されるとともに図示していない絶縁油を収納した金属製の箱体11Aと、箱体11Aの内部の絶縁油に浸漬されて陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてX線11aを生成する長手方向が矢印Yで示す方向になるように設けられた円筒状のX線管11Bとを有している。即ち、X線発生器11は、X線管11Bによって生成されたX線11aを箱体11Aのスリットを介してX線検出器12に向けて略三角形状のスクリーン状にして照射するようになっている。
X線検出器12は、X線発生器11によって照射されたX線11aを光に変換する図示していないシンチレータと、矢印Yで示す方向に延在したライン状に配置されシンチレータによって変換された光の光量に応じたレベルの電流を生成する図示していない複数のフォトダイオードとを含むアレイ状のラインセンサであり、各フォトダイオードによって生成された電流をX線11aの検出結果としてコンピュータ13に出力するようになっている。
コンピュータ13は、プログラムが記録された図示していないROM(Read Only Memory)、ROMに記録されたプログラムに基づいて動作する図示していないCPU(Central Processing Unit)、CPUの作業領域である図示していないRAM(Random Access Memory)、X線検出器12から入力される電流をデジタル値に変換する図示していないA/D変換器等を含んで構成されている。
ここで、コンピュータ13は、位置検出器5によって被検査体80が検出されているか否かを位置検出器5の出力に基づいて判断するようになっており、位置検出器5によって被検査体80が検出されてから位置検出器5によって被検査体80が検出されなくなって所定時間が経過するまで、A/D変換器によってデジタル値に変換されたX線検出器12の検出結果に基づいてX線画像30を生成するようになっている。即ち、コンピュータ13は、位置検出器5によって被検査体80が検出されてから位置検出器5によって被検査体80が検出されなくなって所定時間が経過するまでの各時点において、X線検出器12の各フォトダイオードによって生成された電流に基づいて電流のレベルが大きいほど濃度が低くなるように1つずつ画素を生成して各画素を各フォトダイオードの並び順に並べて画素のラインを生成し、生成した画素のラインを時間順に並べてX線画像30を生成するようになっている。したがって、X線画像30においては、X線11aを多量に吸収した箇所の画像ほど濃度が高く表れる。例えば、X線画像30においては、搬送ベルト3のみの箇所の画像は、搬送ベルト3に被検査体80が重なった箇所の画像より濃度が低く表れる。また、X線画像30においては、搬送ベルト3に被検査体80の内容物81が重なった箇所の画像は、搬送ベルト3に被検査体80の内容物81及び添付品82が重なった箇所の画像や、搬送ベルト3に被検査体80の添付品82が重なった箇所の画像より濃度が低く表れる。
なお、本実施の形態に係る被検査体80は、正常な状態では、内容物81と、内容物81と一緒に包装された脱酸素剤等の所定の量の添付品82とから構成されている。
次に、X線異物検出装置1の動作について説明する。
まず、X線画像30中の被検査体80に対応する被検査体領域31(図4参照。)のうち被検査体80中の添付品82に対応する添付品領域31a(図5参照。)と、添付品領域31a以外の添付品外領域31b(図5参照。)とを分割するための閾値である分割閾値41(図6参照。)を設定する動作について説明する。
分割閾値41の設定用の被検査体80が搬送ベルト3によって搬送されると、X線発生器11によって被検査体80にX線11aが照射され、X線検出器12の検出結果がコンピュータ13に入力される。
コンピュータ13は、X線検出器12の検出結果が入力されると、図7に示す処理を開始する。
即ち、コンピュータ13は、X線検出器12の検出結果に基づいてX線画像30を生成し(S101)、生成したX線画像30のうち予め設定されていた分割閾値42(図6参照。)以上の濃度である画素の領域を被検査体領域31とし、X線画像30のうち被検査体領域31以外の領域を被検査体外領域32(図4参照。)として分割する(S102)。
そして、コンピュータ13は、S101において生成したX線画像30を図3に示すようにディスプレイ14のX線画像表示領域14aに表示させる(S103)。
コンピュータ13は、S103においてディスプレイ14にX線画像30を表示させると、タッチパネル15のうちディスプレイ14に表示されたX線画像30の被検査体領域31に対応する部分が触れられるまで、タッチパネル15のうち被検査体領域31に対応する部分が触れられたか否かを判断する(S104)。そして、タッチパネル15のうち被検査体領域31に対応する部分が利用者によって触れられると、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち被検査体領域31に対応する部分が触れられたとS104において判断し、タッチパネル15のうち利用者によって触れられた部分に対応する被検査体領域31中の位置を利用者による指定位置として特定して、特定した指定位置の近傍の画素の濃度の平均値を基準とし、基準より少し低めの濃度を分割閾値41として設定する(S105)。
