JP3768387B2 - X線物品検査装置 - Google Patents
X線物品検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3768387B2 JP3768387B2 JP2000200651A JP2000200651A JP3768387B2 JP 3768387 B2 JP3768387 B2 JP 3768387B2 JP 2000200651 A JP2000200651 A JP 2000200651A JP 2000200651 A JP2000200651 A JP 2000200651A JP 3768387 B2 JP3768387 B2 JP 3768387B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- article
- ray
- marking
- transmittance
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、X線物品検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、商品にX線を照射して、所定の副材や添加品が商品に含まれているか否かを判定するX線検査は公知である(たとえば、特開平9−159770号公報参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、かかる検査方法では、検査を行えない場合がある。たとえば、アルミ箔やアルミ蒸着を施した大袋に、「ふりかけ」の小袋(物品)が入っている商品(被検査物)において、当該小袋の数をチェックすることはできない。また、カップラーメンなどの商品では、「スープ」の小袋と「具材」の小袋とが重なる場合があり、この場合にも、当該小袋の有無のチェックを行うことはできない。
【0004】
したがって、本発明の目的は、被検査物の形態や包装の種別に拘わらず、該被検査物内の物品についての入り数を検査することのできるX線物品検査装置を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本第1発明のX線物品検査装置は、物品にX線を照射するX線照射手段と、前記物品を透過したX線が入射するX線検出器とを備え、前記X線検出器による検出結果に基づいて被検査物中の物品の検査を行うX線物品検査装置において、X線の透過効率が前記物品とは異なるマーキングであって、前記物品に付されたマーキングを検出することにより被検査物中の物品の有無を判別する手段を備え、該物品の有無を判別する手段は、前記マーキングか否かを判別するために設定された設定透過率の範囲を記憶する透過率記憶部と、前記X線検出器で検出された画像についての透過率の検出値を前記設定透過率の範囲と比較して設定されたマーキングか否かを判別するマーキング判別手段とを備え、前記設定透過率を前記透過率記憶部が物品ごとに記憶できるようにしたことを特徴とする。
本第2発明のX線物品検査装置は、物品にX線を照射するX線照射手段と、前記物品を透過したX線が入射するX線検出器とを備え、前記X線検出器による検出結果に基づいて被検査物中の物品の検査を行うX線物品検査装置において、X線の透過効率が前記物品とは異なるマーキングであって、前記物品に付されたマーキングを検出することにより被検査物中の物品の有無を判別する手段を備え、該物品の有無を判別する手段は、前記マーキングか否かを判別するための寸法に関する設定領域情報を記憶する領域記憶部と、前記判別の結果、所定の透過率の範囲である部分についての寸法に関する検出情報を前記領域記憶部に記憶された設定領域情報と比較して当該部分がマーキングの像であるか否かを判別するマーキング判別手段とを備え、前記設定領域情報を前記領域記憶部が物品ごとに記憶できるようにしたことを特徴とする。
【0006】
本発明において、「X線の透過効率」とは、吸収や反射によって失われたX線の光量に対する透過光量の単位物理量(単位体積または単位重量)当たりの比率のことをいう。したがって、「透過効率」は、物体の体積や質量には関係なく、媒質の物理的および化学的組成によって定まる。
「マーキング」は、前記透過効率が前記物品よりも小さい材料で構成されているのが好ましく、たとえば、金属粉などを塗布、貼付、蒸着などにより物品の表面や包装に付される。
【0007】
前記X線物品検査装置は、前記被検査物中の異物を判別する異物判別手段を備えているのが好ましい。該異物判別手段は、前記X線検出器で検出された画像のうち透過率が所定値とは異なる部分の検出像が、前記マーキングの像と異なる場合には、当該検出像が異物の像であると判別する。
【0008】
ここで、「透過率」とは、媒質への入射放射力(X線の光量)に対する、媒質によって透過した放射力(X線の光量)の比率のことをいい、前記「透過効率」とは異なる。
【0009】
本第1発明においては、指定のマーキングか否かを判別するための設定透過率の範囲を予め設定記憶させておき、実際の透過率の検出値を前記設定透過率と比較することで、検出像がマーキングの像か否かを判別する。
ここで、「設定透過率の範囲」としては、少なくとも、上限または下限の閾値のいずれか一方を設定すればよい。
【0010】
また、設定透過率のみでマーキングか否かを判別しようとすると、異物や外乱をマーキングであると判別する場合がある。そこで、本第2発明においては、設定されたマーキングか否かを判別するための寸法に関する領域情報を予め設定記憶させておき、所定の透過率の範囲である部分についての寸法に関する検出情報を前記設定領域情報と比較して、当該部分がマーキングの像であるか否かを判別する。これにより、誤判別を防止することができる。
