JP4139332B2 - 増分デルタ・アナログ/ディジタル変換器 - Google Patents
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Description
本発明は、アナログ/ディジタル変換方法及び装置に関し、特に増分デルタ・アナログ/ディジタル変換に関する。
測定応用のため用いられるアナログ/ディジタル変換器は、電気通信に用いられる変調器とは、アナログ/ディジタル変換器が各変換プロセスの始めにリセットされるのに対し、変調器がリセット無しでアナログ入力信号の変動を連続的に調整する点で異なる。
増分デルタ変換器の基本的回路は、図1に示されるデルタ変調器の基本的回路とは、出力回路がディジタル累算器(又はアップ/ダウン・カウンタ)を含み、アナログ積分器6及びディジタル累算器の両方が変換サイクルの始めでリセットされる点で異なる。ディジタル累算器はリセット以降量子化器3からのディジタル差信号を合計し、そしてアナログ積分器6はリセット以降対応のアナログ信号を積分する。
本発明は、添付の特許請求の範囲に記載されるように増分デルタ変換によりアナログ入力信号(X)をディジタル出力信号(Y)に変換する方法及び変換器を提供する。
図3は、本発明の一実施形態に従った測定応用のための増分デルタ変換器を示す。図3において、図1及び図2に示される構成要素と類似の構成要素は、類似の参照番号により示されている。
yd[Nck]=Nl・r+Ns・q (1)
ya[Nck]=Nl・g・Vr+Ns・g・Vq (2)
Vr/Vq=r/q (3)
ここで、Nckは現在の測定サイクルにおけるステップ又はクロックの総数を表し、yd[Nck]はNckステップ後のディジタル出力信号Yの値を表し、Nlは大きいステップの数を表し、Nsは小さいステップの数を表し、そしてステップ又はクロックの総数Nck=Nl+Nsである。
g・Vq=2・LSB=(2・Vr)/(2N−1) (4)
この例においては、電圧基準は、バンドギャップ基準電圧Vr=1.2Vにより与えられる。ADCの目標分解能は、2.4Vの入力電圧範囲にわたり10ビットであり、そこで1LSB=2.34375mVである。当該電圧は、抵抗型電圧分割器により発生されるのが好ましい。アナログ積分器はスイッチド・キャパシタ積分器(switched−capacitor−integrator)であることが好ましく、その利得はキャパシタ比により設定される。アナログ/ディジタル変換器において選定されるべき2つの最初のパラメータは、電圧及び積分器利得gである。量子化器入力がスレッショルド電圧Vtを通すとき、次のクロックで、量子化器入力は、+Vtと−Vtとの間の範囲にあることを保証するため予防措置が取られる。さもなければ、量子化器入力は、+Vtと−Vtとの周りで振動するであろう。この条件は次のことを要求する。
次の値が、この例において用いられ、そして正確さ、変換時間、電力消費の間の良好な妥協を与えるよう見つけられる。
これらの値は、9ビットの分解能に対応する。ADCの最後のビットは、変換サイクルの最後のクロックでのみ用いられた半分の値のステップ・サイズVq/2から得られる。
Claims (9)
- アナログ入力信号(X)をディジタル出力信号(Y)に増分デルタ変換により変換する方法であって、クロック間隔で、量子化器(7)がディジタル量子化器信号を生成し、ディジタル/アナログ変換器(5)が前記ディジタル量子化器信号の関数であるアナログ量子化器信号を生成し、前記入力信号(X)とリセット信号以降の前記アナログ量子化器信号の積分との差の関数であるアナログ差信号(Q)がフィードバック・ループを介して前記量子化器(7)に印加され、前記ディジタル出力信号(Y)が前記リセット信号以降の前記ディジタル量子化器信号同士の和の関数として生成される、方法において、
前記量子化器(7)が不均一量子化器であり、当該不均一量子化器において、
前記ディジタル量子化器信号は、前記アナログ差信号(Q)の大きさがスレッショルドの大きさ(Vt)より小さい場合第1の大きさ(q)を、且つ前記アナログ差信号の大きさ(Q)が前記スレッショルドの大きさ(Vt)より大きい場合前記第1の大きさ(q)より実質的に大きい第2の大きさ(r)を有し、