なお、平均値だけに限らず、特定した指定位置の近傍での画素の濃度の中央値や、特定した指定位置の近傍での画素の濃度の最大値と最小値との中間値等を基準としても良い。また、コンピュータ13は、X線画像30全体の濃度ヒストグラムにおいて前記基準から低濃度方向に向かってヒストグラムが最初に谷となる濃度を自動的に見つけ、その値を分割閾値41としても良い。
次いで、コンピュータ13は、X線画像30の被検査体領域31のうち現在の分割閾値41以上の濃度である画素の領域を添付品領域31aとし、被検査体領域31のうち添付品領域31a以外の領域を添付品外領域31bとして分割し(S106)、図8に示すように添付品領域31a及び分割閾値41をディスプレイ14に表示させる(S107)。即ち、コンピュータ13は、S106において分割した添付品領域31aをX線画像30に重ねてディスプレイ14のX線画像表示領域14aに表示させるとともに、ディスプレイ14の分割閾値表示領域14bに現在の分割閾値41を表示させる。
次に、ディスプレイ14に表示された添付品領域31aを利用者が確認して添付品領域31aの大きさを調整することが可能となっているため、コンピュータ13は、S107においてディスプレイ14に添付品領域31a及び分割閾値41を表示させると、タッチパネル15のうちディスプレイ14の分割閾値調整領域14c、14d(図8参照。)に対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられたか否かを判断する(S108)。
そして、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14c、14dに対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられたとS108において判断すると、分割閾値41を再設定して(S109)、S106の処理に戻る。即ち、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14cに対応する部分が利用者によって触れられたときには分割閾値41を1つ減算した値に再設定し、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14dに対応する部分が利用者によって触れられたときには分割閾値41を1つ加算した値に再設定して、S106の処理に戻る。
一方、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14c、14dに対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられなかったとS108において判断すると、図7に示す一連の処理を終了する。
次に、被検査体80中の異物の有無を検出する動作について説明する。
異物の検出用の被検査体80が搬送ベルト3によって搬送されると、X線発生器11によって被検査体80にX線11aが照射され、X線検出器12の検出結果がコンピュータ13に入力される。
コンピュータ13は、X線検出器12の検出結果が入力されると、図9に示すように、図7に示すS101からS102までの処理と同様に、S121からS122までの処理を実行する。そして、コンピュータ13は、S122において分割した被検査体領域31のうち図7に示す処理によって予め設定されていた分割閾値41以上の濃度である画素の領域を添付品領域31aとし、被検査体領域31のうち添付品領域31a以外の領域を添付品外領域31bとして分割する(S123)。
次いで、コンピュータ13は、S123において分割した添付品外領域31bのX線画像30に対して画素の濃度と、所定の異物検出閾値51(図10参照。)とに基づいて異物の有無を判断する(S124)。即ち、コンピュータ13は、S123において分割した添付品外領域31bのX線画像30に対して、画素の濃度と、異物検出閾値51とを比較し、画素の濃度が異物検出閾値51を超えたら異物が有ると判断する。なお、コンピュータ13は、X線画像30における濃度の急峻な変化を見出すための微分処理等をX線画像30に施してから閾値との比較処理を行うようにすれば、異物をより高精度に検出することができる。
次いで、コンピュータ13は、S123において分割した添付品領域31aのX線画像30に対して画素の濃度と、異物検出閾値51とは異なる所定の異物検出閾値52(図11参照。)とに基づいて異物の有無を判断する(S125)。
そして、コンピュータ13は、S124及びS125における判断の結果をディスプレイ14に表示して(S126)、図9に示す一連の処理を終了する。即ち、コンピュータ13は、S124及びS125の少なくとも一方において異物が有ると判断したときは異物が有る旨をディスプレイ14に表示し、S124及びS125の何れにおいても異物が無いと判断したときは異物が無い旨をディスプレイ14に表示して、図9に示す一連の処理を終了する。