【0011】
ここで、「領域情報」とは、マーキングの位置、形状、長さ、幅または面積などの寸法に関する情報をいい、マーキングか否かを判別するための情報である。
【0012】
本発明においては、検出されたマーキングの数に基づいて被検査物中の物品の個数を検出することができる。
また、本発明においては、物品検出と異物検査とを兼用するのが好ましい。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面にしたがって説明する。
商品および物品:
まず、本実施形態のX線物品検査装置に用いられる商品(被検査物)について説明する。
図3および図4に示すように、前記商品Mは、たとえば、大袋やカップなどの包材に小袋や「おまけ」などの物品を入れたものである。
図3(a)に示すように、前記物品は、たとえば、複数個の小袋Bi からなり、該小袋Bi はアルミ箔やアルミ蒸着を施された大袋Mb内に複数個入っている。
前記小袋Bi の一部には、所定の形状および大きさのマーキングaが予め所定の箇所に塗布されている。該マーキングaは、単位物理量当たりのX線の透過効率が当該小袋Bi や前記大袋Mbよりも小さい材料で構成されている。
【0014】
X線物品検査装置の構成:
つぎに、本X線物品検査装置について説明する。
図1(a),(b)に示すように、商品の搬送ライン上に設けられたX線物品検査装置1は、両側に商品Mの入口1aおよび出口1bの設けられたX線シールドボックス1Sを有している。X線シールドボックス1S内には第1および第2コンベヤ51,52が直列に配置されている。第1コンベヤ51は始端部が入口1aに位置しており、入口1aから搬入された商品Mは、一定の姿勢で第1コンベヤ51上を搬送された後、第2コンベヤ52によって出口1bから搬出される。
【0015】
前記X線シールドボックス1S内には、X線照射手段21およびX線検出器22からなる光学系20が設けられている。該X線照射手段21はX線を発生させ、該X線をX線検出器22に向って照射する。X線検出器22は、多数の画素をコンベヤの幅方向に配設したラインセンサからなる。
【0016】
前記第1コンベヤ51の終端部と第2コンベヤ52の始端部との間には、商品Mの受け渡しに支障がない寸法の隙間50が設けられている。前記X線照射手段21の光軸Sは、前記隙間50を通過する位置に設定されている。
なお、X線物品検査装置1の下流には、不良商品をラインアウトさせるための振り分け装置9が設けられている。
【0017】
つぎに、X線物品検査装置の制御構成について説明する。
図2(a)に示すように、X線物品検査装置1と振り分け装置9とは互いに接続されている。X線物品検査装置1はマイコン10を有している。マイコン10には、前記光学系20、表示器4、前記コンベヤ51,52および通過検出器8がそれぞれ接続されている。なお、図2(a)に示す各機器は、それぞれ図示しないインターフェイスを介して接続されている。
【0018】
マイコン10(物品の有無を判別する手段)はCPU11,ROM12およびRAM13を備えている。CPU11はX線画像処理部11aおよびマーキングカウンタ11bを備えており、本発明のマーキング判別手段を構成する。
X線画像処理部11aは、X線検出器22からの出力を受信順に連続的に処理することにより、図3(a)に示す画像Pを作成する。なお、図3(a)は、商品Mと画像Pとの対応関係を示す概念図である。該画像Pは、図3(b)に示すX線の透過率Tに応じて明暗の分布が決定される。当該画像Pは必要に応じて表示器4に表示させることができるようになっている。
【0019】
図2示すRAM13には、異物閾値記憶部13aおよびマーキング閾値記憶部(透過率記憶部、領域記憶部)13bが設けられている。
前記異物閾値記憶部13aには、図3(b)に示す所定の透過率の値からなる異物閾値SHfが記憶されている。異物閾値SHfは、針やネジなど金属製の異物を検出するための閾値であり、当該金属製の異物の透過率の値Tf(ほぼ0)よりも若干大きく、かつ、当該異物の透過率の値Tfに近い所定の小さな値(たとえば5%)に設定されている。
【0020】
図2(b)に示すように、前記マーキング閾値記憶部13bには、商品名、物品名、マーキング透過率閾値SHa、長さ閾値Laおよびマーキングの個数が商品ごとに、商品に関連付けられて記憶される。
前記マーキング閾値SHaは、各画素で検出した部分が、所定の設定されたマーキングaか否かを判別するための閾値である。図3(b)に示すマーキング閾値(上限値)SHaとしては、マーキングaに対応する透過率の値Taよりも大きく、かつ、当該透過率の値Taに近い上限値や下限値が設定される。なお、商品「ふりかけ」の場合は、マーキングの下限値として異物閾値を用いる。
前記長さ閾値Laはマーキングaか否かを寸法を基準に判定するための他の閾値である。長さ閾値Laとしては、前記画像Pにおけるマーキングaの検出像の設定長さの範囲が記憶される。前記個数としては、商品M1内のマーキングaの数、すなわち、小袋Bi の所定の入り数が記憶される。
【0021】
前記CPU11は、前記マーキング閾値記憶部13bの記憶内容を設定記憶させる登録モードと、物品検査を行う運転モードとを有している。
以下に説明するように、CPU11はマーキングaを検出することにより、小袋Bi の有無を判別するマーキング判別手段を構成していると共に、異物の判別を行う異物判別手段を構成している。一方、CPU11は、マーキングaの数をカウントすることにより商品M内の小袋Bi の個数の検査を行う個数検査手段を構成している。
【0022】
X線物品検査方法:
つぎに、物品の検査方法について図3の商品Mを例にとって説明する。
登録モード:
オペレータが所定の操作を行い、X線物品検査装置1を登録モードに設定した後、図1に示す前記第1コンベヤ51上に商品Mを載置すると、該商品MはX線物品検査装置1の入口1aからX線シールドボックス1S内に搬入される。第1コンベヤ51上の商品Mは、第1の隙間50上を通過して第2コンベヤ52に乗り移る。同時に、図2に示すX線画像処理部11aがX線検出器22からの透過X線の検出信号に基づいて、前記透過率Tに対応する画像Pを作成し、CPU11が該画像を表示器4に表示させる。
【0023】
オペレータは、前記表示を見ながら適切な設定値を算出し、図3に示すマーキングaに対応する透過率の値Taに基づいて、マーキング閾値記憶部13bの当該商品名に対応するマーキング閾値欄にマーキング閾値SHaを設定記憶させる。一方、画像Pにおけるマーキングaの検出像の長さLを基準として設定長さを記憶させると共に、前記マーキングaの数(物品の数)を個数欄に設定記憶させる。
【0024】
運転モード:
つぎに、オペレータが所定の操作を行い、X線物品検査装置1を運転モードに設定し、商品を呼び出すと、CPU11が異物閾値記憶部13aから当該商品に応じた異物閾値SHfを読み出すと共に、マーキング閾値記憶部13bから当該商品Mに対応する記憶内容を読み出す。搬送ラインの動作を開始させると、商品Mが第1コンベヤ51によって、X線シールドボックス1S内に搬入される。商品Mが第1コンベヤ51から第2コンベヤ52に乗り移ると、X線検出器22からの透過X線の検出信号に基づいてCPU11が以下に示す物品検査を行い、その後、商品Mは出口1bからX線シールドボックス1Sの外に搬送され、下流の振り分け装置9に送られる。
【0025】
図4はCPU11の動作の概略のフローを示す。
ステップS1において、CPU11が前記透過率Tとマーキング閾値SHaとを比較し、透過率Tがマーキング閾値SHa以下の場合には、ステップS2に進む。透過率Tがマーキング閾値SHaよりも大きい場合にはステップS1に戻る。
【0026】
ステップS2において、CPU11が前記透過率Tと前記異物閾値SHfとを比較し、透過率Tが異物閾値SHf以上の場合にはステップS3に進む。一方、図3(b)に示す透過率Tfの部分のように、検出像の透過率が異物閾値SHfよりも小さい場合には、金属製の異物が混入していると判別しステップS6に進む。ステップS6において、CPU11は前記振り分け装置9に振り分け信号を送信する。
【0027】
ステップS3において、CPU11は、図3(b)に示す透過率Taの部分のように、マーキング閾値SHa以下で、かつ、異物閾値SHf以上の部分について長さ判別を行う。すなわち、透過率Tが所定の範囲である検出像の長さL(図3(a))と前記長さ閾値Laとの比較を行う。当該検出像の長さLが所定の長さの範囲内である場合には、当該検出像がマーキングaの像であると判別しステップS4に進む。一方、当該所定の範囲を越える場合には、異物またはエラーであると判別してステップS6に進む。
【0028】
ステップS4において、CPU11が前記マーキングカウンタ11bをインクリメントしステップS5に進む。ステップS5では、マーキングカウンタ11bの数値と前記マーキングaの設定個数との比較を行う。なお、本実施形態では説明を簡潔にするためにフローチャートを簡略化しているが、実際にはCPU11は前記ステップS1からステップS4までを繰り返し、商品M中のマーキングaの数が前記マーキング閾値記憶部13bの前記設定個数と異なる場合には前記振り分け装置9に振り分け信号を送信する。一方、検出したマーキングaの数が前記設定個数と一致する場合には、次の商品Mの物品検出を開始する。
【0029】
このように、小袋Bi に予め付されたマーキングaを検出するので、アルミ箔やアルミ蒸着などの施された大袋に入った小袋Bi であっても、当該小袋Bi についての入り数を検査することができる。
【0030】
また、前記画像Pのうち、透過率Tが所定の閾値SHfよりも小さい検出像については異物であると判別するので、別途、異物検出のための装置を設けることなく異物検出を行うことができるから、コストアップを抑制することができる。
【0031】
なお、マーキングaを特定するための閾値として、前記マーキング閾値(上限値)SHaと共に、下限値を設定してもよい。該下限値には、マーキングaに対応する透過率Taよりも小さい値を設定する。
【0032】
また、商品Mは、図5に示すように、異なる種類の小袋B1,B2が入れられた、たとえば、カップラーメンなどの商品Mであってもよい。
前記小袋B1,B2には、寸法や形状および/または透過効率が互いに異なるマーキングa1,a2がそれぞれ付されている。
【0033】
前記異なる種類の小袋B1,B2の入った商品Mにおいては、図2(b)に示す閾値記憶部13bのカップラーメン欄のように、前記小袋B1,B2ごとに設定された透過率閾値および長さ閾値を用いることにより、該小袋B1,B2の有無および入り数の検査を行う。したがって、小袋B1,B2が重なっていてもそれぞれの小袋B1,B2の有無や入り数を検査することができる。
【0034】
以上のとおり、図面を参照しながら好適な実施形態を説明したが、当業者であれば、本明細書を見て、自明な範囲で種々の変更および修正を容易に想定するであろう。
たとえば、マーキングは物品から突出して設けてもよい。また、マーキングは物品内部に付してもよく、さらには、物品内に入れられた、たとえば、「おまけ」などの品物に付してもよい。
したがって、そのような変更および修正は、請求の範囲から定まる本発明の範囲内のものと解釈される。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、被検査物内の物品に予めマーキングを付し、当該マーキングを検出するので、被検査物の形態や包装の種別に拘わらず、該被検査物内の物品についての入り数や物品の有無を検査することができる。