前記スレッショルドの大きさ(Vt)が、前記第2の大きさ(r)に対応する前記アナログ量子化器信号の大きさ(Vr)より実質的に小さく、
前記ディジタル/アナログ変換器(5)から前記量子化器(7)へのフィードバック・ループの利得(g)が、前記スレッショルドの大きさ(V t )が前記第2の大きさ(r)に対応する前記アナログ量子化器信号の大きさ(V r )を乗算された前記利得(g)の値の半分より大きいことを満たす大きさである
ことを特徴とする方法。 - アナログ入力信号(X)からディジタル出力信号(Y)への増分デルタ変換による前記の変換は、2つの連続したクロック周期間の前記アナログ差信号(Q)の変化が符号を変えるまで継続する請求項1記載の方法。
- アナログ入力信号(X)からディジタル出力信号(Y)への増分デルタ変換による前記の変換の終わりに、前記ディジタル出力信号(Y)の最下位の数字が、前記の量子化器ディジタル信号(q,r)の残留の大きさの関数として変更される請求項2記載の方法。
- クロック間隔を規定するクロック手段、ディジタル量子化器信号を前記クロック間隔で生成する量子化手段(7)、前記ディジタル量子化器信号の関数であるアナログ量子化器信号を生成するディジタル/アナログ変換器手段(5)、リセット信号を生成するリセット手段(9,10)、アナログ入力信号(X)と前記リセット信号以降の前記アナログ量子化器信号の積分との差の関数であるアナログ差信号(Q)をフィードバック・ループを介して前記量子化手段(7)に印加するフィードバック手段(2,6)、及びディジタル出力信号(Y)を前記リセット信号以降の前記ディジタル量子化器信号同士の和の関数として生成する出力手段(8)を備える、アナログ入力信号(X)をディジタル出力信号(Y)に変換するための増分デルタ・アナログ/ディジタル変換器であって、
前記量子化手段が不均一量子化器手段(7)を備え、それにより
前記ディジタル量子化器信号は、前記アナログ差信号(Q)の大きさがスレッショルドの大きさ(Vt)より小さい場合第1の大きさ(q)を、且つ前記アナログ差信号(Q)の大きさが前記スレッショルドの大きさ(Vt)より大きい場合前記第1の大きさ(q)より実質的に大きい第2の大きさ(r)を有し、
前記第1及び第2の大きさ(q,r)に比例するアナログ信号(Vq,Vr)が、積分され、且つ前記量子化器手段(7)に印加され、
前記ディジタル/アナログ変換器(5)から前記量子化器(7)へのフィードバック・ループの利得(g)が、前記スレッショルドの大きさ(V t )が前記第2の大きさ(r)に対応する前記アナログ量子化器信号の大きさ(V r )を乗算された前記利得(g)の値の半分より大きいことを満たす大きさである
ことを特徴とする増分デルタ・アナログ/ディジタル変換器。 - アナログ入力信号(X)からディジタル出力信号(Y)への前記の変換は、2つの連続したクロック周期間の前記アナログ差信号(Q)の変化が符号を変えるまで継続する請求項4記載の増分デルタ・アナログ/ディジタル変換器。
- アナログ入力信号(X)からディジタル出力信号(Y)への前記の変換の終わりに、前記ディジタル出力信号(Y)の最下位の数字が、前記の量子化器ディジタル信号(q,r)の残留の大きさの関数として変更される請求項5記載の増分デルタ・アナログ/ディジタル変換器。
- 前記出力手段がディジタル累算器(8)を備える請求項4から6のいずれか一項に記載の増分デルタ・アナログ/ディジタル変換器。
- 前記フィードバック手段(2,6)及び前記量子化手段(7)が、入力電圧オフセット補償(26,CC,Ccmp)を有するスイッチド・キャパシタ増幅器(A,Cf,Ci;22a,23a,24a)を備える請求項4から7のいずれか一項に記載の増分デルタ・アナログ/ディジタル変換器。
- 前記ディジタル/アナログ変換器手段(5)が、前記スレッショルドの大きさ(Vt)を規定するための前記第2の大きさ(r)に対応する前記アナログ信号(Vr)、及び前記第1の大きさ(q)に対応する前記アナログ信号(Vq)により供給される抵抗ストリング(27から33)を備える請求項4から8のいずれか一項に記載の増分デルタ・アナログ/ディジタル変換器。
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