コンピュータ13は、異物の検出用の新たな被検査体80が搬送ベルト3によって搬送される度に、図9に示す一連の処理を行う。
以上に説明したように、コンピュータ13は、図7に示すS105及びS109において分割閾値41を設定するようになっており、分割閾値設定手段を構成している。また、コンピュータ13は、図7に示すS106や図9に示すS123において画素の濃度と、分割閾値41とに基づいて添付品領域31a及び添付品外領域31bを分割するようになっており、領域分割手段を構成している。また、コンピュータ13は、図9に示すS124において添付品外領域31bのX線画像30に対して画素の濃度と、異物検出閾値51とに基づいて異物の有無を判断するようになっており、添付品外領域異物判断手段を構成している。したがって、X線異物検出装置1は、添付品領域31a及び添付品外領域31bを分割し、添付品外領域31bのX線画像30に対して異物の有無を判断するので、被検査体80中の添付品82の位置に拘らず添付品82が異物として検出されることを防止することができる。
また、コンピュータ13は、図9に示すS125において添付品領域31aのX線画像30に対して画素の濃度と、異物検出閾値52とに基づいて異物の有無を判断するようになっており、添付品領域異物判断手段を構成している。したがって、X線異物検出装置1は、X線画像30において被検査体80の添付品82と重なっている異物を検出することができる。
また、コンピュータ13は、ディスプレイ14に表示されたX線画像30において利用者によって指定された位置である指定位置を図7に示すS105において特定するようになっており、位置特定手段を構成している。また、コンピュータ13は、自身が特定した指定位置の近傍の画素の濃度に基づいて図7に示すS105において分割閾値41を設定するようになっている。したがって、X線異物検出装置1は、ディスプレイ14に表示されたX線画像30に基づいて利用者に分割閾値41を間接的に設定させることができるので、利用者に分割閾値41を数値によって直接設定させる構成と比較して容易に利用者に分割閾値41を設定させることができる。
また、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち触れられた部分に対応する被検査体領域31中の位置を図7に示すS105において指定位置として特定するようになっている。したがって、X線異物検出装置1は、ディスプレイ14によって表示されたX線画像30を見ながらタッチパネル15のうちX線画像30中の添付品82の画像の部分を触れるという簡単な操作で利用者に分割閾値41を設定させることができる。なお、X線異物検出装置1は、図示していない十字キー等を介した利用者の指示に応じて移動させられるカーソル61(図12参照。)をディスプレイ14に表示し、ディスプレイ14に表示されたX線画像30の被検査体領域31においてカーソル61によって指定された位置を指定位置として特定するようになっていても良い。X線異物検出装置1は、カーソル61によって指定位置を特定する場合、ディスプレイ14によって表示されたX線画像30を見ながらX線画像30中の添付品82の画像にカーソル61を合わせるという簡単な操作で利用者に分割閾値41を設定させることができる。
(第2の実施の形態)
第2の実施の形態に係るX線異物検出装置の構成は、コンピュータ13に記録されたプログラムが異なることを除いて、第1の実施の形態に係るX線異物検出装置1(図2参照。)の構成とほぼ同様であるので、X線異物検出装置1の構成と同一の符号を付して説明する。
本実施の形態に係るX線異物検出装置の動作について説明する。
分割閾値41を設定する動作については、X線異物検出装置1と同様であるので説明を省略する。なお、本実施の形態に係るX線異物検出装置は、添付品82の標準の大きさ(以下「添付品サイズ」という。)が利用者によって設定可能になっており、利用者によって添付品サイズが設定されると、利用者によって設定された添付品サイズを図13に示すようにディスプレイ14の添付品サイズ表示領域14eに表示する。
以下、被検査体80中の異物の有無を検出し、被検査体80中の添付品82の有無や過不足を判断する動作について説明する。
コンピュータ13は、図14に示すように、図9に示すS121からS125までの処理と同様に、S141からS145までの処理を実行する。そして、コンピュータ13は、S145の後、被検査体80中の添付品82の有無や過不足を判断する(S146)。即ち、コンピュータ13は、ディスプレイ14の添付品サイズ表示領域14eに表示された添付品サイズに対して添付品領域31aのX線画像30の大きさ(面積)が所定の範囲内の大きさであり、添付品領域31aのX線画像30の濃度が所定の濃度未満であるとき、被検査体80中の添付品82の量が適切であると判断する。また、コンピュータ13は、例えば図15に示すようにX線画像30に添付品領域31aが存在しないとき、被検査体80中に添付品82が無いと判断する。また、コンピュータ13は、例えば図16に示すように被検査体80中に添付品82が複数存在する等のために添付品領域31aのX線画像30の大きさが添付品サイズに対して所定の範囲外であって添付品サイズより大きいときや、例えば図17に示すように被検査体80中に添付品82が重なって複数存在する等のために添付品領域31aのX線画像30に所定の濃度以上の画素が存在するとき、あるいは、所定の濃度以上の画素の領域の大きさが所定の範囲以上のとき、被検査体80中の添付品82の量が過剰であると判断する。また、コンピュータ13は、例えば図18に示すように被検査体80中の添付品82の量が少ない等のために添付品領域31aのX線画像30の大きさが添付品サイズに対して所定の範囲外であって添付品サイズより小さいとき、被検査体80中の添付品82の量が不足していると判断する。