【0036】
また、X線検出器で検出された画像のうち、透過率が所定値の範囲とは異なる部分の検出像が、マーキングの像とは異なる場合には異物の像であると判別するので、別途、異物検出のための装置を設けることなく異物検出を行うことができるから、コストアップを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態にかかるX線物品検査装置を示す概略側面図および概略正面図である。
【図2】 (a)はX線物品検査装置を示す概略構成図、(b)は記憶部の記憶内容を示す図表である。
【図3】 (a)は被検査物と画像との対応関係を示す斜視図、(b)は透過率を示すグラフである。
【図4】 運転モードにおけるCPUの概略動作を示すフローチャートである。
【図5】 他の商品の形態を示す概略斜視図である。
【符号の説明】
1:X線物品検査装置
21:X線照射手段
22:X線検出器
a:マーキング
Bi ,B1,B2:小袋(物品)
M:商品(被検査物)
P:画像
T:透過率
Claims (5)
- 物品にX線を照射するX線照射手段と、前記物品を透過したX線が入射するX線検出器とを備え、前記X線検出器による検出結果に基づいて被検査物中の物品の検査を行うX線物品検査装置において、
X線の透過効率が前記物品とは異なるマーキングであって、前記物品に付されたマーキングを検出することにより被検査物中の物品の有無を判別する手段を備え、該物品の有無を判別する手段は、
前記マーキングか否かを判別するために設定された設定透過率の範囲を記憶する透過率記憶部と、
前記X線検出器で検出された画像についての透過率の検出値を前記設定透過率の範囲と比較して設定されたマーキングか否かを判別するマーキング判別手段とを備え、
前記設定透過率を前記透過率記憶部が物品ごとに記憶できるようにしたX線物品検査装置。 - 物品にX線を照射するX線照射手段と、前記物品を透過したX線が入射するX線検出器とを備え、前記X線検出器による検出結果に基づいて被検査物中の物品の検査を行うX線物品検査装置において、
X線の透過効率が前記物品とは異なるマーキングであって、前記物品に付されたマーキングを検出することにより被検査物中の物品の有無を判別する手段を備え、該物品の有無を判別する手段は、
前記マーキングか否かを判別するための寸法に関する設定領域情報を記憶する領域記憶部と、
前記判別の結果、所定の透過率の範囲である部分についての寸法に関する検出情報を前記領域記憶部に記憶された設定領域情報と比較して当該部分がマーキングの像であるか否かを判別するマーキング判別手段とを備え、
前記設定領域情報を前記領域記憶部が物品ごとに記憶できるようにしたX線物品検査装置。 - 請求項1もしくは2において、
前記検出されたマーキングの数に基づいて、被検査物中の物品の個数検査を行う手段をさらに備えたX線物品検査装置。 - 請求項1ないし3のいずれか1項において、
被検査物中の異物を判別するための異物判別手段をさらに備えたX線物品検査装置。 - 請求項4において、
前記異物判別手段は、前記X線検出器で検出された画像のうち透過率が所定値とは異なる部分の検出像が、前記マーキングの像と異なる場合には、当該検出像が異物の像であると判別するX線物品検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000200651A JP3768387B2 (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | X線物品検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000200651A JP3768387B2 (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | X線物品検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002022675A JP2002022675A (ja) | 2002-01-23 |
JP3768387B2 true JP3768387B2 (ja) | 2006-04-19 |
Family
ID=18698485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000200651A Expired - Fee Related JP3768387B2 (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | X線物品検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3768387B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003232752A (ja) * | 2002-02-12 | 2003-08-22 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検査装置の感度校正方法及び感度校正用異物試料体 |
JP4230473B2 (ja) * | 2005-04-26 | 2009-02-25 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置 |
