JP7176369B2 - A/d変換器 - Google Patents
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Description
(第1実施形態)
以下、第1実施形態について図1および図2を参照して説明する。
この場合、サンプリング容量Cs、積分容量Cf1、Cf2およびDAC容量Cdは、下記(1)式および(2)式の関係を満たすような容量値となっている。
Cf1=2×Cd …(1)
Cf2=6×Cs …(2)
Vth1=(-3/16)×Vref …(4)
Vth2=(-1/16)×Vref …(5)
Vth3=(1/16)×Vref …(6)
Vth4=(3/16)×Vref …(7)
以下、第2実施形態について図3を参照して説明する。
図3に示すように、本実施形態のADC21は、第1実施形態のADC1を差動構成としたものである。すなわち、ADC1は、互いに相補的である2つのアナログ信号である入力信号Vinp、Vinmの差分をデジタル値である出力信号DOUTに変換する差動入力の構成となっている。
「a」サンプリングの前に、積分容量(Cf1p、Cf1m、Cf2p、Cf2m)の両端子をAGND1に接続するなどして積分容量をリセットする。
「b」サンプリング時にサンプリング容量(Csp、Csm)の第2端子をAGND1に接続し、電荷転送時にサンプリング容量の第1端子をAGND2に接続する。
「c」サンプリング時にサンプリング容量の第2端子をAGND2に接続し、電荷転送時にサンプリング容量の第1端子をAGND1に接続する。
ただし、比較的高い電圧を有する入力信号Vinp、Vinmをサンプリングする場合、つまり高圧サンプリングの場合、AGND2に接続されるスイッチとして高耐圧の比較的大きいスイッチが必要となることから、(b)の動作を採用するほうがよい。
以下、第3実施形態について図4を参照して説明する。
図4に示すように、本実施形態のADC31は、第2実施形態のADC21に対し、サンプラ22に代えてサンプラ32を備えている点などが異なる。サンプラ32は、サンプラ22に対し、スイッチSS4p、SS4mの配置が異なる。
以下、第4実施形態について図5を参照して説明する。
図5に示すように、本実施形態のADC41は、第2実施形態のADC21に対し、サンプラ22に代えてサンプラ42を備えている点などが異なる。サンプラ42は、サンプラ22に対し、スイッチSS4p、SS4mに代えてスイッチSS4を備えている点などが異なる。
以下、第5実施形態について図6~図12を参照して説明する。
上記各実施形態において説明したように、サブADCとしては、その入力段にサンプルアンドホールド構造を有する一般的なADCを採用することができる。本実施形態では、第1実施形態の構成に適用することができるサブADCの具体的な4つの構成例について説明する。
図6に示す第1構成例のサブADC51は、一般的な巡回型ADCとして構成されており、スイッチSC1~SC7、キャパシタCC1、CC2、OPアンプ52、量子化器53、ロジック回路54、DAC55などを備えている。スイッチSC1は、OPアンプ9の出力信号AOUTが入力される入力ノードN51とノードN52との間に接続されている。ノードN52は、OPアンプ52の出力端子に接続されている。キャパシタCC1の第1端子は、OPアンプ52の反転入力端子に接続されるとともに、スイッチSC4を介してAGNDに接続されている。
図8に示す第2構成例のサブADC61は、一般的な2倍速の巡回型ADCとして構成されている。すなわち、サブADC61は、動作クロックの1周期ごとに2回のA/D変換を実行する倍速巡回型ADCとして構成されている。サブADC61は、第1構成例のサブADC51に対し、スイッチSC8~SC10、キャパシタCC3およびDAC62が追加されている。
図10に示す第3構成例のサブADC71は、第1構成例のサブADC51と同様、一般的な巡回型ADCとして構成されている。ただし、サブADC71は、第1構成例のサブADC51に対し、スイッチSQ2が追加されている点、量子化器53およびロジック回路54が省かれている点などが異なる。なお、図9には、このようなサブADC71を第1実施形態のADC1と同様のADC72に適用した場合の全体構成が示されている。
図12に示す第4構成例のサブADC81は、第1構成例のサブADC51と同様、一般的な巡回型ADCとして構成されている。ただし、サブADC81は、積分容量に残存した電荷に対応した電圧を増幅する増幅機能を有する。すなわち、サブADC81は、第1構成例のサブADC51に対し、キャパシタCC4およびスイッチSC11~SC14が追加されている点などが異なる。
なお、本発明は上記し且つ図面に記載した各実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で任意に変形、組み合わせ、あるいは拡張することができる。
上記各実施形態で示した数値などは例示であり、それに限定されるものではない。
第1実施形態では、説明を簡単化するために、図1に示すようなシングルエンドの回路構成のADC1を例示して説明を行ったが、第1実施形態において説明した本発明に特有の構成は、差動の回路構成のADCにも適用することができる。
Claims (8)
- 入力信号としてのアナログ信号をデジタル値に変換するA/D変換器であって、
前記アナログ信号をサンプリングするためのサンプリング容量(Cs、Csp、Csm)と、
OPアンプ(9、29)と、前記OPアンプの第1入力端子と出力端子との間に挿入された積分容量(Cf1、Cf2、Cf1p、Cf1m、Cf2p、Cf2m)と、を有する積分器(3、23)と、
前記OPアンプの出力信号を量子化した量子化結果を出力する量子化器(4、24)と、
前記量子化結果に基づいて前記積分容量に蓄積された電荷の減算を行うためのDAC電圧を決定するD/A変換器(10、10p、10m)と、前記DAC電圧に応じた電荷を蓄積することができるDAC容量(Cd、Cdp、Cdm)と、を有する電荷減算部(6、26)と、
前記OPアンプの出力端子に前記量子化器と並列接続され、その入力段にサンプルアンドホールド構造を有するサブA/D変換器(7、27、51、61、71、81)と、
を備え、
前記サンプリング容量の第1端子が前記アナログ信号の入力ノード(Ni、Nip、Nim)に接続されるとともに、前記サンプリング容量の第2端子が当該A/D変換器におけるアナロググランドに接続されることにより前記アナログ信号がサンプリングされ、
前記サンプリング容量の第1端子が前記アナロググランドに接続されるとともに、前記サンプリング容量の第2端子が前記OPアンプの第1入力端子に接続されることにより前記サンプリング容量から前記積分容量へと電荷が転送される電荷転送動作が行われ、
前記OPアンプの出力が前記量子化器に入力されることにより量子化が行われ、
前記電荷減算部が前記量子化結果に基づいて前記積分容量に蓄積された電荷を減算する減算動作を所定回数だけ繰り返すことにより前記デジタル値の上位ビットが生成され、
前記上位ビットの生成後において前記積分容量に残存した電荷に対応した電圧を増幅した電圧が前記サブA/D変換器に入力されることにより前記デジタル値の下位ビットが生成され、
前記上位ビットと前記下位ビットとを加算したものが前記デジタル値として出力され、
前記上位ビットの生成後において、前記サブA/D変換器におけるA/D変換と並行して、前記積分容量の電荷の初期化、次のA/D変換に係る前記電荷転送動作および前記上位ビットの生成を行うA/D変換器。 - 互いに相補的である2つの前記アナログ信号の差分をデジタル値に変換する差動入力の構成であり、
前記サンプリング容量から前記積分容量へと電荷が転送される際、前記サンプリング容量の第1端子が、前記アナロググランドに代えて、2つの前記アナログ信号のコモン電圧に接続される請求項1に記載のA/D変換器。 - 互いに相補的である2つの前記アナログ信号の差分をデジタル値に変換する差動入力の構成であり、
一方の前記アナログ信号がサンプリングされた一方の前記サンプリング容量から前記積分容量へと電荷が転送される際、一方の前記サンプリング容量の第1端子が、前記アナロググランドに代えて、他方の前記アナログ信号の入力ノードに接続される請求項1に記載のA/D変換器。 - 互いに相補的である2つの前記アナログ信号の差分をデジタル値に変換する差動入力の構成であり、
一方の前記アナログ信号がサンプリングされた一方の前記サンプリング容量から前記積分容量へと電荷が転送される際、一方の前記サンプリング容量の第1端子が、前記アナロググランドに代えて、他方の前記アナログ信号がサンプリングされた他方の前記サンプリング容量の第1端子に接続される請求項1に記載のA/D変換器。 - 前記サブA/D変換器(51、71、81)は、巡回型A/D変換器として構成されている請求項1から4のいずれか一項に記載のA/D変換器。
- 前記サブA/D変換器(61)は、動作クロックの1周期ごとに2回のA/D変換を実行する倍速巡回型A/D変換器として構成されている請求項1から4のいずれか一項に記載のA/D変換器。
- 前記サブA/D変換器(71)は、前記量子化器を用いて量子化を行うように構成されている請求項5に記載のA/D変換器。
- 前記サブA/D変換器(81)は、前記積分容量に残存した電荷に対応した電圧を増幅する増幅機能を有する請求項5から7のいずれか一項に記載のA/D変換器。
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