そして、コンピュータ13は、S144〜S146における判断の結果をディスプレイ14に表示して(S147)、図14に示す一連の処理を終了する。
コンピュータ13は、異物の検出用の新たな被検査体80が搬送ベルト3によって搬送される度に、図14に示す一連の処理を行う。
以上に説明したように、本実施の形態に係るX線異物検出装置のコンピュータ13は、添付品領域31aの大きさに基づいて被検査体80中の添付品82の有無を判断するようになっており、添付品有無判断手段を構成している。したがって、本実施の形態に係るX線異物検出装置は、被検査体80中の添付品82の位置に拘らず添付品82の有無を判断することができる。
また、本実施の形態に係るX線異物検出装置のコンピュータ13は、添付品領域31aの大きさと、添付品領域31aのX線画像の濃度とに基づいて被検査体80中の添付品82の過不足を判断するようになっており、添付品過不足判断手段を構成している。したがって、本実施の形態に係るX線異物検出装置は、被検査体80中の添付品82の位置に拘らず添付品82の過不足を判断することができる。
(第3の実施の形態)
第3の実施の形態に係るX線異物検出装置の構成は、コンピュータ13に記録されたプログラムが異なることを除いて、第1の実施の形態に係るX線異物検出装置1(図2参照。)の構成とほぼ同様であるので、X線異物検出装置1の構成と同一の符号を付して説明する。
本実施の形態に係るX線異物検出装置の動作について説明する。
まず、添付品領域31a及び添付品外領域31bを分割するための閾値である分割閾値43(図19参照。)及び分割閾値44(図20参照。)を設定する動作について説明する。
コンピュータ13は、図21に示すように、図7に示すS101からS104までの処理と同様に、S161からS164までの処理を実行する。そして、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち被検査体領域31に対応する部分が触れられたとS164において判断すると、タッチパネル15のうち利用者によって触れられた部分に対応する被検査体領域31中の位置を利用者による指定位置として特定して、特定した指定位置の近傍の画素の濃度の平均値を基準とし、基準より少し低めの濃度を分割閾値43、44として設定する(S165)。
次いで、コンピュータ13は、指定回数だけ一旦縮小してから元の大きさに拡大する縮小拡大処理をn回(nは正の整数。)行ったX線画像30(図22参照。)の被検査体領域31のうち現在の分割閾値43以上の濃度である画素の領域を添付品候補領域33a(図23参照。)として分割し(S166)、縮小拡大処理をm回(mはnより大きい正の整数。例えばn=3、m=25。)行ったX線画像30(図24参照。)の被検査体領域31のうち現在の分割閾値44以上の濃度である画素の領域を添付品候補領域33b(図25参照。)として分割する(S167)。そして、コンピュータ13は、S166において分割した添付品候補領域33aと、S167において分割した添付品候補領域33bとの重複領域を図26に示すように添付品領域31aとし、被検査体領域31のうち添付品領域31a以外の領域を添付品外領域31bとして分割し(S168)、図27に示すように添付品領域31a及び分割閾値43、44をディスプレイ14に表示させる(S169)。即ち、コンピュータ13は、S168において分割した添付品領域31aをX線画像30に重ねてディスプレイ14のX線画像表示領域14aに表示させ、ディスプレイ14の分割閾値表示領域14fに現在の分割閾値43を表示させ、ディスプレイ14の分割閾値表示領域14gに現在の分割閾値44を表示させる。
コンピュータ13は、S169においてディスプレイ14に添付品領域31a及び分割閾値43、44を表示させると、タッチパネル15のうちディスプレイ14の分割閾値調整領域14h〜14k(図27参照。)に対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられたか否かを判断する(S170)。
そして、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14h〜14kに対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられたとS170において判断すると、分割閾値43、44を再設定して(S171)、S166の処理に戻る。即ち、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14hに対応する部分が利用者によって触れられたときには分割閾値43を1つ減算した値に再設定し、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14iに対応する部分が利用者によって触れられたときには分割閾値43を1つ加算した値に再設定し、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14jに対応する部分が利用者によって触れられたときには分割閾値44を1つ減算した値に再設定し、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14kに対応する部分が利用者によって触れられたときには分割閾値44を1つ加算した値に再設定して、S166の処理に戻る。
一方、コンピュータ13は、タッチパネル15のうち分割閾値調整領域14h〜14kに対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられなかったとS170において判断すると、図21に示す一連の処理を終了する。
次に、被検査体80中の異物の有無を検出する動作について説明する。
コンピュータ13は、図28に示すように、図9に示すS121及びS122の処理と同様に、S181及びS182の処理を実行する。そして、コンピュータ13は、縮小拡大処理をn回行ったX線画像30の被検査体領域31のうち図21に示す処理によって予め設定されていた分割閾値43以上の濃度である画素の領域を添付品候補領域33aとして分割し(S183)、縮小拡大処理をm回行ったX線画像30の被検査体領域31のうち図21に示す処理によって予め設定されていた分割閾値44以上の濃度である画素の領域を添付品候補領域33bとして分割した後(S184)、S183において分割した添付品候補領域33aと、S184において分割した添付品候補領域33bとの重複領域を添付品領域31aとし、被検査体領域31のうち添付品領域31a以外の領域を添付品外領域31bとして分割する(S185)。
そして、コンピュータ13は、図9に示すS124からS126までの処理と同様にS186からS188までの処理を行って、図28に示す一連の処理を終了する。
コンピュータ13は、異物の検出用の新たな被検査体80が搬送ベルト3によって搬送される度に、図28に示す一連の処理を行う。
以上に説明したように、本実施の形態に係るX線異物検出装置のコンピュータ13は、X線画像30に対して縮小拡大処理を1回以上行った後、添付品領域31a及び添付品外領域31bを分割するようになっている。したがって、本実施の形態に係るX線異物検出装置は、被検査体80のX線画像30のうち実際には添付品82ではなく異物に対応する領域が誤って添付品領域31aに含まれる可能性を低減することができる。
なお、本実施の形態に係るX線異物検出装置のコンピュータ13は、図21に示すS166及び図28に示すS183において縮小拡大処理をn回行い、図21に示すS167及び図28に示すS184において縮小拡大処理をm回行うようになっているが、縮小拡大処理の回数は固定されていても良いし、利用者によって変更可能になっていても良い。
以上のように、本発明に係るX線異物検出装置は、被検査体中の添付品の位置に拘らず添付品が異物として検出されることを防止することができるという効果を有し、食品等の生産ライン上に設置されるX線異物検出装置等として有用である。
本発明の第1の実施の形態に係るX線異物検出装置の外観斜視図 図1に示すX線異物検出装置のブロック図 利用者によって分割閾値が設定される前に図1に示すX線異物検出装置のディスプレイに表示される画像を示す図 図1に示すX線異物検出装置によって生成されたX線画像の被検査体領域及び被検査体外領域を示す図 図1に示すX線異物検出装置によって生成されたX線画像の被検査体領域の添付品領域及び添付品外領域を示す図 図1に示すX線異物検出装置によって生成されたX線画像における画素の濃度分布を示す図 利用者によって分割閾値が設定されるときの図1に示すX線異物検出装置の動作のフローチャート 利用者によって分割閾値が設定されたときに図1に示すX線異物検出装置のディスプレイに表示される画像を示す図 被検査体中の異物の有無を検出するときの図1に示すX線異物検出装置の動作のフローチャート 図1に示すX線異物検出装置によって生成されたX線画像の添付品外領域における画素の位置及び濃度を示す図 図1に示すX線異物検出装置によって生成されたX線画像の添付品領域における画素の位置及び濃度を示す図 図1に示すX線異物検出装置のディスプレイに表示される画像であってカーソルを含む画像を示す図 利用者によって添付品の標準の大きさが設定されたときに本発明の第2の実施の形態に係るX線異物検出装置のディスプレイに表示される画像を示す図 被検査体中の異物の有無の検出と、被検査体中の添付品の有無や過不足の検出とを行うときの本発明の第2の実施の形態に係るX線異物検出装置の動作のフローチャート 被検査体中に添付品が無いときに本発明の第2の実施の形態に係るX線異物検出装置によって生成されるX線画像を示す図 被検査体中に添付品が複数存在するときに本発明の第2の実施の形態に係るX線異物検出装置によって生成されるX線画像を示す図 被検査体中に添付品が重なって複数存在するときに本発明の第2の実施の形態に係るX線異物検出装置によって生成されるX線画像を示す図 被検査体中の添付品の量が少ないときに本発明の第2の実施の形態に係るX線異物検出装置によって生成されるX線画像を示す図 本発明の第3の実施の形態に係るX線異物検出装置によって生成され縮小拡大処理がn回行われたX線画像における画素の濃度分布を示す図 本発明の第3の実施の形態に係るX線異物検出装置によって生成され縮小拡大処理が25回行われたX線画像における画素の濃度分布を示す図 利用者によって分割閾値が設定されるときの本発明の第3の実施の形態に係るX線異物検出装置の動作のフローチャート 本発明の第3の実施の形態に係るX線異物検出装置によって縮小拡大処理がn回行われたX線画像を示す図 図22に示すX線画像中の添付品候補領域を示す図 本発明の第3の実施の形態に係るX線異物検出装置によって縮小拡大処理がm回行われたX線画像を示す図 図24に示すX線画像中の添付品候補領域を示す図 本発明の第3の実施の形態に係るX線異物検出装置によって分割された添付品領域及び添付品外領域を示す図 利用者によって分割閾値が設定されたときに本発明の第3の実施の形態に係るX線異物検出装置のディスプレイに表示される画像を示す図 被検査体中の異物の有無を検出するときの本発明の第3の実施の形態に係るX線異物検出装置の動作のフローチャート
符号の説明
1 X線異物検出装置
13 コンピュータ(分割閾値設定手段、領域分割手段、添付品外領域異物判断手段、添付品領域異物判断手段、添付品有無判断手段、添付品過不足判断手段、位置特定手段)
14 ディスプレイ(表示手段)
15 タッチパネル
30 X線画像
31a 添付品領域
31b 添付品外領域
41、43、44 分割閾値
51 異物検出閾値(所定の閾値)
52 異物検出閾値(所定の閾値とは異なる閾値)
61 カーソル
80 被検査体
82 添付品

Claims (6)

  1. X線発生器(11)から被検査体(80)に照射されたX線を検出するX線検出器(12)と、該X線検出器の検出結果に基づいて生成されたX線画像(30)を処理して前記被検査体中の異物の有無を検出するX線異物検出装置(1)において、
    前記X線画像の中を前記被検査体中の添付品(82)に対応する添付品領域(31a)及び前記添付品領域以外の添付品外領域(31b)に分割するための分割閾値(41、43、44)を設定する分割閾値設定手段(13)と、
    前記X線画像を指定回数だけ一旦縮小してから元の大きさに拡大する縮小拡大処理を1回以上行った後の画素の濃度及び前記分割閾値設定手段によって設定された前記分割閾値に基づいて前記添付品領域及び前記添付品外領域を分割する領域分割手段(13)と、
    前記X線画像の中の前記領域分割手段によって分割された前記添付品外領域に対して、前記X線画像の画素の濃度及び所定の閾値(51)に基づいて前記異物の有無を判断する添付品外領域異物判断手段(13)と
    前記領域分割手段(13)によって分割された前記添付品領域(31a)の前記X線画像(30)に対して前記X線画像の画素の濃度と、前記所定の閾値(51)とは異なる閾値(52)とに基づいて前記異物の有無を判断する添付品領域異物判断手段(13)と、を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。
  2. 前記領域分割手段(13)によって分割された前記添付品領域(31a)の大きさに基づいて前記被検査体(80)中の前記添付品(82)の有無を判断する添付品有無判断手段(13)を備えたことを特徴とする請求項に記載のX線異物検出装置(1)。
  3. 前記領域分割手段(13)によって分割された前記添付品領域(31a)の大きさと、前記領域分割手段によって分割された前記添付品領域の前記X線画像(30)の濃度との少なくとも一方に基づいて前記被検査体(80)中の前記添付品(82)の過不足を判断する添付品過不足判断手段(13)を備えたことを特徴とする請求項に記載のX線異物検出装置(1)。
  4. 前記X線画像(30)を表示する表示手段(14)と、前記表示手段に表示された前記X線画像において利用者によって指定された位置である指定位置を特定する位置特定手段(13)とを備え、
    前記分割閾値設定手段(13)は、前記位置特定手段によって特定された前記指定位置の近傍の前記X線画像の画素の濃度に基づいて前記分割閾値(41、43、44)を設定することを特徴とする請求項1から請求項までの何れかに記載のX線異物検出装置(1)。
  5. 前記表示手段(14)の画面に重ねて配置されたタッチパネル(15)を備え、
    前記位置特定手段(13)は、前記タッチパネルのうち触れられた部分に対応する前記X線画像(30)中の位置を前記指定位置として特定することを特徴とする請求項に記載のX線異物検出装置(1)。
  6. 前記表示手段(14)は、利用者の指示に応じて移動させられるカーソル(61)を表示し、
    前記位置特定手段(13)は、前記表示手段に表示された前記X線画像(30)において前記カーソルによって指定された位置を前記指定位置として特定することを特徴とする請求項に記載のX線異物検出装置(1)。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008232814A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Shimadzu Corp X線異物検査装置
US8369481B2 (en) * 2009-06-08 2013-02-05 Ishida Co., Ltd. X-ray inspection device
JP6165426B2 (ja) * 2012-08-21 2017-07-19 株式会社イシダ X線検査装置
WO2016152485A1 (ja) * 2015-03-20 2016-09-29 株式会社イシダ 検査装置
JP6796052B2 (ja) * 2017-11-06 2020-12-02 アンリツインフィビス株式会社 X線検査装置およびx線検査方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09159770A (ja) * 1995-12-12 1997-06-20 Sutabitsuku:Kk 添付品有無検査方法及び装置
JPH11108860A (ja) * 1997-10-07 1999-04-23 Toyo Eng Corp 能書検知装置および検知方法
JP2000241367A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Stabic:Kk X線検査装置
JP2000241368A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Stabic:Kk X線検査装置
JP4542666B2 (ja) * 2000-04-24 2010-09-15 アンリツ産機システム株式会社 画像処理による異物検出方法および装置
JP3768387B2 (ja) * 2000-07-03 2006-04-19 株式会社イシダ X線物品検査装置
JP3875842B2 (ja) * 2001-02-02 2007-01-31 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
JP3737950B2 (ja) * 2001-02-09 2006-01-25 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
JP3618701B2 (ja) * 2001-08-29 2005-02-09 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置
JP3828781B2 (ja) * 2001-10-31 2006-10-04 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置
JP3888623B2 (ja) * 2002-06-25 2007-03-07 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出方法及びx線異物検出装置
JP4020712B2 (ja) * 2002-06-27 2007-12-12 アンリツ産機システム株式会社 X線画像処理フィルタ自動設定方法,x線異物検出方法及びx線異物検出装置
JP4020711B2 (ja) * 2002-06-27 2007-12-12 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置及びx線異物検出方法
JP3828843B2 (ja) * 2002-08-02 2006-10-04 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置,x線異物検出方法及びx線異物検出プログラム
JP3898144B2 (ja) * 2003-03-31 2007-03-28 アンリツ株式会社 異物検出方法、異物検出プログラムを記録した記録媒体及び異物検出装置
JP3943099B2 (ja) * 2003-06-09 2007-07-11 アンリツ産機システム株式会社 X線検査装置
JP2005043210A (ja) * 2003-07-22 2005-02-17 Asahi Kasei Corp 製品内部の検査方法及び装置
JP3682587B2 (ja) * 2003-09-24 2005-08-10 株式会社島津製作所 X線異物検査装置およびx線異物検査装置のための判定用パラメータ設定装置

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