CN103604819B (zh) * | 2013-11-25 | 2016-03-30 | 东北大学 | 一种利用双能透射及低能散射进行物质识别的装置及方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0721470B2 (ja) * | 1987-04-29 | 1995-03-08 | 藤森工業株式会社 | 包装体内容物の検査装置 |
JPH03246485A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-11-01 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 異物検査装置 |
JPH09113631A (ja) * | 1995-10-13 | 1997-05-02 | Ishida Co Ltd | X線異物検出装置 |
JPH09159770A (ja) * | 1995-12-12 | 1997-06-20 | Sutabitsuku:Kk | 添付品有無検査方法及び装置 |
JP3193665B2 (ja) * | 1997-05-15 | 2001-07-30 | 株式会社日立エンジニアリングサービス | 容器内放射性廃棄物識別方法及び装置 |
JPH11108860A (ja) * | 1997-10-07 | 1999-04-23 | Toyo Eng Corp | 能書検知装置および検知方法 |
JP2000135268A (ja) * | 1998-08-26 | 2000-05-16 | Yuyama Seisakusho:Kk | 錠剤検査装置 |
JP2000309312A (ja) * | 1999-02-22 | 2000-11-07 | Tsutsumi Yotaro | 包装品 |
-
2000
- 2000-07-03 JP JP2000200651A patent/JP3768387B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002022675A (ja) | 2002-01-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5789083B2 (ja) | 検査装置 | |
JP5739230B2 (ja) | X線検査装置 | |
WO2015041259A1 (ja) | 検査装置 | |
JP2002228761A (ja) | X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法 | |
JP6318037B2 (ja) | 包装袋の検査方法および包装袋の検査装置 | |
WO2006035530A1 (ja) | X線検査装置 | |
JP3768387B2 (ja) | X線物品検査装置 | |
JP3860154B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP3943072B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP3656566B2 (ja) | 放射線検査装置 | |
JP2015040073A (ja) | 小袋連続体処理装置 | |
JP2003065976A (ja) | X線異物検出装置 | |
JP3917129B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP2004003899A (ja) | 包装食品等の外観検査方法および装置 | |
JP6355247B2 (ja) | 透過光検査装置 | |
JP2000193515A (ja) | 組合せ計量装置 | |
JP2019209308A (ja) | 検査選別システム、検査選別方法 | |
JP5996442B2 (ja) | X線検査装置 | |
JPH11245922A (ja) | 商品処理装置 | |
JP6671775B2 (ja) | 計量包装検査システム | |
KR101667682B1 (ko) | 정수 정량 검사 시스템 및 방법 | |
JP2006105716A (ja) | 品質検査システム | |
JP2007147661A (ja) | X線検査装置 | |
JP7482503B2 (ja) | 包装システム | |
JP6796050B2 (ja) | X線検査装置およびx線検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040223 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051006 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051025 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051219 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060131 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090210 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120210 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120210 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130210 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |